JPH0519973U - Ic素子試験治具用ソケツトの開閉装置 - Google Patents
Ic素子試験治具用ソケツトの開閉装置Info
- Publication number
- JPH0519973U JPH0519973U JP7619991U JP7619991U JPH0519973U JP H0519973 U JPH0519973 U JP H0519973U JP 7619991 U JP7619991 U JP 7619991U JP 7619991 U JP7619991 U JP 7619991U JP H0519973 U JPH0519973 U JP H0519973U
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- socket
- upper lid
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ICソケットに挿入したIC素子を、自動的
に適圧をもって押圧して、多数の端子同士を確実に接触
させる。 【構成】 板状レール(3)上を、エヤーシリンダ(8)に
より所定距離を進退する摺動板(4)に、押出具(15)を介
して、前端に同軸をなす案内ローラー(23)と開閉ローラ
ー(24)を枢設したローラーアーム(19)を取り付け、案内
ローラー(23)の進路上に、案内ローラー(23)が乗り越え
る山形部(26)を有する案内板(25)を設けるとともに、山
形部(26)の側方かつ開閉ローラー(24)の前方に、上蓋(2
9)が後上方に回動して開くICソケット(28)を設け、上
蓋(29)とローラーアーム(19)の間に引張りばね(30)を張
設する。
に適圧をもって押圧して、多数の端子同士を確実に接触
させる。 【構成】 板状レール(3)上を、エヤーシリンダ(8)に
より所定距離を進退する摺動板(4)に、押出具(15)を介
して、前端に同軸をなす案内ローラー(23)と開閉ローラ
ー(24)を枢設したローラーアーム(19)を取り付け、案内
ローラー(23)の進路上に、案内ローラー(23)が乗り越え
る山形部(26)を有する案内板(25)を設けるとともに、山
形部(26)の側方かつ開閉ローラー(24)の前方に、上蓋(2
9)が後上方に回動して開くICソケット(28)を設け、上
蓋(29)とローラーアーム(19)の間に引張りばね(30)を張
設する。
Description
【0001】
本考案は、IC素子を試験治具で検査する際、IC素子を挿入したICソケ ットの上蓋を自動的に閉じて、直ちにIC素子を各項目にわたって検査しうるよ うにしたようにした装置に関するものである。
【0002】
製造されたIC素子は、各項目別に全数検査されるのが通例である。 従来IC素子の検査には、人手をもってIC素子を、IC試験治具におけるI Cソケットの所定の位置に挿入し、ついで、人手により、上方より適圧をもって 押圧して、IC素子とICソケットの多数の端子同士を確実に接触させた後、電 気的検査が行われている。
【0003】
IC素子を、1個ずつ試験する毎に、IC試験治具におけるICソケットの上 蓋を開閉し、かつ接触部に所要の接触圧を与えるために、人手をもって押し続け るか、もしくは、上蓋とソケットの間に仮止め手段を設けて、上蓋が固定される 。
【0004】 試験中、人手をもって上蓋を押し続けると、その間は、作業者は他の作業を行 なうことはできず、また作業者の疲労は増す。 また試験中、上蓋を仮止め手段によって固定すると、上蓋を開くときに、仮止 め手段のロックを解除するための何らかの操作を必要とし、かつ作業者は手袋を しているので、小さなロック解除レバー等の操作は容易ではなく、作業性は低下 する。
【0005】
本考案は、IC試験治具の台板上に敷設した板状レール上を、適宜の駆動装置 により所定距離を進退することができ、かつ常時は後退している摺動板と、摺動 板に固着され、前端に枢支板を備える押出具と、押出具の前部に、前方を向くと ともに、上下に回動しうるように枢支され、かつ押出具との間に設けた圧縮ばね により、下方に向けて付勢されている回動具と、回動具の前部に、前方を向くと ともに、仰角調節可能として取付けられ、かつ前端に、水平かつ互に同軸をなす 案内ローラーと開閉ローラーが枢設されているローラーアームと、案内ローラー の進路上に設けられ、ローラーアームの進退に伴い案内ローラーが上面に当接す ることにより、これを昇降させる山形部と、開閉ローラーの前下方で、かつ山形 部の側方に設置されたICソケットと、ICソケットの後端に、後上方に開閉す るように枢支されている上蓋と、上蓋と、ローラーアームとの間に張設されてい る引張りばねとを備え、ローラーアームが後退すると、前記引張りばねを介して ICソケットの上蓋が開かれ、ローラーアームが前進すると、開閉ローラーが上 蓋を前方に押圧して、これを閉じつつ、案内ローラーが山形部を乗り越え、かつ 上蓋がICソケットを閉じ終わると、前記圧縮ばねにより下降させられるローラ ーアームの開閉ローラーにより、上蓋を押圧するようにしてなるIC素子試験治 具用ソケットの開閉装置により上述の課題の解決を図った。
【0006】
本考案の装置は、常時は、ローラーアームが後退して、引張りばねにより連結 されたICソケットの上蓋は引き開けられている。
【0007】 適宜の駆動装置により、圧縮ばねにより下向付勢されているローラーアームが 、摺動板とともに前進すると、案内ローラが山形部を乗り越えつつ、開閉ローラ ーは、ICソケットの上蓋を前方へ回動させる。
【0008】 案内ローラが山形部を乗り越すと、開閉ローラーは下向して、上蓋がICソケ ットを閉じて、適圧をもって押圧し、ローラーアームは前進を停止する。
【0009】 ローラーアームが後退すると、各部材は上述と逆に作動して、上蓋が開き、ロ ーラーアームは停止する。
【0010】
図1は、本考案の装置の常時の状態を示すもので、IC試験治具(図示省略)の 上面の台板(1)の図1の左部には、端縁より方形の切込溝(2)が切設されている 。
【0011】 台板(1)の中央部には、前後方向(図面においては左右方向、以下図面の左方 の前方という)を向く長方形の板状レール(3)が敷設されている。
【0012】 レール(3)上には、摺動板(4)が前後摺動自在に嵌合している。摺動板(4)の 前端には、左方(図1の下方)を向く第1アーム(5)が連設され、同じく後端には 、右方を向く第2アーム(6)がねじ止めされ、上面右端には、前後方向を向く上 向片(7)がねじ止めされている。
【0013】 第1アーム(5)は、その後方に設けた前方を向くエヤーシリンダ(8)のピスト ン杆(8a)の先端に接続されている。
【0014】 第2アーム(6)は、その右後部に立設した第1支持板(9)に前方に向けて貫設 した、第1ストッパ(10)と第1リミットスイッチ(11)に当接している。
【0015】 第1支持板(9)の前方に所定の間隔を設けて立設した第2支持板(12)にも、上 記第1ストッパ(10)と第1リミットスイッチ(11)とそれぞれ対向し、かつ後方を 向く第2ストッパ(13)と第2リミットスイッチ(14)が貫設されている。
【0016】 上向片(7)の左面には、前方を向く押出具(15)がねじ止めされている。押出具 (15)の本体(15a)の前面には、両側縁より前方を向いて互に平行をなす左右1対 の枢支板(15b)(15b)と、下端縁より前方を向く短寸のストッパ(15c)が連設され ている。
【0017】 両枢支板(15b)(15b)の間には、L字形をなす回動具(16)の後部の垂直片(16a) と前向水平片(16b)の後部が嵌合し、水平片(16b)の後部は、両枢支板(15b)(15b) の前下部に、枢軸(17)をもって枢支されている。
【0018】 回動具(16)は、その垂直片(16a)の後面上部と、押出具(15)の本体(15a)の前面 上部との間に設けた圧縮バネ(18)により付勢されて、常時は、垂直片(16a)の後 面下端が押出具(15a)のストッパ(15c)の前端に当接して、ほぼ水平をなしている 。
【0019】 回動具(16)の水平片(16b)の前部には、前方を向くローラーアーム(19)の後部 に連設した下向U字形の連結部(20)が外嵌されている。連結部(20)の両側片(20a )(20a)の中央は水平片(16b)に、支軸(21)をもって枢支され、連結部(20)の上片( 20b)の前後部に上方より螺装した1対の張設ボルト(22)(22)を、水平片(16b)の 上面に圧接させることにより、ローラーアーム(21)が回動具(16)に、仰角を若干 調節しうるように固定されている。
【0020】 ローラーアーム(19)の前端には、左右方向を向き、かつ互に同軸をなす左方の 案内ローラー(23)と右方の開閉ローラー(24)が枢設されている。
【0021】 (25)は、切込溝(2)内で、かつ板状レール(3)の前方において、水平をなすL 字形の案内板で、その前端は、台板(1)の上面に固定され、かつ右側端には、案 内ローラー(23)の進路上において上下屈曲する山形部(26)が形成されている。
【0022】 (27)は、切込溝(2)の奥部で、かつローラーアーム(19)の前方において水平を なす偏平箱状の取付板で、その左前部と右後部の突出部は、台板(1)の下面に固 着している。
【0023】 取付板(27)内には、開閉ローラ(24)の前方に位置する方形箱状のICソケット (28)がねじ止めされ、その上蓋(29)の右面遊端とローラーアーム(19)の右面前部 の間には、引張りばね(30)が張設されている。
【0024】 上述の本考案装置において、図3に示すように、常時はローラーアーム(19)は 後退し、引張りばね(30)により連結された上蓋(29)は引き開けられてほぼ上方を 向き、開閉ローラー(24)は、上蓋(29)より後方に離間し、案内ローラ(23)も、案 内板(25)の山形部(26)より後方に離間している。
【0025】 このICソケット(28)にIC素子(図示省略)を挿入して、スイッチ操作により エヤーシリンダ(8)を伸長させると、摺動板(4)とともに押出具(15)は、前進し 、圧縮ばね(18)により下向きに付勢された水平をなすローラーアーム(19)も前進 する。
【0026】 図4に示すように、案内ローラ(23)が案内板(25)の山形部(26)に乗り上げると 、ローラーアーム(19)は、圧縮ばね(18)に抗して枢軸(17)まわりに若干上向きに 回動し、開閉ローラー(24)は、ICソケット(28)の上蓋(29)に当接して、引張り ばね(30)を伸長させつつ、前方に回動させる。
【0027】 ついで、図5に示すように、案内ローラー(23)が山形部(26)の高所を通過して 、圧縮バネ(18)に付勢されながら下り坂の下降を開始すると、開閉ローラ(24)も ともに下降し、上蓋(29)はICソケット(28)を閉じる。
【0028】 ローラーアーム(19)がさらに若干前進すると、案内ローラ(23)は山形部(26)よ り離間して、開閉ローラー(24)のみが上蓋(29)に乗り、圧縮ばね(18)の付勢によ り適圧をもって上蓋(29)を押圧する。
【0029】 この時、第2アーム(6)が前方の第2ストッパ(13)と、第2リミットスイッチ (14)に当接して、ローラーアーム(19)が停止すると同時に、図示を省略したIC 試験治具により、IC素子の各項目にわたる電気的検査が開始される。
【0030】 検査が終わると、タイマーや、フットスイッチ等の電気的スイッチ操作により 、各部材は上述と逆に動作して、ローラーアーム(19)は、引張りばね(18)を介し て上蓋(29)を引き開けつつ後退し、第2アーム(6)が後方の第1ストッパ(10)と 第1リミットスイッチ(11)に当接すると停止する。
【0031】 本装置において、第1、第2ストッパ(10)(13)と第1、第2リミットスイッチ (11)(14)の前後位置を調節するか、あるいは調節ボルト(22)(22)の操作により、 ローラーアーム(19)の仰角を調節することにより、各寸法のICソケット(28)に 対応することができる。
【0032】
本考案の装置をIC試験治具上に設置すれば、ICソケットに挿入した微小か つ繊細なIC素子を、自動的に適圧をもって押圧して、多数の端子同士を確実に 接触させ、引続いて所要の電気的試験のための通電作動させて各項目にわたって 自動的に検査することができる。
【0033】 その試験の間、作業者は操作から解放されるので、次の作業の準備にかかれ、 また試験終了時に両手が開放されているので、IC素子の取り出しと押し入れを 、それぞれ片方の手で効率よく行なえる。
【0034】 さらに、ICソケットの開閉を自動化することによりIC試験治具の全自動化 を計ることができる。
【図1】本考案装置の常時の状態を示す正面図である。
【図2】図1のA−A線矢視図である。
【図3】図1のBーB線一部切欠拡大断面図である。
【図4】ICソケットの上蓋が閉じつつある時の図3に
相当する断面図である。
相当する断面図である。
【図5】ICソケットの上蓋が閉じ終った時の図3に相
当する断面図である。
当する断面図である。
(1)台板 (2)切込溝 (3)板状レール (4)摺動板 (5)第1アーム (6)第2アーム (7)上向片 (8)エヤーシリンダ (8a)ピストン杆 (9)第1支持板 (10)第1ストッパ (11)第1リミットス
イッチ (12)第2支持板 (13)第2ストッパ (14)第2リミットスイッチ (15)押出具 (15a)本体 (15b)枢支板 (15c)ストッパ (16)回動具 (16a)垂直杆 (16b)水平片 (17)枢軸 (18)圧縮ばね (19)ローラーアーム (20)連結部 (20a)側片 (20b)上片 (21)支軸 (22)調節ボルト (23)案内ローラー (24)開閉ローラー (25)案内板 (26)山形部 (27)取付板 (28)ICソケット (29)上蓋 (30)引張りばね
イッチ (12)第2支持板 (13)第2ストッパ (14)第2リミットスイッチ (15)押出具 (15a)本体 (15b)枢支板 (15c)ストッパ (16)回動具 (16a)垂直杆 (16b)水平片 (17)枢軸 (18)圧縮ばね (19)ローラーアーム (20)連結部 (20a)側片 (20b)上片 (21)支軸 (22)調節ボルト (23)案内ローラー (24)開閉ローラー (25)案内板 (26)山形部 (27)取付板 (28)ICソケット (29)上蓋 (30)引張りばね
Claims (1)
- 【請求項1】 IC試験治具の台板上に敷設した板状レ
ール上を、適宜の駆動装置により所定距離を進退するこ
とができ、かつ常時は後退している摺動板と、 摺動板に固着され、前端に枢支板を備える押出具と、 押出具の前部に、前方を向くとともに、上下に回動しう
るように枢支され、かつ押出具との間に設けた圧縮ばね
により、下方に向けて付勢されている回動具と、回動具
の前部に、前方を向くとともに、仰角調節可能として取
付けられ、かつ前端に、水平かつ互に同軸をなす案内ロ
ーラーと開閉ローラーが枢設されているローラーアーム
と、 案内ローラーの進路上に設けられ、ローラーアームの進
退に伴い案内ローラーが上面に当接することにより、こ
れを昇降させる山形部と、 開閉ローラーの前下方で、かつ山形部の側方に設置され
たICソケットと、 ICソケットの後端に、後上方に開閉するように枢支さ
れている上蓋と、 上蓋と、ローラーアームとの間に張設されている引張り
ばねとを備え、 ローラーアームが後退すると、前記引張りばねを介して
ICソケットの上蓋が開かれ、ローラーアームが前進す
ると、開閉ローラーが上蓋を前方に押圧して、これを閉
じつつ、案内ローラーが山形部を乗り越え、かつ上蓋が
ICソケットを閉じ終わると、前記圧縮ばねにより下降
させられるローラーアームの開閉ローラーにより、上蓋
を押圧するようにしてなるIC素子試験治具用ソケット
の開閉装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7619991U JP2547556Y2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | Ic素子試験用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7619991U JP2547556Y2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | Ic素子試験用治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0519973U true JPH0519973U (ja) | 1993-03-12 |
| JP2547556Y2 JP2547556Y2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=13598490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7619991U Expired - Lifetime JP2547556Y2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | Ic素子試験用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2547556Y2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200454168Y1 (ko) * | 2009-01-09 | 2011-06-20 | 에이치앤피테크놀로지(주) | 소켓 개폐장치 |
| CN117054859A (zh) * | 2023-10-11 | 2023-11-14 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 一种芯片加热测试装置及其测试方法 |
-
1991
- 1991-08-29 JP JP7619991U patent/JP2547556Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200454168Y1 (ko) * | 2009-01-09 | 2011-06-20 | 에이치앤피테크놀로지(주) | 소켓 개폐장치 |
| CN117054859A (zh) * | 2023-10-11 | 2023-11-14 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 一种芯片加热测试装置及其测试方法 |
| CN117054859B (zh) * | 2023-10-11 | 2023-12-29 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 一种芯片加热测试装置及其测试方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2547556Y2 (ja) | 1997-09-10 |
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