JPH0520111A - テスト命令の生成・実行方法 - Google Patents
テスト命令の生成・実行方法Info
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- JPH0520111A JPH0520111A JP3174883A JP17488391A JPH0520111A JP H0520111 A JPH0520111 A JP H0520111A JP 3174883 A JP3174883 A JP 3174883A JP 17488391 A JP17488391 A JP 17488391A JP H0520111 A JPH0520111 A JP H0520111A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、複数個の処理部 (演算処理部, ア
クセス処理部, 制御処理部等) を備えた情報処理装置の
試験を行うのに必要なテスト命令の生成方法に関し、本
体装置を構成している各処理部に対して、均等にテスト
命令を発生する。 【構成】 複数個の処理部から構成されている情報処理
装置を対象としたテスト命令群を、各処理部に対応して
グループ分けを行い、各処理部の個数ｎに対応した定数
を発生する定数発生処理部により生成した定数（乱
数）に基づいて、上記グループ分けしたテスト命令群
を選択して、テスト命令列を生成し、実行する。更に、
各処理部が複数個のモジュールから構成されていると
き、各処理部を対象としたテスト命令群を、各モジュー
ルに対応してグループ分けを行い、各モジュールの個数
ｍに対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上記処
理部対応でグループ分けしたテスト命令群を選択し
て、テスト命令列を生成し、実行する。
クセス処理部, 制御処理部等) を備えた情報処理装置の
試験を行うのに必要なテスト命令の生成方法に関し、本
体装置を構成している各処理部に対して、均等にテスト
命令を発生する。 【構成】 複数個の処理部から構成されている情報処理
装置を対象としたテスト命令群を、各処理部に対応して
グループ分けを行い、各処理部の個数ｎに対応した定数
を発生する定数発生処理部により生成した定数（乱
数）に基づいて、上記グループ分けしたテスト命令群
を選択して、テスト命令列を生成し、実行する。更に、
各処理部が複数個のモジュールから構成されていると
き、各処理部を対象としたテスト命令群を、各モジュー
ルに対応してグループ分けを行い、各モジュールの個数
ｍに対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上記処
理部対応でグループ分けしたテスト命令群を選択し
て、テスト命令列を生成し、実行する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数個の処理部、例え
ば、演算処理部, アクセス処理部, 制御処理部等を持
ち、更に、各処理部が、複数個のモジュール、例えば、
上記演算処理部では、加減算部, 乗算部、除算部, 論理
演算部等のモジュールから構成される情報処理装置の
試験を行うために必要なテスト命令の生成・実行方法に
関する。
ば、演算処理部, アクセス処理部, 制御処理部等を持
ち、更に、各処理部が、複数個のモジュール、例えば、
上記演算処理部では、加減算部, 乗算部、除算部, 論理
演算部等のモジュールから構成される情報処理装置の
試験を行うために必要なテスト命令の生成・実行方法に
関する。
【０００２】情報処理装置の本体装置を構成する各処理
部をテストする技術は、最近のLSIの高密度化による各
処理部の機能強化に伴い、各処理部単位ではなく、本体
装置全体としてのテスト技術が要求される。
部をテストする技術は、最近のLSIの高密度化による各
処理部の機能強化に伴い、各処理部単位ではなく、本体
装置全体としてのテスト技術が要求される。
【０００３】この為、該本体装置を構成する各処理部に
対して、その処理機能を個々にテストする方法では、該
情報処理装置全体の品質の確保が困難であり、各処理部
全体を含めた総合的なテストが必要となる。
対して、その処理機能を個々にテストする方法では、該
情報処理装置全体の品質の確保が困難であり、各処理部
全体を含めた総合的なテストが必要となる。
【０００４】従って、該情報処理装置が、複数個の処理
部から構成されている場合、各処理部をテストするため
のテスト命令が、各処理部毎に均等に配分されているこ
とが必要である。
部から構成されている場合、各処理部をテストするため
のテスト命令が、各処理部毎に均等に配分されているこ
とが必要である。
【０００５】
【従来の技術】図４は、従来のテスト命令の生成方法を
説明する図である。従来のテスト命令の生成方法におい
ては、テスト命令の生成を、該テスト命令のビット数を
法とする乱数により行い、該生成された命令列により、
当該情報処理装置のテストを行っていた。
説明する図である。従来のテスト命令の生成方法におい
ては、テスト命令の生成を、該テスト命令のビット数を
法とする乱数により行い、該生成された命令列により、
当該情報処理装置のテストを行っていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】乱数でテスト命令を発
生させると、本体装置を構成している各処理部をテスト
する命令を、各処理部に均等に発生させることを保証す
ることができなくなり、該情報処理装置を総合的にテス
トすることが困難になるという問題があった。
生させると、本体装置を構成している各処理部をテスト
する命令を、各処理部に均等に発生させることを保証す
ることができなくなり、該情報処理装置を総合的にテス
トすることが困難になるという問題があった。
【０００７】即ち、乱数でテスト命令を発生させる為、
テスト命令の生成が、真に、ランダムとなることから、
例えば、ゲート数の多い部分に対するテスト命令の発生
が多くなる傾向となり、演算処理部に集中してテスト命
令が発生されることが起こると、アクセス処理部, 制御
処理部のテストが充分にできなくなるという問題があっ
た。
テスト命令の生成が、真に、ランダムとなることから、
例えば、ゲート数の多い部分に対するテスト命令の発生
が多くなる傾向となり、演算処理部に集中してテスト命
令が発生されることが起こると、アクセス処理部, 制御
処理部のテストが充分にできなくなるという問題があっ
た。
【０００８】本発明は上記従来の欠点に鑑み、複数個の
処理部 (演算処理部, アクセス処理部, 制御処理部等)
を備えた情報処理装置の試験を行うのに、本体装置を構
成している各処理部に対して、均等にテスト命令を発生
することができるテスト命令の生成・実行方法を提供す
ることを目的とするものである。
処理部 (演算処理部, アクセス処理部, 制御処理部等)
を備えた情報処理装置の試験を行うのに、本体装置を構
成している各処理部に対して、均等にテスト命令を発生
することができるテスト命令の生成・実行方法を提供す
ることを目的とするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図である。上記の問題点は下記の如くに構成したテス
ト命令の生成・実行方法によって解決される。
明図である。上記の問題点は下記の如くに構成したテス
ト命令の生成・実行方法によって解決される。
【００１０】(1) 複数個の処理部 1,2,3から構成されて
いる情報処理装置を対象としたテスト命令群を、各処理
部 1,2,3に対応してグループ分けを行い、各処理部 1,
2,3の個数ｎに対応した定数を発生する定数発生処理部
により生成した定数（乱数）に基づいて、上記グルー
プ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命令列
を生成し、実行するように構成する。
いる情報処理装置を対象としたテスト命令群を、各処理
部 1,2,3に対応してグループ分けを行い、各処理部 1,
2,3の個数ｎに対応した定数を発生する定数発生処理部
により生成した定数（乱数）に基づいて、上記グルー
プ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命令列
を生成し、実行するように構成する。
【００１１】(2) 上記の情報処理装置において、各処理
部 1, 又は2,又は3 が複数個のモジュールから構成さ
れているとき、各処理部 1, 又は2,又は3 を対象とした
テスト命令群を、各処理部 1, 又は2,又は3 を構成して
いるモジュールに対応してグループ分けを行い、各モ
ジュールの個数ｍに対応した定数を発生する定数発生
処理部により生成した定数（乱数）に基づいて、上記
処理部 1, 又は2,又は3 毎にモジュール対応でグルー
プ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命令列
を生成し、実行するように構成する。
部 1, 又は2,又は3 が複数個のモジュールから構成さ
れているとき、各処理部 1, 又は2,又は3 を対象とした
テスト命令群を、各処理部 1, 又は2,又は3 を構成して
いるモジュールに対応してグループ分けを行い、各モ
ジュールの個数ｍに対応した定数を発生する定数発生
処理部により生成した定数（乱数）に基づいて、上記
処理部 1, 又は2,又は3 毎にモジュール対応でグルー
プ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命令列
を生成し、実行するように構成する。
【００１２】
【作用】即ち、本発明においては、テスト対象の情報処
理装置が、例えば、処理部１〜処理部２、〜処理部ｎの
ｎ個の処理部から構成されているとすると、図１に示
したように、テスト命令群を、上記処理部１用テスト命
令グループと、処理部２用テスト命令グループ，〜，処
理部ｎ用テスト命令グループにグループ分けしておき、
定数ｎの定数発生処理部から生成される“１”〜
“ｎ”の乱数に基づいて、それぞれのグループ分けされ
たテスト命令群から、順番に、テスト命令を抽出し
て、テスト命令列を生成して、予め、定められた数の
テスト命令列ができると、該テスト命令列を実行する
ようにしたものである。
理装置が、例えば、処理部１〜処理部２、〜処理部ｎの
ｎ個の処理部から構成されているとすると、図１に示
したように、テスト命令群を、上記処理部１用テスト命
令グループと、処理部２用テスト命令グループ，〜，処
理部ｎ用テスト命令グループにグループ分けしておき、
定数ｎの定数発生処理部から生成される“１”〜
“ｎ”の乱数に基づいて、それぞれのグループ分けされ
たテスト命令群から、順番に、テスト命令を抽出し
て、テスト命令列を生成して、予め、定められた数の
テスト命令列ができると、該テスト命令列を実行する
ようにしたものである。
【００１３】更に、各処理部１〜ｎのそれぞれが、例え
ば、ｍ個のモジュールから構成されている場合、該モ
ジュールをテストする命令群を、ｍ個のモジュール
に対応してグループ分けしておき、定数ｍの定数発生処
理部から生成される“１”〜“ｍ”の乱数に基づい
て、それぞれのグループ分けされたテスト命令群か
ら、順番に、テスト命令を抽出して、テスト命令列を
生成し実行するようにしたものである。
ば、ｍ個のモジュールから構成されている場合、該モ
ジュールをテストする命令群を、ｍ個のモジュール
に対応してグループ分けしておき、定数ｍの定数発生処
理部から生成される“１”〜“ｍ”の乱数に基づい
て、それぞれのグループ分けされたテスト命令群か
ら、順番に、テスト命令を抽出して、テスト命令列を
生成し実行するようにしたものである。
【００１４】従って、例えば、該ｎ，ｍグループにグル
ープ分けされたテスト命令群の中から、ｎ，又は、ｍ
の定数発生処理部で生成された乱数“１”〜“ｎ”，
又は、“１”〜“ｍ”に基づいて、各テスト命令グルー
プの中のテスト命令が、順番に取り出されることにな
るので、各処理部１〜ｎ，又は、各処理部ｉを構成して
いるモジュール１〜ｍに対してテスト命令が均一に発行
されることによなり、該情報処理装置を総合的にテスト
することができる効果がある。
ープ分けされたテスト命令群の中から、ｎ，又は、ｍ
の定数発生処理部で生成された乱数“１”〜“ｎ”，
又は、“１”〜“ｍ”に基づいて、各テスト命令グルー
プの中のテスト命令が、順番に取り出されることにな
るので、各処理部１〜ｎ，又は、各処理部ｉを構成して
いるモジュール１〜ｍに対してテスト命令が均一に発行
されることによなり、該情報処理装置を総合的にテスト
することができる効果がある。
【００１５】
【実施例】以下本発明の実施例を図面によって詳述す
る。前述の図１は、本発明の原理説明図であり、図２，
図３は本発明の一実施例を示した図であって、図２は構
成例を示し、図３はテスト命令の生成の処理フローを示
している。
る。前述の図１は、本発明の原理説明図であり、図２，
図３は本発明の一実施例を示した図であって、図２は構
成例を示し、図３はテスト命令の生成の処理フローを示
している。
【００１６】本発明においては、複数個の処理部、例え
ば、制御処理部 1,アクセス処理部2, 演算処理部 3から
構成されている情報処理装置を対象としたテスト命令群
を、各処理部 1,2,3に対応してグループ分けを行い、各
処理部の個数ｎ(=3)に対応した定数を発生する定数発生
処理部により生成した定数（乱数）に基づいて、上記
グループ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命
令列を生成し、実行する手段, 或いは、各処理部 1,
又は2,又は3 が複数個のモジュール、例えば、上記演算
処理部 3が、加減算部, 乗算部, 除算部,論理演算部と
いった４個のモジュールから構成されているとき、各
処理部1, 又は2,又は3 、上記の例では、該演算処理部
3を対象としたテスト命令群を、各モジュールに対応
してグループ分けを行い、各モジュールの個数ｍ(=4)に
対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上記モジュ
ール対応でグループ分けしたテスト命令群を選択し
て、テスト命令列を生成し、実行する手段が、本発明
を実施するのに必要な手段である。尚、全図を通して同
じ符号は同じ対象物を示している。
ば、制御処理部 1,アクセス処理部2, 演算処理部 3から
構成されている情報処理装置を対象としたテスト命令群
を、各処理部 1,2,3に対応してグループ分けを行い、各
処理部の個数ｎ(=3)に対応した定数を発生する定数発生
処理部により生成した定数（乱数）に基づいて、上記
グループ分けしたテスト命令群を選択して、テスト命
令列を生成し、実行する手段, 或いは、各処理部 1,
又は2,又は3 が複数個のモジュール、例えば、上記演算
処理部 3が、加減算部, 乗算部, 除算部,論理演算部と
いった４個のモジュールから構成されているとき、各
処理部1, 又は2,又は3 、上記の例では、該演算処理部
3を対象としたテスト命令群を、各モジュールに対応
してグループ分けを行い、各モジュールの個数ｍ(=4)に
対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上記モジュ
ール対応でグループ分けしたテスト命令群を選択し
て、テスト命令列を生成し、実行する手段が、本発明
を実施するのに必要な手段である。尚、全図を通して同
じ符号は同じ対象物を示している。
【００１７】以下、図１を参照しながら、図２，図３に
よって、本発明のテスト命令の生成・実行方法を説明す
る。先ず、情報処理装置が、図２に示したように、例え
ば、制御処理部 1と、アクセス処理部 2と、演算処理部
3とで構成され、制御処理部 1は、命令処理部, 割込み
処理部の各モジュールから構成されており、演算処理
部 3は、加減算部,乗算部, 除算部, 論理演算部の各モ
ジュールから構成されているものとする。
よって、本発明のテスト命令の生成・実行方法を説明す
る。先ず、情報処理装置が、図２に示したように、例え
ば、制御処理部 1と、アクセス処理部 2と、演算処理部
3とで構成され、制御処理部 1は、命令処理部, 割込み
処理部の各モジュールから構成されており、演算処理
部 3は、加減算部,乗算部, 除算部, 論理演算部の各モ
ジュールから構成されているものとする。
【００１８】この場合、該情報処理装置をテストするテ
スト命令群を、制御処理部用テスト命令群、例えば、
特権命令, 逐次化命令等で構成されるものと、アクセス
処理部用テスト命令群、例えば、読出, 格納命令等で
構成されるものと、演算処理用テスト命令群、例え
ば、加算, 減算, 乗除算命令, 論理演算命令等で構成さ
れるものとグループ分けしておく。
スト命令群を、制御処理部用テスト命令群、例えば、
特権命令, 逐次化命令等で構成されるものと、アクセス
処理部用テスト命令群、例えば、読出, 格納命令等で
構成されるものと、演算処理用テスト命令群、例え
ば、加算, 減算, 乗除算命令, 論理演算命令等で構成さ
れるものとグループ分けしておく。
【００１９】そして、本実施例においては、該情報処理
装置が、前述のように、制御処理部1と、アクセス処理
部 2と、演算処理部 3とで構成されているので、ｎの定
数発生処理部では、「３」の定数を発生するように構
成する。｛図３の処理ステップ 100〜104 参照｝ 選択処理部 8では、上記「３」の定数発生処理部で発
生した定数（乱数）に基づいて、該定数が「１」である
と、上記制御処理部用テスト命令群からテスト命令を
取り出す。同様にして、該定数が「２」であると、上記
アクセス処理部用テスト命令群からテスト命令を取り
出す。又、該定数が「３」であると、上記演算処理部用
テスト命令群からテスト命令を取り出す。｛図３の処
理ステップ 105〜107 参照｝ 若し、上記の乱数の発生で定数が「１」〜「３」以外で
あると、処理ステップ104 に戻る。｛図３の処理ステッ
プ 108参照｝ 上記のようにして、選択されたテスト命令を、テスト実
行域 9に格納する。該テスト実行域 9に満杯 (例えば、
ｋ命令）になるまで、テスト命令列の取り出しが完了す
ると、該テスト実行域 9に格納されているテスト命令列
を順次実行する。｛処理ステップ 109〜111 参照｝ 上記のようにして、テスト命令列を複数組み作成し
て、該作成されてテスト命令列の実行を繰り返す。
｛図３の処理ステップ 112参照｝ 上記の実施例は、情報処理装置が、制御処理部 1と、ア
クセス処理部 2と、演算処理部 3とで構成されている例
で説明したが、一般に、ｎ個の処理部で構成されている
場合には、上記定数発生処理部は「ｎ」の定数を発生
するように構成する。
装置が、前述のように、制御処理部1と、アクセス処理
部 2と、演算処理部 3とで構成されているので、ｎの定
数発生処理部では、「３」の定数を発生するように構
成する。｛図３の処理ステップ 100〜104 参照｝ 選択処理部 8では、上記「３」の定数発生処理部で発
生した定数（乱数）に基づいて、該定数が「１」である
と、上記制御処理部用テスト命令群からテスト命令を
取り出す。同様にして、該定数が「２」であると、上記
アクセス処理部用テスト命令群からテスト命令を取り
出す。又、該定数が「３」であると、上記演算処理部用
テスト命令群からテスト命令を取り出す。｛図３の処
理ステップ 105〜107 参照｝ 若し、上記の乱数の発生で定数が「１」〜「３」以外で
あると、処理ステップ104 に戻る。｛図３の処理ステッ
プ 108参照｝ 上記のようにして、選択されたテスト命令を、テスト実
行域 9に格納する。該テスト実行域 9に満杯 (例えば、
ｋ命令）になるまで、テスト命令列の取り出しが完了す
ると、該テスト実行域 9に格納されているテスト命令列
を順次実行する。｛処理ステップ 109〜111 参照｝ 上記のようにして、テスト命令列を複数組み作成し
て、該作成されてテスト命令列の実行を繰り返す。
｛図３の処理ステップ 112参照｝ 上記の実施例は、情報処理装置が、制御処理部 1と、ア
クセス処理部 2と、演算処理部 3とで構成されている例
で説明したが、一般に、ｎ個の処理部で構成されている
場合には、上記定数発生処理部は「ｎ」の定数を発生
するように構成する。
【００２０】次に、上記各処理部、例えば、演算処理部
3が、前述のように、加減算部, 乗算部, 除算部, 論理
演算部の各モジュールから構成されている場合、演算
処理部 3用のテスト命令群を、上記加減算部, 乗算部,
除算部, 論理演算部の各モジュール用テスト命令群に
グループ分けしておいて、上記定数発生処理部で、
「４」の定数を発生するように構成することで、該演算
処理部 3内の各モジュールを均等にテストするテスト
命令列を生成することができる。
3が、前述のように、加減算部, 乗算部, 除算部, 論理
演算部の各モジュールから構成されている場合、演算
処理部 3用のテスト命令群を、上記加減算部, 乗算部,
除算部, 論理演算部の各モジュール用テスト命令群に
グループ分けしておいて、上記定数発生処理部で、
「４」の定数を発生するように構成することで、該演算
処理部 3内の各モジュールを均等にテストするテスト
命令列を生成することができる。
【００２１】同様に、制御処理部 1, アクセス処理部 2
についても、それぞれの処理部を構成しているモジュー
ルに対応して、それぞれの処理部用テスト命令群を、
各モジュール用テスト命令群にグループ分けしておい
て、それぞれのモジュールの数ｍに対応して、上記定
数発生処理部で「ｍ」の定数を発生するように構成す
ることで、各処理部内の各モジュールを均等にテスト
するテスト命令列を生成することができる。
についても、それぞれの処理部を構成しているモジュー
ルに対応して、それぞれの処理部用テスト命令群を、
各モジュール用テスト命令群にグループ分けしておい
て、それぞれのモジュールの数ｍに対応して、上記定
数発生処理部で「ｍ」の定数を発生するように構成す
ることで、各処理部内の各モジュールを均等にテスト
するテスト命令列を生成することができる。
【００２２】このように、本発明は、複数個の処理部、
例えば、制御処理部 1, アクセス処理部 2, 演算処理部
3から構成されている情報処理装置を対象としたテスト
命令群を、各処理部 1,2,3に対応してグループ分けを行
い、各処理部の個数ｎ(=3)に対応した定数を発生する定
数発生処理部により生成した定数（乱数）に基づい
て、上記グループ分けしたテスト命令群を選択して、
テスト命令列を生成し、実行する手段, 或いは、各処
理部 1, 又は2,又は3 が複数個のモジュール、例えば、
上記演算処理部 3が、加減算部, 乗算部, 除算部, 論理
演算部といった４個のモジュールから構成されている
とき、各処理部 1, 又は2,又は3 、上記の例では、該演
算処理部 3を対象としたテスト命令群を、各モジュール
に対応してグループ分けを行い、各モジュールの個数
ｍ(=4)に対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上
記演算処理部対応でグループ分けしたテスト命令群を
選択して、テスト命令列を生成し、実行するようにし
たところに特徴がある。
例えば、制御処理部 1, アクセス処理部 2, 演算処理部
3から構成されている情報処理装置を対象としたテスト
命令群を、各処理部 1,2,3に対応してグループ分けを行
い、各処理部の個数ｎ(=3)に対応した定数を発生する定
数発生処理部により生成した定数（乱数）に基づい
て、上記グループ分けしたテスト命令群を選択して、
テスト命令列を生成し、実行する手段, 或いは、各処
理部 1, 又は2,又は3 が複数個のモジュール、例えば、
上記演算処理部 3が、加減算部, 乗算部, 除算部, 論理
演算部といった４個のモジュールから構成されている
とき、各処理部 1, 又は2,又は3 、上記の例では、該演
算処理部 3を対象としたテスト命令群を、各モジュール
に対応してグループ分けを行い、各モジュールの個数
ｍ(=4)に対応して生成した定数（乱数）に基づいて、上
記演算処理部対応でグループ分けしたテスト命令群を
選択して、テスト命令列を生成し、実行するようにし
たところに特徴がある。
【００２３】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
テスト命令の生成・実行方法は、複数個の処理部 (演算
処理部, アクセス処理部, 制御処理部等) を備えた情報
処理装置において、該複数個の処理部から構成されてい
る情報処理装置を対象としたテスト命令群を、各処理部
に対応してグループ分けを行い、各処理部の個数ｎに対
応した定数を発生する定数発生処理部により生成した
定数（乱数）に基づいて、上記グループ分けしたテスト
命令群を選択して、テスト命令列を生成し、実行す
る。更に、各処理部が複数個のモジュールから構成され
ているとき、各処理部を対象としたテスト命令群を、各
モジュールに対応してグループ分けを行い、各モジュー
ルの個数ｍに対応して生成した定数（乱数）に基づい
て、上記処理部対応でグループ分けしたテスト命令群
を選択して、テスト命令列を生成し、実行するように
したものであるので、該情報処理装置を構成している各
処理部に対するテストを、均等に実施することができ、
該情報処理装置を総合的にテストすることができ、該情
報処理装置の信頼度の向上に寄与するところが大きいと
いう効果が得られる。
テスト命令の生成・実行方法は、複数個の処理部 (演算
処理部, アクセス処理部, 制御処理部等) を備えた情報
処理装置において、該複数個の処理部から構成されてい
る情報処理装置を対象としたテスト命令群を、各処理部
に対応してグループ分けを行い、各処理部の個数ｎに対
応した定数を発生する定数発生処理部により生成した
定数（乱数）に基づいて、上記グループ分けしたテスト
命令群を選択して、テスト命令列を生成し、実行す
る。更に、各処理部が複数個のモジュールから構成され
ているとき、各処理部を対象としたテスト命令群を、各
モジュールに対応してグループ分けを行い、各モジュー
ルの個数ｍに対応して生成した定数（乱数）に基づい
て、上記処理部対応でグループ分けしたテスト命令群
を選択して、テスト命令列を生成し、実行するように
したものであるので、該情報処理装置を構成している各
処理部に対するテストを、均等に実施することができ、
該情報処理装置を総合的にテストすることができ、該情
報処理装置の信頼度の向上に寄与するところが大きいと
いう効果が得られる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明の一実施例を示した図（その１）
【図３】本発明の一実施例を示した図（その２）
【図４】従来のテスト命令の生成方法を説明する図
1 制御処理部 2 アクセス
処理部 3 演算処理部 8 選択処理
部 9 テスト実行域 グループ分けされたテスト命令群 ｎ／ｍの定数発生処理部 テスト命令列 モジュール
処理部 3 演算処理部 8 選択処理
部 9 テスト実行域 グループ分けされたテスト命令群 ｎ／ｍの定数発生処理部 テスト命令列 モジュール
Claims (2)
- 【請求項１】複数個の処理部(1,2,3) から構成されてい
る情報処理装置を対象としたテスト命令群を、各処理部
(1,2,3) に対応してグループ分けを行い、 各処理部(1,2,3) の個数ｎに対応した定数を発生する定
数発生処理部（）により生成した定数（乱数）に基づ
いて、上記グループ分けしたテスト命令群（）を選択
して、テスト命令列（）を生成し、実行することを特
徴とするテスト命令の生成・実行方法。 - 【請求項２】上記の情報処理装置において、各処理部
(1, 又は2,又は3)が複数個のモジュール () から構成
されているとき、各処理部(1, 又は2,又は3)を対象とし
たテスト命令群を、各処理部(1, 又は2,又は3)を構成し
ているモジュール() に対応してグループ分けを行
い、 各モジュール () の個数ｍに対応した定数を発生する
定数発生処理部（）により生成した定数（乱数）に基
づいて、上記処理部(1, 又は2,又は3)毎にモジュール
（）対応でグループ分けしたテスト命令群（）を選
択して、テスト命令列 () を生成し、実行することを
特徴とするテスト命令の生成・実行方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3174883A JP2887958B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | テスト命令列の生成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3174883A JP2887958B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | テスト命令列の生成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0520111A true JPH0520111A (ja) | 1993-01-29 |
| JP2887958B2 JP2887958B2 (ja) | 1999-05-10 |
Family
ID=15986335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3174883A Expired - Fee Related JP2887958B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | テスト命令列の生成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2887958B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011154026A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4918440A (ja) * | 1972-04-17 | 1974-02-18 | ||
| JPS62125440A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-06 | Hitachi Ltd | 試験実施方式 |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP3174883A patent/JP2887958B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4918440A (ja) * | 1972-04-17 | 1974-02-18 | ||
| JPS62125440A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-06 | Hitachi Ltd | 試験実施方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011154026A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2887958B2 (ja) | 1999-05-10 |
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