JPH05204701A - システムデバッグ方法 - Google Patents
システムデバッグ方法Info
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- JPH05204701A JPH05204701A JP4014607A JP1460792A JPH05204701A JP H05204701 A JPH05204701 A JP H05204701A JP 4014607 A JP4014607 A JP 4014607A JP 1460792 A JP1460792 A JP 1460792A JP H05204701 A JPH05204701 A JP H05204701A
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- JP
- Japan
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- target system
- memory
- microprocessor
- target
- arbiter
- Prior art date
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- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は新規マイクロプロセッサの登場とと
もに搭載システムを容易に早期に開発・デバッグ可能
で、しかもマイクロプロセッサの最高動作スピードでデ
バッグできるシステムデバッグ方法を提供することを目
的とする。 【構成】 本発明は外部制御信号によりオン・オフ制御
可能なシステムバスアービタ回路17を設けることによ
り、既存のコンピュータ31にメモリ・レジスタアクセ
スの拡張ボード32を接続するだけで、容易にシステム
デバッグが可能になり、またテストシステム2からター
ゲットシステム1をアクセスする時とターゲットシステ
ム1内でマイクロプロセッサ11が命令のフェッチ、実
行ともに行う時とは完全に分けることができるので、周
波数も独立に設定でき、ターゲットシステム1内でプロ
グラムを実行するときには、余分な遅延も生じないため
高速動作を可能にすることができる。
もに搭載システムを容易に早期に開発・デバッグ可能
で、しかもマイクロプロセッサの最高動作スピードでデ
バッグできるシステムデバッグ方法を提供することを目
的とする。 【構成】 本発明は外部制御信号によりオン・オフ制御
可能なシステムバスアービタ回路17を設けることによ
り、既存のコンピュータ31にメモリ・レジスタアクセ
スの拡張ボード32を接続するだけで、容易にシステム
デバッグが可能になり、またテストシステム2からター
ゲットシステム1をアクセスする時とターゲットシステ
ム1内でマイクロプロセッサ11が命令のフェッチ、実
行ともに行う時とは完全に分けることができるので、周
波数も独立に設定でき、ターゲットシステム1内でプロ
グラムを実行するときには、余分な遅延も生じないため
高速動作を可能にすることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマイクロプロセッサを搭
載したシステムをデバッグするのシステムデバッグ方法
に関するものである。
載したシステムをデバッグするのシステムデバッグ方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のシステムデバッグ方法としては、
例えば「マイコン開発環境が変わる、チップ性能の向上
とソフト規模の増大に対応」日経エレクトロニクス、1
989.9.4、No481、pp99〜118に示さ
れている。
例えば「マイコン開発環境が変わる、チップ性能の向上
とソフト規模の増大に対応」日経エレクトロニクス、1
989.9.4、No481、pp99〜118に示さ
れている。
【0003】以下図面を参照しながら、上記した従来の
システムデバッグ方法の一例について説明する。
システムデバッグ方法の一例について説明する。
【0004】図4はこの従来のシステムデバッグ装置の
構成図を示すものである。図4において、5は開発・デ
バッグ対象のターゲットシステム、6はターゲットシス
テム5をデバッグするためのインサーキットエミュレー
タ、7はインサーキットエミュレータ6を制御するため
のホストコンピュータ、11は命令のフェッチと実行を
行なうマイクロプロセッサ、12は命令を格納するブー
ト用ROM、13は命令やデータを格納する主記憶、1
4は主記憶13を制御するメモリコントローラー、15
はハードディスクや通信の媒体を直接制御するIO装置
群、16はIO装置群15を制御するIO/DMAコン
トローラー、18はバスマスターの制御をするアービタ
回路、21はマイクロプロセッサ11用のICソケッ
ト、41は命令やデータを格納するメモリ、42はター
ゲットシステム5側のメモリとインサーキットエミュレ
ータ6内メモリとを切り替える切り替え回路、43はホ
ストコンピュータ7との通信制御回路である。
構成図を示すものである。図4において、5は開発・デ
バッグ対象のターゲットシステム、6はターゲットシス
テム5をデバッグするためのインサーキットエミュレー
タ、7はインサーキットエミュレータ6を制御するため
のホストコンピュータ、11は命令のフェッチと実行を
行なうマイクロプロセッサ、12は命令を格納するブー
ト用ROM、13は命令やデータを格納する主記憶、1
4は主記憶13を制御するメモリコントローラー、15
はハードディスクや通信の媒体を直接制御するIO装置
群、16はIO装置群15を制御するIO/DMAコン
トローラー、18はバスマスターの制御をするアービタ
回路、21はマイクロプロセッサ11用のICソケッ
ト、41は命令やデータを格納するメモリ、42はター
ゲットシステム5側のメモリとインサーキットエミュレ
ータ6内メモリとを切り替える切り替え回路、43はホ
ストコンピュータ7との通信制御回路である。
【0005】以上のように構成されたシステムデバッグ
装置について、以下そのシステムデバッグ方法を説明す
る。
装置について、以下そのシステムデバッグ方法を説明す
る。
【0006】ターゲットシステム5の初期デバッグ時に
は、まずブート用ROM12を使用せずに、ホストコン
ピュータ7から通信制御回路43を介してインサーキッ
トエミュレータ6内のメモリ41にテストプログラムを
ダウンロードする。次に切り替え回路42はマイクロプ
ロセッサ11の制御信号により命令のフェッチと実行を
区別し、インサーキットエミュレータ6側とターゲット
システム5側とを適時切り替えるので、マイクロプロセ
ッサ11はインサーキットエミュレータ6内のメモリ4
1から命令をフェッチした後、ターゲットシステム5内
のICソケット21を介してターゲットシステム5内で
命令の実行を行ない、アービタ回路18のバスマスター
の制御のもとで、メモリコントローラー14を介して主
記憶13をライト・リードしたり、IO/DMAコント
ローラー16を介してIO装置群15をアクセスして主
記憶13との間でデータ転送を行なったりできる。
は、まずブート用ROM12を使用せずに、ホストコン
ピュータ7から通信制御回路43を介してインサーキッ
トエミュレータ6内のメモリ41にテストプログラムを
ダウンロードする。次に切り替え回路42はマイクロプ
ロセッサ11の制御信号により命令のフェッチと実行を
区別し、インサーキットエミュレータ6側とターゲット
システム5側とを適時切り替えるので、マイクロプロセ
ッサ11はインサーキットエミュレータ6内のメモリ4
1から命令をフェッチした後、ターゲットシステム5内
のICソケット21を介してターゲットシステム5内で
命令の実行を行ない、アービタ回路18のバスマスター
の制御のもとで、メモリコントローラー14を介して主
記憶13をライト・リードしたり、IO/DMAコント
ローラー16を介してIO装置群15をアクセスして主
記憶13との間でデータ転送を行なったりできる。
【0007】さらにブート用ROM12を実装して、切
り替え回路42の制御をターゲットシステム5側に移
し、命令の実行とともにフェッチもターゲットシステム
5内で行うことで一連の動作確認ができる。
り替え回路42の制御をターゲットシステム5側に移
し、命令の実行とともにフェッチもターゲットシステム
5内で行うことで一連の動作確認ができる。
【0008】また、マイクロプロセッサ11を使用し
て、命令の実行をトレースしてメモリ41に結果を格納
したり、命令実行後のターゲットシステム5内のメモリ
やレジスタの値をメモリ41にアップロードしたりする
こともできる。
て、命令の実行をトレースしてメモリ41に結果を格納
したり、命令実行後のターゲットシステム5内のメモリ
やレジスタの値をメモリ41にアップロードしたりする
こともできる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成では、開発の必需品であるインサーキットエミ
ュレータが複雑なため、開発して入手可能になるまでに
は新規マイクロプロセッサが登場してから相当な期間を
要し、また、マイクロプロセッサはインサーキットエミ
ュレータ上にあり、ターゲットシステム間とのケーブル
で遅延が生じるため、動作スピードは遅くなるという問
題点を有していた。
うな構成では、開発の必需品であるインサーキットエミ
ュレータが複雑なため、開発して入手可能になるまでに
は新規マイクロプロセッサが登場してから相当な期間を
要し、また、マイクロプロセッサはインサーキットエミ
ュレータ上にあり、ターゲットシステム間とのケーブル
で遅延が生じるため、動作スピードは遅くなるという問
題点を有していた。
【0010】本発明は上記問題点に鑑み、新規マイクロ
プロセッサの登場とともに搭載システムを容易に早期に
開発・デバッグ可能で、しかもマイクロプロセッサの最
高動作スピードでデバッグできるシステムデバッグ方法
を提供することを目的とする。
プロセッサの登場とともに搭載システムを容易に早期に
開発・デバッグ可能で、しかもマイクロプロセッサの最
高動作スピードでデバッグできるシステムデバッグ方法
を提供することを目的とする。
【0011】
(1)上記問題点を解決するために本発明のシステムデ
バッグ方法は、マイクロプロセッサを搭載し、外部制御
信号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有
するターゲットシステムと、上記ターゲットシステムの
システムバスに接続し、ターゲットシステム上のメモ
リ、レジスタ等をライト・リード可能なテストシステム
とを備えたハードウェア環境下で、まずターゲットシス
テム内のアービタ機能をオフにして、システムバスを開
放し、テストシステムがターゲットシステムにプログラ
ムのダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の条件設
定を行い、次にアービタ機能をオンにして、ターゲット
システム内でマイクロプロセッサがプログラムを実行し
て、ターゲットシステムのデバッグを行うものである。 (2)上記問題点を解決するために本発明のシステムデ
バッグ方法は、マイクロプロセッサを搭載し、外部制御
信号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有
するターゲットシステムと、上記ターゲットシステムの
システムバスと集積回路の端子に接続し、プログラム可
能なハードウェア上にターゲットシステムのメモリ、レ
ジスタ等をアクセスする回路とターゲットシステム内の
開発中の集積回路をマッピングしたエミュレーションシ
ステムとを備えたハードウェア環境下で、まずターゲッ
トシステム内のアービタ機能をオフにして、システムバ
スを開放し、テストシステムがターゲットシステムにプ
ログラムのダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の
条件設定を行い、次にアービタ機能をオンにして、ター
ゲットシステム内でマイクロプロセッサがプログラムを
実行して、ターゲットシステムのデバッグを行うもので
ある。
バッグ方法は、マイクロプロセッサを搭載し、外部制御
信号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有
するターゲットシステムと、上記ターゲットシステムの
システムバスに接続し、ターゲットシステム上のメモ
リ、レジスタ等をライト・リード可能なテストシステム
とを備えたハードウェア環境下で、まずターゲットシス
テム内のアービタ機能をオフにして、システムバスを開
放し、テストシステムがターゲットシステムにプログラ
ムのダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の条件設
定を行い、次にアービタ機能をオンにして、ターゲット
システム内でマイクロプロセッサがプログラムを実行し
て、ターゲットシステムのデバッグを行うものである。 (2)上記問題点を解決するために本発明のシステムデ
バッグ方法は、マイクロプロセッサを搭載し、外部制御
信号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有
するターゲットシステムと、上記ターゲットシステムの
システムバスと集積回路の端子に接続し、プログラム可
能なハードウェア上にターゲットシステムのメモリ、レ
ジスタ等をアクセスする回路とターゲットシステム内の
開発中の集積回路をマッピングしたエミュレーションシ
ステムとを備えたハードウェア環境下で、まずターゲッ
トシステム内のアービタ機能をオフにして、システムバ
スを開放し、テストシステムがターゲットシステムにプ
ログラムのダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の
条件設定を行い、次にアービタ機能をオンにして、ター
ゲットシステム内でマイクロプロセッサがプログラムを
実行して、ターゲットシステムのデバッグを行うもので
ある。
【0012】
【作用】本発明は上記した構成によって、アービタ機能
をオフにして、テストシステムからターゲットシステム
上のメモリ、レジスタ等をアクセスし、テストプログラ
ムのダウンロードやテスト結果のアップロードができ、
またアービタ機能をオンにして、マイクロプロセッサを
実行させ、テストプログラムを走らせることができるこ
ととなる。
をオフにして、テストシステムからターゲットシステム
上のメモリ、レジスタ等をアクセスし、テストプログラ
ムのダウンロードやテスト結果のアップロードができ、
またアービタ機能をオンにして、マイクロプロセッサを
実行させ、テストプログラムを走らせることができるこ
ととなる。
【0013】
【実施例】以下本発明の第1の実施例のシステムデバッ
グ方法について、図面を参照しながら説明する。
グ方法について、図面を参照しながら説明する。
【0014】図1は本発明の第1の実施例におけるシス
テムデバッグ方法を実現する装置の構成図を示すもので
ある。図1において、11はマイクロプロセッサ、12
はブート用ROM(またはRAM)、13は主記憶、1
4はメモリコントローラー、15はIO装置群、16は
IO/DMAコントローラーで、以上は図4に示した従
来例と同一構成である。1は開発・デバッグ対象のター
ゲットシステム、2はターゲットシステム1をデバッグ
するためのテストシステム、17は外部制御信号により
バスマスターを制御するアービタ機能をオン・オフでき
るアービタ回路、31はテストシステム2を制御するコ
ンピュータ、32はコンピュータ31の拡張ボードでタ
ーゲットシステムのメモリ、レジスタ等をアクセスでき
るメモリ・レジスタアクセスボードである。
テムデバッグ方法を実現する装置の構成図を示すもので
ある。図1において、11はマイクロプロセッサ、12
はブート用ROM(またはRAM)、13は主記憶、1
4はメモリコントローラー、15はIO装置群、16は
IO/DMAコントローラーで、以上は図4に示した従
来例と同一構成である。1は開発・デバッグ対象のター
ゲットシステム、2はターゲットシステム1をデバッグ
するためのテストシステム、17は外部制御信号により
バスマスターを制御するアービタ機能をオン・オフでき
るアービタ回路、31はテストシステム2を制御するコ
ンピュータ、32はコンピュータ31の拡張ボードでタ
ーゲットシステムのメモリ、レジスタ等をアクセスでき
るメモリ・レジスタアクセスボードである。
【0015】以上のように構成されたシステムデバッグ
装置について、以下図1を用いてそのシステムデバッグ
方法を説明する。
装置について、以下図1を用いてそのシステムデバッグ
方法を説明する。
【0016】ターゲットシステム1の初期デバッグ時に
は、まずブート用ROM12をRAMに交換し、テスト
システム2からの制御信号によりアービタ回路17のア
ービタ機能をオフにしてシステムバスの使用権をテスト
システム2に移した後、コンピュータ31からメモリ・
レジスタアクセスボード32を介してターゲットシステ
ム1内のブート用RAM12にテストプログラムをダウ
ンロードする。次にターゲットシステム1をリセット
後、テストシステム2からの制御信号によりアービタ回
路17のアービタ機能をオンにすると、システムバスの
使用権はターゲットシステム1内に戻り、マイクロプロ
セッサ11はブート用RAM12から命令をフェッチし
て命令の実行を行ない、アービタ回路17のバスマスタ
ーの制御のもとで、メモリコントローラー14を介して
主記憶13をライト・リードしたり、IO/DMAコン
トローラー16を介してIO装置群15をアクセスして
主記憶13との間でデータ転送を行なったりできる。さ
らに、テストシステム2からの制御信号によりアービタ
回路17のアービタ機能を再びオフにして、命令実行後
のターゲットシステム1内のメモリやレジスタの値をメ
モリ・レジスタアクセスボード32を介してコンピュー
タ31にアップロードすることもできる。
は、まずブート用ROM12をRAMに交換し、テスト
システム2からの制御信号によりアービタ回路17のア
ービタ機能をオフにしてシステムバスの使用権をテスト
システム2に移した後、コンピュータ31からメモリ・
レジスタアクセスボード32を介してターゲットシステ
ム1内のブート用RAM12にテストプログラムをダウ
ンロードする。次にターゲットシステム1をリセット
後、テストシステム2からの制御信号によりアービタ回
路17のアービタ機能をオンにすると、システムバスの
使用権はターゲットシステム1内に戻り、マイクロプロ
セッサ11はブート用RAM12から命令をフェッチし
て命令の実行を行ない、アービタ回路17のバスマスタ
ーの制御のもとで、メモリコントローラー14を介して
主記憶13をライト・リードしたり、IO/DMAコン
トローラー16を介してIO装置群15をアクセスして
主記憶13との間でデータ転送を行なったりできる。さ
らに、テストシステム2からの制御信号によりアービタ
回路17のアービタ機能を再びオフにして、命令実行後
のターゲットシステム1内のメモリやレジスタの値をメ
モリ・レジスタアクセスボード32を介してコンピュー
タ31にアップロードすることもできる。
【0017】メモリ・レジスタアクセスボード32の動
作を図2に示したブロック図を用いて説明する。(1)
アクセスするメモリ・レジスタの先頭アドレスをスター
トアドレスレジスタ52に書き込む。(2)アクセスす
るメモリ・レジスタの終了アドレスをエンドアドレスレ
ジスタ55に書き込む。(3)メモリ・レジスタへのア
クセスが書き込みの時のみ、書き込みデータをデータ用
FIFOメモリ56に順々に書き込む。(4)制御レジ
スタ51に書き込みか読み込みかを示すフラグと実行開
始フラグを書き込む。(5)アドレスカウンタ53はス
タートアドレスレジスタ52から先頭アドレスを取り込
んだ後、アドレスコンパレータ54でエンドアドレスレ
ジスタ55に格納されている終了アドレスと比較しなが
ら、先頭アドレスから終了アドレスまで順次アドレスを
カウントアップし、入出力インタフェース57を介して
ターゲットシステム側にアドレスを出力する。また、書
き込み時はデータ用FIFOメモリ56から入出力イン
タフェース57を介してデータを出力し、読み出し時は
入出力インタフェース57を介してデータ用FIFOメ
モリ56にデータを入力する。(6)メモリ・レジスタ
へのアクセスが読み込みの時のみ、データ用FIFOメ
モリ56から読み込みデータを順々に読み込む。以上の
ように本実施例によれば、外部制御信号によりオン・オ
フ制御可能なシステムバスアービタ回路17を設けるこ
とにより、既存のコンピュータ31にメモリ・レジスタ
アクセスの拡張ボード32を接続するだけで、容易にシ
ステムデバッグが可能になり、またテストシステム2か
らターゲットシステム1をアクセスする時とターゲット
システム1内でマイクロプロセッサ11が命令のフェッ
チ、実行ともに行う時とは完全に分けることができるの
で、周波数も独立に設定でき、ターゲットシステム1内
でプログラムを実行するときには、余分な遅延も生じな
いため高速動作を可能にすることができる。
作を図2に示したブロック図を用いて説明する。(1)
アクセスするメモリ・レジスタの先頭アドレスをスター
トアドレスレジスタ52に書き込む。(2)アクセスす
るメモリ・レジスタの終了アドレスをエンドアドレスレ
ジスタ55に書き込む。(3)メモリ・レジスタへのア
クセスが書き込みの時のみ、書き込みデータをデータ用
FIFOメモリ56に順々に書き込む。(4)制御レジ
スタ51に書き込みか読み込みかを示すフラグと実行開
始フラグを書き込む。(5)アドレスカウンタ53はス
タートアドレスレジスタ52から先頭アドレスを取り込
んだ後、アドレスコンパレータ54でエンドアドレスレ
ジスタ55に格納されている終了アドレスと比較しなが
ら、先頭アドレスから終了アドレスまで順次アドレスを
カウントアップし、入出力インタフェース57を介して
ターゲットシステム側にアドレスを出力する。また、書
き込み時はデータ用FIFOメモリ56から入出力イン
タフェース57を介してデータを出力し、読み出し時は
入出力インタフェース57を介してデータ用FIFOメ
モリ56にデータを入力する。(6)メモリ・レジスタ
へのアクセスが読み込みの時のみ、データ用FIFOメ
モリ56から読み込みデータを順々に読み込む。以上の
ように本実施例によれば、外部制御信号によりオン・オ
フ制御可能なシステムバスアービタ回路17を設けるこ
とにより、既存のコンピュータ31にメモリ・レジスタ
アクセスの拡張ボード32を接続するだけで、容易にシ
ステムデバッグが可能になり、またテストシステム2か
らターゲットシステム1をアクセスする時とターゲット
システム1内でマイクロプロセッサ11が命令のフェッ
チ、実行ともに行う時とは完全に分けることができるの
で、周波数も独立に設定でき、ターゲットシステム1内
でプログラムを実行するときには、余分な遅延も生じな
いため高速動作を可能にすることができる。
【0018】以下本発明の第2の実施例のシステムデバ
ッグ方法について、図面を参照しながら説明する。
ッグ方法について、図面を参照しながら説明する。
【0019】図3は本発明の第2の実施例におけるシス
テムデバッグ方法を実現する装置の構成図を示すもので
ある。図3において、11はマイクロプロセッサ、12
はブート用ROM(またはRAM)、13は主記憶、1
5はIO装置群、17はアービタ回路で、以上は図1で
示した第1の実施例と同一構成である。3は開発・デバ
ッグ対象のターゲットシステム、4はターゲットシステ
ム3をデバッグするためのテストシステムの機能とター
ゲットシステム3内の集積回路(メモリコントローラー
とIO/DMAコントローラー)の機能をエミュレーシ
ョンするエミュレーションシステム、22はメモリコン
トローラー用ICソケット、23はIO/DMAコント
ローラー用ICソケット、33はエミュレーションシス
テム4を制御するコンピュータ、34、35、36はそ
れぞれメモリコントローラー、IO/DMAコントロー
ラー、メモリ・レジスタアクセス回路をエミュレーショ
ンするプログラム可能なエミュレーションボード、3
7、38はそれぞれエミュレーションボード34、3
5、36の外部・内部信号の生成またはトレースするパ
ターンジェネレータとロジックアナライザである。
テムデバッグ方法を実現する装置の構成図を示すもので
ある。図3において、11はマイクロプロセッサ、12
はブート用ROM(またはRAM)、13は主記憶、1
5はIO装置群、17はアービタ回路で、以上は図1で
示した第1の実施例と同一構成である。3は開発・デバ
ッグ対象のターゲットシステム、4はターゲットシステ
ム3をデバッグするためのテストシステムの機能とター
ゲットシステム3内の集積回路(メモリコントローラー
とIO/DMAコントローラー)の機能をエミュレーシ
ョンするエミュレーションシステム、22はメモリコン
トローラー用ICソケット、23はIO/DMAコント
ローラー用ICソケット、33はエミュレーションシス
テム4を制御するコンピュータ、34、35、36はそ
れぞれメモリコントローラー、IO/DMAコントロー
ラー、メモリ・レジスタアクセス回路をエミュレーショ
ンするプログラム可能なエミュレーションボード、3
7、38はそれぞれエミュレーションボード34、3
5、36の外部・内部信号の生成またはトレースするパ
ターンジェネレータとロジックアナライザである。
【0020】以上のように構成されたシステムデバッグ
装置について、以下図3を用いてそのシステムデバッグ
方法を説明する。
装置について、以下図3を用いてそのシステムデバッグ
方法を説明する。
【0021】ターゲットシステム3のデバッグは、メモ
リコントローラーとIO/DMAコントローラーの集積
回路入手前でも、エミュレーションシステム4のエミュ
レーションボード34、35にプログラムし、集積回路
をエミュレーションすることにより可能である。その際
テストシステムとして使用するメモリ・レジスタアクセ
ス回路もエミュレーションシステム4内のエミュレーシ
ョンボード36にプログラムすることで、図1で示した
第1の実施例よりも柔軟でしかも容易なため早期にシス
テムデバッグ装置を構築することができる。まずブート
用ROM12をRAMに交換し、エミュレーションシス
テム4のエミュレーションボード36からの制御信号に
よりアービタ回路17のアービタ機能をオフにしてシス
テムバスの使用権をエミュレーションシステム4に移し
た後、パターンジェネレータ37の機能を使用して、コ
ンピュータ33からメモリ・レジスタアクセス回路をプ
ログラムしたエミュレーションボード36を介してター
ゲットシステム3内のブート用RAM12にテストプロ
グラムをダウンロードする。次にエミュレーションボー
ド36からの制御信号によりアービタ回路17のアービ
タ機能をオンにすると、システムバスの使用権はターゲ
ットシステム3内に戻り、マイクロプロセッサ11はブ
ート用RAM12から命令をフェッチして命令の実行を
行ない、アービタ回路17のバスマスターの制御のもと
で、メモリコントローラーの代替をするエミュレーショ
ンボード34とICソケット22を介して主記憶13を
ライト・リードしたり、IO/DMAコントローラーの
代替をするエミュレーションボード35とICソケット
23を介してIO装置群15をアクセスして主記憶13
との間でデータ転送を行なったりできる。さらに、エミ
ュレーションボード36からの制御信号によりアービタ
回路17のアービタ機能を再びオフにして、ロジックア
ナライザ38の機能を使用して、命令実行後のターゲッ
トシステム3内のメモリやレジスタの値をエミュレーシ
ョンボード36を介してコンピュータ33にアップロー
ドすることもできる。
リコントローラーとIO/DMAコントローラーの集積
回路入手前でも、エミュレーションシステム4のエミュ
レーションボード34、35にプログラムし、集積回路
をエミュレーションすることにより可能である。その際
テストシステムとして使用するメモリ・レジスタアクセ
ス回路もエミュレーションシステム4内のエミュレーシ
ョンボード36にプログラムすることで、図1で示した
第1の実施例よりも柔軟でしかも容易なため早期にシス
テムデバッグ装置を構築することができる。まずブート
用ROM12をRAMに交換し、エミュレーションシス
テム4のエミュレーションボード36からの制御信号に
よりアービタ回路17のアービタ機能をオフにしてシス
テムバスの使用権をエミュレーションシステム4に移し
た後、パターンジェネレータ37の機能を使用して、コ
ンピュータ33からメモリ・レジスタアクセス回路をプ
ログラムしたエミュレーションボード36を介してター
ゲットシステム3内のブート用RAM12にテストプロ
グラムをダウンロードする。次にエミュレーションボー
ド36からの制御信号によりアービタ回路17のアービ
タ機能をオンにすると、システムバスの使用権はターゲ
ットシステム3内に戻り、マイクロプロセッサ11はブ
ート用RAM12から命令をフェッチして命令の実行を
行ない、アービタ回路17のバスマスターの制御のもと
で、メモリコントローラーの代替をするエミュレーショ
ンボード34とICソケット22を介して主記憶13を
ライト・リードしたり、IO/DMAコントローラーの
代替をするエミュレーションボード35とICソケット
23を介してIO装置群15をアクセスして主記憶13
との間でデータ転送を行なったりできる。さらに、エミ
ュレーションボード36からの制御信号によりアービタ
回路17のアービタ機能を再びオフにして、ロジックア
ナライザ38の機能を使用して、命令実行後のターゲッ
トシステム3内のメモリやレジスタの値をエミュレーシ
ョンボード36を介してコンピュータ33にアップロー
ドすることもできる。
【0022】また、メモリコントローラーとIO/DM
Aコントローラーの集積回路入手後は、エミュレーショ
ンボード34、35の代わりに入手した集積回路をIC
ソケット22、23にそれぞれ実装することで、図1で
示した第1の実施例と同様にテストシステムとしてのエ
ミュレーションシステム4からターゲットシステム3を
アクセスする時とターゲットシステム3内でマイクロプ
ロセッサ11が命令のフェッチ、実行ともに行う時とは
完全に分けることができるので、周波数も独立に設定し
て、ターゲットシステム3内でプログラムを実行すると
きには高速動作を可能にすることができる。
Aコントローラーの集積回路入手後は、エミュレーショ
ンボード34、35の代わりに入手した集積回路をIC
ソケット22、23にそれぞれ実装することで、図1で
示した第1の実施例と同様にテストシステムとしてのエ
ミュレーションシステム4からターゲットシステム3を
アクセスする時とターゲットシステム3内でマイクロプ
ロセッサ11が命令のフェッチ、実行ともに行う時とは
完全に分けることができるので、周波数も独立に設定し
て、ターゲットシステム3内でプログラムを実行すると
きには高速動作を可能にすることができる。
【0023】以上のように本実施例によれば、テストシ
ステムのメモリ、レジスタ等をアクセスする回路とター
ゲットシステム内の開発中の集積回路を実現するため、
プログラム可能なエミュレーションシステム4を用いる
ことにより、テストシステムとターゲットシステムの一
部を同一システムで共用して、柔軟なテストシステムを
早期に開発でき、またターゲットシステムも集積回路入
手前から早期にデバッグできる。
ステムのメモリ、レジスタ等をアクセスする回路とター
ゲットシステム内の開発中の集積回路を実現するため、
プログラム可能なエミュレーションシステム4を用いる
ことにより、テストシステムとターゲットシステムの一
部を同一システムで共用して、柔軟なテストシステムを
早期に開発でき、またターゲットシステムも集積回路入
手前から早期にデバッグできる。
【0024】なお、第1、第2の実施例において、アー
ビタ回路は独立しているものとしたが、これはマイクロ
プロセッサ内、または集積回路内に存在してもよい。
ビタ回路は独立しているものとしたが、これはマイクロ
プロセッサ内、または集積回路内に存在してもよい。
【0025】また、第2の実施例において、エミュレー
ションボードは説明の便宜上エミュレーション機能ごと
に3つに分かれているものとしたが、これは1つのボー
ド上に3つの機能がプログラムされていてもよい。
ションボードは説明の便宜上エミュレーション機能ごと
に3つに分かれているものとしたが、これは1つのボー
ド上に3つの機能がプログラムされていてもよい。
【0026】
(1)以上のように本発明は外部制御信号によりオン・
オフ制御可能なシステムバスアービタ機能を設けること
により、容易にシステムデバッグでき、しかも高速動作
可能にすることができる。 (2)以上のように本発明はテストシステムのメモリ、
レジスタ等をアクセスする回路とターゲットシステム内
の開発中の集積回路を実現するため、プログラム可能な
エミュレーションシステムを用いることにより、テスト
システムとターゲットシステムの一部を同一システムで
共用して、、柔軟なテストシステムを早期に開発でき、
またターゲットシステムも集積回路入手前から早期にデ
バッグできる。
オフ制御可能なシステムバスアービタ機能を設けること
により、容易にシステムデバッグでき、しかも高速動作
可能にすることができる。 (2)以上のように本発明はテストシステムのメモリ、
レジスタ等をアクセスする回路とターゲットシステム内
の開発中の集積回路を実現するため、プログラム可能な
エミュレーションシステムを用いることにより、テスト
システムとターゲットシステムの一部を同一システムで
共用して、、柔軟なテストシステムを早期に開発でき、
またターゲットシステムも集積回路入手前から早期にデ
バッグできる。
【図1】本発明の第1の実施例におけるシステムデバッ
グ方法を実現する装置の構成図
グ方法を実現する装置の構成図
【図2】本発明の第1の実施例におけるメモリ・レジス
タアクセスボードのブロック図
タアクセスボードのブロック図
【図3】本発明の第2の実施例におけるシステムデバッ
グ方法を実現する装置の構成図
グ方法を実現する装置の構成図
【図4】従来のシステムデバッグ装置の構成図
1 ターゲットシステム 2 テストシステム 3 ターゲットシステム 4 エミュレーションシステム 11 マイクロプロセッサ 17 アービタ回路 32 メモリ・レジスタアクセスボード 34、35 集積回路用エミュレーションボード 36 メモリ・レジスタアクセス回路用エミュレーショ
ンボード 37 パターンジェネレータ 38 ロジックアナライザ
ンボード 37 パターンジェネレータ 38 ロジックアナライザ
Claims (2)
- 【請求項1】マイクロプロセッサを搭載し、外部制御信
号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有す
るターゲットシステムと、上記ターゲットシステムのシ
ステムバスに接続し、ターゲットシステム上のメモリ、
レジスタ等をライト・リード可能なテストシステムとを
備えたハードウェア環境下で、まずターゲットシステム
内のアービタ機能をオフにして、システムバスを開放
し、テストシステムがターゲットシステムにプログラム
のダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の条件設定
を行い、次にアービタ機能をオンにして、ターゲットシ
ステム内でマイクロプロセッサがプログラムを実行し
て、ターゲットシステムのデバッグを行うことを特徴と
するシステムデバッグ方法。 - 【請求項2】マイクロプロセッサを搭載し、外部制御信
号によりオン・オフ制御可能なバスアービタ機能を有す
るターゲットシステムと、上記ターゲットシステムのシ
ステムバスと集積回路の端子に接続し、プログラム可能
なハードウェア上にターゲットシステムのメモリ、レジ
スタ等をアクセスする回路とターゲットシステム内の開
発中の集積回路をマッピングしたエミュレーションシス
テムとを備えたハードウェア環境下で、まずターゲット
システム内のアービタ機能をオフにして、システムバス
を開放し、テストシステムがターゲットシステムにプロ
グラムのダウンロード、またはメモリ、レジスタ等の条
件設定を行い、次にアービタ機能をオンにして、ターゲ
ットシステム内でマイクロプロセッサがプログラムを実
行して、ターゲットシステムのデバッグを行うことを特
徴とするシステムデバッグ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4014607A JPH05204701A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | システムデバッグ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4014607A JPH05204701A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | システムデバッグ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05204701A true JPH05204701A (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=11865893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4014607A Pending JPH05204701A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | システムデバッグ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05204701A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038678A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Seiko Epson Corp | バーインテストシステム、バーインテスト方法 |
-
1992
- 1992-01-30 JP JP4014607A patent/JPH05204701A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038678A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Seiko Epson Corp | バーインテストシステム、バーインテスト方法 |
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