JPH05210732A - 光学システムの幾何学を決定するための装置及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 入力媒体１８の実走査の期間に切換画素を変
更するための装置を提供すること。 【構成】 該装置は、非実走査の期間に２次元表面を走
査する手段であって、少くとも２つの光学的突き合わせ
イメージ検知器１０，１２，１４を含む手段を備える。
更らに該装置は、非実走査の期間に動作し、イメージ検
知器の切換画素の変化位置を決定する手段と、実走査の
期間に動作し、該決定手段の出力に従って切換画素を再
画定する訂正手段とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、一般的に光学走査シス
テムの幾何学パラメータの測定に関し、詳細には光学的
に突合された（ｂｕｔｔ）イメージ検知器を有する走査
システムの幾何学パラメータの測定に関する。

【０００２】

【従来の技術】電荷結合素子（ＣＣＤ）等のイメージ検
知器が、走査表面上に位置している入力イメージ媒体を
通して入射する光を検出するための電子スキャナに利用
されている。走査イメージを生成するべく２次元物体の
全体を走査するために、イメージをイメージ検知器の走
査方向に垂直の方法に沿って変換しなければならない。
高分解能走査の場合、１つのイメージ検知器上の画素の
数は、特に大きなフォーマット入力媒体が走査される場
合必ずしも十分ではない。斯くして、入力媒体の１つの
高分解能ラインを検出するためには２つ以上のイメージ
検知器が光学的に突合されなければならない。

【０００３】機械的拘束の故に、イメージ検知器を完ぺ
きに整合させることは困難であることが知られている。
それ故、機械的拘束を簡略化し且つより大きな整合公差
を与えるために、一方が検出した入力媒体の領域の一部
分がまた他方によっても検出されるように任意の２つの
検知器が配置されている。この領域を「重なりの領域」
と呼んでいる。

【０００４】図１は、例えば３つのイメージ検知器１
０，１２及び１４と光学的に突き合わされているスキャ
ナの光学を簡易式に示している。イメージ検知器１０，
１２及び１４は、通常は外部ガラス１９を経由して内部
ガラス１８に押し付けられた入力媒体１６を通して受け
られた光を検出する。

【０００５】検知器１０，１２及び１４によって受けら
れた光は透明又は反射入力媒体１６を照明するための２
つの光源の一方によって与えられる。透明入力媒体１６
を照明する光源１５ａが示されている。

【０００６】イメージ検知器１０，１２及び１４はそれ
ぞれ、媒体１６からの光をそのそれぞれのイメージ検知
器上に集束するためのレンズ２０，２２及び２４を関連
せしめている。

【０００７】図１において、ライン４１及び４２はイメ
ージ検知器１０の視野の輪隔を描いており且つイメージ
検知器１０が検出する媒体１６の領域である検出領域３
０を画成している。イメージ検知器１２の場合、視野の
ラインはライン４３及び４４であり、検出領域は３２の
符号が付けられている。同様にして、イメージ検知器１
４の場合、視野のラインはライン４５及び４６であり、
検出領域は領域３４である。

【０００８】図１から判るように、イメージ検知器１０
と１２の間の重なりの領域は領域３６の符号が付けられ
ており、イメージ検知器１２と１４の間の重なりの領域
は領域３８の符号が付けられている。

【０００９】当技術において公知であるように、重なり
の領域における情報を１回だけ含む出力走査イメージを
生成するために任意の２つの隣接した光学的に付き合わ
されたイメージ検知器の出力を修正しなければならな
い。一方のイメージ検知器の出力が終り且つ第２のイメ
ージ検知器の出力が開始する入力媒体１６における点で
ある「切換点」を各隣接した対のイメージ検知器に対し
て画定しなければならない。

【００１０】重なりの領域３６及び３８の中で、切換点
４７及び４８がそれぞれ画定されている。これらの切換
点４７及び４８は検出領域５０からのデータの全体が出
力走査イメージにおいて用いられるイメージ検知器１２
の出力可能検出領域５０の２つの端部をそれぞれ画定し
ている。

【００１１】切換点４７及び４８はまた各々、イメージ
検知器１０及び１４の出力可能検出領域５２及び５４の
各々に対する２つの端部の一方をそれぞれ画定してい
る。破線６１及び６２は出力可能領域５２を画定する視
線を示しており、破線６３及び６４は出力可能領域５０
を画定する視線を示しており、破線６５及び６６は出力
可能領域５４を画定する視線を示している。視線６２及
び６３は切換点４７から来ており、視線６４及び６５は
切換点４８から来ている。

【００１２】「切換画素」は切換点４７又は４８あるい
は印を付けられていない他の切換点の１つを感知するイ
メージ検知器１０，１２及び１４上の画素である。これ
らの切換画素は完全な画素として画定することができ、
あるいは部分画素の精度を有することができる。後者の
場合、切換点における出力は第１イメージ検知器の対応
する切換画素の所定点と第２イメージ検知器の対応する
切換画素の所定点との重み付けされた和である。

【００１３】切換画素４７及び４８を画定する技術が開
発されている。一般的に、斯かる技術は「試験」あるい
は「訂正」パターンとして知られている所定の特殊な訂
正入力パターンを利用している。イメージ検知器はこの
訂正パターンを走査し、その結果生成された出力は切換
画素の位置を示す。これは、スキャナの校正及び集積の
期間中にあるいは各走査に先立つ予備段階として実行す
ることができる。

【００１４】イメージ検知器間の不整列を訂正するため
に、イメージ検知器の出力がラインメモリバッファに記
憶される。走査イメージの１つのラインに対する出力は
必要な訂正の程度に従って適当なイメージ検知器から得
られた適当な記憶ラインからデータを選択することによ
り生成する。

【００１５】米国特許第４，３５６，５１３号、４，４
６５，９３９号、４，４５９，６１９号及び４，６７
５，７４５号は切換画素を識別するために機械整備の間
に作動する試験パターンを利用する訂正プロセスについ
て記載している。

【００１６】米国特許第４，８７０，５０５号は、「実
走査」に先立つ訂正走査の間に利用される訂正パターン
を利用する訂正プロセスについて記載しており、ここで
実走査という用語は、その間にイメージデータが獲得さ
れ記憶される走査を指す。

【００１７】米国特許第４，７１２，１３４号は試験パ
ターンを利用していない。その代わり、これは重なり領
域における画素の密度の変化を検出し、この密度変化を
利用してその領域に対する切換画素を画定する。

【００１８】上記のシステムの内、訂正パターンから突
合せ情報（butting information）を獲得するシステム
はこの情報をスキャナの１つの定位、即ち「訂正領域」
において獲得する。しかしながら、これはシステム及び
／又は入力媒体１６の複数の不均一性を適切に訂正する
にはしばしば十分でない。この不均一性によって切換画
素が実走査の少なくとも幾つかの領域において不正確に
なることがあり、これにより顕著なエラーが引き起こさ
れる。これらのエラーは重なり領域３６に対する図２
Ａ，２Ｂ，２Ｃ，３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，及び４に示されて
いる。

【００１９】例えば、内部ガラス１８の厚さは入力媒体
の全体にわたって、主走査方向に垂直なＹ方向に沿って
不均一であり得る。図２Ａ，２Ｂ、及び２Ｃはこの問題
を示している。図２Ａは訂正データが獲得されるガラス
１８の第１領域を示している。ガラス１８はこの領域に
おける厚さＤを有している。

【００２０】Ｄよりも薄い厚さＤ１を有するガラス１８
の領域に対して、視線６２及び６３は切換点４７に到達
する前に交差し、次に広がる。媒体１６への入射のそれ
らの定位の間の領域は７０の符号が付けられている。領
域７０は出力可能領域５２及び５０の両方の一部分であ
るため、走査されたイメージはある場所において、ある
データが反復される意味を有する「二重イメージ」を有
している。

【００２１】訂正の領域よりも厚い（即ちＤ２＞Ｄ）ガ
ラス１８の領域の場合、視線６２及び６３は、図２Ｃに
示されるように入力媒体１６に到達する前には交差しな
い。出力可能領域５２又は５０のどちらにも所属しない
領域７２が形成される。これにより幾つかのデータが失
われた走査イメージが得られるが、これは領域７２は出
力されないからである。

【００２２】入力媒体１６の下でのガラス１８の平面度
は付加的にあるいは選択的に不均一であり得る。その場
合、初期訂正データから決定される切換画素が実走査の
全体にわたって正確でなくなるような倍率差が生じる。
これは図３Ａ，３Ｂ及び３Ｃに示されており、ここで図
３Ａは図２Ａと同じであり、訂正領域に生じる現象を示
している。

【００２３】図３Ｂはガラス１８の非平面性によってガ
ラス１８のある領域が検知器１０及び１２のイメージ平
面に距離ｈだけ近くなり得ることを示している。その結
果、視線６２及び６３は交差せず、未走査領域７４を残
してしまう。

【００２４】図３Ｃはガラス１８の非平面性によってガ
ラス１８のある領域がイメージ検知器１０及び１２のイ
メージ平面から距離ｈだけ遠くなり得ることを示してい
る。この状況では、視線６２及び６３は入力媒体１６に
到達する前に交差してしまい、二重イメージの領域７６
が生成する。

【００２５】図４は入力媒体１６が高さが一貫していな
い状況を示しており、これは少なくとも２つの媒体を切
断して張り合わせる工程を伴う「ペーストアップ（past
e-up）」のプロセスによって形成される媒体の場合にし
ばしば起きる。

【００２６】図４において、入力媒体１６は２つのレベ
ル８０及び８２から形成されており、ここでレベル８２
がガラス１８に近い。レベル８２は単に部分レベルであ
り、これが存在しない所は、「穴」８４がある。切換点
４７はレベル８２が存在する領域に対して正確である。
レベル８２が穴８４によって置き換えられている領域の
場合、視線６２及び６３は点４７において交差し広がる
ため、出力可能領域５０及び５２の両方の一部分である
領域８６が形成される。

【００２７】図４の状況はレベル８０の穴８４の後ろの
部分を、通常は真空装置を使用することによりガラス１
８に押し付けることにより先行技術においては部分的に
訂正されていた。しかしながら、これによっても依然と
してこれよりも小さい穴にも拘らず穴が残り、更にこれ
は、真空装置の付加に因り経費のかかるプロセスとな
る。

【００２８】

【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、上記の条件の下で全体的に良好な結果をもたらすス
キャナ出力を訂正するシステム及び方法を提供すること
にある。本発明は切換画素位置の２次元決定を行う。

【００２９】

【課題を解決するための手段】本発明によると、非実走
査の期間に２次元表面を走査する手段であって、少なく
とも２つの光学的に突き合わされたイメージ検知器を含
む手段を備える、入力媒体の実走査の期間に切換画素を
変更するための装置が提供される。この装置はまた、非
実走査の期間に作動する手段であって、少なくとも２次
元表面における不均一性によって生じるイメージ検知器
の切換画素の変化位置を決定するための手段、及び、実
走査の間作動する訂正手段であって決定手段の出力に従
って切換画素を再画定するための訂正手段を含んでい
る。

【００３０】本発明によると、非実走査の期間に走査平
面を走査するための手段であって、少なくとも２つの光
学的に突き合わされたイメージ検知器を含む手段、及
び、非実走査の期間に作動する手段であって２次元走査
平面における不均一性の出力イメージに対する効果を決
定するための手段を含む、２次元走査平面の２次元マッ
ピングのための装置が更に提供される。この決定手段は
少なくとも２つのイメージ検知器の内の２つのイメージ
検知器の間の入力媒体上の重なりの領域に光線を与える
ための少なくとも１つの光源を含んでおり、一方、これ
ら２つのイメージ検知器の各々は光源がイメージ化され
た場所を示す出力を与える。切換画素を画定するための
イメージ検知器出力を受けるための手段も提供される。

【００３１】決定手段は更に、走査方向に垂直な方向に
延びているマーキングであって、各々がイメージ検知器
の中の２つのイメージ検知器の重なり領域に位置してい
るマーキングを含む不均一性測定領域、スキャナにおけ
る校正ページを反復的に整列せしめるためのページ見当
領域、及び、走査方向及び走査方向に垂直な方向におけ
るイメージ検知器の不整列の程度を測定するための不整
列測定領域を含む校正ページを含んでいる。

【００３２】訂正手段はＬＵＴセレクタ及び複数の１次
元ＬＵＴを含む２次元ルックアップ・テーブル（ＬＵ
Ｔ）を含んでいる。

【００３３】更に、本発明によると、少なくとも１つの
イメージ検知器、少なくとも１つのレンズ及び走査平面
を含み、走査平面を照明しこれにより光のパターンを形
成するための少なくとも１つの集束された光源を含み、
上記の少なくとも１つのイメージ検知器の出力から光学
系の幾何学パラメータを決定するための手段を含む、光
学系の幾何学を決定するための装置であって、上記少な
くとも１つのイメージ検知器が光のパターンを検出し、
光のパターンに関する出力を与える装置が提供される。
光学系の２次元幾何学パラメータを決定するために走査
平面に定位されている２次元表面を走査するための手段
であって、上記少なくとも１つのイメージ検知器が少な
くとも２つのイメージ検知器を含んでおり且つ幾何学パ
ラメータが光学突合せパラメータであり且つ、集束され
た光源が点光源及び光ファイバと結び付いて作動する光
源の群から選択される手段も含まれている。

【００３４】本発明によると、入力媒体を検出する少な
くとも２つのイメージ検知器に対する切換画素を決定す
るための装置であって、上記少なくとも２つのイメージ
検知器の２つのイメージ検知器の間の入力媒体上の重な
り領域に光線を与えるための少なくとも１つの光源であ
って、上記２つのイメージ検知器の各々が光線がイメー
ジ化される場所を示す出力を与える少なくとも１つの光
源、イメージ検知器出力を受ける手段であって切換画素
を画定するための手段、及び、入力媒体を走査してこれ
により入力媒体の全体に対する切換画素を画定するため
の手段を含む装置が更に提供される。この光源は点光源
及び光ファイバと結び付いて作動する光源の群から選択
され、重なり領域に短い線の光を与えるための各光源の
ための集束レンズを含んでいる。この決定装置は試験パ
ターンを生成する特徴を有している。

【００３５】更に本発明によると、入力媒体を検出する
少なくとも２つのイメージ検知器のための切換画素を決
定するのに有用なスキャナのための校正ページが提供さ
れ、この校正ページは、スキャナにおける校正ページを
反復的に整列せしめるためのページ見当領域、及び、走
査方向に垂直な方向のマーキングであって、各々が上記
少なくとも２つのイメージ検知器の内の２つのイメージ
検知器の重なり領域に定位されているマーキングを含む
不均一性測定領域を含んでいる。この校正ページはま
た、走査方向及び走査方向に垂直な方向のイメージ検知
器の不整列の程度を測定するための不整列測定領域を含
んでいる。

【００３６】更に本発明によると、入力媒体の実走査の
期間の切換画素を変更せしめるための方法が提供され、
この方法は少なくとも２つの光学的に突き合わされたイ
メージ検知器を利用する非実走査の期間に２次元表面を
走査する段階を含んでいる。この方法はまた、少なくと
も非実走査の期間のイメージ検知器の切換画素の２次元
表面における不均一性によって生じる変化定位を決定す
る段階、及び、決定の段階の出力に従って切換画素を再
画定する段階を含んでいる。

【００３７】更に本発明によると、２次元走査平面の２
次元マッピングのための方法が提供されており、この方
法は少なくとも２つの光学的に突き合わされたイメージ
検知器を利用する非実走査の期間に走査平面を走査する
段階、及び、２次元走査平面における不均一性の非実走
査の期間の出力イメージの効果を決定する段階を含んで
いる。

【００３８】本発明によると、上記の決定段階が少なく
とも１つの光源でもって上記少なくとも２つのイメージ
検知器の中の２つのイメージ検知器の間の入力媒体上の
重なりの領域に光線を提供する段階、及び、２つのイメ
ージ検知器の各々から光線がイメージ化される場所を示
す出力を生成する段階を含む方法が更に提供される。こ
の方法はまた、切換画素を画定するためのイメージ検知
器出力を受ける段階を含んでいる。

【００３９】更に本発明によると、少なくとも１つのイ
メージ検知器、少なくとも１つのレンズ及び走査平面を
含む光学系の幾何学を決定するための方法が提供されて
おり、この方法は少なくとも１つの点光源でもって走査
平面を照明してこれにより光のパターンを形成する段
階、上記少なくとも１つのイメージ検知器でもって光の
パターンを検出する段階、及び、光のパターンに関する
出力を提供する段階及び出力から光学系の幾何学パラメ
ータを決定する段階を含んでいる。また、光学系の２次
元幾何学パラメータを決定するために走査平面に位置し
ている２次元表面を走査する段階が含まれている。

【００４０】本発明の更なる実施例によると、この方法
は少なくとも２つのイメージ検知器を含む少なくとも１
つのイメージ検知器を含んでおり、幾何学パラメータは
光学突合せパラメータである。

【００４１】

【実施例】ここで図５及び６について説明する。これら
の図はそれぞれ校正ページ１００とそのスキャナにおけ
る配置を示している。校正ページ１００はイメージ検知
器１０，１２及び１４（図１）の校正の間に利用され
る。尚、イメージ検知器１０，１２及び１４は以下の論
述の目的のみのために単線イメージ検知器となってい
る。本発明は複数のラインを検知するイメージ検知器１
０，１２及び１４に対しても作動する。

【００４２】図６は図１のシステムを等角影法で示して
いる。この中に含まれているのは２種類の光源であり、
１５ａの符号を有する光源は透明入力媒体に対してであ
り、１５ｂの符号を有する光源は反射入力媒体に対して
である。

【００４３】イメージ検知器１０，１２及び１４は複数
の単線走査を実行することにより実際の２次元走査を行
う。図６はイメージ化されたライン１０１を検出する検
知器１０，１２及び１４を示している。

【００４４】図６に示されているように、校正ページ１
００は内部ガラス１８と外部ガラス１９との間に配置さ
れており、通常は見当ピン１０２によって反復的に且つ
正確に整合されるように設計されている。校正ページ１
００は透明あるいは反射材質である。

【００４５】ページ１００は通常、３つの領域、即ち選
択的ページ見当領域１０４、選択的調節及び不整列測定
領域１０６並びに不均一性測定領域１０８に分解されて
いる。

【００４６】ページ見当領域１０４は通常、見当ピン１
０２の寸法及び定位に一致する寸法及び定位の複数の穴
１１０を含んでいる。これらの穴１１０はページ１００
を検討ピン１０２の上に配置し、これによりページ１０
０を反復的に且つ正確に整合せしめるのに利用される。

【００４７】不整列測定領域１０６は通常、集積及び業
務の期間中、光学システムを調節するための訂正パター
ン１１２を含んでいる。これは、Ｘの符号を有する走査
方向のイメージ検知器１０，１２及び１４の切換画素及
びＹの符号を有する変換方向のイメージ検知器１０，１
２及び１４の不整列の測定を含む。測定されたデータは
入力媒体の走査の全体の期間中に用いられるように訂正
テーブルに記載される。

【００４８】訂正パターン１１２は少なくとも切換画素
の位置及び必要に応じてＹ方向の不整列の程度も示す任
意の適切なパターンであり得る。例えば、図６に示され
ているパターン１１２はイスラエルのヘルツリアのサイ
テックス社製造のスマートスキャナ又はスマートツーの
集積及び業務に用いられる校正パターンに類似してい
る。この校正パターンは複数のラインから成り、本明細
書に援用される米国特許第４，８７０，５０５号に記載
の校正パターンと類似の様式で作動する。この校正パタ
ーン１１２はまた、スキャナ自体のどこかに位置してい
る校正領域にも配置することができる。この場合、校正
ページ１００は領域１０６を有する必要がない。

【００４９】不均一性測定領域１０８は通常、２つ毎の
イメージ検知器間の重なり領域のどこかに各々が位置し
ている複数のライン１１４を含んでいる。ライン１１４
はＹ方向にページ１００の端部にまで延びている。

【００５０】ライン１１４は内部ガラス１８の走査され
た部分の全体にわたる出力可能領域５０，５２及び５４
の間の切換点を画定している。このために、ライン１１
４は重なり領域３６及び３８の内部のどこかに位置して
いるだけでよい。

【００５１】イメージ検知器１０，１２及び１４上の切
換画素の位置は内部ガラス１８の走査された部分にわた
る訂正パタン１１２によって測定された初期位置から変
化することができる。Ｘ方向における位置の測定された
変化から、Ｙ方向の変化も以下に述べるように計算する
ことができる。しかしながら、Ｙ方向の変化は通常最小
であり、所望に応じて無視することができる。

【００５２】校正ページ１００は黒のマーキングを有す
る白い背景あるいはその反対、即ち白いマーキングを有
する黒い背景を有することができる。

【００５３】校正ページ１００による校正は通常設置及
び業務の時間に実行され、ハードディスク（図示せず）
等の適切な記憶媒体に通常記憶される全体の２次元走査
の過程にわたって切換画素情報の結果が得られる。

【００５４】ページ１００は以下の段階に従って走査さ
れる。： １） 訂正パターン１１２が先ず走査され、切換画素の
初期位置及び不整列の程度が決定され記憶される； ２） 次に不均一性測定領域１０８が走査され、特定の
ラインにおれる切換画素の位置が記憶される。切換画素
データはライン毎に、即ち所定数のライン毎に対して、
即ち訂正可能変化が測定される毎に記憶することができ
る。切換画素データがライン毎に記憶されない場合、こ
のデータは測定されたラインの間の走査イメージの領域
に関連する； ３） 段階２の各測定ラインに対して、切換画素は各イ
メージ検知器上のライン１１４のイメージによって決定
される。ライン１１４がイメージ検知器上の２つ以上の
画素によってイメージ化された場合、ライン１１４をイ
メージ化した画素の質量の中心が計算されて切換画素の
位置として決定される。この質量の中心の計算によって
その定位が画素の分数部分として正確に決定される。

【００５５】質量の中心の計算は以下の通りである： 〔数１〕 質量の中心＝ΣＬ_i＊Ｖ_i／ΣＶ_i (1) ここでＬ_iは画素ｉの定位であり、Ｖ_iは画素ｉの強度値
であり、ここでｉは与えられた重なり領域におけるライ
ン１１４をイメージ化した画素を指して示す。

【００５６】上記に述べた測定の結果は、２次元ページ
１００の全体を網羅するイメージ幾何学に対するガラス
１８の不均一性の効果を説明する１組のパラメータであ
る。ガラス１８の不均一性は一般的に経時変化しないた
め、切換画素及び不整列情報はハードディスク等のスキ
ャナの記憶デバイス（図示せず）に記憶される。

【００５７】実走査に先立ち、記憶された情報は訂正が
所望される各領域に対して１つずつ訂正テーブルを形成
するのに利用される。各訂正テーブルはイメージ検知器
１０，１２又は１４におけるアドレスを含んでおり、そ
こから走査イメージにおける各画素がとられる。これら
の訂正テーブルは次に実走査の間の作動のためにスキャ
ナにロードされる。

【００５８】入力媒体の走査の間、第１訂正テーブルは
第１領域に対して作動する。第１領域の端部において、
次の領域を網羅する次の訂正テーブルが選択される。こ
のプロセスは走査が修了するまで継続する。

【００５９】校正ページ１００は２つのイメージ検知器
の間の重なりの領域において且つ走査可能領域の端部に
おいて生じる内部ガラス１８の不均一性を訂正するべく
作動する２次元切換画素情報を提供する。これらの均一
性は全体的に固定され、それ故、校正及び業務の間に測
定され且つ記憶され得る。しかしながら、校正ページ１
００は媒体の不均一性を訂正しない。

【００６０】この訂正は内部ガラス１８の不均一性に従
って変化する。

【００６１】ここで図７及び８について説明する。これ
らの図は、ライン１１４（図５）に類似の様式で機能す
る校正パターンを発生するために複数の点光源を利用す
る本発明の代替実施例を示している。この実施例は、ス
キャナの光学幾何学を測定するために且つ／又はスキャ
ナを校正するのに利用することができるが、走査プロセ
スの間に切換画素の定位を測定するのに利用されるのが
この実施例の特徴である。

【００６２】図７は図１に類似しているが、複数の点光
源が付加されている点が異なり、点光源の数はイメージ
検知器の数より１つ少なくなっている。図８は図６と類
似しているが、図８では、イメージ化されたライン１０
１は３つの不整列イメージ化ライン１１５，１１７及び
１１９として示されている。

【００６３】図７及び８には、２つの点光源１２０及び
１２２が示されており、本発明によると、点光源１２０
はイメージ検知器１０及び１２の間に全体的に位置して
おり、点光源１２２はイメージ検知器１２及び１４の間
に全体的に位置している。点光源１２０及び１２２は、
複数の発光ダイオード（ＬＥＤ）、複数のレーザあるい
は複数の光ファイバと結び付いて作動する単光源等の媒
体１６上に所要光線を集束することができる任意の適切
な光源であり得る。この集束は対応するオプションのレ
ンズ１３０及び１３２と結び付いて実行することができ
る。

【００６４】これらの点光源１２０および１２２は対応
のイメージ検知器によって検出されるべきそれぞれの重
なり領域３６及び３８上に光線１２４及び１２６をそれ
ぞれ照射するように位置している。このために、光源１
２０及び１２２はこれらのイメージ検知器間で且つイメ
ージ検知器１０，１２及び１４の視野の外側に位置して
いる。

【００６５】これらのイメージ検知器が確実に光線１２
４及び１２６を検出するようにするために、これらのイ
メージ検知器のＹ方向のあり得る不整列にも拘らず、各
光源１２０又は１２２は短い光線１３４又は１３６をそ
れぞれ重なり領域３６及び３８内に生成することができ
る。これは、集束レンズであり得るレンズ１３０及び１
３２を通して達成することができる。

【００６６】図７は、イメージ検知器１０が視線１４０
に沿って点光源１２０から来る光をイメージ化し、イメ
ージ検知器１２が視線１４１及び１４２に沿ってそれぞ
れ光源１２０及び１２２から来る光をイメージ化し、イ
メージ検知器１４が視線１４３に沿って光源１２２から
来る光をイメージ化することを示している。視線１４０
−１４３が均一媒体１６を有する完ぺきに均一な内部ガ
ラス１８のために、視線６２−６５（図１）と同等であ
ることが本発明の特徴である。

【００６７】本発明によると、視線１４０−１４３は常
に出力可能領域５０，５２および５４の端部を画定して
おり、それ故、常に切替点４７及び４８の定位を画定し
ている。

【００６８】走査プロセスの予備段階の間、点光源１２
０及び１２２は走査領域の上の切替点４７及び４８の位
置を決定するために重なり領域３６及び３８の上に直接
光線１２４及び１２６を照射する。視野１４０−１４３
に沿って来る光を検出する各イメージ検知器における画
素の質量の中心は、与えられた重なり領域に対するその
イメージ検知器に対する切替画素である。

【００６９】前の実施例と同じように、切替画素の位置
は１つの画素の分数であり得る。

【００７０】図７及び８の装置は以下のように利用され
る。

【００７１】１） 上記に述べたような訂正パターンを
利用して上記に述べたような初期訂正テーブルを画定す
ることができる。あるいは、前に記憶された初期訂正パ
ラメータを読み出すことができる。

【００７２】２） 次にスキャナが所定位置にある入力
媒体１６によって作動する。点光源１２０及び１２２は
照明されて、スキャナの走査運動と結び付いて、ライン
１１４と類似のパターンを発生する。不均一性の全体の
効果がこのようにして測定される。

【００７３】特定のラインにおける切換画素の位置が測
定される。前のように、切換画素データはライン毎に、
即ち所定数のライン毎に、あるいは訂正可能な変化が測
定される毎に測定することができる。

【００７４】３） 段階２の各測定ラインに対して、切
換画素は各イメージ検知器上の光線１３４及び１３６の
内の１つのラインのイメージによって決定される。前と
同じように、光線１３４又は１３６をイメージ化した画
素の質量の中心が計算され、切換画素の定位として決定
される。

【００７５】ここで図９について簡単に説明する。図９
は構成パターンが走査された領域における１２の装置の
応答特性を図２Ａと類似の様式で図示している。ここで
また図１０乃至１４について簡単に説明する。これらの
図は、図２Ｂ，２Ｃ，３Ｂ，３Ｃ，４に提示する不均一
性に対する図２の装置の応答特性を示している。

【００７６】各数字は、実線が、先行技術で定義された
ように、初期切換画素の位置から来る視線６２及び６３
を示している。各数字はまた、破線が、本発明の点光源
１２０によって照明される更新された切換点から来る光
線１４０及び１４１を示している。

【００７７】図１４のペーストアップ等の媒体不均一性
を含む各不均一性に対して、視線１４０及び１４１は常
に切換点４７から来ることが本発明の特徴である。これ
は、当業者によって了解されるように、光線１２４が常
に重なり領域３６を照明し、同時に２つの隣接したイメ
ージ検知器１０及び１２によって検出される故に生じ
る。

【００７８】図９−１４は、これらが自明であると信じ
られる故に詳細には論ずることはしない。

【００７９】図７の装置はまた、一定の厚さ及び均一の
明るい色を有する反射媒体を入力媒体１６として配置し
且つ上記のように走査することにより固定された不均一
性を校正段階として校正するのに用いることができる。
得られた情報は媒体不均一性を有していない媒体の走査
毎に記憶され且つ利用することができる。

【００８０】図７の装置は少なくとも１つのイメージ検
知器、少なくとも１つのレンズ及び走査平面を含む任意
の型式の光学系の幾何学を決定するのに利用することが
できる。この実施例において、図７の装置は走査平面を
照明して、これにより光のパターンを形成する少なくと
も１つの点光源を含んでいる。このイメージ検知器は上
記に論じたように光のパターンを検出する。

【００８１】イメージ検知器上の光のパターンの位置は
倍率、検知器不整列等の、不均一性の光学パラメータへ
の効果に関する情報を提供することができる。斯くして
得られた情報は訂正又は他の目的のために利用すること
ができる。

【００８２】ここで図１５及び１６について説明する。
図１５は図５−６の校正ページあるいは図２の装置によ
って与えられる測定値を利用して、補間と結び付いて訂
正を実施するための回路を略示している。図１６は２次
元補間ルックアップ・テーブル（ＬＵＴ）の構造を略示
している。

【００８３】図１５の回路は入力データバス１６０に到
達するデータを補間し且つ訂正し、これにより所望拡大
を有し且つ突き合わされた且つ不整合の可能性のあるイ
メージ検知器の効果を何も有していない走査された出力
データを提供する。

【００８４】この回路は入力データが流れ込むラインメ
モリ１５８を含んでいる。ラインメモリ１５８は通常複
数のラインの周期的バッファメモリである。

【００８５】この回路は更に、出力走査イメージに所望
出力画素インデックスを発生するための出力画素インデ
ックス発生器１６２を含んでいる。このインデックスは
Ｘ計数器１６４及びライン計数器１６６によって発生す
る。Ｘ計数器１６４は出力ライン内のピクセルのインデ
ックスＸを発生し、ライン計数器１６６は出力ラインイ
ンデックスＹを発生する。

【００８６】Ｘ及びＹインデックスは２次元補間ＬＵＴ
１７０に与えられ、ＬＵＴ１７０はインデックスＸ及び
Ｙを出力されるべき所望データが常駐するラインメモリ
１５８における適切なアドレスＵ及びＶに変換する。Ｌ
ＵＴ１７０は説明がここで簡単に行なわれる図１６にお
いてより詳細に述べられている。

【００８７】ＬＵＴ１７０は複数の１次元補間ＬＵＴ１
７２を含んでおり、これらのＬＵＴ１７２の各々は出力
走査イメージの少なくとも１つの連続ラインに対して作
動するアドレス情報の１つのラインを含んでいる。ＬＵ
Ｔ１７０は更に、Ｙインデックスを受け且つＹインデッ
クスに基づくＬＵＴ１７２の適切な１つを出力上に選択
するためのＬＵＴセレクタ１７４を含んでいる。

【００８８】ＬＵＴ１７０は以下のように作動する。Ｌ
ＵＴセレクタ１７４はＹインデックスに基づく適切なＬ
ＵＴ１７２を選択する。選択されたＬＵＴ１７２のＸ定
位において見られるアドレス値（Ｕ，Ｖ）は必要に応じ
て全部の値あるいは分数値であり得る。

【００８９】ここでまた図１５について説明する。値Ｕ
及びＶの全部分がアドレス（全（Ｕ），全（Ｖ））にお
いて記憶されるラインメモリ１５８における強度値Ｉを
選択し且つＩを乗算器−累算器１８２に与えるアドレス
選択論理素子１８０に与えられる。

【００９０】乗算器−累算器１８２は隣接する画素の強
度値に対してデータ補間を実行し、ここで（Ｕ，Ｖ）は
隣りのコーナ画素のアドレスである。これは、説明が行
なわれる２次元線形補間作動の一例として図１７に示さ
れている。

【００９１】出力されるべき画素はその左上コーナがア
ドレス値（Ｕ，Ｖ）を有する画素Ｐ_nである。（Ｕ，
Ｖ）の全ての部分値は画素Ｐ₁のアドレスを画定してい
る。この例において、Ｐ₁の所望隣接画素は右手に且つ
その下にあり、Ｐ₂，Ｐ₃及びＰ₄の符号が付けられてい
る。Ｐ_nの強度値Ｉは各々が寄与するＰ_nの分数によって
重み付けされたＰ₁−Ｐ₄の強度の重み付けである。この
例において、画素の重みは画素Ｐ_nによって網羅される
各画素の面積によって決定される。各重みは補間プロセ
スにおいて対応する強度値にかけられる消す係数値に反
映される。

【００９２】ここで図１５に戻って説明する。画素
Ｐ₂，Ｐ₃及びＰ₄のアドレスはまたラインメモリ１５８
をアドレス指定して乗算器−累算器１８２にＰ₁乃至Ｐ₄
の強度値Ｉを与えるアドレス選択論理素子１８０によっ
て計算される。

【００９３】値Ｕ及びＶの分数部分は乗算器−累算器１
８２にコンボルーションに用いられる各画素の係数を与
える係数ＬＵＴ１８４をアドレス指定するのに利用され
る。次に乗算器−累算器１８２は所望補間を実行し、補
間された画素Ｐ_nの強度をデータアウトバス１８６に与
える。

【００９４】制御ユニット１８８はまた図１５の回路の
全体の作動を制御するのにも提供される。

【００９５】図１５の回路は任意の所要の種類のコンボ
ルーション技術を実行することができる。アドレス選択
論理素子１８０は所要の隣りを選択し、係数ＬＵＴ１８
４は選択されたコンボル−ション技術に対する所要係数
を提供する。

【００９６】ここで図１８−２１について説明する。こ
れらの図は共に、ＬＵＴ１７２が充填されるのに用いら
れる計算の一例を提供している。説明の簡略化の目的に
より、これらのイメージ検知器はこの例においては直線
で近似されている。

【００９７】図１８は２つのイメージ検知器１０及び１
２の間の重なり領域３６を示しており、これらのイメー
ジ検知器は、簡潔のために、Ｙ方向の変換不整列のみを
有する２つの検知器となっている。

【００９８】重なり領域３６におけるイメージ検知器１
０の画素はｎ，ｎ＋１，ｎ＋２，・・・・・ の数字が付けら
れており、重なり領域３６におけるイメージ検知器１２
の画素はｍ，ｍ＋１，ｍ＋２，・・・・・ の数字が付けられ
ている。図１８は切換点２００を示しており、これから
判るように、イメージ検知器１０に対する切換画素は画
素ｎ＋４であり、イメージ検知器１２に対する切換画素
は画素ｍ＋２である。図１８において、イメージ検知器
１２は３つの走査ラインの幅に等価な距離ｄだけ検知器
１０と不整列になっている。

【００９９】図１９はラインメモリ１５８を略示してい
る。ｉ番目のライン走査において、スキャナはイメージ
検知器１０及び１２からの強度データを読み出し、この
データをラインメモリ１５８のラインｉに置く。イメー
ジ検知器１０及び１２からのデータはラインメモリ１５
８の領域１９０及び１９２にそれぞれ置かれる。

【０１００】この不整列によって、ｉ番目の走査ライン
の間にラインメモリ１５８に置かれたデータは必ずし
も、入力イメージのｉ番目のラインに現われるデータで
はなく、加うるに、このデータの全体は切換画素情報に
関係なくラインメモリ１５８に置かれる。

【０１０１】これを訂正するために、ＬＵＴ１７２は、
出力ラインに関するイメージ検知器の不整列を補償し且
つ切換画素情報を考慮に入れる方法でデータがラインメ
モリ１５８から読み出されるように構成される。

【０１０２】図２０において、出力イメージのｉ番目の
ラインの重なり領域３６に対するイメージ検知器１０及
び１２からのデータは陰影領域によって示されるように
ラインメモリ１５８からとられる。イメージ検知器１０
及び１２からの残りのデータは利用されない。

【０１０３】重なり領域３６に対するｊ番目の出力ライ
ンに対するＬＵＴ１７２における（Ｕ，Ｖ）の値は以下
の画素、ｎ（ｉ），ｎ＋１（ｉ），ｎ＋２（ｉ），ｎ＋
３（ｉ），ｎ＋４（ｉ），ｍ＋２（ｉ−３），ｍ＋３
（ｉ−３）・・・・・・・ をアドレス指定し、ここでｋ（ｊ）
はｊ番目の走査ラインにおいて獲得された画素ｋの値で
ある。画素ｎ＋４（ｉ）及びｍ＋２（ｉ−３）はこの例
においては切換画素である。

【０１０４】当該技術において公知であるように、各Ｌ
ＵＴ１７２に記憶されたアドレスは上記の説明に従って
形成され、また、任意の所望拡大と結び付いて任意の不
整列を補償する。これらの計算は直線としてモデル化さ
れたイメージ検知器に対して以下に述べられている。イ
メージ検知器の他の幾何学的特徴は当該技術において公
知のように用いることができる。

【０１０５】ここで図２１について説明する。イメージ
検知器１０の場合、図２１において画素ｋ及びｌとして
印を付けられた２つの切換画素の間にＱ個の画素が存在
する。検知器１０が図２１に示されているように角度α
にある場合、切換画素ｌの切換画素ｋに対する「高さ」
即ち不整列はデルターＹである。

【０１０６】与えられた拡大及び分解能に対して、検知
器から出力されるべき画素の数はＰとして定められる。
斯くして、出力画素間の位置距離はＱ／Ｐであり、Ｘ方
向のイメージ検知器１０上の隣接する画素の位置の相関
関係は以下の通りである： 〔数２〕 Ｕ_j＋ｌ＝Ｕ_j＋Ｑ／Ｐ （２） Ｙ方向の相関関係は以下の通りである： 〔数３〕 Ｖ_j＋ｌ＝Ｖ_j＋デルターＹ／Ｐ （３） 当該技術において公知であるように、式２及び３は各Ｌ
ＵＴ１７２にアドレスを生成するのに利用され、ここで
各ＬＵＴ１７２はＱ及びデルターＹのそれ自身の値を有
している。

【０１０７】図２２は、角不整列を有する図２１に示さ
れているようなイメージ検知器のためのラインメモリ１
５８からデータが読み出される様式を示している。陰影
領域はイメージ検知器に対するｉ番目のラインに対して
データが読み出されるであろう領域を示している。

【０１０８】Ｘ方向の切換画素の運動はＹ方向の切換画
素の位置に僅かに影響するだけである。この効果は、所
望に応じて、以下に述べられるように且つ図２３を参照
して計算することができる。

【０１０９】図２３において、角度αに位置しているイ
メージ検知器２２０の一部分が示されている。イメージ
検知器２２０は入力媒体の第１領域に有用な第１切換画
素２２２及び入力媒体の異なった領域に有用な第２切換
画素２２４を有している。

【０１１０】画素２２２と２２４の間の距離は（デルタ
ーＸ，デルターＹ）である。デルターＸは上記に述べた
ように測定される。デルターＹは以下のようにデルター
Ｘから計算することができる： 〔数４〕 デルターＹ＝デルターＸ＊Ｔａｎα （４） ＬＵＴ１７２に記憶されている値は不整列、切換画素及
び所望拡大に従って計算される。

【図面の簡単な説明】

【図１】光学的に突き合わされたイメージ検知器を有す
るスキャナの概略図である。

【図２】異なった厚さを有するガラスの３つの領域に対
する光学突合せへの効果の概略図であり、図２Ａは訂正
データが獲得される第１領域におけるガラスの厚さを示
しており、図２Ｂはより薄いガラスの第２領域を示して
おり、図２Ｃはより厚いガラスの第３領域を示してい
る。

【図３】異なった平面度を有するガラスの３つの領域に
対する光学突合せへの効果の概略図であり、図３Ａは第
１領域におけるガラスの平面度を示しており、図３Ｂは
図１のシステムのイメージ検知器により近いガラスの第
４領域を示しており、図３Ｃはイメージ検知器からより
遠いガラスの第５領域を示している。

【図４】異なったレベルの材質を有する走査されるべき
入力媒体の光学突合せへの効果を示す該略図である。

【図５】本発明の実施例に従って構成された校正ページ
であって、図１のイメージ検知器の不整列を校正するた
めの且つ図１のガラスの不均一性により生じる２次元走
査の過程にわたる校正に対する変化を測定するための校
正ページの一部分の概略図である。

【図６】図５の校正ページが上に置かれているキャスナ
の素子の概略等角図である。

【図７】切換点の定位を動力学的に測定するのに有用な
点照明光源を有する、本発明に従って構成され且つ作動
するスキャナの概略図である。

【図８】図７のキャスナの概略等角図である。

【図９】訂正データが獲得される第１領域における図７
のスキャナの作動を示す概略図である。

【図１０】図２Ｂ，２Ｃ，３Ｂ，３Ｃの不均一性を有す
るガラスの存在下での図７のスキャナの作動を示す概略
図である。

【図１１】図２Ｂ，２Ｃ，３Ｂ，３Ｃの不均一性を有す
るガラスの存在下での図７のスキャナの作動を示す概略
図である。

【図１２】図２Ｂ，２Ｃ，３Ｂ，３Ｃの不均一性を有す
るガラスの存在下での図７のスキャナの作動を示す概略
図である。

【図１３】図２Ｂ，２Ｃ，３Ｂ，３Ｃの不均一性を有す
るガラスの存在下での図７のスキャナの作動を示す概略
図である。

【図１４】図４に示されている媒体不均一性の存在下で
の図７のスキャナの作動を示す概略図である。

【図１５】図５の校正ページ又は図７の装置のどちらか
によって与えられる測定値を利用してデータ訂正を実行
するための補間及び訂正回路のブロック図である。

【図１６】図１５の回路に有用な２次元ルックアップ・
テーブル（ＬＵＴ）の概略図である。

【図１７】図１５の回路の補間作動を理解するのに有用
な図である。

【図１８】図１６の２次元ＬＵＴの一部分を形成する１
つのＬＵＴの形成を理解するのに有用な図である。

【図１９】図１６の２次元ＬＵＴの一部分を形成する１
つのＬＵＴの形成を理解するのに有用な図である。

【図２０】図１６の２次元ＬＵＴの一部分を形成する１
つのＬＵＴの形成を理解するのに有用な図である。

【図２１】図１６の２次元ＬＵＴの一部分を形成する１
つのＬＵＴの形成を理解するのに有用な図である。

【図２２】図１６の２次元ＬＵＴの一部分を形成する１
つのＬＵＴの形成を理解するのに有用な図である。

【図２３】図１６の１つのＬＵＴの形成を理解するのに
有用なイメージ検知器の一部分の概略図である。

【符号の説明】

１０，１２，１４ イメージ検知器 １６
入力媒体 １８ 内部ガラス １９
外部ガラス ２０，２２，２４ レンズ ４１，４２，４３，４４，４５，４６ 視野 ３６，３８ 重なりの領域 ４７，
４８ 切換点 １００ 校正ページ １０２
見当ピン １０４ ページ見当領域 １０６
不整列測定領域 １０８ 不均一性測定領域 １１２
訂正パターン １２０ 点光源 １４０
−１４３ 視線 １７０ ＬＵＴ １８２
乗算器−累算器

Claims (28)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力媒体の実走査の期間に切換画素を変
   更するための装置において、 非実走査の期間に２次元表面を走査するための手段であ
   って、少なくとも２つの光学的に突き合わされたイメー
   ジ検知器を含む手段、 上記非実走査の期間に作動する手段であって、少なくと
   も上記２次元表面における不均一性によって生じる上記
   イメージ検知器の切換画素の変化位置を決定するための
   手段、 上記実走査の期間に作動する訂正手段であって、上記決
   定手段の出力に従って切換画素を再画定するための訂正
   手段を含むことを特徴とする装置。
2. 【請求項２】 ２次元走査平面の２次元マッピングのた
   めの装置において、 非実走査の期間に上記走査平面を走査するための手段で
   あって、少なくとも２つの光学的に突き合わされたイメ
   ージ検知器を含む手段、及び上記非実走査の期間に作動
   する手段であって、上記２次元走査平面における不均一
   性の出力イメージへの効果を決定するための手段を含む
   ことを特徴とする装置。
3. 【請求項３】 上記決定手段が上記少なくとも２つのイ
   メージ検知器の中の２つのイメージ検知器の間の上記入
   力媒体上の重なり領域に光線を提供するための少なくと
   も１つの光源を含んでおり、上記２つのイメージ検知器
   の各々が上記光線がイメージ化される場所を示す出力を
   提供することを特徴とする請求項１又は２の装置。
4. 【請求項４】 上記イメージ検知器出力を受けて、上記
   切換画素を画定するための手段を含むことを特徴とする
   請求項３の装置。
5. 【請求項５】 上記決定手段が校正ページを含むことを
   特徴とする請求項１又は２の装置。
6. 【請求項６】 上記校正ページが走査方向に垂直な方向
   に延びているマーキングを含む不均一性測定領域を含
   み、上記マーキングの各々が上記イメージ検知器の中の
   ２つのイメージ検知器の重なり領域に位置していること
   を特徴とする請求項５の装置。
7. 【請求項７】 上記校正ページがスキャナにおける校正
   ページを反復的に整列せしめるためのページ見当領域を
   含んでいることを特徴とする請求項５の装置。
8. 【請求項８】 上記校正ページが上記走査方向及び上記
   走査方向に垂直な方向の上記イメージ検知器の不整列の
   程度を測定するための不整列測定領域を含むことを特徴
   とする請求項５の装置。
9. 【請求項９】 上記訂正手段が２次元ルックアップ・テ
   ーブル（ＬＵＴ）を含むことを特徴とする請求項１の装
   置。
10. 【請求項１０】 上記２次元ＬＵＴがＬＵＴセレクタ及
    び複数の１次元ＬＵＴを含むことを特徴とする請求項９
    の装置。
11. 【請求項１１】 少なくとも１つのイメージ検知器、少
    なくとも１つのレンズ及び走査平面を含む光学系の幾何
    学を決定する装置において、 上記走査平面を照明し、これにより光のパターンを形成
    するための少なくとも１つの集束された光源であって、
    上記少なくとも１つのイメージ検知器が上記光のパター
    ンを検出し且つ上記光のパターンに関する出力を提供す
    る少なくとも１つの集束された光源、 上記少なくとも１つのイメージ検知器の上記出力から上
    記光学系の幾何学パラメータを決定するための手段を含
    むことを特徴とする装置。
12. 【請求項１２】 上記光学系の２次元幾何学パラメータ
    を決定するために上記走査平面に位置している２次元表
    面を走査するための手段を含むことを特徴とする請求項
    １１の装置。
13. 【請求項１３】 上記少なくとも１つのイメージ検知器
    が少なくとも２つのイメージ検知器を含み、上記幾何学
    パラメータが光学突合せパラメータであることを特徴と
    する請求項１２の装置。
14. 【請求項１４】 上記の集束された光源が点光源及び光
    ファイバと結び付いて作動する光源の群から選択される
    ことを特徴とする請求項１１乃至１３のいずれか１つの
    装置。
15. 【請求項１５】 入力媒体を検出する少なくとも２つの
    イメージ検知器に対する切換画素を決定するための装置
    において、 上記少なくとも２つのイメージ検知器の中の２つのイメ
    ージ検知器の間の上記入力媒体上の重なり領域に光線を
    与えるための少なくとも１つの光源であって、上記２つ
    のイメージ検知器の各々が上記光線がイメージ化される
    場所を示す出力を与える少なくとも１つの光源、及び上
    記イメージ検知器出力を受ける手段であって上記切換画
    素を画定するための手段を含むことを特徴とする装置。
16. 【請求項１６】 上記入力媒体を走査して、これにより
    上記入力媒体の全体に対する切換画素を画定するための
    手段を含むことを特徴とする請求項１５の装置。
17. 【請求項１７】 上記光源が点光源及び光ファイバと結
    び付いて作動する光源の群から選択されることを特徴と
    する請求項１５の装置。
18. 【請求項１８】 上記重なり領域に短い光線を提供する
    ための各光源に対する集束レンズを含むことを特徴とす
    る請求項１７の装置。
19. 【請求項１９】 試験パターンを生成することを特徴と
    する請求項１５の装置。
20. 【請求項２０】 入力媒体を検知する少なくとも２つの
    イメージ検知器に対する切換画素を決定するのに有用な
    スキャナのための校正ページにおいて、 上記スキャナにおいて上記校正ページを反復的に整列せ
    しめるためのページ見当領域、及び走査方向に垂直な方
    向のマーキングを含む不均一性測定領域であって、各々
    が上記の少なくとも２つのイメージ検知器の内の２つの
    イメージ検知器の重なり領域に位置している不均一性測
    定領域を含むことを特徴とする校正ページ。
21. 【請求項２１】 上記走査方向及び上記走査方向に垂直
    な方向の上記イメージ検知器の不整列の程度を測定する
    ための不整列測定領域を含むことを特徴とする請求項２
    ０の校正ページ。
22. 【請求項２２】 入力媒体の実走査の間に切換画素を変
    更せしめるための方法において、 少なくとも２つの光学的に突き合わされたイメージ検知
    器を利用して非実走査の期間に２次元表面を走査する段
    階、 上記非実走査の期間に、上記イメージ検知器の切換画素
    の変化位置であって、少なくとも上記２次元表面におけ
    る不均一性によって生じる変化位置を決定する段階、及
    び上記決定段階の出力に従って切換画素を再画定する段
    階を含むことを特徴とする方法。
23. 【請求項２３】 ２次元走査平面の２次元マッピングの
    ための方法において、 少なくとも２つの光学的に突き合わされたイメージ検知
    器を利用して非実走査の期間に上記走査平面を走査する
    段階、 上記非実走査の期間に、上記２次元走査平面における不
    均一性の出力イメージへの効果を決定する段階を含むこ
    とを特徴とする方法。
24. 【請求項２４】 上記決定段階が、少なくとも１つの光
    源を用いて上記少なくとも２つのイメージ検知器の中の
    ２つのイメージ検知器の間の上記入力媒体上の重なり領
    域に光線を提供する段階、及び、上記２つのイメージ検
    知器の各々から上記光線がイメージ化される場所を示す
    出力を生成する段階を含むことを特徴とする請求項２２
    又は２３の方法。
25. 【請求項２５】 上記イメージ検知器出力を受ける段階
    であって、上記切換画素を画定するための段階を含むこ
    とを特徴とする請求項２４の方法。
26. 【請求項２６】 少なくとも１つのイメージ検知器、少
    なくとも１つのレンズ及び走査平面を含む光学系の幾何
    学を決定する方法において、 少なくとも１つの点光源を用いて上記走査平面を照明
    し、これにより光のパターンを形成する段階、 上記光のパターンを上記少なくとも１つのイメージ検知
    器で検出し、上記光のパターンに関する出力を提供する
    段階、 上記出力から上記光学系の幾何学パラメータを決定する
    段階を含むことを特徴とする方法。
27. 【請求項２７】 上記光学系の２次元幾何学パラメータ
    を決定するために上記走査平面に位置した２次元表面を
    走査する段階を含むことを特徴とする請求項２６の方
    法。
28. 【請求項２８】 上記少なくとも１つのイメージ検知器
    が少なくとも２つのイメージ検知器を含んでおり、上記
    幾何学パラメータが光学突合せパラメータであることを
    特徴とする請求項２７の方法。