JPH05210858A - サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム - Google Patents
サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システムInfo
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- JPH05210858A JPH05210858A JP4245103A JP24510392A JPH05210858A JP H05210858 A JPH05210858 A JP H05210858A JP 4245103 A JP4245103 A JP 4245103A JP 24510392 A JP24510392 A JP 24510392A JP H05210858 A JPH05210858 A JP H05210858A
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/08511—Methods for track change, selection or preliminary positioning by moving the head with focus pull-in only
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学式データ記憶システムにおいて、フォー
カス誤差信号及びトラッキング誤差信号の間のサーボ・
クロストークを減少させること。 【構成】 フォーカス誤差信号（ＦＥＳ）回路１２４、
トラッキング誤差信号（ＴＥＳ）回路１２６からの信号
によりヘッド２０におけるビームの合焦調節、トラック
位置調節を実行するシステム１０において、対称に配置
した複数のセグメントを有する光検出器１２２を用い、
その少なくとも２つのセグメントからの信号を差動的に
調節することにより、ＦＥＳとＴＥＳとがほぼ独立とな
るようにする。
カス誤差信号及びトラッキング誤差信号の間のサーボ・
クロストークを減少させること。 【構成】 フォーカス誤差信号（ＦＥＳ）回路１２４、
トラッキング誤差信号（ＴＥＳ）回路１２６からの信号
によりヘッド２０におけるビームの合焦調節、トラック
位置調節を実行するシステム１０において、対称に配置
した複数のセグメントを有する光検出器１２２を用い、
その少なくとも２つのセグメントからの信号を差動的に
調節することにより、ＦＥＳとＴＥＳとがほぼ独立とな
るようにする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学式データ記憶シス
テムに関し、特にフォーカス誤差信号とトラッキング誤
差信号との間のサーボ・クロストークを減少させるため
のディスク記憶システム及びその方法に関するものであ
る。
テムに関し、特にフォーカス誤差信号とトラッキング誤
差信号との間のサーボ・クロストークを減少させるため
のディスク記憶システム及びその方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】光学式データ記憶システムは、ディスク
記憶媒体上に大量のデータを記憶する手段を提供するも
のである。そして、それのデータにアクセスするには、
レーザ・ビームをそのディスク上に合焦させ、そして反
射してきた光ビーム内にあるエンコードされている情報
を検出するようにする。リードオンリメモリ（ＲＯ
Ｍ）、単一書込／多数読取メモリ（ＷＯＲＭ）、消去可
能システム等を含む、種々の種類の光学システムが知ら
れている。その消去可能システムは、磁気−光（ＭＯ）
及び位相変化の記録媒体を備えたものである。
記憶媒体上に大量のデータを記憶する手段を提供するも
のである。そして、それのデータにアクセスするには、
レーザ・ビームをそのディスク上に合焦させ、そして反
射してきた光ビーム内にあるエンコードされている情報
を検出するようにする。リードオンリメモリ（ＲＯ
Ｍ）、単一書込／多数読取メモリ（ＷＯＲＭ）、消去可
能システム等を含む、種々の種類の光学システムが知ら
れている。その消去可能システムは、磁気−光（ＭＯ）
及び位相変化の記録媒体を備えたものである。
【０００３】一般に、光ディスク上では、データを同心
円または螺旋状のデータ・トラックに記憶するようにし
ている。レーザは、そのディスク上で合焦状態に保持
し、そしてこれと同時に回転中のそのディスクのデータ
・トラックに追従させなくてはならない。その合焦状態
は、フォーカス・アクチュエータを用いて、対物レンズ
をそのディスクに対して移動させることにより維持す
る。また、そのトラッキング位置は、リニア・アクチュ
エータを用いて、光ヘッドの位置を半径方向に移動させ
ることにより調節する。光ヘッドは、典型的には、フォ
ーカス・レンズ、フォーカス・アクチュエータ及びビー
ム屈曲ミラーを含んでいる。当該技術では、種々のフォ
ーカス及びトラッキング・サーボ構成が知られている。
円または螺旋状のデータ・トラックに記憶するようにし
ている。レーザは、そのディスク上で合焦状態に保持
し、そしてこれと同時に回転中のそのディスクのデータ
・トラックに追従させなくてはならない。その合焦状態
は、フォーカス・アクチュエータを用いて、対物レンズ
をそのディスクに対して移動させることにより維持す
る。また、そのトラッキング位置は、リニア・アクチュ
エータを用いて、光ヘッドの位置を半径方向に移動させ
ることにより調節する。光ヘッドは、典型的には、フォ
ーカス・レンズ、フォーカス・アクチュエータ及びビー
ム屈曲ミラーを含んでいる。当該技術では、種々のフォ
ーカス及びトラッキング・サーボ構成が知られている。
【０００４】最も広く用いられているトラッキング・サ
ーボ構成の１つは、トラッキング用の溝を用いたもので
ある。それのデータ・トラック領域は、ランドと称して
いる。トラッキング溝は、ディスク上の各データ・トラ
ックのいずれの側にも成形している。それらの溝は、Ｖ
字形であったり台形状であったりする。合焦させたビー
ムは、上記ランドの幅に相当するガウス直径（Gaussian
diameter）を有し、そしてこのビームを、ディスクの
その溝−ランド構造に合焦させる。このとき、回折によ
って、それら溝に対するビーム・スポットの半径方向位
置に依存した、ゼロと正または負の１次回折との間で、
異なる強度分布が生じる。一般的に、ビームがランド部
分から遠ざかり、溝部分に向かって移動するにつれ、よ
り高い強度でそれら１次へ回折が生じる。これらの光強
度分布は、サーボ光検出器上に結像し、そしてこれをト
ラッキング誤差信号（ＴＥＳ）を生成するのに用いる。
そして、このトラッキング誤差信号でリニア・アクチュ
エータを制御して、トラック上にビームを保持するため
に光ヘッドを動かすようにする。また、その同じ光検出
器を、ＴＥＳと同様にフォーカス誤差信号（ＦＥＳ）を
生成するのにも共通に用いる。そのＦＥＳは、フォーカ
ス・アクチュエータを制御するのに使用し、それにより
光ビームをトラック上で合焦状態に保持するようにす
る。
ーボ構成の１つは、トラッキング用の溝を用いたもので
ある。それのデータ・トラック領域は、ランドと称して
いる。トラッキング溝は、ディスク上の各データ・トラ
ックのいずれの側にも成形している。それらの溝は、Ｖ
字形であったり台形状であったりする。合焦させたビー
ムは、上記ランドの幅に相当するガウス直径（Gaussian
diameter）を有し、そしてこのビームを、ディスクの
その溝−ランド構造に合焦させる。このとき、回折によ
って、それら溝に対するビーム・スポットの半径方向位
置に依存した、ゼロと正または負の１次回折との間で、
異なる強度分布が生じる。一般的に、ビームがランド部
分から遠ざかり、溝部分に向かって移動するにつれ、よ
り高い強度でそれら１次へ回折が生じる。これらの光強
度分布は、サーボ光検出器上に結像し、そしてこれをト
ラッキング誤差信号（ＴＥＳ）を生成するのに用いる。
そして、このトラッキング誤差信号でリニア・アクチュ
エータを制御して、トラック上にビームを保持するため
に光ヘッドを動かすようにする。また、その同じ光検出
器を、ＴＥＳと同様にフォーカス誤差信号（ＦＥＳ）を
生成するのにも共通に用いる。そのＦＥＳは、フォーカ
ス・アクチュエータを制御するのに使用し、それにより
光ビームをトラック上で合焦状態に保持するようにす
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】問題は、光ヘッドをデ
ィスクを横切って半径方向に移動させることにより、種
々のトラックをシークする際に生じる。即ち、溝での光
の回折が、その反射光内に波面収差を生じさせ、これに
よって上記ＦＥＳの歪みが結果として引き起こされるこ
とである。このため、光ビームが、シーク動作中完全に
合焦状態から外れることにもなりかねず、従って、ディ
スク・ドライブが、その光ヘッドの位置を見失う結果と
もなる（即ち、シークの信頼性を損ねる）。この現象
は、ＴＥＳのＦＥＳへの光学的サーボ・クロストークと
称し、プリクリル（I.Prikryl）の論文「光学サーボ・
クロストーク」（Optical Society of America，Techni
cal Digest Series，Optical Data Storage，Vol.1，19
89年1月）にて、論じられている。
ィスクを横切って半径方向に移動させることにより、種
々のトラックをシークする際に生じる。即ち、溝での光
の回折が、その反射光内に波面収差を生じさせ、これに
よって上記ＦＥＳの歪みが結果として引き起こされるこ
とである。このため、光ビームが、シーク動作中完全に
合焦状態から外れることにもなりかねず、従って、ディ
スク・ドライブが、その光ヘッドの位置を見失う結果と
もなる（即ち、シークの信頼性を損ねる）。この現象
は、ＴＥＳのＦＥＳへの光学的サーボ・クロストークと
称し、プリクリル（I.Prikryl）の論文「光学サーボ・
クロストーク」（Optical Society of America，Techni
cal Digest Series，Optical Data Storage，Vol.1，19
89年1月）にて、論じられている。
【０００６】従来技術の発明には、この問題を解決しよ
うとしたものもあり、例えば、１９８９年４月３日に公
開された日本国特開平１−８９０４３号、１９８８年６
月３０日に公開された日本国特開昭６３−１５７３２６
号、及び１９８７年６月３０日に公開された日本国特開
昭６２−１４６４３９号が挙げられる。これら文献に開
示されたシステムは各々、サーボ・クロストークの僅か
な減少を得るのに、複雑な回路、複雑な光学素子あるい
はそれらの双方を必要としている。従って、本発明の目
的は、簡素でかつより実用的な解決策によって、光学式
データ記憶システムのサーボ・クロストークを減少させ
ることである。
うとしたものもあり、例えば、１９８９年４月３日に公
開された日本国特開平１−８９０４３号、１９８８年６
月３０日に公開された日本国特開昭６３−１５７３２６
号、及び１９８７年６月３０日に公開された日本国特開
昭６２−１４６４３９号が挙げられる。これら文献に開
示されたシステムは各々、サーボ・クロストークの僅か
な減少を得るのに、複雑な回路、複雑な光学素子あるい
はそれらの双方を必要としている。従って、本発明の目
的は、簡素でかつより実用的な解決策によって、光学式
データ記憶システムのサーボ・クロストークを減少させ
ることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を実現するた
め、本発明の光学式データ記憶システムでは、第１の光
ビームを発生するレーザと、光学式データ記憶媒体と、
その第１光ビームをそのデータ記憶媒体に向かわせる送
光光学系と、データ記憶媒体からの第２の光ビームを受
ける受光光学系と、サーボ回路と、を備える。その受光
光学系には、分割型の光検出器を設ける。また、上記サ
ーボ回路で、ＴＥＳ、ＦＥＳ及びデータ信号を発生す
る。光検出器は、セグメントに分割し、そしてその少な
くとも２つのセグメントからの信号を差動的に調節し
て、これにより、その結果として得られるＦＥＳがＴＥ
Ｓの変化とはほぼ独立となるようにする。この結果、本
光学システムは、光ヘッドがトラックを横切って移動す
る時でも、正確な合焦状態を維持することができるよう
になる。
め、本発明の光学式データ記憶システムでは、第１の光
ビームを発生するレーザと、光学式データ記憶媒体と、
その第１光ビームをそのデータ記憶媒体に向かわせる送
光光学系と、データ記憶媒体からの第２の光ビームを受
ける受光光学系と、サーボ回路と、を備える。その受光
光学系には、分割型の光検出器を設ける。また、上記サ
ーボ回路で、ＴＥＳ、ＦＥＳ及びデータ信号を発生す
る。光検出器は、セグメントに分割し、そしてその少な
くとも２つのセグメントからの信号を差動的に調節し
て、これにより、その結果として得られるＦＥＳがＴＥ
Ｓの変化とはほぼ独立となるようにする。この結果、本
光学システムは、光ヘッドがトラックを横切って移動す
る時でも、正確な合焦状態を維持することができるよう
になる。
【０００８】
【実施例】光学的サーボ・クロストークは、ランド−溝
構造による光の回折によって起きるものである。入射ビ
ーム内に存在するあるいはディスクでの回折によって生
じる光学フィールドの波面収差は、結果的に、サーボの
光検出器に達する強度パターンに大きな変動を生じるこ
とになる。このような収差のいくつかは、合焦位置の関
数として変動し、その他の収差は、トラック位置の関数
として変動する。サーボ信号に対するそれら収差の影響
の独立性（直交性と呼ぶ）は、シークの信頼性にとって
重要なものである。光学システム固有のあるいは光学素
子のミスアライメントによって生じる波面収差は、フォ
ーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の直交を妨
げ、ＦＥＳ／ＴＥＳクロストークを生じてしまう。
構造による光の回折によって起きるものである。入射ビ
ーム内に存在するあるいはディスクでの回折によって生
じる光学フィールドの波面収差は、結果的に、サーボの
光検出器に達する強度パターンに大きな変動を生じるこ
とになる。このような収差のいくつかは、合焦位置の関
数として変動し、その他の収差は、トラック位置の関数
として変動する。サーボ信号に対するそれら収差の影響
の独立性（直交性と呼ぶ）は、シークの信頼性にとって
重要なものである。光学システム固有のあるいは光学素
子のミスアライメントによって生じる波面収差は、フォ
ーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の直交を妨
げ、ＦＥＳ／ＴＥＳクロストークを生じてしまう。
【０００９】本発明では、それらの収差の存在に対し
て、直交となるＦＥＳを生成するようにする。これは、
光検出器を適当にセグメントに分割し、そしてそれらの
セグメントのあるものに選択的に増幅を行い、そしてそ
れからＦＥＳを発生することによって実現する。本例で
は、その直交とは、ビームが溝を横切る時に起きるとこ
ろのその溝構造によって生じる波面収差の範囲とは、Ｆ
ＥＳが独立していることを意味する。そのＦＥＳは一貫
性があり、そしてトラック位置がどこであろうと、合焦
状態が適切に保たれることになる。更に、ミスアライメ
ントまたは素子の許容誤差の結果としてディスク上の入
射波面に存在する球面収差、非点収差及びコマ収差によ
って生じるクロストークは、同じ検出器幾何形状を用い
ることにより、大幅に減少させることができる。
て、直交となるＦＥＳを生成するようにする。これは、
光検出器を適当にセグメントに分割し、そしてそれらの
セグメントのあるものに選択的に増幅を行い、そしてそ
れからＦＥＳを発生することによって実現する。本例で
は、その直交とは、ビームが溝を横切る時に起きるとこ
ろのその溝構造によって生じる波面収差の範囲とは、Ｆ
ＥＳが独立していることを意味する。そのＦＥＳは一貫
性があり、そしてトラック位置がどこであろうと、合焦
状態が適切に保たれることになる。更に、ミスアライメ
ントまたは素子の許容誤差の結果としてディスク上の入
射波面に存在する球面収差、非点収差及びコマ収差によ
って生じるクロストークは、同じ検出器幾何形状を用い
ることにより、大幅に減少させることができる。
【００１０】図１は、本発明の光学式データ記憶システ
ムの概略図であり、参照番号１０を付している。このシ
ステム１０は、光学式データ記憶媒体１２を備えてお
り、そしてこの媒体１２は、磁気−光ディスクであるこ
とが好ましい。媒体１２は、スピンドル・モータ１６に
取り付けたスピンドル１４上に載置し、そしてそのスピ
ンドル・モータで、スピンドル１４及び媒体１２を回転
させる。光ヘッド２０は、媒体１２の下に配置し、そし
てこのヘッド２０は、リニアモータ２２によって、ディ
スク１２に対して半径方向に移動させる。
ムの概略図であり、参照番号１０を付している。このシ
ステム１０は、光学式データ記憶媒体１２を備えてお
り、そしてこの媒体１２は、磁気−光ディスクであるこ
とが好ましい。媒体１２は、スピンドル・モータ１６に
取り付けたスピンドル１４上に載置し、そしてそのスピ
ンドル・モータで、スピンドル１４及び媒体１２を回転
させる。光ヘッド２０は、媒体１２の下に配置し、そし
てこのヘッド２０は、リニアモータ２２によって、ディ
スク１２に対して半径方向に移動させる。
【００１１】レーザ・ダイオード５０は、偏光ビーム５
２を生成する。このレーザ・ダイオード５０は、ほぼ７
８０ｎｍの波長の光を発生するガリウム−アルミニウム
−ヒ化物 レーザ・ダイオードであることが好ましい。
あるいはまた、レーザ・ダイオード５０は、ほぼ６７０
ｎｍの波長の光を発生する、アルミニウム−ガリウム−
インジウム・リン酸塩 レーザ・ダイオードとしてもよ
い。その光ビーム５２は、レンズ５４で平行化し、サー
キュライザ５６でサーキュレイトする。サーキュライザ
は、プリズムであることが好ましい。ビーム５２は、ビ
ーム・スプリッタ５８を通過させて、そのビーム５２の
一部分をレンズ６０に向けて反射させる。レンズ６０
は、その光を出力監視光検出器６２に合焦させる。その
検出器６２は、レーザ制御部６４に接続して、それに出
力監視信号を供給し、そしてレーザ制御部６４は、その
出力監視信号を用いて、レーザ・ダイオード５０の出力
を適切に調節するようにする。
２を生成する。このレーザ・ダイオード５０は、ほぼ７
８０ｎｍの波長の光を発生するガリウム−アルミニウム
−ヒ化物 レーザ・ダイオードであることが好ましい。
あるいはまた、レーザ・ダイオード５０は、ほぼ６７０
ｎｍの波長の光を発生する、アルミニウム−ガリウム−
インジウム・リン酸塩 レーザ・ダイオードとしてもよ
い。その光ビーム５２は、レンズ５４で平行化し、サー
キュライザ５６でサーキュレイトする。サーキュライザ
は、プリズムであることが好ましい。ビーム５２は、ビ
ーム・スプリッタ５８を通過させて、そのビーム５２の
一部分をレンズ６０に向けて反射させる。レンズ６０
は、その光を出力監視光検出器６２に合焦させる。その
検出器６２は、レーザ制御部６４に接続して、それに出
力監視信号を供給し、そしてレーザ制御部６４は、その
出力監視信号を用いて、レーザ・ダイオード５０の出力
を適切に調節するようにする。
【００１２】一方、ビーム５２の残りの部分は、ビーム
・スプリッタ５８を通過してミラー７０に達する。ミラ
ー７０は、その光をフォーカス・レンズ７２に向かって
反射する。レンズ７２は、ビーム５２を光学媒体１２上
に合焦させる。このレンズ７２は、レンズ・ホルダ７４
に取り付けている。ホルダ７４は、ディスクに対し、ア
クチュエータ・モータ７６で移動させるようにする。上
記のミラー７０、レンズ７２、ホルダ７４及びモータ７
６は、光ヘッド２０の中に配置するのが好ましい。フォ
ーカス・レンズからの光ビーム８０は、媒体１２で反射
され、そしてレンズ７２を通過し、そしてミラー７０で
反射させる。そして、ミラー７０で反射した光ビームの
一部分は、ビーム・スプリッタ５８によって、ビーム・
スプリッタ９０へ反射させる。このビーム・スプリッタ
９０は、ビーム８０をデータ・ビーム９４とサーボ・ビ
ーム９６とに分割する。
・スプリッタ５８を通過してミラー７０に達する。ミラ
ー７０は、その光をフォーカス・レンズ７２に向かって
反射する。レンズ７２は、ビーム５２を光学媒体１２上
に合焦させる。このレンズ７２は、レンズ・ホルダ７４
に取り付けている。ホルダ７４は、ディスクに対し、ア
クチュエータ・モータ７６で移動させるようにする。上
記のミラー７０、レンズ７２、ホルダ７４及びモータ７
６は、光ヘッド２０の中に配置するのが好ましい。フォ
ーカス・レンズからの光ビーム８０は、媒体１２で反射
され、そしてレンズ７２を通過し、そしてミラー７０で
反射させる。そして、ミラー７０で反射した光ビームの
一部分は、ビーム・スプリッタ５８によって、ビーム・
スプリッタ９０へ反射させる。このビーム・スプリッタ
９０は、ビーム８０をデータ・ビーム９４とサーボ・ビ
ーム９６とに分割する。
【００１３】データ・ビーム９４は、１／２波長板１０
０を通過して偏光ビーム・スプリッタ１０２に達する。
ビーム・スプリッタ１０２は、ビーム９４を２つの直交
する偏光成分に分割し、その第１の偏光成分ビーム１０
４をレンズ１０６によって、データ検出器１０８に合焦
させ、第２の偏光成分ビーム１１０を、レンズ１１２に
よって、データ光検出器１１４に合焦させる。データ回
路１１６は、検出器１０８及び１１４に接続して、記憶
媒体１２上にエンコードされたデータを表すデータ信号
を発生する。一方、サーボ・ビーム９６は、レンズ１２
０により、セグメントに分割した光検出器１２２上に合
焦させる。その検出器１２２には、フォーカス誤差信号
（ＦＥＳ）回路１２４及びトラッキング誤差信号（ＴＥ
Ｓ）回路１２６を接続している。その回路１２４とモー
タ７６には、当該技術において知られているフォーカス
・サーボ１２８を接続している。このフォーカス・サー
ボ１２８は、回路１２４からＦＥＳを受け取り、そして
モータ７６を制御してレンズ７２の位置を適当となるよ
うに調節する。また、回路１２６とモータ７６には、当
該技術で知られているトラック／シーク・サーボ１３０
を接続している。このサーボ１３０は、回路１２６から
のＴＥＳを受け取り、そしてモータ２２に、ヘッド２０
の位置を適当となるように調節させる。当該技術で知ら
れているディスク・ドライブ制御器１４０は、サーボ１
２８及び１３０、並びにレーザ制御部６４及びモータ１
６の全体的な制御を行うものである。
０を通過して偏光ビーム・スプリッタ１０２に達する。
ビーム・スプリッタ１０２は、ビーム９４を２つの直交
する偏光成分に分割し、その第１の偏光成分ビーム１０
４をレンズ１０６によって、データ検出器１０８に合焦
させ、第２の偏光成分ビーム１１０を、レンズ１１２に
よって、データ光検出器１１４に合焦させる。データ回
路１１６は、検出器１０８及び１１４に接続して、記憶
媒体１２上にエンコードされたデータを表すデータ信号
を発生する。一方、サーボ・ビーム９６は、レンズ１２
０により、セグメントに分割した光検出器１２２上に合
焦させる。その検出器１２２には、フォーカス誤差信号
（ＦＥＳ）回路１２４及びトラッキング誤差信号（ＴＥ
Ｓ）回路１２６を接続している。その回路１２４とモー
タ７６には、当該技術において知られているフォーカス
・サーボ１２８を接続している。このフォーカス・サー
ボ１２８は、回路１２４からＦＥＳを受け取り、そして
モータ７６を制御してレンズ７２の位置を適当となるよ
うに調節する。また、回路１２６とモータ７６には、当
該技術で知られているトラック／シーク・サーボ１３０
を接続している。このサーボ１３０は、回路１２６から
のＴＥＳを受け取り、そしてモータ２２に、ヘッド２０
の位置を適当となるように調節させる。当該技術で知ら
れているディスク・ドライブ制御器１４０は、サーボ１
２８及び１３０、並びにレーザ制御部６４及びモータ１
６の全体的な制御を行うものである。
【００１４】図２は、光検出器１２２の上面図である。
この検出器１２２は、中央垂直軸１５０と、中央水平軸
１５２とを有している。この検出器は、その軸１５２が
媒体１２のトラッキング溝に接する線にほぼ平行となる
ように、配向する。また、検出器１２２は、１５のセグ
メントＡ〜Ｏに分割している。垂直ストライプ１５４
は、軸１５０に沿って中央に配置していて、セグメント
Ｂ，Ｅ，Ｈ，Ｋ，Ｎを含んでいる。また、垂直部分１５
６は、セグメントＡ，Ｄ，Ｇ，Ｊ，Ｍを含み、更に、垂
直部分１５８は、セグメントＣ，Ｆ，Ｉ，Ｌ，Ｏを含ん
でいる。一対の水平ストライプ１６０，１６２は、軸１
５２に対し対称に配置している。ストライプ１６０は、
セグメントＤ，Ｅ，Ｆを含み、ストライプ１６２はセグ
メントＪ，Ｋ，Ｌを含んでいる。また、水平ストライプ
１６４は、ストライプ１６０及び１６２の間で軸１５２
に沿った中央部を占めている。このストライプ１６４
は、セグメントＧ，Ｈ，Ｉを含んでいる。更に、一対の
水平部分１６６及び１６８は、それぞれストライプ１６
０の上とストライプ１６２の下とに配置し、そしてその
水平部分１６６はセグメントＡ，Ｂ，Ｃを含み、一方水
平部分１６８はセグメントＭ，Ｎ，Ｏを含んでいる。
この検出器１２２は、中央垂直軸１５０と、中央水平軸
１５２とを有している。この検出器は、その軸１５２が
媒体１２のトラッキング溝に接する線にほぼ平行となる
ように、配向する。また、検出器１２２は、１５のセグ
メントＡ〜Ｏに分割している。垂直ストライプ１５４
は、軸１５０に沿って中央に配置していて、セグメント
Ｂ，Ｅ，Ｈ，Ｋ，Ｎを含んでいる。また、垂直部分１５
６は、セグメントＡ，Ｄ，Ｇ，Ｊ，Ｍを含み、更に、垂
直部分１５８は、セグメントＣ，Ｆ，Ｉ，Ｌ，Ｏを含ん
でいる。一対の水平ストライプ１６０，１６２は、軸１
５２に対し対称に配置している。ストライプ１６０は、
セグメントＤ，Ｅ，Ｆを含み、ストライプ１６２はセグ
メントＪ，Ｋ，Ｌを含んでいる。また、水平ストライプ
１６４は、ストライプ１６０及び１６２の間で軸１５２
に沿った中央部を占めている。このストライプ１６４
は、セグメントＧ，Ｈ，Ｉを含んでいる。更に、一対の
水平部分１６６及び１６８は、それぞれストライプ１６
０の上とストライプ１６２の下とに配置し、そしてその
水平部分１６６はセグメントＡ，Ｂ，Ｃを含み、一方水
平部分１６８はセグメントＭ，Ｎ，Ｏを含んでいる。
【００１５】図３は、ＦＥＳ回路１２４、ＴＥＳ回路１
２６及びデータ回路１１６の回路図を示す。回路１２４
は、複数の増幅器２００〜２１４，２４０及び２４６、
加算回路２２０，２２２，２２４，２２６，２３０，２
３２，２４２及び２４８、差動回路２３４及び２３６、
そして除算回路２５０を備えている。この回路１２４
は、上記のＦＥＳを出力するものであり、結果として得
られるＦＥＳは、
２６及びデータ回路１１６の回路図を示す。回路１２４
は、複数の増幅器２００〜２１４，２４０及び２４６、
加算回路２２０，２２２，２２４，２２６，２３０，２
３２，２４２及び２４８、差動回路２３４及び２３６、
そして除算回路２５０を備えている。この回路１２４
は、上記のＦＥＳを出力するものであり、結果として得
られるＦＥＳは、
【数１】 ［｛（Ａ＋Ｇ＋Ｃ＋Ｍ＋Ｉ＋Ｏ）−（Ｂ＋Ｈ＋Ｎ）｝＋
Ｚ｛（Ｄ＋Ｊ＋Ｆ＋Ｌ）−（Ｅ＋Ｋ）｝］／｛（Ａ＋Ｇ
＋Ｃ＋Ｍ＋Ｉ＋Ｏ＋Ｂ＋Ｈ＋Ｎ）＋Ｚ（Ｄ＋Ｊ＋Ｆ＋Ｌ
＋Ｅ＋Ｋ）｝ に等しい。尚、Ａ〜Ｏは、増幅器２００〜２１４による
増幅後の対応する検出器セグメントからの信号の振幅に
対応し、Ｚは、増幅器２４０及び２４６の増幅係数に等
しい。
Ｚ｛（Ｄ＋Ｊ＋Ｆ＋Ｌ）−（Ｅ＋Ｋ）｝］／｛（Ａ＋Ｇ
＋Ｃ＋Ｍ＋Ｉ＋Ｏ＋Ｂ＋Ｈ＋Ｎ）＋Ｚ（Ｄ＋Ｊ＋Ｆ＋Ｌ
＋Ｅ＋Ｋ）｝ に等しい。尚、Ａ〜Ｏは、増幅器２００〜２１４による
増幅後の対応する検出器セグメントからの信号の振幅に
対応し、Ｚは、増幅器２４０及び２４６の増幅係数に等
しい。
【００１６】一方、回路１２６は、加算回路２６０，２
６２及び２６６、差動回路２６４及び除算回路２６８を
備えている。これにより生成するＴＥＳは、
６２及び２６６、差動回路２６４及び除算回路２６８を
備えている。これにより生成するＴＥＳは、
【数２】｛（Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｊ＋Ｋ＋Ｌ）｝／（Ｄ＋
Ｅ＋Ｆ＋Ｊ＋Ｋ＋Ｌ） に等しい。尚、Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｊ，Ｋ，Ｌは、増幅器２０
９〜２１４による増幅後の対応する検出器セグメントか
らの信号出力の振幅に対応している。また、回路１１６
は、一対の増幅器２７０及び２７２、及び差動増幅器２
７４を備えている。増幅器２７０及び２７２は、それぞ
れ検出器１０８及び１１４に接続している。この回路１
１６は、検出器１０８と１１４との間の信号振幅の差で
あるデータ信号を出力する。
Ｅ＋Ｆ＋Ｊ＋Ｋ＋Ｌ） に等しい。尚、Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｊ，Ｋ，Ｌは、増幅器２０
９〜２１４による増幅後の対応する検出器セグメントか
らの信号出力の振幅に対応している。また、回路１１６
は、一対の増幅器２７０及び２７２、及び差動増幅器２
７４を備えている。増幅器２７０及び２７２は、それぞ
れ検出器１０８及び１１４に接続している。この回路１
１６は、検出器１０８と１１４との間の信号振幅の差で
あるデータ信号を出力する。
【００１７】次に、システム１０の動作について説明す
る。図１において、ディスク１２からのデータにアクセ
スしたい時、制御器１４０により、レーザ制御部６４に
レーザ・ダイオード５０を所望の出力レベルに付勢させ
る。そして、ビーム５２をディスク１２上に合焦させ
る。磁気−光媒体１２は、典型的には、アモルファス強
磁性体希土遷移金属膜であり、ネットアップまたはネッ
トダウン（net up or down）の磁化を有する磁区として
エンコードしたデータを記憶している。ビーム５２がこ
れら磁区に達すると、その反射光の偏光面が、それら磁
区のネット磁化に依存して、一方あるいは他方に回転す
る。これはカー（Kerr）効果として知られている。この
偏光の変化を、検出器１０８と１１４とに衝突する光量
の差として検出する。
る。図１において、ディスク１２からのデータにアクセ
スしたい時、制御器１４０により、レーザ制御部６４に
レーザ・ダイオード５０を所望の出力レベルに付勢させ
る。そして、ビーム５２をディスク１２上に合焦させ
る。磁気−光媒体１２は、典型的には、アモルファス強
磁性体希土遷移金属膜であり、ネットアップまたはネッ
トダウン（net up or down）の磁化を有する磁区として
エンコードしたデータを記憶している。ビーム５２がこ
れら磁区に達すると、その反射光の偏光面が、それら磁
区のネット磁化に依存して、一方あるいは他方に回転す
る。これはカー（Kerr）効果として知られている。この
偏光の変化を、検出器１０８と１１４とに衝突する光量
の差として検出する。
【００１８】反射ビーム８０の一部（サーボ・ビーム９
６）は検出器１２２に到達し、そしてこれは、サーボ信
号を発生するのに用いる。ビーム５２が合焦状態にあ
り、かつディスク１２のトラック上にある場合、ビーム
９６は、図２に示すように、断面３００として検出器１
２２上に当たる。この場合、回路１２４は、ゼロのＦＥ
Ｓを出力する。一方、ビーム５２の合焦状態が一方また
は他方に外れている場合、図２に示すように断面３０２
または３０４として、検出器１２２に当たる。この場合
は、回路１２４は正または負のＦＥＳを出力し、そして
サーボ１２８は、再び合焦状態となるまで、モータ７６
でレンズ７２を移動させる。尚、断面３００、３０２及
び３０４は、サーボ・ビーム９６の半値全幅（ＦＷＨ
Ｍ）の位置を表している。
６）は検出器１２２に到達し、そしてこれは、サーボ信
号を発生するのに用いる。ビーム５２が合焦状態にあ
り、かつディスク１２のトラック上にある場合、ビーム
９６は、図２に示すように、断面３００として検出器１
２２上に当たる。この場合、回路１２４は、ゼロのＦＥ
Ｓを出力する。一方、ビーム５２の合焦状態が一方また
は他方に外れている場合、図２に示すように断面３０２
または３０４として、検出器１２２に当たる。この場合
は、回路１２４は正または負のＦＥＳを出力し、そして
サーボ１２８は、再び合焦状態となるまで、モータ７６
でレンズ７２を移動させる。尚、断面３００、３０２及
び３０４は、サーボ・ビーム９６の半値全幅（ＦＷＨ
Ｍ）の位置を表している。
【００１９】もしビーム５２がデータ・トラック上にち
ょうどある場合、断面３００で示すように、ビーム９６
はストライプ１６０及び１６２上に等分に位置し、従っ
て回路１２６はゼロのＴＥＳを出力する。一方、ビーム
５２がそのデータ・トラックから外れるように動いた場
合、ビーム５２は、そのデータ・トラックの両側に位置
するトラッキング溝の内の一方に部分的に当たることに
なる。このとき、ビーム５２は上または下に回折され、
これにより、ストライプ１６０にはより多くの光が当た
ってそしてストライプ１６２にはより少ない光が当たる
か、あるいはその逆となる。従って、回路１２６は正ま
たは負のＴＥＳを出力し、そしてサーボ１３０は、ビー
ム５２が再びトラック上に来るまで、モータ２２でヘッ
ド２０を動かす。
ょうどある場合、断面３００で示すように、ビーム９６
はストライプ１６０及び１６２上に等分に位置し、従っ
て回路１２６はゼロのＴＥＳを出力する。一方、ビーム
５２がそのデータ・トラックから外れるように動いた場
合、ビーム５２は、そのデータ・トラックの両側に位置
するトラッキング溝の内の一方に部分的に当たることに
なる。このとき、ビーム５２は上または下に回折され、
これにより、ストライプ１６０にはより多くの光が当た
ってそしてストライプ１６２にはより少ない光が当たる
か、あるいはその逆となる。従って、回路１２６は正ま
たは負のＴＥＳを出力し、そしてサーボ１３０は、ビー
ム５２が再びトラック上に来るまで、モータ２２でヘッ
ド２０を動かす。
【００２０】上記のものとは異なるデータ・トラックを
アクセスしたい時には、制御器１４０は、サーボ１３０
及びモータ２２でヘッド２０を移動させて、別のトラッ
クをシークする。ビーム５２は、ディスク１２に沿って
半径方向に動かされるので、各トラック間の溝に遭遇す
ることになる。上述のように、ビーム５２は、それらの
溝で回折を受ける。従って、その強度分布は対称ではな
くなる。従来のシステムでは、これがＦＥＳに誤調節を
行わせ、システムが合焦状態から外れることになる。こ
れに対し、本発明のＦＥＳでは、トラック横断での収差
の影響を受けず、トラック・シーク動作中に渡って合焦
状態を保持することができる。また、本発明のもう１つ
の利点は、ミスアライメントまたは素子の許容誤差の結
果としてディスク上の入射波面に現れる球面収差、非点
収差及びコマ収差について、その影響を大幅に減少させ
られる点である。これによって、ＦＥＳ並びにＴＥＳの
双方を改善することができる。
アクセスしたい時には、制御器１４０は、サーボ１３０
及びモータ２２でヘッド２０を移動させて、別のトラッ
クをシークする。ビーム５２は、ディスク１２に沿って
半径方向に動かされるので、各トラック間の溝に遭遇す
ることになる。上述のように、ビーム５２は、それらの
溝で回折を受ける。従って、その強度分布は対称ではな
くなる。従来のシステムでは、これがＦＥＳに誤調節を
行わせ、システムが合焦状態から外れることになる。こ
れに対し、本発明のＦＥＳでは、トラック横断での収差
の影響を受けず、トラック・シーク動作中に渡って合焦
状態を保持することができる。また、本発明のもう１つ
の利点は、ミスアライメントまたは素子の許容誤差の結
果としてディスク上の入射波面に現れる球面収差、非点
収差及びコマ収差について、その影響を大幅に減少させ
られる点である。これによって、ＦＥＳ並びにＴＥＳの
双方を改善することができる。
【００２１】ある１つの好適実施例では、ビームの断面
３００は、半値全幅（ＦＷＨＭ）で、ほぼ１６０μｍの
直径を有する。また、ストライプ１５４は、ほぼ７６ミ
クロンの幅であり、またストライプ１６０及び１６２は
各々、約５５μｍの幅であり、そしてストライプ１６４
は約６０μｍの幅である。ストライプ１６０及び１６２
は各々、断面３００の直径の距離のほぼ１／３に対応す
る幅である。ストライプ１６０及び１６２の中心は、各
々、断面３００の中心から（断面３００の）直径の垂直
方向距離の約１／３から１／２の所に位置させる。検出
器１２２は、当該技術では公知の、標準的なフォトリソ
グラフィ技術を用いて作成したものである。各々の活性
の検出器領域は全て、約１０μｍの距離の不活性の不感
帯で分離している。
３００は、半値全幅（ＦＷＨＭ）で、ほぼ１６０μｍの
直径を有する。また、ストライプ１５４は、ほぼ７６ミ
クロンの幅であり、またストライプ１６０及び１６２は
各々、約５５μｍの幅であり、そしてストライプ１６４
は約６０μｍの幅である。ストライプ１６０及び１６２
は各々、断面３００の直径の距離のほぼ１／３に対応す
る幅である。ストライプ１６０及び１６２の中心は、各
々、断面３００の中心から（断面３００の）直径の垂直
方向距離の約１／３から１／２の所に位置させる。検出
器１２２は、当該技術では公知の、標準的なフォトリソ
グラフィ技術を用いて作成したものである。各々の活性
の検出器領域は全て、約１０μｍの距離の不活性の不感
帯で分離している。
【００２２】図４のＡ〜Ｄは、合焦位置（波長λを単位
とする）に対する信号振幅（任意の単位）のグラフを示
すものであり、ビームがランド上（トラック上）にある
時のＦＥＳ、ビームが溝上（トラック外）の時のＦＥ
Ｓ、そして本発明のシステムのクロストークの信号振幅
を対比的に示している。ここでは、当該技術では周知の
台形状のトラッキング溝を有するディスク媒体を使うと
仮定した。クロストークとは、ビームがランド上にある
時に、ＦＥＳ中に生じるＴＥＳの量である。ゼロの合焦
位置とは、ビームがディスク上で合焦しているときのレ
ンズ位置のことである。図４のＡは、増幅係数１（Ｚ＝
１）の増幅器２４０及び２４６で増幅を行うシステムの
場合を示している。これは、実際上差動増幅を全く行わ
ないのと同じである。これでは、ＦＥＳの大きなクロス
トーク及び非線形性があることに注意されたい。図４の
Ｂ〜Ｄは、それぞれ、Ｚ＝２、４及び６の増幅を行うシ
ステムの場合を示している。図４のＤにおいて、増幅す
ることにより生ずるサーボ・クロストークは非常に少な
く、またＦＥＳはほぼ線形であることに注目されたい。
とする）に対する信号振幅（任意の単位）のグラフを示
すものであり、ビームがランド上（トラック上）にある
時のＦＥＳ、ビームが溝上（トラック外）の時のＦＥ
Ｓ、そして本発明のシステムのクロストークの信号振幅
を対比的に示している。ここでは、当該技術では周知の
台形状のトラッキング溝を有するディスク媒体を使うと
仮定した。クロストークとは、ビームがランド上にある
時に、ＦＥＳ中に生じるＴＥＳの量である。ゼロの合焦
位置とは、ビームがディスク上で合焦しているときのレ
ンズ位置のことである。図４のＡは、増幅係数１（Ｚ＝
１）の増幅器２４０及び２４６で増幅を行うシステムの
場合を示している。これは、実際上差動増幅を全く行わ
ないのと同じである。これでは、ＦＥＳの大きなクロス
トーク及び非線形性があることに注意されたい。図４の
Ｂ〜Ｄは、それぞれ、Ｚ＝２、４及び６の増幅を行うシ
ステムの場合を示している。図４のＤにおいて、増幅す
ることにより生ずるサーボ・クロストークは非常に少な
く、またＦＥＳはほぼ線形であることに注目されたい。
【００２３】図５のＡ〜Ｄは、Ｖ字形トラッキング溝を
有する媒体を使うと仮定した以外は、図４のＡ〜Ｄのそ
れと同様のグラフを示すものである。これから判るよう
に、Ｚ＝６とした図５のＤでは、クロストークがほぼゼ
ロで、ＦＥＳの非常に良好な直線性及び一致性が結果と
して得られている。図６は、本発明において、Ｚ＝１と
Ｚ＝６とに等しい増幅を用い、更に、台形溝のディスク
を用いた場合の、ＴＥＳの振幅（任意単位）対合焦位置
（波長λの単位）のグラフを示したものである。但し、
ビームは溝上（トラック外）にあるものとした。増幅係
数Ｚ＝６の場合のＴＥＳは比較的平坦で、合焦位置には
殆ど影響されないことを示していることに注目された
い。図４のＡ〜Ｄ、図５のＡ〜Ｄ及び図６は、光学シス
テムの回折のコンピュータ・シミュレーションを用い
て、作成したものである。
有する媒体を使うと仮定した以外は、図４のＡ〜Ｄのそ
れと同様のグラフを示すものである。これから判るよう
に、Ｚ＝６とした図５のＤでは、クロストークがほぼゼ
ロで、ＦＥＳの非常に良好な直線性及び一致性が結果と
して得られている。図６は、本発明において、Ｚ＝１と
Ｚ＝６とに等しい増幅を用い、更に、台形溝のディスク
を用いた場合の、ＴＥＳの振幅（任意単位）対合焦位置
（波長λの単位）のグラフを示したものである。但し、
ビームは溝上（トラック外）にあるものとした。増幅係
数Ｚ＝６の場合のＴＥＳは比較的平坦で、合焦位置には
殆ど影響されないことを示していることに注目された
い。図４のＡ〜Ｄ、図５のＡ〜Ｄ及び図６は、光学シス
テムの回折のコンピュータ・シミュレーションを用い
て、作成したものである。
【００２４】図７は、本発明の別の実施例として用いる
ことができる光フィルタの上面図を示し、参照番号５０
０を付してある。フィルタ５００は、検出器１２２とほ
ぼ同じ寸法である。フィルタ５００は、検出器１２２の
ストライプ１６０及び１６２に寸法及び配置において対
応した２つの水平方向ストライプ５０２及び５０４で、
セグメントに分割している。このフィルタは、標準のフ
ォトリソグラフィ法を用いて、金属薄膜を真空蒸着する
ことにより作成することができる。ストライプ５０２及
び５０４は、このフィルタのその他の部分よりも光の透
過性が高い。本好適実施例では、フィルタの他の部分よ
り６倍もの多さの光が、ストライプ５０２及び５０４を
通過するようにしている。動作については、フィルタ５
００を検出器１２２上に配置して、ストライプ５０２及
び５０４が検出器１２２のストライプ１６０及び１６２
を覆うようにする。本システム１０の残りの部分は、同
じであるが、但し、回路１２４の増幅器２４０及び２４
６（図３）を省いた。このとき、回路２３６は、直接回
路２４８に接続し、また回路２３２は直接回路２４２に
接続した。これにより、ストライプ５０２及び５０４
は、フィルタの他の部分におけるよりもより多くの光ビ
ーム９６が検出器１２２に到達できるようにする。
ことができる光フィルタの上面図を示し、参照番号５０
０を付してある。フィルタ５００は、検出器１２２とほ
ぼ同じ寸法である。フィルタ５００は、検出器１２２の
ストライプ１６０及び１６２に寸法及び配置において対
応した２つの水平方向ストライプ５０２及び５０４で、
セグメントに分割している。このフィルタは、標準のフ
ォトリソグラフィ法を用いて、金属薄膜を真空蒸着する
ことにより作成することができる。ストライプ５０２及
び５０４は、このフィルタのその他の部分よりも光の透
過性が高い。本好適実施例では、フィルタの他の部分よ
り６倍もの多さの光が、ストライプ５０２及び５０４を
通過するようにしている。動作については、フィルタ５
００を検出器１２２上に配置して、ストライプ５０２及
び５０４が検出器１２２のストライプ１６０及び１６２
を覆うようにする。本システム１０の残りの部分は、同
じであるが、但し、回路１２４の増幅器２４０及び２４
６（図３）を省いた。このとき、回路２３６は、直接回
路２４８に接続し、また回路２３２は直接回路２４２に
接続した。これにより、ストライプ５０２及び５０４
は、フィルタの他の部分におけるよりもより多くの光ビ
ーム９６が検出器１２２に到達できるようにする。
【００２５】実際、ストライプ１６０及び１６２以外の
検出器部分が受光する光量は、ストライプ１６０及び１
６２に達する光量に比して減少する。その結果得られた
ＦＥＳは、溝構造に起因する収差からの影響、及び光学
素子のミスアライメントによるディスク上の入射光に現
れるそれら収差からの影響を、比較的受けないものとな
る。フィルタ５００は、当該技術では公知の、標準スポ
ット・サイズ測定用サーボ・システムと共に用いること
もできる。図８は、スポット・サイズ測定用光検出器の
上面図を示したものであり、参照番号６００を付してい
る。この検出器６００は、６つのセグメントＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆに分割している。
検出器部分が受光する光量は、ストライプ１６０及び１
６２に達する光量に比して減少する。その結果得られた
ＦＥＳは、溝構造に起因する収差からの影響、及び光学
素子のミスアライメントによるディスク上の入射光に現
れるそれら収差からの影響を、比較的受けないものとな
る。フィルタ５００は、当該技術では公知の、標準スポ
ット・サイズ測定用サーボ・システムと共に用いること
もできる。図８は、スポット・サイズ測定用光検出器の
上面図を示したものであり、参照番号６００を付してい
る。この検出器６００は、６つのセグメントＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆに分割している。
【００２６】図９は、この光検出器６００と共に用い
る、ＦＥＳ回路６１０及びＴＥＳ回路６１２の回路図を
示すものである。回路６１０は、複数の増幅器６２０〜
６３０、複数の加算増幅器６４０，６４２，６４４、差
動増幅器６４６、除算回路６４８を備えている。このＦ
ＥＳ回路６１０は、式
る、ＦＥＳ回路６１０及びＴＥＳ回路６１２の回路図を
示すものである。回路６１０は、複数の増幅器６２０〜
６３０、複数の加算増幅器６４０，６４２，６４４、差
動増幅器６４６、除算回路６４８を備えている。このＦ
ＥＳ回路６１０は、式
【数３】ＦＥＳ＝｛（Ａ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｆ）−（Ｂ＋Ｅ）｝
／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ） を実現する。回路６１２は、複数の加算増幅器６５０，
６５２，６５４、差動増幅器６５６、除算回路６５８を
備えている。このＴＥＳ回路６１２は、式
／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ） を実現する。回路６１２は、複数の加算増幅器６５０，
６５２，６５４、差動増幅器６５６、除算回路６５８を
備えている。このＴＥＳ回路６１２は、式
【数４】ＴＥＳ＝｛（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）｝
／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ） を実現する。動作において、検出器６００は、図１のシ
ステム１０の検出器１２２と置き換え、そしてＦＥＳ回
路６１０及びＴＥＳ回路６１２をそれぞれ、ＦＥＳ回路
１２４及びＴＥＳ回路１２６と置き換える。そして、フ
ィルタ５００を検出器６００上に配置し、フィルタ５０
０のストライプ５０２と５０４が、検出器６００のセグ
メントＡ，Ｂ，Ｃの部分とセグメントＤ，Ｅ，Ｆの部分
との間の境界線の各側に位置するようにする。このよう
にすることによって、検出器６００に到達する光を差動
的にフィルタ処理し、そしてその結果得られるＦＥＳ
は、比較的収差のないものとなる。フィルタ５００を用
いたこの実施例の利点は、既存のスポットサイズ測定用
光検出器上に容易に設置することができるという点にあ
る。
／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ） を実現する。動作において、検出器６００は、図１のシ
ステム１０の検出器１２２と置き換え、そしてＦＥＳ回
路６１０及びＴＥＳ回路６１２をそれぞれ、ＦＥＳ回路
１２４及びＴＥＳ回路１２６と置き換える。そして、フ
ィルタ５００を検出器６００上に配置し、フィルタ５０
０のストライプ５０２と５０４が、検出器６００のセグ
メントＡ，Ｂ，Ｃの部分とセグメントＤ，Ｅ，Ｆの部分
との間の境界線の各側に位置するようにする。このよう
にすることによって、検出器６００に到達する光を差動
的にフィルタ処理し、そしてその結果得られるＦＥＳ
は、比較的収差のないものとなる。フィルタ５００を用
いたこの実施例の利点は、既存のスポットサイズ測定用
光検出器上に容易に設置することができるという点にあ
る。
【００２７】
【発明の効果】以上のように構成した本発明では、光学
式データ記憶システムにおいて、ＦＥＳがＴＥＳの変化
にほぼ影響を受けないようにできるので、システムにお
けるサーボ・クロストークを減少させることができる。
式データ記憶システムにおいて、ＦＥＳがＴＥＳの変化
にほぼ影響を受けないようにできるので、システムにお
けるサーボ・クロストークを減少させることができる。
【図１】本発明の光ディスクドライブ・システムの概略
図。
図。
【図２】図１の光検出器の上面図。
【図３】図１のＦＥＳ（フォーカス誤差信号）回路、Ｔ
ＥＳ（トラッキング誤差信号）回路、及びデータ回路の
回路図。
ＥＳ（トラッキング誤差信号）回路、及びデータ回路の
回路図。
【図４】Ｖ字形溝を有する記憶媒体を用い、本発明を適
用して４つの異なるレベルの増幅を行った場合の、合焦
位置に対するＦＥＳ及びサーボ・クロストークのグラ
フ。
用して４つの異なるレベルの増幅を行った場合の、合焦
位置に対するＦＥＳ及びサーボ・クロストークのグラ
フ。
【図５】台形溝を有する記憶媒体を用い、本発明を適用
して４つの異なるレベルの増幅を行った場合の、合焦位
置に対するＦＥＳ及びサーボ・クロストークのグラフ。
して４つの異なるレベルの増幅を行った場合の、合焦位
置に対するＦＥＳ及びサーボ・クロストークのグラフ。
【図６】台形溝を有する記憶媒体を用い、本発明を適用
した場合の合焦位置に対するＴＥＳのグラフ。
した場合の合焦位置に対するＴＥＳのグラフ。
【図７】本発明の別の実施例に用いる光フィルタの上面
図。
図。
【図８】図７の光フィルタと共に使用できる光検出器の
上面図。
上面図。
【図９】図８の検出器を用いた場合の、ＦＥＳ回路及び
ＴＥＳ回路の回路図。
ＴＥＳ回路の回路図。
１０：光学式データ記憶システム １２：光学式データ記憶媒体 １４：スピンドル １６：スピンドルモータ ２０：光ヘッド ５２，８０：ビーム ５８，９０，１０２：ビーム・スプリッタ ６２：出力監視光検出器 ７２：フォーカス・レンズ ７６：アクチュエータ・モータ ９４：データ・ビーム ９６：サーボ・ビーム １０８，１１４：データ検出器 １２２：光検出器 １２４：フォーカス誤差信号（ＦＥＳ）回路 １２６：トラッキング誤差信号（ＴＥＳ）回路
Claims (10)
- 【請求項１】ａ） 第１の放射ビームを供給する放射手
段と、 ｂ） 光学式データ記憶媒体と、 ｃ） 前記第１放射ビームを、前記放射手段から前記記
憶媒体に送る放射伝送手段と、 ｄ） 前記記憶媒体からの第２の放射ビームを受け取る
放射受取手段であって、複数のセグメントを有する放射
検出器を備えた放射受取手段と、 ｅ） 前記検出器に接続した、出力信号を発生する出力
信号発生回路手段であって、前記検出器の少なくとも２
つのセグメントからの信号を調節して、その結果得られ
る出力信号が、前記第２放射ビーム内の波面収差からほ
ぼ独立となるようにする調節手段を備えた出力信号発生
回路手段と、を備えた光学式データ記憶システム。 - 【請求項２】請求項１に記載のシステムにおいて、前記
出力信号は、前記検出器に当たった前記放射ビームの直
径を示すものであること、を特徴とする光学式データ記
憶システム。 - 【請求項３】請求項１に記載のシステムにおいて、差動
的に調節をする前記の手段は、信号増幅手段を備えてい
ること、を特徴とする光学式データ記憶システム。 - 【請求項４】請求項１に記載のシステムにおいて、差動
的に調節をする前記の手段は、１つの光フィルタを備え
ていること、を特徴とする光学式データ記憶システム。 - 【請求項５】ａ） 第１の光ビームを生成する光源と、 ｂ） 光学式データ記憶媒体と、 ｃ） 前記第１光ビームを前記記憶媒体上に合焦させる
調節可能の合焦手段と、 ｄ） 前記第１光ビームを前記記憶媒体を横切って移動
させる移動手段と、 ｅ） 前記記憶媒体からの第２の光ビームを受取る光受
取手段であって、複数のセグメントを有する光検出器を
含んでいる光受取手段と、 ｆ） 前記光検出器に接続した、トラッキング誤差信号
を発生するトラッキング誤差信号回路と、 ｇ） 前記光検出器に接続した、フォーカス誤差信号を
発生するフォーカス誤差信号回路であって、前記検出器
のセグメントからの出力信号を差動的に増幅して、前記
フォーカス誤差信号が前記トラッキング誤差信号の変化
からほぼ独立となるようにした、フォーカス誤差信号回
路と、を備えた光学式データ記憶システム。 - 【請求項６】請求項５に記載のシステムにおいて、前記
検出器は、一対の第１のストライプ部分により、第１の
方向においてセグメント分割したこと、を特徴とする光
学式データ記憶システム。 - 【請求項７】請求項６に記載のシステムにおいて、前記
検出器は、第２のストライプ部分により、第２の方向に
おいてセグメント分割したこと、を特徴とする光学式デ
ータ記憶システム。 - 【請求項８】ａ） 第１の光ビームを生成する光源と、 ｂ） 光学式データ記憶媒体と、 ｃ） 前記第１光ビームを前記記憶媒体上に合焦させる
調節可能の合焦手段と、 ｄ） 前記第１光ビームを前記記憶媒体を横切って移動
させる移動手段と、 ｅ） 前記記憶媒体からの第２の光ビームを受取る光受
取手段であって、セグメント分割した光フィルタを有す
るセグメント分割した光検出器を備えた、光受取手段
と、 ｆ） 前記光検出器に接続した、トラッキング誤差信号
を発生するトラッキング誤差信号回路と、 ｇ） 前記光検出器に接続した、フォーカス誤差信号を
発生するフォーカス誤差信号回路であって、前記フォー
カス誤差信号が前記トラッキング誤差信号の変化からほ
ぼ独立となるようにした、フォーカス誤差信号回路と、
を備えた光学式データ記憶システム。 - 【請求項９】請求項８に記載のシステムにおいて、前記
光検出器は、一対の第１のストライプ部分により、第１
の方向においてセグメント分割したこと、を特徴とする
光学式データ記憶システム。 - 【請求項１０】光学式データ記憶システムにおいて、 ａ） 第１の放射ビームを発生するステップと、 ｂ） 前記第１放射ビームを光学式データ記憶媒体に向
けるステップと、 ｃ） 前記光学式データ記憶媒体から反射された放射ビ
ームを、複数のセグメントを有する放射検出器において
受取るステップと、 ｄ） 前記放射検出器の前記セグメントの各々からの信
号を処理して出力信号を発生するステップと、 ｅ） 前記セグメントの少なくとも２つからの信号を差
動的に増幅して、その結果得られる出力信号が、前記反
射された放射ビーム内の波面収差からほぼ独立となるよ
うにするステップと、を備えた方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US78730191A | 1991-10-29 | 1991-10-29 | |
| US787301 | 1991-10-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05210858A true JPH05210858A (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=25141047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4245103A Pending JPH05210858A (ja) | 1991-10-29 | 1992-09-14 | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5396478A (ja) |
| JP (1) | JPH05210858A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5774444A (en) * | 1990-05-25 | 1998-06-30 | Hitachi, Ltd. | Split photo detector for detecting a central portion and a peripheral portion of a reflected light beam |
| US5491682A (en) * | 1994-09-21 | 1996-02-13 | Eastman Kodak Company | Apparatus and method for controllable gain and phase matching in an optical data storage system with source noise subtraction |
| GB2307548A (en) * | 1995-11-23 | 1997-05-28 | Thomson Multimedia Sa | Optical disk pickup using a six segment photodetector for tracking control |
| US6744707B1 (en) * | 1996-06-18 | 2004-06-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| US7203138B2 (en) * | 1996-06-18 | 2007-04-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| JP3533836B2 (ja) * | 1996-08-08 | 2004-05-31 | ミツミ電機株式会社 | 光ディスクドライブのミラー信号演算回路 |
| US5768228A (en) * | 1996-09-09 | 1998-06-16 | International Business Machines Corporation | Method and sytem for cancelling optical servo crosstalk in optical disk drives |
| US5742046A (en) * | 1996-10-18 | 1998-04-21 | Eastman Kodak Company | Amplifier circuit for providing outputs as a function of sensed light |
| US5936919A (en) * | 1997-02-20 | 1999-08-10 | International Business Machines Corporation | System for compensating for hard sector noise degradation of tracking error signals in an optical data storage system |
| JP3443668B2 (ja) * | 1998-04-30 | 2003-09-08 | 富士通株式会社 | 収差補正方法及び収差補正装置 |
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Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5873024A (ja) * | 1981-10-27 | 1983-05-02 | Sharp Corp | 光学式情報処理装置 |
| JPH01173330A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦点誤差検出装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS60226030A (ja) * | 1984-04-24 | 1985-11-11 | Seiko Epson Corp | 光学式記録再生装置 |
| JP2786181B2 (ja) * | 1985-12-21 | 1998-08-13 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPS6370932A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-31 | Fujitsu Ltd | 光デイスク装置のトラツクエラ−信号検出回路 |
| JPS63157326A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光デイスク装置 |
| JPS6489043A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Toshiba Corp | Focus controller |
| JPH0827961B2 (ja) * | 1987-11-11 | 1996-03-21 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | ホログラム式光ヘッドの光検出器 |
| JP2746957B2 (ja) * | 1988-11-30 | 1998-05-06 | 株式会社東芝 | 焦点制御装置 |
| US5113386A (en) * | 1989-10-30 | 1992-05-12 | Eastman Kodak Company | Focus and tracking error detector apparatus for optical and magneto-optical information storage systems |
| US5097455A (en) * | 1990-02-06 | 1992-03-17 | Hewlett-Packard Company | Enhanced focus sending in optical information storage systems |
-
1992
- 1992-09-14 JP JP4245103A patent/JPH05210858A/ja active Pending
-
1993
- 1993-10-15 US US08/138,551 patent/US5396478A/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5396478A (en) | 1995-03-07 |
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