JPH0521414B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0521414B2 JPH0521414B2 JP59178582A JP17858284A JPH0521414B2 JP H0521414 B2 JPH0521414 B2 JP H0521414B2 JP 59178582 A JP59178582 A JP 59178582A JP 17858284 A JP17858284 A JP 17858284A JP H0521414 B2 JPH0521414 B2 JP H0521414B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation detector
- output
- incident
- detector
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の分野
この発明は、測定物体からの赤外線放射エネル
ギーを検出し、その温度を測定するような放射検
出器の補償装置に関するものである。
ギーを検出し、その温度を測定するような放射検
出器の補償装置に関するものである。
(2) 従来技術
放射検出器には、Si，PbSその他種々のものが
あるが、入射エネルギーが高くなると、第１図
で示すように、測定物体の放射率ε＝１の場合、
出力が低下し、やがて飽和してしまい、リニアリ
テイが悪化する。また、検出器に入射するエネル
ギーが大きくなると、検出器自体を加熱する影響
もあつて第１図の理想出力から第１図のよう
な低い出力となる。
あるが、入射エネルギーが高くなると、第１図
で示すように、測定物体の放射率ε＝１の場合、
出力が低下し、やがて飽和してしまい、リニアリ
テイが悪化する。また、検出器に入射するエネル
ギーが大きくなると、検出器自体を加熱する影響
もあつて第１図の理想出力から第１図のよう
な低い出力となる。
従来、第１図の実際の出力を検出器の特性と
し、目盛付を行つていた。
し、目盛付を行つていた。
このため、放射率ε＝0.5と低い測定では、検
出器に大きな放射エネルギーは入射しないため、
上記のような出力低下は生ぜず、第１図の出力
となる。ところが、目盛特性上、第１図の出力
の1/2の第１図の出力について正しいものとな
る目盛付がされているため、誤差を生じてしま
う。
出器に大きな放射エネルギーは入射しないため、
上記のような出力低下は生ぜず、第１図の出力
となる。ところが、目盛特性上、第１図の出力
の1/2の第１図の出力について正しいものとな
る目盛付がされているため、誤差を生じてしま
う。
(3) 発明の目的
この発明の目的は、以上の点に鑑み、放射検出
器に入射する放射エネルギーが高い場合であつて
も、常に正しい測定を可能とした放射検出器の補
償装置を提供することである。
器に入射する放射エネルギーが高い場合であつて
も、常に正しい測定を可能とした放射検出器の補
償装置を提供することである。
(4) 発明の原理・概要
この発明は、第１図の実際の出力から、検出
器の入射エネルギーが高く、再現性ある領域Ｓで
第１図の理想出力となるように補正を行うこと
により、入射エネルギーが減少して第１図のよ
うになつても広い範囲で正しい測定を可能として
いる。
器の入射エネルギーが高く、再現性ある領域Ｓで
第１図の理想出力となるように補正を行うこと
により、入射エネルギーが減少して第１図のよ
うになつても広い範囲で正しい測定を可能として
いる。
つまり、この発明は、放射エネルギーを受光し
て電気信号に変換する放射検出器に入射する放射
エネルギーが高い領域であつて再現性のある領域
での検出器出力の低下の補正を補正手段で行うよ
うにした放射検出器の補償回路である。
て電気信号に変換する放射検出器に入射する放射
エネルギーが高い領域であつて再現性のある領域
での検出器出力の低下の補正を補正手段で行うよ
うにした放射検出器の補償回路である。
(5) 発明の実施例
第２図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。
図である。
図において、１は入射した放射エネルギーを電
気信号に変換する放射検出器、２は放射検出器１
の出力をその温度補償信号により温度補償して増
幅する増幅手段、３は放射検出器１の入射エネル
ギーが高く再現性のある領域で、第１図の出力
を第１図のように補正する補正手段である。
気信号に変換する放射検出器、２は放射検出器１
の出力をその温度補償信号により温度補償して増
幅する増幅手段、３は放射検出器１の入射エネル
ギーが高く再現性のある領域で、第１図の出力
を第１図のように補正する補正手段である。
つまり、放射検出器１に入射する放射エネルギ
ーが高い領域であつて再現性のある領域におい
て、放射検出器１の増幅手段２で増幅された出力
は、補正手段３で正しい理想出力とされているの
で、測定物体の放射率が低下しても常に正しい測
定が可能となる。
ーが高い領域であつて再現性のある領域におい
て、放射検出器１の増幅手段２で増幅された出力
は、補正手段３で正しい理想出力とされているの
で、測定物体の放射率が低下しても常に正しい測
定が可能となる。
第３図は、この発明の他の実施例を示し、第２
図と同一符号は同一構成要素を示す。
図と同一符号は同一構成要素を示す。
この例では、補正手段として、Ａ−Ｄ変換器
４、ROMのようなメモリ５、Ｄ−Ａ変換器６を
用い、あらかじめメモリ５に補正係数を記憶して
おき、放射検出器１、増幅手段２の出力をＡ−Ｄ
変換器４でデジタル信号とし、このデジタル信号
値に従つてメモリ５から補正係数を読み出し、Ｄ
−Ａ変換器６により増幅手段２の出力との積をと
り、補正された正しい信号を得るようにしてい
る。
４、ROMのようなメモリ５、Ｄ−Ａ変換器６を
用い、あらかじめメモリ５に補正係数を記憶して
おき、放射検出器１、増幅手段２の出力をＡ−Ｄ
変換器４でデジタル信号とし、このデジタル信号
値に従つてメモリ５から補正係数を読み出し、Ｄ
−Ａ変換器６により増幅手段２の出力との積をと
り、補正された正しい信号を得るようにしてい
る。
ところで、補正値を決めるには、例えば温度が
一定の黒体炉からの放射エネルギーを放射検出器
１に入射させ、種々の透過率をもつメツシユを用
いて、第４図で示すように透過率と出力との関
係を求め、これより第４図で示すような出力と
なる補正値を求める。
一定の黒体炉からの放射エネルギーを放射検出器
１に入射させ、種々の透過率をもつメツシユを用
いて、第４図で示すように透過率と出力との関
係を求め、これより第４図で示すような出力と
なる補正値を求める。
また、第５図で示すように、放射率ε＝1.0
のときの温度−出力特性および第５図で示すよ
うな放射率ε＝0.5のときの温度−出力特性を求
める。この第５図の曲線を２倍して第５図の
曲線を求めて理想出力とし、この第５図の曲線
と第５図の曲線との差から補正値を求める。
のときの温度−出力特性および第５図で示すよ
うな放射率ε＝0.5のときの温度−出力特性を求
める。この第５図の曲線を２倍して第５図の
曲線を求めて理想出力とし、この第５図の曲線
と第５図の曲線との差から補正値を求める。
(6) 発明の効果
以上述べたように、この発明は、放射検出器に
入射する放射エネルギーが大きく、再現性のある
領域で補正を行つているので、測定動作範囲（ダ
イナミツクレンジ）を拡大することができ、検出
器自体の微少温度変化の影響を軽減でき、測定対
象の放射率が種々の場合等であつても常に正しい
測定が可能となる。
入射する放射エネルギーが大きく、再現性のある
領域で補正を行つているので、測定動作範囲（ダ
イナミツクレンジ）を拡大することができ、検出
器自体の微少温度変化の影響を軽減でき、測定対
象の放射率が種々の場合等であつても常に正しい
測定が可能となる。
第１図、第４図、第５図は、この発明の説明
図、第２図、第３図は、この発明の一実施例を示
す構成説明図である。 １……放射検出器、２……増幅手段、３……補
正手段。
図、第２図、第３図は、この発明の一実施例を示
す構成説明図である。 １……放射検出器、２……増幅手段、３……補
正手段。
Claims (1)
- １ 放射エネルギーを受光して電気信号に変換す
る放射検出器と、この放射検出器に入射する放射
エネルギーが高い領域であつて再現性のある領域
での前記放射検出器出力の低下を補償する、あら
かじめ異なる大きさのの放射エネルギーを放射検
出器に入射させて求めるかまたは放射率の異なる
放射エネルギーを放射検出器に入射させたときの
温度・出力特性から求めた補正値により補正する
補正手段とを備え、常に正しい測温ができる放射
検出器の補償装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59178582A JPS6156926A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 放射検出器の補償装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59178582A JPS6156926A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 放射検出器の補償装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6156926A JPS6156926A (ja) | 1986-03-22 |
| JPH0521414B2 true JPH0521414B2 (ja) | 1993-03-24 |
Family
ID=16050993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59178582A Granted JPS6156926A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 放射検出器の補償装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6156926A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3267443B1 (en) * | 2015-03-05 | 2019-09-04 | Mitsubishi Electric Corporation | Out-of-core nuclear instrumentation device |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4845034U (ja) * | 1971-10-02 | 1973-06-12 | ||
| JPS4912981U (ja) * | 1972-05-04 | 1974-02-02 |
-
1984
- 1984-08-28 JP JP59178582A patent/JPS6156926A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6156926A (ja) | 1986-03-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |