JPH05215522A - 粒径分布測定方式 - Google Patents
粒径分布測定方式Info
- Publication number
- JPH05215522A JPH05215522A JP4020835A JP2083592A JPH05215522A JP H05215522 A JPH05215522 A JP H05215522A JP 4020835 A JP4020835 A JP 4020835A JP 2083592 A JP2083592 A JP 2083592A JP H05215522 A JPH05215522 A JP H05215522A
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- Japan
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 38
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 粒体の映像または射影を入力した画像入力装
置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平方
向の連続した画素数およびその個数の統計を求め、前記
画素数および個数の統計データの中から粒子の直径に相
当するデータを抽出して計測値を補正する。 【効果】 物理的な粒径フィルタを用いずに、しかも高
速に粒径分布の測定を行うことができる。
置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平方
向の連続した画素数およびその個数の統計を求め、前記
画素数および個数の統計データの中から粒子の直径に相
当するデータを抽出して計測値を補正する。 【効果】 物理的な粒径フィルタを用いずに、しかも高
速に粒径分布の測定を行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、粒体の粒径の分布を測
定するための粒径分布測定方式に関する。
定するための粒径分布測定方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】粒体の粒径の分布を測定するための従来
の粒径分布測定方式は、物理的な粒径フィルタを用いて
一次処理を行った後、粒体の映像または射影の特定のデ
ータのみを画像入力装置に入力して測定を行うか、また
は、画像入力装置に入力した画像データをもとに、上下
左右の近傍のデータを比較しながら直径データを特定し
て測定するという手段を用いている。
の粒径分布測定方式は、物理的な粒径フィルタを用いて
一次処理を行った後、粒体の映像または射影の特定のデ
ータのみを画像入力装置に入力して測定を行うか、また
は、画像入力装置に入力した画像データをもとに、上下
左右の近傍のデータを比較しながら直径データを特定し
て測定するという手段を用いている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
粒径分布測定方式は、物理的な粒径フィルタを用いて一
次処理を行う前者の場合は、測定範囲の変更の度に粒径
フィルタの変更または調整が必要であり、このため、人
手または機械による操作が必要であるという欠点を有し
ている。
粒径分布測定方式は、物理的な粒径フィルタを用いて一
次処理を行う前者の場合は、測定範囲の変更の度に粒径
フィルタの変更または調整が必要であり、このため、人
手または機械による操作が必要であるという欠点を有し
ている。
【０００４】また、上下左右の近傍のデータを比較しな
がら直径データを特定する後者の場合は、比較のための
アルゴリズムが複雑であるため、測定時間が長くかかる
という欠点がある。
がら直径データを特定する後者の場合は、比較のための
アルゴリズムが複雑であるため、測定時間が長くかかる
という欠点がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の粒径分布測定方
式は、粒体の映像または射影を入力した画像入力装置で
得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平方向の
連続した画素数およびその個数の統計を求めて前記画素
数および個数の統計データを演算することを含むもので
あり、更に、前記画素数および個数のデータの中から粒
子の直径に相当するデータを抽出して計測値を補正して
統計データを演算することを含むものである。
式は、粒体の映像または射影を入力した画像入力装置で
得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平方向の
連続した画素数およびその個数の統計を求めて前記画素
数および個数の統計データを演算することを含むもので
あり、更に、前記画素数および個数のデータの中から粒
子の直径に相当するデータを抽出して計測値を補正して
統計データを演算することを含むものである。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すフローチャ
ート、図２は図１の実施例における直径データ抽出方法
の詳細を示すフローチャート、図３は図１の実施例の実
施のために使用する測定装置の一例を示すブロック図、
図４は図１の実施例における二値画像の走査のときの粒
体の映像の一例を示す平面図、図５は図１の実施例にに
よって得られた粒径分布を示す特性図である。
ート、図２は図１の実施例における直径データ抽出方法
の詳細を示すフローチャート、図３は図１の実施例の実
施のために使用する測定装置の一例を示すブロック図、
図４は図１の実施例における二値画像の走査のときの粒
体の映像の一例を示す平面図、図５は図１の実施例にに
よって得られた粒径分布を示す特性図である。
【０００８】図１〜図５において、まず、画像入力装置
であるＣＣＤカメラ２１によって粒体の映像または射影
を撮影し（図１のステップ１）、それを二値化処理して
二値画像データとし（図１のステップ２）、この二値画
像データを記憶装置２２に格納する。本実施例において
は、粒体上の画素を白とし、それ以外の部分の画素を黒
とすることによって二値化処理を行っている。
であるＣＣＤカメラ２１によって粒体の映像または射影
を撮影し（図１のステップ１）、それを二値化処理して
二値画像データとし（図１のステップ２）、この二値画
像データを記憶装置２２に格納する。本実施例において
は、粒体上の画素を白とし、それ以外の部分の画素を黒
とすることによって二値化処理を行っている。
【０００９】記憶装置２２に格納した二値画像データ
は、演算装置２３において、図４に示すように、粉体画
像３０の走査ラインの最上位ライン３１から最下位ライ
ン３２までの各走査ラインについて、粉体画像３０上に
ある画素数すなわち連続する白の画素数を計測してその
統計をとり、これをもとに分布図を求める（図１のステ
ップ３）。この分布曲線を表示装置２４に表示した結果
が図５の曲線４２である。
は、演算装置２３において、図４に示すように、粉体画
像３０の走査ラインの最上位ライン３１から最下位ライ
ン３２までの各走査ラインについて、粉体画像３０上に
ある画素数すなわち連続する白の画素数を計測してその
統計をとり、これをもとに分布図を求める（図１のステ
ップ３）。この分布曲線を表示装置２４に表示した結果
が図５の曲線４２である。
【００１０】この段階で、二値画像データの中に水平方
向にどの長さのものが何個あるかが判明するが、図４に
おいて“○”印を付した直径に相当するデータ以外に、
“×”印を付した直径に相当しないデータも含まれてい
る。このため、直径に相当しないデータを削除して直径
に相当するデータのみを抽出する（図１のステップ
４）。
向にどの長さのものが何個あるかが判明するが、図４に
おいて“○”印を付した直径に相当するデータ以外に、
“×”印を付した直径に相当しないデータも含まれてい
る。このため、直径に相当しないデータを削除して直径
に相当するデータのみを抽出する（図１のステップ
４）。
【００１１】直径に相当するデータの抽出は、一つの二
値画像データの中で最大の画素数がその二値画像データ
の粉体の直径に相当することから、図２に示すように、
一つの二値画像データの中で最大の画素数を選択し（図
２のステップ１１およびステップ１２）、その最大の画
素数を直径とする円（図２のステップ１３）を求め、こ
の円内にある画素数のデータを先に求めた統計値から減
算することによって統計値を補正する（図２のステップ
１４）。これにより、統計値に含まれるデータは、その
粒子の直径に相当するデータのみとなる。
値画像データの中で最大の画素数がその二値画像データ
の粉体の直径に相当することから、図２に示すように、
一つの二値画像データの中で最大の画素数を選択し（図
２のステップ１１およびステップ１２）、その最大の画
素数を直径とする円（図２のステップ１３）を求め、こ
の円内にある画素数のデータを先に求めた統計値から減
算することによって統計値を補正する（図２のステップ
１４）。これにより、統計値に含まれるデータは、その
粒子の直径に相当するデータのみとなる。
【００１２】全粒子の二値画像データの最長データのも
のから最短データのものまでこの操作を反復する（図２
のステップ１５）ことにより、全体の粒径分布曲線が得
られる。図５の曲線４１がこの分布曲線である。
のから最短データのものまでこの操作を反復する（図２
のステップ１５）ことにより、全体の粒径分布曲線が得
られる。図５の曲線４１がこの分布曲線である。
【００１３】なお、粒径分布を重量分布に変換してから
求める場合は、直径が小さい方の分布が圧縮されるため
に誤差が目立たなくなる。従って、測定制度よりも測定
速度が重要な場合は、上記の補正操作を省略してもよ
い。
求める場合は、直径が小さい方の分布が圧縮されるため
に誤差が目立たなくなる。従って、測定制度よりも測定
速度が重要な場合は、上記の補正操作を省略してもよ
い。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の粒径分布
測定方式は、粒体の映像または射影を入力した画像入力
装置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平
方向の連続した画素数およびその個数の統計を求め、前
記画素数および個数の統計データの中から粒子の直径に
相当するデータを抽出して計測値を補正することによ
り、物理的な粒径フィルタを用いずに、しかも高速に粒
径分布の測定を行うことができるという効果がある。
測定方式は、粒体の映像または射影を入力した画像入力
装置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水平
方向の連続した画素数およびその個数の統計を求め、前
記画素数および個数の統計データの中から粒子の直径に
相当するデータを抽出して計測値を補正することによ
り、物理的な粒径フィルタを用いずに、しかも高速に粒
径分布の測定を行うことができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図２】図１の実施例における直径データ抽出方法の詳
細を示すフローチャートである。
細を示すフローチャートである。
【図３】図１の実施例の実施のために使用する測定装置
の一例を示すブロック図である。
の一例を示すブロック図である。
【図４】図１の実施例における二値画像の走査のときの
粒体の映像の一例を示す平面図である。
粒体の映像の一例を示す平面図である。
【図５】図１の実施例にによって得られた粒径分布を示
す特性図である。
す特性図である。
１〜４・１１〜１５ ステップ ２１ ＣＣＤカメラ ２２ 記憶装置 ２３ 演算装置 ２４ 表示装置 ３０ 粉体画像 ３１ 最上位ライン ３２ 最下位ライン ４１・４２ 曲線
Claims (2)
- 【請求項１】 粒体の映像または射影を入力した画像入
力装置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水
平方向の連続した画素数およびその個数の統計を求めて
前記画素数および個数の統計データを演算することを含
むことを特徴とする粒径分布測定方式。 - 【請求項２】 粒体の映像または射影を入力した画像入
力装置で得られた二値画像データをもとに、粒体上の水
平方向の連続した画素数およびその個数の統計を求め、
前記画素数および個数のデータの中から粒子の直径に相
当するデータを抽出して計測値を補正して統計データを
演算することを含むことを特徴とする粒径分布測定方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020835A JPH05215522A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 粒径分布測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020835A JPH05215522A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 粒径分布測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215522A true JPH05215522A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=12038126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4020835A Withdrawn JPH05215522A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 粒径分布測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215522A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4955740A (ja) * | 1972-05-18 | 1974-05-30 | ||
| JPS6085828A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-15 | Inoue Japax Res Inc | ワイヤカツト放電加工装置 |
| JPH0257548A (ja) * | 1988-06-01 | 1990-02-27 | H B Fuller Co | 包装体の開封システムおよびその製造方法 |
| JPH0379645A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-04-04 | Warner Lambert Co | 変性澱粉を含有する、ポリマーをベースとするブレンド組成物 |
-
1992
- 1992-02-06 JP JP4020835A patent/JPH05215522A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4955740A (ja) * | 1972-05-18 | 1974-05-30 | ||
| JPS6085828A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-15 | Inoue Japax Res Inc | ワイヤカツト放電加工装置 |
| JPH0257548A (ja) * | 1988-06-01 | 1990-02-27 | H B Fuller Co | 包装体の開封システムおよびその製造方法 |
| JPH0379645A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-04-04 | Warner Lambert Co | 変性澱粉を含有する、ポリマーをベースとするブレンド組成物 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |