JPH0521560A - リード曲り検査装置 - Google Patents
リード曲り検査装置Info
- Publication number
- JPH0521560A JPH0521560A JP17083591A JP17083591A JPH0521560A JP H0521560 A JPH0521560 A JP H0521560A JP 17083591 A JP17083591 A JP 17083591A JP 17083591 A JP17083591 A JP 17083591A JP H0521560 A JPH0521560 A JP H0521560A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- optical image
- camera
- inspection apparatus
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】設置面積を小さく、かつ操作性が優れ、より安
価にする。 【構成】半導体装置２の側面より突出するリード４先端
部４ａからの光像を４ｂからの光像と同一方向に反射さ
せるミラー１を設け、一台のカメラ３でリード４の先端
部４ａ及び平面部を撮像する。
価にする。 【構成】半導体装置２の側面より突出するリード４先端
部４ａからの光像を４ｂからの光像と同一方向に反射さ
せるミラー１を設け、一台のカメラ３でリード４の先端
部４ａ及び平面部を撮像する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置のリード曲
り検査装置に関し、特に撮像用カメラを用いて外部体よ
り突出するリードを撮像し、リード曲りを検査するリー
ド曲り検査装置に関する。
り検査装置に関し、特に撮像用カメラを用いて外部体よ
り突出するリードを撮像し、リード曲りを検査するリー
ド曲り検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来の一例を示すリード曲り検査
装置の斜視図である。従来、この種のリード曲り検査装
置は、例えば、図３に示すように、半導体装置２の外郭
体より並んで突出する各リード４における先端部４ａ及
び平面部４ｂを撮像する３台の撮像用のカメラ３ａ及び
を備えていた。また、これらのカメラの設置方向は撮像
すべきリード４の先端部４ａ及び平面部４ｂにおける各
面に対し光軸が垂直になるように設置されていた。
装置の斜視図である。従来、この種のリード曲り検査装
置は、例えば、図３に示すように、半導体装置２の外郭
体より並んで突出する各リード４における先端部４ａ及
び平面部４ｂを撮像する３台の撮像用のカメラ３ａ及び
を備えていた。また、これらのカメラの設置方向は撮像
すべきリード４の先端部４ａ及び平面部４ｂにおける各
面に対し光軸が垂直になるように設置されていた。
【０００３】このリード曲り検査装置の手順は、まず、
カメラ３ａ及びにより撮像した画像の明暗を２値化又
は、多値化信号に処理する。例えば、２値化処理であれ
ば、リードを白、他の部分を黒というように他の部分と
リードが区別できるように図示していない画像処理装置
により処理する。次に、処理された画像は通常画像メモ
リーに一旦記憶し、マイクロコンピューターによりリー
ド４の曲り状態を検査する。リード４の平面部４ｂにお
ける画像は、主にリード４とリード４の並ぶ平面での揃
い度を検査し、リード４の先端部４ａにおける画像は各
リード４先端部に対して垂直面上での揃い度（回路基板
における実装面に対する浮き沈み）を検査する。
カメラ３ａ及びにより撮像した画像の明暗を２値化又
は、多値化信号に処理する。例えば、２値化処理であれ
ば、リードを白、他の部分を黒というように他の部分と
リードが区別できるように図示していない画像処理装置
により処理する。次に、処理された画像は通常画像メモ
リーに一旦記憶し、マイクロコンピューターによりリー
ド４の曲り状態を検査する。リード４の平面部４ｂにお
ける画像は、主にリード４とリード４の並ぶ平面での揃
い度を検査し、リード４の先端部４ａにおける画像は各
リード４先端部に対して垂直面上での揃い度（回路基板
における実装面に対する浮き沈み）を検査する。
【０００４】このように、曲りを各リード４の先端部４
ａを撮像するカメラ３ｂで、リード４の平面部ｂを各リ
ード４の平面部を撮像するカメラ３ａで検査を行ってい
た。
ａを撮像するカメラ３ｂで、リード４の平面部ｂを各リ
ード４の平面部を撮像するカメラ３ａで検査を行ってい
た。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来のリード曲り検査装置は、各リード先端部及び平面部
のそれぞれを撮像するのに３台のカメラが必要なので、
装置としての価格が高くなるばかりか、半導体装置の左
右両側に２台のカメラが配置され、装置として操作性が
悪い。また、２台のカメラを配置されるためにスペース
を大きく取らなければならないという問題があった。
来のリード曲り検査装置は、各リード先端部及び平面部
のそれぞれを撮像するのに３台のカメラが必要なので、
装置としての価格が高くなるばかりか、半導体装置の左
右両側に２台のカメラが配置され、装置として操作性が
悪い。また、２台のカメラを配置されるためにスペース
を大きく取らなければならないという問題があった。
【０００６】本発明の目的は、かかる問題を解消すべ
て、小さい占有面積でよい安価なリード曲り検査装置を
提供することである。
て、小さい占有面積でよい安価なリード曲り検査装置を
提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のリード曲り検査
装置は、半導体装置の側面より突出する複数のリードの
先端部の光像をリードの先端部と直角をなす平面部の光
像と同一方向に反射するミラーを備え、前記先端部の光
像及び前記平面部の光像とを１台のカメラで撮像するこ
とを特徴としている。
装置は、半導体装置の側面より突出する複数のリードの
先端部の光像をリードの先端部と直角をなす平面部の光
像と同一方向に反射するミラーを備え、前記先端部の光
像及び前記平面部の光像とを１台のカメラで撮像するこ
とを特徴としている。
【０００８】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００９】図１は、本発明の一実施例を示すリード曲
り検査装置の斜視図、図２は図１の半導体装置を載置す
る載置台部分を示す正面図である。このリード曲り検査
装置は、図１に示すように、リード４の先端部からの光
像を反射するミラー１を半導体装置２のリード４の突出
面側に設けたことである。すなわち、カメラ３でリード
４の平面部４ｂを直接撮像するとともにミラー１による
リード４の反射像６ａおける先端部を撮像することであ
る。
り検査装置の斜視図、図２は図１の半導体装置を載置す
る載置台部分を示す正面図である。このリード曲り検査
装置は、図１に示すように、リード４の先端部からの光
像を反射するミラー１を半導体装置２のリード４の突出
面側に設けたことである。すなわち、カメラ３でリード
４の平面部４ｂを直接撮像するとともにミラー１による
リード４の反射像６ａおける先端部を撮像することであ
る。
【００１０】また、ミラー１は、図２に示すように、半
導体装置２のリード突出面側に対して４５°の角度で載
置台５に取付けられ、紙面に垂直方向に反射像６ａが反
射され、カメラ３に入光するようになっている。
導体装置２のリード突出面側に対して４５°の角度で載
置台５に取付けられ、紙面に垂直方向に反射像６ａが反
射され、カメラ３に入光するようになっている。
【００１１】このように従来、左右に配置されていたカ
メラが不要となり、例えば、一台のカメラ２５万円であ
ったとすると５０万円程度のコスを節約出来る。また左
右のスペースは３００平方センチメートル程度減らすこ
とが出来、カメラ１台と載置台が一直線上に並べられる
のでよりコンパクトに組立られ、移動が容易いなり、そ
の操作性も改善された。
メラが不要となり、例えば、一台のカメラ２５万円であ
ったとすると５０万円程度のコスを節約出来る。また左
右のスペースは３００平方センチメートル程度減らすこ
とが出来、カメラ１台と載置台が一直線上に並べられる
のでよりコンパクトに組立られ、移動が容易いなり、そ
の操作性も改善された。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体装
置の側面より突出するリード先端部の光像を平面部から
の光像と同一方向に反射するミラーを配置することによ
り、一台のカメラで３つの光像を撮像出来るので、カメ
ラ一台で済み、左右のスペースが不要になる。従って、
本発明によれば、設置面積が小さくて済み、操作性の良
い安価なリード曲り検査装置が得られるという効果があ
る。
置の側面より突出するリード先端部の光像を平面部から
の光像と同一方向に反射するミラーを配置することによ
り、一台のカメラで３つの光像を撮像出来るので、カメ
ラ一台で済み、左右のスペースが不要になる。従って、
本発明によれば、設置面積が小さくて済み、操作性の良
い安価なリード曲り検査装置が得られるという効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例を示すリード曲り検査装置の
斜視図である。
斜視図である。
【図２】図１の半導体装置を載置する載置台部分を示す
正面図である。
正面図である。
【図３】従来の一例を示すリード曲り検査装置の斜視図
である。
である。
１ ミラー ２ 半導体装置 ３，３ａ，３ｂ カメラ ４ リード ４ａ 先端部 ４ｂ 平面部 ５ 載置台 ６ａ，６ｂ 光像
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 半導体装置の側面より突出する複数のリ
ードの先端部の光像をリードの先端部と直角をなす平面
部の光像と同一方向に反射するミラーを備え、前記先端
部の光像及び前記平面部の光像とを１台のカメラで撮像
することを特徴とするリード曲り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17083591A JPH0521560A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | リード曲り検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17083591A JPH0521560A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | リード曲り検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0521560A true JPH0521560A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=15912216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17083591A Pending JPH0521560A (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | リード曲り検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0521560A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63190354A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Matsushita Electronics Corp | 外観検査装置 |
-
1991
- 1991-07-11 JP JP17083591A patent/JPH0521560A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63190354A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Matsushita Electronics Corp | 外観検査装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101207198B1 (ko) | 기판 검사장치 | |
| US8115813B2 (en) | Optical system for capturing images | |
| JP3593950B2 (ja) | 二次元コード読取装置 | |
| JP6996006B2 (ja) | 電子装置およびそのカメラアセンブリ | |
| TW201826007A (zh) | 具有至少兩個鏡頭的全景影像擷取裝置及其全景影像擷取模組 | |
| TW201527858A (zh) | 補光結構及應用其補光結構的攝影裝置 | |
| US6847497B2 (en) | Wide-angle imaging device | |
| EP0896202A3 (en) | Array element examination method and array element examination device | |
| JPH1068614A (ja) | 撮像装置 | |
| TWI674472B (zh) | 具有至少三個鏡頭的全景影像擷取裝置及其全景影像擷取模組 | |
| JPH0521560A (ja) | リード曲り検査装置 | |
| JPH05322526A (ja) | ３次元形状測定装置 | |
| JPH06160057A (ja) | 電子部品のリード形状検査装置 | |
| JP2680847B2 (ja) | Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機 | |
| JPS5943869B2 (ja) | センサ装置のための原稿の照明及び結像のための機構 | |
| JP7646102B2 (ja) | カメラユニット | |
| CN223843842U (zh) | 一种光学偏振车载模组 | |
| JPH0626835A (ja) | 電子部品のリード形状検査用光学装置およびこれを用いた電子部品のリード形状検査装置 | |
| KR0176538B1 (ko) | 인쇄 회로 기판 검사 방법 및 장치 | |
| JPH09282444A (ja) | 視覚認識装置 | |
| WO2026048624A1 (ja) | レンズアレイユニット及び画像読取装置 | |
| JP3146646B2 (ja) | 画像撮像装置 | |
| KR0139970Y1 (ko) | 화상 취득 장치 | |
| JPH02156924A (ja) | 電子内視鏡 | |
| KR100577421B1 (ko) | 검사장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970916 |