JPH05215963A

JPH05215963A - 測距装置

Info

Publication number: JPH05215963A
Application number: JP4073992A
Authority: JP
Inventors: Ryoichi Suzuki; 良一鈴木; Masanori Otsuka; 正典大塚; Takanobu Tsunemiya; 隆信常宮
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-01-31
Filing date: 1992-01-31
Publication date: 1993-08-27

Abstract

(57)【要約】【目的】被写体が近距離位置に居るにもかかわらず無
限という測距情報を出力してしまうといったことを確実
に防止する。【構成】積分手段２４，２５からの出力より被写体距
離が近距離であることを判別する近距離判別手段２８
と、該近距離判別手段により被写体距離が近距離である
ことが判別された場合には、無限判別手段２３，２８に
よる無限情報を無効とする情報選別手段２８とを設け、
近距離判別手段にて被写体情報が近距離であることが判
別されている場合には、被写体が近距離に位置するため
に受光手段の遠距離側出力が小さくなって無限判別手段
が無限判別を行ったケ−スであるとして、無限判別手段
による無限情報を無効とするようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被写体からの反射光を
受光して被写体までの距離を測定する測距装置の改良に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、カメラから被写体に投光し、
その被写体からの反射光を受光して三角測距の原理にて
被写体距離を算出する、いわゆるアクティブ方式の測距
装置は広く知られている。

【０００３】この種のアクティブ方式の測距装置におい
ては、以下の様な欠点を有していた。

【０００４】被写体距離が遠く、その反射光の受光レベ
ルが微小になると、受光センサや受光回路から発生する
ノイズが無視できないレベルになり（所謂Ｓ／Ｎ比が悪
くなり）、結果として測距装置は誤った測距結果を出し
てしまっていた。

【０００５】そこで、上記の欠点を解決するために、図
１に示す様な所謂二重積分回路を用いた測距装置が提案
されている。

【０００６】図１はこの測距装置の概略構成を示す図で
あり、図１において、１０は投光レンズ、１１は受光レ
ンズ、１２は赤外発光ダイオ−ド（ＩＲＥＤ）、１３は
半導体位置検出器（以下、ＰＳＤと記す）、１４はその
出力に接続されたアンプ、１５は公知の二重積分回路、
１６は積分コンデンサである。

【０００７】図２は上記の二重積分回路１５の出力波形
を示す図である。

【０００８】図２（ａ）は、被写体が比較的近く、ＰＳ
Ｄ１３からの出力電流レベルが大きい場合を示してい
る。

【０００９】まず、ＰＳＤ１３の遠距離（Ｆ）側の出力
で所定期間（固定）Ｔの間下降積分動作を行い、次にＰ
ＳＤ１３の遠距離側と近距離（Ｎ）側の和出力で上昇積
分動作を行う。そして、この和出力による上昇レベルが
基準値（初期値）に戻る時間ｔが距離情報に対応する。

【００１０】図２（ｂ）は、被写体が遠く、ＰＳＤ１３
からの出力レベルが小さい場合を示している。

【００１１】この場合は、所定期間Ｔの下降積分の間に
その（Ｆ）側の出力による下降レベルがＶsmall に達し
ていないので、不図示のマイクロコンピュ−タは強制的
に距離情報を無限と判断する。

【００１２】このように、被写体が遠くＳ／Ｎ比が悪い
場合は、Ｖsmall レベルを設定して下降積分量がこのレ
ベルに達しない時は得られる時間ｔに関係なく距離情報
を無限として、測距装置からの誤情報を無視する様に
し、上記欠点を回避しているものである。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この様
な装置においても、以下のような不都合を依然持ってい
た。

【００１４】つまり、被写体が非常に近い場合、被写体
からの反射光は三角測距の原理からほとんどＰＳＤ１３
の（Ｎ）側に入射することになるため、この（Ｎ）側か
らの出力は非常に大きくなるが、（Ｆ）側からの出力は
極めて小さくなる。したがって、この場合は被写体が遠
い場合と同じく、（Ｆ）側の出力での下降積分レベルは
図２（ｂ）の様に「Ｖsmall 」レベルに達せず、マイク
ロコンピュ−タは測距情報を無限と判断してしまう。す
なわち、被写体が近いにもかかわらず無限という測距情
報を出力するといった最悪の結果になってしまう。

【００１５】次に、別の問題点について述べる。

【００１６】従来より、画面内の複数の領域を測距する
アクティブ方式、或は、パッシブ方式の測距装置は知ら
れている。また、レンズの焦点距離をレンズ交換するこ
と無しに変えることのできる所謂ズ−ムレンズ付カメラ
も近年製品化されている。さらに、これらを組み合わせ
たカメラ、つまり画面内の複数の領域を測距する測距装
置を備えたズ−ムレンズ付カメラも種々のタイプのもの
が提案され、製品化されている。

【００１７】また、特開昭６０−１６８１１１号に開示
されている様に、ズ−ムレンズの焦点距離に応じて画面
内の複数の領域の中から所定の測距領域を順次選択する
測距装置もある。

【００１８】例えば、図５に示すようにファインダ視野
枠内の中央の測距領域Ｃを中心に左右５点の測距領域Ｌ
１〜Ｌ５，Ｒ１〜Ｒ５があるとする。その際に、撮影レ
ンズの焦点距離に応じて適正な測距領域を選択したい、
測距時間がかかる、電流消費が多い等の理由にて、図６
にて示す様に、ａからｂまでの焦点距離の範囲にある場
合には、測距領域Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ３，Ｒ３，Ｌ５，
Ｒ５を選択して測距動作を行い、ｂからｃまでの焦点距
離の範囲にある場合には、測距領域Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
２，Ｒ２，Ｌ４，Ｒ４を選択して測距動作を行い、ｃか
らｄまでの焦点距離の範囲にある場合には、測距領域
Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ３，Ｒ３を選択して測距動作を行う
ものである。

【００１９】上記の様な複数の測距領域を有する測距装
置において、それぞれの測距領域すべてにおいて同一距
離の被写体に対しては同一距離デ−タが出力されるよう
に調整する必要がある。しかしながら、これら各測距領
域に対する測距結果を得るには、通常モ−ドにおいて焦
点距離を一々変化させてすべての測距領域に対して調整
を行わなければならず、そのための作業が非常に煩わし
いものであった。また、例えば焦点距離範囲のａからｂ
とｂからｃでは測距領域のＣ，Ｌ１，Ｒ１がだぶってい
るように、同じ動作を２度以上したりしてかなりの無駄
があった。

【００２０】また、通常モ−ドにおいて上記の調整を行
うには、この測距動作の他に別の測光動作等各種の動作
も含まれる為、一回の測距をするのにかなりの時間を要
し、測距デ−タの平均等を行うのに時間がかかるという
問題点も有していた。

【００２１】次に、さらに別の問題点について述べる。

【００２２】被写体距離の測定として、ＩＲＥＤより赤
外光を被写体へ向けて投射し、被写体からの反射光を受
光して測距する所謂アクティブ方式の測距装置が従来よ
り知られている。このアクティブ方式の測距装置は、三
角測量の原理に基づいて、例えば５ｍに被写体が居た
時、赤外光が被写体より反射してＰＳＤ等のセンサ上で
結像された位置が特定の位置になければ、距離の測定は
出来ない。その為、ＩＲＥＤの被写体での反射像とセン
サ面上のＸ，Ｙ，θ方向の調整（横，縦，角度の調整）
が必要である。

【００２３】従来、この調整を行うため、投受光光学系
を介して各々のＰＳＤ及びＩＲＥＤをＩＴＶカメラで写
す。この際、ＩＴＶカメラは特定の距離で合致する様に
予め決められた角度に校正されている。そして、このＩ
ＴＶカメラで写されたセンサ及びＩＲＥＤを一つのモニ
タ画面に写し出し、これらセンサ及びＩＲＥＤ（の映
像）をモニタ画面上にある線等の目印を目標に合致を、
つまり調整を行っていた。

【００２４】しかしながら、上記の従来例では、センサ
上に目標が無いため、上記の様にモニタ画面上に線等の
目印を付けて調整を行う必要があり、このために作業者
の目の位置や角度によって合致状態が変化し、正確な調
整が出来ないといった問題点を有していた。

【００２５】また、複数のセンサがある場合（多点測距
装置の場合）等においては、角度の影響を受け易く、周
辺のセンサになればなる程、正確な調整が出来なかっ
た。

【００２６】次に、別の問題点について説明する。

【００２７】従来より、被写体の距離を測定を方式とし
て、被写体に向けてＩＲＥＤ等の投光手段より光を投射
し、その反射光を受光する事によって距離デ−タを求め
る所謂アクティブタイプの測距装置は知られている。

【００２８】この種の測距装置においては、被写体から
の反射光を受光するのに位置検出センサ（以下、ＰＳＤ
と記す）やシリコンフォトセル（以下、ＳＰＣと記す）
を用いたものも知られている。

【００２９】一方、測距領域を複数もち、それぞれに測
距デ−タを求め、どの領域の測距デ−タが一番被写体で
ある確率が高いかを判定する所謂広視野測距方式も知ら
れている。

【００３０】これらの測距装置において、高輝度被写体
を測距する場合に測定回路が飽和してしまうのを防止す
るために、なるべく測距用センサの大きさを小さくする
（受光面積を小さくする為）か、或はノイズを最小限に
抑えるといったことをせずにある程度測距精度を犠牲に
する必要があった。前者の様に、測距用センサを小さく
した場合、被写体が近距離になると反射光のスポット像
が測距用センサ上からはみ出し、測距デ−タが大きくず
れてしまっていた。また、後者の様に、ノイズを最小限
に抑えないと、測距精度が悪くなり、より遠くまで測距
できなくなってしまった。

【００３１】そのため、精度の必要な測距エリア以外は
概略の測距デ−タを出力できるようにした、いわゆるＰ
ＳＤ及び幅の狭いＳＰＣによる測距用センサを用いた装
置も提案されている。この方式を用いれば、高輝度飽和
の影響を最小限に抑えると共に近距離デ−タが大きくず
れてしまうということはなくなった。

【００３２】しかしながら、この種の測距装置において
も、やはり近距離の測距デ−タは大きくずれることはな
いものの、正確な測距デ−タを求めるのは無理であっ
た。

【００３３】また、広視野測距方式においては、測距用
センサをその測距領域分多く用いる為に、センサの総面
積は通常の単視野測距方式のそれよりも大きくなってし
まっていた。このため、被写体が高輝度の場合にはある
程度測距デ−タが狂うのを了解していたり、高輝度飽和
を救うためにノイズを小さくできず、測距精度の悪い測
距装置にせざるをえなかった。

【００３４】本発明の第１の目的は、被写体が近距離位
置に居るにもかかわらず無限という測距情報を出力して
しまうといったことを確実に防止することのできる測距
装置を提供することである。

【００３５】本発明の第２の目的は、複数の測距領域に
て得られるそれぞれの測距デ−タの調整を短時間に行う
ことのできる測距装置を提供することである。

【００３６】本発明の第３の目的は、投光手段と受光手
段の合致を理想的な位置に精度良く調整することができ
ると共に、その調整作業の効率を向上させることのでき
る測距装置を提供することである。

【００３７】本発明の第４の目的は、高輝度飽和の影響
が少なく高性能であり、しかも近距離側の誤差の少ない
測距情報を出力することのできる測距装置を提供するこ
とである。

【００３８】

【課題を解決するための手段】本発明は、積分手段から
の出力より被写体距離が近距離であることを判別する近
距離判別手段と、該近距離判別手段により被写体距離が
近距離であることが判別された場合には、無限判別手段
による無限情報を無効とする情報選別手段とを設け、近
距離判別手段にて被写体情報が近距離であることが判別
されている場合には、被写体が近距離に位置するために
受光手段の遠距離側出力が小さくなって無限判別手段が
無限判別を行ったケ−スであるとして、無限判別手段に
よる無限情報を無効とするようにしている。

【００３９】また、複数の測距領域にて得られた測距デ
−タの調整を行うためのテストモ−ドが指示されている
か否かを判別する判別手段と、該判別手段にてテストモ
−ドであることが判別されている場合には、前記複数の
測距領域それぞれについての測距動作を順次行い、得ら
れる測距デ−タを順次出力する測距動作制御手段とを設
け、又、複数の測距領域にて得られた測距デ−タの調整
を行うためのテストモ−ドが指示されているか否かを判
別する判別手段と、該判別手段にてテストモ−ドである
ことが判別されている場合には、指示される測距領域の
測距動作を行い、得られる測距デ−タを出力する測距動
作制御手段とを設け、又、複数の測距領域にて得られる
の測距デ−タの調整を行うためのテストモ−ドが指示さ
れているか否かを判別する判別手段と、該判別手段にて
テストモ−ドであることが判別されている場合には、１
つの測距領域に対する測距動作を所定回数行い、得られ
る測距デ−タを順次出力する測距動作制御手段とを設
け、複数の測距領域にて得られた測距デ−タの調整を行
うための、つまりそれぞれの測距領域すべてにおいて同
一の被写体においては同一の測距デ−タが出力されるよ
うにする調整のためのテストモ−ド時には、通常のモ−
ド時とは異なり、この調整に必要な動作のみをそれぞれ
の測距領域に対して順次、或は指定される測距領域に対
して、或は所定回数それぞれの測距領域或は指定される
測距領域に対して、行うようにしている。

【００４０】また、所定の距離に位置する被写体からの
投光手段による反射光が結像されるべく受光手段の所定
位置に、調整マ−クを設け、この調整マ−クの位置に、
所定の距離に位置する被写体からの投光手段による反射
光が結像されるように受光手段の位置調整を行うように
している。

【００４１】また、周辺領域に位置する被写体からの反
射光を受光する受光手段の測距可能範囲を、中央領域に
位置する被写体からの反射光を受光する受光手段の測距
可能範囲よりも狭くし、又、画面内の周辺領域用の受光
手段からの出力が、該受光手段による測距可能範囲から
外れたデ−タであった場合には、画面内の中央領域用の
受光手段からの出力デ−タに重み付けをして測距情報を
算出する演算手段を具備し、周辺領域用の受光手段の近
距離側の測距可能距離を中央領域のそれに比べて短く
し、中央領域以外の領域の測距デ−タが測距可能範囲を
越えていた場合、つまり中央領域用の受光手段のみが適
正に測距可能となる近距離の測距デ−タが周辺領域より
出力されていた場合、中央領域用の受光手段からの測距
デ−タのみを、或はその用いる比率を大きくするように
している。

【００４２】

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。

【００４３】図３は本発明の第１の実施例における測距
装置の概略構成を示すブロック図である。

【００４４】図３において、１３は受光用のＰＳＤ、２
０は前記ＰＳＤ１３の（Ｆ）側及び（Ｎ）側からの二つ
の出力を切り換える切換回路で、後述するマイクロコン
ピュ−タ（以下、マイコンと記す）からの制御信号にし
たがって出力ラインＡに（Ｆ）側だけ、又は（Ｆ）側と
（Ｎ）側の和出力のいずれかを出力する様に切り換え動
作を行う。２１は電流−電圧変換回路、２２は電圧増幅
回路、２３は内蔵されたリファランスレベルと前記電圧
増幅回路２４の出力を比較して、マイコン信号を送る比
較回路、２４は公知の積分回路でマイコンの制御により
二重積分動作を行う。２５は積分用のコンデンサ、１２
は投光用のＩＲＥＤ、２６は前記ＩＲＥＤ１２の駆動用
の定電流駆動回路、２７はフィ−ドバック用の抵抗、２
８はワンチップのマイコン、２９はカメラのシャッタ釦
の第１ストロ−クでオンするスイッチ（ＳＷ１）であ
る。

【００４５】次に、上記測距装置の動作を図４のフロ−
チャ−トにしたがって説明する。

【００４６】先ず、スイッチＳＷ１がオンすると（ステ
ップ１０１）、マイコン内のＭＵＦフラグ（無限フラ
グ）とＫＩＦフラグ（近距離フラグ）を「０」に設定す
る（ステップ１０２）。次に、マイコン２８はＰＳＤ１
３の出力を切り換える切換回路２０を制御して出力ライ
ンＡに（Ｆ）＋（Ｎ）の電流が出る様にする（ステップ
１０３）。次いで、定電流駆動回路２６を介してＩＲＥ
Ｄ１２を駆動し（ステップ１０４）、これによりＰＳＤ
１３にて得られる（Ｆ）＋（Ｎ）の出力を電流−電圧変
換回路２１にて電流−電圧変換し、電圧増幅回路２２に
より増幅を行う。そして、この電圧増幅回路２２の出力
レベルを次段の比較回路２３で比較する（ステップ１０
５）。この結果、電圧増幅回路２２の出力レベルが所定
量以上、つまり被写体が近距離であればＢ出力は“Ｈ”
であり、この時はマイコン２８はＫＩＦフラグを“１”
に設定する（ステップ１０６）。また、Ｂ出力が“Ｌ”
レベルの場合はＫＩＦフラグは「０」のままである。

【００４７】次に、マイコン２８は切換回路２０を制御
して出力ラインＡにＰＳＤ１３の（Ｆ）側だけＮＯ出力
がなされる様にする（ステップ１０７）。又これ同時に
マイコン２８内の不図示のタイマ回路のカウント動作を
スタ−トさせ、更に積分回路２４を制御してこの（Ｆ）
側出力による下降積分動作をスタ−トさせる（ステップ
１０９）。そして、タイマ回路のカウント時間が所定の
時間Ｔを越えるか否かを判定し（ステップ１１０）、所
定時間Ｔを越せると下降積分動作を停止し、その時の積
分出力Ｃをマイコン２８内の不図示のＡ／Ｄ変換器でＡ
／Ｄ変換する。そしてこの変換した値が「Ｖsmall 」に
達しているか否かを判別し、達していない場合は前記Ｍ
ＵＦを「１」レベルに設定し、逆に「Ｖsmall 」に達し
ている場合はＭＵＦフラグを「０」のままにしておく。

【００４８】次に、マイコン２８は切換回路２０を制御
して出力ラインＡに（Ｆ）＋（Ｎ）の出力が出る様にす
る（ステップ１１３）。又これと同時にマイコン２８内
のタイマ回路のカウント動作をスタ−トさせ（ステップ
１１４）、更に積分回路２４を制御して（Ｆ）＋（Ｎ）
出力による上昇積分動作をスタ−トさせる（ステップ１
１５）。この上昇電圧レベルが元の基準レベル（Ｃ出力
＝０）まで復帰すると（ステップ１１６）、タイマ回路
のカウント動作を停止させ、この時のカウント時間ｔを
算出し（ステップ１１７）、マイコン２８はこのカウン
ト時間ｔから被写体までの距離情報ＴＡＦＤを算出する
（ステップ１１８）。

【００４９】次いで、マイコン２８はＭＵＦフラグを判
別し（ステップ１１９）、それが「０」であれば無条件
に前記「ＴＡＦＤ」を実際に撮影レンズを制御する情報
とする（ステップ１２１）。また、ＭＵＦフラグが
「１」の時は、次にＫＩＦフラグを判別し（ステップ１
２０）、それが「０」の時は実際に撮影レンズを制御す
る情報は「無限」と設定する（ステップ１２２）、。逆
にＫＩＦフラグが「１」の時はＭＵＦフラグが立ってい
るにもかかわらず実際に撮影レンズを制御する情報は
「ＴＡＦＤ」にするものである（ステップ１２１）。

【００５０】なお、上記実施例では、被写体が近いこと
を（Ｆ）＋（Ｎ）のモ−ドでの電圧増幅回路２２の出力
レベルから判別しているが、これに限定されるものでは
なく、例えば（Ｆ）＋（Ｎ）のモ−ドにして二重積分回
路２４で下降積分動作を所定時間行い、そのレベルから
判別することも可能である。

【００５１】この第１の実施例によれば、無限フラグが
立っていても近距離フラグが立っている場合には、撮影
レンズを「無限」には駆動せず、マイコン２８にて算出
した距離情報「ＴＡＦＤ」に基づいて駆動するようにし
ている為、被写体が近いにもかかわらず撮影レンズを
「無限」に設定してしまうといった最悪の事態を回避す
ることが可能となる。

【００５２】（第２の実施例）図７は本発明の第２の実
施例における測距装置を含むカメラの要部構成を示すブ
ロック図である。

【００５３】図７において、３１は通常モ−ドとは別の
テストモ−ドにするための入力手段（この構成について
は後述する）、３２はテストモ−ド入力手段３１からの
信号を入力し、通常モ−ドかテストモ−ドかを識別する
識別手段を兼ねた、後述する測距装置に信号を送り測距
動作を行わせたり、測距演算をしたり、一連のカメラ動
作を行わせるマイクロプロセッサである。

【００５４】３３は複数の測距領域の測距を行う測距装
置であり、図５に示した各測距領域Ｃ，Ｌ１〜１５，Ｒ
１〜Ｒ５の測距を行うと共に、焦点距離範囲に応じて図
６に示した様な測距領域の測距を行うものである。３
４，３５，３６は前記測距装置３３内に配置される第
１，第２，第３の投光手段であり、３７，３８，３９は
同じく測距装置３３内に配置される第１，第２，第３の
受光手段である。なお、図示していないが、この他投光
手段及び受光手段はそれぞれ８個づつ、つまり前記の測
距領域の数だけ備わっている。

【００５５】４０は撮影レンズの焦点距離を検出する焦
点距離検出手段、４１は外部への信号ピンである。

【００５６】次に、上記構成における測距デ−タ調整時
の動作について、図８のフロ−チャ−トを用いて図５及
び図６参照しながら説明する。

【００５７】なお、第１の投受光手段３４，３７により
測距領域Ｃを測距し、第２の投受光手段３５，３８によ
り測距領域Ｌ１を測距し、第３の投受光手段３６，３９
により測距領域Ｒ１を測距し、以下、図示せぬ投受光手
段により測距領域Ｌ２，Ｒ２、Ｌ３，Ｒ３、Ｌ４，Ｒ
４、及びＬ５，Ｒ５をそれぞれ測距するものとする。

【００５８】先ず、マイクロプロセッサ３２はテストモ
−ド入力手段３１によりテストモ−ドと通常モ−ドの何
れが指示されているかを判別し（ステップ２０１）、も
し通常モ−ドが指示されている場合には、焦点距離検出
手段４０より撮影レンズの焦点距離が現在どの位置にい
るかを検出し、図６に示すようにａからｂまでの焦点距
離の範囲にある場合には、測距領域Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
３，Ｒ３，Ｌ５，Ｒ５を選択しそれぞれの投受光手段を
動作させて測距動作を行い、又ｂからｃまでの焦点距離
の範囲にある場合には、測距領域Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
２，Ｒ２，Ｌ４，Ｒ４を選択しそれぞれの投受光手段を
動作させて測距動作を行い、又ｃからｄまでの焦点距離
の範囲にある場合には、測距領域Ｃ，Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
３，Ｒ３を選択しそれぞれの投受光手段を動作させて測
距を行う（ステップ２０２）。その後、一連の撮影準備
動作を行う（ステップ２０３）。

【００５９】一方、テストモ−ド入力手段３１によりテ
ストモ−ドが指示されていた場合には、第１の投光手段
３４を駆動して赤外光を被写体に向けて投射し（ステッ
プ２０４）、第１の受光手段３７により被写体からの反
射光を受光し（ステップ２０５）、その結果を基に測距
領域Ｃの測距演算を行い（ステップ２０６）、測距デ−
タを外部に出力する（ステップ２０７）。

【００６０】次に、第２の投光手段３５を駆動して赤外
光を被写体に向けて投射し（ステップ２０８）、第２の
受光手段３８により被写体からの反射光を受光し（ステ
ップ２０９）、その結果を基に測距領域Ｌ１の測距演算
を行い（ステップ２１０）、測距デ−タを外部に出力す
る（ステップ２１１）。

【００６１】次いで、第３の投光手段３６を駆動して赤
外光を被写体に向けて投射し（ステップ２１２）、第３
の受光手段３９により被写体からの反射光を受光し（ス
テップ２１３）、その結果を基に測距領域Ｒ１の測距演
算を行い（ステップ２１４）、測距デ−タを外部に出力
する（ステップ２１５）。

【００６２】以下、同様にして、Ｌ２，Ｒ２，Ｌ３，Ｒ
３，Ｌ４，Ｌ５，Ｒ５の測距動作を行い、その結果を外
部に出力する。

【００６３】図９は図８の一部を変更した場合の動作を
示すフロ−チャ−トである。

【００６４】テストモ−ド入力手段３１より通常モ−ド
が指示されている場合には（ステップ３０１）、上記の
ステップ２０２にて説明したように通常の測距動作を行
い（ステップ３０２、次いで撮影準備動作を行って（ス
テップ３０３）動作を終了する。

【００６５】一方、テストモ−ドが指示されていた場合
には、テストモ−ド入力手段３１より測距領域の指定デ
−タを入力し（ステップ３０４）、この情報により指定
された投光手段を駆動して赤外光を被写体に向けて投射
し（ステップ３０５）、被写体からの反射光を指定の受
光手段により受光し（ステップ３０６）、測距演算を行
い（ステップ３０７）、測距デ−タを外部に出力する
（ステップ３０８）。

【００６６】図１０は図８の一部を変更した場合の更に
別の動作を示すフロ−チャ−トである。

【００６７】テストモ−ド入力手段３１より通常モ−ド
が指示されていた場合には（ステップ４０１）、上記ス
テップ２０２にて説明したように通常の測距動作を行い
（ステップ４０２）、撮影準備動作を行って（ステップ
４０３）動作を終了する。

【００６８】一方、テストモ−ドが指示されていた場合
には、テストモ−ド入力手段３１より測距回数のデ−タ
を入力し（ステップ４０４）、この情報により所定のテ
ストモ−ドに対応した測距動作を行い（ステップ４０
５）、測距演算を行い（ステップ４０６）、得られる測
距デ−タを外部に出力する（ステップ４０７）。そし
て、指示される所定回数の測距動作を行ったか否かを判
別し（ステップ４０８）、もし所定回数以下の場合には
再度ステップ３０８へ戻って測距動作を繰返し、所定回
数に達していれば、テストモ−ドの動作を終了する。

【００６９】このように、１つの測距領域に対して所定
回数の測距動作を繰り返し行い、得られる測距結果を平
均する等より正確な調整が可能となる。

【００７０】図１１，図１２及び図１３は図７に示した
テストモ−ド入力手段３１の構成例を示す図である。

【００７１】図１１はテストモ−ド入力手段３１にＥＥ
ＰＲＯＭの様な、外部から読み込み，書き込み可能なメ
モリを使用した例である。

【００７２】ここで、テストモ−ド入力手段３１である
ところのＥＥＰＲＯＭ内部には、テストモ−ドであるか
否か、測距動作を行うべく指定領域情報、測距動作回
数、焦点距離の指定（駆動）等の情報が書き込まれてい
ることになる。

【００７３】図１２は、テストモ−ドであるか否か、測
距動作を行うべく指定領域情報、測距動作回数、焦点距
離の指定（駆動）等の情報をスイッチ入力により行うテ
ストモ−ド入力手段３１を構成した場合の例を示してい
る。

【００７４】ここで、各スイッチのオン、オフにより情
報入力の判別を行い、マイクロプロセッサ３２へ指示す
ることになる。

【００７５】図１３は、カメラの各種動作の制御を行う
マイクロプロセッサ３２に初めから備わっている撮影の
ためのスイッチ類（スイッチＳＷ１，ＳＷ２，撮影モ−
ド切換スイッチ等）を組合せて特殊なテストモ−ドにす
ると共に、これらスイッチの組合せにてテストモ−ドの
上述した各種情報を入力する構成のテストモ−ド入力手
段３１の例を示すものである。

【００７６】なお、これら図１１乃至図１３に示すテス
トモ−ド入力手段３１は、カメラに常備装着されていて
も、テストモ−ド時のみ装着，コネクトされるものでも
構わない。

【００７７】また、上記の各実施例においては、アクテ
ィブ方式の測距装置について述べてきたが、これに限定
されるものではなく、複数の測距領域を有し焦点距離に
よって測距すべく領域を選択することのできるパッシブ
方式の測距装置であっても、同様にて提供することがで
きる。

【００７８】この第２の実施例によれば、複数の測距領
域を焦点距離によって切り換えることのできる測距装置
の、各測距領域の測距デ−タ調整時において、通常モ−
ドとは別の、つまり測距デ−タの調整に必要な動作のみ
を行うテストモ−ドを設け、このテストモ−ド時には、
複数の測距領域すべてを順次測距したり、指示される測
距領域の測距を行ったり、更には同一の測距領域を所定
回数繰り返し行ったりして、得られる測距デ−タを基に
調整を行うようにしている為、従来に比べて短時間にて
この調整を行うことが可能となる。

【００７９】（第３の実施例）図１４は本発明の第３の
実施例に係る測距用センサアレイを示す図である。

【００８０】図１４において、５１，５２，５３は測距
用センサであるところのＰＳＤ、５４（５４ａ，５４
ｂ）は同じく測距用センサであるところの２分割された
シリコンフォトセル（以後、ＳＰＣと記す）、６１は測
距用センサアレイ、５５はＳＰＣ５４ａ，５４ｂ上に設
けられた調整マ−クである。

【００８１】図１５は上記の様な測距用センサアレイ６
１を持つ測距装置の概略構成を示す図であり、ここでは
ＩＲＥＤ等の投光素子６２にて投射された光が被写体６
５にて反射し、測距用センサアレイ６１上で結像される
様子を表している。

【００８２】測距用センサアレイ６１（実際はＳＰＣ５
４ａ，５４ｂ）上に結像された像が調整マ−ク５５内
（Ａの範囲）に入る様に該測距用センサアレイ６１を調
整する。

【００８３】前記調整マ−ク５５の位置及び大きさにつ
いては、比例計算により算出する事が出来る。

【００８４】先ず、投光及び受光レンズ６３，６４の焦
点距離をｆ_T とｆ_R とし、像の大きさを「ａ／ｆ_T ＝Ｘ
／Ｌ」で調整距離上で求め、「Ｘ／Ｌ＝Ａ／ｆ_R 」で測
距用センサアレイ６１上の像の位置を求め、調整マ−ク
５５の大きさ及び位置を算出する。なお、Ｌは投光レン
ズ６３から被写体６５までの距離を、ｘは被写体の大き
さを、ａは投光素子６２の大きさを、それぞれ示してい
る。

【００８５】図１６は調整後の測距用センサアレイ６１
と投光素子６２の被写体６５での反射像の合致後の状態
を示す図である。

【００８６】図１７は他の例を示す図である。すなわ
ち、５５の調整マ−クの他に調整マ−ク５６を配置、つ
まりＰＳＤ５１，５３上にも配置することで、調整精度
を上げようとするものである。

【００８７】これは、本実施例の様に測距用センサが複
数あった場合、中心部で合致を行っても周辺のセンサま
で正確な合致ができる保証がないので、周辺にも調整マ
−ク５６を付けることで、全センサが理想的な位置に配
置できる様に構成したものである。

【００８８】図１８は更に別の例を示す図であり、ここ
では更に調整マ−ク５５，５６の周辺に同じ様に調整マ
−ク５７，５８を追加した例を示している。

【００８９】これは、投光，受光レンズ６３，６４の焦
点距離のバラツキや測距用センサ６１、投光素子６２の
サイズのバラツキ等により、受光像の大きさが変化した
場合でも、センサ重心位置が変化しない様に構成したも
のである。この調整マ−ク５７，５８の位置は、レンズ
の焦点距離の規格値より計算して求めてもよいし、調整
規格を表示することで理想的な位置に調整出来る様にし
たものである。

【００９０】この第３の実施例によれば、測距用センサ
上に調整マ−クを設けた構成にしているため、ＩＲＥＤ
とセンサの合致を理想的な位置に精度良く調整すること
ができる。さらに、調整作業等の効率を向上できる効果
もある。

【００９１】（第４の実施例）図１９は本発明の第４の
実施例の測距装置を備えたカメラの概略構成を示すブロ
ック図である。

【００９２】図１９において、７１は画面上の左側の領
域（エリア）にいる被写体の距離を測定する左側エリア
測距手段、７２は画面上の中央エリアにいる被写体の距
離を測定する中央エリア測距手段、７３は画面上の右側
エリアにいる被写体の距離を測定する右側エリア測距手
段である。７４はこれらの測距手段７１〜７３を制御し
且つそれらの測距デ−タを演算し、どの測距デ−タが被
写体の確率が高いかを判定し選択するマイクロプロセッ
サ、７５はマイクロプロセッサ７４により選択された測
距デ−タに基づいてフォ−カスレンズ（ＡＦレンズと記
す）を駆動するＡＦレンズ駆動手段である。

【００９３】図２０は図１９に示した測距手段７１〜７
３それぞれの測距原理について説明するための図であ
る。

【００９４】図２０において、７６はＩＲＥＤ等の投光
手段であり、投光レンズ７７によって所定距離にピント
を合わせられている。７８は被写体からの反射光を集光
して所定位置にピントを合せる受光レンズ、７９は反射
光のスポット像の位置により被写体の距離を測定する受
光手段である。

【００９５】いま、被写体が無限位置にいるとすると、
該被写体からの反射光は理論的にはＲ∞の位置から受光
レンズ７８介して受光手段７９上のＲ’∞にスポット像
を結ぶ。さらに、被写体がＲ₅ の距離にいる場合には受
光手段７９上のＲ’₅ の位置にスポット像を結ぶ。以下
同様にして、Ｒ₄ の距離に被写体がいる場合には、受光
手段上のＲ’₄ にスポット像を結び、Ｒ₃ の被写体は
Ｒ’₃ の位置に、Ｒ₂ の被写体はＲ’₂ の位置に、Ｒ₁
の被写体はＲ’₁ の位置にスポット像を結ばれる。

【００９６】このようにして結像されたスポット像は、
受光手段７９より位置変化として電気信号により取り出
され、距離デ−タに変換される。

【００９７】ここで注目すべき事は、距離が近ければ近
い程、受光手段７９を基線長（投光手段７６と受光手段
７９とを結ぶ線の事を基線と称する）方向の外側に長く
する必要があるという点である。これにより、至近距離
まで測定しようとすると、該受光手段７９をかなり大き
なものにしなければならない。それを怠ると被写体から
の反射光のスポット像は該受光手段７９からはみ出して
しまい、距離を正確に測定する事はできない。

【００９８】図２１は上記の受光手段７９を示す図であ
る。

【００９９】図２１において、８１は測距手段７３に備
わっている画面右側のエリアを測定する受光手段、８２
は測距手段７１に備わっている画面左側のエリアを測定
する受光手段である。８３，８４，８５は測距手段７９
に備わっている画面中央部のエリアを測定する受光手段
を成す受光センサであり、８３は中央部の遠距離側を測
定する受光センサ、８４は中央部の中間距離を測定する
受光センサ、８５は中央部の近距離側を測定する受光セ
ンサである。

【０１００】図３において、左右方向は不図示のファイ
ンダにて覗いた場合の左右（ただし右と左は反対にな
る）に相当し、上下（基線長）方向は被写体の距離に相
当し、上方向は無限側であり、下方向は至近側である。

【０１０１】８６，８７，８８は上記の画面左，右，中
央のエリアを測定する各受光手段に対応して配置された
投光手段を模式的に表現したものであり、８９，９０，
９１は被写体がＲ₆ の距離（図２０のＲ₅ とＲの間の
距離）にいる場合の上記の投光手段８６，８７，８８の
反射光のスポット像を上記の各受光手段上に記載したも
のである。

【０１０２】ここで、受光レンズ（ここでは不図示）は
このＲ₆ の距離にて受光手段上にピントが合うように調
整されている。

【０１０３】図２２は図２１のように構成された各受光
手段上に、被写体がそれぞれの距離（Ｒ∞，Ｒ₆ ，Ｒ
₅ ，Ｒ₄ ，Ｒ₃ ，Ｒ₂ ，Ｒ₁ ，Ｒ₀ ：添え字の番号が小
さい方が近距離を表す）にいる場合の該各受光手段上の
スポット像を表す図である。

【０１０４】ここで、スポット像のピントは受光レンズ
７８がＲ₆ の距離にて合うように調整されているため、
近距離になればなる程図に示す様にスポット像が大きく
なる。そして基線長方向のＬ₁ の距離に相当するＲ₁ の
スポット像は左右の測距エリアを測定する受光手段８
１，８２からはみ出しはじめ、Ｌ₁ より近距離であるＬ
₀ に至っては殆どが受光手段８１，８２からはみ出して
しまっている。

【０１０５】図２３は左右の受光手段８１，８２からの
距離デ−タを示すグラフである。

【０１０６】ここで、横軸は実際の被写体距離を示し、
縦軸は受光手段８１，８２からの距離デ−タを示す。

【０１０７】このグラフからもわかるように、無限側か
ら距離Ｌ₁ まではほぼ直線的に距離デ−タが出力される
が、Ｌ₁ よりも被写体が近づいてくるとこの直線からは
ずれてきて、しまいにはスポット像のボケの影響にて被
写体が近距離にいるにも関わらず遠距離のデ−タを出力
してしまう。そのため、距離デ−タとしては距離Ａまで
しか使用できず、被写体距離もＬ_A までしか測定できな
いことになる。したがって、後述する様に距離がＬ_A よ
りも近距離になると中央部の受光手段からの測距デ−タ
を採用するようになる。

【０１０８】図２４は中央部の近距離用の受光手段８５
からの距離デ−タを示すグラフである。

【０１０９】ここでは、距離Ｌ₁ よりも近距離側のＬ₀
までほぼ直線的に距離デ−タが出力される。よって、距
離がＬ_A より近い場合でもここでは正確に距離を測定す
ることできる。

【０１１０】図２５は図２１に示した受光手段を改良し
た場合の受光手段示す図である。

【０１１１】ここで、右側の受光手段８１には反射光が
あるか否かを判定できる受光手段９２が設置されてお
り、この受光手段９２は、距離を正確に測定できる受光
手段８１に対しかなり細くして受光面積を小さくしなが
らも、より近距離側まで測定できるようになっている。

【０１１２】同様に、左側の受光手段８２には反射光が
あるか否かを判定できる受光手段９３が設置されてお
り、この受光手段９３も、距離を正確に測定できる受光
手段８２に対しかなり細くして受光面積を小さくしなが
らも、より近距離まで測定できるようになっている。

【０１１３】このように配置された左右の受光手段８１
及び９２と８２及び９３の距離デ−タの出力値を図２６
に示す。

【０１１４】ここでは、正確に距離を測定できるのは図
２３と同様にＬ₁ までの距離であるが、反射光があるか
否かを判定できる受光手段９３が設置されているため
に、距離Ｃまでしか距離デ−タが逆戻りせず、被写体距
離Ｌ_C まで測定可能となる。そして、図２３にて説明し
た場合と同様に、距離Ｌ_C よりも近距離になると、中央
部の受光手段よりの測距デ−タを採用することになる。

【０１１５】図２７は図１９の測距装置の動作を示すフ
ロ−チャ−トである。

【０１１６】まず、不図示のレリ−ズスイッチがオンさ
れると（ステップ５０１）、マイクロプロセッサ７４は
測距動作を行うように指令を出す。これにより、まず右
側エリア測距手段７３が測距動作を開始し（ステップ５
０２）、次に左側エリア測距手段７１が測距動作を開始
し（ステップ５０３）、最後に中央エリア測距手段７２
が測距動作を開始し（ステップ５０４）、それぞれのエ
リアでの測距デ−タを求める。

【０１１７】次に、右側エリアの測距デ−タが図２３或
は図２４にて説明した測距範囲内にあるかどうかを判定
し（ステップ５０５）、もし測距範囲外にある場合には
次に左側エリアの測距デ−タが測距範囲内にあるかどう
かを判定し（ステップ５０６）、もし測距範囲外であれ
ば距離デ−タを中央エリアからの測距デ−タにする（ス
テップ５０７）。

【０１１８】一方、右側エリアの測距デ−タが測距範囲
外で左側エリアの測距デ−タが測距範囲内の場合には
（ステップ５０６）、中央エリアと左側エリアとでどち
らが被写体である確率が高いかの測距デ−タ選択演算を
行い（ステップ５０８）、その演算結果の基づいて測距
デ−タの決定を行う（ステップ５０９）。

【０１１９】また、右側エリアの測距デ−タが測距範囲
内の場合で（ステップ５０５）、左側エリアの測距デ−
タが測距範囲外の場合には（ステップ５１０）、中央エ
リアと右側エリアとでどちらかが被写体である確率が高
いかの測距デ−タ選択演算を行い（ステップ５１１）、
その演算結果に基づいて測距デ−タの選択を行う（ステ
ップ５１２）。

【０１２０】右側エリアの測距デ−タが測距範囲内にあ
って（ステップ５０５）、左側のエリアの測距デ−タも
測距範囲内にある場合には（ステップ５１０）、中央エ
リア，右側エリア，左側エリアの全てのエリアにおいて
どのエリアに被写体がいる確率が高いかの測距デ−タ選
択演算を行い（ステップ５１３）、その演算結果に基づ
いて測距デ−タの選択を行う（ステップ５１４）。

【０１２１】このようにすれば、不適確な近距離デ−タ
を用いずに適正に広視野測距情報の選択が可能となる。

【０１２２】図２８は図１９の測距装置の他の動作例を
示すフロ−チャ−トである。

【０１２３】まず、不図示のレリ−ズスイッチがオンさ
れると（ステップ６０１）、マイクロプロセッサ７４は
測距動作を行うように指令を出す。これにより、まず右
側エリア測距手段７３が測距動作を開始し（ステップ６
０２）、次に左側エリア測距手段７１が測距動作を開始
し（ステップ６０３）、最後に中央エリア測距手段７２
が測距動作を開始し（ステップ６０４）、それぞれのエ
リアでの測距デ−タを求める。

【０１２４】そして、右側エリアの測距デ−タが図２３
或は図２４にて説明した測距範囲内にあるかどうかを判
定し（ステップ６０５）、もし測距範囲外にある場合に
は右側エリアの測距デ−タを無限デ−タに置き換え（ス
テップ６０６）、測距範囲内にある場合には何もせずに
動作を続行する。

【０１２５】次に、左側エリアの測距デ−タが図２３あ
るいは図２４にて説明した測距範囲内にあるかどうかを
判定し（ステップ６０７）、もし測距範囲外にある場合
には同様に左側エリアの測距デ−タを無限デ−タに置き
換え（ステップ６０８）、測距範囲内にある場合には何
もせずに動作を続行する。

【０１２６】そして、これらのエリアからの測距デ−タ
に基づき、どのエリアに被写体がいる確率が高いかの測
距デ−タ選択演算を行い（ステップ６０９）、その演算
結果に基づいて測距デ−タを決定する（ステップ２１
０）。

【０１２７】ここで、測距範囲外の距離デ−タを無限に
した理由は、被写体が無限にいる確率は少なく、且つそ
れも周辺に主被写体がいてそれが無限であるという場合
は殆どないため、左右の測距デ−タを選択する確率を下
げることと同様になる。そして、距離デ−タを無限にす
ることによって図２７のようにむやみに分岐してプログ
ラムを複雑にする事なしに、測距範囲外の距離デ−タを
選択しないようするためである。

【０１２８】図２９は図１９の測距装置の別の動作例を
示すフロ−チャ−トである。

【０１２９】まず、不図示のレリ−ズスイッチがオンさ
れると（ステップ７０１）、マイクロプロセッサ７４は
測距動作を行うように指令を出する。これにより、まず
右側エリア測距手段７３が測距動作を開始し（ステップ
７０２）、次に左側エリア測距手段７１が測距動作を開
始し（ステップ７０３）、最後に中央エリア測距手段７
２が測距動作を開始し（ステップ７０４）、それぞれの
エリアでの測距デ−タを求める。

【０１３０】そして、右側エリアの測距デ−タが図２３
或は図２４にて説明した測距エリア範囲内にあるかどう
かを判定し（ステップ７０５）、もし測距範囲外にある
場合には右側エリアの測距デ−タが被写体である確率を
所定の低い値にし（ステップ７０６）、測距範囲内にあ
る場合には何もせずに動作を続行する。

【０１３１】次に、左側エリアの測距デ−タが図２３或
は図２４にて説明した測距エリア範囲内にあるかどうか
を判定し（ステップ７０７）、もし測距範囲外にある場
合には同様に左側エリアの測距デ−タが被写体である確
率を所定の低い値にし（ステップ７０８）、測距範囲内
にある場合には何もせずに動作を続行する。

【０１３２】そして、これらのエリアからの測距デ−タ
に基づき、どのエリアに被写体がいる確率が高いかの測
距デ−タ選択演算を行うが、その際に前記ステップ７０
６、或は、ステップ７０８にて既にその演算結果が出て
いる場合にはそれを採用する（ステップ７０９）。そし
て、その演算結果に基づいて測距デ−タを決定する（ス
テップ３１０）。

【０１３３】ここで、測距範囲外の距離デ−タに対して
それが被写体である確率を所定の低い値にした理由は、
図２８と同様に、むやみに分岐を増やしてプログラムを
複雑にしないという点と、仮に被写体が左右の至近距離
にいた場合に、距離デ−タを無限にするよりはやや不正
確な距離デ−タでも至近側の距離デ−タを採用した方が
ボケの量が少なくなるのを配慮している点からである。

【０１３４】この第４の実施例によれば、アクティブ方
式の広視野測距方式において、中央部以外の測距エリア
の測距デ−タがその測距範囲を越えている場合には、そ
の測距デ−タを用いずに中央部の測距デ−タを選択する
ようにしている為、高輝度飽和の影響が少なく高性能で
あり、しかも近距離側の測距デ−タの誤差の少ない、そ
して広視野測距における誤選択の少ない測距装置を提供
可能となる。

【０１３５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
積分手段からの出力より被写体距離が近距離であること
を判別する近距離判別手段と、該近距離判別手段により
被写体距離が近距離であることが判別された場合には、
無限判別手段による無限情報を無効とする情報選別手段
とを設け、近距離判別手段にて被写体情報が近距離であ
ることが判別されている場合には、被写体が近距離に位
置するために受光手段の遠距離側出力が小さくなって無
限判別手段が無限判別を行ったケ−スであるとして、無
限判別手段による無限情報を無効とするようにしてい
る。

【０１３６】よって、被写体が近距離位置に居るにもか
かわらず無限という測距情報を出力してしまうといった
ことを確実に防止することができる。

【０１３７】また、複数の測距領域にて得られた測距デ
−タの調整を行うためのテストモ−ドが指示されている
か否かを判別する判別手段と、該判別手段にてテストモ
−ドであることが判別されている場合には、前記複数の
測距領域それぞれについての測距動作を順次行い、得ら
れる測距デ−タを順次出力する測距動作制御手段とを設
け、又、複数の測距領域にて得られた測距デ−タの調整
を行うためのテストモ−ドが指示されているか否かを判
別する判別手段と、該判別手段にてテストモ−ドである
ことが判別されている場合には、指示される測距領域の
測距動作を行い、得られる測距デ−タを出力する測距動
作制御手段とを設け、又、複数の測距領域にて得られた
測距デ−タの調整を行うためのテストモ−ドが指示され
ているか否かを判別する判別手段と、該判別手段にてテ
ストモ−ドであることが判別されている場合には、１つ
の測距領域に対する測距動作を所定回数行い、得られる
測距デ−タを順次出力する測距動作制御手段とを設け、
複数の測距領域にて得られた測距デ−タの調整を行うた
めの、つまりそれぞれの測距領域すべてにおいて同一の
被写体においては同一の測距デ−タが出力されるように
する調整のためのテストモ−ド時には、通常のモ−ド時
とは異なり、この調整に必要な動作のみをそれぞれの測
距領域に対して順次、或は指定される測距領域に対し
て、或は所定回数それぞれの測距領域或は指定される測
距領域に対して行うようにしている。

【０１３８】よって、複数の測距領域にて得られるそれ
ぞれの測距デ−タの調整を短時間に行うことができる。

【０１３９】また、所定の距離に位置する被写体からの
投光手段による反射光が結像されるべく受光手段の所定
位置に、調整マ−クを設け、この調整マ−クの位置に、
所定の距離に位置する被写体からの投光手段による反射
光が結像されるように受光手段の位置調整を行うように
している。

【０１４０】よって、投光手段と受光手段の合致を理想
的な位置に精度良く調整することができると共に、その
調整作業の効率を向上させることができる。

【０１４１】また、周辺領域に位置する被写体からの反
射光を受光する受光手段の測距可能範囲を、中央領域に
位置する被写体からの反射光を受光する受光手段の測距
可能範囲よりも狭くし、又、画面内の周辺領域用の受光
手段からの出力が、該受光手段による測距可能範囲から
外れたデ−タであった場合には、画面内の中央領域用の
受光手段からの出力デ−タに重み付けをして測距情報を
算出する演算手段を具備し、周辺領域用の受光手段の近
距離側の測距可能距離を中央領域のそれに比べて短く
し、中央領域以外の領域の測距デ−タが測距可能範囲を
越えていた場合、つまり中央領域用の受光手段のみが適
正に測距可能となる近距離の測距デ−タが周辺領域より
出力されていた場合、中央領域用の受光手段からの測距
デ−タのみを、或はその用いる比率を大きくするように
している。

【０１４２】よって、高輝度飽和の影響が少なく高性能
であり、しかも近距離側の誤差の少ない測距情報を出力
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】一般的な測距装置の概略構成を示す図である。

【図２】図１の測距装置における無限判定を行う場合に
ついて説明するための図である。

【図３】本発明の第１の実施例における測距装置の概略
構成を示すブロック図である。

【図４】図１の測距装置の動作を示すフロ−チャ−トで
ある。

【図５】焦点距離変化に応じて測距領域を変更する測距
装置におけるファインダ視野枠内の測距領域を示す図で
ある。

【図６】図５の様な測距装置における焦点距離と照射角
並びに用いる測距領域の関係を示す図である。

【図７】本発明の第２の実施例における測距装置の概略
構成を示すブロック図である。

【図８】図７の測距装置の動作を示すフロ−チャ−トで
ある。

【図９】図８の一部を変更した場合の動作を示すフロ−
チャ−トである。

【図１０】図８の一部を変更した場合の更に別の動作を
示すフロ−チャ−トである。

【図１１】図７のテストモ−ド入力手段の一例を示すブ
ロック図である。

【図１２】図７のテストモ−ド入力手段の他の例を示す
ブロック図である。

【図１３】図７のテストモ−ド入力手段の別の例を示す
ブロック図である。

【図１４】本発明の第３の実施例に係る受光センサ及び
調整マ−クを示す図である。

【図１５】図１４の様な受光センサの投光素子に対する
位置調整時について説明する為の図である。

【図１６】本発明の第３の実施例に係る受光センサと投
光素子との調整後の状態を示す図である。

【図１７】本発明の第３の実施例に係る受光センサ及び
調整マ−クの他の例示す図である。

【図１８】本発明の第３の実施例に係る受光センサ及び
調整マ−クの別の例示す図である。

【図１９】本発明の第４の実施例における測距装置の概
略構成を示すブロック図である。

【図２０】図１９の測距手段における測距原理について
説明するための図である。

【図２１】本発明の第４の実施例における測距装置に備
わった受光手段の構成について示す図である。

【図２２】図２１の各受光手段上への各距離における被
写体反射像の様子を示す図である。

【図２３】図２１の左右の測距手段の特性について示す
図である。

【図２４】図２１の中央の測距手段の特性について示す
図である。

【図２５】本発明の第４の実施例における測距装置に備
わった受光手段の他の構成例及び該受光手段上への各距
離における被写体反射像の様子を示す図である。

【図２６】図２５の左右の測距手段の特性について示す
図である。

【図２７】図２５の測距装置における動作を示すフロ−
チャ−トである。

【図２８】図２５の測距装置における他の動作例を示す
フロ−チャ−トである。

【図２９】図２５の測距装置における別の動作例を示す
フロ−チャ−トである。

【符合の説明】

１２ＩＲＥＤ１３ＰＳＤ２３比較回路２４電圧増幅回路２５コンデンサ２８マイクロコンピュ−タ３１テストモ−ド入力手段３２マイクロプロセッサ３３測距手段５１，５２，５３，５４ａ，５４ｂ測距用センサ６１測距用センサアレイ５５，５６，５７，５８調整マ−ク７１，７２，７３測距手段７４マイクロプロセッサ８１，８２，８３，８４，８５，９２，９３測距手
段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体へ向けて光を投射する投光手段
と、この投射光の被写体での反射光を受光する受光手段
と、該受光手段よりの出力を積分する積分手段と、該積
分手段からの出力より被写体距離が無限であることを判
別する無限判別手段を備えた測距装置において、被写体
距離が近距離であることを判別する近距離判別手段と、
該近距離判別手段により被写体距離が近距離であること
が判別された場合には、前記無限判別手段による無限情
報を無効とする情報選別手段とを設けたことを特徴とす
る測距装置。
【請求項２】近距離判別手段は、受光手段よりの出力
レベルにて被写体距離が近距離であることを判別する手
段であることを特徴とする請求項１記載の測距装置。
【請求項３】画面内の複数の領域を測距するための受
光手段を備えた測距装置において、前記複数の測距領域
にて得られた測距デ−タの調整を行うためのテストモ−
ドが指示されているか否かを判別する判別手段と、該判
別手段にてテストモ−ドであることが判別されている場
合には、前記複数の測距領域それぞれについての測距動
作を順次行い、得られる測距デ−タを順次出力する測距
動作制御手段とを設けたことを特徴とする測距装置。
【請求項４】画面内の複数の領域を測距するための受
光手段を備えた測距装置において、前記複数の測距領域
にて得られた測距デ−タの調整を行うためのテストモ−
ドが指示されているか否かを判別する判別手段と、該判
別手段にてテストモ−ドであることが判別されている場
合には、指示される測距領域の測距動作を行い、得られ
る測距デ−タを出力する測距動作制御手段とを設けたこ
とを特徴とする測距装置。
【請求項５】画面内の複数の領域を測距するための受
光手段を備えた測距装置において、前記複数の測距領域
にて得られた測距デ−タの調整を行うためのテストモ−
ドが指示されているか否かを判別する判別手段と、該判
別手段にてテストモ−ドであることが判別されている場
合には、所定の測距領域に対する測距動作を所定回数行
い、得られる測距デ−タを順次出力する測距動作制御手
段とを設けたことを特徴とする測距装置。
【請求項６】被写体へ向けて光を投射する投光手段
と、この投射光の被写体での反射光を受光する受光手段
とを備えた測距装置において、所定の距離に位置する被
写体からの前記投光手段による反射光が結像されるべく
前記受光手段の所定位置に、調整マ−クを設けたことを
特徴とする測距装置。
【請求項７】被写体へ向けて光を投射する複数の投光
手段と、これら投射光の被写体での反射光を受光する複
数の受光手段とを備えた測距装置において、所定の距離
に位置する被写体からの前記複数の投光手段による反射
光が結像されるべく前記複数の受光手段の所定位置に、
それぞれ調整マ−クを設けたことを特徴とする測距装
置。
【請求項８】調整許容範囲を示す調整マ−クを具備し
たことを特徴とする請求項６又は７記載の測距装置。
【請求項９】被写体へ向けて光を投射する複数の投光
手段と、画面内の中央及び周辺の領域に位置する被写体
よりの反射光を受光する、前記複数の投光手段に対応し
た複数の受光手段とを備えた測距装置において、前記周
辺領域に位置する被写体からの反射光を受光する受光手
段の測距可能範囲を、中央領域に位置する被写体からの
反射光を受光する受光手段の測距可能範囲よりも狭くし
たことを特徴とする測距装置。
【請求項１０】画面内の周辺領域用の受光手段からの
出力が、該受光手段による測距可能距囲から外れたデ−
タであった場合には、画面内の中央領域用の受光手段か
らの出力デ−タに重み付けをして測距情報を算出する演
算手段を具備したことを特徴とする請求項９記載の測距
装置。