JPH052182B2 - - Google Patents
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- JPH052182B2 JPH052182B2 JP60251524A JP25152485A JPH052182B2 JP H052182 B2 JPH052182 B2 JP H052182B2 JP 60251524 A JP60251524 A JP 60251524A JP 25152485 A JP25152485 A JP 25152485A JP H052182 B2 JPH052182 B2 JP H052182B2
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 71
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 4
- 230000002277 temperature effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば非分散型赤外線分析計や、比
色分析計あるいは分光分析計などの吸光分析計、
更に詳しくは、スパン校正用試料を常時用いる必
要無く簡易に感度チエツクを行えるようにチエツ
ク用信号生成機構を備えている吸光分析計におけ
る感度校正機構に関する。
色分析計あるいは分光分析計などの吸光分析計、
更に詳しくは、スパン校正用試料を常時用いる必
要無く簡易に感度チエツクを行えるようにチエツ
ク用信号生成機構を備えている吸光分析計におけ
る感度校正機構に関する。
第３図イは、基本的なガス分析用非分散型吸光
分析計の一例を示し、赤外線ビームを照射可能な
光源ａに対して、三方弁ｄにより試料（サンプル
ガス）とゼロ試料（ゼロガス）とが交互に切り換
え導入されるセルｂと、試料濃度検出器ｃとが光
学的直線関係が成立するように配置されると共
に、スパン校正用試料（スパンガス）を常時用い
る必要無く簡易に感度チエツクを行えるように、
前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅと感度校正
機構ｇの間に、エレチエツカーと称される分圧回
路から成るチエツク用信号生成機構ｆが介装され
ている。即ち、このエレチエツカー式のチエツク
用信号生成機構ｆは、前記セルｂへ試料を導入し
て行われる測定時において、前記試料濃度検出器
ｃのプリアンプｅからの出力信号（試料濃度信号
VG）をそのまま感度校正機構ｇへ供給する状態
と、前記セルｂへゼロ試料のみを導入して行われ
る簡易チエツク時において、前記プリアンプｅか
らの出力信号を所定の比率で分圧して得たチエツ
ク用信号Vcを前記感度校正機構ｇへ供給する状
態とに切り換え可能に構成されているものであ
る。
分析計の一例を示し、赤外線ビームを照射可能な
光源ａに対して、三方弁ｄにより試料（サンプル
ガス）とゼロ試料（ゼロガス）とが交互に切り換
え導入されるセルｂと、試料濃度検出器ｃとが光
学的直線関係が成立するように配置されると共
に、スパン校正用試料（スパンガス）を常時用い
る必要無く簡易に感度チエツクを行えるように、
前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅと感度校正
機構ｇの間に、エレチエツカーと称される分圧回
路から成るチエツク用信号生成機構ｆが介装され
ている。即ち、このエレチエツカー式のチエツク
用信号生成機構ｆは、前記セルｂへ試料を導入し
て行われる測定時において、前記試料濃度検出器
ｃのプリアンプｅからの出力信号（試料濃度信号
VG）をそのまま感度校正機構ｇへ供給する状態
と、前記セルｂへゼロ試料のみを導入して行われ
る簡易チエツク時において、前記プリアンプｅか
らの出力信号を所定の比率で分圧して得たチエツ
ク用信号Vcを前記感度校正機構ｇへ供給する状
態とに切り換え可能に構成されているものであ
る。
なお、かかるチエツク用信号生成機構ｆとして
は、前記のような分圧回路から成るエレチエツカ
ーの他に、第３図ロに示すように、光源ａとセル
ｂとの間（セルｂと試料濃度検出器ｃとの間でも
可）に挿抜される減光用フイルターや遮光板から
成るメカチエツカーと称されるものもある。この
メカチエツカー式のチエツク用信号生成機構ｆを
備えた吸光分析計の場合には、前記セルｂへ試料
を導入して行われる測定時においては、前記メカ
チエツカーとしての減光用フイルターを図中点線
で示すように光路内から抜き取つておくことによ
り、前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅから試
料濃度信号VGを得て感度校正機構ｇへ供給し、
前記セルｂへゼロ試料のみを導入して行われる簡
易チエツク時においては、前記減光用フイルター
を図中実線で示すように光路内へ挿入しておくこ
とにより、あるいは、遮光板の場合にはその遮光
板の所定量を光路内に挿入しておくことにより、
前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅからチエツ
ク用信号Vcを得て感度校正機構ｇへ供給するの
である。
は、前記のような分圧回路から成るエレチエツカ
ーの他に、第３図ロに示すように、光源ａとセル
ｂとの間（セルｂと試料濃度検出器ｃとの間でも
可）に挿抜される減光用フイルターや遮光板から
成るメカチエツカーと称されるものもある。この
メカチエツカー式のチエツク用信号生成機構ｆを
備えた吸光分析計の場合には、前記セルｂへ試料
を導入して行われる測定時においては、前記メカ
チエツカーとしての減光用フイルターを図中点線
で示すように光路内から抜き取つておくことによ
り、前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅから試
料濃度信号VGを得て感度校正機構ｇへ供給し、
前記セルｂへゼロ試料のみを導入して行われる簡
易チエツク時においては、前記減光用フイルター
を図中実線で示すように光路内へ挿入しておくこ
とにより、あるいは、遮光板の場合にはその遮光
板の所定量を光路内に挿入しておくことにより、
前記試料濃度検出器ｃのプリアンプｅからチエツ
ク用信号Vcを得て感度校正機構ｇへ供給するの
である。
そして、上記した試料濃度信号VGまたはチエ
ツク用信号Vcが入力信号VINとして与えられる前
記感度校正機構ｇは、従来は、第４図に示すよう
に、オペアンプO0およびサーモセンサーThから
成り、そのサーモセンサーThの検出結果に基い
て入力信号VINの温度ドリフトを補償するための
ひとつの温度補償回路A0を設けると共に、オペ
アンプO3および感度調整用ボリユームVRから成
る感度調整回路Ｃを設けた構成とされていた。
ツク用信号Vcが入力信号VINとして与えられる前
記感度校正機構ｇは、従来は、第４図に示すよう
に、オペアンプO0およびサーモセンサーThから
成り、そのサーモセンサーThの検出結果に基い
て入力信号VINの温度ドリフトを補償するための
ひとつの温度補償回路A0を設けると共に、オペ
アンプO3および感度調整用ボリユームVRから成
る感度調整回路Ｃを設けた構成とされていた。
しかしながら、前記第４図に示したような従来
構成の吸光分析計における感度校正機構において
は、次のような欠点があつた。
構成の吸光分析計における感度校正機構において
は、次のような欠点があつた。
即ち、分析部からの出力信号（感度校正機構ｇ
への入力信号VIN）の温度ドリフトには、大別す
ると、温度変化による試料自体の密度変化（特に
試料がガスの場合には大きい）などの試料系に起
因するものと、温度変化による光源ａの光量変化
や試料濃度検出器ｃの密度変化などの光学系に起
因するものと含まれており、しかも、それら試料
系に起因する温度ドリフトと光学系に起因する温
度ドリフトとでは夫々温度変化率が異なつている
にも拘わらず、前記従来構成の感度校正機構にお
いては、温度補償回路A0がひとつだけしか設け
られていなかつたために、換言すれば、試料系に
起因する温度ドリフトと光学系に起因する温度ド
リフトとを一纏めにして補償せんとしていたため
に、スパン校正用試料を用いた正規の感度校正時
や通常の測定時においては、その温度補償回路
A0が正常に作用するものの、スパン校正用試料
を用いない簡易チエツク時には、その温度補償回
路A0は正常に作用しないため、正確な感度チエ
ツクあるいは感度校正を行うことができない。つ
まり、前記簡易チエツク時には、前記セルｂには
ゼロ試料のみを供給するため前記試料系に起因す
る温度ドリフトは実際には生じないにも拘わら
ず、恰も試料系に起因する温度ドリフトが存在す
るものとして、言わば過度の温度補償がなされて
しまうからである。
への入力信号VIN）の温度ドリフトには、大別す
ると、温度変化による試料自体の密度変化（特に
試料がガスの場合には大きい）などの試料系に起
因するものと、温度変化による光源ａの光量変化
や試料濃度検出器ｃの密度変化などの光学系に起
因するものと含まれており、しかも、それら試料
系に起因する温度ドリフトと光学系に起因する温
度ドリフトとでは夫々温度変化率が異なつている
にも拘わらず、前記従来構成の感度校正機構にお
いては、温度補償回路A0がひとつだけしか設け
られていなかつたために、換言すれば、試料系に
起因する温度ドリフトと光学系に起因する温度ド
リフトとを一纏めにして補償せんとしていたため
に、スパン校正用試料を用いた正規の感度校正時
や通常の測定時においては、その温度補償回路
A0が正常に作用するものの、スパン校正用試料
を用いない簡易チエツク時には、その温度補償回
路A0は正常に作用しないため、正確な感度チエ
ツクあるいは感度校正を行うことができない。つ
まり、前記簡易チエツク時には、前記セルｂには
ゼロ試料のみを供給するため前記試料系に起因す
る温度ドリフトは実際には生じないにも拘わら
ず、恰も試料系に起因する温度ドリフトが存在す
るものとして、言わば過度の温度補償がなされて
しまうからである。
このことは、下記の数式を用いた説明によつて
一層よく理解される。
一層よく理解される。
いま、光学系の温度ドリフト関係をｆ（ｔ）、試
料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）とすると、試
料濃度信号VG、チエツク用信号VCは、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） VC＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c1，c2は定数） で表される。
料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）とすると、試
料濃度信号VG、チエツク用信号VCは、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） VC＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c1，c2は定数） で表される。
そして、前記温度補償回路A0のゲインは、こ
の場合にはＫ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）に調整されてい
る。従つて、前記感度調整回路ＣのゲインをＧ
（VR）で表すと、感度校正機構ｇのトータルゲ
インGTは、 GT＝Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）となる。
の場合にはＫ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）に調整されてい
る。従つて、前記感度調整回路ＣのゲインをＧ
（VR）で表すと、感度校正機構ｇのトータルゲ
インGTは、 GT＝Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）となる。
故に、スパン校正用試料を用いた正規の感度校
正時や通常の測定時における感度校正機構ｇから
の出力信号VOUTは、 VOUT＝VG・GT ＝C1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｇ（VR）・Ｋ となつて、温度影響が排除されるが、 スパン校正用試料を用いない前記簡易チエツク時
における感度校正機構ｇからの出力信号VOUTは、 VOUT＝VC・GT ＝c2・ｆ（ｔ）× Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c2・Ｇ（VR）・Ｋ／ｇ（ｔ） となつて、ｇ（ｔ）に起因する温度影響が現れて
しまうことになるのである。
正時や通常の測定時における感度校正機構ｇから
の出力信号VOUTは、 VOUT＝VG・GT ＝C1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｇ（VR）・Ｋ となつて、温度影響が排除されるが、 スパン校正用試料を用いない前記簡易チエツク時
における感度校正機構ｇからの出力信号VOUTは、 VOUT＝VC・GT ＝c2・ｆ（ｔ）× Ｇ（VR）・Ｋ／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c2・Ｇ（VR）・Ｋ／ｇ（ｔ） となつて、ｇ（ｔ）に起因する温度影響が現れて
しまうことになるのである。
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであ
つて、その目的は、スパン校正用試料を用いた正
規の感度校正時や通常の測定時においては勿論、
スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時にお
いても、常に正常な温度補償が行われる吸光分析
計における感度校正機構を提供せんとすることに
ある。
つて、その目的は、スパン校正用試料を用いた正
規の感度校正時や通常の測定時においては勿論、
スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時にお
いても、常に正常な温度補償が行われる吸光分析
計における感度校正機構を提供せんとすることに
ある。
上記目的を達成するために、本発明による吸光
分析計における感度校正機構は、冒頭に記載した
基本的構成を有するものにおいて、第１図イまた
は第１図ロに示すように、光学系に起因する温度
ドリフトを補償するための光学系用温度補償回路
Ａと、試料系に起因する温度ドリフトを補償する
ための試料系用温度補償回路Ｂとを各別に設ける
と共に、前記光学系用温度補償回路Ａと試料系用
温度補償回路Ｂの両方を使用する測定状態と、前
記試料系用温度補償回路Ｂは使用せずに前記光学
系用温度補償回路Ａを使用するチエツク状態とに
切り換え可能なスイツチSWを設けてある、とい
う特徴を備えている。
分析計における感度校正機構は、冒頭に記載した
基本的構成を有するものにおいて、第１図イまた
は第１図ロに示すように、光学系に起因する温度
ドリフトを補償するための光学系用温度補償回路
Ａと、試料系に起因する温度ドリフトを補償する
ための試料系用温度補償回路Ｂとを各別に設ける
と共に、前記光学系用温度補償回路Ａと試料系用
温度補償回路Ｂの両方を使用する測定状態と、前
記試料系用温度補償回路Ｂは使用せずに前記光学
系用温度補償回路Ａを使用するチエツク状態とに
切り換え可能なスイツチSWを設けてある、とい
う特徴を備えている。
なお、同第１図イ，ロにおいて、Ｃは感度調整
回路であり、O1，O2，O3は夫々オペアンプを、
ThO，ThGは夫々サーモセンサーを、そして、
VRは感度調整用ボリユームを示している。
回路であり、O1，O2，O3は夫々オペアンプを、
ThO，ThGは夫々サーモセンサーを、そして、
VRは感度調整用ボリユームを示している。
上記特徴構成故に発揮される作用は下記の通り
である。
である。
即ち、本発明による吸光分析計における感度校
正機構においては、従来構成のもののように試料
系に起因する温度ドリフトと光学系に起因する温
度ドリフトとを一纏めにして補償せんとするので
は無く、夫々の温度ドリフトを各別に取り扱える
ように、第１図イ，ロに例示する如く、光学系用
温度補償回路Ａと試料系用温度補償回路Ｂとを各
別に設けると共に、スパン校正用試料を用いた正
規の感度校正時や通常の測定時においては、スイ
ツチSWを濃度測定側に設定することにより、入
力信号VINとしての試料濃度信号VGを前記光学系
用温度補償回路Ａおよび試料系用温度補償回路Ｂ
の両方を通過させ得るように、また、スパン校正
用試料を用いない簡易チエツク時においては、前
記スイツチSWをチエツク側に設定することによ
り、入力信号VINとしてのチエツク用信号Vcを前
記光学系用温度補償回路Ａはバイパスさせて前記
試料系用温度補償回路Ｂのみを通過させ得るよう
に構成してあるから、スパン校正用試料を用いた
正規の感度校正時や通常の測定時においては勿
論、スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時
においても正常な温度補償が行われて、常に正確
な感度チエツクあるいは感度校正を行うことがで
きるようになつた。
正機構においては、従来構成のもののように試料
系に起因する温度ドリフトと光学系に起因する温
度ドリフトとを一纏めにして補償せんとするので
は無く、夫々の温度ドリフトを各別に取り扱える
ように、第１図イ，ロに例示する如く、光学系用
温度補償回路Ａと試料系用温度補償回路Ｂとを各
別に設けると共に、スパン校正用試料を用いた正
規の感度校正時や通常の測定時においては、スイ
ツチSWを濃度測定側に設定することにより、入
力信号VINとしての試料濃度信号VGを前記光学系
用温度補償回路Ａおよび試料系用温度補償回路Ｂ
の両方を通過させ得るように、また、スパン校正
用試料を用いない簡易チエツク時においては、前
記スイツチSWをチエツク側に設定することによ
り、入力信号VINとしてのチエツク用信号Vcを前
記光学系用温度補償回路Ａはバイパスさせて前記
試料系用温度補償回路Ｂのみを通過させ得るよう
に構成してあるから、スパン校正用試料を用いた
正規の感度校正時や通常の測定時においては勿
論、スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時
においても正常な温度補償が行われて、常に正確
な感度チエツクあるいは感度校正を行うことがで
きるようになつた。
なお、念のためにこれを数式を用いて説明すれ
ば下記の通りである。
ば下記の通りである。
前述したと同様に、光学系の温度ドリフト関数
をｆ（ｔ）、試料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）
とすると、試料濃度信号VG、チエツク用信号VC
は、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） VC＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c1，c2は定数） で表される。
をｆ（ｔ）、試料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）
とすると、試料濃度信号VG、チエツク用信号VC
は、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） VC＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c1，c2は定数） で表される。
そして、この場合には、前記光学系用温度補償
回路ＡはのゲインはK1／ｆ（ｔ）に、また、前記
試料系用温度補償回路ＢのゲインはK2／ｇ（ｔ）
に調整されているから、感度調整回路Ｃのゲイン
をＧ（VR）で表すと、スイツチSWが濃度測定側
に設定されている場合における感度校正機構のト
ータルゲインCTSは、 GTS＝Ｇ（VR）・K1・K2／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）とな
る。
回路ＡはのゲインはK1／ｆ（ｔ）に、また、前記
試料系用温度補償回路ＢのゲインはK2／ｇ（ｔ）
に調整されているから、感度調整回路Ｃのゲイン
をＧ（VR）で表すと、スイツチSWが濃度測定側
に設定されている場合における感度校正機構のト
ータルゲインCTSは、 GTS＝Ｇ（VR）・K1・K2／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）とな
る。
故に、スパン校正用試料を用いた正規の感度校
正時や通常の測定時における感度校正機構からの
出力信号VOUTは、 VOUT＝VG・GTS ＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｇ（VR）・K1・K2／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｇ（VR）・K1・K2 となつて、温度影響が排除され、 また、スイツチSWがチエツク側に設定されて
試料系用温度補償回路Ｂが使用されない場合にお
ける感度校正機構のトータルゲインGTCは、 GTC＝Ｇ（VR）・K1／ｆ（ｔ） となるから、 スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時に
おける感度校正機構からの出力信号VOUTは、 VOUT＝VC・GTC ＝VC・Ｇ（VR）・K1／ｆ（ｔ） ＝c2・Ｇ（VR）・K1 となつて、やはり温度影響は排除されることにな
るのである。
正時や通常の測定時における感度校正機構からの
出力信号VOUTは、 VOUT＝VG・GTS ＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｇ（VR）・K1・K2／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｇ（VR）・K1・K2 となつて、温度影響が排除され、 また、スイツチSWがチエツク側に設定されて
試料系用温度補償回路Ｂが使用されない場合にお
ける感度校正機構のトータルゲインGTCは、 GTC＝Ｇ（VR）・K1／ｆ（ｔ） となるから、 スパン校正用試料を用いない簡易チエツク時に
おける感度校正機構からの出力信号VOUTは、 VOUT＝VC・GTC ＝VC・Ｇ（VR）・K1／ｆ（ｔ） ＝c2・Ｇ（VR）・K1 となつて、やはり温度影響は排除されることにな
るのである。
以下、本発明のより具体的でかつ好適な実施例
を図面（第２図）に基いて説明する。
を図面（第２図）に基いて説明する。
即ち、本実施例に係る吸光分析計における感度
校正機構は、前記第１図イまたは第１図ロに示し
た基本的構成のものにおける前記試料系用温度補
償回路Ｂと感度調整回路Ｃとをひと纏めにして、
前記試料系用温度補償回路Ｂにおけるオペアンプ
O2を、前記感度調整回路Ｃにおける感度調整用
アンプO3として兼用使用することにより、オペ
アンプをひとつ節約できる構成とすると共に、前
記感度調整回路Ｃにおける感度調整用ボリユーム
VRを、主感度調整用ボリユームVR1と副感度調
整用ボリユームVR2とに分割した構成にしたもの
であり、その他の基本的構成は前記第１図イまた
は第１図ロに示したものと同様である。
校正機構は、前記第１図イまたは第１図ロに示し
た基本的構成のものにおける前記試料系用温度補
償回路Ｂと感度調整回路Ｃとをひと纏めにして、
前記試料系用温度補償回路Ｂにおけるオペアンプ
O2を、前記感度調整回路Ｃにおける感度調整用
アンプO3として兼用使用することにより、オペ
アンプをひとつ節約できる構成とすると共に、前
記感度調整回路Ｃにおける感度調整用ボリユーム
VRを、主感度調整用ボリユームVR1と副感度調
整用ボリユームVR2とに分割した構成にしたもの
であり、その他の基本的構成は前記第１図イまた
は第１図ロに示したものと同様である。
即ち、先ず、スパン校正用試料を用いた正規の
感度校正を行うに際しては、スイツチSWを濃度
測定側に設定する。この場合には、試料濃度信号
VG、つまり、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） （ここに、c1は定数） が入力信号VINとして与えられる。
感度校正を行うに際しては、スイツチSWを濃度
測定側に設定する。この場合には、試料濃度信号
VG、つまり、 VG＝c1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） （ここに、c1は定数） が入力信号VINとして与えられる。
そして、光学系の温度ドリフト関数をｆ（ｔ）、
試料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）として、光
学系用温度補償回路ＡのゲインはＫ／ｆ（ｔ）で、
また、試料系用温度補償回路Ｂ兼感度調整回路Ｃ
のゲインはG1（VR1）／ｇ（ｔ）で表されるから、
この状態での感度校正機構のトータルゲインGTS
は、 GTS＝Ｋ・G1（VR1）／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）とな
る。
試料系の温度ドリフト関数をｇ（ｔ）として、光
学系用温度補償回路ＡのゲインはＫ／ｆ（ｔ）で、
また、試料系用温度補償回路Ｂ兼感度調整回路Ｃ
のゲインはG1（VR1）／ｇ（ｔ）で表されるから、
この状態での感度校正機構のトータルゲインGTS
は、 GTS＝Ｋ・G1（VR1）／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）とな
る。
従つて、このスパン校正用試料を用いた正規の
感度校正時における感度校正機構からの出力信号
VOUTは、 VOUT＝VG・GTS ＝C1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｋ・G1（VR1）／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｋ・G1（VR1） となり、温度影響が排除されて、出力信号VOUT
は温度によらず一定なものになる。そこで、この
出力信号VOUTが使用したスパン校正用試料の濃
度に対応した値になるように、前記主感度調整用
ボリユームVR1を操作してG1（VR1）を調節す
る。
感度校正時における感度校正機構からの出力信号
VOUTは、 VOUT＝VG・GTS ＝C1・ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ）× Ｋ・G1（VR1）／ｆ（ｔ）・ｇ（ｔ） ＝c1・Ｋ・G1（VR1） となり、温度影響が排除されて、出力信号VOUT
は温度によらず一定なものになる。そこで、この
出力信号VOUTが使用したスパン校正用試料の濃
度に対応した値になるように、前記主感度調整用
ボリユームVR1を操作してG1（VR1）を調節す
る。
次に、スパン校正用試料を用いない最初の簡易
チエツクを行うに際しては、前記スイツチSWを
チエツク側に設定する。この場合には、チエツク
用信号Vc、つまり、 Vc＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c2は定数） が入力信号VINとして与えられる。
チエツクを行うに際しては、前記スイツチSWを
チエツク側に設定する。この場合には、チエツク
用信号Vc、つまり、 Vc＝c2・ｆ（ｔ） （ここに、c2は定数） が入力信号VINとして与えられる。
このときには試料系用温度補償回路Ｂにおける
サーモサンサーTHGが使用されない代わりに副
感度調整用ボリユームVR2が使用されるから、試
料系用温度補償回路Ｂ兼感度調整回路Ｃのゲイン
はG1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ）で表され、こ
の状態における感度校正機構のトータルゲイン
GTCは、 GTC＝Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ）とな
る。
サーモサンサーTHGが使用されない代わりに副
感度調整用ボリユームVR2が使用されるから、試
料系用温度補償回路Ｂ兼感度調整回路Ｃのゲイン
はG1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ）で表され、こ
の状態における感度校正機構のトータルゲイン
GTCは、 GTC＝Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ）とな
る。
従つて、このスパン校正用試料を用いない簡易
チエツク時における感度校正機構からの出力信号
VOUTは、 VOUT＝VG・GTC ＝c2・ｆ（ｔ）× Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ） ＝c2・Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2） となり、やはり温度影響が排除されて、出力信号
VOUTは温度によらず一定なものになる。そこで、
この出力信号VOUTが上記した正規の感度校正の
場合と同じ値になるように、前記副感度調整用ボ
リユームVR2を操作してG2（VR2）を調節して固
定する。なお、このように前記副感度調整用ボリ
ユームVR2を調節しておくことにより、前記定数
c1，c2の感度変化に対する比率を同じにできるた
め、以後の簡易チエツクの際には、前記主感度調
整用ボリユームVR1のみを操作すればよい。
チエツク時における感度校正機構からの出力信号
VOUTは、 VOUT＝VG・GTC ＝c2・ｆ（ｔ）× Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2）／ｆ（ｔ） ＝c2・Ｋ・G1（VR1）・G2（VR2） となり、やはり温度影響が排除されて、出力信号
VOUTは温度によらず一定なものになる。そこで、
この出力信号VOUTが上記した正規の感度校正の
場合と同じ値になるように、前記副感度調整用ボ
リユームVR2を操作してG2（VR2）を調節して固
定する。なお、このように前記副感度調整用ボリ
ユームVR2を調節しておくことにより、前記定数
c1，c2の感度変化に対する比率を同じにできるた
め、以後の簡易チエツクの際には、前記主感度調
整用ボリユームVR1のみを操作すればよい。
ところで、通常の測定時においても、前記スイ
ツチSWが濃度測定側に設定された状態でなされ
るので、上記した正規の感度校正の場合と同様に
感度校正機構からの出力信号VOUTは温度によら
ず一定になることは言うまでもない。
ツチSWが濃度測定側に設定された状態でなされ
るので、上記した正規の感度校正の場合と同様に
感度校正機構からの出力信号VOUTは温度によら
ず一定になることは言うまでもない。
また、本発明に係る上記感度校正機構は、試料
がガスの場合（ガス分析計）であつても、液体の
場合（液体分析計）であつても、共に適用可能で
あることは勿論である。
がガスの場合（ガス分析計）であつても、液体の
場合（液体分析計）であつても、共に適用可能で
あることは勿論である。
以上詳述したところから明らかなように、本発
明に係る吸光分析計における感度校正機構によれ
ば、光学系に起因する温度ドリフトを補償するた
めの光学系用温度補償回路と、試料系に起因する
温度ドリフトを補償するための試料系用温度補償
回路とを各別に設けると共に、前記光学系用温度
補償回路と試料系用温度補償回路の両方を使用す
る測定状態と、前記試料系用温度補償回路は使用
せずに前記光学系用温度補償回路を使用するチエ
ツク状態とに切り換え可能なスイツチを設けてあ
るため、スパン校正用試料を用いた正規の感度校
正時や通常の測定時においては勿論、スパン校正
用試料を用いない簡易チエツク時においても正常
な温度補償が行われるようにでき、以つて、常に
正確な感度チエツクあるいは感度校正を行うこと
ができる、という優れた効果が発揮されるに至つ
たのである。
明に係る吸光分析計における感度校正機構によれ
ば、光学系に起因する温度ドリフトを補償するた
めの光学系用温度補償回路と、試料系に起因する
温度ドリフトを補償するための試料系用温度補償
回路とを各別に設けると共に、前記光学系用温度
補償回路と試料系用温度補償回路の両方を使用す
る測定状態と、前記試料系用温度補償回路は使用
せずに前記光学系用温度補償回路を使用するチエ
ツク状態とに切り換え可能なスイツチを設けてあ
るため、スパン校正用試料を用いた正規の感度校
正時や通常の測定時においては勿論、スパン校正
用試料を用いない簡易チエツク時においても正常
な温度補償が行われるようにでき、以つて、常に
正確な感度チエツクあるいは感度校正を行うこと
ができる、という優れた効果が発揮されるに至つ
たのである。
第１図イ，ロは夫々本発明方法に係る吸光分析
計における感度校正機構の基本的構成を示すブロ
ツク回路図（クレーム対応図）である。また、第
２図は本発明の好適実施例に係る吸光分析計にお
ける感度校正機構を示すブロツク回路図である。
そして、第３図および第４図は本発明の技術的背
景ならびに従来技術の問題点を説明するためのも
のであつて、第３図イ，ロは、夫々、一般的な吸
光分析計の全体概略構成図を示し、第４図は従来
構成の吸光分析計における感度校正機構のブロツ
ク回路図を示している。 Ａ……光学系用温度補償回路、Ｂ……試料系用
温度補償回路、SW……スイツチ。
計における感度校正機構の基本的構成を示すブロ
ツク回路図（クレーム対応図）である。また、第
２図は本発明の好適実施例に係る吸光分析計にお
ける感度校正機構を示すブロツク回路図である。
そして、第３図および第４図は本発明の技術的背
景ならびに従来技術の問題点を説明するためのも
のであつて、第３図イ，ロは、夫々、一般的な吸
光分析計の全体概略構成図を示し、第４図は従来
構成の吸光分析計における感度校正機構のブロツ
ク回路図を示している。 Ａ……光学系用温度補償回路、Ｂ……試料系用
温度補償回路、SW……スイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 簡易に感度チエツクを行えるようにチエツク
用信号生成機構を備えている吸光分析計における
感度校正機構であつて、光学系に起因する温度ド
リフトを補償するための光学系用温度補償回路
と、試料系に起因する温度ドリフトを補償するた
めの試料系用温度補償回路とを各別に設けると共
に、前記光学系用温度補償回路と試料系用温度補
償回路の両方を使用する測定状態と、前記試料系
用温度補償回路は使用せずに前記光学系用温度補
償回路を使用するチエツク状態とに切り換え可能
なスイツチを設けてあることを特徴とする吸光分
析計における感度校正機構。 ２ 前記試料系用温度補償回路におけるアンプ
を、感度調整用アンプとして兼用使用可能に構成
してある特許請求の範囲第１項に記載の吸光分析
計における感度校正機構。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251524A JPS62112038A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | 吸光分析計における感度校正機構 |
| EP86111872A EP0222993B1 (en) | 1985-11-09 | 1986-08-27 | Sensitivity-calibration circuit for absorption analyzers |
| DE8686111872T DE3682373D1 (de) | 1985-11-09 | 1986-08-27 | Schaltkreis zur empfindlichkeitskalibrierung von absorptionsanalysegeraeten. |
| AT86111872T ATE69307T1 (de) | 1985-11-09 | 1986-08-27 | Schaltkreis zur empfindlichkeitskalibrierung von absorptionsanalysegeraeten. |
| US07/906,016 US4766304A (en) | 1985-11-09 | 1986-09-11 | Sensitivity-calibration circuit for use in an absorption analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251524A JPS62112038A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | 吸光分析計における感度校正機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62112038A JPS62112038A (ja) | 1987-05-23 |
| JPH052182B2 true JPH052182B2 (ja) | 1993-01-11 |
Family
ID=17224089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60251524A Granted JPS62112038A (ja) | 1985-11-09 | 1985-11-09 | 吸光分析計における感度校正機構 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4766304A (ja) |
| EP (1) | EP0222993B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62112038A (ja) |
| AT (1) | ATE69307T1 (ja) |
| DE (1) | DE3682373D1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4933543A (en) * | 1987-09-25 | 1990-06-12 | Chesley F. Carlson | Dark signal compensation for diode arrays |
| US4918311A (en) * | 1988-04-15 | 1990-04-17 | Andros Analyzers Incorporated | Set point control circuit for an infrared gas analyzer |
| EP0366831B1 (en) * | 1988-11-04 | 1993-03-10 | Horiba, Ltd. | Temperature compensating circuit |
| FI934871A0 (fi) * | 1993-11-03 | 1993-11-03 | Instrumentarium Oy | Foerfarande och anordning foer kompensering av vaermekrypningen hos en gasanalysator |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3783300A (en) * | 1972-09-18 | 1974-01-01 | Atomic Energy Commission | Automatic photomultiplier tube voltage controller |
| US3840305A (en) * | 1973-07-20 | 1974-10-08 | Itt | Electro-optical apparatus with temperature compensation |
| US3988682A (en) * | 1975-06-23 | 1976-10-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Voltage ramp temperature controller |
| DD132814B1 (de) * | 1977-08-24 | 1981-02-25 | Volkmar Hess | Schaltungsanordnung zur temperaturkompensation von nichtdispersiven infrarot-gasanalysatoren |
| US4167665A (en) * | 1977-10-31 | 1979-09-11 | Dasibi Environmental Corporation | Automatic calibration circuit for gas analyzers |
| US4346296A (en) * | 1980-08-15 | 1982-08-24 | Andros Analyzers Incorporated | Non-dispersive infrared gas analyzer |
| US4358679A (en) * | 1980-09-02 | 1982-11-09 | Astro Safety Products Inc. | Calibration of analyzers employing radiant energy |
| DD154915A1 (de) * | 1980-12-01 | 1982-04-28 | Hartmut Sommerlatt | Anordnung zur kompensation des temperatureinflusses auf einem elektrischen messwertgeber |
-
1985
- 1985-11-09 JP JP60251524A patent/JPS62112038A/ja active Granted
-
1986
- 1986-08-27 DE DE8686111872T patent/DE3682373D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-08-27 EP EP86111872A patent/EP0222993B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-27 AT AT86111872T patent/ATE69307T1/de not_active IP Right Cessation
- 1986-09-11 US US07/906,016 patent/US4766304A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0222993A2 (en) | 1987-05-27 |
| EP0222993A3 (en) | 1988-05-04 |
| EP0222993B1 (en) | 1991-11-06 |
| JPS62112038A (ja) | 1987-05-23 |
| DE3682373D1 (de) | 1991-12-12 |
| US4766304A (en) | 1988-08-23 |
| ATE69307T1 (de) | 1991-11-15 |
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