JPH05227363A - イメージセンサ及びその読み取り方法及び画像読取装置 - Google Patents

イメージセンサ及びその読み取り方法及び画像読取装置

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JPH05227363A
JPH05227363A JP4184656A JP18465692A JPH05227363A JP H05227363 A JPH05227363 A JP H05227363A JP 4184656 A JP4184656 A JP 4184656A JP 18465692 A JP18465692 A JP 18465692A JP H05227363 A JPH05227363 A JP H05227363A
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JP
Japan
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photodiode
charge
blocking diode
image sensor
light receiving
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Application number
JP4184656A
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English (en)
Inventor
Hirotsugu Kashimura
洋次 鹿志村
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 イメ−ジセンサにおけるフォトダイオードの
受光量に応じた電流値ではなく、電圧値を読み取ること
ができ、更にブロック単位に読み取ることができる簡易
な構成のイメージセンサ及びその読み取り方法及び画像
読取装置を提供する。 【構成】 フォトダイオードPDとブロッキングダイオ
ードBDから成る受光素子を複数個配列して1ブロック
として複数ブロックをアレイ状に形成し、ブロッキング
ダイオードBDにはバイアス電圧を印加するシフトレジ
スタSRが接続され、フォトダイオードPDからの配線
はデータ・ラインに接続し、データ・ラインに負荷容量
CL を形成し、負荷容量CL に蓄積された電荷によりデ
ータ・ラインの電位をAMUXの読取回路で読み取るイ
メージセンサ及びその読み取り方法及び画像読取装置と
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ファクシミリ、イメー
ジスキャナ等の入力部に用いられるイメージセンサ及び
画像読取装置に係り、特にフォトダイオードとブロッキ
ングダイオードとを極性を逆向きに直列に接続した受光
素子を複数個並べてアレイ状に形成したイメージセンサ
及びその読み取り方法及び画像読取装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のファクシミリ等の画像読取りに使
用されるイメージセンサは、フォトダイオードとブロッ
キングダイオードとが互いに逆極性になるように直列に
接続して一組の受光素子を形成し、この受光素子を複数
個ライン状に並べて受光素子アレイを構成するものが提
案されている。
【0003】すなわち、上述したイメージセンサの受光
素子部分は、図17の平面説明図及び図17の断面説明
図である図18に示すように、ガラス等から成る基板1
上にクロム(Cr)等から成る金属電極2、n+ 層のオ
ーミックコンタクト層3、水素化アモルファスシリコン
(a−Si:H)等から成る光導電層4、酸化インジウ
ム・スズ(ITO)等から成る透明電極5、ポリイミド
等から成る絶縁層6を順次積層及びパターニングして、
フォトダイオードPDとブロッキングダイオードBDを
形成し、絶縁層6に形成したコンタクト孔8a、8bを
介してアルミニウム(Al)等から成る引き出し配線7
a、7bを形成して構成されている。
【0004】そして、フォトダイオードPD側は、上部
より光が照射される受光エリアA(図の斜線部分)を形
成するとともに、ブロッキングダイオードBD側は光が
照射されないように引き出し配線7bにより遮光する構
成となっている。
【0005】そして、このような受光素子を複数(n
個)並べてアレイを形成し、各ブロッキングダイオード
BD側の各引き出し配線7bは、図19の等価回路図に
示すようにシフトレジスタSRに接続され、フォトダイ
オードPD側の各引き出し配線7aはローディング抵抗
Rを介して接地されているとともに、ローディング抵抗
Rのフォトダイオード側に出力端子Tout を形成してい
る。
【0006】上記従来の構成のイメージセンサにおける
電荷読み出しの動作を以下に説明する。まず、シフトレ
ジスタSRによってフォトダイオードPDが走査されて
順次信号がブロッキングダイオードPDを通して印加さ
れ、印加されたフォトダイオードPDに電荷が蓄積され
る。
【0007】そして、走査が一巡する間にフォトダイオ
ードPDに光が照射され、その光の照射光量に応じた電
荷が放電される。次にリセット信号(読み出しパルス)
をシフトレジスタSRによって順次印加し、各フォトダ
イオードPDに前記放電量に応じた電荷が再充電される
ものである。
【0008】この再充電時にローディング抵抗Rを流れ
る電流により出力端子Tout に生じる電流値を信号にし
て読み出すものである(特開昭58−62978号公報
参照)。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成のイメージセンサ及びその読み取り方法では、
フォトダイオードPDに光が入射した時、フォトダイオ
ードPDを流れる電流によって、放電された電荷がフォ
トダイオードPDの容量とブロッキングダイオードBD
の容量とに分配され、このときフォトダイオードPDに
おいて減少した電荷を補うためにローディング抵抗Rを
電流が流れてノイズが発生するとの問題点があった。
【0010】そこで、遮光されていない第1フォトダイ
オードPDと遮光されていない第2フォトダイオードP
Dとを極性を逆向きに直列に近接して接続して受光素子
を複数個ライン状に並べて受光素子アレイを形成し、前
記第1のフォトダイオードPD及び第2のフォトダイオ
ードPDは光が照射された際に両ダイオードを流れる電
流を等しくすることで外部に電流が流れ出さない構造を
有するイメージセンサが提案されている。
【0011】このイメージセンサは、二つのフォトダイ
オード(1つをフォトダイオードPDとし、もう1つを
ブロッキングダイオードBDとする)を極性を逆に接続
して、両フォトダイオードに受光エリアを形成し、光が
照射された際に両フォトダイオードに流れる電流を等し
くし、外部に電流が流れ出さないようにしているので、
ノイズ成分が発生しないものである。
【0012】しかしながら、上記イメージセンサの構成
では、再充電時にローディング抵抗Rを流れる電流値を
読み取って画像信号としているために、電圧値を読み取
る場合と比較して読み取りを行う回路構成が複雑になっ
てしまうとの問題点があった。特に、イメージセンサに
おける受光素子の電荷をブロック単位に読み取る場合に
電流値を読み取ることになると、その読取回路構成が更
に複雑になってしまうとの問題点があった。また、電流
値を読み取るイメージセンサでは、瞬時に電流値を読み
取るために、ノイズに対して敏感であり、ノイズに影響
され易いとの問題点があった。
【0013】本発明は上記実情に鑑みて為されたもの
で、フォトダイオードの受光量に応じた電流値ではな
く、フォトダイオードの受光量に応じた電圧値を読み取
ることができ、更に受光素子の電荷をブロック単位に読
み取ることができる簡易な構成のイメージセンサ及びそ
の読み取り方法及び画像読取装置を提供することを目的
とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記従来例の問題点を解
決するための請求項1記載の発明は、イメージセンサに
おいて、2個のダイオードを極性を逆向きに直列に接続
し、一方をフォトダイオード、他方をブロッキングダイ
オードとする受光素子を複数個ライン状に並べて1ブロ
ックとして複数ブロックをライン状に並べて形成した受
光素子アレイと、前記受光素子のフォトダイオードの端
部から導き出された配線がブロック単位に順次接続する
共通信号線と、前記受光素子のブロッキングダイオード
の端部にブロック単位で読み出しパルスを印加するシフ
トレジスタと、前記各共通信号線に負荷容量とを有する
ことを特徴としている。
【0015】上記例の問題点を解決するための請求項2
記載の発明は、請求項1記載のイメージセンサの読み取
り方法において、フォトダイオードとブロッキングダイ
オードの容量に比例して電荷を分配し、受光素子にて照
射されて照射光量に応じた光電流が流れて前記フォトダ
イオードと前記ブロッキングダイオードで放電減少した
電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバイア
ス電圧をオンすることで負荷容量に転送を行い、前記負
荷容量への転送によって生じた共通信号線の電圧値を読
み取ることを特徴としている。
【0016】上記例の問題点を解決するための請求項3
記載の発明は、請求項1記載のイメージセンサの読み取
り方法において、フォトダイオードとブロッキングダイ
オードの容量に比例して電荷を分配し、受光素子にて照
射されて照射光量に応じた光電流が流れて前記フォトダ
イオードと前記ブロッキングダイオードで放電減少した
電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバイア
ス電圧をオンすることで負荷容量に転送を行い、前記バ
イアス電圧をオフして前記光電流により失われた電荷分
に比例した電荷分を前記負荷容量へ残留させて共通信号
線の電圧値を読み取ることを特徴としている。
【0017】上記例の問題点を解決するための請求項4
記載の発明は、画像読取装置において、各共通信号線の
電位のリセットと前記電位の増幅を行い、時系列に前記
増幅された電位を出力線に出力する読取回路と、請求項
1記載のイメージセンサと、を有することを特徴として
いる。
【0018】
【作用】請求項1記載の発明によれば、フォトダイオー
ドとブロッキングダイオードから成る受光素子を複数個
配列して1ブロックとし、複数ブロックをアレイ状に形
成して受光素子アレイとし、ブロッキングダイオードに
はバイアス電圧を印加するシフトレジスタが接続され、
フォトダイオードからの配線はブロック内の受光素子数
に対応する共通信号線に接続し、各共通信号線はそれぞ
れ負荷容量を有する構成のイメージセンサとしているの
で、照射されて流れた光電流によって放電減少した電荷
分に対応した電荷分を負荷容量に転送蓄積して形成され
た共通信号線の電圧値をブロック単位に読み取ることが
でき、変化した電流値を読み取るよりも読取回路を簡単
にすることができ、更にブロック単位の読み取り容易に
行うことができる。
【0019】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサにおいて、フォトダイオードとブロ
ッキングダイオードの容量に比例して電荷を分配し、受
光素子にて照射されて照射光量に応じた光電流が流れて
フォトダイオードとブロッキングダイオードで放電減少
した電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバ
イアス電圧をオンして負荷容量に転送を行い、負荷容量
への転送によって生じた共通信号線の電圧値を読み取る
イメージセンサの読み取り方法としているので、照射さ
れて流れた光電流によって放電減少した電荷分に対応す
る電荷分を負荷容量へ転送して形成された共通信号線の
電圧値を読み取ることができ、変化した電流値を読み取
るよりも読取回路を簡単にすることができ、更にブロッ
ク単位の読み取りも容易に行うことができる。
【0020】請求項3記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサにおいて、フォトダイオードとブロ
ッキングダイオードの容量に比例して電荷を分配し、受
光素子にて照射されて照射光量に応じた光電流が流れて
フォトダイオードとブロッキングダイオードで放電減少
した電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバ
イアス電圧をオンして負荷容量に転送を行い、バイアス
電圧をオフして光電流により失われた電荷分に比例した
電荷分を負荷容量へ残留させて共通信号線の電圧値を読
み取るイメージセンサの読み取り方法としているので、
照射されて流れた光電流によって放電減少した電荷分に
対応した電荷分を負荷容量に残留させて形成された共通
信号線の電圧値を読み取ることができ、変化した電流値
を読み取るよりも読取回路を簡単にすることができ、更
にブロック単位の読み取り容易に行うことができる。
【0021】請求項4記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサに、共通信号線の電位をリセット
し、共通信号線の電位を増幅し、増幅した電位を時系列
に出力線に出力する読取回路を設けた画像読取装置とし
ているので、請求項1記載のイメージセンサでブロック
単位に読み取った電圧値を読取回路で増幅して順次画像
信号として時系列的に出力することができる。
【0022】
【実施例】本発明の一実施例に係るイメージセンサにつ
いて図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の一
実施例に係るイメージセンサの等価回路図である。尚、
図17〜図19のイメージセンサの構成と同一の構成を
とる部分については、同一の符号を使って説明する。
【0023】本実施例の密着型イメージセンサは、一画
素内の領域に大面積(Large Area Electronic:LAE)
プロセスによって形成されるものであり、電気回路的に
Backto Backの直列形に接続されたフォトダイオード
(受光素子)PDとブロッキングダイオードBDを1対
として複数個配列して1ブロックとし、複数ブロックの
受光素子から成る受光素子アレイと、それぞれのブロッ
クを選択するバイアス・ライン(Bias Line )と、各ブ
ロック内の対応するフォトダイオードPDに接続されて
いる複数本のデータ・ライン(Data Line )と、データ
・ラインにそれぞれ接続する負荷容量CL とから構成さ
れている。
【0024】そして、バイアス・ライン(Bias Line)
は、シフトレジスタSRに接続され、このシフトレジス
タSRから任意のタイミングで出力されるバイアス信号
によってブロックが選択されるようになっている。例え
ば、1ブロックの画素数(受光素子数)を64画素とす
ると、シフトレジスタSRのチャンネル数は、A4サイ
ズで27チャンネル、B4サイズで32チャンネル必要
である。また、データ・ライン(Data Line) は、アナロ
グマルチプレクサ(AMUX)の読取回路に接続されて
いる。ここで、データ・ラインと受光素子アレイとはマ
トリクス状の多層配線(Data Matrix) によって接続され
ており、またデータ・ラインはブロック毎の共通信号線
となっている。従って、本実施例ではマトリクス駆動を
しているために、例えば、64画素分の信号を同時にA
MUX内に取り込み、信号処理を行うには64チャンネ
ル分のアナログ入力が必要となる。
【0025】次に、アナログマルチプレクサ(AMUX
=Analog Multiplexer)の構成について図16を使って説
明する。図16は、AMUXの概略構成回路図である。
図16に示すように、入力側から順に、負荷容量CL が
接続されたデータ・ラインにはリセット用の第1のスイ
ッチ(Reset SW)11が設けられ、更に第1の増幅器(1s
t AMP)12と第2のスイッチ13と第1の容量14
が接続され、そして第2の増幅器(2nd AMP)15と
第3のスイッチ16と第2の容量17が接続され、更に
第3の増幅器(3rd AMP)18と第4のスイッチ19
が接続されている。そして、各チャンネル毎に上記と同
様の構成となっており、全体としてスイッチアレイ(SW
Array)、容量アレイ(Capacitor Array) が形成され、更
にそれぞれの出力線が1本にまとめられて電圧フォロワ
(Voltage Follower)20に接続され、その出力が出力線
に接続されている。
【0026】本実施例では、容量アレイ(Capacitor Arr
ay) を2段としているが、この段数は増幅器(AMP)
の特性、処理速度、回路構成で決まるものであるが、ブ
ロック単位に同時に読み込まれた複数の画素信号(Para
llel信号)を切れめなくシリアルの信号にマルチプレク
スするためには、信号を一時的に蓄える少なくとも1段
の容量アレイが必要である。
【0027】本実施例のAMUXの読取回路における基
本的動作は、負荷容量CL に蓄積された電荷により変化
したデータ・ラインの電位を第1の増幅器12で増幅し
て出力し、第1の容量14に電荷を蓄積して第2のスイ
ッチ13をオフにする。また同様に第2の増幅器15と
第2の容量17で増幅と電荷蓄積が行われ、第2の容量
17に蓄積された電荷量により変化した第2の増幅器1
5からの出力線の電位を第3の増幅器18で増幅して第
4のスイッチ19を順次オンして電圧フォロワ20を介
して信号が時系列に出力線に出力される。また、リセッ
ト時各増幅器と各容量とにより出力の差を得ることがで
きるので、オフセット補正を行うこともできる。
【0028】本実施例のAMUXの読取回路でのスイッ
チの動作タイミングは、第4のスイッチ19のアレイを
除いて各スイッチアレイは同時にオン・オフし、ブロッ
ク単位に次段の容量アレイに電荷を蓄積していき、第4
のスイッチ19のスイッチアレイだけが画素毎に順次オ
ンするようになっている。尚、1段しか容量アレイがな
いときの場合は、つまり、図16から第2の増幅器15
と第3のスイッチ16と第2の容量17を取り除いた構
成の場合は、第1の増幅器12と第1の容量14の間に
設けられた第2のスイッチ13を例えば半ブロック毎又
は1/4ブロック毎に先に出力される画素の信号線から
オン・オフを行って、第4のスイッチ19の動作は2段
の容量アレイの場合の動作と同様に行うことで、1段の
容量アレイの場合にも時系列的な出力を得ることが可能
となる。
【0029】また、本実施例では、データ・ラインから
の入力側の初段にはAMPを設けているが、電圧フォロ
ワであっても構わない。但し、AMUXの入力側ではS
/N比の点からインピーダンス変換を行った方か良いの
で、特にAMPを設けることが望ましい。
【0030】次に、受光素子部分のフォトダイオードP
DとブロッキングダイオードBDについて説明すると、
フォトダイオードPDとブロッキングダイオードBDは
それぞれの容量比に対応した光が当たるように予め構成
されている。例えば、図2に示すようにフォトダイオー
ドPDとブロッキングダイオードBDの受光面積と構成
を等しくし、両ダイオードに当たる光の量を等しくする
ことが具体的に考えられる。
【0031】本実施例のイメージセンサの受光素子部分
について、図2の平面説明図及び図2のA−A′部分の
断面説明図である図3を使って説明する。本実施例の受
光素子部分は、ガラス等から成る基板1上に、クロム
(Cr)等から成る金属電極2、n+ 層のオ−ミックコ
ンタクト層3、水素化アモルファスシリコン(a−S
i:H)等の光導電層4、酸化インジウム・スズ(IT
O)等の透明電極5、ポリイミド等の絶縁層6を順次積
層して、パターニングを行い、極性が逆向きにかつ図2
において上下対称的にオ−ミックコンタクト層3、光導
電層4、透明電極5を配置して、フォトダイオードPD
とブロッキングダイオードBDを形成している。
【0032】フォトダイオードPD及びブロッキングダ
イオードBDの透明電極5a、5b上には、絶縁層6に
形成したコンタクト孔8a、8bを介してアルミニウム
(Al)等から成る引き出し配線7a、7bが接続され
ている。尚、引き出し配線7bは、ブロッキングダイオ
ードBDのバイアス用配線(Bias Line)となり、引き
出し配線7aは、フォトダイオードPDの信号読み出し
配線(Data Line )となるものである。
【0033】また、引き出し配線7は、コンタクト孔8
上部において、遮光パターンを形成しており、当該遮光
パターンによって受光面積を規定している。本実施例に
おいては、フォトダイオードPDの受光面積とブロッキ
ングダイオードBDの受光面積との比を1:1となるよ
うに規定している。尚、説明を簡単にするために、ダイ
オードの特性を無視した単純なスイッチング素子を考え
るものとする。
【0034】次に、図4〜図10の動作プロセスを説明
する回路図を使って、本実施例の密着型イメージセンサ
の基本的動作原理を説明する。まず、説明を簡単にする
ために、1本のデータ・ライン上の任意の1bit のみを
考えることにする。
【0035】図4は、電源投入後にバイアスVB がオン
になった場合の等価回路図で、図中の容量CN は、同一
のデータ・ライン上に接続された他のブロック中の画素
の合成容量である。この過程で、フォトダイオードの容
量CPDとデータ・ライン上に設けられた負荷容量CL が
充電(charge up )される。但しブロッキングダイオー
ドBDは順方向となっているので、ブロッキングダイオ
ードの容量CBDは、充電されず空のままである。
【0036】つまり、図4の点間の電圧V24は、V
24=VB となり、点間の電圧V23と、点間の電
圧V34は以下の式のようになる。また、VO は出力線T
outの電圧である。 V23={(CL +CN )/(CL +CN +CPD)}×VB V34=VO ={CPD/(CL +CN +CPD)}×VB また、容量CN の値は、以下の通りになる。 CN =(全ブロック数−1)×CPD×CBD/(CPD+CBD)
【0037】次に、図5の等価回路図に示すように、バ
イアスVB がオフ(0V)となると、図4において充電
された電荷がブロッキングダイオードの容量CBD、フォ
トダイオードの容量CPD、負荷容量CL 及び容量CN の
容量比に応じて再分配されて、ブロッキングダイオード
BDの容量CBDが充電(charge up )される。つまり、
全容量をCT とすると、CT は以下の式で表される。 CT =(CL +CN )×CPD/(CL +CN +CPD)
【0038】そして、全電荷をQT とすると、QT =C
T ×VB となり、点間の電圧V12と出力側の電位V
O は以下の式で表すことができる。 V12=QT /(CBD+CT ) VO =CPD/(CL +CN +CPD)×V12
【0039】次に、図6に示すように、ドライバーIC
は、バイアスVB がオフになった後、つまり任意時間経
過後に、データ・ラインをグランド(GND)に落とす
ことによって負荷容量CL をリセットし、負荷容量CL
は放電(Discharge)され、点がGNDに落ちたこと
により、qr 分の電荷が移動し、フォトダイオードP
D、ブロッキングダイオード間の中点電位(以後V
C とする)が定まる。
【0040】つまり、出力電位VO は0となり、電荷q
r の移動により点間のリセット後の電圧V12(after
reset) と点間のリセット後の電圧V23(after res
et)は、V12(after reset) =V23(after reset) とな
る。そして、点間のリセット前の電圧V12、点
間のリセット前の電圧V23と点間のリセット後の電
圧V12(after reset) 、点間のリセット後の電圧V
23(after reset) の関係を式で表すと、以下の通りにな
る。 V12(after reset)=V12−qr /CBD V23(after reset)=V23+qr /CPD そして、中点電位VC は、以下の通りになる。 VC =V12(after reset )=V23(after reset )
【0041】次に、図7を使って照射光量に応じた光電
変換プロセスによって発生した電荷蓄積過程を説明す
る。図4〜図6の経過で中点電位VC が定まると、フォ
トダイオードPD、ブロッキングダイオードBD共に逆
バイアス印加状態となっており、この状態で、フォトダ
イオードPDとブロッキングダイオードBDに光が照射
されていると、図7の等価回路図に示しているフォトダ
イオードPDとブロッキングダイオードBDの電流源か
ら照射光量に応じた光電流が流れることになる。説明を
簡単にする為に、フォトダイオードの容量CPDとブロッ
キングダイオードの容量CBDが等しく、フォトダイオー
ドPD、ブロッキングダイオードBDのそれぞれの受光
エリアに照射される光量が等しいとすると、フォトダイ
オードPD、ブロッキングダイオードBDに流れるそれ
ぞぞれの光電流IPD、IBDは、IPD=IBDの関係とな
る。
【0042】従って、バイアスがオフとなった後に負荷
容量CL のリセットから、次のバイアスがオフとなるま
での期間(蓄積時間)TS 内にフォトダイオードPDと
ブロッキングダイオードBDに発生した電荷の総量qPD
とqBDは等しくなる。つまり、光電流IPD、IBDによっ
て、電荷qPD、qBDが発生し、この電荷qPD、qBDによ
って、バイアスオンからオフまでの過程で充電(charge
up )されたフォトダイオードの容量CPDとブロッキン
グダイオードの容量CBDの電荷は、電荷qPD、qBDの量
に応じて放電(Discharge)され、中点電位VC は、最
初に形成された中点電位VC init(VC initはリセット
直後の中点電圧)から0まで徐々に減少することになる
(図11のタイミングチャート参照)。
【0043】つまり、電荷qPD、qBDの放電後のフォト
ダイオードPDにおける電荷QPDとブロッキングダイオ
ードBDにおける電荷QBDは、以下の式で表される。 QPD=CPD×V23(after reset )−qPD QBD=CBD×V12(after reset )−qBD
【0044】図7では、フォトダイオードPDの電荷Q
PD、ブロッキングダイオードBDの電荷QBDによって、
フォトダイオードPD、ブロッキングダイオードBDの
バイアス電圧VPD、VBDが、VPD=QPD/CPD、VBD=
QBD/CBDとなり、電荷qPD=qBDであり、容量CPD=
CBDであるので、従って電圧VPD=VBDであって、点
間の電圧V12(storage )=VPD=VBDとなり、V12
(storage )=VC という新しい中点電位となってい
る。この場合、電圧VPD=VBDであるので、中点(点
)で移動した電流Ileakは0(ゼロ)である。
【0045】蓄積の過程では、実際には時間に比例して
VC が減少し、TS 時間後、電圧VPD=VBD=V12(st
orage )に達するものである。
【0046】この過程で発生した電荷を読み出すには、
図8〜図10の過程を繰り返せばよく、これは先に説明
した各容量の充電(charge up )過程に等しいものであ
る。唯一異なるのは、バイアスオン・オフ時に移動する
電荷量が、qPD、qBDに比例する点である。
【0047】この点に立って、図8〜図10の回路図を
使って、読み出し過程を説明する。まず、図8に示すよ
うに、バイアスがオンになると、ある時定数で電荷qT
が流れ、点Bがほぼバイアスオン電圧VB となる。フォ
トダイオードの容量CPDと、負荷容量CL 及び容量CN
は、直列接続となっているので、CPDと、CL 及びCN
とでそれぞれ電荷qT 分だけ電荷が増加する。つまり、
qT はqPDに対応する値であり、フォトダイオードPD
で光電荷によって失った分の電荷がqT の値に反映され
ており、その電荷qT がCL とCN の容量比に従ってに
蓄えられる。従って、負荷容量CL には以下に示すQCL
の電荷が蓄えられる。 QCL=CL /(CN +CL )×qT =CL /(CL +CN +CPD )×{GPD−(Vb −VC )+qPD}
【0048】次に、図9に示すようにバイアス電圧をオ
フにすると、点間の電圧V12と点内の電圧V24
の関係がV12=V24となるように電荷qがある時定数で
移動する。この過程によって、負荷容量CL 及び容量C
N に蓄えられた電荷がqだけ減少するが、負荷容量CL
には、更にフォトダイオードの電荷qPDに比例した量が
残っている。電荷qだけ減少して負荷容量CL に残留し
ている電荷の値には、フォトダイオードPDで光電荷に
よって失われた分の電荷qPDの値が反映されている。本
実施例では、この負荷容量CL に残留している電荷によ
って形成された共通信号線の電圧値を読むものである。
勿論、図8のバイアス電圧VB オン時で読むことも可能
である。
【0049】つまり、電荷qの移動によるフォトダイオ
ードPD、ブロッキングダイオードBD、負荷容量CL
及び容量CN における容量CPD,CBD,CL ,CN と電
荷QPD,QBD,QCLの関係は、以下の式の通りとなり、
電荷qは、以下の式で表される。 (QPD−q)/CPD+(QCL−q)/(CL +CN )=q/CBD q=CBD×CPD×(CL +CN )/{(CL +CN )×CBD+(CL +CN ) ×CPD+CBD×CPD}×VB そして、この場合のフォトダイオードPDとブロッキン
グダイオードBDのバイアス電圧VPD、VBDは、VPD=
(QPD−q)/CPD、VBD=q/CBDで表され、図9に
おいて読み出される電圧値VO(read) は、VPDG を光電
変換作用で下がった電位分とすると、以下の値になる。 VO(read) =CPD/(CL +CN +CPD)×VPDG +B 但し、Bは以下のように表せる。 B=CPD/(CL +CN +CPD)×VB −{(CL +CN )×CPD×CBD}/ {(CL +CN )×CPD+(CL +CN )×CBD+CPD×CBD}×VB −CPD/ (CL +CN +CPD)×VC ここで、設計上、Bがほぼ0となるように各容量の値を
定めると、照射光量に比例した出力を得ることができ
る。
【0050】また、図8のバイアス・オン(VGON)時
に読み出す電圧値VO(VGON) は、以下のように表され
る。 VO(VBON)=QCL/CL =CPD/(CL +CPD)×(VB −VC +VPDG )
【0051】つまり、図8に示したようにリセット・オ
フ後にブロック選択で、バイアス電圧VG が印加され
て、充電(charge up )される過程で、充電と同時に発
生電荷を読み取ることが可能であり、また図9に示した
ようにバイアス電圧VG をオフにした後に負荷容量CL
の電荷を読み取ることも可能である。但し、図9で示し
た読み取り方法の方がフォトダイオードPDにおいて光
電荷によって失われた電荷qPDの値により近い値となっ
ており、バイアス電圧Vのオン時の影響を受けて起こる
フィードスルーをキャンセルして電荷を読み取れるの
で、フィードスルーに対処したものとなっている。
【0052】次に、図10の回路図に示すように、リセ
ットがオンとなり、バイアス電圧VB がオンからオフと
なった時に負荷容量CL と容量CN に転送された電荷が
放電され(QCL=0,QN =0)、ブロッキングダイオ
ードBDからフォトダイオードPDへ電荷q′が移動す
ることによって中点電位VC が初期化され、リセットが
オフとなり蓄積過程となる。この状態は以下の式で表さ
れ、電荷q′が以下のように表される。 (QBD−q′)/CBD=(QPD+q′)/CPD q′=CPD×CBD/(CPD+CBD)×VO(read)
【0053】図10以降は、リセットがオフとなり、光
がフォトダイオードPDとブロッキングダイオードBD
照射されて光電流が流れて、両ダイオードで電荷が失わ
れることになり、失われた電荷分に対応する電荷を図8
〜図10の過程によって読み取るものである。
【0054】次に、同一データラインに継がれた他の画
素への影響について説明する。あるブロックが選択され
た場合、その画素で発生した電荷に対応した電荷QN
が、容量CN に蓄えられる。これは、非選択画素のフォ
トダイオードの容量CPD、ブロッキングダイオードの容
量CBDの合成容量に蓄えられるが、これらの画素でも蓄
積が行われており、中点電位VC が減少している。これ
に対し、この電荷はオフセットのように働くが、先の読
み取り過程におけるあるブロックの選択が終了し、負荷
容量CL がリセットされると、この電荷QN もリセット
される為に結果として、他の画素への影響はない。
【0055】図11に、上記読み取り過程のタイミング
チャートの例を示す。図11のタイミングチャートは、
図9の動作プロセスの回路図に示した出力電位VO(rea
d) を読み取る場合のタイミングチャートを示してい
る。
【0056】図11に示すように、バイアス信号を印加
するブロック数をmとすると、VB(m)はm番目のブロッ
クを選択するバイアス信号、VC(m)はm番目のブロック
の任意の画素の中点電圧、Reset(m)はm番目のブロック
の負荷容量CL のリセット信号、VO(m)はm番目のブロ
ックの任意の画素の出力信号、Ts は蓄積時間を規定す
るタイミング信号、Ck は駆動クロックを意味してい
る。
【0057】1番目のブロックを例に読み取り方法につ
いて説明すると、1番目のブロック選択用のバイアス信
号VB(1)がtG の期間オン(本実施例では+5V、但
し、フォトダイオードPDとブロッキングダイオードB
Dの向きによっては−5Vでもよい)になると、1番目
のブロック内の全ての画素(本実施例では64画素)に
それ以前の光照射によって失われた電荷に相当する電荷
の移動がブロッキングダイオードBDを介して起こり、
ブロック内の全ての画素のVC(1)をほぼVB(1)までつり
上げ、各データ・ラインの負荷容量CL のも電荷が移動
し、VO(1)という電位が負荷容量CL に発生する(図
4、図8参照)。
【0058】次に、VB(1)がオフ(本実施例では0V)
になると、ブロック内の全ての画素でフォトダイオード
PDとブロッキングダイオードBDとの間に電荷の再分
配が起こり、VC(1)がほぼVB(1)/2=VCinit(1)(厳
密には、リセットオン時にこの電位は多少変動するが、
負荷容量CL がブロッキングダイオードBD及びフォト
ダイオードPDの寄生容量より十分に大きければ問題は
ない)となり、この時、中点電位VC(1)は蓄積開始電位
となり、光照射によってこの電位が下がっていく。
【0059】そして、負荷容量CL には光照射に比例し
た電荷が残り、VO(1)が生じる(図5、図9参照)。こ
のtR の期間内の任意のタイミング(S1)でブロック
内の全ての画素のVO(1)を同時にAMUXの読取回路内
に取り込まれ、このVO(1)をサンプリング後にReset(1)
がtr 期間中にオンとなり、ブロック内の全ての画素の
負荷容量CL をリセットする(図6、図10参照)。こ
のリセットタイミングは、次のブロックを選択する直前
まで任意に決めてもよい。
【0060】更に、本実施例では、読取回路内で高倍率
で信号(VO(1))を増幅してもオフセットが増加しない
ように、リセット後に再びサンプリング(S2)し、各
画素毎に読取回路内でオフセット補正を行うものであ
る。従って、本実施例では、読取回路内でマルチプレク
スした後の各画素の出力VCOM は、VCOM =G×(S1
−S2)となる。ここで、Gは読取回路内の総増幅率で
ある。
【0061】画像信号の読み出しは、tG +tR +tr
の時間で終了するが、次のブロックの選択タイミングは
読取回路内でのマルチプレクスする時間も考慮して決め
られる。本実施例では、この周期を64Ck 分としてい
る。
【0062】以上、本実施例においては、CPD=CBD、
IPD=IBDという前程で説明したが、実際に原稿を読ん
でいる状態では、フォトダイオードPD、ブロッキング
ダイオードBDに同じだけの光量が当たるとは限らない
が、この場合は1画素内の領域にフォトダイオードPD
とブロッキングダイオードBDが作られているので、そ
の影響は小さく、FAX等への応用には十分である。し
かしながら、両ダイオードに同じだけの光量が当たらな
い状態は現実には起こり得るので、この影響について以
下に説明する。
【0063】図7で、もしIPD≠IBDであれば、TS 時
間後qPD≠qBDとなり、vPD≠vBD、dV=vPD−vBD
≠0となる。この電位差をなくすようにリーク電流Ile
akが流れるので、読み出し時以外にも、負荷容量CL と
容量CN の比に応じて電荷が流れ込み、他ブロックを読
み出す際のノイズとなる。このノイズ量も考慮し、設計
段階において負荷容量CL を最適化すれば、受光量に対
応した電荷を読み出すことができる。
【0064】本実施例における受光素子部分は、図2に
おいて、上下対称となるようにオーミックコンタクト層
3、光導電層4、透明電極5が形成されているが、別の
実施例として、アルミニウムの配線7のパターンずれが
発生する場合を考慮して、図12の平面説明図及び図1
2のB−B′部分の断面説明図である図13に示すよう
に、特に図12において左右対称となるように金属電極
2上にオーミックコンタクト層3、光導電層4、透明電
極5を形成することも考えられる。
【0065】また、1画素分にフォトダイオードPD、
ブロッキングダイオードBDを入れるとフォトダイオー
ドPDの面積は、ブロッキングダイオードBDを用いな
い場合に比べ、感度が半分となるので、この改善策とし
ての別の実施例を、図14の平面説明図及び図14のC
−C′部分の断面説明図である図15に示すように、フ
ォトダイオードの面積SPD>ブロッキングダイオードの
面積SBDとすることも考えられる。
【0066】本実施例のイメージセンサ及びその読み取
り方法によれば、同一データライン上の他の画素に影響
したり、または影響されることなく、画素の電荷に応じ
た電位を出力線の電位として読み出すようにしているの
で、電流値を読み出す従来の回路と比較して読み出しの
回路を簡易にすることができる効果がある。
【0067】また、画素の電荷を受光素子のブロック単
位で共通信号線の負荷容量CL に転送蓄積し、ブロック
単位に共通信号線の電位を順次読み取る方法としている
ので、ブロック単位の読み取りが容易にできる効果があ
る。
【0068】更に、本実施例のイメージセンサに本実施
例の読取回路を設けた画像読取装置によれば、ブロック
単位に読み取った電圧値を読取回路で増幅し、更にオフ
セット補正を行って順次画像信号として時系列的に出力
できるので、正確な出力が得られ、その後の画像信号処
理を容易にすることができる効果がある。
【0069】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、フォトダ
イオードとブロッキングダイオードから成る受光素子を
複数個配列して1ブロックとし、複数ブロックをアレイ
状に形成して受光素子アレイとし、ブロッキングダイオ
ードにはバイアス電圧を印加するシフトレジスタが接続
され、フォトダイオードからの配線はブロック内の受光
素子数に対応する共通信号線に接続し、各共通信号線は
それぞれ負荷容量を有する構成のイメージセンサとして
いるので、照射されて流れた光電流によって放電減少し
た電荷分に対応した電荷分を負荷容量に転送蓄積して形
成された共通信号線の電圧値をブロック単位に読み取る
ことができ、変化した電流値を読み取るよりも読取回路
を簡単にすることができ、更にブロック単位の読み取り
容易に行うことができる効果がある。
【0070】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサにおいて、フォトダイオードとブロ
ッキングダイオードの容量に比例して電荷を分配し、受
光素子にて照射されて照射光量に応じた光電流が流れて
フォトダイオードとブロッキングダイオードで放電減少
した電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバ
イアス電圧をオンして負荷容量に転送を行い、負荷容量
への転送によって生じた共通信号線の電圧値を読み取る
イメージセンサの読み取り方法としているので、照射さ
れて流れた光電流によって放電減少した電荷分に対応す
る電荷分を負荷容量へ転送して形成された共通信号線の
電圧値を読み取ることができ、変化した電流値を読み取
るよりも読取回路を簡単にすることができ、更にブロッ
ク単位の読み取りも容易に行うことができる効果があ
る。
【0071】請求項3記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサにおいて、フォトダイオードとブロ
ッキングダイオードの容量に比例して電荷を分配し、受
光素子にて照射されて照射光量に応じた光電流が流れて
フォトダイオードとブロッキングダイオードで放電減少
した電荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバ
イアス電圧をオンして負荷容量に転送を行い、バイアス
電圧をオフして光電流により失われた電荷分に比例した
電荷分を負荷容量へ残留させて共通信号線の電圧値を読
み取るイメージセンサの読み取り方法としているので、
照射されて流れた光電流によって放電減少した電荷分に
対応した電荷分を負荷容量に残留させて形成された共通
信号線の電圧値を読み取ることができ、変化した電流値
を読み取るよりも読取回路を簡単にすることができ、更
にブロック単位の読み取り容易に行うことができる効果
がある。
【0072】請求項4記載の発明によれば、請求項1記
載のイメージセンサに、共通信号線の電位をリセット
し、共通信号線の電位を増幅し、増幅した電位を時系列
に出力線に出力する読取回路を設けた画像読取装置とし
ているので、請求項1記載のイメージセンサでブロック
単位に読み取った電圧値を読取回路で増幅して順次画像
信号として時系列的に出力することができる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係る密着型イメージセン
サの等価回路説明図である。
【図2】 本実施例のイメージセンサの受光素子部分の
平面説明図である。
【図3】 図2のA−A′部分の断面説明図である。
【図4】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図5】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図6】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図7】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図8】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図9】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路図
である。
【図10】 本実施例の動作のプロセスを説明する回路
図である。
【図11】 本実施例の読み取りタイミングチャート図
である。
【図12】 別の実施例の受光素子部分の平面説明図で
ある。
【図13】 図12のB−B′部分の断面説明図であ
る。
【図14】 感度増加対策の受光素子部分の平面説明図
である。
【図15】 図14のC−C′部分の断面説明図であ
る。
【図16】 AMUXの概略構成回路図である。
【図17】 従来のイメージセンサの受光素子部分の平
面説明図である。
【図18】 図17の断面説明図である。
【図19】 従来のイメージセンサの等価回路図であ
る。
【符号の説明】
1…基板、 2…金属電極、 3…オ−ミックコンタク
ト層、 4…光導電層、 5…透明電極、 6…絶縁
層、 7…配線、 8…コンタクト孔、 11…第1の
スイッチ、 12…第1の増幅器、 13…第2のスイ
ッチ、 14…第1の容量、 15…第2の増幅器、
16…第3のスイッチ、 17…第2の容量、 18…
第3の増幅器、 19…第4のスイッチ、 20…電圧
フォロワ、PD…フォトダイオード、 BD…ブロッキ
ングダイオード、 CPD…フォトダイオードの容量、
CBD…ブロッキングダイオードの容量、 CL …負荷容
量、 CN …容量、 VO …出力線の電圧

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2個のダイオードを極性を逆向きに直列
    に接続し、一方をフォトダイオード、他方をブロッキン
    グダイオードとする受光素子を複数個ライン状に並べて
    1ブロックとして複数ブロックをライン状に並べて形成
    した受光素子アレイと、前記受光素子のフォトダイオー
    ドの端部から導き出された配線がブロック単位に順次接
    続する共通信号線と、前記受光素子のブロッキングダイ
    オードの端部にブロック単位で読み出しパルスを印加す
    るシフトレジスタと、前記各共通信号線に形成された負
    荷容量とを有することを特徴とするイメージセンサ。
  2. 【請求項2】 フォトダイオードとブロッキングダイオ
    ードの容量に比例して電荷を分配し、受光素子にて照射
    されて照射光量に応じた光電流が流れて前記フォトダイ
    オードと前記ブロッキングダイオードで放電減少した電
    荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバイアス
    電圧をオンすることで負荷容量に転送を行い、前記負荷
    容量への転送によって生じた共通信号線の電圧値を読み
    取ることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサの
    読み取り方法。
  3. 【請求項3】 フォトダイオードとブロッキングダイオ
    ードの容量に比例して電荷を分配し、受光素子にて照射
    されて照射光量に応じた光電流が流れて前記フォトダイ
    オードと前記ブロッキングダイオードで放電減少した電
    荷分に対応する電荷分をシフトレジスタからのバイアス
    電圧をオンすることで負荷容量に転送を行い、前記バイ
    アス電圧をオフして前記光電流により失われた電荷分に
    比例した電荷分を前記負荷容量へ残留させて共通信号線
    の電圧値を読み取ることを特徴とする請求項1記載のイ
    メージセンサの読み取り方法。
  4. 【請求項4】 各共通信号線の電位のリセットと前記電
    位の増幅を行い、時系列に前記増幅された電位を出力線
    に出力する読取回路と、請求項1記載のイメージセンサ
    と、を有することを特徴とする画像読取装置。
JP4184656A 1991-06-21 1992-06-19 イメージセンサ及びその読み取り方法及び画像読取装置 Pending JPH05227363A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012124197A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Fujitsu Ltd 光センサ及びその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012124197A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Fujitsu Ltd 光センサ及びその製造方法

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