JPH0525131B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被試験押釦スイツチが動作してからその位置を
検索する方式は、検索に大きい時間を要すると共
に測定結果に誤差を生じやすい。そこで被試験押
釦スイツチの位置検索を無くし試験時間の短縮と
測定の精度向上を図つたものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は多数個の押釦スイツチを有するキーボ
ードの試験装置に係り、特に被試験押釦スイツチ
の接点間閉鎖を検知する接点動作検知部に関す
る。

各種情報処理装置に用いられるキーボードは多
数個の押釦スイツチで構成されており、オペレー
タがこれ等の押釦スイツチを押下することによつ
て、各種の情報を情報処理装置に入力することが
できる。しかし押下力や動作位置が押釦スイツチ
毎に大きく異なると、押釦スイツチを押下したつ
もりでいてもスイツチが動作せず入力ミスの原因
になる。そこでキーボードの組立が完了した時点
で押釦スイツチを押下し押下力や動作位置の測定
を行つている。

かかるキーボードの試験は数値制御装置を用い
たキーボード試験装置によつて自動的に行われて
いるが、キーボードの製作台数の増加に伴つて試
験時間の短縮が要求され、試験時間の短縮と測定
精度の向上を実現できるキーボード試験装置の開
発が望まれている。

〔従来の技術〕

第２図はキーボードの構成を示すブロツク図、
第３図は従来のキーボード試験装置を示すブロツ
ク図、第４図は接点動作検知部を示すブロツク図
である。

キーボード１には第２図ａに示す如くマトリツ
クス状に配設された配線１１と、配線１１の各交
点に接続された多数個の押釦スイツチ１２とで構
成され、押釦スイツチ１２の接点間が閉鎖すると
その押釦スイツチ１２が接続された配線１１か
ら、直接外部装置に対して信号を出力する比較的
簡単な構造のものと、第２図ｂに示す如く配線１
１および多数個の押釦スイツチ１２の他に、エン
コーダ１３、デコーダ１４、マイクロコンピユー
タ１５等を具え、押釦スイツチ１２の接点間が閉
鎖するとその押釦スイツチ１２に付与されている
キーコードが、マイクロコンピユータ１５から外
部装置に出力される比較的複雑な構造のものとが
ある。

かかるキーボードの試験において例えば押釦ス
イツチの動作位置或いは押下力を測定するために
は、押釦スイツチの押下を開始してから接点間が
閉鎖するまでの、押下距離の変化または押下力の
変化を測定する必要がある。

従来のキーボード試験装置は第３図に示す如
く、予め設定された順序に従つてキーボード１が
搭載されたXYテーブル２１を移動させ、押釦ス
イツチ１２を順次押下機構に位置決めする数値制
御装置２と、数値制御装置２から出力される測定
命令によつて押釦スイツチ１２の動作を試験する
測定装置３とを具えており、数値制御装置２はキ
ーボード１を搭載するXYテーブル２１と、XY
テーブル２１をＸ軸方向に移動させるＸ軸モータ
２２と、XYテーブル２１をＹ軸方向に移動させ
るＹ軸モータ２３と、Ｘ軸モータ２２およびＹ軸
モータ２３を制御する数値制御装置本体２４とで
構成されている。

一方測定装置３は押下を開始してから接点間が
閉鎖するまでの、押下距離の変化と押下力の変化
を測定できる押下機構３１と、押釦スイツチの接
点間が閉鎖するのを検知する接点動作検知部３２
と、押下機構３１および接点動作検知部３２から
入力される信号から、押釦スイツチの動作位置或
いは押下力を算出する測定機本体３３とを具えて
いる。

押下機構３１は上下動し押釦スイツチを押下す
る軸３４と、軸３４を駆動すると共に軸３４の移
動量を示す情報を出力するモータ３５と、押下に
伴つて変化する押釦スイツチの押下力を検出する
圧力センサ３６とで構成され、また接点動作検知
部３２は第４図に示す如くエンコーダ３７とデコ
ーダ３８とマイクロコンピユータ３９とで構成さ
れている。

予め設定された順序に従つて押釦スイツチを位
置決めすると、数値制御装置２から測定装置３に
対して測定命令が出力され、押下機構３１のモー
タ３５が始動して押釦スイツチの押下が開始さ
れ、モータ３５からは軸３４の移動量を示す情報
が測定機本体３３に入力され、圧力センサ３６か
らは押下に伴つて変化する押釦スイツチの押下力
を示す情報が測定機本体３３に入力される。

一方マイクロコンピユータ３９からエンコーダ
３７とデコーダ３８に対し、測定装置３に位置決
めされる押釦スイツチの順序に関係無く、マトリ
ツクス状に配設された配線１１の交点を示す信
号、即ちその交点に接続された押釦スイツチの位
置信号が順次出力される。エンコーダ３７とデコ
ーダ３８は位置信号に基づいてマトリツクス状に
配設された配線１１を選択し、押下機構３１によ
つて押下されて接点間を閉鎖した押釦スイツチの
位置を検索する。押釦スイツチの位置を検知する
とマイクロコンピユータ３９は、位置信号をその
押釦スイツチに付与されたキーコードに翻訳し、
接点間が閉鎖したことを示すストローブ信号と共
に測定機本体３３に出力する。

なおエンコーダ３７、デコーダ３８、およびマ
イクロコンピユータ３９からなる接点動作検知部
３２は、第２図ｂに示すキーボードにおけるエン
コーダ１３、デコーダ１４、およびマイクロコン
ピユータ１５と同一回路構成であり、かかる回路
を具えたキーボードの試験では接点動作検知部３
２を省略することができる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしキーボードを構成する押釦スイツチの数
が多く検索の周期は20mS程度になり、試験時間
の短縮を目的として数値制御装置２や押下機構３
１の移動速度を速くしても、押釦スイツチの検索
時間が制約条件となつて試験時間の短縮に限度が
ある。またその押釦スイツチの接点間が閉鎖した
時点から、検索によつて検知されるまでの時間が
測定誤差として加算され、押下機構３１の移動速
度が速くなるほどその影響が増大するという問題
があつた。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明になるキーボード試験装置を示
すブロツク図である。なお全図を通し同じ対象物
は同一記号で表している。

上記問題点は押下機構３１と接点動作検知部４
１と測定機本体４２からなり、キーボード１を構
成する押釦スイツチ１２の動作特性を測定する測
定装置４、および押釦スイツチ１２を押下機構３
１に位置決めする数値制御装置２を具え、接点動
作検知部４１がエンコーダ３７、デコーダ３８、
およびワンシヨツトマルチ４３と、予め設定され
た順序で押釦スイツチ１２の位置信号を記憶させ
た記憶装置４４からなり、記憶装置４４から測定
機本体４２を経由して出力される位置信号によつ
て、数値制御装置２が予め設定された順序に従つ
て、押下機構３１の下に押釦スイツチ１２を位置
決めし、且つ、エンコーダ３７およびデコーダ３
８が予め設定された順序に従つて、動作するよう
構成されてなる本発明のキーボード試験装置によ
つて解決される。

〔作用〕

第１図において被試験押釦スイツチ１２の位置
信号を、予め設定された順序に従つて測定機本体
４２から出力することによつて、接点間が閉鎖し
た押釦スイツチの位置を検索する工程が無くな
り、エンコーダ３７とデコーダ３８は位置信号に
基づいて、マトリツクス状に配設された配線１１
を選択して待機しているため、被試験押釦スイツ
チ１２の接点間が閉鎖したことを直ちに検知出来
る。その結果キーボード試験装置の試験時間の短
縮と測定精度を向上を実現することができる。

〔実施例〕

以下第１図により本発明の実施例について詳細
に説明する。

図において測定装置４は押下を開始してから接
点間が閉鎖するまでの、押下距離の変化と押下力
の変化を測定できる押下機構３１（第３図に示す
従来のものと同じであり図示は省略）と、押釦ス
イツチの接点間が閉鎖するのを検知する接点動作
検知部４１と、予め設定された順序に従つて被試
験押釦スイツチ１２の位置信号を出力し、押下機
構３１および接点動作検知部４１から入力される
信号から、押釦スイツチの動作位置或いは押下力
を算出する測定機本体４２とを具えている。

接点動作検知部４１はエンコーダ３７とデコー
ダ３８とワンシヨツトマルチ４３と測定機本体４
２に内蔵された記憶装置４４とで構成されてお
り、被試験押釦スイツチ１２の位置信号が予め設
定された順序に従つて記憶装置４４に記憶されて
いる。

予め設定された順序に従つて押釦スイツチを位
置決めすると、数値制御装置２から測定装置４に
対して測定命令が出力され、押下機構３１のモー
タ３５が始動して押釦スイツチの押下が開始され
る。モータ３５からは軸３４の移動量を示す情報
が測定機本体４２に入力され、圧力センサ３６か
らは押下に伴つて変化する押釦スイツチの押下力
を示す情報が測定機本体４２に入力される。

一方測定機本体４２からエンコーダ３７とデコ
ーダ３８に対して被試験押釦スイツチの位置信号
が出力され、エンコーダ３７とデコーダ３８は位
置信号に基づいてマトリツクス状に配設された配
線１１を選択し待機する。押下機構３１によつて
押下され接点間が閉鎖するとワンシヨツトマルチ
４３は、接点間が閉鎖したことを示すストローブ
信号を測定機本体４２に出力する。被試験押釦ス
イツチの位置は接点動作検知部４１から入力する
までも無く、測定機本体４２が検知しているため
接点間が閉鎖したことを示すストローブ信号を受
けると、直ちに演算を開始して被試験押釦スイツ
チの動作特性を算出する。

上記実施例によつて試験時間の短縮を行う上で
制約条件となつていた検索時間が無くなり、また
エンコーダとデコーダがマトリツクス状に配設さ
れた配線を選択し待機しているため、接点間が閉
鎖した時点から検知されるまでの測定誤差が無く
なる。その結果キーボード試験装置の試験時間の
短縮と測定精度の向上を実現することができる。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明によれば試験時間の短縮と測
定精度を向上を実現できるキーボード試験装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になるキーボード試験装置を示
すブロツク図、第２図はキーボードの構成を示す
ブロツク図、第３図は従来のキーボード試験装置
を示すブロツク図、第４図は接点動作検知部を示
すブロツク図、である。図において、 １はキーボード、２は数値制御装置、４は測定
装置、１１は配線、１２は押釦スイツチ、３１は
押下機構、３４は軸、３５はモータ、３６は圧力
センサ、３７はエンコーダ、３８はデコーダ、４
１は接点動作検知部、４２は測定機本体、４３は
ワンシヨツトマルチ、４４は記憶装置、をそれぞ
れ表す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 押下機構３１と接点動作検知部４１と測定機
   本体４２からなり、キーボード１を構成する押釦
   スイツチ１２の動作特性を測定する測定装置４、
   および該押釦スイツチ１２を該押下機構３１に位
   置決めする数値制御装置２を具え、 該接点動作検知部４１がエンコーダ３７、デコ
   ーダ３８、およびワンシヨツトマルチ４３と、予
   め設定された順序で該押釦スイツチ１２の位置信
   号を記憶させた記憶装置４４からなり、 該記憶装置４４から該測定機本体４２を経由し
   て出力される位置信号によつて、該数値制御装置
   ２が予め設定された順序に従つて、該押下機構３
   １の下に該押釦スイツチ１２を位置決めし、且
   つ、該エンコーダ３７および該デコーダ３８が予
   め設定された順序に従つて、動作するよう構成さ
   れてなることを特徴とするキーボード試験装置。