JPH05257167A - Method of manufacturing TFT-LCD - Google Patents
Method of manufacturing TFT-LCDInfo
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- JPH05257167A JPH05257167A JP5325892A JP5325892A JPH05257167A JP H05257167 A JPH05257167 A JP H05257167A JP 5325892 A JP5325892 A JP 5325892A JP 5325892 A JP5325892 A JP 5325892A JP H05257167 A JPH05257167 A JP H05257167A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】TFT−LCDにおいて、TFT−LCDの製
造工程短縮を行い、低コスト,高信頼性のTFT−LC
Dを提供することである。
【構成】スパッタ装置で形成する電極材料は反転マスク
のレジストが形成されているガラス基板上に堆積され、
その後リフトオフ法でパターニングする。
【効果】上記製造方法では、スパッタ装置で形成する電
極材料はリフトオフ法でパターニングされるため、金属
のエッチング工程はなくなり、また、ホトレジストは金
属のエッチング液にさらされないので、ホトレジストの
剥離は容易になる。以上により、TFTの製造工程数は
短縮されるので、低コスト,高信頼性のTFT−LCD
を提供することができる。
(57) [Summary] [Purpose] In a TFT-LCD, the manufacturing process of the TFT-LCD has been shortened, and the TFT-LC of low cost and high reliability
To provide D. [Structure] The electrode material formed by the sputtering device is deposited on the glass substrate on which the resist for the inversion mask is formed,
After that, patterning is performed by the lift-off method. [Effect] In the above manufacturing method, since the electrode material formed by the sputtering apparatus is patterned by the lift-off method, the metal etching step is eliminated, and since the photoresist is not exposed to the metal etching solution, the photoresist can be easily peeled off. Become. As described above, the number of manufacturing steps of the TFT can be shortened, so that the TFT-LCD of low cost and high reliability is obtained.
Can be provided.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置に係り、特
にTFT−LCDの製造工程短縮に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to shortening the manufacturing process of a TFT-LCD.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、TFT−LCD(Thin Film Tran
sistor - Liquid Crystal Display)の製造方法に関して
は、例えば日経エレクトロニクス,日経マイクロデバイ
ス編、『フラットパネルディスプレイ '91』に記され
ているように、LSIの製造方法と同様な手法を用いて
いる。図5は従来のTFTの製造工程を示したものであ
る。2. Description of the Related Art Conventionally, a TFT-LCD (Thin Film Tran
As for the manufacturing method of the sistor-Liquid Crystal Display), the same method as the manufacturing method of the LSI is used as described in "Flat Panel Display '91", edited by Nikkei Electronics, Nikkei Microdevices. FIG. 5 shows a conventional TFT manufacturing process.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術は、
次のような問題点を有していた。DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
It had the following problems.
【0004】すなわち、上記製造方法では金属のエッチ
ング回数は3回、半導体膜と絶縁膜のエッチング回数は
5回必要となり、製造工程が長くなる。また、エッチン
グ後のホトレジストの除去は比較的困難となるのでスル
ープットは低くなる。That is, in the above manufacturing method, the number of times of etching the metal is three and the number of times of etching the semiconductor film and the insulating film is five, which lengthens the manufacturing process. Also, the removal of the photoresist after etching is relatively difficult, and the throughput is low.
【0005】本発明の目的は、以上に述べた問題点を解
決し、低コスト,高信頼性のTFT−LCDを提供する
ことである。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and provide a low cost and highly reliable TFT-LCD.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために、本発明はスパッタ装置で形成する電極材料は反
転マスクのレジストが形成されているガラス基板上に堆
積され、その後リフトオフ法でパターニングする工程を
有するTFT−LCDの製造方法を提案するものであ
る。In order to solve the above problems, according to the present invention, an electrode material formed by a sputtering apparatus is deposited on a glass substrate on which a resist for a reversal mask is formed, and then a lift-off method is used. A method for manufacturing a TFT-LCD including a step of patterning is proposed.
【0007】[0007]
【作用】上記した製造方法では、金属のエッチング工程
はなくなるので、その分、TFTの製造工程は短くなる。
また、リフトオフ法で電極をパターニングするため、ホ
トレジストは金属のエッチング液にさらされない。した
がって、ホトレジストの剥離は容易になる。よって、低
コスト,高信頼性のTFT−LCDを提供することがで
きる。In the manufacturing method described above, since the metal etching step is eliminated, the TFT manufacturing step is shortened accordingly.
Further, since the electrodes are patterned by the lift-off method, the photoresist is not exposed to the metal etching solution. Therefore, the peeling of the photoresist becomes easy. Therefore, a low cost and highly reliable TFT-LCD can be provided.
【0008】[0008]
【実施例】以下に図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【0009】図1は本発明によるゲート電極の製造方法
の実施例である。製造手法としては図中に示すように、
(a)ガラス基板上にゲート電極の反転マスクを用いて
レジストをパターニングする、(b)次に、ゲート電極
となるAlをスパッタリングし、(c)次に、レジスト
剥離を行いゲート電極を形成する。ここで、スパッタリ
ング法はCVD法(Chemical Vapor Deposition Metho
d)と異なり、膜の堆積の指向性が高いためリフトオフ
法に適している。上記した製造方法では、ゲート電極の
エッチング工程はなくなるので、その分、TFTの製造
工程は短くなる。また、リフトオフ法でゲート電極をパ
ターニングするため、ホトレジストはゲート電極のエッ
チング液にさらされない。したがって、ホトレジストの
剥離は容易になる。FIG. 1 shows an embodiment of a method of manufacturing a gate electrode according to the present invention. As a manufacturing method, as shown in the figure,
(A) Patterning a resist on a glass substrate using an inversion mask of a gate electrode, (b) Next, sputter | spatter Al which becomes a gate electrode, (c) Next, a resist peeling is performed and a gate electrode is formed. . Here, the sputtering method is a CVD method (Chemical Vapor Deposition Metho
Unlike d), it is suitable for the lift-off method because of the high directivity of film deposition. In the manufacturing method described above, since the gate electrode etching step is eliminated, the TFT manufacturing step is correspondingly shortened. Further, since the gate electrode is patterned by the lift-off method, the photoresist is not exposed to the etching solution for the gate electrode. Therefore, the peeling of the photoresist becomes easy.
【0010】図2は本発明による画素電極の製造方法の
実施例である。製造手法としては図中に示すように、
(a)a−Si、あるいはSiN膜上に画素電極の反転
マスクを用いてレジストをパターニングする、(b)次
に、画素電極となるITOをスパッタリングし、(c)
次に、レジスト剥離を行い画素電極を形成する。上記し
た製造方法では、画素電極のエッチング工程はなくなる
ので、その分、TFTの製造工程は短くなる。また、リ
フトオフ法で画素電極をパターニングするため、ホトレ
ジストは画素電極のエッチング液にさらされない。した
がって、ホトレジストの剥離は容易になる。FIG. 2 shows an embodiment of a method for manufacturing a pixel electrode according to the present invention. As a manufacturing method, as shown in the figure,
(A) Patterning a resist on the a-Si or SiN film using an inversion mask of the pixel electrode, (b) Next, sputtering ITO which will be the pixel electrode, (c)
Next, the resist is peeled off to form a pixel electrode. In the above-described manufacturing method, the pixel electrode etching step is eliminated, and the TFT manufacturing step is correspondingly shortened. Further, since the pixel electrode is patterned by the lift-off method, the photoresist is not exposed to the etching liquid for the pixel electrode. Therefore, the peeling of the photoresist becomes easy.
【0011】図3は本発明によるドレイン/ソース電極
の製造方法の実施例である。製造手法としては図中に示
すように、(a)a−Si,ITOあるいはSiN膜上
にドレイン/ソース電極の反転マスクを用いてレジスト
をパターニングする、(b)次に、ドレイン/ソース電
極となるCrをスパッタリングし、(c)次に、レジス
ト剥離を行いドレイン/ソース電極を形成する。上記し
た製造方法では、ドレイン/ソース電極のエッチング工
程はなくなるので、その分、TFTの製造工程は短くな
る。また、リフトオフ法でドレイン/ソース電極をパタ
ーニングするため、ホトレジストはドレイン/ソース電
極のエッチング液にさらされない。したがって、ホトレ
ジストの剥離は容易になる。FIG. 3 shows an embodiment of a method of manufacturing a drain / source electrode according to the present invention. As a manufacturing method, as shown in the figure, (a) a resist is patterned on the a-Si, ITO or SiN film using an inversion mask of the drain / source electrode, (b) a drain / source electrode is then formed. Then, Cr is sputtered, and (c) the resist is stripped to form drain / source electrodes. In the manufacturing method described above, since the drain / source electrode etching step is eliminated, the TFT manufacturing step is correspondingly shortened. Further, since the drain / source electrode is patterned by the lift-off method, the photoresist is not exposed to the drain / source electrode etching solution. Therefore, the peeling of the photoresist becomes easy.
【0012】また、本発明を用いた場合、電極のテーパ
エッチングはできない。したがって、断線防止のため
に、画素電極となるITOは、図中に示すように、ドレ
イン/ソース電極よりも下層になければならない。Further, when the present invention is used, taper etching of electrodes cannot be performed. Therefore, in order to prevent disconnection, the ITO serving as the pixel electrode must be located below the drain / source electrodes as shown in the figure.
【0013】図4は本発明によるTFT−LCD製造ラ
インの一部分の構成を示したものである。本発明ではス
パッタ装置で形成する電極材料をリフトオフ法によりパ
ターニングするため、図中に示すように、電極形成用ス
パッタ装置の後段にはレジスト剥離装置が、電極形成用
スパッタ装置の前段にはレジスト露光・現像装置、ある
いはレジスト印刷装置が設置される。特に、ホトリソグ
ラフィ工程を用いないレジスト印刷装置を使用すること
は、TFT製造のスループットを大幅に向上させる。FIG. 4 shows a partial structure of a TFT-LCD manufacturing line according to the present invention. In the present invention, the electrode material formed by the sputtering apparatus is patterned by the lift-off method.・ Development device or resist printing device is installed. In particular, the use of a resist printing apparatus that does not use a photolithography process significantly improves the throughput of TFT manufacturing.
【0014】[0014]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、スパッタ装置で形成する電極材料はリフトオ
フ法でパターニングされるため、金属のエッチング工程
はなくなり、また、ホトレジストは金属のエッチング液
にさらされないので、ホトレジストの剥離は容易にな
る。以上により、TFTの製造工程数は短縮されるの
で、低コスト,高信頼性のTFT−LCDを提供するこ
とができる。As is apparent from the above description, according to the present invention, since the electrode material formed by the sputtering apparatus is patterned by the lift-off method, the metal etching step is eliminated, and the photoresist is metal etched. Since it is not exposed to the liquid, the photoresist can be peeled off easily. As described above, since the number of manufacturing steps of the TFT is shortened, it is possible to provide a low cost and highly reliable TFT-LCD.
【図1】本発明によるゲート電極の製造方法の実施例を
示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a method of manufacturing a gate electrode according to the present invention.
【図2】本発明による画素電極の製造方法の実施例を示
す図である。FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of a method of manufacturing a pixel electrode according to the present invention.
【図3】本発明によるドレイン/ソース電極の製造方法
の実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a method of manufacturing a drain / source electrode according to the present invention.
【図4】本発明によるTFT−LCD製造ラインの一部
分の構成図である。FIG. 4 is a schematic diagram of a part of a TFT-LCD manufacturing line according to the present invention.
【図5】従来のTFTの製造工程図である。FIG. 5 is a manufacturing process diagram of a conventional TFT.
Al…アルミニウム、SiN…窒化シリコン膜、a−S
i…アモルファスシリコン、ITO…インジウム・ティ
ン・オキサイド(透明導電膜)、Cr…クロム。Al ... Aluminum, SiN ... Silicon nitride film, aS
i ... Amorphous silicon, ITO ... Indium tin oxide (transparent conductive film), Cr ... Chrome.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/336 29/784 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H01L 21/336 29/784
Claims (5)
Liquid Crystal Display)の製造方法において、スパッ
タ装置で形成する電極材料は反転マスクのレジストが形
成されているガラス基板上に堆積され、その後リフトオ
フ法でパターニングされることを特徴とするTFT−L
CDの製造方法。1. A TFT-LCD (Thin Film Transistor).
In the manufacturing method of Liquid Crystal Display), the electrode material formed by the sputtering device is deposited on the glass substrate on which the resist of the inversion mask is formed, and then patterned by the lift-off method.
CD manufacturing method.
パッタ装置の前段にレジストの露光,現像を行う装置が
挿入されていることを特徴とするTFT−LCDの製造
設備。2. An apparatus for manufacturing a TFT-LCD, characterized in that, in a TFT-LCD manufacturing line, an apparatus for exposing and developing a resist is inserted in front of a sputtering apparatus.
TFTのデバイス構造において、画素電極はドレイン/
ソース電極よりも下層にあることを特徴とするTFTの
デバイス構造。3. A device structure of a TFT formed by using the manufacturing method according to claim 1, wherein the pixel electrode is drain /
A device structure of a TFT, which is located below the source electrode.
刷法で形成することを特徴とするTFT−LCDの製造
方法。4. A method of manufacturing a TFT-LCD, wherein the resist of the reversal mask according to claim 1 is formed by a printing method.
パッタ装置の前段にレジスト印刷を行う装置が挿入され
ていることを特徴とするTFT−LCDの製造設備。5. A facility for manufacturing a TFT-LCD, wherein a device for performing resist printing is inserted in a stage before a sputtering device in a TFT-LCD manufacturing line.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5325892A JPH05257167A (en) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | Method of manufacturing TFT-LCD |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5325892A JPH05257167A (en) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | Method of manufacturing TFT-LCD |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05257167A true JPH05257167A (en) | 1993-10-08 |
Family
ID=12937760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5325892A Pending JPH05257167A (en) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | Method of manufacturing TFT-LCD |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05257167A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005277418A (en) * | 2004-03-19 | 2005-10-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
| JP2006049889A (en) * | 2004-07-27 | 2006-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
-
1992
- 1992-03-12 JP JP5325892A patent/JPH05257167A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005277418A (en) * | 2004-03-19 | 2005-10-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
| JP2006049889A (en) * | 2004-07-27 | 2006-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
| US8089072B2 (en) | 2004-07-27 | 2012-01-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
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