JPH05265002A - 液晶光学変調素子 - Google Patents
液晶光学変調素子Info
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- JPH05265002A JPH05265002A JP9230392A JP9230392A JPH05265002A JP H05265002 A JPH05265002 A JP H05265002A JP 9230392 A JP9230392 A JP 9230392A JP 9230392 A JP9230392 A JP 9230392A JP H05265002 A JPH05265002 A JP H05265002A
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- electrode
- optical modulation
- modulation element
- crystal optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ヒステリシス現象、フェーディング現象、お
よび不安定性現象を低減すると同時に、液晶配向性の乱
れを防止して均一なユニフォーム配向とし、安定な双安
定性が得られるようにする。また、前記配向膜の隙間構
造によらない他の手段によって前記不安定性を解消す
る。 【構成】 強誘電性液晶と、これを挟持する対向基板
と、この対向基板の対向面上に設けられ、強誘電性液晶
に電圧を印加するための電極を有する電圧印加手段とを
備えた液晶光学変調素子において、この電極面上にはバ
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜が形成されているとと
もに、この配向膜およびバッファ層は前記強誘電性液晶
と電極間の電荷移動を可能にする隙間およびピンホール
をそれぞれ有する。また、基板と、該基板上に設けた電
極と、該電極上に設けた配向膜とをそれぞれ対向面上に
有する一対の対向する電極基板、およびその間に封入さ
れた液晶を備えた液晶光学変調素子において、該配向膜
部分に、該液晶部分と電極間の導通を取るためのピンホ
ールを1画素につき1つ以上具備する。
よび不安定性現象を低減すると同時に、液晶配向性の乱
れを防止して均一なユニフォーム配向とし、安定な双安
定性が得られるようにする。また、前記配向膜の隙間構
造によらない他の手段によって前記不安定性を解消す
る。 【構成】 強誘電性液晶と、これを挟持する対向基板
と、この対向基板の対向面上に設けられ、強誘電性液晶
に電圧を印加するための電極を有する電圧印加手段とを
備えた液晶光学変調素子において、この電極面上にはバ
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜が形成されているとと
もに、この配向膜およびバッファ層は前記強誘電性液晶
と電極間の電荷移動を可能にする隙間およびピンホール
をそれぞれ有する。また、基板と、該基板上に設けた電
極と、該電極上に設けた配向膜とをそれぞれ対向面上に
有する一対の対向する電極基板、およびその間に封入さ
れた液晶を備えた液晶光学変調素子において、該配向膜
部分に、該液晶部分と電極間の導通を取るためのピンホ
ールを1画素につき1つ以上具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶光学素子に関し、特
に、自発分極を有し、少なくとも2つの光学的安定状態
を示す強誘電性液晶を用いて諧調表示を行うようにした
液晶光学素子に関するものである。
に、自発分極を有し、少なくとも2つの光学的安定状態
を示す強誘電性液晶を用いて諧調表示を行うようにした
液晶光学素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】自発分極を有する液晶として強誘電性液
晶(FLC)は、その高速応答性やメモリ性等の利点が
注目され、表示素子、ライトバルブ等の目的のために積
極的に開発されている。上記利点を生かした装置とし
て、光シャッタアレイ、単純マトリクス駆動による高精
細表示装置、光導電体を組み合わせた高密度記録のライ
トバルブ等が実用化されている。
晶(FLC)は、その高速応答性やメモリ性等の利点が
注目され、表示素子、ライトバルブ等の目的のために積
極的に開発されている。上記利点を生かした装置とし
て、光シャッタアレイ、単純マトリクス駆動による高精
細表示装置、光導電体を組み合わせた高密度記録のライ
トバルブ等が実用化されている。
【0003】そして従来、この種の素子は単純マトリク
ス駆動による白黒表示が一般的である。しかし、薄膜ト
ランジスタ(TFT)等を用いたアクティブマトリクス
駆動による動画像表示にも適用が期待され、この特性は
例えばU.S.P.4840462号やProceed
ing of the SID,vol30/2,19
89“ Ferro−electric Liquid
Crystal Video Display”等に
示されている。この種の液晶光学素子の駆動方は例えば
U.S.P.4840462号に示されるように、リセ
ットとライト(書込み)信号を水平周期に時間分割して
挿入するという方法をとっている。また、例えば上記駆
動方により諧調表示を行う素子は、図21に示すよう
に、ガラス等の基板23上に電極層22を形成し、しか
る後、強誘電性液晶24を配向させるための配向層20
を設けてこれをラビングし、強誘電性液晶24を注入す
る行程を経て作られている。
ス駆動による白黒表示が一般的である。しかし、薄膜ト
ランジスタ(TFT)等を用いたアクティブマトリクス
駆動による動画像表示にも適用が期待され、この特性は
例えばU.S.P.4840462号やProceed
ing of the SID,vol30/2,19
89“ Ferro−electric Liquid
Crystal Video Display”等に
示されている。この種の液晶光学素子の駆動方は例えば
U.S.P.4840462号に示されるように、リセ
ットとライト(書込み)信号を水平周期に時間分割して
挿入するという方法をとっている。また、例えば上記駆
動方により諧調表示を行う素子は、図21に示すよう
に、ガラス等の基板23上に電極層22を形成し、しか
る後、強誘電性液晶24を配向させるための配向層20
を設けてこれをラビングし、強誘電性液晶24を注入す
る行程を経て作られている。
【0004】また、諧調表示を目的としたアクティブマ
トリクス駆動については、さらに、特開平2−1892
号公報にも開示されている。このアクティブマトリクス
駆動法は、1つの画素に対して1つのスイッチング素子
により、リセット信号と書込み信号をフェーズをずらし
てそれぞれ印加し、この書込み信号により画素電極に注
入される電荷量Qと強誘電性液晶の有する自発分極Ps
の反転による電荷キャンセル量△S・Ps (△Sは反転
面積)とのバランスにより、ドメイン諧調(面積諧調)
を実現しようとするものである。
トリクス駆動については、さらに、特開平2−1892
号公報にも開示されている。このアクティブマトリクス
駆動法は、1つの画素に対して1つのスイッチング素子
により、リセット信号と書込み信号をフェーズをずらし
てそれぞれ印加し、この書込み信号により画素電極に注
入される電荷量Qと強誘電性液晶の有する自発分極Ps
の反転による電荷キャンセル量△S・Ps (△Sは反転
面積)とのバランスにより、ドメイン諧調(面積諧調)
を実現しようとするものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記ア
クティブマトリクス駆動法は、双安定な強誘電性液晶を
用いた諧調表示には非常に有効な手段であるが、同時に
幾つかの欠点を有する場合がある。
クティブマトリクス駆動法は、双安定な強誘電性液晶を
用いた諧調表示には非常に有効な手段であるが、同時に
幾つかの欠点を有する場合がある。
【0006】その1つに、電圧・透過率特性におけるヒ
ステリシス現象がある。以下、その現象を説明する。
ステリシス現象がある。以下、その現象を説明する。
【0007】図10は、一般的に用いられる強誘電性液
晶素子の構成を示す断面図である。同図において、15
aおよび15bは相対向する電極基板であり、それぞ
れ、基板14、その対向面上に形成された透明電極層1
3、絶縁層12、および配向層10を有する。11は電
極基板15aおよび15bそれぞれの配向層10間に配
置された強誘電性液晶層である。図11は、このような
強誘電性液晶素子を用いてアクティブマトリクス駆動で
諧調表示を行うときの等価回路図である。図中、Tはア
クティブマトリクス駆動を行うためのスイッチング素子
として用いる多数の薄膜トランジスタ(TFT)を示し
ている。LCは、各薄膜トランジスタTのドレイン電極
(画素電極)3と対向電極4とによって挟持された強誘
電性液晶からなる多数の画素である。2は各ドレイン電
極3に液晶の駆動波形を形成する電圧信号を供給するた
めの信号配線であり、この信号の各ドレイン電極3への
供給は、薄膜トランジスタTによってオン・オフ制御さ
れる。4はこの薄膜トランジスタTをオン・オフさせる
ゲート信号を供給するための走査信号配線である。
晶素子の構成を示す断面図である。同図において、15
aおよび15bは相対向する電極基板であり、それぞ
れ、基板14、その対向面上に形成された透明電極層1
3、絶縁層12、および配向層10を有する。11は電
極基板15aおよび15bそれぞれの配向層10間に配
置された強誘電性液晶層である。図11は、このような
強誘電性液晶素子を用いてアクティブマトリクス駆動で
諧調表示を行うときの等価回路図である。図中、Tはア
クティブマトリクス駆動を行うためのスイッチング素子
として用いる多数の薄膜トランジスタ(TFT)を示し
ている。LCは、各薄膜トランジスタTのドレイン電極
(画素電極)3と対向電極4とによって挟持された強誘
電性液晶からなる多数の画素である。2は各ドレイン電
極3に液晶の駆動波形を形成する電圧信号を供給するた
めの信号配線であり、この信号の各ドレイン電極3への
供給は、薄膜トランジスタTによってオン・オフ制御さ
れる。4はこの薄膜トランジスタTをオン・オフさせる
ゲート信号を供給するための走査信号配線である。
【0008】この構成において、各画素LCに対し、図
12(a)に示すような駆動波形であって、一周期を1
6.7ms(60Hz)としたリセットパルス117
と、各諧調に応じた書込みパルス119とを有するもの
を印加すると、図12(b)に示すような透過率Tの変
化を生じる。このとき曲線部分121における透過率が
書込みパルス119にほぼ対応する透過率である。ま
た、図12(a)の如き駆動波形の書込みパルス119
のパルス高(書込み電圧V)の変化に対する前記曲線部
分121における透過率Tの変化をプロットしたものが
上述した電圧・透過率特性である。その一例を図13に
示す。この図から明らかなように、電圧昇圧時の特性曲
線123と降圧時の特性曲線125との間で透過率Tの
異なる、いわゆるヒステリシス現象が認められる。
12(a)に示すような駆動波形であって、一周期を1
6.7ms(60Hz)としたリセットパルス117
と、各諧調に応じた書込みパルス119とを有するもの
を印加すると、図12(b)に示すような透過率Tの変
化を生じる。このとき曲線部分121における透過率が
書込みパルス119にほぼ対応する透過率である。ま
た、図12(a)の如き駆動波形の書込みパルス119
のパルス高(書込み電圧V)の変化に対する前記曲線部
分121における透過率Tの変化をプロットしたものが
上述した電圧・透過率特性である。その一例を図13に
示す。この図から明らかなように、電圧昇圧時の特性曲
線123と降圧時の特性曲線125との間で透過率Tの
異なる、いわゆるヒステリシス現象が認められる。
【0009】図14は、このヒステリシス現象を定性的
に説明するための図である。図14(b)は図13の曲
線123に相当している。すなわち、黒ドメイン127
を減少させる場合を示しており、駆動の面からみると、
リセット後、白を書き込む必要がある。一方、図14
(a)は黒ドメイン127を増加させる場合を示してお
り駆動面からみるとリッセト後、白を書き込む必要がな
い。すなわち、書込みパルスについてみた場合、黒ドメ
インを減少させる場合は、増加させる場合に比較して、
より大きな電圧を必要とすることになる。このように、
図12(a)のような駆動波形による駆動法を用い、電
荷制御方式により諧調表示を行う場合、必然的に電圧・
透過率特性にヒステリシス現象が生じる。
に説明するための図である。図14(b)は図13の曲
線123に相当している。すなわち、黒ドメイン127
を減少させる場合を示しており、駆動の面からみると、
リセット後、白を書き込む必要がある。一方、図14
(a)は黒ドメイン127を増加させる場合を示してお
り駆動面からみるとリッセト後、白を書き込む必要がな
い。すなわち、書込みパルスについてみた場合、黒ドメ
インを減少させる場合は、増加させる場合に比較して、
より大きな電圧を必要とすることになる。このように、
図12(a)のような駆動波形による駆動法を用い、電
荷制御方式により諧調表示を行う場合、必然的に電圧・
透過率特性にヒステリシス現象が生じる。
【0010】さらに、上記のようなアクティブマトリク
ス駆動を行い、FLCに対し長時間にわたる直流電圧
(DC)成分を連続的に印加すると、液晶の応答が阻害
され、透過率が次第に減少するフェーディング現象が生
じる。図15は、図12(a)の如き駆動波形を繰り返
して印加した場合、時間tとともに透過率Tがどのよう
に変化するかを示すグラフである。これによれば、繰り
返してパルスを印加すると、時間tの経過とともに透過
率Tが次第に減少する、フェーディング現象を生じるこ
とが明確にわかる。これは、上記DC成分により液晶の
内部イオンの偏在が誘起され、これが電界を形成するた
めと考えらる。
ス駆動を行い、FLCに対し長時間にわたる直流電圧
(DC)成分を連続的に印加すると、液晶の応答が阻害
され、透過率が次第に減少するフェーディング現象が生
じる。図15は、図12(a)の如き駆動波形を繰り返
して印加した場合、時間tとともに透過率Tがどのよう
に変化するかを示すグラフである。これによれば、繰り
返してパルスを印加すると、時間tの経過とともに透過
率Tが次第に減少する、フェーディング現象を生じるこ
とが明確にわかる。これは、上記DC成分により液晶の
内部イオンの偏在が誘起され、これが電界を形成するた
めと考えらる。
【0011】図16は、このフェーディング現象を説明
するための図である。図12(a)に示す波形の場合、
幾何的にはプラスのDC成分が、液晶にとっては過剰に
印加される。図16は、このDC成分がどのように液晶
に作用するかを示している。すなわち、プラスのDC成
分の印加により、絶縁層部129と液晶11との間に電
荷の蓄積が起こり、そして、この電荷蓄積成分による液
晶分圧がマイナス方向であるため、次第に白書込みがさ
れ難くなる。これに対し、補助パルスによりDC成分を
キャンセルする提案が、本発明者らによりなされてい
る。
するための図である。図12(a)に示す波形の場合、
幾何的にはプラスのDC成分が、液晶にとっては過剰に
印加される。図16は、このDC成分がどのように液晶
に作用するかを示している。すなわち、プラスのDC成
分の印加により、絶縁層部129と液晶11との間に電
荷の蓄積が起こり、そして、この電荷蓄積成分による液
晶分圧がマイナス方向であるため、次第に白書込みがさ
れ難くなる。これに対し、補助パルスによりDC成分を
キャンセルする提案が、本発明者らによりなされてい
る。
【0012】さらに、フェーディング現象の他の原因と
して、液晶に電圧が印加されると液晶の持つ自発分極P
sにより電荷蓄積が生じ、これにより、自発分極に対し
て偏在する内部イオンが電界を形成することが考えられ
る。これに対しては、リセット区間内に上記自発分極に
対して誘起された内部電界を緩和するような時定数(C
R)を有するFLC材料を用いた素子構成により、自発
分極による作用を次フレームに及ぼすことなく中間調を
安定に形成するという提案がなされている。しかしなが
らFLCのドメイン諧調を行う場合、電極・配向層・F
LC間での電荷の移動が行われると同時に、FLC界面
でのチャージ移動の影響によりドメインが徐々に広がっ
たりして、その緩和時間分程度透過率が一定とらない、
いわゆる不安定性なる現象を生じ、これが特に高諧調を
実現する際に悪影響をおよぼすという問題がある。
して、液晶に電圧が印加されると液晶の持つ自発分極P
sにより電荷蓄積が生じ、これにより、自発分極に対し
て偏在する内部イオンが電界を形成することが考えられ
る。これに対しては、リセット区間内に上記自発分極に
対して誘起された内部電界を緩和するような時定数(C
R)を有するFLC材料を用いた素子構成により、自発
分極による作用を次フレームに及ぼすことなく中間調を
安定に形成するという提案がなされている。しかしなが
らFLCのドメイン諧調を行う場合、電極・配向層・F
LC間での電荷の移動が行われると同時に、FLC界面
でのチャージ移動の影響によりドメインが徐々に広がっ
たりして、その緩和時間分程度透過率が一定とらない、
いわゆる不安定性なる現象を生じ、これが特に高諧調を
実現する際に悪影響をおよぼすという問題がある。
【0013】そして上述のようなヒステリシス現象、フ
ェーディング現象、および不安定性現象は、アクティブ
マトリクス方式で諧調表示を行う場合、画素表示電圧が
一義的に決定できないため、大きな障害となっている。
そこで本発明者らは、電極上に直接配向膜を設け、かつ
その配向膜に隙間構造を有する斜方蒸着膜を用いること
により、アクティブマトリクス駆動において、上記ヒス
テリシス現象、フェーディング現象、および不安定性現
象のない諧調表示を可能にするという提案を行ってい
る。
ェーディング現象、および不安定性現象は、アクティブ
マトリクス方式で諧調表示を行う場合、画素表示電圧が
一義的に決定できないため、大きな障害となっている。
そこで本発明者らは、電極上に直接配向膜を設け、かつ
その配向膜に隙間構造を有する斜方蒸着膜を用いること
により、アクティブマトリクス駆動において、上記ヒス
テリシス現象、フェーディング現象、および不安定性現
象のない諧調表示を可能にするという提案を行ってい
る。
【0014】この提案によれば、良好な配向を得ている
が、電極部分のSiOカラムは地下の形状を反映するた
め、地下がITO等の透明電極のように凹凸があると、
SiOカラムの配列に乱れが生じ、配向が局所的に乱れ
る場合もある。さらにこのような凹凸があると、強誘電
性液晶の双安定性が失われるという問題も生ずる。
が、電極部分のSiOカラムは地下の形状を反映するた
め、地下がITO等の透明電極のように凹凸があると、
SiOカラムの配列に乱れが生じ、配向が局所的に乱れ
る場合もある。さらにこのような凹凸があると、強誘電
性液晶の双安定性が失われるという問題も生ずる。
【0015】本発明の目的は、このようなヒステリシス
現象、フェーディング現象、および不安定性現象を低減
した液晶素子において、液晶配向性の乱れを防止して均
一なユニフォーム配向とし、かつ安定な双安定性が得ら
れるようにすることにある。また、他の目的は、液晶光
学素子において、前記配向膜の隙間構造によらない他の
手段によって前記不安定性を解消することにある。
現象、フェーディング現象、および不安定性現象を低減
した液晶素子において、液晶配向性の乱れを防止して均
一なユニフォーム配向とし、かつ安定な双安定性が得ら
れるようにすることにある。また、他の目的は、液晶光
学素子において、前記配向膜の隙間構造によらない他の
手段によって前記不安定性を解消することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
第1の発明では、強誘電性液晶と、これを挟持する対向
基板と、この対向基板の対向面上に設けられ、強誘電性
液晶に電圧を印加するための電極を有する電圧印加手段
とを備えた液晶光学素子において、この電極面上にはバ
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜を形成するとともに、
この配向膜およびバッファ層が前記強誘電性液晶と電極
間の電荷移動を可能にする隙間およびピンホールをそれ
ぞれ有するようにしている。
第1の発明では、強誘電性液晶と、これを挟持する対向
基板と、この対向基板の対向面上に設けられ、強誘電性
液晶に電圧を印加するための電極を有する電圧印加手段
とを備えた液晶光学素子において、この電極面上にはバ
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜を形成するとともに、
この配向膜およびバッファ層が前記強誘電性液晶と電極
間の電荷移動を可能にする隙間およびピンホールをそれ
ぞれ有するようにしている。
【0017】ここで、前記電圧印加手段は、例えば、少
なくとも、前記強誘電性液晶に画素単位で電圧を印加す
るための画素電極、この画素電極に電圧信号を供給する
ための信号配線、この信号配線と画素電極間の接続をオ
ン・オフ制御するためのアクティブスイッチング素子、
およびこのアクティブスイッチング素子に対し、これを
オン・オフ制御する信号を供給するための走査配線を備
え、前記強誘電性液晶のリセットおよび書込みをともに
アクティブマトリクス駆動により行うものである。
なくとも、前記強誘電性液晶に画素単位で電圧を印加す
るための画素電極、この画素電極に電圧信号を供給する
ための信号配線、この信号配線と画素電極間の接続をオ
ン・オフ制御するためのアクティブスイッチング素子、
およびこのアクティブスイッチング素子に対し、これを
オン・オフ制御する信号を供給するための走査配線を備
え、前記強誘電性液晶のリセットおよび書込みをともに
アクティブマトリクス駆動により行うものである。
【0018】前記バッファ層としては無機化合物、例え
ばTiO2-SiOX 、またはTa2O5 を主成分とする
薄膜が好ましく、その膜厚は、0.005〜0.2μm
が好ましく、0.01〜0.05μmがより好ましい。
ばTiO2-SiOX 、またはTa2O5 を主成分とする
薄膜が好ましく、その膜厚は、0.005〜0.2μm
が好ましく、0.01〜0.05μmがより好ましい。
【0019】また、前記斜方蒸着配向膜の材質は無機酸
化物、例えば、SiO、ZrO2 、またはTiO2 を主
成分とするものが好ましく、そのカラム長は、0.01
〜0.6μm、カラム角度は0〜60°であるのが好ま
しい。
化物、例えば、SiO、ZrO2 、またはTiO2 を主
成分とするものが好ましく、そのカラム長は、0.01
〜0.6μm、カラム角度は0〜60°であるのが好ま
しい。
【0020】前記配向膜の隙間構造によらない第2の発
明においては、基板と、この基板上に設けた電極と、こ
の電極上に設けた配向膜とをそれぞれ対向面上に有する
一対の対向する電極基板、およびその間に封入された液
晶を備えた液晶光学素子において、配向膜部分に、液晶
部分と電極間の導通を取るためのピンホールを1画素に
つき1つ以上具備するようにしている。配向膜として
は、ポリイミド、ポリピロール、ポリビニルアルコール
等の有機膜を用いることができる。
明においては、基板と、この基板上に設けた電極と、こ
の電極上に設けた配向膜とをそれぞれ対向面上に有する
一対の対向する電極基板、およびその間に封入された液
晶を備えた液晶光学素子において、配向膜部分に、液晶
部分と電極間の導通を取るためのピンホールを1画素に
つき1つ以上具備するようにしている。配向膜として
は、ポリイミド、ポリピロール、ポリビニルアルコール
等の有機膜を用いることができる。
【0021】第1および第2両発明において用いられる
液晶としては、強誘電性を示し、加えられる電界に応じ
て第1の光学的安定状態例えば明状態を形成する状態
と、第2の光学的安定状態例えば暗状態とを形成する状
態を有するもの、即ち電界に対する少なくとも2つの安
定状態を有するカイラルスメクティック液晶が最も好ま
しく、そのうちカイラルスメクティックC相(SmC
* )、H相(SmH* )、I相(SmI* )、F相(S
mF* )、やG相(SmG* )、の液晶が適している。
もちろん、同様な性質を有する他の液晶も用いることが
できる。
液晶としては、強誘電性を示し、加えられる電界に応じ
て第1の光学的安定状態例えば明状態を形成する状態
と、第2の光学的安定状態例えば暗状態とを形成する状
態を有するもの、即ち電界に対する少なくとも2つの安
定状態を有するカイラルスメクティック液晶が最も好ま
しく、そのうちカイラルスメクティックC相(SmC
* )、H相(SmH* )、I相(SmI* )、F相(S
mF* )、やG相(SmG* )、の液晶が適している。
もちろん、同様な性質を有する他の液晶も用いることが
できる。
【0022】より具体的には、デシロキシベンジリデン
−P’−アミノ−2−メチルブチルシンナメイト(DO
BAMBC)、ヘキシルオキシベンジリデン−P’−ア
ミノ−2−クロロプロピルシンナメイト(HOBACP
C)および4−ο−(2−メチル)−ブチルレゾルシリ
デン−4’−オクチルアニリン(MBRA8)等の強誘
電性液晶化合物があげられる。
−P’−アミノ−2−メチルブチルシンナメイト(DO
BAMBC)、ヘキシルオキシベンジリデン−P’−ア
ミノ−2−クロロプロピルシンナメイト(HOBACP
C)および4−ο−(2−メチル)−ブチルレゾルシリ
デン−4’−オクチルアニリン(MBRA8)等の強誘
電性液晶化合物があげられる。
【0023】これらの材料を用いて素子を構成する場
合、液晶化合物がSmC* 、SmH*、SmI* 、Sm
F* 、あるいはSmG* となるような温度状態に保持す
るために、必要に応じて素子をヒータが埋め込まれた銅
ブロック等により支持し、液晶駆動時に熱的制御を行う
ようにしてもよい。
合、液晶化合物がSmC* 、SmH*、SmI* 、Sm
F* 、あるいはSmG* となるような温度状態に保持す
るために、必要に応じて素子をヒータが埋め込まれた銅
ブロック等により支持し、液晶駆動時に熱的制御を行う
ようにしてもよい。
【0024】
【作用】図17は本発明に係る液晶素子を概念的に例示
する模試図である。図中、23aおよび23bはITO
等の透明電極がコートされた基板(ガラス板)であり、
その間に液晶分子層21が基板23a,23bのガラス
面に垂直になるように配向したSmC* 相の液晶が封入
されている。16は液晶分子を表しており、この液晶分
子16はそれに直交した方向に双極子モーメント(P
⊥)17を有している。
する模試図である。図中、23aおよび23bはITO
等の透明電極がコートされた基板(ガラス板)であり、
その間に液晶分子層21が基板23a,23bのガラス
面に垂直になるように配向したSmC* 相の液晶が封入
されている。16は液晶分子を表しており、この液晶分
子16はそれに直交した方向に双極子モーメント(P
⊥)17を有している。
【0025】このような構成において、基板23a,2
3b上の電極間に一定閾値以上の電圧を印加すると、液
晶分子16の螺旋構造がほどけ、双極子モーメント17
はすべて電界方向に向くように、液晶分子16の配向方
向を変えることができる。液晶分子16は長細い形状を
有しており、その長軸方向と短軸方向とで屈折率異方性
を示す。従って、例えば対向基板23a,23bの外側
に、互いにクロスニコルの位置関係となるように偏光子
を配置することにより、電圧印加極性によって光学特性
が変わる液晶光学変調素子となることは、容易に理解さ
れる。更に、液晶セルの厚さを充分に薄くし、例えば1
μmにした場合には、図18に示すように、一定の閾値
以上の極性の異なる電界EまたはE′を付与すると、双
極子モーメント17は電界EまたはE′の電界ベクトル
に対応して上向き(実線17)または下向き(破線1
7′)に向きを変え、それに応じて液晶分子は第1の安
定状態(実線16;明状態)、あるいは第2の安定状態
(破線16′;暗状態)のいずれか一方に配向する。
3b上の電極間に一定閾値以上の電圧を印加すると、液
晶分子16の螺旋構造がほどけ、双極子モーメント17
はすべて電界方向に向くように、液晶分子16の配向方
向を変えることができる。液晶分子16は長細い形状を
有しており、その長軸方向と短軸方向とで屈折率異方性
を示す。従って、例えば対向基板23a,23bの外側
に、互いにクロスニコルの位置関係となるように偏光子
を配置することにより、電圧印加極性によって光学特性
が変わる液晶光学変調素子となることは、容易に理解さ
れる。更に、液晶セルの厚さを充分に薄くし、例えば1
μmにした場合には、図18に示すように、一定の閾値
以上の極性の異なる電界EまたはE′を付与すると、双
極子モーメント17は電界EまたはE′の電界ベクトル
に対応して上向き(実線17)または下向き(破線1
7′)に向きを変え、それに応じて液晶分子は第1の安
定状態(実線16;明状態)、あるいは第2の安定状態
(破線16′;暗状態)のいずれか一方に配向する。
【0026】このような強誘電性液晶を有するものを光
学変調素子として用いることの利点は2つある。第1に
応答速度が極めて速いこと、第2に液晶分子の配向が双
安定性を有することである。第2の利点を例えば図18
によって説明すれば、電界Eを印加すると液晶分子は第
1の安定状態(実線16)に配向するが、この状態は電
界を切ってもこの第1の安定状態が維持される。また、
逆向きの電界E′を印加すると液晶分子は第2の安定状
態(破線16′)に配向してその向きを変えるが、電界
を切ってもやはりこの状態を保ち、それぞれの安定状態
でメモリ機能を有する。このような応答速度の速さと、
双安定性を有効に実現するには、素子を構成する液晶セ
ルはできるだけ薄いほうが好ましく、一般的には0.5
〜20μm、望ましくは1〜5μmの厚さが適してい
る。
学変調素子として用いることの利点は2つある。第1に
応答速度が極めて速いこと、第2に液晶分子の配向が双
安定性を有することである。第2の利点を例えば図18
によって説明すれば、電界Eを印加すると液晶分子は第
1の安定状態(実線16)に配向するが、この状態は電
界を切ってもこの第1の安定状態が維持される。また、
逆向きの電界E′を印加すると液晶分子は第2の安定状
態(破線16′)に配向してその向きを変えるが、電界
を切ってもやはりこの状態を保ち、それぞれの安定状態
でメモリ機能を有する。このような応答速度の速さと、
双安定性を有効に実現するには、素子を構成する液晶セ
ルはできるだけ薄いほうが好ましく、一般的には0.5
〜20μm、望ましくは1〜5μmの厚さが適してい
る。
【0027】この種の強誘電性液晶を用いかつマトリク
ス電極構造を有する液晶・電気光学装置は、例えば米国
特許4,367,924号や4,840,462号明細
書で提案されている。このような構造の場合において、
外部から電圧を印加して駆動するとき、液晶と電極間の
膜厚方向のチャージのやりとりがスムーズに行われる
と、前記外部電圧DC成分と自発分極によるイオン偏在
が素早く緩和される。しかしながら、従来の配向膜材料
は一般的には抵抗が高く絶縁効果が大きい。
ス電極構造を有する液晶・電気光学装置は、例えば米国
特許4,367,924号や4,840,462号明細
書で提案されている。このような構造の場合において、
外部から電圧を印加して駆動するとき、液晶と電極間の
膜厚方向のチャージのやりとりがスムーズに行われる
と、前記外部電圧DC成分と自発分極によるイオン偏在
が素早く緩和される。しかしながら、従来の配向膜材料
は一般的には抵抗が高く絶縁効果が大きい。
【0028】これに対し本発明では、配向膜およびバッ
ファ層が、強誘電性液晶と電極間の電荷移動を可能にす
る隙間およびピンホールをそれぞれ有するようにし、あ
るいは液晶・電極間の導通をとめるためのピンホールを
画素内に1カ所あるいはそれ以上設けるようにしている
ため、前記外部電圧DC成分と自発分極によるイオン偏
在の影響が改善され、したがって所望の中間調が安定し
て表示されるようになる。
ファ層が、強誘電性液晶と電極間の電荷移動を可能にす
る隙間およびピンホールをそれぞれ有するようにし、あ
るいは液晶・電極間の導通をとめるためのピンホールを
画素内に1カ所あるいはそれ以上設けるようにしている
ため、前記外部電圧DC成分と自発分極によるイオン偏
在の影響が改善され、したがって所望の中間調が安定し
て表示されるようになる。
【0029】また、バッファ層により、地下の電極形状
の影響が減少され、斜方蒸着配向膜のSiOカラム等の
配列に乱れが生じることもなく、したがって、配向の乱
れも防止され、強誘電性液晶の双安定性が保持される。
の影響が減少され、斜方蒸着配向膜のSiOカラム等の
配列に乱れが生じることもなく、したがって、配向の乱
れも防止され、強誘電性液晶の双安定性が保持される。
【0030】
【実施例】実施例1 図2は本発明の第1の実施例に係る光学変調素子の基本
的な構成を示す断面図である。同図において、23aと
23bは基板、22aと22bはそれぞれ基板23aと
23b上に形成されたITO膜からなる透明電極、21
aと21bはそれぞれ透明電極22aと22b上に形成
されたバッファ層、20aと20bはそれぞれバッファ
層21aと21b上に形成されたSiOからなる斜方蒸
着配向膜であり、これらにより電極基板25aおよび2
5bが構成される。24は配向膜20a,20b間に配
置された強誘電性液晶である。透明電極22a,22b
は、画素電極およびこれに対する対向電極を含む。配向
膜20a,20bおよびバッファ層21a,21bに
は、強誘電性液晶24と電極22a,22bとの間の電
荷移動を可能にする隙間およびピンホールをそれぞれ有
する。
的な構成を示す断面図である。同図において、23aと
23bは基板、22aと22bはそれぞれ基板23aと
23b上に形成されたITO膜からなる透明電極、21
aと21bはそれぞれ透明電極22aと22b上に形成
されたバッファ層、20aと20bはそれぞれバッファ
層21aと21b上に形成されたSiOからなる斜方蒸
着配向膜であり、これらにより電極基板25aおよび2
5bが構成される。24は配向膜20a,20b間に配
置された強誘電性液晶である。透明電極22a,22b
は、画素電極およびこれに対する対向電極を含む。配向
膜20a,20bおよびバッファ層21a,21bに
は、強誘電性液晶24と電極22a,22bとの間の電
荷移動を可能にする隙間およびピンホールをそれぞれ有
する。
【0031】基板23a,23bは1.1mm厚の両面
研磨処理を施したHOYA製NA40無アルカリガラス
であり、ITO膜22a,22bはO2 中の反応性イオ
ンプレーティング法により700Åの厚さで形成したも
のである。バッファ層21a,21bはTiO2 −Si
O2 を含有した有機溶液(商品名:MOF)をスピナー
塗布した後、300℃で燒結することにより、800Å
の厚さで形成したものである。
研磨処理を施したHOYA製NA40無アルカリガラス
であり、ITO膜22a,22bはO2 中の反応性イオ
ンプレーティング法により700Åの厚さで形成したも
のである。バッファ層21a,21bはTiO2 −Si
O2 を含有した有機溶液(商品名:MOF)をスピナー
塗布した後、300℃で燒結することにより、800Å
の厚さで形成したものである。
【0032】斜方蒸着配向膜20a,20bは図3に示
す蒸着装置を用いて作製したものである。図3におい
て、30は真空チャンバ、31は斜方蒸着配向膜20
a,20bが形成される基板、32はSiOの蒸発源で
あるチムニーるつぼ、33はこの蒸発源の電源、34は
スリット、35は基板31を送るローラ、36はロータ
リーポンプ、37はメカニカルブースターポンプ、38
はクライオポンプ、39は切替えバルブである。
す蒸着装置を用いて作製したものである。図3におい
て、30は真空チャンバ、31は斜方蒸着配向膜20
a,20bが形成される基板、32はSiOの蒸発源で
あるチムニーるつぼ、33はこの蒸発源の電源、34は
スリット、35は基板31を送るローラ、36はロータ
リーポンプ、37はメカニカルブースターポンプ、38
はクライオポンプ、39は切替えバルブである。
【0033】この蒸着装置において、るつぼ32から放
出されるSiO粒子はスリット34を経て基板31に達
する。一方、ローラ35は角速度ωで回転し、これによ
り基板31も一定速度vで移動する。また、基板31に
対しては、図中に示す如く、スリット34により基板3
1面に対しθの角度成分を有するSiO粒子のみが到達
できる。表1はこの装置における蒸着条件を示す。
出されるSiO粒子はスリット34を経て基板31に達
する。一方、ローラ35は角速度ωで回転し、これによ
り基板31も一定速度vで移動する。また、基板31に
対しては、図中に示す如く、スリット34により基板3
1面に対しθの角度成分を有するSiO粒子のみが到達
できる。表1はこの装置における蒸着条件を示す。
【0034】
【表1】 このようにして形成されるSiO斜方蒸着配向膜20
a,20b上にギャップ剤として1.5μmΦのシリカ
ビーズをスピナー塗布し乾燥した後、シール剤を印刷
し、電極基板25aと25bとを接着してセルを構成
し、その中に強誘電性液晶を真空注入することにより素
子が構成される。
a,20b上にギャップ剤として1.5μmΦのシリカ
ビーズをスピナー塗布し乾燥した後、シール剤を印刷
し、電極基板25aと25bとを接着してセルを構成
し、その中に強誘電性液晶を真空注入することにより素
子が構成される。
【0035】図1はこの光学変調素子の拡大断面図であ
る。図2と対応する部分は同じ番号で示してある。図1
において、6はTFT、8はITOからなる画素電極、
5は対向電極、9はSiO斜方蒸着配向膜を形成するS
iOカラムである。TFT6は画素電極8に接続してお
り、ゲート信号によりスイッチングして、書込み信号V
Wまたはリセット信号VRを画素電極8に導いている。
対向電極5側も配向膜は上記と同様に構成され、対向電
極5はアース電位に保たれている。
る。図2と対応する部分は同じ番号で示してある。図1
において、6はTFT、8はITOからなる画素電極、
5は対向電極、9はSiO斜方蒸着配向膜を形成するS
iOカラムである。TFT6は画素電極8に接続してお
り、ゲート信号によりスイッチングして、書込み信号V
Wまたはリセット信号VRを画素電極8に導いている。
対向電極5側も配向膜は上記と同様に構成され、対向電
極5はアース電位に保たれている。
【0036】図4は、このように構成された素子を図1
2(a)の如き一定のリセットおよび書込み信号で連続
的にアクティブ駆動させた時の、書込み電圧・透過率
(V−T)特性を示すグラフである。従来のラビング配
向膜を有する素子のV−T特性42と比較すると本実施
例の素子におけるV−T特性41においては明らかにヒ
ステリシスが減少している。
2(a)の如き一定のリセットおよび書込み信号で連続
的にアクティブ駆動させた時の、書込み電圧・透過率
(V−T)特性を示すグラフである。従来のラビング配
向膜を有する素子のV−T特性42と比較すると本実施
例の素子におけるV−T特性41においては明らかにヒ
ステリシスが減少している。
【0037】図5は、黒リセット放置時間t1 の変化に
対する全白書込み応答時間t2 の変化の様子を示すグラ
フである。図中、曲線51は実施例の光学変調素子の場
合を示し、破線曲線52は従来のラビング配向膜を用い
た光学変調素子の場合を示す。これによれば、明らかに
上述した不安定性が解消されていることがわかる。
対する全白書込み応答時間t2 の変化の様子を示すグラ
フである。図中、曲線51は実施例の光学変調素子の場
合を示し、破線曲線52は従来のラビング配向膜を用い
た光学変調素子の場合を示す。これによれば、明らかに
上述した不安定性が解消されていることがわかる。
【0038】図6は、時間経過に伴う相対透過率変化を
示すグラフであり、61は本実施例の場合、62は従来
例の場合を示す。
示すグラフであり、61は本実施例の場合、62は従来
例の場合を示す。
【0039】図7は、一定時間t『黒』放置した後、
『白』中間調書込みをした場合の透過率Tの変化を示す
グラフである。図中、曲線71は本実施例の素子の場合
を示し、破線曲線72は従来の場合を示す。従来のラビ
ング配向膜の場合と比較すると本実施例の場合はフェー
ディング現象がほとんど見られないことがわかる。
『白』中間調書込みをした場合の透過率Tの変化を示す
グラフである。図中、曲線71は本実施例の素子の場合
を示し、破線曲線72は従来の場合を示す。従来のラビ
ング配向膜の場合と比較すると本実施例の場合はフェー
ディング現象がほとんど見られないことがわかる。
【0040】このように、強誘電性液晶の諧調表示を行
う際に生じる問題点が解消される理由は次のように説明
される。即ち、図1に模試的に示したように、SiO斜
方蒸着により成膜したSiOのカラム9は隙間構造を有
しているため、バッファ層21a,21bが部分的に露
出しており、かつ地下のバッファ層21a,21bが非
常に薄くてその中に適度にピンホールが存在するため、
電極5(22a),8(22b)と液晶層24との間で
導通がとれている。このため強誘電性液晶24に印加さ
れる書込み電圧VWとリセット電圧VR間の、図12で
示したようなDCアンバランスにより生じるイオン(こ
の場合マイナスイオン)の電極8上への蓄積が生じたと
しても、この界面での電子の授受により、上記イオンが
中和されると考えられる。この中和現象は画素電極8に
対向するアース電極5においても同様に生じていると考
えられる。従って前述した従来例の如きイオンの配向膜
面上への蓄積により発生する抗電界が形成されないた
め、上記問題が解消されるものと考えられる。
う際に生じる問題点が解消される理由は次のように説明
される。即ち、図1に模試的に示したように、SiO斜
方蒸着により成膜したSiOのカラム9は隙間構造を有
しているため、バッファ層21a,21bが部分的に露
出しており、かつ地下のバッファ層21a,21bが非
常に薄くてその中に適度にピンホールが存在するため、
電極5(22a),8(22b)と液晶層24との間で
導通がとれている。このため強誘電性液晶24に印加さ
れる書込み電圧VWとリセット電圧VR間の、図12で
示したようなDCアンバランスにより生じるイオン(こ
の場合マイナスイオン)の電極8上への蓄積が生じたと
しても、この界面での電子の授受により、上記イオンが
中和されると考えられる。この中和現象は画素電極8に
対向するアース電極5においても同様に生じていると考
えられる。従って前述した従来例の如きイオンの配向膜
面上への蓄積により発生する抗電界が形成されないた
め、上記問題が解消されるものと考えられる。
【0041】本実施例の光学変調素子の配向状態を偏光
顕微鏡により観察したところ、均一なユニフォーム配向
となっていた。更に、等方相まで昇温し再配向処理を行
ったところ、SmC* 相の温度域で完全な双安定状態を
示した。また、チルト角θaを測定したところθa =1
4〜14.5°であり、注入した強誘電性液晶24のコ
ーン角ΘはΘ〜15°程度であることから考え、ほぼ強
誘電性液晶24のコーン角Θに近いところまでセルのチ
ルト角θa が開いていることがわかった。
顕微鏡により観察したところ、均一なユニフォーム配向
となっていた。更に、等方相まで昇温し再配向処理を行
ったところ、SmC* 相の温度域で完全な双安定状態を
示した。また、チルト角θaを測定したところθa =1
4〜14.5°であり、注入した強誘電性液晶24のコ
ーン角ΘはΘ〜15°程度であることから考え、ほぼ強
誘電性液晶24のコーン角Θに近いところまでセルのチ
ルト角θa が開いていることがわかった。
【0042】さらに、基板23a,23bを80μm厚
の薄膜ガラスで構成して同様の素子を作製し、X線回路
折法によりその層構造を測定した。図8は、そのX線回
折パターンを示すグラフである。同図において、回折ピ
ークが1つのみ見られることから、液晶24の層構造は
図9に示すような斜めブックシェルフ構造となっている
ことがわかる。
の薄膜ガラスで構成して同様の素子を作製し、X線回路
折法によりその層構造を測定した。図8は、そのX線回
折パターンを示すグラフである。同図において、回折ピ
ークが1つのみ見られることから、液晶24の層構造は
図9に示すような斜めブックシェルフ構造となっている
ことがわかる。
【0043】実施例2 バッファ層21a,21bとしてTa2 O5 を電子ビー
ム蒸着法を用いて800Åの厚さで形成し、その上に実
施例1と同様の斜方蒸着配向膜を、ベース圧が〜10-7
torr.、蒸着速度を5Å/sec、図3におけるθ
が85°という条件下で成膜した。そして、他は実施例
1と同様にして素子を作成し、その配向状態、V−T特
性のヒステリシス、不安定性、およびフェーディング現
象を測定した。その結果、配向は均一なユニフォーム配
向であり、かつ双安定あった。また、ヒステリシス、不
安定性、およびフェーディング現象が大幅に減少してい
ることを確認した。
ム蒸着法を用いて800Åの厚さで形成し、その上に実
施例1と同様の斜方蒸着配向膜を、ベース圧が〜10-7
torr.、蒸着速度を5Å/sec、図3におけるθ
が85°という条件下で成膜した。そして、他は実施例
1と同様にして素子を作成し、その配向状態、V−T特
性のヒステリシス、不安定性、およびフェーディング現
象を測定した。その結果、配向は均一なユニフォーム配
向であり、かつ双安定あった。また、ヒステリシス、不
安定性、およびフェーディング現象が大幅に減少してい
ることを確認した。
【0044】実施例3 バッファ層21a,21bを実施例1と同様とし、斜方
蒸着配向膜20a,20b(9)を、実施例1と同様の
装置でSiOのかわりにZrO2 を用いて成膜した。こ
の成膜は、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が
5Å/sec、図3のθが85°の条件下で行い、斜方
蒸着膜20a,20bのカラム長は400Åであった。
そして他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配
向状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、および
フェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一
なユニフォーム配向でかつ双安定あった。また、ヒステ
リシス、不安定性、およびフェーディング現象が大幅に
減少していることを確認した。
蒸着配向膜20a,20b(9)を、実施例1と同様の
装置でSiOのかわりにZrO2 を用いて成膜した。こ
の成膜は、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が
5Å/sec、図3のθが85°の条件下で行い、斜方
蒸着膜20a,20bのカラム長は400Åであった。
そして他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配
向状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、および
フェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一
なユニフォーム配向でかつ双安定あった。また、ヒステ
リシス、不安定性、およびフェーディング現象が大幅に
減少していることを確認した。
【0045】実施例4 バッファ層21a,21bを実施例1と同様とし、斜方
蒸着配向膜20a,20bを、実施例1と同様の装置で
SiOのかわりにTiO2 を用いて成膜した。この成膜
は、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が5Å/
sec、図3のθが85°の条件下で行い、斜方蒸着膜
20a,20bのカラム長は400Åであった。そし
て、他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配向
状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、およびフ
ェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一な
ユニフォーム配向でかつ双安定あった。またヒステリシ
ス、不安定性、およびフェーディング現象が大幅に減少
していることを確認した。
蒸着配向膜20a,20bを、実施例1と同様の装置で
SiOのかわりにTiO2 を用いて成膜した。この成膜
は、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が5Å/
sec、図3のθが85°の条件下で行い、斜方蒸着膜
20a,20bのカラム長は400Åであった。そし
て、他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配向
状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、およびフ
ェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一な
ユニフォーム配向でかつ双安定あった。またヒステリシ
ス、不安定性、およびフェーディング現象が大幅に減少
していることを確認した。
【0046】実施例5 バッファ層21a,21bを、Ta2 O5 を電子ビーム
蒸着法を用いて800Åの厚さで形成し、その上に斜方
蒸着配向膜20a,20bをSiOのかわりにZrO2
を用い、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が5
Å/sec、図3のθが85°の条件下で成膜した。そ
して、他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配
向状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、および
フェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一
なユニフォーム配向でありかつ双安定あった。また、ヒ
ステリシス、不安定性、およびフェーディング現象が大
幅に減少していることを確認した。
蒸着法を用いて800Åの厚さで形成し、その上に斜方
蒸着配向膜20a,20bをSiOのかわりにZrO2
を用い、ベース圧が〜10-7torr.、蒸着速度が5
Å/sec、図3のθが85°の条件下で成膜した。そ
して、他は実施例1と同様にして素子を作成し、その配
向状態、V−T特性のヒステリシス、不安定性、および
フェーディング現象を測定した。その結果、配向は均一
なユニフォーム配向でありかつ双安定あった。また、ヒ
ステリシス、不安定性、およびフェーディング現象が大
幅に減少していることを確認した。
【0047】実施例6 図19は本発明の第6の実施例を示す。同図は液晶素子
の1画素の電極界面の断面を示す。この素子は次のよう
にして作製される。まず、ガラス基板23上にITO等
の透明電極22を反応性スパッタ等により1000〜1
500Å程度の膜厚で膜形成し、その上にポリイミドを
スピナー塗布した後、150℃でベークし、500〜1
000Åの膜を形成する。次に、このポリイミド膜上に
シリコン含有レジスト例えばSNR(商品名:東洋曹達
社製)を、スピナー塗布およびベーク処理によって約3
00〜500Åの厚さに膜形成する。次に、このレジス
トに電子ビーム描写を行い径0.1〜2μmのスペース
パターンを形成する。このとき、材料によっては基板を
例えば100〜350℃に加熱してもよい。また、電子
ビームの代わりにレーザ等を用いてもよい。
の1画素の電極界面の断面を示す。この素子は次のよう
にして作製される。まず、ガラス基板23上にITO等
の透明電極22を反応性スパッタ等により1000〜1
500Å程度の膜厚で膜形成し、その上にポリイミドを
スピナー塗布した後、150℃でベークし、500〜1
000Åの膜を形成する。次に、このポリイミド膜上に
シリコン含有レジスト例えばSNR(商品名:東洋曹達
社製)を、スピナー塗布およびベーク処理によって約3
00〜500Åの厚さに膜形成する。次に、このレジス
トに電子ビーム描写を行い径0.1〜2μmのスペース
パターンを形成する。このとき、材料によっては基板を
例えば100〜350℃に加熱してもよい。また、電子
ビームの代わりにレーザ等を用いてもよい。
【0048】次に、このレジストをマスクにしてポリイ
ミドをエッチングする。エッチングは例えば、O2 ガス
を用い、パワー130W、圧力1〜5Paといった条件
でRIE装置で行う。この後、マスクをエッチング除去
する。これにより、前記スペースパターンに対応するピ
ンホール26を有する配向膜20が形成される。このエ
ッチングは、フッ素系ガス例えばCF4 +H2 を用いて
RIE装置によって行う。あるいはフッ酸に浸積して除
去しても良い。
ミドをエッチングする。エッチングは例えば、O2 ガス
を用い、パワー130W、圧力1〜5Paといった条件
でRIE装置で行う。この後、マスクをエッチング除去
する。これにより、前記スペースパターンに対応するピ
ンホール26を有する配向膜20が形成される。このエ
ッチングは、フッ素系ガス例えばCF4 +H2 を用いて
RIE装置によって行う。あるいはフッ酸に浸積して除
去しても良い。
【0049】次に、このようにして形成した2枚の電極
基板に対し、ポリイミド表面にラビング処理を施し、こ
れら基板を、ラビング面を内側にして向かい合わせて1
〜5μm程度のギャップを有するセルを形成し、液晶を
真空注入する。
基板に対し、ポリイミド表面にラビング処理を施し、こ
れら基板を、ラビング面を内側にして向かい合わせて1
〜5μm程度のギャップを有するセルを形成し、液晶を
真空注入する。
【0050】このようにして形成された、画素内にピン
ホール箇所を有する液晶素子を、外部から電圧を印加し
て駆動しようとする場合、液晶・電極間において、配向
膜20の膜厚方向のチャージの授受が極めてスムーズに
行なわれる。これによって、前記外部電圧DC成分と自
発分極に起因するイオン偏在を素早く緩和することがで
きる。また、この構成によれば、液晶を配向させるため
のラビング処理等は従来通りに行なうことができ、ピン
ホールの大きさも0.1〜2μm程度とすれば配向状態
への影響は極めて少ない。
ホール箇所を有する液晶素子を、外部から電圧を印加し
て駆動しようとする場合、液晶・電極間において、配向
膜20の膜厚方向のチャージの授受が極めてスムーズに
行なわれる。これによって、前記外部電圧DC成分と自
発分極に起因するイオン偏在を素早く緩和することがで
きる。また、この構成によれば、液晶を配向させるため
のラビング処理等は従来通りに行なうことができ、ピン
ホールの大きさも0.1〜2μm程度とすれば配向状態
への影響は極めて少ない。
【0051】さらにまた、特にテレビレート等の高周波
数で諧調を表示する際には、液晶および配向膜ともに抵
抗値を下げ時定数を小さくする等の手段も実用的である
が、その場合は材料の抵抗値を下げることにより液晶・
配向膜界面でのチャージのやり取りはスムーズになるも
のの、これがドメイン広がりの傾向も増大させる。これ
に対し、前記ピンホール構成によれば、膜厚方向にはチ
ャージ緩和が素早く行なわれるのに対し、ドメイン広が
りへの影響なしに所望の中間調を安定して表示すること
ができる。
数で諧調を表示する際には、液晶および配向膜ともに抵
抗値を下げ時定数を小さくする等の手段も実用的である
が、その場合は材料の抵抗値を下げることにより液晶・
配向膜界面でのチャージのやり取りはスムーズになるも
のの、これがドメイン広がりの傾向も増大させる。これ
に対し、前記ピンホール構成によれば、膜厚方向にはチ
ャージ緩和が素早く行なわれるのに対し、ドメイン広が
りへの影響なしに所望の中間調を安定して表示すること
ができる。
【0052】実施例7 図20は本発明の第7の実施例を示す。同図は液晶素子
の1画素の電極界面の断面を示す。この素子は次のよう
にして作成される。まず、ガラス基板23上にITO等
の透明電極22を1000〜1500Å程度の厚さで反
応性スパッタ等により形成し、その上にポリイミドをス
ピナー塗布した後、約150℃でベークし、300〜5
00Åの絶縁膜28を形成する。次に、このポリイミド
膜上にシリコン含有レジスト例えばSNR(商品名:東
洋曹達社製)を、スピナー塗布およびベーク処理するこ
とによって約300〜500Åの厚さに膜形成する。
の1画素の電極界面の断面を示す。この素子は次のよう
にして作成される。まず、ガラス基板23上にITO等
の透明電極22を1000〜1500Å程度の厚さで反
応性スパッタ等により形成し、その上にポリイミドをス
ピナー塗布した後、約150℃でベークし、300〜5
00Åの絶縁膜28を形成する。次に、このポリイミド
膜上にシリコン含有レジスト例えばSNR(商品名:東
洋曹達社製)を、スピナー塗布およびベーク処理するこ
とによって約300〜500Åの厚さに膜形成する。
【0053】次にこのレジストに電子ビーム描写を行い
径0.1〜3μmのスペースパターンを形成する。この
とき、材料によっては基板を例えば100〜350℃に
加熱してもよい。また、電子ビームの代わりにレーザ等
を用いてもよい。あるいは、該ポリイミド上にSiO2
をスパッタ等で300〜500Åの厚さに膜形成し、更
に、SiO2 上にPMMA(ポリメチルメタクリレー
ト)のパターニングを通常のフォトリソ工程によって行
なうことにより、所望のスペースパターンを形成して用
いても良い。
径0.1〜3μmのスペースパターンを形成する。この
とき、材料によっては基板を例えば100〜350℃に
加熱してもよい。また、電子ビームの代わりにレーザ等
を用いてもよい。あるいは、該ポリイミド上にSiO2
をスパッタ等で300〜500Åの厚さに膜形成し、更
に、SiO2 上にPMMA(ポリメチルメタクリレー
ト)のパターニングを通常のフォトリソ工程によって行
なうことにより、所望のスペースパターンを形成して用
いても良い。
【0054】次に、このようにして形成したレジストを
マスクにして、ポリイミドをO2 ガスによってRIE装
置でエッチングする。この後、マスクをエッチングによ
り除去する。これにより、ピンホール26を有する絶縁
膜28が形成される。このエッチングはフッ素系ガス例
えばCF4 +H2 を用いてRIE装置によって行う。あ
るいはフッ酸に浸積して除去しても良い。その後、FL
Cを配向させるために例えばSiO斜方蒸着法により、
カラム29を形成する。上記ピンホールパターンはこの
カラム系より充分大きい。
マスクにして、ポリイミドをO2 ガスによってRIE装
置でエッチングする。この後、マスクをエッチングによ
り除去する。これにより、ピンホール26を有する絶縁
膜28が形成される。このエッチングはフッ素系ガス例
えばCF4 +H2 を用いてRIE装置によって行う。あ
るいはフッ酸に浸積して除去しても良い。その後、FL
Cを配向させるために例えばSiO斜方蒸着法により、
カラム29を形成する。上記ピンホールパターンはこの
カラム系より充分大きい。
【0055】最後に、このように形成した2枚の電極基
板を、カラム面を内側にして向かい合わせ、1〜5μm
程度のギャップを有するセルを形成し液晶を真空注入す
ることにより素子が完成する。
板を、カラム面を内側にして向かい合わせ、1〜5μm
程度のギャップを有するセルを形成し液晶を真空注入す
ることにより素子が完成する。
【0056】以上のような工程を経て形成された、画素
内にピンホール箇所を有する液晶素子を、外部から電圧
を印加して駆動しようとする場合、外部電圧のDC成分
と自発分極に起因するイオン偏在を素早く緩和すること
ができる。
内にピンホール箇所を有する液晶素子を、外部から電圧
を印加して駆動しようとする場合、外部電圧のDC成分
と自発分極に起因するイオン偏在を素早く緩和すること
ができる。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、バ
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜を形成し、この配向膜
およびバッファ層は前記強誘電性液晶と電極間の電荷移
動を可能にする隙間およびピンホールをそれぞれ有する
ようにしたため、あるいは配向膜部分に、液晶部分と電
極間の導通を取るためのピンホールを1画素につき1つ
以上具備するようにしたため、均一なユニフォーム配向
のかつ完全な双安定状態の配向が得られ、外部電圧DC
成分とFLC分子自身が有する自発分極に起因するイオ
ン偏在を素早く緩和することができ、特に、強誘電性液
晶を用いたアクティブマトリクス駆動による諧調表示を
行なう場合に特有の電圧・透過率特性のヒステリシス現
象、不安定性およびフェーディング現象を解消させ、所
望の中間調を安定して得ることができる。
ッファ層を介して斜方蒸着配向膜を形成し、この配向膜
およびバッファ層は前記強誘電性液晶と電極間の電荷移
動を可能にする隙間およびピンホールをそれぞれ有する
ようにしたため、あるいは配向膜部分に、液晶部分と電
極間の導通を取るためのピンホールを1画素につき1つ
以上具備するようにしたため、均一なユニフォーム配向
のかつ完全な双安定状態の配向が得られ、外部電圧DC
成分とFLC分子自身が有する自発分極に起因するイオ
ン偏在を素早く緩和することができ、特に、強誘電性液
晶を用いたアクティブマトリクス駆動による諧調表示を
行なう場合に特有の電圧・透過率特性のヒステリシス現
象、不安定性およびフェーディング現象を解消させ、所
望の中間調を安定して得ることができる。
【0058】また、配向膜部分に、液晶部分と電極間の
導通を取るためのピンホールを1画素につき1つ以上具
備するようにしたため、外部電圧DC成分とFLC分子
自身が有する自発分極に起因するイオン偏在を素早く緩
和することができ、特に高諧調表示を行なう際に液晶の
反応を疎外することなく、所望の中間調を安定して得る
ことができる。
導通を取るためのピンホールを1画素につき1つ以上具
備するようにしたため、外部電圧DC成分とFLC分子
自身が有する自発分極に起因するイオン偏在を素早く緩
和することができ、特に高諧調表示を行なう際に液晶の
反応を疎外することなく、所望の中間調を安定して得る
ことができる。
【図1】 本発明の第1実施例に係る光学変調素子の拡
大断面図である。
大断面図である。
【図2】 本発明の第1の実施例に係る光学変調素子の
基本的な構成を示す断面図である。
基本的な構成を示す断面図である。
【図3】 図1の素子の配向膜を作製する装置の構成図
である。
である。
【図4】 図1の光学変調素子と従来の素子との書込み
電圧・透過率特性を比較して示すグラフである。
電圧・透過率特性を比較して示すグラフである。
【図5】 黒リセット放置時間t1 の変化に対する全白
書込み応答時間t2の変化の様子を示すグラフである。
書込み応答時間t2の変化の様子を示すグラフである。
【図6】 時間経過に伴う相対透過率変化を、第1実施
例の場合、および従来例の場合について示す示すグラフ
である。
例の場合、および従来例の場合について示す示すグラフ
である。
【図7】 一定時間t『黒』放置した後、『白』中間調
書込みをした場合の透過率Tの変化を、第1実施例の場
合および従来例の場合について示すグラフである。
書込みをした場合の透過率Tの変化を、第1実施例の場
合および従来例の場合について示すグラフである。
【図8】 図1の光学変調素子のX線回折パターンのグ
ラフである。
ラフである。
【図9】 図1の光学変調素子の層構造を示す模試的断
面図である。
面図である。
【図10】 従来例に係る液晶素子の説明図である。
【図11】 従来例に係る強誘電性液晶素子を用いてア
クティブマトリクス駆動で諧調表示を行うときの等価回
路図である。
クティブマトリクス駆動で諧調表示を行うときの等価回
路図である。
【図12】 液晶素子における駆動波形とそれによる透
過率変化を示す説明図である。
過率変化を示す説明図である。
【図13】 図10の液晶素子における電圧・透過率特
性曲線のグラフである。
性曲線のグラフである。
【図14】 ヒステリシス現象を定性的に説明するため
の説明図である。
の説明図である。
【図15】 図10の素子における駆動波形を連続印加
した場合の透過率変化を示すグラフである。
した場合の透過率変化を示すグラフである。
【図16】 フェーディング現象を説明するための模試
図である。
図である。
【図17】 本発明に係る液晶素子を概念的に例示する
模試図である。
模試図である。
【図18】 図17の素子における電界による配向の変
化を示す模試図である。
化を示す模試図である。
【図19】 本発明の第6の実施例に係る液晶素子の電
極界面の断面図である。
極界面の断面図である。
【図20】 本発明の第7の実施例に係る液晶素子の電
極界面の断面図である。
極界面の断面図である。
【図21】 他の従来例に係る液晶素子の構成を示す断
面図である。
面図である。
【符号の説明】 9:SiOカラム、23,23a,23b:基板、2
2,22a,22b:電極、20,20a,20b:配
向膜、26:ピンホール、28:絶縁膜、24:FLC
2,22a,22b:電極、20,20a,20b:配
向膜、26:ピンホール、28:絶縁膜、24:FLC
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村上 智子 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内
Claims (14)
- 【請求項1】 強誘電性液晶と、これを挟持する対向基
板と、この対向基板の対向面上に設けられ、強誘電性液
晶に電圧を印加するための電極を有する電圧印加手段と
を備えた液晶光学変調素子において、この電極面上には
バッファ層を介して斜方蒸着配向膜が形成されていると
ともに、この配向膜およびバッファ層は前記強誘電性液
晶と電極間の電荷移動を可能にする隙間およびピンホー
ルをそれぞれ有することを特徴とする液晶光学変調素
子。 - 【請求項2】 前記電圧印加手段は少なくとも、前記強
誘電性液晶に画素単位で電圧を印加するための画素電
極、この画素電極に電圧信号を供給するための信号配
線、この信号配線と画素電極間の接続をオン・オフ制御
するためのアクティブスイッチング素子、およびこのア
クティブスイッチング素子に対し、これをオン・オフ制
御する信号を供給するための走査配線を備え、前記強誘
電性液晶のリセットおよび書込みがともにアクティブマ
トリクス駆動により行われることを特徴とする請求項1
記載の液晶光変調学素子。 - 【請求項3】 前記バッファ層は無機化合物を主成分と
する薄膜であることを特徴とする請求項1記載の液晶光
学変調素子。 - 【請求項4】 前記無機化合物を主成分とする薄膜は、
TiO2-SiOX であり、その膜厚は0.005〜0.
2μmであることを特徴とする請求項3記載の液晶光学
変調素子。 - 【請求項5】 前記膜厚は0.01〜0.05μmであ
ることを特徴とする請求項4記載の液晶光学変調素子。 - 【請求項6】 前記無機化合物を主成分とする薄膜はT
a2 O5 であり、その膜厚は0.005〜0.2μmで
あることを特徴とする請求項3記載の液晶光学変調素
子。 - 【請求項7】 前記膜厚は0.01〜0.05μmであ
ることを特徴とする請求項6記載の液晶光学変調素子。 - 【請求項8】 前記斜方蒸着配向膜の材質は無機酸化物
であることを特徴とする請求項1記載の液晶光学変調素
子。 - 【請求項9】 前記無機酸化物の主成分はSiOである
ことを特徴とする請求項8記載の液晶光学変調素子。 - 【請求項10】 前記斜方蒸着膜のカラム長が0.01
〜0.6μmであることを特徴とする請求項9記載の液
晶光学変調素子。 - 【請求項11】 前記斜方蒸着膜のカラム角度は0〜6
0°であることを特徴とする請求項9記載の液晶光学変
調素子。 - 【請求項12】 前記無機酸化物の材質がZrO2 であ
ることを特徴とする請求項8記載の液晶光学変調素子。 - 【請求項13】 前記無機酸化物の材質がTiO2 であ
ることを特徴とする請求項8記載の液晶光学変調素子。 - 【請求項14】 基板と、該基板上に設けた電極と、該
電極上に設けた配向膜とをそれぞれ対向面上に有する一
対の対向する電極基板、およびその間に封入された液晶
を備えた液晶光学変調素子において、該配向膜部分に、
該液晶部分と電極間の導通を取るためのピンホールを1
画素につき1つ以上具備することを特徴とする液晶光学
変調素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9230392A JPH05265002A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 液晶光学変調素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9230392A JPH05265002A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 液晶光学変調素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05265002A true JPH05265002A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=14050648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9230392A Pending JPH05265002A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 液晶光学変調素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05265002A (ja) |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP9230392A patent/JPH05265002A/ja active Pending
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