JPH0526543Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0526543Y2 JPH0526543Y2 JP1987063678U JP6367887U JPH0526543Y2 JP H0526543 Y2 JPH0526543 Y2 JP H0526543Y2 JP 1987063678 U JP1987063678 U JP 1987063678U JP 6367887 U JP6367887 U JP 6367887U JP H0526543 Y2 JPH0526543 Y2 JP H0526543Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- base
- outer diameter
- semiconductors
- socket
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この考案は、半導体を試験する場合に、試験装
置に半導体を順次送り込むために使用する半導体
キヤリアについてのものである。
置に半導体を順次送り込むために使用する半導体
キヤリアについてのものである。
[従来の技術]
次に、半導体キヤリアの使用状態を第2図によ
り説明する。第2図の1はソケツト、5は半導
体、7はベース、9aはマガジン、9bは試験装
置である。ソケツト1とベース7で半導体キヤリ
アを構成する。
り説明する。第2図の1はソケツト、5は半導
体、7はベース、9aはマガジン、9bは試験装
置である。ソケツト1とベース7で半導体キヤリ
アを構成する。
マガジン9aは試験装置9bに接続されてお
り、マガジン9aの端部9cには半導体キヤリア
が順次搬入され、半導体5を試験装置9b側に送
り出していく。
り、マガジン9aの端部9cには半導体キヤリア
が順次搬入され、半導体5を試験装置9b側に送
り出していく。
次に、半導体キヤリアに半導体を装着した状態
の断面図を第3図と第4図により説明する。半導
体5を半導体キヤリアに装着するときは、半導体
5のリード5aをソケツト1の穴1aに入れる。
半導体5が位置ずれしないようにするためには、
ベース7の凹部に半導体5のつば5bがぴつたり
入るようにする。
の断面図を第3図と第4図により説明する。半導
体5を半導体キヤリアに装着するときは、半導体
5のリード5aをソケツト1の穴1aに入れる。
半導体5が位置ずれしないようにするためには、
ベース7の凹部に半導体5のつば5bがぴつたり
入るようにする。
[考案が解決しようとする課題]
第3図の半導体4の外径のほうが第4図の半導
体6の外径よりも大きい。このように、半導体の
外径が異なる場合、その半導体に合う凹部をもつ
たベースが必要になる。この考案は、外径が異な
る半導体ごとにアダプタを用意し、ベースを共用
する半導体キヤリアの提供を目的とする。
体6の外径よりも大きい。このように、半導体の
外径が異なる場合、その半導体に合う凹部をもつ
たベースが必要になる。この考案は、外径が異な
る半導体ごとにアダプタを用意し、ベースを共用
する半導体キヤリアの提供を目的とする。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するため、この考案では、外径
の異なる複数の半導体のリード用の穴1aをもつ
ソケツト1と、前記半導体のうち、最も外径の大
きい半導体の外径L1よりも大きい内径L2の凹
部2aをもつベース2と、前記外径の異なる半導
体の外径にそれぞれ合う穴をもち、外径はL2で
あり、前記凹部2aに装着される複数のアダプタ
3とを備え、ソケツト1にベース2を固定し、ソ
ケツト1の穴1aに前記半導体のリードを挿入
し、前記半導体の外径に合う穴をもつアダプタ3
を前記半導体にかぶせる。
の異なる複数の半導体のリード用の穴1aをもつ
ソケツト1と、前記半導体のうち、最も外径の大
きい半導体の外径L1よりも大きい内径L2の凹
部2aをもつベース2と、前記外径の異なる半導
体の外径にそれぞれ合う穴をもち、外径はL2で
あり、前記凹部2aに装着される複数のアダプタ
3とを備え、ソケツト1にベース2を固定し、ソ
ケツト1の穴1aに前記半導体のリードを挿入
し、前記半導体の外径に合う穴をもつアダプタ3
を前記半導体にかぶせる。
[作用]
次に、この考案による半導体キヤリアの構成を
第1図により説明する。第1図の1はソケツト、
2はベース、3はアダプタ、4は半導体である。
ソケツト1とベース2で半導体キヤリアを構成す
る。
第1図により説明する。第1図の1はソケツト、
2はベース、3はアダプタ、4は半導体である。
ソケツト1とベース2で半導体キヤリアを構成す
る。
ソケツト1には、外径の異なる複数の半導体の
リード用の穴1aをもち、ベース2には、半導体
のうち、最も外径の大きい半導体の外径L1より
も大きい内径L2の凹部2aを設ける。また、外
径の異なる半導体の外径にそれぞれ合う穴をも
ち、外径はL2であり、ベース2の凹部2aに装
着される複数のアダプタ3を用意する。
リード用の穴1aをもち、ベース2には、半導体
のうち、最も外径の大きい半導体の外径L1より
も大きい内径L2の凹部2aを設ける。また、外
径の異なる半導体の外径にそれぞれ合う穴をも
ち、外径はL2であり、ベース2の凹部2aに装
着される複数のアダプタ3を用意する。
次に、半導体とアダプタの関係を第5図により
説明する。第5図には、半導体5の外径に合う穴
をもつアダプタ3aと、半導体6の外径に合う穴
をもつアダプタ3bが示されている。
説明する。第5図には、半導体5の外径に合う穴
をもつアダプタ3aと、半導体6の外径に合う穴
をもつアダプタ3bが示されている。
次に、第1図の組立断面図を第6図により説明
する。第6図では、ソケツト1にベース2を固定
し、ソケツト1の穴1aに半導体4のリードを挿
入する。そして、半導体4の外径に合う穴をもつ
アダプタ3をかぶせることにより、半導体4をベ
ース2に固定する。
する。第6図では、ソケツト1にベース2を固定
し、ソケツト1の穴1aに半導体4のリードを挿
入する。そして、半導体4の外径に合う穴をもつ
アダプタ3をかぶせることにより、半導体4をベ
ース2に固定する。
第7図は第6図の半導体キヤリアの実装構成図
の一例である。第7図では、アダプタ3を半導体
4にかぶせ、半導体4を押え板11で押え、押え
板固定用つまみ12で押え板11を固定する。
の一例である。第7図では、アダプタ3を半導体
4にかぶせ、半導体4を押え板11で押え、押え
板固定用つまみ12で押え板11を固定する。
[考案の効果]
この考案によれば、半導体の外径が異なる場合
でも、半導体の外径に合う穴をもつ複数のアダプ
タを用意するので、共通のベースに半導体を装着
することができる。
でも、半導体の外径に合う穴をもつ複数のアダプ
タを用意するので、共通のベースに半導体を装着
することができる。
第1図はこの考案による半導体キヤリアの構成
図、第2図は半導体キヤリアの使用状態説明図、
第3図と第4図は従来技術による半導体キヤリア
の構成図、第5図は半導体とアダプタの関係説明
図、第6図は第1図の組立断面図、第7図は第6
図の半導体キヤリアの実装構成図の一例を示す図
である。 1……ソケツト、2……ベース、3……アダプ
タ、4〜6……半導体、7……ベース、8……ベ
ース、9a……マガジン、9b……試験装置、9
c……端部。
図、第2図は半導体キヤリアの使用状態説明図、
第3図と第4図は従来技術による半導体キヤリア
の構成図、第5図は半導体とアダプタの関係説明
図、第6図は第1図の組立断面図、第7図は第6
図の半導体キヤリアの実装構成図の一例を示す図
である。 1……ソケツト、2……ベース、3……アダプ
タ、4〜6……半導体、7……ベース、8……ベ
ース、9a……マガジン、9b……試験装置、9
c……端部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 外径の異なる複数の半導体のリード用の第1の
穴1aをもつソケツト1と、 前記半導体のうち、最も外径の大きい半導体の
外径L1よりも大きい内径L2の凹部2aをもつ
ベース2と、 前記外径の異なる半導体の外径にそれぞれ合う
第2の穴をもち、外径のL2であり、前記凹部2
aに装着される複数のアダプタ3とを備え、 ソケツト1にベース2を固定し、ソケツト1の
穴1aに前記半導体のリードを挿入し、前記半導
体の外径に合う第2の穴をもつアダプタ3を前記
半導体にかぶせることを特徴とする半導体キヤリ
ア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987063678U JPH0526543Y2 (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987063678U JPH0526543Y2 (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63170779U JPS63170779U (ja) | 1988-11-07 |
| JPH0526543Y2 true JPH0526543Y2 (ja) | 1993-07-05 |
Family
ID=30899128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987063678U Expired - Lifetime JPH0526543Y2 (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0526543Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4822592U (ja) * | 1971-07-21 | 1973-03-14 | ||
| JPS57560A (en) * | 1980-05-31 | 1982-01-05 | Nippon Denpa Kk | Tester for electric apparatus having connecting pin |
| JPS6276274A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | 日本電気株式会社 | Icソケツト |
-
1987
- 1987-04-27 JP JP1987063678U patent/JPH0526543Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63170779U (ja) | 1988-11-07 |
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