JPH0526739A - 多点温度測定回路 - Google Patents
多点温度測定回路Info
- Publication number
- JPH0526739A JPH0526739A JP20146991A JP20146991A JPH0526739A JP H0526739 A JPH0526739 A JP H0526739A JP 20146991 A JP20146991 A JP 20146991A JP 20146991 A JP20146991 A JP 20146991A JP H0526739 A JPH0526739 A JP H0526739A
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- JP
- Japan
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- electric wire
- diode
- wires
- horizontal
- vertical
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- Pending
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ダイオ−ドを用いて多点温度測定をする場合
に、配線数が少なくてすむ多点温度測定回路を提供す
る。 【構成】 複数本の縦電線１と横電線２を格子状に配線
し、両電線の交点の近くの縦電線１に複数の温度測定用
ダイオード３の一端を、同交点の近くの横電線２に夫々
のダイオード３の他端を接続し、縦電線１と横電線２の
夫々の一端に同縦電線１、横電線２へ電気信号を切替え
供給するマルチプレクサ４を設けた。
に、配線数が少なくてすむ多点温度測定回路を提供す
る。 【構成】 複数本の縦電線１と横電線２を格子状に配線
し、両電線の交点の近くの縦電線１に複数の温度測定用
ダイオード３の一端を、同交点の近くの横電線２に夫々
のダイオード３の他端を接続し、縦電線１と横電線２の
夫々の一端に同縦電線１、横電線２へ電気信号を切替え
供給するマルチプレクサ４を設けた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は多数のダイオ−ドを用い
た多点温度測定回路に関するものである。
た多点温度測定回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ダイオ−ドには温度に応じて電圧降下が
変化する性質がある。従来はその性質を利用してダイオ
ードを温度計測に使用していた。
変化する性質がある。従来はその性質を利用してダイオ
ードを温度計測に使用していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この場合、１個のダイ
オードで１箇所の温度測定しかできないため、測定する
箇所（測定点）が多い場合にはその数だけダイオードが
必要になる。しかも夫々のダイオードには電流を印加す
るための２本の電線が必要になる。このためダイオード
によりＮ点の温度を測定する場合は−極側を共通電極に
しても（Ｎ＋１）本という数の電線が必要となるという
問題点があった。
オードで１箇所の温度測定しかできないため、測定する
箇所（測定点）が多い場合にはその数だけダイオードが
必要になる。しかも夫々のダイオードには電流を印加す
るための２本の電線が必要になる。このためダイオード
によりＮ点の温度を測定する場合は−極側を共通電極に
しても（Ｎ＋１）本という数の電線が必要となるという
問題点があった。
【０００４】
【目的】本発明の目的は、ダイオ−ドを用いても配線数
が少なくてすむ多点温度測定回路を実現することにあ
る。
が少なくてすむ多点温度測定回路を実現することにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の多点温度測定回
路は、複数本の縦電線１と横電線２を格子状に配線し、
両電線１、２の夫々の交点の近くの縦電線１に複数の温
度測定用ダイオード３の一端を、夫々の交点の近くの横
電線２に夫々のダイオード３の他端を接続し、縦電線１
と横電線２の夫々の一端に夫々の縦電線１、横電線２へ
電気信号を切替え供給するマルチプレクサ４ａ、４ｂを
設けたものである。
路は、複数本の縦電線１と横電線２を格子状に配線し、
両電線１、２の夫々の交点の近くの縦電線１に複数の温
度測定用ダイオード３の一端を、夫々の交点の近くの横
電線２に夫々のダイオード３の他端を接続し、縦電線１
と横電線２の夫々の一端に夫々の縦電線１、横電線２へ
電気信号を切替え供給するマルチプレクサ４ａ、４ｂを
設けたものである。
【０００６】
【作用】本発明の多点温度測定回路では、図１の定電流
電源５からの電流を、マルチプレクサ４ａ、４ｂを介し
てダイオード３に印加すると、両マルチプレクサ４ａ、
４ｂに接続されている縦電線１と横電線２の交点におけ
るダイオード３（図１では３ｘ）に電流が流れる。その
とき、そのダイオード３ｘはそれが設置されている箇所
の温度に応じた電圧降下を生じるので、この電圧を電圧
計６で測定することにより同ダイオード３が設置されて
いる箇所（測定点）の温度を測定することができる。
電源５からの電流を、マルチプレクサ４ａ、４ｂを介し
てダイオード３に印加すると、両マルチプレクサ４ａ、
４ｂに接続されている縦電線１と横電線２の交点におけ
るダイオード３（図１では３ｘ）に電流が流れる。その
とき、そのダイオード３ｘはそれが設置されている箇所
の温度に応じた電圧降下を生じるので、この電圧を電圧
計６で測定することにより同ダイオード３が設置されて
いる箇所（測定点）の温度を測定することができる。
【０００７】
【実施例】本発明の多点温度測定回路の一実施例として
１６箇所の測定点の温度を測定する場合の回路構成につ
いて図１に基づいて説明する。図１において３は温度測
定用のダイオードであり、これらは＋極側のマルチプレ
クサ４ａから分岐された４本の縦電線１ａ，１ｂ，１
ｃ，１ｄと、−極側のマルチプレクサ４ｂから分岐され
た４本の横電線２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄの１６交点に配
置され、夫々のダイオ−ド３の＋極側の一端７が縦線
に、−極側の一端８が横線に夫々接続されている。＋極
側のマルチプレクサ４ａ及び−極側のマルチプレクサ４
ｂは、マルチプレクサ制御回路９からの指令信号に応じ
て可動接点が所定の縦電線１ｃ、横電線２ｃを選択し、
選択された縦電線１ｃと横電線２ｃに、定電流電源５か
らの電流を供給するものである。選択された縦電線１
ｃ、横電線２ｃの交点に接続されているダイオード３
（温度に応じて電圧降下を生じている）を電圧計６で測
定できるようにしてある。本実施例の場合、図１から明
らかなように、１６個のダイオード３に電流を印加する
のに必要とする縦電線１と横電線２の数は８本であり、
マルチプレクサを用いない従来の回路では最低限１７本
の電線が必要であったのに比べて大幅に電線数が減少す
る。
１６箇所の測定点の温度を測定する場合の回路構成につ
いて図１に基づいて説明する。図１において３は温度測
定用のダイオードであり、これらは＋極側のマルチプレ
クサ４ａから分岐された４本の縦電線１ａ，１ｂ，１
ｃ，１ｄと、−極側のマルチプレクサ４ｂから分岐され
た４本の横電線２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄの１６交点に配
置され、夫々のダイオ−ド３の＋極側の一端７が縦線
に、−極側の一端８が横線に夫々接続されている。＋極
側のマルチプレクサ４ａ及び−極側のマルチプレクサ４
ｂは、マルチプレクサ制御回路９からの指令信号に応じ
て可動接点が所定の縦電線１ｃ、横電線２ｃを選択し、
選択された縦電線１ｃと横電線２ｃに、定電流電源５か
らの電流を供給するものである。選択された縦電線１
ｃ、横電線２ｃの交点に接続されているダイオード３
（温度に応じて電圧降下を生じている）を電圧計６で測
定できるようにしてある。本実施例の場合、図１から明
らかなように、１６個のダイオード３に電流を印加する
のに必要とする縦電線１と横電線２の数は８本であり、
マルチプレクサを用いない従来の回路では最低限１７本
の電線が必要であったのに比べて大幅に電線数が減少す
る。
【０００８】
【発明の効果】本発明の多点温度測定回路は、多くの測
定点で温度測定を行う場合でも電線数Ｈは、測定点の総
数ＮとしてＨ＝２×Ｎ1/2 ＋２（この２本は定電流電源
５と２台のマルチプレクサとの間を結ぶ配線と、マルチ
プレクサ間を結ぶ２本）になる。ただしＨが整数以外の
場合は小数点第１桁を切り上げる。従来最低でも（Ｎ＋
１）本必要であったのに比べて大幅に低減できるという
効果がある。
定点で温度測定を行う場合でも電線数Ｈは、測定点の総
数ＮとしてＨ＝２×Ｎ1/2 ＋２（この２本は定電流電源
５と２台のマルチプレクサとの間を結ぶ配線と、マルチ
プレクサ間を結ぶ２本）になる。ただしＨが整数以外の
場合は小数点第１桁を切り上げる。従来最低でも（Ｎ＋
１）本必要であったのに比べて大幅に低減できるという
効果がある。
【図１】本発明の多点温度測定用回路の一実施例を示す
回路図。
回路図。
１ 縦電線 ２ 横電線 ３ ダイオード ４ マルチプレクサ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 複数本の縦電線１と横電線２を格子状に
配線し、両電線１、２の夫々の交点の近くの縦電線１に
複数の温度測定用ダイオード３の一端を、夫々の交点の
近くの横電線２に夫々のダイオード３の他端を接続し、
縦電線１と横電線２の夫々の一端に夫々の縦電線１、横
電線２へ電気信号を切替え供給するマルチプレクサ４
ａ、４ｂを設けたことを特徴とする多点温度測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20146991A JPH0526739A (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 多点温度測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20146991A JPH0526739A (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 多点温度測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0526739A true JPH0526739A (ja) | 1993-02-02 |
Family
ID=16441603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20146991A Pending JPH0526739A (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 多点温度測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0526739A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006019578A1 (de) * | 2006-04-27 | 2007-10-31 | Abb Patent Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Gas oder Lufttemperatur in einem Gehäuse |
| DE102009012500A1 (de) | 2009-03-12 | 2010-09-23 | Högenauer-Lego, Martin | Wärmestrommessgerät umfassend Dioden |
| JP2011237410A (ja) * | 2010-05-03 | 2011-11-24 | Sharp Corp | 温度センサアレイ回路用のアレイ素子、該アレイ素子を用いた温度センサアレイ回路、および、該温度センサアレイ回路を含むａｍ−ｅｗｏｄ装置 |
| DE102014016068A1 (de) * | 2014-10-27 | 2016-04-28 | Bartec Gmbh | Einrichtung zur Überwachung der Temperatur von elektrischen/elektronischen Bauteilen im Ex-Bereich |
| EP4180781A1 (en) | 2021-11-16 | 2023-05-17 | Samsung SDI Co., Ltd. | A temperature measurement arrangement for a battery system and a temperature measurement method |
| US20230155201A1 (en) * | 2021-11-16 | 2023-05-18 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Temperature measurement arrangement for a battery system, a battery system, an electric vehicle, and a temperature measurement method |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP20146991A patent/JPH0526739A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006019578A1 (de) * | 2006-04-27 | 2007-10-31 | Abb Patent Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Gas oder Lufttemperatur in einem Gehäuse |
| US8262285B2 (en) | 2006-04-27 | 2012-09-11 | Abb Ag | Device for measuring gas or air temperature in a casing box |
| DE102009012500A1 (de) | 2009-03-12 | 2010-09-23 | Högenauer-Lego, Martin | Wärmestrommessgerät umfassend Dioden |
| DE102009012500B4 (de) * | 2009-03-12 | 2011-12-01 | Martin Högenauer-Lego | Wärmestromsensormatrix und Vorrichtung zum flächenhaften Heizen und/oder Kühlen |
| JP2011237410A (ja) * | 2010-05-03 | 2011-11-24 | Sharp Corp | 温度センサアレイ回路用のアレイ素子、該アレイ素子を用いた温度センサアレイ回路、および、該温度センサアレイ回路を含むａｍ−ｅｗｏｄ装置 |
| DE102014016068A1 (de) * | 2014-10-27 | 2016-04-28 | Bartec Gmbh | Einrichtung zur Überwachung der Temperatur von elektrischen/elektronischen Bauteilen im Ex-Bereich |
| EP4180781A1 (en) | 2021-11-16 | 2023-05-17 | Samsung SDI Co., Ltd. | A temperature measurement arrangement for a battery system and a temperature measurement method |
| US20230155201A1 (en) * | 2021-11-16 | 2023-05-18 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Temperature measurement arrangement for a battery system, a battery system, an electric vehicle, and a temperature measurement method |
| CN116136434A (zh) * | 2021-11-16 | 2023-05-19 | 三星Sdi株式会社 | 温度测量装置、电池系统、电动车辆和温度测量方法 |
| KR20230071686A (ko) * | 2021-11-16 | 2023-05-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 배터리 시스템의 온도 측정 장치, 배터리 시스템, 전기 차량, 및 온도 측정 방법 |
| US12548812B2 (en) | 2021-11-16 | 2026-02-10 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Temperature measurement arrangement for a battery system, a battery system, an electric vehicle, and a temperature measurement method |
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