JPH0526869B2 - - Google Patents
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- JPH0526869B2 JPH0526869B2 JP15769686A JP15769686A JPH0526869B2 JP H0526869 B2 JPH0526869 B2 JP H0526869B2 JP 15769686 A JP15769686 A JP 15769686A JP 15769686 A JP15769686 A JP 15769686A JP H0526869 B2 JPH0526869 B2 JP H0526869B2
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- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims description 13
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 claims description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 13
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 5
- -1 saturated fatty acid hydrocarbon Chemical class 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N trimethyl(1,1,2,2,2-pentafluoroethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C(F)(F)C(F)(F)F MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QPUYECUOLPXSFR-UHFFFAOYSA-N 1-methylnaphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(C)=CC=CC2=C1 QPUYECUOLPXSFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RRHGJUQNOFWUDK-UHFFFAOYSA-N Isoprene Chemical compound CC(=C)C=C RRHGJUQNOFWUDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 2
- NXHILIPIEUBEPD-UHFFFAOYSA-H tungsten hexafluoride Chemical compound F[W](F)(F)(F)(F)F NXHILIPIEUBEPD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 2
- WSWMGHRLUYADNA-UHFFFAOYSA-N 7-nitro-1,2,3,4-tetrahydroquinoline Chemical compound C1CCNC2=CC([N+](=O)[O-])=CC=C21 WSWMGHRLUYADNA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021552 Vanadium(IV) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMUYRIFFZDBSE-UHFFFAOYSA-H chromium hexafluoride Chemical compound F[Cr](F)(F)(F)(F)F ZLMUYRIFFZDBSE-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 229910021567 chromium(VI) fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- PRVOBRCYHYXCMU-UHFFFAOYSA-H hexafluorotechnetium Chemical compound F[Tc](F)(F)(F)(F)F PRVOBRCYHYXCMU-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000021122 unsaturated fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 1
- JTJFQBNJBPPZRI-UHFFFAOYSA-J vanadium tetrachloride Chemical compound Cl[V](Cl)(Cl)Cl JTJFQBNJBPPZRI-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は遷移金属炭化物膜の製法に関する。
(従来の技術)
一般に炭化物は高硬度で耐摩耗性、耐食性に富
み、金属あるいは金属合金材料等の被覆膜として
広く利用されている。
み、金属あるいは金属合金材料等の被覆膜として
広く利用されている。
このような炭化物の被覆膜、特に金属炭化物の
被膜は、通常炭素源としてメタン、プロパンで代
表される飽和脂肪酸炭化水素と金属源として四塩
化チタン、六フツ化タングステン等の化合物を用
い、化学気相成長法(CVD法)によつて行なわ
れている。
被膜は、通常炭素源としてメタン、プロパンで代
表される飽和脂肪酸炭化水素と金属源として四塩
化チタン、六フツ化タングステン等の化合物を用
い、化学気相成長法(CVD法)によつて行なわ
れている。
しかしながら、上記の被覆法では、使用される
原料ガスの熱分解温度が高く、例えば1000℃を越
す温度で処理しなければならず、基材となる金属
母材の性能の低下を招く。
原料ガスの熱分解温度が高く、例えば1000℃を越
す温度で処理しなければならず、基材となる金属
母材の性能の低下を招く。
基材の温度を上げずに処理する方法、例えばイ
オンプレーテイング法、スパツタリング法等も考
えられているが、これらはいずれも物理的な付着
を用いたもので、基材と被覆層との間の強度が極
めて小さく、被膜として適当ではない。また、被
膜自体の結晶性も殆んどなく、硬度、耐食性等が
劣る。
オンプレーテイング法、スパツタリング法等も考
えられているが、これらはいずれも物理的な付着
を用いたもので、基材と被覆層との間の強度が極
めて小さく、被膜として適当ではない。また、被
膜自体の結晶性も殆んどなく、硬度、耐食性等が
劣る。
(発明の目的)
本発明は、上記従来の方法に鑑みてなされたも
ので、熱分解CVD(化学気相成長)法により、
1000℃以下の比較的低温で、結晶性の優れた炭化
物膜を基材上に形成する技術を提供することを目
的とする。
ので、熱分解CVD(化学気相成長)法により、
1000℃以下の比較的低温で、結晶性の優れた炭化
物膜を基材上に形成する技術を提供することを目
的とする。
(発明の内容)
即ち、本発明は不飽和基含有炭化水素化合物お
よび遷移金属ハロゲン化物の蒸気を同時に導入
し、600〜1000℃で加熱分解して基材上に遷移金
属炭化物膜を形成することを特徴とする遷移金属
炭化物膜の製法を提供する。
よび遷移金属ハロゲン化物の蒸気を同時に導入
し、600〜1000℃で加熱分解して基材上に遷移金
属炭化物膜を形成することを特徴とする遷移金属
炭化物膜の製法を提供する。
本発明は、遷移金属炭化物を合成するため、不
飽和基含有炭化水素化合物と遷移金属ハロゲン化
物の同時熱分解法を利用し、熱分解温度の低い炭
化水素化合物を用いることにより、600〜1000℃
の低温で結晶性の優れた炭化物膜を形成すること
が可能で、従来の実用上処理温度の下限を400℃
以上低下させることができる。
飽和基含有炭化水素化合物と遷移金属ハロゲン化
物の同時熱分解法を利用し、熱分解温度の低い炭
化水素化合物を用いることにより、600〜1000℃
の低温で結晶性の優れた炭化物膜を形成すること
が可能で、従来の実用上処理温度の下限を400℃
以上低下させることができる。
本発明に用いる不飽和基含有炭化水素化合物
は、芳香族炭化水素、例えばベンゼン、トルエ
ン、キシレン、ナフタレン、α−メチルナフタレ
ン等;不飽和脂肪酸炭化水素、例えばエチレン、
プロピレン、ブチレン、2−ブチン、アセチレン
等;ジエン系化合物、例えばブタジエン、イソプ
レン等;またはこれらのハロゲン置換体、例えば
p−クロロベンゼン、1,2−ジクロロエチレ
ン、1,2−ジブロモエチレン等が挙げられる。
は、芳香族炭化水素、例えばベンゼン、トルエ
ン、キシレン、ナフタレン、α−メチルナフタレ
ン等;不飽和脂肪酸炭化水素、例えばエチレン、
プロピレン、ブチレン、2−ブチン、アセチレン
等;ジエン系化合物、例えばブタジエン、イソプ
レン等;またはこれらのハロゲン置換体、例えば
p−クロロベンゼン、1,2−ジクロロエチレ
ン、1,2−ジブロモエチレン等が挙げられる。
遷移金属のハロゲン化物の例としては、四塩化
チタン、四塩化バナジウム、六フツ化クロム、六
フツ化タングステン、六フツ化モリブデンまたは
六フツ化テクネチウム等が挙げられる。
チタン、四塩化バナジウム、六フツ化クロム、六
フツ化タングステン、六フツ化モリブデンまたは
六フツ化テクネチウム等が挙げられる。
本発明の遷移金属炭化物膜の製法を図面および
実施例に基づいて説明する。
実施例に基づいて説明する。
(実施例)
第1図は本発明の実施例の説明に供する炭化物
生成装置のブロツク構成図である。
生成装置のブロツク構成図である。
上記の2種の原料ガスをキヤリヤガスで希釈し
て石英反応管4に導入する。石英反応管4への原
料供給方法は常圧バブラー法または減圧法を用い
る。いずれの方法でも後述する様にそれぞれの原
料の供給量を制御することにより、結晶性の優れ
た炭化物が得られる。常圧バブラー法では、キヤ
リヤガスとして水素またはアルゴンガスを使用す
る。第1図は常圧バブラー法を利用した装置構成
を示しているが、この装置で減圧CVD法を利用
することもできる。この場合には、炭化物の膜厚
を常圧バブラー法に比べてより均一に実現するこ
とが可能である。
て石英反応管4に導入する。石英反応管4への原
料供給方法は常圧バブラー法または減圧法を用い
る。いずれの方法でも後述する様にそれぞれの原
料の供給量を制御することにより、結晶性の優れ
た炭化物が得られる。常圧バブラー法では、キヤ
リヤガスとして水素またはアルゴンガスを使用す
る。第1図は常圧バブラー法を利用した装置構成
を示しているが、この装置で減圧CVD法を利用
することもできる。この場合には、炭化物の膜厚
を常圧バブラー法に比べてより均一に実現するこ
とが可能である。
原料の供給量は、使用する不飽和基含有炭化水
素化合物及び遷移金属ハロゲン化物の種類に強く
依存するが、炭化水素化合物の濃度は反応温度が
高い程少なくすることが望ましい。例えばベンゼ
ンと四塩化チタンを用いた場合、ベンゼンの濃度
は反応温度によつて下記に調整するのが効果的で
ある。
素化合物及び遷移金属ハロゲン化物の種類に強く
依存するが、炭化水素化合物の濃度は反応温度が
高い程少なくすることが望ましい。例えばベンゼ
ンと四塩化チタンを用いた場合、ベンゼンの濃度
は反応温度によつて下記に調整するのが効果的で
ある。
四塩化チタン1容(ガス)に対して、ベンゼン
は800〜900℃で10〜20容、900〜1000度では5〜
10容である。この濃度比以上に供給量を設定する
と、得られる炭化チタンの表面凹凸が激しくなり
スーチング発生する。
は800〜900℃で10〜20容、900〜1000度では5〜
10容である。この濃度比以上に供給量を設定する
と、得られる炭化チタンの表面凹凸が激しくなり
スーチング発生する。
真空蒸留による精製操作を行つたベンゼンおよ
び四塩化チタンが収納されたバブル容器1および
1′内にアルゴンガス制御系2よりアルゴンガス
を供給してベンセンおよび四塩化チタンを夫々独
立にバブルさせ、パイレツクスガラス管3を介し
て石英反応管4へベンセン分子および四塩化チタ
ン分子を同時に給送する。この際、バブル容器
1,1′内の液体ベンゼンおよび液体四塩化チタ
ンの温度を一定に保持してアルゴンガス流量をバ
ルブ5で夫々独立に調節し、ベンゼン分子および
四塩化チタン分子の反応管4内への供給量を夫々
一定制御する。一方、希釈ライン9よりアルゴン
を流し、反応管4へ給送されるベンゼン分子と四
塩化チタン混合ガスの数密度および流速を最適化
する。反応管4には成長用基板の載置された試料
台7が設置されており、反応管4の外周囲には加
熱炉8が設けられている。この加熱炉8によつて
反応管4内の成長用基板は1000℃以下の比較的低
温度に保持されている。
び四塩化チタンが収納されたバブル容器1および
1′内にアルゴンガス制御系2よりアルゴンガス
を供給してベンセンおよび四塩化チタンを夫々独
立にバブルさせ、パイレツクスガラス管3を介し
て石英反応管4へベンセン分子および四塩化チタ
ン分子を同時に給送する。この際、バブル容器
1,1′内の液体ベンゼンおよび液体四塩化チタ
ンの温度を一定に保持してアルゴンガス流量をバ
ルブ5で夫々独立に調節し、ベンゼン分子および
四塩化チタン分子の反応管4内への供給量を夫々
一定制御する。一方、希釈ライン9よりアルゴン
を流し、反応管4へ給送されるベンゼン分子と四
塩化チタン混合ガスの数密度および流速を最適化
する。反応管4には成長用基板の載置された試料
台7が設置されており、反応管4の外周囲には加
熱炉8が設けられている。この加熱炉8によつて
反応管4内の成長用基板は1000℃以下の比較的低
温度に保持されている。
反応管4内に導入されたベンゼンと四塩化チタ
ンの混合ガスは、1000℃以下の温度に加熱されて
それぞれのガスは同時に熱分解される。この際、
熱分解により生じたチタンと炭素原子は反応し
て、より自由エネルギーの低い炭化チタンを生成
する。
ンの混合ガスは、1000℃以下の温度に加熱されて
それぞれのガスは同時に熱分解される。この際、
熱分解により生じたチタンと炭素原子は反応し
て、より自由エネルギーの低い炭化チタンを生成
する。
得られる炭化チタン薄膜はX線マイクロアナラ
イザーによる元素分析の結果、化学量論組成であ
ることが確かめられた。また、高速反射電子線回
折の結果、900〜1000℃の反応温度では、ベンゼ
ンの四塩化チタンに対する濃度比が5〜10の範囲
で多結晶から単結晶に移行することが確認され
た。
イザーによる元素分析の結果、化学量論組成であ
ることが確かめられた。また、高速反射電子線回
折の結果、900〜1000℃の反応温度では、ベンゼ
ンの四塩化チタンに対する濃度比が5〜10の範囲
で多結晶から単結晶に移行することが確認され
た。
なお、炭化物を形成する遷移金属ハロゲン化物
としては、四塩化チタン以外に他の低融点のハロ
ゲン化物を使用しても同様の結果が得られ、ま
た、ベンゼン以外の他の炭化水素化合物との組み
合わせも可能である。
としては、四塩化チタン以外に他の低融点のハロ
ゲン化物を使用しても同様の結果が得られ、ま
た、ベンゼン以外の他の炭化水素化合物との組み
合わせも可能である。
(発明の効果)
以上の如く、本発明に係る炭化物合成法によれ
ば、熱分解CVD法を用いて、従来より低い反応
温度で合成することが可能で、その結果、基板と
なる母材の性能を損なうことなく、結晶性の優れ
た炭化物膜を形成することができる。
ば、熱分解CVD法を用いて、従来より低い反応
温度で合成することが可能で、その結果、基板と
なる母材の性能を損なうことなく、結晶性の優れ
た炭化物膜を形成することができる。
第1図は本発明の実施例の説明に供する炭化物
生成装置のブロツク構成図である。 1,1′……バブル容器、2……アルゴンガス
制御系、3……ガラス管、4……反応管、6,9
……希釈ライン、7……試料台、8……加熱炉。
生成装置のブロツク構成図である。 1,1′……バブル容器、2……アルゴンガス
制御系、3……ガラス管、4……反応管、6,9
……希釈ライン、7……試料台、8……加熱炉。
Claims (1)
- 1 不飽和基含有炭化水素化合物および遷移金属
ハロゲン化物の蒸気を同時に導入し、600〜1000
℃で加熱分解して基材上に遷移金属炭化物膜を形
成することを特徴とする遷移金属炭化物膜の製
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15769686A JPS6314871A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 遷移金属炭化物膜の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15769686A JPS6314871A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 遷移金属炭化物膜の製法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6314871A JPS6314871A (ja) | 1988-01-22 |
| JPH0526869B2 true JPH0526869B2 (ja) | 1993-04-19 |
Family
ID=15655383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15769686A Granted JPS6314871A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 遷移金属炭化物膜の製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6314871A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2748881B2 (ja) * | 1995-02-03 | 1998-05-13 | 日本電気株式会社 | 半導体製造装置および製造方法 |
-
1986
- 1986-07-03 JP JP15769686A patent/JPS6314871A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6314871A (ja) | 1988-01-22 |
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