JPH05271968A - プラズマエッチング装置 - Google Patents
プラズマエッチング装置Info
- Publication number
- JPH05271968A JPH05271968A JP4064989A JP6498992A JPH05271968A JP H05271968 A JPH05271968 A JP H05271968A JP 4064989 A JP4064989 A JP 4064989A JP 6498992 A JP6498992 A JP 6498992A JP H05271968 A JPH05271968 A JP H05271968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- cathode electrode
- field generating
- generating coil
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 カソード電極上で大きな磁束密度を得るよう
にしたプラズマエッチング装置を提供する。 【構成】 高周波電源9から被エッチング物5を載置し
たカソード電極4に高周波電力を供給し、カソード電極
4とアノード電極8との間での放電によりプラズマを発
生させ、かつそのイオンをカソード電極4に向けて加速
させて被エッチング物5に射突させる。電源20〜23
とコイル16〜19によりカソード電極4の近傍を磁力
線が通るように磁場を発生させ、かつコイル16〜19
のうち、カソード電極4に対向する面以外の面の少なく
とも一部分を強磁性体24,25で覆ってコイル間や同
一コイルの対向側を磁気シールドして磁場が打ち消し合
うのを防いで、カソード電極4上での磁束密度を増大さ
せる。
にしたプラズマエッチング装置を提供する。 【構成】 高周波電源9から被エッチング物5を載置し
たカソード電極4に高周波電力を供給し、カソード電極
4とアノード電極8との間での放電によりプラズマを発
生させ、かつそのイオンをカソード電極4に向けて加速
させて被エッチング物5に射突させる。電源20〜23
とコイル16〜19によりカソード電極4の近傍を磁力
線が通るように磁場を発生させ、かつコイル16〜19
のうち、カソード電極4に対向する面以外の面の少なく
とも一部分を強磁性体24,25で覆ってコイル間や同
一コイルの対向側を磁気シールドして磁場が打ち消し合
うのを防いで、カソード電極4上での磁束密度を増大さ
せる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造工程
等において微細加工用に使用されるプラズマエッチング
装置に関するものである。
等において微細加工用に使用されるプラズマエッチング
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置製造プロセスにおける微細加
工工程においては、反応性ガスの高周波グロー放電を利
用したプラズマエッチング法が主に用いられている。特
に、加工寸法や加工形状の精密な制御が必要な加工にお
いては、高周波を印加したカソード電極上に加工試料、
たとえば半導体ウエハを載置して、カソード電極が負電
圧にバイアスされることにより生じる電極面に垂直な方
向の加速イオンにより方向性エッチングを行うことので
きるリアクティブイオンエッチング法(Reactiv
e Ion Etching:RIE)が主流となって
いる。
工工程においては、反応性ガスの高周波グロー放電を利
用したプラズマエッチング法が主に用いられている。特
に、加工寸法や加工形状の精密な制御が必要な加工にお
いては、高周波を印加したカソード電極上に加工試料、
たとえば半導体ウエハを載置して、カソード電極が負電
圧にバイアスされることにより生じる電極面に垂直な方
向の加速イオンにより方向性エッチングを行うことので
きるリアクティブイオンエッチング法(Reactiv
e Ion Etching:RIE)が主流となって
いる。
【0003】このRIE法では、エッチングの特性は気
相中で生じるラジカルの種類や量、および被エッチング
物の載置されたカソード電極に入射するイオンのエネル
ギーや密度によって変化する。しかし、通常の条件では
加工速度は高々数10nm/min.程度であるから、
さらにエッチング速度を増加させるためには、高周波電
力を増加させることが考えられる。
相中で生じるラジカルの種類や量、および被エッチング
物の載置されたカソード電極に入射するイオンのエネル
ギーや密度によって変化する。しかし、通常の条件では
加工速度は高々数10nm/min.程度であるから、
さらにエッチング速度を増加させるためには、高周波電
力を増加させることが考えられる。
【0004】しかし、その場合には、ラジカルの量やイ
オン電流密度が増加するだけでなく、イオンエネエルギ
ーも増加するので、エッチングのマスクや下地に対する
選択性を低下させ、しかもまた半導体の結晶に損傷を与
える等の問題を生じた。従って、処理速度の増加のため
には同時に多数枚の半導体ウエハを処理できる大型の装
置が必要であった。
オン電流密度が増加するだけでなく、イオンエネエルギ
ーも増加するので、エッチングのマスクや下地に対する
選択性を低下させ、しかもまた半導体の結晶に損傷を与
える等の問題を生じた。従って、処理速度の増加のため
には同時に多数枚の半導体ウエハを処理できる大型の装
置が必要であった。
【0005】また、RIE法では微細化が進むにつれカ
ソード電極上のイオンシース内での加速イオンと中性ガ
スとの衝突によって生じた方向の乱れたイオンによる加
工形状の乱れが問題となってきた。
ソード電極上のイオンシース内での加速イオンと中性ガ
スとの衝突によって生じた方向の乱れたイオンによる加
工形状の乱れが問題となってきた。
【0006】これらの問題の解決のために、プラズマ発
生のための高周波電界と組み合せて磁場を印加し、それ
らの相互作用によって処理速度を向上させる、いわゆる
マグネトロン型のエッチング装置が提案されている。W
alter H.Classらによる米国特許第4,4
22,896号にそのような装置の一例が示されてい
る。あるいはまた、岡野晴雄らによる特開昭57−15
9026号にも、このような装置が示されている。
生のための高周波電界と組み合せて磁場を印加し、それ
らの相互作用によって処理速度を向上させる、いわゆる
マグネトロン型のエッチング装置が提案されている。W
alter H.Classらによる米国特許第4,4
22,896号にそのような装置の一例が示されてい
る。あるいはまた、岡野晴雄らによる特開昭57−15
9026号にも、このような装置が示されている。
【0007】これらの装置では、高周波電界と垂直な方
向に磁場を印加することにより電子は電界および磁界に
垂直な方向にドリフトし、その結果、ガスとの衝突が活
発化して放電のプラズマ密度が増加する。そして、これ
はカソード電極上の加工試料に入射するイオン電流密度
を増加させるため、従来のRIE装置に比べ10倍程度
のエッチング速度の増加が見られる。従って、装置は基
本的に1枚処理としても十分な処理速度が得られるの
で、装置を小型化できる。
向に磁場を印加することにより電子は電界および磁界に
垂直な方向にドリフトし、その結果、ガスとの衝突が活
発化して放電のプラズマ密度が増加する。そして、これ
はカソード電極上の加工試料に入射するイオン電流密度
を増加させるため、従来のRIE装置に比べ10倍程度
のエッチング速度の増加が見られる。従って、装置は基
本的に1枚処理としても十分な処理速度が得られるの
で、装置を小型化できる。
【0008】あるいはまた、磁場印加手段としてコイル
を用いたものも知られている。論文金京植他「SiO2
の高速エッチング」、第7回ドライプロセスシンポジウ
ム、95頁(1985)にその例が示されている。オー
エン ウィルキンソンによる特開昭63−17530号
にも、コイルによるマグネトロン型の装置が示されてい
る。
を用いたものも知られている。論文金京植他「SiO2
の高速エッチング」、第7回ドライプロセスシンポジウ
ム、95頁(1985)にその例が示されている。オー
エン ウィルキンソンによる特開昭63−17530号
にも、コイルによるマグネトロン型の装置が示されてい
る。
【0009】しかし、コイルや永久磁石を物理的に動か
したり、コイルに流す電流を時間的に変動させるといっ
た、磁場の時間的に変動を伴う各種のマグネトロンエッ
チング装置では、高周波電界の時間的変化に比べ磁界の
変化が非常に遅いため、磁界の変動にともない放電状態
が変化し、これがイオンのエネルギーや方向性に変動を
与え、素子ダメージや加工形状劣化をもたらしていた。
したり、コイルに流す電流を時間的に変動させるといっ
た、磁場の時間的に変動を伴う各種のマグネトロンエッ
チング装置では、高周波電界の時間的変化に比べ磁界の
変化が非常に遅いため、磁界の変動にともない放電状態
が変化し、これがイオンのエネルギーや方向性に変動を
与え、素子ダメージや加工形状劣化をもたらしていた。
【0010】その解決のために、佐藤らによる特開平2
−224239号においては、被エッチング物を置いた
第1のカソード電極と前記第1のカソード電極の周囲を
囲む環状の第2のカソード電極と前記第1のカソード電
極に対向して設けられ、かつ接地されたアノード電極
と、ガス放電によるプラズマを発生させ、上記カソード
電極側にイオンを加速させるためそれぞれのカソード電
極に接続した高周波電源と、磁力線が前記第1のカソー
ド電極近傍と前記第2のカソード電極近傍を通るような
磁場を印加する磁場印加手段を具備する3極型プラズマ
エッチング装置が開示された。
−224239号においては、被エッチング物を置いた
第1のカソード電極と前記第1のカソード電極の周囲を
囲む環状の第2のカソード電極と前記第1のカソード電
極に対向して設けられ、かつ接地されたアノード電極
と、ガス放電によるプラズマを発生させ、上記カソード
電極側にイオンを加速させるためそれぞれのカソード電
極に接続した高周波電源と、磁力線が前記第1のカソー
ド電極近傍と前記第2のカソード電極近傍を通るような
磁場を印加する磁場印加手段を具備する3極型プラズマ
エッチング装置が開示された。
【0011】この種の従来装置として4組のコイルを用
いた例を図4に示す。
いた例を図4に示す。
【0012】図4において、1は真空チャンバ、2は真
空チャンバ1に接続された真空ポンプ、3は真空チャン
バ1に接続されたガス導入系、4は真空チャンバ1内に
設けられた第1のカソード電極、5は第1のカソード電
極4上に載置された被エッチング物、6は真空チャンバ
1内に設けられた第2のカソード電極、7は第1のカソ
ード電極4を真空チャンバ1から電気的に絶縁するため
の絶縁物、8は第1のカソード電極4に対向して設けら
れたアノード電極である。
空チャンバ1に接続された真空ポンプ、3は真空チャン
バ1に接続されたガス導入系、4は真空チャンバ1内に
設けられた第1のカソード電極、5は第1のカソード電
極4上に載置された被エッチング物、6は真空チャンバ
1内に設けられた第2のカソード電極、7は第1のカソ
ード電極4を真空チャンバ1から電気的に絶縁するため
の絶縁物、8は第1のカソード電極4に対向して設けら
れたアノード電極である。
【0013】9および10は第1および第2のカソード
電極4および6にそれぞれ高周波電力を供給するための
高周波増幅器、11は第1のカソード電極4と第2のカ
ソード電極6に供給される高周波電力の間の位相差を変
化させるための位相制御器、12は高周波増幅器9およ
び10に共通に高周波を供給するための発振器、14お
よび15は第1および第2のカソード電極4および6と
高周波増幅器9および10の間をそれぞれ直流的に絶縁
するためのブロッキングコンデンサである。
電極4および6にそれぞれ高周波電力を供給するための
高周波増幅器、11は第1のカソード電極4と第2のカ
ソード電極6に供給される高周波電力の間の位相差を変
化させるための位相制御器、12は高周波増幅器9およ
び10に共通に高周波を供給するための発振器、14お
よび15は第1および第2のカソード電極4および6と
高周波増幅器9および10の間をそれぞれ直流的に絶縁
するためのブロッキングコンデンサである。
【0014】16は第1のカソード電極4の近傍のアノ
ード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コ
イル、17は第1の磁場発生用コイル16の周囲に設け
られ、この第1の磁場発生用コイル16より直径の大き
い第2の磁場発生用コイル、18は第2のカソード電極
6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生用コイル、
19は第2のカソード電極6の外側の周囲に設けられた
第4の磁場発生用コイルである。
ード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コ
イル、17は第1の磁場発生用コイル16の周囲に設け
られ、この第1の磁場発生用コイル16より直径の大き
い第2の磁場発生用コイル、18は第2のカソード電極
6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生用コイル、
19は第2のカソード電極6の外側の周囲に設けられた
第4の磁場発生用コイルである。
【0015】20,21,22および23は磁場発生用
コイル16,17,18および19に直流電流をそれぞ
れ供給するためのコイル用電源であり、磁場発生用コイ
ル16,17,18および19と、コイル用電源20,
21,22および23とで磁場印加手段を構成してい
る。この場合、前記磁場発生用コイル16と磁場発生用
コイル19には同一方向の電流を流し、前記磁場発生用
コイル17と磁場発生用コイル18にはコイル16およ
び17とは逆向きの電流を流す。
コイル16,17,18および19に直流電流をそれぞ
れ供給するためのコイル用電源であり、磁場発生用コイ
ル16,17,18および19と、コイル用電源20,
21,22および23とで磁場印加手段を構成してい
る。この場合、前記磁場発生用コイル16と磁場発生用
コイル19には同一方向の電流を流し、前記磁場発生用
コイル17と磁場発生用コイル18にはコイル16およ
び17とは逆向きの電流を流す。
【0016】この装置の中でも、図4に示した磁場印加
手段、すなわち、前記第1のカソード電極4の近傍のア
ノード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用
コイル16と、この第1の磁場発生用コイル16の周囲
に設けられ、この第1の磁場発生用コイル16より直径
の大きい第2の磁場発生用コイル17と、前記第2のカ
ソード電極6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生
用コイル18と、前記第2のカソード電極6の外側の周
囲に設けられた第4の磁場発生用コイル19とを有し、
前記第1の磁場発生用コイル16と前記第4の磁場発生
用コイル19には同一方向の電流を流し、前記第2の磁
場発生用コイル17と前記第3の磁場発生用コイル18
には前記第1および第4のコイル16および19とは逆
向きの電流を流すコイル用電源20,21,22および
23を有するものを用いた装置では、各コイル16〜1
9への電流を最適化することにより磁束線の向きを第1
のカソード電極4に対しても第2のカソード電極6に対
してもほぼ平行にできるので、プラズマの閉じ込め効果
が最適になり、高いエッチレートと高均一性を得ること
ができる。しかもまた、静止した磁場を用いているの
で、プラズマを時間的に乱すことがなく、エッチングに
よる素子ダメージや加工形状劣化を起こしにくい特徴が
ある。
手段、すなわち、前記第1のカソード電極4の近傍のア
ノード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用
コイル16と、この第1の磁場発生用コイル16の周囲
に設けられ、この第1の磁場発生用コイル16より直径
の大きい第2の磁場発生用コイル17と、前記第2のカ
ソード電極6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生
用コイル18と、前記第2のカソード電極6の外側の周
囲に設けられた第4の磁場発生用コイル19とを有し、
前記第1の磁場発生用コイル16と前記第4の磁場発生
用コイル19には同一方向の電流を流し、前記第2の磁
場発生用コイル17と前記第3の磁場発生用コイル18
には前記第1および第4のコイル16および19とは逆
向きの電流を流すコイル用電源20,21,22および
23を有するものを用いた装置では、各コイル16〜1
9への電流を最適化することにより磁束線の向きを第1
のカソード電極4に対しても第2のカソード電極6に対
してもほぼ平行にできるので、プラズマの閉じ込め効果
が最適になり、高いエッチレートと高均一性を得ること
ができる。しかもまた、静止した磁場を用いているの
で、プラズマを時間的に乱すことがなく、エッチングに
よる素子ダメージや加工形状劣化を起こしにくい特徴が
ある。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この装置で
は、それぞれの第1のコイルに流した電流が第2および
第3のコイルで発生した磁場を打ち消す方向に働き、第
2のコイルに流した電流が第1および第4のコイルに流
した電流を打ち消すというように、それぞれのコイルの
電流が他のコイルの磁場を弱める方向に働くので、カソ
ード電極上で大きな磁束密度を得るにはコイルに流す電
流を非常に大きくする必要があった。
は、それぞれの第1のコイルに流した電流が第2および
第3のコイルで発生した磁場を打ち消す方向に働き、第
2のコイルに流した電流が第1および第4のコイルに流
した電流を打ち消すというように、それぞれのコイルの
電流が他のコイルの磁場を弱める方向に働くので、カソ
ード電極上で大きな磁束密度を得るにはコイルに流す電
流を非常に大きくする必要があった。
【0018】しかし、装置の物理的な大きさの制約や、
コイル電流によるコイルの過熱防止の冷却効率などから
コイル電流には制限があり、実際にはあまり大きな磁束
密度は得られなかった。また、コイルで発生した磁束が
広範囲にわたって広がるため、実際の装置にこのような
コイルを導入した場合、周囲の電子機器に影響を与える
ことがあった。
コイル電流によるコイルの過熱防止の冷却効率などから
コイル電流には制限があり、実際にはあまり大きな磁束
密度は得られなかった。また、コイルで発生した磁束が
広範囲にわたって広がるため、実際の装置にこのような
コイルを導入した場合、周囲の電子機器に影響を与える
ことがあった。
【0019】本発明は上述の課題を解決するためになさ
れたもので、カソード電極上で大きな磁束密度を得るこ
とにより、処理速度を増大でき、しかもまたイオン入射
方向の乱れを確実に抑制することができ、しかも、イオ
ンエネルギーの時間変動をなくしイオンエネルギーを低
下して被エッチング物の損傷が少く、さらに周囲に磁束
の漏れの影響を極力与えないプラズマエッチング装置を
提供することを目的とする。
れたもので、カソード電極上で大きな磁束密度を得るこ
とにより、処理速度を増大でき、しかもまたイオン入射
方向の乱れを確実に抑制することができ、しかも、イオ
ンエネルギーの時間変動をなくしイオンエネルギーを低
下して被エッチング物の損傷が少く、さらに周囲に磁束
の漏れの影響を極力与えないプラズマエッチング装置を
提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明においては、前記磁場印加手段の磁場発生用
コイルの第1のカソード電極に対向する面以外の面の少
なくとも一部分を強磁性体で覆う。
め、本発明においては、前記磁場印加手段の磁場発生用
コイルの第1のカソード電極に対向する面以外の面の少
なくとも一部分を強磁性体で覆う。
【0021】すなわち、請求項1記載の発明は、被エッ
チング物を載置したカソード電極と、該カソード電極に
対向して設けられ、かつ接地されたアノード電極と、ガ
ス放電によるプラズマを発生させ、前記カソード電極の
側にイオンを加速させるために前記カソード電極に接続
した高周波電源と、磁力線が前記カソード電極の近傍を
通るような磁場を印加する磁場印加手段とを具備したプ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段の周
囲の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成したこと
を特徴とする。
チング物を載置したカソード電極と、該カソード電極に
対向して設けられ、かつ接地されたアノード電極と、ガ
ス放電によるプラズマを発生させ、前記カソード電極の
側にイオンを加速させるために前記カソード電極に接続
した高周波電源と、磁力線が前記カソード電極の近傍を
通るような磁場を印加する磁場印加手段とを具備したプ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段の周
囲の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成したこと
を特徴とする。
【0022】請求項2記載の発明は、被エッチング物を
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の前記第2のカソード電極が存
在する側とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コイ
ルと、前記第2のカソード電極の前記第1のカソード電
極が存在する側とは反対側に設けられた第2の磁場発生
用コイルと、前記第1および第2の磁場発生用コイルに
逆向きの電流を流すコイル用電源とを具え、前記第1お
よび第2の磁場発生用コイルの前記第1のカソード電極
に対向する面以外の面の少なくとも一部分を強磁性体で
覆って構成したことを特徴とする。
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の前記第2のカソード電極が存
在する側とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コイ
ルと、前記第2のカソード電極の前記第1のカソード電
極が存在する側とは反対側に設けられた第2の磁場発生
用コイルと、前記第1および第2の磁場発生用コイルに
逆向きの電流を流すコイル用電源とを具え、前記第1お
よび第2の磁場発生用コイルの前記第1のカソード電極
に対向する面以外の面の少なくとも一部分を強磁性体で
覆って構成したことを特徴とする。
【0023】請求項3記載の発明は、被エッチング物を
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の近傍のアノード電極とは反対
側に設けられた第1の磁場発生用コイルと、前記第2の
カソード電極の内側の周囲に設けられた第2の磁場発生
用コイルと、前記第2のカソード電極の外側の周囲に設
けられた第3の磁場発生用コイルと、前記第1の磁場発
生用コイルと前記第3の磁場発生用コイルには同一方向
の電流を流し、前記第2の磁場発生用コイルには前記第
1および第3のコイルとは逆向きの電流を流すコイル用
電源とを具え、前記第1,第2および第3の磁場発生用
コイルの前記第1のカソード電極に対向する面以外の面
の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成したことを
特徴とする。
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の近傍のアノード電極とは反対
側に設けられた第1の磁場発生用コイルと、前記第2の
カソード電極の内側の周囲に設けられた第2の磁場発生
用コイルと、前記第2のカソード電極の外側の周囲に設
けられた第3の磁場発生用コイルと、前記第1の磁場発
生用コイルと前記第3の磁場発生用コイルには同一方向
の電流を流し、前記第2の磁場発生用コイルには前記第
1および第3のコイルとは逆向きの電流を流すコイル用
電源とを具え、前記第1,第2および第3の磁場発生用
コイルの前記第1のカソード電極に対向する面以外の面
の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成したことを
特徴とする。
【0024】請求項4記載の発明は、被エッチング物を
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の近傍のアノード電極とは反対
側に設けられた第1の磁場発生用コイルと、前記第1の
磁場発生用コイルの周囲に設けられ、前記第1の磁場発
生用コイルより直径の大きい第2の磁場発生用コイル
と、前記第2のカソード電極の内側の周囲に設けられた
第3の磁場発生用コイルと、前記第2のカソード電極の
外側の周囲に設けられた第4の磁場発生用コイルと、前
記第1の磁場発生用コイルと前記第4の磁場発生用コイ
ルには同一方向の電流を流し、前記第2の磁場発生用コ
イルと前記第3の磁場発生用コイルには前記第1および
第4の磁場発生用コイルとは逆向きの電流を流すコイル
用電源とを具え、前記第1,第2,第3および第4の磁
場発生用コイルの前記第1のカソード電極に対向する面
以外の面の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成し
たことを特徴とする。
載置した第1のカソード電極と、前記第1のカソード電
極の周囲を囲む環状の第2のカソード電極と、前記第1
のカソード電極に対向して設けられ、かつ接地されたア
ノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生させ、前
記カソード電極の側にイオンを加速させるために、前記
第1および第2のカソード電極の各々に接続した第1お
よび第2の高周波電源と、磁力線が前記第1のカソード
電極の近傍と前記第2のカソード電極の近傍とを通るよ
うな磁場を印加する磁場印加手段とを具備した3極型プ
ラズマエッチング装置において、前記磁場印加手段は、
前記第1のカソード電極の近傍のアノード電極とは反対
側に設けられた第1の磁場発生用コイルと、前記第1の
磁場発生用コイルの周囲に設けられ、前記第1の磁場発
生用コイルより直径の大きい第2の磁場発生用コイル
と、前記第2のカソード電極の内側の周囲に設けられた
第3の磁場発生用コイルと、前記第2のカソード電極の
外側の周囲に設けられた第4の磁場発生用コイルと、前
記第1の磁場発生用コイルと前記第4の磁場発生用コイ
ルには同一方向の電流を流し、前記第2の磁場発生用コ
イルと前記第3の磁場発生用コイルには前記第1および
第4の磁場発生用コイルとは逆向きの電流を流すコイル
用電源とを具え、前記第1,第2,第3および第4の磁
場発生用コイルの前記第1のカソード電極に対向する面
以外の面の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成し
たことを特徴とする。
【0025】
【作用】本発明では、コイルとコイルの間、コイルの第
1のカソードに面している側とは反対の側、コイルの内
側、およびコイルの外側に強磁性体を配置されることに
より、コイル間や同一コイルの対向側が磁気シールドさ
れ、磁場が打ち消しあうのを防ぐことができるので、第
1のカソード電極上での磁束密度を大きくできる。従っ
て、本発明によれば、コイルに流す電流を増加しなくて
も必要な強度の磁場を得ることができ、エッチング装置
内のプラズマ密度を大きく増加でき、以て、エッチング
速度を増加でき、しかもまたエッチングの方向性を改善
できる。さらに加えて、本発明によれば、装置の上部,
下部,周辺に漏れる磁場を低減できるので、周辺の電子
機器に与える影響を大きく低減できる。
1のカソードに面している側とは反対の側、コイルの内
側、およびコイルの外側に強磁性体を配置されることに
より、コイル間や同一コイルの対向側が磁気シールドさ
れ、磁場が打ち消しあうのを防ぐことができるので、第
1のカソード電極上での磁束密度を大きくできる。従っ
て、本発明によれば、コイルに流す電流を増加しなくて
も必要な強度の磁場を得ることができ、エッチング装置
内のプラズマ密度を大きく増加でき、以て、エッチング
速度を増加でき、しかもまたエッチングの方向性を改善
できる。さらに加えて、本発明によれば、装置の上部,
下部,周辺に漏れる磁場を低減できるので、周辺の電子
機器に与える影響を大きく低減できる。
【0026】
【実施例】以下に、図面を参照して本発明の実施例を詳
細に説明する。
細に説明する。
【0027】図1は、4組のコイルを用いた場合の本発
明の一実施例であり、ここで、1は真空チャンバ、2は
真空チャンバ1に接続された真空ポンプ、3は真空チャ
ンバ1に接続されたガス導入系、4は真空チャンバ1内
に設けられた第1のカソード電極、5は第1のカソード
電極4上に載置された被エッチング物、6は真空チャン
バ1内に設けられた第2のカソード電極、7は第1のカ
ソード電極4を真空チャンバ1から電気的に絶縁するた
めの絶縁物、8は第1のカソード電極4に対向して設け
られたアノード電極である。
明の一実施例であり、ここで、1は真空チャンバ、2は
真空チャンバ1に接続された真空ポンプ、3は真空チャ
ンバ1に接続されたガス導入系、4は真空チャンバ1内
に設けられた第1のカソード電極、5は第1のカソード
電極4上に載置された被エッチング物、6は真空チャン
バ1内に設けられた第2のカソード電極、7は第1のカ
ソード電極4を真空チャンバ1から電気的に絶縁するた
めの絶縁物、8は第1のカソード電極4に対向して設け
られたアノード電極である。
【0028】9および10は第1および第2のカソード
電極4および6にそれぞれ高周波電力を供給するための
高周波増幅器、11は第1のカソード電極4と第2のカ
ソード電極6に供給される高周波電力の間の位相差を変
化させるための位相制御器、12は高周波増幅器9およ
び10に共通に高周波を供給するための発振器、14お
よび15は第1および第2のカソード電極4および6と
高周波増幅器9および10の間をそれぞれ直流的に絶縁
するためのブロッキングコンデンサである。
電極4および6にそれぞれ高周波電力を供給するための
高周波増幅器、11は第1のカソード電極4と第2のカ
ソード電極6に供給される高周波電力の間の位相差を変
化させるための位相制御器、12は高周波増幅器9およ
び10に共通に高周波を供給するための発振器、14お
よび15は第1および第2のカソード電極4および6と
高周波増幅器9および10の間をそれぞれ直流的に絶縁
するためのブロッキングコンデンサである。
【0029】16は第1のカソード電極4の近傍のアノ
ード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コ
イル、17は第1の磁場発生用コイル16の周囲に設け
られ、この第1の磁場発生用コイル16より直径の大き
い第2の磁場発生用コイル、18は第2のカソード電極
6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生用コイル、
19は第2のカソード電極6の外側の周囲に設けられた
第4の磁場発生用コイルである。
ード電極8とは反対側に設けられた第1の磁場発生用コ
イル、17は第1の磁場発生用コイル16の周囲に設け
られ、この第1の磁場発生用コイル16より直径の大き
い第2の磁場発生用コイル、18は第2のカソード電極
6の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生用コイル、
19は第2のカソード電極6の外側の周囲に設けられた
第4の磁場発生用コイルである。
【0030】20,21,22および23は磁場発生用
コイル16,17,18および19に直流電流をそれぞ
れ供給するためのコイル用電源であり、磁場発生用コイ
ル16,17,18および19と、コイル用電源20,
21,22および23とで磁場印加手段を構成してい
る。この場合、前記磁場発生用コイル16と磁場発生用
コイル19には同一方向の電流を流し、前記磁場発生用
コイル17と磁場発生用コイル18にはコイル16およ
び17とは逆向きの電流を流す。この磁場印加手段のコ
イルの周りの少なくとも一部分を、本発明においては、
符号24および25で示す強磁性体で覆う。この強磁性
体としては、できるだけ飽和磁束密度の大きい材料が好
適である。ここでは、珪素鋼を用いた。
コイル16,17,18および19に直流電流をそれぞ
れ供給するためのコイル用電源であり、磁場発生用コイ
ル16,17,18および19と、コイル用電源20,
21,22および23とで磁場印加手段を構成してい
る。この場合、前記磁場発生用コイル16と磁場発生用
コイル19には同一方向の電流を流し、前記磁場発生用
コイル17と磁場発生用コイル18にはコイル16およ
び17とは逆向きの電流を流す。この磁場印加手段のコ
イルの周りの少なくとも一部分を、本発明においては、
符号24および25で示す強磁性体で覆う。この強磁性
体としては、できるだけ飽和磁束密度の大きい材料が好
適である。ここでは、珪素鋼を用いた。
【0031】この種の装置で高磁束密度を得るにはコイ
ルに流す電流を増加させればよいが、電流によりコイル
が過熱するため冷却の必要がある。この冷却には効率の
点で限度があり、本実施例の装置では12000ATが
限度であった。従って、強磁性体で覆わなかった場合に
は、ピークの磁束密度を120GAUSSにするのが限
度であったが、本発明では、強磁性体24および25の
覆いを設けることによりこれを260GAUSSまで高
めることができた。
ルに流す電流を増加させればよいが、電流によりコイル
が過熱するため冷却の必要がある。この冷却には効率の
点で限度があり、本実施例の装置では12000ATが
限度であった。従って、強磁性体で覆わなかった場合に
は、ピークの磁束密度を120GAUSSにするのが限
度であったが、本発明では、強磁性体24および25の
覆いを設けることによりこれを260GAUSSまで高
めることができた。
【0032】図2は、強磁性体24および25でコイル
16〜19を覆う3例を示す。ここで、(a)は強磁性
体24および25を第1コイル16と第2コイル17と
の間、および第3コイル18と第4コイル19との間に
配置し、さらにコイル16〜19の第1のカソード電極
4に面した側とは反対の側をも強磁性体24および25
で覆った例を示す。(b)はさらにコイル16〜19の
外周をも強磁性体24および25で覆った例を示す。
(c)はさらにコイル16〜19の内周をも強磁性体2
4および25で覆った例である。
16〜19を覆う3例を示す。ここで、(a)は強磁性
体24および25を第1コイル16と第2コイル17と
の間、および第3コイル18と第4コイル19との間に
配置し、さらにコイル16〜19の第1のカソード電極
4に面した側とは反対の側をも強磁性体24および25
で覆った例を示す。(b)はさらにコイル16〜19の
外周をも強磁性体24および25で覆った例を示す。
(c)はさらにコイル16〜19の内周をも強磁性体2
4および25で覆った例である。
【0033】図3にこれら強磁性体24および25によ
る覆いを入れたときの第1のカソード電極4上での磁束
密度の軸方向変化を示す。同時に強磁性体24および2
5による覆いを入れない従来の装置の例も対比して破線
で示す。このとき、第1のコイル16と第3のコイル1
8に流す電流はそれぞれ10000ATと−10000
ATで一定とし、第2のコイル16と第4のコイル19
に流す電流は磁束密度が第1のカソード電極4上でゼロ
になる場所の軸中心からの距離が一定になるように調節
した。
る覆いを入れたときの第1のカソード電極4上での磁束
密度の軸方向変化を示す。同時に強磁性体24および2
5による覆いを入れない従来の装置の例も対比して破線
で示す。このとき、第1のコイル16と第3のコイル1
8に流す電流はそれぞれ10000ATと−10000
ATで一定とし、第2のコイル16と第4のコイル19
に流す電流は磁束密度が第1のカソード電極4上でゼロ
になる場所の軸中心からの距離が一定になるように調節
した。
【0034】この例を見ると、図2における(a)と
(b)の例では従来の1.6倍の磁束密度が得られてお
り、(c)の例では同一電流で2.7倍もの磁束密度が
得られている。また、周辺に漏れる磁場の磁束密度は第
1カソード電極4上での磁場が強くなった割りには増加
しておらず、特に(a)と(b)を比べると、外周を覆
った(b)の方が外側への漏れ磁束が小さいことが分か
る。また、これらの例では、いずれの場合にも、コイル
16〜19の第1のカソード電極4に面した側とは反対
の側も覆っているため、磁束がエッチングチャンバの上
下方向に漏れるのが従来に比べ大幅に防止されることも
他の測定から分かった。
(b)の例では従来の1.6倍の磁束密度が得られてお
り、(c)の例では同一電流で2.7倍もの磁束密度が
得られている。また、周辺に漏れる磁場の磁束密度は第
1カソード電極4上での磁場が強くなった割りには増加
しておらず、特に(a)と(b)を比べると、外周を覆
った(b)の方が外側への漏れ磁束が小さいことが分か
る。また、これらの例では、いずれの場合にも、コイル
16〜19の第1のカソード電極4に面した側とは反対
の側も覆っているため、磁束がエッチングチャンバの上
下方向に漏れるのが従来に比べ大幅に防止されることも
他の測定から分かった。
【0035】さらに、本発明の装置を実際のアルミニウ
ム電極のエッチングに適用したところ、図3に示した
(c)の例の磁束分布の場合に、セルフバイアス電圧を
従来200Vであったのを150Vに低下でき、それに
ともない被エッチング物に衝突するイオンのエネルギー
を低下させることができた。このことは発生したプラズ
マの密度を30%程度増加できたことになる。アルミニ
ウムのエッチングレートも従来350nm/分であった
のを400nm/分に増加できた。このときレジストの
エッチレートは従来100nm/分であったのが、セル
フバイアス電圧の低下により80nm/分に低下させる
ことができ、従って、選択比を3.5倍から5倍に増加
させることができた。
ム電極のエッチングに適用したところ、図3に示した
(c)の例の磁束分布の場合に、セルフバイアス電圧を
従来200Vであったのを150Vに低下でき、それに
ともない被エッチング物に衝突するイオンのエネルギー
を低下させることができた。このことは発生したプラズ
マの密度を30%程度増加できたことになる。アルミニ
ウムのエッチングレートも従来350nm/分であった
のを400nm/分に増加できた。このときレジストの
エッチレートは従来100nm/分であったのが、セル
フバイアス電圧の低下により80nm/分に低下させる
ことができ、従って、選択比を3.5倍から5倍に増加
させることができた。
【0036】この実施例では、コイルを4組使った場合
を述べたが、コイルを3組あるいは2組とした場合であ
っても同様に強磁性体の覆いの効果があることは、原理
上明白である。磁場の発生手段がコイルでなく、例えば
永久磁石のようなときにも、本発明の強磁性体の覆いは
非常に効果があることが確かめられている。さらに加え
て、本実施例では、3極型のプラズマエッチング装置に
ついて述べたが、本発明は3極型に限らず、カソードを
1つしか有しない2極型のプラズマエッチング装置でも
全く同様の効果がある。
を述べたが、コイルを3組あるいは2組とした場合であ
っても同様に強磁性体の覆いの効果があることは、原理
上明白である。磁場の発生手段がコイルでなく、例えば
永久磁石のようなときにも、本発明の強磁性体の覆いは
非常に効果があることが確かめられている。さらに加え
て、本実施例では、3極型のプラズマエッチング装置に
ついて述べたが、本発明は3極型に限らず、カソードを
1つしか有しない2極型のプラズマエッチング装置でも
全く同様の効果がある。
【0037】このように、本発明に係るプラズマエッチ
ング装置を半導体装置の製造プロセスに用いると、高い
スループットでエッチングが可能となり、しかも半導体
装置の損傷を低減することができるので、半導体の製造
原価を減少できるとともに、半導体装置の性能を飛躍的
に向上させることができる。
ング装置を半導体装置の製造プロセスに用いると、高い
スループットでエッチングが可能となり、しかも半導体
装置の損傷を低減することができるので、半導体の製造
原価を減少できるとともに、半導体装置の性能を飛躍的
に向上させることができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
磁場印加手段の周囲の一部を強磁性体で覆わなかった従
来装置に比べ、エッチングに影響するカソード電極上で
の磁束密度を大幅に増加できる。従って、エッチングに
寄与するプラズマ密度を増加させることができ、その結
果、被エッチング物に衝突するイオンエネルギーを低下
できる。したがって、本発明によれば、従来に比べ低損
傷で高いスループットを有するエッチング装置を提供す
ることができる。
磁場印加手段の周囲の一部を強磁性体で覆わなかった従
来装置に比べ、エッチングに影響するカソード電極上で
の磁束密度を大幅に増加できる。従って、エッチングに
寄与するプラズマ密度を増加させることができ、その結
果、被エッチング物に衝突するイオンエネルギーを低下
できる。したがって、本発明によれば、従来に比べ低損
傷で高いスループットを有するエッチング装置を提供す
ることができる。
【図1】本発明に係るプラズマエッチング装置の一実施
例を示す概略構成図である。
例を示す概略構成図である。
【図2】本発明における強磁性体によるコイルの覆いの
3例を示す説明図である。
3例を示す説明図である。
【図3】図2に示した覆いを用いたときの第1のカソー
ド電極上での磁束密度の軸中心からの距離依存性を示す
特性図である。
ド電極上での磁束密度の軸中心からの距離依存性を示す
特性図である。
【図4】従来のプラズマエッチング装置の一例を示す概
略構成図である。
略構成図である。
1 真空チャンバ 2 真空ポンプ 3 ガス導入系 4 第1のカソード電極 5 被エッチング物 6 第2のカソード電極 7 絶縁物 8 アノード電極 9 高周波増幅器 10 高周波増幅器 11 位相制御器 12 発振器 14 ブロッキングコンデンサ 15 ブロッキングコンデンサ 16 第1の磁場発生用コイル 17 第2の磁場発生用コイル 18 第3の磁場発生用コイル 19 第4の磁場発生用コイル 20 第1の磁場発生用コイル用電源 21 第2の磁場発生用コイル用電源 22 第3の磁場発生用コイル用電源 23 第4の磁場発生用コイル用電源 24 強磁性体 25 強磁性体
フロントページの続き (72)発明者 佐久間 春信 東京都港区虎ノ門2丁目3番13号 国際電 気株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 被エッチング物を載置したカソード電極
と、該カソード電極に対向して設けられ、かつ接地され
たアノード電極と、ガス放電によるプラズマを発生さ
せ、前記カソード電極の側にイオンを加速させるために
前記カソード電極に接続した高周波電源と、磁力線が前
記カソード電極の近傍を通るような磁場を印加する磁場
印加手段とを具備したプラズマエッチング装置におい
て、前記磁場印加手段の周囲の少なくとも一部分を強磁
性体で覆って構成したことを特徴とするプラズマエッチ
ング装置。 - 【請求項2】 被エッチング物を載置した第1のカソー
ド電極と、前記第1のカソード電極の周囲を囲む環状の
第2のカソード電極と、前記第1のカソード電極に対向
して設けられ、かつ接地されたアノード電極と、ガス放
電によるプラズマを発生させ、前記カソード電極の側に
イオンを加速させるために、前記第1および第2のカソ
ード電極の各々に接続した第1および第2の高周波電源
と、磁力線が前記第1のカソード電極の近傍と前記第2
のカソード電極の近傍とを通るような磁場を印加する磁
場印加手段とを具備した3極型プラズマエッチング装置
において、前記磁場印加手段は、前記第1のカソード電
極の前記第2のカソード電極が存在する側とは反対側に
設けられた第1の磁場発生用コイルと、前記第2のカソ
ード電極の前記第1のカソード電極が存在する側とは反
対側に設けられた第2の磁場発生用コイルと、前記第1
および第2の磁場発生用コイルに逆向きの電流を流すコ
イル用電源とを具え、前記第1および第2の磁場発生用
コイルの前記第1のカソード電極に対向する面以外の面
の少なくとも一部分を強磁性体で覆って構成したことを
特徴とするプラズマエッチング装置。 - 【請求項3】 被エッチング物を載置した第1のカソー
ド電極と、前記第1のカソード電極の周囲を囲む環状の
第2のカソード電極と、前記第1のカソード電極に対向
して設けられ、かつ接地されたアノード電極と、ガス放
電によるプラズマを発生させ、前記カソード電極の側に
イオンを加速させるために、前記第1および第2のカソ
ード電極の各々に接続した第1および第2の高周波電源
と、磁力線が前記第1のカソード電極の近傍と前記第2
のカソード電極の近傍とを通るような磁場を印加する磁
場印加手段とを具備した3極型プラズマエッチング装置
において、前記磁場印加手段は、前記第1のカソード電
極の近傍のアノード電極とは反対側に設けられた第1の
磁場発生用コイルと、前記第2のカソード電極の内側の
周囲に設けられた第2の磁場発生用コイルと、前記第2
のカソード電極の外側の周囲に設けられた第3の磁場発
生用コイルと、前記第1の磁場発生用コイルと前記第3
の磁場発生用コイルには同一方向の電流を流し、前記第
2の磁場発生用コイルには前記第1および第3のコイル
とは逆向きの電流を流すコイル用電源とを具え、前記第
1,第2および第3の磁場発生用コイルの前記第1のカ
ソード電極に対向する面以外の面の少なくとも一部分を
強磁性体で覆って構成したことを特徴とするプラズマエ
ッチング装置。 - 【請求項4】 被エッチング物を載置した第1のカソー
ド電極と、前記第1のカソード電極の周囲を囲む環状の
第2のカソード電極と、前記第1のカソード電極に対向
して設けられ、かつ接地されたアノード電極と、ガス放
電によるプラズマを発生させ、前記カソード電極の側に
イオンを加速させるために、前記第1および第2のカソ
ード電極の各々に接続した第1および第2の高周波電源
と、磁力線が前記第1のカソード電極の近傍と前記第2
のカソード電極の近傍とを通るような磁場を印加する磁
場印加手段とを具備した3極型プラズマエッチング装置
において、前記磁場印加手段は、前記第1のカソード電
極の近傍のアノード電極とは反対側に設けられた第1の
磁場発生用コイルと、前記第1の磁場発生用コイルの周
囲に設けられ、前記第1の磁場発生用コイルより直径の
大きい第2の磁場発生用コイルと、前記第2のカソード
電極の内側の周囲に設けられた第3の磁場発生用コイル
と、前記第2のカソード電極の外側の周囲に設けられた
第4の磁場発生用コイルと、前記第1の磁場発生用コイ
ルと前記第4の磁場発生用コイルには同一方向の電流を
流し、前記第2の磁場発生用コイルと前記第3の磁場発
生用コイルには前記第1および第4の磁場発生用コイル
とは逆向きの電流を流すコイル用電源とを具え、前記第
1,第2,第3および第4の磁場発生用コイルの前記第
1のカソード電極に対向する面以外の面の少なくとも一
部分を強磁性体で覆って構成したことを特徴とするプラ
ズマエッチング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4064989A JPH05271968A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | プラズマエッチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4064989A JPH05271968A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | プラズマエッチング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05271968A true JPH05271968A (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=13273975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4064989A Pending JPH05271968A (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | プラズマエッチング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05271968A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07263192A (ja) * | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Ulvac Japan Ltd | エッチング装置 |
| JP2023550342A (ja) * | 2020-11-20 | 2023-12-01 | ラム リサーチ コーポレーション | 静磁場を使用するプラズマ一様性制御 |
-
1992
- 1992-03-23 JP JP4064989A patent/JPH05271968A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07263192A (ja) * | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Ulvac Japan Ltd | エッチング装置 |
| JP2023550342A (ja) * | 2020-11-20 | 2023-12-01 | ラム リサーチ コーポレーション | 静磁場を使用するプラズマ一様性制御 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5534231A (en) | Low frequency inductive RF plasma reactor | |
| US6074518A (en) | Plasma processing apparatus | |
| KR940008368B1 (ko) | 마이크로파로 생성한 플라즈마를 사용하는 플라즈마 처리장치 | |
| US6902683B1 (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing method | |
| US6129806A (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing method | |
| KR100499763B1 (ko) | 플라즈마 에칭장치 | |
| US20040219737A1 (en) | Method and apparatus for processing a workpiece with a plasma | |
| JPH02235332A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JP2001185542A (ja) | プラズマ処理装置及びそれを用いたプラズマ処理方法 | |
| JPH04287318A (ja) | プラズマ処理の方法および装置 | |
| JP3499104B2 (ja) | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | |
| JPH06283470A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| KR20020081156A (ko) | 마그네트론 플라즈마 에칭장치 | |
| US20050051273A1 (en) | Plasma processing apparatus | |
| KR20020027604A (ko) | 마그네트론 플라즈마 처리 장치 | |
| JPH07106316A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| KR100196038B1 (ko) | 헬리콘파플라즈마처리방법 및 장치 | |
| JPH05271968A (ja) | プラズマエッチング装置 | |
| JP2003077904A (ja) | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | |
| KR920008123B1 (ko) | 플라즈마 에칭 장치 | |
| JP3192351B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JP3192352B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JP2004349717A (ja) | プラズマエッチング処理装置 | |
| JPH07263192A (ja) | エッチング装置 | |
| JP2877398B2 (ja) | ドライエッチング装置 |