JPH05273558A - 液晶素子 - Google Patents
液晶素子Info
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- JPH05273558A JPH05273558A JP9856992A JP9856992A JPH05273558A JP H05273558 A JPH05273558 A JP H05273558A JP 9856992 A JP9856992 A JP 9856992A JP 9856992 A JP9856992 A JP 9856992A JP H05273558 A JPH05273558 A JP H05273558A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 残像を生じない液晶表示素子を提供する。
【構成】 一対の平行基板間に、これに垂直又は略垂直
な複数の分子配列層を形成する強誘電性液晶を満たした
液晶素子において、配向制御膜が、ポリアミド酸と、一
般式(1)〜(3)(X,YはH、CH3、C2H5;
p,q,wは26以下の整数で、12≦p≦26、15
≦p+q≦52,17≦p+q+w≦60)のいずれか
で表わされる第1のアルキルアミンと、一般式(1)〜
(3)(X,YはH、CH3、C2H5;p,q,wは
16以下の整数で、1≦p≦16、4≦p+q≦16、
4≦p+q+w≦16)のいずれかで表わされる第2の
アルキルアミンとからなる単分子膜又はその累積膜であ
る。
な複数の分子配列層を形成する強誘電性液晶を満たした
液晶素子において、配向制御膜が、ポリアミド酸と、一
般式(1)〜(3)(X,YはH、CH3、C2H5;
p,q,wは26以下の整数で、12≦p≦26、15
≦p+q≦52,17≦p+q+w≦60)のいずれか
で表わされる第1のアルキルアミンと、一般式(1)〜
(3)(X,YはH、CH3、C2H5;p,q,wは
16以下の整数で、1≦p≦16、4≦p+q≦16、
4≦p+q+w≦16)のいずれかで表わされる第2の
アルキルアミンとからなる単分子膜又はその累積膜であ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はディスプレイなどに応用
される強誘電性液晶素子に関するものである。
される強誘電性液晶素子に関するものである。
【0002】
【従の来技術】強誘電性液晶分子の屈折率異方性を利用
して偏光素子との組み合わせにより透過光線を制御する
型の表示素子がクラークおよびラガーウォールにより提
案されている(特開昭56−107216号公報、米国
特許第4367924号明細書等)。この強誘電性液晶
は、一般に特定の温度域において、カイラルスメクチッ
クC相(SmC* )又はH相(SmH* )を有し、この
状態において加えられる電界に応答して、第1の光学的
安定状態と第2の光学的安定状態のいずれかを取り、且
つ電界の印加のないときはその状態を維持する性質、即
ち双安定状態を有し、また電界の変化に応対する応答も
速やかであり、高速並びに記憶型の表示素子としての広
い利用が期待されている。
して偏光素子との組み合わせにより透過光線を制御する
型の表示素子がクラークおよびラガーウォールにより提
案されている(特開昭56−107216号公報、米国
特許第4367924号明細書等)。この強誘電性液晶
は、一般に特定の温度域において、カイラルスメクチッ
クC相(SmC* )又はH相(SmH* )を有し、この
状態において加えられる電界に応答して、第1の光学的
安定状態と第2の光学的安定状態のいずれかを取り、且
つ電界の印加のないときはその状態を維持する性質、即
ち双安定状態を有し、また電界の変化に応対する応答も
速やかであり、高速並びに記憶型の表示素子としての広
い利用が期待されている。
【0003】この双安定性を有する液晶を用いた光学変
調素子が所定の駆動特性を発揮するためには、一対の平
行基板間に配置される液晶が、電界の印加状態とは無関
係に上記2つの安定状態の間での変換が効果的に起こる
ような分子配列状態にあることが必要である。
調素子が所定の駆動特性を発揮するためには、一対の平
行基板間に配置される液晶が、電界の印加状態とは無関
係に上記2つの安定状態の間での変換が効果的に起こる
ような分子配列状態にあることが必要である。
【0004】ところで、強誘電性液晶の配向方法として
は、一般にラビング処理や斜方蒸着処理等による一軸性
配向処理を施した配向制御膜を用いる方法が知られてい
る。この従来からの配向方法は、そのほとんどが双安定
性を示さないらせん構造の状態下で、強誘電性液晶をラ
ビング処理したポリイミド膜によって配向制御するもの
であった。
は、一般にラビング処理や斜方蒸着処理等による一軸性
配向処理を施した配向制御膜を用いる方法が知られてい
る。この従来からの配向方法は、そのほとんどが双安定
性を示さないらせん構造の状態下で、強誘電性液晶をラ
ビング処理したポリイミド膜によって配向制御するもの
であった。
【0005】しかしながら、前述した従来の配向制御膜
を、クラークとラガーウォールによって発表された双安
定性を示す非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制
御に適用した場合には、次の様な問題点を有していた。
即ち、従来の配向制御膜によって配向させて得られた非
らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角θ(後述の図3
に示す角度)がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチル
ト角H(後述の図2に示す三角すいの頂角の1/2に相
当する。)と比べて小さくなっている。特に、従来の配
向制御膜によって配向させて得た非らせん構造の強誘電
性液晶でのチルト角θは、一般に10°程度で、その時
の透過率はせいぜい3〜5%程度であった。
を、クラークとラガーウォールによって発表された双安
定性を示す非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制
御に適用した場合には、次の様な問題点を有していた。
即ち、従来の配向制御膜によって配向させて得られた非
らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角θ(後述の図3
に示す角度)がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチル
ト角H(後述の図2に示す三角すいの頂角の1/2に相
当する。)と比べて小さくなっている。特に、従来の配
向制御膜によって配向させて得た非らせん構造の強誘電
性液晶でのチルト角θは、一般に10°程度で、その時
の透過率はせいぜい3〜5%程度であった。
【0006】このようにクラークとラガウォールによれ
ば、双安定性を実現する非らせん構造をもつ強誘電性液
晶でのチルト角θがらせん構造でのチルト角Hより小さ
くなっている。しかも、この非らせん構造でのチルト角
θがらせん構造でのチルト角Hより小さくなる原因が、
非らせん構造での液晶分子のねじれ配列に起因している
ことが判明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性
液晶では、液晶分子が基板の法線に対して上基板に隣接
する液晶分子の軸より下基板に隣接する液晶分子に、軸
(ねじれ配列の方向)へ連続的にねじれ角δでねじれ配
列しており、このことが非らせん構造でのチルト角θが
らせん構造でのチルト角Hより小さくなる原因となって
いる。
ば、双安定性を実現する非らせん構造をもつ強誘電性液
晶でのチルト角θがらせん構造でのチルト角Hより小さ
くなっている。しかも、この非らせん構造でのチルト角
θがらせん構造でのチルト角Hより小さくなる原因が、
非らせん構造での液晶分子のねじれ配列に起因している
ことが判明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性
液晶では、液晶分子が基板の法線に対して上基板に隣接
する液晶分子の軸より下基板に隣接する液晶分子に、軸
(ねじれ配列の方向)へ連続的にねじれ角δでねじれ配
列しており、このことが非らせん構造でのチルト角θが
らせん構造でのチルト角Hより小さくなる原因となって
いる。
【0007】ところで、液晶の複屈折を利用した液晶素
子の場合、直交ニコル下での透過率は
子の場合、直交ニコル下での透過率は
【0008】
【数1】 (式中、I0 :入射光強度、I:透過光強度、θ:チル
ト角、Δn:屈折率異方性、d:液晶層の膜厚、λ:入
射光の波長である。)で表される。
ト角、Δn:屈折率異方性、d:液晶層の膜厚、λ:入
射光の波長である。)で表される。
【0009】前述の非らせん構造におけるチルト角θ
は、第1と第2の配向状態でのねじれ配列した液晶分子
の平均分子軸方向の角度として現れることになる。上式
によれば、かかるチルト角θが22.5°の角度のとき
最大の透過率となるが、双安定性を実現する非らせん構
造でのチルト角θは大きくて10°程度の角度であり、
したがって表示装置としての適用を考慮したときには、
その透過率は3〜5%程度で充分なものとはならない問
題がある。
は、第1と第2の配向状態でのねじれ配列した液晶分子
の平均分子軸方向の角度として現れることになる。上式
によれば、かかるチルト角θが22.5°の角度のとき
最大の透過率となるが、双安定性を実現する非らせん構
造でのチルト角θは大きくて10°程度の角度であり、
したがって表示装置としての適用を考慮したときには、
その透過率は3〜5%程度で充分なものとはならない問
題がある。
【0010】また、従来のラビング処理したポリイミド
配向膜によって生じたカイラルスメクチック液晶の配向
状態は、電極と液晶層の間に絶縁体層としてのポリイミ
ド配向膜の存在によって、第1の光学的安定状態(例え
ば、白の表示状態)から第2の光学的安定状態(例え
ば、黒の表示状態)にスイッチングするための一方極性
電圧を印加した場合、この一方極性電圧の印加解除後、
強誘電性液晶層には他方の極性の逆電界Vrev が生じ、
この逆電界Vrev がディスプレイの際の残像を引き起こ
していた。上述の逆電界発生現象は、例えば、吉田明雄
著、昭和62年10月[液晶討論会予稿集]P.142
〜P.143の[SSFLCのスイッチング特性]で明
らかにされている。
配向膜によって生じたカイラルスメクチック液晶の配向
状態は、電極と液晶層の間に絶縁体層としてのポリイミ
ド配向膜の存在によって、第1の光学的安定状態(例え
ば、白の表示状態)から第2の光学的安定状態(例え
ば、黒の表示状態)にスイッチングするための一方極性
電圧を印加した場合、この一方極性電圧の印加解除後、
強誘電性液晶層には他方の極性の逆電界Vrev が生じ、
この逆電界Vrev がディスプレイの際の残像を引き起こ
していた。上述の逆電界発生現象は、例えば、吉田明雄
著、昭和62年10月[液晶討論会予稿集]P.142
〜P.143の[SSFLCのスイッチング特性]で明
らかにされている。
【0011】かかる問題点を解決する方法として、配向
膜にポリペプチド誘導体、無水マイレン酸誘導体等の高
分子化合物や、重合性物質を用いたり、ポリイミド分子
内にフッ化物やアルキル鎖を導入したり、基板や配向膜
そのものに凹凸をもたせたりすることによって配向性を
高めた例が挙げられている。
膜にポリペプチド誘導体、無水マイレン酸誘導体等の高
分子化合物や、重合性物質を用いたり、ポリイミド分子
内にフッ化物やアルキル鎖を導入したり、基板や配向膜
そのものに凹凸をもたせたりすることによって配向性を
高めた例が挙げられている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術で述べら
れた配向膜においていは、光学応答速度や双安定性の問
題の解決に有効であるが、大面積での高精細な表示素子
を考えた場合、画素内、画素間での均一性については不
十分な点があった。高分子材料を用いた場合、表示面積
を広くしようとすると、高分子主鎖をすべて配向制御す
るのは困難であり、ラビング処理をするにしても、大面
積にわたって、微弱なラビング処理を行なうのは、無理
があった。
れた配向膜においていは、光学応答速度や双安定性の問
題の解決に有効であるが、大面積での高精細な表示素子
を考えた場合、画素内、画素間での均一性については不
十分な点があった。高分子材料を用いた場合、表示面積
を広くしようとすると、高分子主鎖をすべて配向制御す
るのは困難であり、ラビング処理をするにしても、大面
積にわたって、微弱なラビング処理を行なうのは、無理
があった。
【0013】重合性物質を用いる場合は、一旦、配向膜
を形成したのちに重合を行なうため、配向膜内での重合
度に関し、局所的な変動をもたらし、これが原因となっ
て大面積での均一な配向性を得にくくしていた。また、
利用可能な材料は重合性部位を有するものに限定され、
その選択範囲が狭められている。更には、重合時におけ
る膜の体積変化(膨張又は収縮)をゼロにすることは事
実上極めて困難であり、かかる体積変化にともなって、
膜中に亀裂などの欠陥が生じ、先の配向性の低減を招く
ことがある。
を形成したのちに重合を行なうため、配向膜内での重合
度に関し、局所的な変動をもたらし、これが原因となっ
て大面積での均一な配向性を得にくくしていた。また、
利用可能な材料は重合性部位を有するものに限定され、
その選択範囲が狭められている。更には、重合時におけ
る膜の体積変化(膨張又は収縮)をゼロにすることは事
実上極めて困難であり、かかる体積変化にともなって、
膜中に亀裂などの欠陥が生じ、先の配向性の低減を招く
ことがある。
【0014】また、表面エネルギーを下げて、チルト角
をあげるためにポリイミド分子にフッ化物や、アルキル
鎖を導入する方法があるが、かかるフッ化物あるいはア
ルキル鎖を導入して、単分子膜又は単分子累積膜を作成
する場合、該フッ化物あるいはアルキル鎖が互いに反発
するため、均質さを保ったまま、膜内の分子密度を高め
ることは必ずしも容易ではなかった。
をあげるためにポリイミド分子にフッ化物や、アルキル
鎖を導入する方法があるが、かかるフッ化物あるいはア
ルキル鎖を導入して、単分子膜又は単分子累積膜を作成
する場合、該フッ化物あるいはアルキル鎖が互いに反発
するため、均質さを保ったまま、膜内の分子密度を高め
ることは必ずしも容易ではなかった。
【0015】また、一般に上記単分子膜又は単分子累積
膜を作成する手法としては、ラングミュアーブロジェッ
ト(LB)法によるのが簡単であるが、とくに前記フッ
化物あるいはアルキル鎖を有するポリイミド分子をLB
法によって成膜するには、前述した分子の反発をうまく
緩和するために、特別な金属イオンを導入するなど、そ
の成膜材料や、成膜条件は非常に限定されたものとな
り、汎用性に乏しい。
膜を作成する手法としては、ラングミュアーブロジェッ
ト(LB)法によるのが簡単であるが、とくに前記フッ
化物あるいはアルキル鎖を有するポリイミド分子をLB
法によって成膜するには、前述した分子の反発をうまく
緩和するために、特別な金属イオンを導入するなど、そ
の成膜材料や、成膜条件は非常に限定されたものとな
り、汎用性に乏しい。
【0016】そのほか、基板又は配向膜そのものに凹凸
を設ける方法では、液晶素子の作成上に、凹凸を形成す
るための工程を有するため、作成プロセスが煩雑になる
という問題点を有している。
を設ける方法では、液晶素子の作成上に、凹凸を形成す
るための工程を有するため、作成プロセスが煩雑になる
という問題点を有している。
【0017】本発明の目的は、前述の従来技術の問題点
を解決した液晶素子を提供するものであり、少なくとも
2つの安定状態、特に双安定性を実現する非らせん構造
の強誘電性液晶でのチルト角を増大し、これによって画
素シャッタ開口時の透過率を向上させ、高コントラスト
な画像がディスプレイされ、且つ残像を生じないディス
プレイを達成できる高精細液晶素子を提供することにあ
る。
を解決した液晶素子を提供するものであり、少なくとも
2つの安定状態、特に双安定性を実現する非らせん構造
の強誘電性液晶でのチルト角を増大し、これによって画
素シャッタ開口時の透過率を向上させ、高コントラスト
な画像がディスプレイされ、且つ残像を生じないディス
プレイを達成できる高精細液晶素子を提供することにあ
る。
【0018】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明は、一対の
平行基板と、該一対の平行基板の面に対して垂直又は略
垂直な複数の層を形成している分子の配列をもつ強誘電
性液晶とを有する液晶素子において、前記一対の平行基
板のうち少なくとも一方の基板が前記複数の層を一方向
に優先して配向させる配向制御膜を有し、該配向制御膜
が、ポリアミド酸と、下記一般式(1)〜(3)のいず
れかで表わされる第1のアルキルアミンと、下記一般式
(4)〜(6)のいずれかで表わされる第2のアルキル
アミンとからなる単分子膜又はその累積膜であることを
特徴とする液晶素子である。
平行基板と、該一対の平行基板の面に対して垂直又は略
垂直な複数の層を形成している分子の配列をもつ強誘電
性液晶とを有する液晶素子において、前記一対の平行基
板のうち少なくとも一方の基板が前記複数の層を一方向
に優先して配向させる配向制御膜を有し、該配向制御膜
が、ポリアミド酸と、下記一般式(1)〜(3)のいず
れかで表わされる第1のアルキルアミンと、下記一般式
(4)〜(6)のいずれかで表わされる第2のアルキル
アミンとからなる単分子膜又はその累積膜であることを
特徴とする液晶素子である。
【0019】
【化3】
【0020】(式中、X,Yは−H,−CH3 ,−C2
H5 のいずれかを表わし、p,q,wは26以下の整数
で、12≦p≦26、15≦p+q≦52,17≦p+
q+w≦60である。)
H5 のいずれかを表わし、p,q,wは26以下の整数
で、12≦p≦26、15≦p+q≦52,17≦p+
q+w≦60である。)
【0021】
【化4】
【0022】(式中、X,Yは−H,−CH3 ,−C2
H5 のいずれかを表わし、p′,q′,w′は16以下
の整数で、1≦p′≦16、4≦p′+q′≦16,4
≦p′+q′+w′≦16である。)
H5 のいずれかを表わし、p′,q′,w′は16以下
の整数で、1≦p′≦16、4≦p′+q′≦16,4
≦p′+q′+w′≦16である。)
【0023】本発明によれば、ポリアミド酸と第1のア
ルキルアミンとを混合して作成したポリアミド酸アルキ
ルアミン塩をマトリックス材として、かかるマトリック
ス材に第2のアルキルアミンを添加することで、アルキ
ルアミン分子間の空間を第2のアルキルアミンが埋める
ことでかかる単分子膜又は単分子累積膜の配向性、均一
性、面内密度を向上させることが可能になり、配向制御
膜として用いたときに、表面エネルギーが小さくなりチ
ルト角を増大させることが可能になっただけでなく、高
精細な表示が可能になった。
ルキルアミンとを混合して作成したポリアミド酸アルキ
ルアミン塩をマトリックス材として、かかるマトリック
ス材に第2のアルキルアミンを添加することで、アルキ
ルアミン分子間の空間を第2のアルキルアミンが埋める
ことでかかる単分子膜又は単分子累積膜の配向性、均一
性、面内密度を向上させることが可能になり、配向制御
膜として用いたときに、表面エネルギーが小さくなりチ
ルト角を増大させることが可能になっただけでなく、高
精細な表示が可能になった。
【0024】以下、本発明を詳細に説明する。図1は、
本発明の液晶素子の一実施状態を示す断面図である。同
図1において、11aと11bは各々In2 O3 やIT
O(インジウム チン オキサイド;Indium T
in Oxide)等の透明電極12aと12bで被覆
された基板(ガラス基板)であり、その上に絶縁膜13
aと13b(例えば、SiO2膜、TiO2 膜、Ta2
O5 膜など)と配向制御膜14aと14bとが各々積層
されている。
本発明の液晶素子の一実施状態を示す断面図である。同
図1において、11aと11bは各々In2 O3 やIT
O(インジウム チン オキサイド;Indium T
in Oxide)等の透明電極12aと12bで被覆
された基板(ガラス基板)であり、その上に絶縁膜13
aと13b(例えば、SiO2膜、TiO2 膜、Ta2
O5 膜など)と配向制御膜14aと14bとが各々積層
されている。
【0025】この際、平行かつ同一向き(図1でいえば
A方向)になるようラビング処理(矢印方向)した配向
膜14aと14bが配置されている。基板11aと11
bとの間には、強誘電性液晶、好ましくは少なくとも2
つの安定状態を示す非らせん構造の強誘電性液晶13が
配置されている。前述した透明電極12aと12bは、
強誘電性液晶13をマルチプレクシング駆動するため
に、それぞれストライプ形状で配線され、且つそのスト
ライプ形状が互いに交差して配置されていることが好ま
しい。強誘電性液晶15が配置されている液晶間距離
は、配向制御膜14aと14bとの間に配置されたビー
ズスペーサー16(例えば、シリカビーズ、アルミナビ
ーズ等)によって保持される。また、17a, 17bは
偏光板を示す。
A方向)になるようラビング処理(矢印方向)した配向
膜14aと14bが配置されている。基板11aと11
bとの間には、強誘電性液晶、好ましくは少なくとも2
つの安定状態を示す非らせん構造の強誘電性液晶13が
配置されている。前述した透明電極12aと12bは、
強誘電性液晶13をマルチプレクシング駆動するため
に、それぞれストライプ形状で配線され、且つそのスト
ライプ形状が互いに交差して配置されていることが好ま
しい。強誘電性液晶15が配置されている液晶間距離
は、配向制御膜14aと14bとの間に配置されたビー
ズスペーサー16(例えば、シリカビーズ、アルミナビ
ーズ等)によって保持される。また、17a, 17bは
偏光板を示す。
【0026】本発明において、上述のポリアミド酸はカ
ルボン酸無水物とジアミンとを縮合反応させることによ
って得られる。カルボン酸無水物としては例えば、ピロ
メリット酸無水物、3,3′,4,4′−ビフェニルテ
トラカルボン酸無水物、3,3′,4,4′−ベンゾフ
ェノンテトラカルボン酸無水物、2,2−ビス(3,4
−ジカルボキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−
ヘキサフルオロプロパン酸無水物等が挙げられる。
ルボン酸無水物とジアミンとを縮合反応させることによ
って得られる。カルボン酸無水物としては例えば、ピロ
メリット酸無水物、3,3′,4,4′−ビフェニルテ
トラカルボン酸無水物、3,3′,4,4′−ベンゾフ
ェノンテトラカルボン酸無水物、2,2−ビス(3,4
−ジカルボキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−
ヘキサフルオロプロパン酸無水物等が挙げられる。
【0027】ジアミンとしては、フェニレンジアミン、
4,4′−オキシジアニリン、4,,4′−ジオキシフ
ェニレンジアニリン、4,4′−フェニレンジアニリ
ン、4,4′−チオジアニリン、4,4′−サルフォニ
ルジアニリン、4,4′−メチレンジアニリン、2,2
−ビス(4−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,
3−ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミ
ノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サンなどか挙げられる。
4,4′−オキシジアニリン、4,,4′−ジオキシフ
ェニレンジアニリン、4,4′−フェニレンジアニリ
ン、4,4′−チオジアニリン、4,4′−サルフォニ
ルジアニリン、4,4′−メチレンジアニリン、2,2
−ビス(4−アミノフェニル)−1,1,1,3,3,
3−ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミ
ノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サンなどか挙げられる。
【0028】本発明に用いられるポリアミド酸はそのポ
リマー主鎖中に前述の構造単位が一部含まれていてもよ
いので、2種以上のカルボン酸無水物及び/又は、2種
以上のジアミンを用いた共重合体ポリアミド酸の利用も
可能である。
リマー主鎖中に前述の構造単位が一部含まれていてもよ
いので、2種以上のカルボン酸無水物及び/又は、2種
以上のジアミンを用いた共重合体ポリアミド酸の利用も
可能である。
【0029】本発明において、上記アルキルアミンに
は、前記一般式(1)〜(3)のいずれかで表わされる
第1のアルキルアミンと、前記一般式(4)〜(6)の
いずれかで表わされる第2のアルキルアミンの1〜3級
のアルキルアミン、更に、アルキル基の一部又は全部が
ハロゲン置換されているもの、アルキル基の一部が水酸
基に置換されているもの、分岐型アルキル基、ベンゼン
環等環状構造を有しているものなどを用いることが可能
である。
は、前記一般式(1)〜(3)のいずれかで表わされる
第1のアルキルアミンと、前記一般式(4)〜(6)の
いずれかで表わされる第2のアルキルアミンの1〜3級
のアルキルアミン、更に、アルキル基の一部又は全部が
ハロゲン置換されているもの、アルキル基の一部が水酸
基に置換されているもの、分岐型アルキル基、ベンゼン
環等環状構造を有しているものなどを用いることが可能
である。
【0030】又、特に前記単分子膜又は単分子累積膜の
表面エネルギーをより低下させるには、第2のアルキル
アミンだけでなく、ポリアミド酸、第1のアルキルアミ
ンの一方又は両方の分子の一部又はすべての分子内にす
くなくとも1つ以上又は全てにフッ素基を有することが
有効である。
表面エネルギーをより低下させるには、第2のアルキル
アミンだけでなく、ポリアミド酸、第1のアルキルアミ
ンの一方又は両方の分子の一部又はすべての分子内にす
くなくとも1つ以上又は全てにフッ素基を有することが
有効である。
【0031】前記一般式(1)〜(3)のいずれかで表
わされる第1のアルキルアミンの具体例としては、N,
N−ジメチルオクタデシルアミン、N−メチル−ジ−n
−オクタデシルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン等が
挙げられる。
わされる第1のアルキルアミンの具体例としては、N,
N−ジメチルオクタデシルアミン、N−メチル−ジ−n
−オクタデシルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン等が
挙げられる。
【0032】また、前記一般式(4)〜(6)のいずれ
かで表わされる第2のアルキルアミンの具体例として
は、2,2,3,3,4,4,4−ヘプタフルオロブチ
ルアミン、ヘプタフロロブチルアミン、パーフルオロト
リヘキシルアミン等が挙げられる。
かで表わされる第2のアルキルアミンの具体例として
は、2,2,3,3,4,4,4−ヘプタフルオロブチ
ルアミン、ヘプタフロロブチルアミン、パーフルオロト
リヘキシルアミン等が挙げられる。
【0033】また、本発明においては、配向制御膜を形
成する単分子膜又はその累積膜を、ポリアミド酸、第1
のアルキルアミンおよび第2のアルキルアミンを混合す
ることによって形成されるが、これら分子の混合比とし
ては、ポリアミド酸のカルボキシル基をすべてアミン塩
化させる程度とすることが好ましい。即ち、ポリアミド
酸の1繰り返し単位当たり通常2個のカルボキシル基が
存在するが、この場合ポリアミド酸の繰り返し単位数の
緩和:第1のアルキルアミンのモル数=1:1から1:
3、より好ましくは1:2から1:2.5とすることが
望ましい。
成する単分子膜又はその累積膜を、ポリアミド酸、第1
のアルキルアミンおよび第2のアルキルアミンを混合す
ることによって形成されるが、これら分子の混合比とし
ては、ポリアミド酸のカルボキシル基をすべてアミン塩
化させる程度とすることが好ましい。即ち、ポリアミド
酸の1繰り返し単位当たり通常2個のカルボキシル基が
存在するが、この場合ポリアミド酸の繰り返し単位数の
緩和:第1のアルキルアミンのモル数=1:1から1:
3、より好ましくは1:2から1:2.5とすることが
望ましい。
【0034】第2のアルキルアミンのモル数は、ポリア
ミド酸の繰り返し単位数の緩和:第2のアルキルアミン
のモル数=1:2から1:10000、より好ましくは
1:10から1:1000とすることが望ましい。
ミド酸の繰り返し単位数の緩和:第2のアルキルアミン
のモル数=1:2から1:10000、より好ましくは
1:10から1:1000とすることが望ましい。
【0035】この時の溶媒としては、N,N−ジメチル
アセトアミド(DMAC)など、ポリアミド酸およびア
ミンが充分に溶解し、かつ水面上にかかる溶液を展開す
ることが可能な溶媒であれば何を用いてもよく、また、
混合溶媒でもよい。また、濃度にも特に制限はないが、
展開性の面から、1×10-5〜1×10-3繰り返し単位
数/lの範囲とすることが好ましい。
アセトアミド(DMAC)など、ポリアミド酸およびア
ミンが充分に溶解し、かつ水面上にかかる溶液を展開す
ることが可能な溶媒であれば何を用いてもよく、また、
混合溶媒でもよい。また、濃度にも特に制限はないが、
展開性の面から、1×10-5〜1×10-3繰り返し単位
数/lの範囲とすることが好ましい。
【0036】以上のようにして作成したポリアミド酸混
合アミン塩の溶液を水面上に静かに展開する。この時、
水相としては、2〜25℃の純水gが一般に用いられる
が、各種金属イオンの添加や酸、アルカリを加えてpH
の調整を行なっても構わない。次に、水面上に展開した
ポリアミド酸アミン塩混合溶媒を圧縮し、水面上にポリ
アミド酸混合アミン塩の単分子膜を形成する。
合アミン塩の溶液を水面上に静かに展開する。この時、
水相としては、2〜25℃の純水gが一般に用いられる
が、各種金属イオンの添加や酸、アルカリを加えてpH
の調整を行なっても構わない。次に、水面上に展開した
ポリアミド酸アミン塩混合溶媒を圧縮し、水面上にポリ
アミド酸混合アミン塩の単分子膜を形成する。
【0037】かかる単分子膜を表面圧を一定に保ったま
ま、水面上単分子膜を横切る方向に浸漬し、引き続き引
き上げることにより2層のY型単分子膜を支持体上に累
積することが可能となる。ポリアミド酸アミン塩の単分
子膜を基板上にうつしとるには、上述した垂直浸漬法の
他,水平付着法,回転円筒法等の方法によることもでき
る。
ま、水面上単分子膜を横切る方向に浸漬し、引き続き引
き上げることにより2層のY型単分子膜を支持体上に累
積することが可能となる。ポリアミド酸アミン塩の単分
子膜を基板上にうつしとるには、上述した垂直浸漬法の
他,水平付着法,回転円筒法等の方法によることもでき
る。
【0038】本発明の液晶素子で用いることができる強
誘電性液晶としては、例えば、p−デシロキシベンジリ
デン−p′−アミノ−2−メチルブチルシンナメート
(DOBAMBC)、p−ヘキシロキシベンジリデン−
p′−アミノ−2−クロルプロピルシンナメート(HO
BACPC)、p−デシロキシベンジリデン−p′−ア
ミノ−2−メチルブチル−α−シアノシンナメート(D
OBAMBCC)、p−テトラデシロキシベンジリデン
−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−シアノシンナ
メート(TDOBAMBCC)、p−オクチルオキシベ
ンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−ク
ロロシンナメート(OOBAMBCC)、p−オクチル
オキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル
−α−メチルシンナメート、4,4′−アゾキシシンナ
ミックアシッド−ビス(2−メチルブチル)エステル、
4−o−(2−メチル)ブチルレゾシリデン−4′−オ
クチルアニリン、4−(2′−メチルブチル)フェニル
−4′−オクチルオキシビフェニル−4−カルボキシレ
ート、4−ヘキシルオキシフェニル−4−(2″−メチ
ルブチル)ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−
オクチルオキシフェニル−4−(2″−メチルブチル)
ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−ヘプチルフ
ェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4′−カルボキレート、4−(2″−メチルブチル)フ
ェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4″−カルボキシレートなどを挙げることができ、これ
らは単独又は2種以上組み合わせて用いることができ
る。また、強誘電性を示す範囲で他のコレステリック液
晶やスメクチック液晶を含有させることができる。さら
に、強誘電性液晶としてカイラルスメクチックC相とし
て(SmC* )、H相(SmH*)、I相(SmI
* )、K相(SmK* )やG相(SmG* )を用いるこ
とができる。
誘電性液晶としては、例えば、p−デシロキシベンジリ
デン−p′−アミノ−2−メチルブチルシンナメート
(DOBAMBC)、p−ヘキシロキシベンジリデン−
p′−アミノ−2−クロルプロピルシンナメート(HO
BACPC)、p−デシロキシベンジリデン−p′−ア
ミノ−2−メチルブチル−α−シアノシンナメート(D
OBAMBCC)、p−テトラデシロキシベンジリデン
−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−シアノシンナ
メート(TDOBAMBCC)、p−オクチルオキシベ
ンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−ク
ロロシンナメート(OOBAMBCC)、p−オクチル
オキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル
−α−メチルシンナメート、4,4′−アゾキシシンナ
ミックアシッド−ビス(2−メチルブチル)エステル、
4−o−(2−メチル)ブチルレゾシリデン−4′−オ
クチルアニリン、4−(2′−メチルブチル)フェニル
−4′−オクチルオキシビフェニル−4−カルボキシレ
ート、4−ヘキシルオキシフェニル−4−(2″−メチ
ルブチル)ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−
オクチルオキシフェニル−4−(2″−メチルブチル)
ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−ヘプチルフ
ェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4′−カルボキレート、4−(2″−メチルブチル)フ
ェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4″−カルボキシレートなどを挙げることができ、これ
らは単独又は2種以上組み合わせて用いることができ
る。また、強誘電性を示す範囲で他のコレステリック液
晶やスメクチック液晶を含有させることができる。さら
に、強誘電性液晶としてカイラルスメクチックC相とし
て(SmC* )、H相(SmH*)、I相(SmI
* )、K相(SmK* )やG相(SmG* )を用いるこ
とができる。
【0039】図2はらせん構造を用いた強誘電性液晶セ
ルの例を模式的に描いたものである。21aと21b
は、In2 O3 、SnO2 やITO(Indium T
inOxide)などの透明電極がコートされた基板
(ガラス板)であり、その間に複数の液晶分子層22か
ガラス基板面に対して垂直な層となるよう配向したSm
C* (カラルスメチックC相)の液晶が封入されてい
る。
ルの例を模式的に描いたものである。21aと21b
は、In2 O3 、SnO2 やITO(Indium T
inOxide)などの透明電極がコートされた基板
(ガラス板)であり、その間に複数の液晶分子層22か
ガラス基板面に対して垂直な層となるよう配向したSm
C* (カラルスメチックC相)の液晶が封入されてい
る。
【0040】太線で示した線23が液晶分子を表してお
り、この液晶分子23は、その分子に直交した方向に双
極子モーメント(P⊥)24を有している。この時の三
角錐の頂角をなす角度がかかるらせん構造のカイラルス
メクチック相でのチルト角Hを表している。基板21a
と21b上の電極間に一定のしきい値以上の電圧を印加
すると、液晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モ
ーメント(P⊥)24はすべて電界方向に向くよう、液
晶分子の23の配向方向を変えることができる。
り、この液晶分子23は、その分子に直交した方向に双
極子モーメント(P⊥)24を有している。この時の三
角錐の頂角をなす角度がかかるらせん構造のカイラルス
メクチック相でのチルト角Hを表している。基板21a
と21b上の電極間に一定のしきい値以上の電圧を印加
すると、液晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モ
ーメント(P⊥)24はすべて電界方向に向くよう、液
晶分子の23の配向方向を変えることができる。
【0041】本発明の好ましい具体例では、少なくとも
2つの安定状態、特に双安定状態をもつ図3に示す強誘
電性液晶素子を用いることができる。即ち、液晶セルの
厚さを充分に薄くした場合(1μm)には、図3に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はPbは上向き(34a)または下向き(3
4b)のどちらかの状態をとり、双安定状態が形成され
る。
2つの安定状態、特に双安定状態をもつ図3に示す強誘
電性液晶素子を用いることができる。即ち、液晶セルの
厚さを充分に薄くした場合(1μm)には、図3に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はPbは上向き(34a)または下向き(3
4b)のどちらかの状態をとり、双安定状態が形成され
る。
【0042】このようなセルに図3に示すごとく一定の
しきい値以上の極性の異なる電界Ea又はEbは電界ベ
クトルに対して上向き34a又は下向き34bと向きを
変え、それに応じて液晶分子は第1の安定状態33aか
あるいは第2の安定状態33bのいずれか一方に配向す
る。この時の第1と第2の安定状態のなす角度の1/2
がチルト角θに相当している。
しきい値以上の極性の異なる電界Ea又はEbは電界ベ
クトルに対して上向き34a又は下向き34bと向きを
変え、それに応じて液晶分子は第1の安定状態33aか
あるいは第2の安定状態33bのいずれか一方に配向す
る。この時の第1と第2の安定状態のなす角度の1/2
がチルト角θに相当している。
【0043】このような強誘電性液晶を光学変調素子と
して用いることの利点は2つある。第1に応答速度が極
めて速いこと、第2に液晶分子の配向が双安定性を有す
ることである。このような応答速度の速さと、双安定性
によるメモリー効果が有効に実現されるには、セルとし
てはできるだけ、薄いほうが好ましく、一般的には0.
5μm〜20μm、とくに1μm〜5μmが適してい
る。
して用いることの利点は2つある。第1に応答速度が極
めて速いこと、第2に液晶分子の配向が双安定性を有す
ることである。このような応答速度の速さと、双安定性
によるメモリー効果が有効に実現されるには、セルとし
てはできるだけ、薄いほうが好ましく、一般的には0.
5μm〜20μm、とくに1μm〜5μmが適してい
る。
【0044】次に、図4は本発明の配向方法により配向
した液晶分子の配向状態を模式的に示す断面図、図5は
そのC−ダイレクタを示す図である。図4に示す51a
及び51bは、それぞれ上基板及び下基板を表わしてい
る。50は液晶分子52で組織された液晶分子層で、液
晶分子52が円錐53の底面54(円形)に沿った位置
を変化させて配列している。
した液晶分子の配向状態を模式的に示す断面図、図5は
そのC−ダイレクタを示す図である。図4に示す51a
及び51bは、それぞれ上基板及び下基板を表わしてい
る。50は液晶分子52で組織された液晶分子層で、液
晶分子52が円錐53の底面54(円形)に沿った位置
を変化させて配列している。
【0045】図5は、C−ダイレクタを示す図である。
同図5のU1 は一方の安定配向状態でのC−ダイレクタ
81で、U2 は他方の安定配向状態でのC−ダイレクタ
81である。C−ダイレクタ81は、図4に示す液晶分
子層50の法線に対して垂直な仮想面への分子長軸の写
影である。
同図5のU1 は一方の安定配向状態でのC−ダイレクタ
81で、U2 は他方の安定配向状態でのC−ダイレクタ
81である。C−ダイレクタ81は、図4に示す液晶分
子層50の法線に対して垂直な仮想面への分子長軸の写
影である。
【0046】一方、従来のラビング処理したポリイミド
またはポリアミド膜によって生じた配向状態は、図6の
C−ダイレクタ図によって示される。図6に示す配向状
態は、上基板51aから下基板51bに向けて分子軸の
ねじれが大きいため、チルト角θは小さくなっている。
またはポリアミド膜によって生じた配向状態は、図6の
C−ダイレクタ図によって示される。図6に示す配向状
態は、上基板51aから下基板51bに向けて分子軸の
ねじれが大きいため、チルト角θは小さくなっている。
【0047】次に、図7(a)は、C−ダイレクタ81
が図5の状態(ユニフォーム配向状態という)でのチル
ト角θを示す説明図、および図7(b)はC−ダイレク
タ81が図6の状態(スプレイ配向状態という)でのチ
ルト角θを示す説明図である。図中、60は前述した本
発明の特定のポリイミドまたはポリアミド膜に施したラ
ビング処理軸を示し、61aは配向状態U1 での平均分
子軸、61bは配向状態U2 での平均分子軸、62aは
配向状態S1 での平均分子軸、62bは配向状態S2 で
の平均分子軸を示す。平均分子軸61aと61bとは、
互いに閾値電圧を超えた逆極性電圧の印加によって変換
することができる。同様のことは平均分子軸62aと6
2bとの間でも生じる。
が図5の状態(ユニフォーム配向状態という)でのチル
ト角θを示す説明図、および図7(b)はC−ダイレク
タ81が図6の状態(スプレイ配向状態という)でのチ
ルト角θを示す説明図である。図中、60は前述した本
発明の特定のポリイミドまたはポリアミド膜に施したラ
ビング処理軸を示し、61aは配向状態U1 での平均分
子軸、61bは配向状態U2 での平均分子軸、62aは
配向状態S1 での平均分子軸、62bは配向状態S2 で
の平均分子軸を示す。平均分子軸61aと61bとは、
互いに閾値電圧を超えた逆極性電圧の印加によって変換
することができる。同様のことは平均分子軸62aと6
2bとの間でも生じる。
【0048】次に、逆電界Vrev による光学応答の遅れ
(残像)に対するユニフォーム配向状態の有用性につい
て説明する。液晶セルの絶縁層(配向膜)の容量Ci 、
液晶層の容量をCLC及び液晶の自発分極をPsとする
と、残像の原因となるVrev は、下式で表わされる。
(残像)に対するユニフォーム配向状態の有用性につい
て説明する。液晶セルの絶縁層(配向膜)の容量Ci 、
液晶層の容量をCLC及び液晶の自発分極をPsとする
と、残像の原因となるVrev は、下式で表わされる。
【0049】
【数2】
【0050】図8は、液晶セル内の電荷の分布、自発分
極Psの方向及び逆電界Vrev の方向を模式的に示した断
面図である。図8(a)はパルス電界印加前のメモリー
状態下における+及び−電荷の分布状態を示し、この時
の自発分極Psの向きは+電荷から−電荷の方向である。
図8(b)は、パルス電界解除直後の自発分極Psの向き
が図8(a)の時の向きに対して逆向き(従って、液晶
分子は一方の安定配向状態から他方の安定配向状態に反
転を生じている)であるが、+及び−電荷の分布状態
は、図8(a)の時と同様であるため、液晶内に逆電界
Vrev が矢印B方向に生じている。この逆電界Vrev は
しばらくした後、図8(c)に示すように消滅し、+及
び−電荷の分布状態が変化する。
極Psの方向及び逆電界Vrev の方向を模式的に示した断
面図である。図8(a)はパルス電界印加前のメモリー
状態下における+及び−電荷の分布状態を示し、この時
の自発分極Psの向きは+電荷から−電荷の方向である。
図8(b)は、パルス電界解除直後の自発分極Psの向き
が図8(a)の時の向きに対して逆向き(従って、液晶
分子は一方の安定配向状態から他方の安定配向状態に反
転を生じている)であるが、+及び−電荷の分布状態
は、図8(a)の時と同様であるため、液晶内に逆電界
Vrev が矢印B方向に生じている。この逆電界Vrev は
しばらくした後、図8(c)に示すように消滅し、+及
び−電荷の分布状態が変化する。
【0051】図9は従来のポリイミドまたはポリアミド
配向膜によって生じたスプレイ配向状態の光学応答の変
化をチルト角θの変化に換えて示した説明図である。図
9に示す様に、パルス電界印加時においては、矢印X1
の方向に沿ってスプレイ配向状態下の平均分子軸S
(A)から最大チルト角H付近のユニフォーム配向状態
下の平均分子軸U2 までオーバーシュートし、パルス電
界解除直後においては、図8(b)に示す逆電界Vrev
の作用が働いて、矢印X2 の方向に沿ってスプレイ配向
状態下の平均分子軸S(B)までチルト角θが減少し、
そして図8(c)に示す逆電界Vrev の減衰の作用によ
り、矢印X3 の方向に沿ってスプレイ配向状態下の平均
分子軸S(C)までチルト角θが若干増大した安定配向
状態が得られる。図10はこの時の光学応答の状態を示
すグラフである。
配向膜によって生じたスプレイ配向状態の光学応答の変
化をチルト角θの変化に換えて示した説明図である。図
9に示す様に、パルス電界印加時においては、矢印X1
の方向に沿ってスプレイ配向状態下の平均分子軸S
(A)から最大チルト角H付近のユニフォーム配向状態
下の平均分子軸U2 までオーバーシュートし、パルス電
界解除直後においては、図8(b)に示す逆電界Vrev
の作用が働いて、矢印X2 の方向に沿ってスプレイ配向
状態下の平均分子軸S(B)までチルト角θが減少し、
そして図8(c)に示す逆電界Vrev の減衰の作用によ
り、矢印X3 の方向に沿ってスプレイ配向状態下の平均
分子軸S(C)までチルト角θが若干増大した安定配向
状態が得られる。図10はこの時の光学応答の状態を示
すグラフである。
【0052】本発明によれば、前述したポリアミド酸
と、第1のアルキルアミンと第2のアルキルアミンの2
種のアルキルアミンを用いた単分子膜又は単分子累積膜
を用いた配向方法によって得た配向状態においては、図
9に示したスプレイ状態下の平均分子軸S(A),S
(B)及びS(C)を生じることが無く、従って最大チ
ルト角Hに近いチルト角θを生じる平均分子軸に配列さ
せることができる。図11は、この時の本発明の光学応
答の状態を示すグラフである。図11によれば、残像に
原因する光学応答の遅れを生じないことと、メモリー状
態下での高いコントラストを引き起こしていることが認
められる。
と、第1のアルキルアミンと第2のアルキルアミンの2
種のアルキルアミンを用いた単分子膜又は単分子累積膜
を用いた配向方法によって得た配向状態においては、図
9に示したスプレイ状態下の平均分子軸S(A),S
(B)及びS(C)を生じることが無く、従って最大チ
ルト角Hに近いチルト角θを生じる平均分子軸に配列さ
せることができる。図11は、この時の本発明の光学応
答の状態を示すグラフである。図11によれば、残像に
原因する光学応答の遅れを生じないことと、メモリー状
態下での高いコントラストを引き起こしていることが認
められる。
【0053】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。
する。
【0054】実施例1 1000Å厚のITO膜が設けられている1.1mm厚
のガラス板を2枚用意し、疎水処理を施した。次に、ま
ず、下記の(7)式で表されるポリアミド酸をDMAC
に溶解させた。(単量体換算濃度1×10-3M)
のガラス板を2枚用意し、疎水処理を施した。次に、ま
ず、下記の(7)式で表されるポリアミド酸をDMAC
に溶解させた。(単量体換算濃度1×10-3M)
【0055】
【化5】
【0056】続いて、別途用意したN,N−ジメチルオ
クタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘ
プタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶
液を1:2:2(V/V)に混合して、ポリアミド酸混
合アミン塩溶液を調整した。
クタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘ
プタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶
液を1:2:2(V/V)に混合して、ポリアミド酸混
合アミン塩溶液を調整した。
【0057】かかる溶液を水温20℃の純水からなる水
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を25mN/mにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、上述ITO基板を水面を横切る方向
に速度5mm/minで静かに浸漬した後、続いて5m
m/minで静かに引き上げて2層のY型単分子累積膜
を作成した。かかる操作を繰り返して、6層(膜厚=8
0Å)のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形
成した。
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を25mN/mにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、上述ITO基板を水面を横切る方向
に速度5mm/minで静かに浸漬した後、続いて5m
m/minで静かに引き上げて2層のY型単分子累積膜
を作成した。かかる操作を繰り返して、6層(膜厚=8
0Å)のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜を形
成した。
【0058】その後、平均粒径1.5μmのアルミナビ
ーズを一方の基板上に散布した後、それぞれの基板引き
上げ方向が互いに平行かつ同一方向になるように2枚の
基板を重ね合わせて液晶セルを作成した。
ーズを一方の基板上に散布した後、それぞれの基板引き
上げ方向が互いに平行かつ同一方向になるように2枚の
基板を重ね合わせて液晶セルを作成した。
【0059】このセル内にチッソ(株)社製の強誘電性
スメクチック液晶である商品名[CS−1014]を等
方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/hで
30℃まで徐冷することによって配向させることができ
た。この[CS−1014]を用いた本実施例のセルで
の相変化は下記のとおりであった。
スメクチック液晶である商品名[CS−1014]を等
方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/hで
30℃まで徐冷することによって配向させることができ
た。この[CS−1014]を用いた本実施例のセルで
の相変化は下記のとおりであった。
【0060】
【数3】 (Iso.=等方相、Ch=コレステリック相、SmA
=スメクチックA相、SmC* =カイラルスメクチック
C相)
=スメクチックA相、SmC* =カイラルスメクチック
C相)
【0061】上述のように作成した6層LB膜を配向膜
とした液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挾み込んで、50μsecの30Vパルスを印加して
から、90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセッ
トし、この時の透過率をフォトマルチメータにより測定
したところ、チルト角θは16°であり、最暗状態時の
透過率は0.9%で、明状態時の透過率は50%であ
り、従ってコントラスト比は55:1であった。また、
残像の原因となる光学応答の遅れは0.2秒以下であっ
た。
とした液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挾み込んで、50μsecの30Vパルスを印加して
から、90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセッ
トし、この時の透過率をフォトマルチメータにより測定
したところ、チルト角θは16°であり、最暗状態時の
透過率は0.9%で、明状態時の透過率は50%であ
り、従ってコントラスト比は55:1であった。また、
残像の原因となる光学応答の遅れは0.2秒以下であっ
た。
【0062】この液晶セルを図12に示す駆動波形を用
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また文字入
力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去したと
ころ、残像の発生は判読できなかった。尚、図12のS
N ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形を表わ
しており、Iは代表的な情報線に印加した電圧波形を表
わしている。(I−SN)は、情報線Iと走査線SN と
の交差部に印加された合成波形である。又、本実施例で
は、V0 =5〜8V、ΔT =20〜70μsecで行っ
た。更にコントラスト比、光学応答を含め、画素の均一
性は良好であった。
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また文字入
力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去したと
ころ、残像の発生は判読できなかった。尚、図12のS
N ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形を表わ
しており、Iは代表的な情報線に印加した電圧波形を表
わしている。(I−SN)は、情報線Iと走査線SN と
の交差部に印加された合成波形である。又、本実施例で
は、V0 =5〜8V、ΔT =20〜70μsecで行っ
た。更にコントラスト比、光学応答を含め、画素の均一
性は良好であった。
【0063】実施例2 実施例1と同様に1000Å厚のITO膜が設けられた
1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理を施し
た。つぎに、下記の(8)式で表されるポリアミド酸を
DMACに溶解させた。
1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理を施し
た。つぎに、下記の(8)式で表されるポリアミド酸を
DMACに溶解させた。
【0064】
【化6】
【0065】続いて、別途用意したN−メチル−ジ−n
−オクタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3
M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミ
ド酸混合アミン塩溶液を調整した。
−オクタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3
M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミ
ド酸混合アミン塩溶液を調整した。
【0066】かかる溶液を水温20℃の純水からなる水
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を25mN/mにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、上述ITO基板を水面を横切る方向
に速度10mm/minで静かに浸漬した後、続いて1
0mm/minで静かに引き上げて2層のY型単分子累
積膜を作成した。かかる操作を繰り返して、4層(膜厚
=60Å)のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜
を形成し、配向制御膜とした。
相上に展開し、水面上に単分子膜を形成した。溶媒蒸発
除去後、表面圧を25mN/mにまで高めた。表面圧を
一定に保ちながら、上述ITO基板を水面を横切る方向
に速度10mm/minで静かに浸漬した後、続いて1
0mm/minで静かに引き上げて2層のY型単分子累
積膜を作成した。かかる操作を繰り返して、4層(膜厚
=60Å)のポリアミド酸混合アミン塩の単分子累積膜
を形成し、配向制御膜とした。
【0067】次に、実施例1と同様の方法で、液晶素子
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
3:1、光学応答のおくれは、0.2sec以下であっ
た。またマルチプレクシング駆動による表示を行なった
ところ、コントラスト及び残像について実施例1と同様
の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
3:1、光学応答のおくれは、0.2sec以下であっ
た。またマルチプレクシング駆動による表示を行なった
ところ、コントラスト及び残像について実施例1と同様
の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
【0068】実施例3 実施例1と同様に1000Å厚のITO膜が設けられ
1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疏水処理を施し
た。
1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疏水処理を施し
た。
【0069】次に、実施例1と同様のポリアミド酸をD
MACに溶解し、別途用意した、N,N−ジメチルオク
タデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘプ
タフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミド酸混
合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温20℃の
純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成
した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/mまで高め
た。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基板板を水
面を横切る方向に速度50mm/minで静かに浸漬し
た後、続いて50mm/minで静かに引き上げて2層
(膜厚=30Å)のY型単分子累積膜を作成し、配向制
御膜とした。
MACに溶解し、別途用意した、N,N−ジメチルオク
タデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘプ
タフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミド酸混
合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温20℃の
純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形成
した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/mまで高め
た。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基板板を水
面を横切る方向に速度50mm/minで静かに浸漬し
た後、続いて50mm/minで静かに引き上げて2層
(膜厚=30Å)のY型単分子累積膜を作成し、配向制
御膜とした。
【0070】次に、実施例1と同様の方法で、液晶素子
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
3:1、光学応答のおくれは0.4secであった。ま
た、マルチプレクシング駆動による表示を行なったとこ
ろ、コントラスト及び残像については実施例1と同様の
結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
3:1、光学応答のおくれは0.4secであった。ま
た、マルチプレクシング駆動による表示を行なったとこ
ろ、コントラスト及び残像については実施例1と同様の
結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
【0071】実施例4 実施例1と同様にして1000Åの厚のITO膜が設け
られた1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理
を施した。つぎに、下記の(9)式で表されるポリアミ
ド酸をDMACに溶解させた。
られた1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理
を施した。つぎに、下記の(9)式で表されるポリアミ
ド酸をDMACに溶解させた。
【0072】
【化7】
【0073】続いて、別途用意したN,N−ジメチルオ
クタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘ
プタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶
液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミド酸
混合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温20℃
の純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形
成した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/mまで高
めた。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基板を水
面を横切る方向に速度10mm/minで静かに浸漬し
た後、続いて10mm/minで静かに引き上げて2層
のY型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返し
て、4層(膜厚=60Å)のポリアミド酸混合アミン塩
の単分子累積膜を形成し、配向制御膜とした。
クタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液とヘ
プタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3M溶
液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミド酸
混合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温20℃
の純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜を形
成した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/mまで高
めた。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基板を水
面を横切る方向に速度10mm/minで静かに浸漬し
た後、続いて10mm/minで静かに引き上げて2層
のY型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰り返し
て、4層(膜厚=60Å)のポリアミド酸混合アミン塩
の単分子累積膜を形成し、配向制御膜とした。
【0074】次に、実施例1と同様の方法で、液晶素子
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
8:1、光学応答のおくれは0.2sec以下であっ
た。また、マルチプレクシング駆動による表示を行なっ
たところ、コントラスト及び残像については実施例1と
同様の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
8:1、光学応答のおくれは0.2sec以下であっ
た。また、マルチプレクシング駆動による表示を行なっ
たところ、コントラスト及び残像については実施例1と
同様の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
【0075】実施例5 実施例1と同様にして1000Å厚のITO膜が設けら
れた1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理を
施した。次に、実施例4と同様のポリアミド酸をDMA
Cに溶解させた。
れた1.1mm厚のガラス板を2枚用意し、疎水処理を
施した。次に、実施例4と同様のポリアミド酸をDMA
Cに溶解させた。
【0076】続いて、別途用意したN−メチル−ジ−n
−オクタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3
M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミ
ド酸混合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温2
0℃の純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜
を形成した。溶媒蒸発除去後、表面厚を25mN/mに
まで高めた。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基
板を水面を横切る方向に速度10mm/minで静かに
浸漬した後、続いて10mm/minで静かに引き上げ
て2層のY型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰
り返して、2層(膜厚=30Å)のポリアミド酸混合ア
ミン塩の単分子累積膜を形成し、配向制御膜とした。
−オクタデシルアミンの同溶媒による1×10-3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10-3
M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリアミ
ド酸混合アミン塩溶液を調整した。かかる溶液を水温2
0℃の純水からなる水相上に展開し、水面上に単分子膜
を形成した。溶媒蒸発除去後、表面厚を25mN/mに
まで高めた。表面圧を一定に保ちながら、上述ITO基
板を水面を横切る方向に速度10mm/minで静かに
浸漬した後、続いて10mm/minで静かに引き上げ
て2層のY型単分子累積膜を作成した。かかる操作を繰
り返して、2層(膜厚=30Å)のポリアミド酸混合ア
ミン塩の単分子累積膜を形成し、配向制御膜とした。
【0077】次に、実施例1と同様の方法で、液晶素子
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
8:1、光学応答のおくれは、0.2sec以下であっ
た。またマルチプレクシング駆動による表示を行なった
ところ、コントラスト及び残像については実施例1と同
様の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
を作成し、その液晶素子の評価を行なった。本実施例に
於ける配向制御膜を用いたときのコントラスト比は5
8:1、光学応答のおくれは、0.2sec以下であっ
た。またマルチプレクシング駆動による表示を行なった
ところ、コントラスト及び残像については実施例1と同
様の結果が得られ、画素の均一性は良好であった。
【0078】実施例6 実施例5と同様に配向制御膜を形成した。続いて、かか
る配向制御膜にナイロン触毛布による一方向のラビング
処理をおこなった。次に、実施例1と同様の方法で、液
晶素子を作成し、コントラスト比、光学反応の遅れを測
定した結果、コントラスト比は51:1、光学応答の遅
れは0.2sec以下であり、本発明における配向制御
膜にラビング処理を施した場合も同様の優れた素子特性
を有していることがわかった。また、マルチプレクシン
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例1と同様の結果が得られ、画素の均
一性は良好であった。
る配向制御膜にナイロン触毛布による一方向のラビング
処理をおこなった。次に、実施例1と同様の方法で、液
晶素子を作成し、コントラスト比、光学反応の遅れを測
定した結果、コントラスト比は51:1、光学応答の遅
れは0.2sec以下であり、本発明における配向制御
膜にラビング処理を施した場合も同様の優れた素子特性
を有していることがわかった。また、マルチプレクシン
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例1と同様の結果が得られ、画素の均
一性は良好であった。
【0079】実施例7 実施例1と同様に1000Å厚のITO膜が設けられた
1.1mm厚のガラス板を2枚用意した。
1.1mm厚のガラス板を2枚用意した。
【0080】次に、実施例1と同様のポリアミド酸をD
MACに溶解させ、別途用意したN−メチル−ジ−n−
オクタデシルアミンの同溶媒による1×10−3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10
−3M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリ
アミド酸混合アミン塩溶液を調整した。
MACに溶解させ、別途用意したN−メチル−ジ−n−
オクタデシルアミンの同溶媒による1×10−3M溶液
とヘプタフロロブチルアミンの同溶媒による1×10
−3M溶液を1:2:10(V/V)に混合して、ポリ
アミド酸混合アミン塩溶液を調整した。
【0081】ここで、上記ITO基板を、水温20℃の
純水からなる水相上の水面を横切る方向に静かに浸漬し
た後、前記溶液をかかる水相上に展開し、水面上に単分
子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/
mにまで高めた。表面圧を一定に保ちながら、10mm
/minで静かに引き上げて1層(膜厚=15Å)のポ
リアミド酸混合アミン塩の単分子膜を形成し、配向制御
膜とした。
純水からなる水相上の水面を横切る方向に静かに浸漬し
た後、前記溶液をかかる水相上に展開し、水面上に単分
子膜を形成した。溶媒蒸発除去後、表面圧を25mN/
mにまで高めた。表面圧を一定に保ちながら、10mm
/minで静かに引き上げて1層(膜厚=15Å)のポ
リアミド酸混合アミン塩の単分子膜を形成し、配向制御
膜とした。
【0082】次に、本実施例に於ける配向制御膜を用い
たときのコントラスト比は53:1、光学応答のおくれ
は、0.2sec以下であった。またマルチプレクシン
グ駆動による表示を行なったところ、コントラスト及び
残像については実施例1と同様の結果が得られ、画素の
均一性は良好であった。
たときのコントラスト比は53:1、光学応答のおくれ
は、0.2sec以下であった。またマルチプレクシン
グ駆動による表示を行なったところ、コントラスト及び
残像については実施例1と同様の結果が得られ、画素の
均一性は良好であった。
【0083】
【発明の効果】本発明によれば、ポリアミド酸と2種の
アルキルアミンからなる単分子膜又はは単分子累積膜を
配向制御膜として用いることにより、配向制御膜の表面
エネルギーが低下し、チルト角が増大するために、 1)明状態と暗状態でのコントラストが高く、特にマル
チプレクシング駆動時の表示コントラストが非常に大き
くなり高品位の表示が得られた。 2)目障りな残像現象が生じない。 3)また、面内密度が向上し、画素の均一性が高まっ
た。 などの効果が得られた。
アルキルアミンからなる単分子膜又はは単分子累積膜を
配向制御膜として用いることにより、配向制御膜の表面
エネルギーが低下し、チルト角が増大するために、 1)明状態と暗状態でのコントラストが高く、特にマル
チプレクシング駆動時の表示コントラストが非常に大き
くなり高品位の表示が得られた。 2)目障りな残像現象が生じない。 3)また、面内密度が向上し、画素の均一性が高まっ
た。 などの効果が得られた。
【図1】本発明の液晶素子の一例を示す模式図である。
【図2】らせん構造をもつカイラルスメクチック液晶の
配向状態を示す斜視図である。
配向状態を示す斜視図である。
【図3】非らせん構造の分子配列をもつカイラルスメク
チック液晶の配向状態を示す斜視図である。
チック液晶の配向状態を示す斜視図である。
【図4】本発明における配向膜による配向方法で配向し
たカイラルスメクチック液晶の配向状態を示す断面図で
ある。
たカイラルスメクチック液晶の配向状態を示す断面図で
ある。
【図5】図4のカイラルスメクチック液晶のユニフォー
ム配向状態におけるC−ダイレクタ図である。
ム配向状態におけるC−ダイレクタ図である。
【図6】スプレイ配向状態におけるC−ダイレクタ図で
ある。
ある。
【図7】図7(a)はユニフォーム配向状態におけるチ
ルト角θを示す説明図、図7(b)はスプレイ配向状態
におけるチルト角θを示す説明図である。
ルト角θを示す説明図、図7(b)はスプレイ配向状態
におけるチルト角θを示す説明図である。
【図8】強誘電性液晶内の電荷分布、自発分極Psの向
き及び逆電界Vrev の向きを示す断面図である。
き及び逆電界Vrev の向きを示す断面図である。
【図9】電界印加時及び印加後のチルト角θの変化を示
す説明図である。
す説明図である。
【図10】従来例の液晶素子における光学応答特性を示
すグラフである。
すグラフである。
【図11】本発明の液晶素子における光学応答特性を示
すグラフである。
すグラフである。
【図12】本発明の実施例で用いた駆動電圧の波形図で
ある。
ある。
11a,11b ガラス基板 12a,12b 透明電極 13a,13b 絶縁膜 14a,14b 配向制御膜 15 強誘電性液晶 16 ビーズスペーサー 17a,17b 偏光板 21a,21b 基板 22 液晶分子層 23 液晶分子 24 双極子モーメント 31a,31b 電圧印加手段 32 垂直層 33a 第1の安定状態 33b 第2の安定状態 34a 上向き双極子モーメント 34b 下向き双極子モーメント H らせん構造でのチルト角 θ 非らせん構造でのチルト角 Ea,Eb 電界 50 液晶分子層 51a 上基板 51b 下基板 52 液晶分子 53 円錐 54 底面 60 基板引き上げ方向またはラビング処理軸 61a 配向状態U1 での平均分子軸 61b 配向状態U2 での平均分子軸 62a 配向状態S1 での平均分子軸 62b 配向状態S2 での平均分子軸 81 C−ダイレクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳沢 芳浩 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 河田 春紀 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 一対の平行基板と、該一対の平行基板の
面に対して垂直又は略垂直な複数の層を形成している分
子の配列をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子におい
て、前記一対の平行基板のうち少なくとも一方の基板が
前記複数の層を一方向に優先して配向させる配向制御膜
を有し、該配向制御膜が、ポリアミド酸と、下記一般式
(1)〜(3)のいずれかで表わされる第1のアルキル
アミンと、下記一般式(4)〜(6)のいずれかで表わ
される第2のアルキルアミンとからなる単分子膜又はそ
の累積膜であることを特徴とする液晶素子。 【化1】 (式中、X,Yは−H,−CH3 ,−C2 H5 のいずれ
かを表わし、p,q,wは26以下の整数で、12≦p
≦26、15≦p+q≦52,17≦p+q+w≦60
である。) 【化2】 (式中、X,Yは−H,−CH3 ,−C2 H5 のいずれ
かを表わし、p′,q′,w′は16以下の整数で、1
≦p′≦16、4≦p′+q′≦16,4≦p′+q′
+w′≦16である。) - 【請求項2】 前記配向制御膜がラングミュアーブロジ
ェット法により形成されることを特徴とする請求項1記
載の液晶素子。 - 【請求項3】 前記ポリアミド酸が分子内にフッ素基を
有していることを特徴とする請求項1記載の液晶素子 - 【請求項4】 前記第1のアルキルアミンが分子内にフ
ッ素基を有していることを特徴とする請求項1記載の液
晶素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9856992A JPH05273558A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9856992A JPH05273558A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 液晶素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05273558A true JPH05273558A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=14223315
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9856992A Pending JPH05273558A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 液晶素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05273558A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09316200A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-09 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 液晶配向剤 |
| WO1998054617A1 (en) * | 1997-05-26 | 1998-12-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal alignment film, method of producing the same, liquid crystal display made by using the film, and method of producing the same |
| US6368681B1 (en) | 1996-07-10 | 2002-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal alignment film, method of manufacturing the film, liquid crystal display using the film and method, and method of manufacturing the liquid crystal display |
-
1992
- 1992-03-26 JP JP9856992A patent/JPH05273558A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09316200A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-09 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 液晶配向剤 |
| US6368681B1 (en) | 1996-07-10 | 2002-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal alignment film, method of manufacturing the film, liquid crystal display using the film and method, and method of manufacturing the liquid crystal display |
| WO1998054617A1 (en) * | 1997-05-26 | 1998-12-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal alignment film, method of producing the same, liquid crystal display made by using the film, and method of producing the same |
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