JPH05281173A - 塗膜劣化測定用プローブ - Google Patents
塗膜劣化測定用プローブInfo
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- JPH05281173A JPH05281173A JP8352592A JP8352592A JPH05281173A JP H05281173 A JPH05281173 A JP H05281173A JP 8352592 A JP8352592 A JP 8352592A JP 8352592 A JP8352592 A JP 8352592A JP H05281173 A JPH05281173 A JP H05281173A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 外部ノイズの混入が防止できると共に、プロ
ーブ本体容器を水洗いしたときの絶縁不良、導通不良の
問題も起こさずに使用できるようにする。 【構成】 プローブ本体容器43に孔52を形成すると
共に、測定用ケーブル55の一端部をその孔52に挿入
して測定用電極44に接続し、この状態の測定用ケーブ
ル55を水密に固定してプローブ本体容器43に一体化
する一方、測定用ケーブル55の他端部に着脱自在なコ
ネクタ64を設けたことにより、測定用ケーブル55の
測定用電極44に対する接続部分をプローブ本体容器4
3の孔52中に留めて、気中に露出させず、又、それに
プローブ本体容器43を水洗いしたときの水や導電性ゲ
ル45の残りが付着することも避けられるようにした。
ーブ本体容器を水洗いしたときの絶縁不良、導通不良の
問題も起こさずに使用できるようにする。 【構成】 プローブ本体容器43に孔52を形成すると
共に、測定用ケーブル55の一端部をその孔52に挿入
して測定用電極44に接続し、この状態の測定用ケーブ
ル55を水密に固定してプローブ本体容器43に一体化
する一方、測定用ケーブル55の他端部に着脱自在なコ
ネクタ64を設けたことにより、測定用ケーブル55の
測定用電極44に対する接続部分をプローブ本体容器4
3の孔52中に留めて、気中に露出させず、又、それに
プローブ本体容器43を水洗いしたときの水や導電性ゲ
ル45の残りが付着することも避けられるようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は金属表面に塗布された塗
膜の劣化を電気的に測定するところの塗膜劣化測定用プ
ローブに関する。
膜の劣化を電気的に測定するところの塗膜劣化測定用プ
ローブに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、金属表面に塗布された塗膜の
劣化を電気的に測定する方法として、図3に示す構成の
ものが実施されている。
劣化を電気的に測定する方法として、図3に示す構成の
ものが実施されている。
【0003】すなわち、素地金属1上に塗布された被測
定塗膜2に、上方より導電性ゲル3を介してアルミ箔等
の測定用電極4を接触させ、この状態で、交流電源5に
より素地金属1と測定用電極4との間に交流電圧を印加
し、このときの電流値を電流計6から、電圧値を電圧計
7からそれぞれ読取り、これらの値から被測定塗膜2の
インピーダンスを求める。
定塗膜2に、上方より導電性ゲル3を介してアルミ箔等
の測定用電極4を接触させ、この状態で、交流電源5に
より素地金属1と測定用電極4との間に交流電圧を印加
し、このときの電流値を電流計6から、電圧値を電圧計
7からそれぞれ読取り、これらの値から被測定塗膜2の
インピーダンスを求める。
【0004】このようにして被測定塗膜2のインピーダ
ンスを求めた後、周波数に対するインピーダンスの絶対
値をプロットしたボード線図、あるいはインピーダンス
を実数部と虚数部とで表わしたナイキスト線図等を作成
して、被測定塗膜2の劣化の程度を推定するのである。
これに対し、測定精度を向上させるために、図4に示す
塗膜劣化測定用プローブを用いる測定方法が考えられて
いる。
ンスを求めた後、周波数に対するインピーダンスの絶対
値をプロットしたボード線図、あるいはインピーダンス
を実数部と虚数部とで表わしたナイキスト線図等を作成
して、被測定塗膜2の劣化の程度を推定するのである。
これに対し、測定精度を向上させるために、図4に示す
塗膜劣化測定用プローブを用いる測定方法が考えられて
いる。
【0005】このものの場合、プローブ本体容器11の
内奥部に測定用電極12が設けられており、これに接触
するようにプローブ本体容器11内にスポンジ13が装
填され、このスポンジ13には導電性ゲル14が含浸さ
れている。又、スポンジ13にはプローブ本体容器11
外下方に突出する凸面部15が形成されており、この凸
面部15が素地金属16に塗布された被測定塗膜17に
押し付けられることによって、導電性ゲル14が被測定
塗膜17に密接されるようになっている。
内奥部に測定用電極12が設けられており、これに接触
するようにプローブ本体容器11内にスポンジ13が装
填され、このスポンジ13には導電性ゲル14が含浸さ
れている。又、スポンジ13にはプローブ本体容器11
外下方に突出する凸面部15が形成されており、この凸
面部15が素地金属16に塗布された被測定塗膜17に
押し付けられることによって、導電性ゲル14が被測定
塗膜17に密接されるようになっている。
【0006】更に、プローブ本体容器11にはその内外
を貫通して接続端子18が設けられている。この接続端
子18の内側端部は前記測定用電極12に導通されてお
り、外側端部に測定用ケーブル19が一端部をクリップ
20によって接続されるようになっている。又、測定用
ケーブル19は、図示しない他端部が、インピーダンス
測定装置に接続されたプリアンプ(いずれも図示せず)
に接続されるようになっている。加えて、プローブ本体
容器11の外周部には雄ねじ部21が形成されており、
これにマグネット22を有する押えリング23が螺合さ
れている。
を貫通して接続端子18が設けられている。この接続端
子18の内側端部は前記測定用電極12に導通されてお
り、外側端部に測定用ケーブル19が一端部をクリップ
20によって接続されるようになっている。又、測定用
ケーブル19は、図示しない他端部が、インピーダンス
測定装置に接続されたプリアンプ(いずれも図示せず)
に接続されるようになっている。加えて、プローブ本体
容器11の外周部には雄ねじ部21が形成されており、
これにマグネット22を有する押えリング23が螺合さ
れている。
【0007】かかる構成にて、塗膜劣化測定時には、上
記押えリング23を雄ねじ部21に沿って螺進させるこ
とにより、マグネット22の素地金属16に対する磁気
吸引力によって、スポンジ13(導電性ゲル14)を被
測定塗膜17に密接させ、一方、プリアンプに接続した
測定用ケーブル19をクリップ20により接続端子18
に接続し、又、同じくプリアンプに接続した今一つの測
定用ケーブル24を素地金属16に接続する。そして、
その状態で、インピーダンス測定装置からプリアンプ、
測定用ケーブル19,24を経由して測定用電極12と
素地金属16との間に交流電圧を印加し、インピーダン
スを測定するようになっている。
記押えリング23を雄ねじ部21に沿って螺進させるこ
とにより、マグネット22の素地金属16に対する磁気
吸引力によって、スポンジ13(導電性ゲル14)を被
測定塗膜17に密接させ、一方、プリアンプに接続した
測定用ケーブル19をクリップ20により接続端子18
に接続し、又、同じくプリアンプに接続した今一つの測
定用ケーブル24を素地金属16に接続する。そして、
その状態で、インピーダンス測定装置からプリアンプ、
測定用ケーブル19,24を経由して測定用電極12と
素地金属16との間に交流電圧を印加し、インピーダン
スを測定するようになっている。
【0008】しかしながら、このものでは、測定用ケー
ブル19のクリップ20による接続部分が気中に露出す
るため、そこから外部ノイズが混入し、測定精度が高く
得られないという問題点を有する。
ブル19のクリップ20による接続部分が気中に露出す
るため、そこから外部ノイズが混入し、測定精度が高く
得られないという問題点を有する。
【0009】そこで更に、図5に示すように構成するこ
とが考えられている。すなわち、基本的には図4に示し
たものと同様であるが、プローブ本体容器11には、接
続端子18に代えて、コネクタ31を例えば上部に設
け、これの中心接続導体32の下端部を測定用電極12
に導通させ、上端部をガイド筒部33内においてプロー
ブ本体容器11上に突出させたものであり、これに対し
て、測定用ケーブル19は、その一端部に設けた差込み
コネクタ34をガイド筒部33内に差込んで、中心接続
導体32に接続するものである。
とが考えられている。すなわち、基本的には図4に示し
たものと同様であるが、プローブ本体容器11には、接
続端子18に代えて、コネクタ31を例えば上部に設
け、これの中心接続導体32の下端部を測定用電極12
に導通させ、上端部をガイド筒部33内においてプロー
ブ本体容器11上に突出させたものであり、これに対し
て、測定用ケーブル19は、その一端部に設けた差込み
コネクタ34をガイド筒部33内に差込んで、中心接続
導体32に接続するものである。
【0010】この構成によると、測定用ケーブル19の
コネクタ中心接続導体32に対する接続部分が気中に露
出せず、そこからの外部ノイズの混入を防止できるた
め、測定精度を高く得ることができる。
コネクタ中心接続導体32に対する接続部分が気中に露
出せず、そこからの外部ノイズの混入を防止できるた
め、測定精度を高く得ることができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述のような構成のも
のの場合、プローブ本体容器11内のスポンジ13は、
測定のたびに所定のスポンジ保管容器から取出してプロ
ーブ本体容器11内に装填されるようになっており、測
定終了後には、プローブ本体容器11内から取出してス
ポンジ保管容器に戻すようになっている。このため、プ
ローブ本体容器11の内面部には、上記スポンジ13に
含浸されていた導電性ゲル14が付着して残るようにな
っており、この導電性ゲル14には塩分が含まれている
ため、それによるプローブ本体容器11の腐食のおそれ
がある。そこで、スポンジ13取出し後には、プローブ
本体容器11の内面部を水洗い洗浄し、更に乾燥させて
保管するようにしていた。
のの場合、プローブ本体容器11内のスポンジ13は、
測定のたびに所定のスポンジ保管容器から取出してプロ
ーブ本体容器11内に装填されるようになっており、測
定終了後には、プローブ本体容器11内から取出してス
ポンジ保管容器に戻すようになっている。このため、プ
ローブ本体容器11の内面部には、上記スポンジ13に
含浸されていた導電性ゲル14が付着して残るようにな
っており、この導電性ゲル14には塩分が含まれている
ため、それによるプローブ本体容器11の腐食のおそれ
がある。そこで、スポンジ13取出し後には、プローブ
本体容器11の内面部を水洗い洗浄し、更に乾燥させて
保管するようにしていた。
【0012】しかしながら、図5に示すように構成した
ものの場合、プローブ本体容器11を水洗いすると、そ
の水や導電性ゲル14の残りがコネクタ31のガイド筒
部33に入り込み、中心接続導体32にかかって、この
導体32がガイド筒部33を介しプローブ本体容器11
に導通してしまうという絶縁不良の問題を生じる。
ものの場合、プローブ本体容器11を水洗いすると、そ
の水や導電性ゲル14の残りがコネクタ31のガイド筒
部33に入り込み、中心接続導体32にかかって、この
導体32がガイド筒部33を介しプローブ本体容器11
に導通してしまうという絶縁不良の問題を生じる。
【0013】又、この場合、中心接続導体32が水や導
電性ゲル14の残りの接触により腐食して測定用ケーブ
ル19に対し導通不良となり、測定精度が低下したり、
場合によっては測定不能になってしまうという問題を有
していた。
電性ゲル14の残りの接触により腐食して測定用ケーブ
ル19に対し導通不良となり、測定精度が低下したり、
場合によっては測定不能になってしまうという問題を有
していた。
【0014】本発明は上述の事情に鑑みてなされたもの
であり、従ってその目的は、外部ノイズの混入が防止で
きるばかりでなく、プローブ本体容器を水洗いしたとき
の絶縁不良、導通不良の問題も起こさずに使用できる塗
膜劣化測定用プローブを提供するにある。
であり、従ってその目的は、外部ノイズの混入が防止で
きるばかりでなく、プローブ本体容器を水洗いしたとき
の絶縁不良、導通不良の問題も起こさずに使用できる塗
膜劣化測定用プローブを提供するにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の塗膜劣化測定用プローブにおいては、測定
用電極を設けたプローブ本体容器内に導電性ゲルを含浸
した含浸部材を装填し、上記測定用電極に測定用ケーブ
ルを接続して構成されるものにあって、プローブ本体容
器に孔を形成すると共に、上記測定用ケーブルの一端部
をその孔に挿入して測定用電極に接続し、この状態の測
定用ケーブルを水密に固定してプローブ本体容器に一体
化する一方、前記測定用ケーブルの他端部に着脱自在な
接続部を設けたことを特徴とする。
に、本発明の塗膜劣化測定用プローブにおいては、測定
用電極を設けたプローブ本体容器内に導電性ゲルを含浸
した含浸部材を装填し、上記測定用電極に測定用ケーブ
ルを接続して構成されるものにあって、プローブ本体容
器に孔を形成すると共に、上記測定用ケーブルの一端部
をその孔に挿入して測定用電極に接続し、この状態の測
定用ケーブルを水密に固定してプローブ本体容器に一体
化する一方、前記測定用ケーブルの他端部に着脱自在な
接続部を設けたことを特徴とする。
【0016】
【作用】上記手段によれば、測定用ケーブルの測定用電
極に対する接続部分はプローブ本体容器の孔中に留めら
れて、気中に露出することがなく、又、それにプローブ
本体容器を水洗いしたときの水や導電性ゲルが付着する
ことも避けられる。
極に対する接続部分はプローブ本体容器の孔中に留めら
れて、気中に露出することがなく、又、それにプローブ
本体容器を水洗いしたときの水や導電性ゲルが付着する
ことも避けられる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の一実施例につき、図1及び図
2を参照して説明する。まず図1には、素地金属41、
及びこの素地金属41上に塗布された被測定塗膜42を
示している。
2を参照して説明する。まず図1には、素地金属41、
及びこの素地金属41上に塗布された被測定塗膜42を
示している。
【0018】これに対して、プローブ本体容器43に
は、その内周面部に測定用電極44を設けている。この
測定用電極44は、詳細には、すず箔など分極性の小さ
い材料から成っており、プローブ本体容器43の内周面
部には接着、メッキ等の方法で設けている。
は、その内周面部に測定用電極44を設けている。この
測定用電極44は、詳細には、すず箔など分極性の小さ
い材料から成っており、プローブ本体容器43の内周面
部には接着、メッキ等の方法で設けている。
【0019】又、プローブ本体容器43の内部には、導
電性ゲル45を含浸した含浸部材例えばスポンジ46を
装填し、その導電性ゲル45を上記測定用電極44に接
触させている。スポンジ46にはプローブ本体容器43
外下方に突出する凸面部47を形成している。更に、プ
ローブ本体容器43の下部外周部には雄ねじ部48を形
成しており、これにマグネット49を有する押えリング
50を螺合させている。
電性ゲル45を含浸した含浸部材例えばスポンジ46を
装填し、その導電性ゲル45を上記測定用電極44に接
触させている。スポンジ46にはプローブ本体容器43
外下方に突出する凸面部47を形成している。更に、プ
ローブ本体容器43の下部外周部には雄ねじ部48を形
成しており、これにマグネット49を有する押えリング
50を螺合させている。
【0020】一方、プローブ本体容器43の上部外周囲
には、シールドケース51を被着している。このシール
ドケース51は、外部ノイズの混入を防止するためのも
ので、例えばアルミニウム材から成っており、上面部及
び各側面部を一体に形成している。
には、シールドケース51を被着している。このシール
ドケース51は、外部ノイズの混入を防止するためのも
ので、例えばアルミニウム材から成っており、上面部及
び各側面部を一体に形成している。
【0021】しかして、前記プローブ本体容器43の上
面部中央には、シールドケース51と共通に、前記測定
用電極44に達する孔52を形成しており、この孔52
の上方部に固定具53を複数のねじ54によって取付け
ている。
面部中央には、シールドケース51と共通に、前記測定
用電極44に達する孔52を形成しており、この孔52
の上方部に固定具53を複数のねじ54によって取付け
ている。
【0022】これらに対して、測定用ケーブル55は、
図2に示すように、中心部の例えば銅線を材料とした中
心導体56の周囲に、例えばポリエチレン等の材料で絶
縁被覆57を施し、更にその周囲を銅の網線58で囲繞
して、その周囲部をゴム等の絶縁表層59で覆って成る
もので、外部ノイズが混入しても網線58に吸収されて
中心導体57に達しないいわゆるシールド線であり、そ
の長さは特定はされないが、50〜100[cm]程度の
ものである。
図2に示すように、中心部の例えば銅線を材料とした中
心導体56の周囲に、例えばポリエチレン等の材料で絶
縁被覆57を施し、更にその周囲を銅の網線58で囲繞
して、その周囲部をゴム等の絶縁表層59で覆って成る
もので、外部ノイズが混入しても網線58に吸収されて
中心導体57に達しないいわゆるシールド線であり、そ
の長さは特定はされないが、50〜100[cm]程度の
ものである。
【0023】このような測定用ケーブル55の一端部
を、前記固定具53を通して、シールドケース51及び
プローブ本体容器43の孔52に挿入し、中心導体56
を前記測定用電極44にはんだ付け等の方法により接続
している。そして、その接続部を防水性の接着剤60に
よってスポンジ46中の導電性ゲル45からシールして
いる。
を、前記固定具53を通して、シールドケース51及び
プローブ本体容器43の孔52に挿入し、中心導体56
を前記測定用電極44にはんだ付け等の方法により接続
している。そして、その接続部を防水性の接着剤60に
よってスポンジ46中の導電性ゲル45からシールして
いる。
【0024】又、固定具53の測定用ケーブル55挿通
部分にも同様の接着剤61を塗布してシールをし、同時
にそれによって測定用ケーブル55の固定、ひいてはそ
の測定用ケーブル55のプローブ本体容器43との一体
化をもしている。なお、このほか、固定具53のシール
ドケース51との接触部分にも同様の接着剤62を塗布
してシールをしている。
部分にも同様の接着剤61を塗布してシールをし、同時
にそれによって測定用ケーブル55の固定、ひいてはそ
の測定用ケーブル55のプローブ本体容器43との一体
化をもしている。なお、このほか、固定具53のシール
ドケース51との接触部分にも同様の接着剤62を塗布
してシールをしている。
【0025】加えて、図1にはインピーダンス測定装置
(図示せず)に接続したプリアンプ63を示しており、
これに測定用ケーブル55の他端部を着脱自在な接続部
としてのコネクタ64によって接続するようにしてお
り、又、このプリアンプ63には前記素地金属41に接
続した今一つの測定用ケーブル65をコネクタ66によ
って接続するようにしている。
(図示せず)に接続したプリアンプ63を示しており、
これに測定用ケーブル55の他端部を着脱自在な接続部
としてのコネクタ64によって接続するようにしてお
り、又、このプリアンプ63には前記素地金属41に接
続した今一つの測定用ケーブル65をコネクタ66によ
って接続するようにしている。
【0026】かかる構成にて、塗膜劣化測定時には、押
えリング50を雄ねじ部48に沿って螺進させることに
より、マグネット49の素地金属41に対する磁気吸引
力によって、スポンジ46(導電性ゲル45)を凸面部
47により被測定塗膜22に密接させ、一方、測定用ケ
ーブル55の他端部をプリアンプ63に接続し、今一つ
の測定用ケーブル65もプリアンプ63に接続する。そ
して、その状態で、インピーダンス測定装置からプリア
ンプ63、測定用ケーブル55,65を経由して測定用
電極44と素地金属41との間に交流電圧を印加し、イ
ンピーダンスを測定する。
えリング50を雄ねじ部48に沿って螺進させることに
より、マグネット49の素地金属41に対する磁気吸引
力によって、スポンジ46(導電性ゲル45)を凸面部
47により被測定塗膜22に密接させ、一方、測定用ケ
ーブル55の他端部をプリアンプ63に接続し、今一つ
の測定用ケーブル65もプリアンプ63に接続する。そ
して、その状態で、インピーダンス測定装置からプリア
ンプ63、測定用ケーブル55,65を経由して測定用
電極44と素地金属41との間に交流電圧を印加し、イ
ンピーダンスを測定する。
【0027】このように本構成のものでは、測定用ケー
ブル55の一端部をプローブ本体容器43に形成した孔
52に挿入して測定用電極44に接続し、この状態の測
定用ケーブル55をシールドケース51を介してプロー
ブ本体容器43に設けた固定具53により水密に固定し
てプローブ本体容器43に一体化した状態で、被測定塗
膜22の劣化の測定ができるもので、その折り、測定用
ケーブル55の測定用電極44に対する接続部分はプロ
ーブ本体容器43の孔52中に留められて、気中に露出
することがなく、従って、そこから外部ノイズが混入す
ることもなく、高精度な測定ができる。
ブル55の一端部をプローブ本体容器43に形成した孔
52に挿入して測定用電極44に接続し、この状態の測
定用ケーブル55をシールドケース51を介してプロー
ブ本体容器43に設けた固定具53により水密に固定し
てプローブ本体容器43に一体化した状態で、被測定塗
膜22の劣化の測定ができるもので、その折り、測定用
ケーブル55の測定用電極44に対する接続部分はプロ
ーブ本体容器43の孔52中に留められて、気中に露出
することがなく、従って、そこから外部ノイズが混入す
ることもなく、高精度な測定ができる。
【0028】又、測定後、スポンジ46を取出したプロ
ーブ本体容器43の内面部を水洗いしたときにも、その
水や導電性ゲル45の残りが上記測定用ケーブル55の
測定用電極44に対する接続部分に付着することが避け
られるもので、これにより、その接続部分の絶縁不良、
導通不良の問題も起こさず、確実で更に高精度な測定が
できる。
ーブ本体容器43の内面部を水洗いしたときにも、その
水や導電性ゲル45の残りが上記測定用ケーブル55の
測定用電極44に対する接続部分に付着することが避け
られるもので、これにより、その接続部分の絶縁不良、
導通不良の問題も起こさず、確実で更に高精度な測定が
できる。
【0029】なお、上記実施例においては、測定用ケー
ブル55をプローブ本体容器43に水密に一体化するに
当たって固定具53を用いた場合について説明したが、
孔52内に樹脂やゴム等の絶縁材料を充填して固化させ
ることにより、測定用ケーブル55をプローブ本体容器
43に水密に一体化するようにしても良い。加えて、孔
52はプローブ本体容器43の上面部以外の側面部等に
形成しても良い。又、シールドケース51は上面部及び
各側面部を別体に形成して組合わせるものであっても良
く、更に、このシールドケース51は電磁石に変えて必
要なシールド効果を得るようにしても良いし、別途シー
ルドドライブアンプ等を設けるようにしても良い。
ブル55をプローブ本体容器43に水密に一体化するに
当たって固定具53を用いた場合について説明したが、
孔52内に樹脂やゴム等の絶縁材料を充填して固化させ
ることにより、測定用ケーブル55をプローブ本体容器
43に水密に一体化するようにしても良い。加えて、孔
52はプローブ本体容器43の上面部以外の側面部等に
形成しても良い。又、シールドケース51は上面部及び
各側面部を別体に形成して組合わせるものであっても良
く、更に、このシールドケース51は電磁石に変えて必
要なシールド効果を得るようにしても良いし、別途シー
ルドドライブアンプ等を設けるようにしても良い。
【0030】
【発明の効果】以上の記述で明らかなように、本発明の
塗膜劣化測定用プローブは、測定用電極を設けたプロー
ブ本体容器内に導電性ゲルを含浸した含浸部材を装填
し、上記測定用電極に測定用ケーブルを接続して構成さ
れるものにおいて、プローブ本体容器に孔を形成すると
共に、上記測定用ケーブルの一端部をその孔に挿入して
測定用電極に接続し、この状態の測定用ケーブルを水密
に固定してプローブ本体容器に一体化する一方、測定用
ケーブルの他端部に着脱自在な接続部を設けたことを特
徴とするものであり、それによって、外部ノイズの混入
が防止できると共に、プローブ本体容器を水洗いしたと
きの絶縁不良、導通不良の問題も起こさずに使用でき、
もって、確実で高精度な測定ができるという優れた効果
を奏する。
塗膜劣化測定用プローブは、測定用電極を設けたプロー
ブ本体容器内に導電性ゲルを含浸した含浸部材を装填
し、上記測定用電極に測定用ケーブルを接続して構成さ
れるものにおいて、プローブ本体容器に孔を形成すると
共に、上記測定用ケーブルの一端部をその孔に挿入して
測定用電極に接続し、この状態の測定用ケーブルを水密
に固定してプローブ本体容器に一体化する一方、測定用
ケーブルの他端部に着脱自在な接続部を設けたことを特
徴とするものであり、それによって、外部ノイズの混入
が防止できると共に、プローブ本体容器を水洗いしたと
きの絶縁不良、導通不良の問題も起こさずに使用でき、
もって、確実で高精度な測定ができるという優れた効果
を奏する。
【図1】本発明の一実施例を示す全体的断面図
【図2】測定用ケーブル単体の断面図
【図3】従来例を示す図1相当図
【図4】異なる従来例を示す図1相当図
【図5】更に異なる従来例を示す図1部分相当図
43はプローブ本体容器、44は測定用電極、45は導
電性ゲル、46はスポンジ(含浸部材)、52は孔、5
5は測定用ケーブル、64はコネクタ(接続部)を示
す。
電性ゲル、46はスポンジ(含浸部材)、52は孔、5
5は測定用ケーブル、64はコネクタ(接続部)を示
す。
Claims (1)
- 【請求項1】 測定用電極を設けたプローブ本体容器内
に導電性ゲルを含浸した含浸部材を装填し、上記測定用
電極に測定用ケーブルを接続して構成されるものにおい
て、プローブ本体容器に孔を形成すると共に、上記測定
用ケーブルの一端部をその孔に挿入して測定用電極に接
続し、この状態の測定用ケーブルを水密に固定してプロ
ーブ本体容器に一体化する一方、前記測定用ケーブルの
他端部に着脱自在な接続部を設けたことを特徴とする塗
膜劣化測定用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8352592A JPH05281173A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8352592A JPH05281173A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05281173A true JPH05281173A (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=13804903
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8352592A Pending JPH05281173A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 塗膜劣化測定用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05281173A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202278A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Starlite Co Ltd | 試験用装置 |
| JP2006288578A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Terumo Corp | 血圧測定装置 |
| JP2007225508A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Dainippon Toryo Co Ltd | 塗膜下金属腐食診断装置の測定セル |
| JP2011105980A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 原子炉炉内構造物表面の電解エッチング方法および装置 |
-
1992
- 1992-04-06 JP JP8352592A patent/JPH05281173A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202278A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Starlite Co Ltd | 試験用装置 |
| JP2006288578A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Terumo Corp | 血圧測定装置 |
| JP2007225508A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Dainippon Toryo Co Ltd | 塗膜下金属腐食診断装置の測定セル |
| JP2011105980A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 原子炉炉内構造物表面の電解エッチング方法および装置 |
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