JPH05282178A - ソフトウェア品質評価方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 不良密度の値がテスト進捗状況に対して適切
な値であるかどうかを判定し、しかもソフトウェアを構
成する各要素品質の評価を行うことができるようにす
る。 【構成】 ソフトウェア開発におけるテスト工程でのテ
ストカバレジ率と、開発規模に対する不良件数を表わす
不良密度との関係を求め、この関係により品質評価を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はソフトウェア開発におけ
るテスト工程での品質評価方式に係り、特にテスト十分
性を考慮した品質評価方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ソフトウェアの品質評価の方法と
して、開発規模（総ステップ数）に対する不良件数およ
び不良内容での分析により品質を評価する方法がある。
また、特開昭６２−６３３２号公報および特開昭６２−
２８８４５号公報に開示されているように、不良内容の
工程別分類による評価方法、また予測される不良摘出の
目標値までの充足率による評価方法がある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、通常、ソフ
トウェア開発ではテスト工程の進行と共に不良件数が増
加し、また修正が加えられることに伴って総ステップ数
も変化する。

【０００４】しかしながら、上記従来技術においては、
いずれにおいてもテスト工程進行途中における不良件数
の値をテスト完了時点での目標値と比較することにより
品質評価を行っている。このため、テスト工程の進捗度
合いとテスト進行と共に変化する不良密度との関係がわ
からず、さらにソフトウェアを構成する各要素（プログ
ラム／モジュール等）個別の評価がわからないという問
題がある。

【０００５】本発明の目的は、不良密度の値がテスト進
捗状況に対して適切な値であるかどうかを判定し、かつ
ソフトウェアを構成する各要素の評価を行うことができ
るソフトウェア品質評価方式を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、ソフトウェア開発におけるテスト工程での
テストカバレジ率と、開発規模に対する不良件数を表わ
す不良密度との関係を求め、この関係により品質評価を
行うようにした。

【０００７】

【作用】例えばモジュ−ルレベルのテストカバレジ率
は、Ｓ０（全モジュ−ルに対する走行モジュ−ル数比
率）・Ｓ１（全てのモジュ−ル間呼出しに対する呼出し
比率）で表わされる。従って、上記手段によれば、各モ
ジュールの総ステップ数と不良件数とから不良密度（件
／Ｋｓｔｅｐ＝１０００ステップ当りの不良件数）を計
算し、この不良密度と該不良密度が計算されたモジュー
ルに対応するテストカバレジ率を計算し、これらの関係
に基づいて品質評価を行うため、修正が加えられること
に伴って総ステップ数が変化しても、テスト進捗状態と
不良密度の関係が明確になり、不良密度の値がテスト進
捗状況に対して適切な値であるかどうかを正確に判定す
ることができたうえ、各モジュ−ルの個別の品質評価を
行うことができる。

【０００８】この場合、命令レベルあるいはプログラム
レベルについても同様に評価することができる。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体
的に説明する。

【００１０】図１は本発明の品質評価方式を実現するシ
ステムの一実施例を示す構成図である。

【００１１】図１において、１はテスト工程で摘出した
不良情報（不良原因、不良モジュ−ルの名称、不良現象
など）を登録する端末装置、２はソフトウェアを構成す
るソースファイル中の各モジュール毎のステップ数をカ
ウントするステップ数カウントツール、３はテスト工程
におけるテストカバレジ率計測ツールであり、例えば、
特開昭６１−１６９９４４号に記載されているツ−ルを
使用することができる。

【００１２】４は上記各々のデータ（不良情報、モジュ
ール毎のステップ数、テストカバレジ率）を格納する情
報格納用データベース、５はプロット図を作成するため
の素データを出力する中間ファイル、６は中間ファイル
５の内容を入力し、プロット図を作成するグラフ作成ツ
ール、７は作成されたプロット図を出力するプリンタで
ある。

【００１３】以上の構成において、まず、テスト工程に
おいて不良が発生したならば、端末装置１から不良情報
（不良原因、不良モジュ−ルの名称、不良現象など）を
入力し、データベース４に登録する。これに並行して、
ステップ数カウントツール２には、各モジュール毎のス
テップ数をカウントさせ、またテストカバレジ率計測ツ
ール３には、テスト工程におけるテストカバレジ率をモ
ジュ−ル別に計測させ、それぞれのカウント値およびテ
ストカバレジ率をデータベース４に順次格納させる。

【００１４】そして、一連のテストが終了したならば、
データベース４に登録されている不良情報（不良原因、
不良モジュ−ルの名称、不良現象など）を読み込み、そ
の情報中のモジュール名称単位に不良件数をカウントす
る。次に、そのカウントしたモジュールに対応するステ
ップ数、テストカバレジ率を読み込む。読み込まれたス
テップ数と不良件数から不良密度を計算し、各モジュー
ル毎の不良密度のデータを作成する。この作成したデー
タは順次中間ファイル５に出力する。

【００１５】この結果、中間ファイル５には図２の示す
ような構成のデータが格納される。

【００１６】そこで、このようにして作成された中間フ
ァイル５の内容を実際にプロット図にするために、汎用
的なグラフ作成ツール６を利用し、テストカバレジ率に
対する不良密度の関係を示す図３に示すようなプロット
図を作成する。そして、作成したプロット図をプリンタ
７から出力させる。

【００１７】図３においては、横軸にテストカバレジ率
３０１をとり、縦軸に不良密度３０２を設定し、ソフト
ウェアを構成する各モジュールの不良密度のデータを点
３０５でプロットしている。

【００１８】ここで、評価基準となるテストカバレジ率
１００％の線３０４とシステム全体の平均不良密度の値
３０３との交点からテストカバレジ率０％の位置まで結
んだ基準線３０６がテスト工程における各カバレジ率に
対する妥当な不良密度である。

【００１９】従って、図３で基準線３０６に対して近い
値を示しているモジュールの品質は安定していると言え
る。また、システム全体を考えた場合、分布している各
モジュールの不良密度の値は基準線３０６に対し正規分
布となり、標準偏差の値を示す線３０７を引くことがで
きる。標準偏差の値はグラフ作成ツールが統計計算を行
うことによって引くことができる。この標準偏差の値に
より引かれた上下の線３０７の内側に分布しているモジ
ュールほど品質は安定しているといえる。

【００２０】逆に線３０７の外側にあるモジュールは異
常な品質であるといえる。

【００２１】従って、この実施例によれば、修正が加え
られることに伴って総ステップ数が変化しても、モジュ
−ル別に、点３０５の分布位置によって品質が一目瞭然
となる。また、不良密度の値がテスト進捗状況に対して
適切な値であるかどうかを正確に判定することができ
る。

【００２２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ソ
フトウェア開発におけるテスト工程でのテストカバレジ
率と、開発規模に対する不良件数を表わす不良密度との
関係を求め、この関係により品質評価を行うようにした
ため、修正が加えられることに伴って総ステップ数が変
化しても、不良密度の値がテスト進捗状況に対して適切
な値であるかどうかを簡単に判定することができる。し
かも、ソフトウェアを構成する各要素品質の評価を行う
ことができるという優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を実現するためのシステムの一実施例を
示す構成図である。

【図２】データベ−スに格納するデ−タの一例を示す構
成図である。

【図３】品質評価用プロット図の一例を示す説明図であ
る。

【符号の説明】

１…端末装置、２…ステップ数カウントツ−ル、３…テ
ストカバレジ率計測ツール、４…データベース、５…中
間ファイル、６…グラフ作成ツール、７…プリンタ、３
０１…テストカバレジ率、３０２…不良密度。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石野 雅巳 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町5030番地 株 式会社日立製作所ソフトウェア開発本部内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ソフトウェア開発におけるテスト工程で
   のテストカバレジ率と開発規模に対する不良件数を表わ
   す不良密度との関係を求め、この関係により品質評価を
   行うことを特徴とするソフトウェア品質評価方式。