JPH0528519Y2 - - Google Patents
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- JPH0528519Y2 JPH0528519Y2 JP11647286U JP11647286U JPH0528519Y2 JP H0528519 Y2 JPH0528519 Y2 JP H0528519Y2 JP 11647286 U JP11647286 U JP 11647286U JP 11647286 U JP11647286 U JP 11647286U JP H0528519 Y2 JPH0528519 Y2 JP H0528519Y2
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- Japan
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- crucible
- oxygen
- sample
- crucibles
- double
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本考案は金属等の試料中に含まれる酸素、窒
素、水素等のガス成分を定量するために用いられ
るガス分析用るつぼに関するものである。 〔従来の技術〕 この種のるつぼは主として黒鉛からなり、第４
図に示すようにるつぼ本体１からなる単一構造の
ものと、第５図に示すように外るつぼ１１と、該
外るつぼ１１内に挿着される内るつぼ１２とから
なる二重構造のものとがある。 第４図に示す単一構造のるつぼ１は内部に試料
を投入して不活性ガス気流中におき、該るつぼ１
を構成する黒鉛を抵抗体として電流を流し、該る
つぼ１を発熱せしめることにより内部の試料を融
解または分解して試料中に含まれるガス成分を抽
出し、該ガス成分のうち酸素はCOまたはCO2と
して赤外線吸収検出器または熱伝導度検出器で検
出し、窒素または水素は熱伝導度検出器で夫々検
出する方法が行われている。 第５図に示す二重構造のるつぼ１Ａは外るつぼ
１１を抵抗発熱体として電流を流し、内るつぼ１
２は外るつぼ１１により間接的に加熱される。 したがつて第４図に示す単一構造のるつぼ１よ
りも第５図に示す二重構造のるつぼ１Ａの方が試
料が均一に加熱され一定の抽出條件が得られるの
でより精度の高い定量が出来る。 〔考案が解決しようとする問題点〕 上記るつぼ１，１Ａを用いてガス分析を行なう
にはまず試料を投入しないるつぼ１，１Ａのみを
不活性ガス雰囲気で一般には2500〜3000℃の高温
に加熱しるつぼ１，１Ａの周囲あるいはるつぼ
１，１Ａ中に含まれるガスを脱ガスする。次いで
るつぼ１，１Ａに流す電流を若干下げて脱ガス温
度より若干低い温度にしてからるつぼ１，１Ａ内
に分析しようとする試料を投入し前記したような
ガス分析を行なう。 るつぼ１，１Ａを上記のように2500〜3000℃に
加熱して所定時間の脱ガスを行なつた後、温度を
若干下げて試料を投入せずにブランクのガス分析
（酸素）を行なつた。るつぼ１の場合を第６図、
るつぼ１Ａの場合を第７図に示す。るつぼ１の場
合は第６図にみるように脱ガス後の分析中に発生
する酸素は殆んど存在しないが、るつぼ１Ａの場
合は第７図にみるように脱ガス後の分析中におい
て発生する酸素が検出される。該酸素は時間の経
過と共に徐々に低下しているのが、このような酸
素の発生状況は場合により例えばグラフイ，ロの
ようにばらつきを生ずる。したがつて二重構造の
るつぼ１Ａは酸素を比較的高含有率含む試料でブ
ランクの変動が無視される場合においては試料が
均一に加熱されることにより、高い分析精度が得
られるが、微量分析の場合には上記したようなブ
ランクの変動によつて分析精度が逆に悪くなる。 〔問題点を解決するための手段〕 本考案は上記従来の問題点を解決するための手
段として、外るつぼと、該外るつぼ内に挿着され
る内るつぼとからなる二重構造のるつぼにおい
て、該外るつぼと該内るつぼとにより形成される
空間と外界とを通づる導通手段とを設けるもので
ある。 〔実施例〕 本考案を第１図および第２図に示す一実施例に
よつて説明すれば、るつぼ１Ｂは外るつぼ１１と
該外るつぼ１１内に挿着される内るつぼ１２とか
らなり、該内るつぼ１２の外周には外るつぼ１１
と内るつぼ１２とにより形成される空間１３と外
界とを通づる縦溝１２Ａが形成されている。 第３図は他の実施例を示すもので、本実施例の
るつぼ１Ｃにおいては外るつぼ１１の周壁に外る
つぼ１１と内るつぼ１２とにより形成される空間
１３と外界とを通づる横孔１１Ａが設けられる。 更に上記実施例以外、例えば外るつぼ１１の内
周に縦溝を設けてもよい。 〔作用〕 本考案のるつぼ１Ｂ，１Ｃを加熱して脱ガスを
行なうと外るつぼ１１と内るつぼ１２とにより形
成される空間１３中に存在する酸素は縦溝１２Ａ
あるいは横孔１１Ａ等の導通手段により外界へ逃
散する。 第５図に示す従来の二重構造のるつぼ１Ａと第
１図および第３図に示す本考案のるつぼ１Ｂ，１
Ｃとについて酸素の定量にブランクの変動が与え
る影響を調べた。その結果は第１表に示される。
第１表において用いられるガス分析のための試料
は鋼材である。
素、水素等のガス成分を定量するために用いられ
るガス分析用るつぼに関するものである。 〔従来の技術〕 この種のるつぼは主として黒鉛からなり、第４
図に示すようにるつぼ本体１からなる単一構造の
ものと、第５図に示すように外るつぼ１１と、該
外るつぼ１１内に挿着される内るつぼ１２とから
なる二重構造のものとがある。 第４図に示す単一構造のるつぼ１は内部に試料
を投入して不活性ガス気流中におき、該るつぼ１
を構成する黒鉛を抵抗体として電流を流し、該る
つぼ１を発熱せしめることにより内部の試料を融
解または分解して試料中に含まれるガス成分を抽
出し、該ガス成分のうち酸素はCOまたはCO2と
して赤外線吸収検出器または熱伝導度検出器で検
出し、窒素または水素は熱伝導度検出器で夫々検
出する方法が行われている。 第５図に示す二重構造のるつぼ１Ａは外るつぼ
１１を抵抗発熱体として電流を流し、内るつぼ１
２は外るつぼ１１により間接的に加熱される。 したがつて第４図に示す単一構造のるつぼ１よ
りも第５図に示す二重構造のるつぼ１Ａの方が試
料が均一に加熱され一定の抽出條件が得られるの
でより精度の高い定量が出来る。 〔考案が解決しようとする問題点〕 上記るつぼ１，１Ａを用いてガス分析を行なう
にはまず試料を投入しないるつぼ１，１Ａのみを
不活性ガス雰囲気で一般には2500〜3000℃の高温
に加熱しるつぼ１，１Ａの周囲あるいはるつぼ
１，１Ａ中に含まれるガスを脱ガスする。次いで
るつぼ１，１Ａに流す電流を若干下げて脱ガス温
度より若干低い温度にしてからるつぼ１，１Ａ内
に分析しようとする試料を投入し前記したような
ガス分析を行なう。 るつぼ１，１Ａを上記のように2500〜3000℃に
加熱して所定時間の脱ガスを行なつた後、温度を
若干下げて試料を投入せずにブランクのガス分析
（酸素）を行なつた。るつぼ１の場合を第６図、
るつぼ１Ａの場合を第７図に示す。るつぼ１の場
合は第６図にみるように脱ガス後の分析中に発生
する酸素は殆んど存在しないが、るつぼ１Ａの場
合は第７図にみるように脱ガス後の分析中におい
て発生する酸素が検出される。該酸素は時間の経
過と共に徐々に低下しているのが、このような酸
素の発生状況は場合により例えばグラフイ，ロの
ようにばらつきを生ずる。したがつて二重構造の
るつぼ１Ａは酸素を比較的高含有率含む試料でブ
ランクの変動が無視される場合においては試料が
均一に加熱されることにより、高い分析精度が得
られるが、微量分析の場合には上記したようなブ
ランクの変動によつて分析精度が逆に悪くなる。 〔問題点を解決するための手段〕 本考案は上記従来の問題点を解決するための手
段として、外るつぼと、該外るつぼ内に挿着され
る内るつぼとからなる二重構造のるつぼにおい
て、該外るつぼと該内るつぼとにより形成される
空間と外界とを通づる導通手段とを設けるもので
ある。 〔実施例〕 本考案を第１図および第２図に示す一実施例に
よつて説明すれば、るつぼ１Ｂは外るつぼ１１と
該外るつぼ１１内に挿着される内るつぼ１２とか
らなり、該内るつぼ１２の外周には外るつぼ１１
と内るつぼ１２とにより形成される空間１３と外
界とを通づる縦溝１２Ａが形成されている。 第３図は他の実施例を示すもので、本実施例の
るつぼ１Ｃにおいては外るつぼ１１の周壁に外る
つぼ１１と内るつぼ１２とにより形成される空間
１３と外界とを通づる横孔１１Ａが設けられる。 更に上記実施例以外、例えば外るつぼ１１の内
周に縦溝を設けてもよい。 〔作用〕 本考案のるつぼ１Ｂ，１Ｃを加熱して脱ガスを
行なうと外るつぼ１１と内るつぼ１２とにより形
成される空間１３中に存在する酸素は縦溝１２Ａ
あるいは横孔１１Ａ等の導通手段により外界へ逃
散する。 第５図に示す従来の二重構造のるつぼ１Ａと第
１図および第３図に示す本考案のるつぼ１Ｂ，１
Ｃとについて酸素の定量にブランクの変動が与え
る影響を調べた。その結果は第１表に示される。
第１表において用いられるガス分析のための試料
は鋼材である。
したがつて本考案においては試料を均一に加熱
出来ると云う二重構造のるつぼの利点はそのまゝ
生かし、かつ二重構造のるつぼの有するブランク
の変動が大きいと云う欠点が解消され、精度の高
いガス分析が出来る。
出来ると云う二重構造のるつぼの利点はそのまゝ
生かし、かつ二重構造のるつぼの有するブランク
の変動が大きいと云う欠点が解消され、精度の高
いガス分析が出来る。
第１図および第２図は本考案の一実施例を示す
ものであり、第１図は側断面図、第２図は内るつ
ぼの斜視図、第３図は他の実施例の側断面図、第
４図は従来の単一構造るつぼの側断面図、第５図
は従来の二重構造るつぼの側断面図、第６図は縦
軸に計数値、横軸に時間（秒）をとつたるつぼ１
のブランクのガス分析グラフ、第７図は縦軸に計
数値、横軸に時間（秒）をとつたるつぼ１Ａのブ
ランクのガス分析グラフである。 図中、１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ……るつぼ、１１
……外るつぼ、１２……内るつぼ、１１Ａ……横
孔、１２Ａ……縦溝。
ものであり、第１図は側断面図、第２図は内るつ
ぼの斜視図、第３図は他の実施例の側断面図、第
４図は従来の単一構造るつぼの側断面図、第５図
は従来の二重構造るつぼの側断面図、第６図は縦
軸に計数値、横軸に時間（秒）をとつたるつぼ１
のブランクのガス分析グラフ、第７図は縦軸に計
数値、横軸に時間（秒）をとつたるつぼ１Ａのブ
ランクのガス分析グラフである。 図中、１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ……るつぼ、１１
……外るつぼ、１２……内るつぼ、１１Ａ……横
孔、１２Ａ……縦溝。
Claims (1)
- 外るつぼと、該外るつぼ内に挿着される内るつ
ぼとからなり、該外るつぼと該内るつぼとにより
形成される空間と外界とを通づる導通手段が設け
られたことを特徴とするガス分析用るつぼ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11647286U JPH0528519Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11647286U JPH0528519Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6323648U JPS6323648U (ja) | 1988-02-16 |
| JPH0528519Y2 true JPH0528519Y2 (ja) | 1993-07-22 |
Family
ID=31001094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11647286U Expired - Lifetime JPH0528519Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0528519Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022091748A1 (ja) * | 2020-11-02 | 2022-05-05 | 株式会社堀場製作所 | 元素分析方法、元素分析装置、及び、元素分析装置用プログラム |
-
1986
- 1986-07-29 JP JP11647286U patent/JPH0528519Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022091748A1 (ja) * | 2020-11-02 | 2022-05-05 | 株式会社堀場製作所 | 元素分析方法、元素分析装置、及び、元素分析装置用プログラム |
| US12467912B2 (en) | 2020-11-02 | 2025-11-11 | Horiba, Ltd. | Element analysis method, element analysis device, and non-transitory computer readable medium storing program for element analysis device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6323648U (ja) | 1988-02-16 |
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