JPH0528575A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
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- JPH0528575A JPH0528575A JP20628891A JP20628891A JPH0528575A JP H0528575 A JPH0528575 A JP H0528575A JP 20628891 A JP20628891 A JP 20628891A JP 20628891 A JP20628891 A JP 20628891A JP H0528575 A JPH0528575 A JP H0528575A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 光磁気ディスク２１で反射され、情報を含ん
でいる光を、ウォラストンプリズム３３でＳ波とＰ波に
分離し、このそれぞれを、無偏光ビームスプリッタ３５
で異なる方向への２光束に分割する。フォトダイオード
ＰＤ２により分割した片方のＰ波でフォーカスエラー信
号を検出し、一方、トラッキングエラー信号は、異なる
方向に分割した片方のＳ波を用いＰＤ４で検出する。Ｐ
Ｄ１とＰＤ３により、Ｐ波とＳ波の差信号として、光磁
気差動信号を検出する。 【効果】 トラッキングエラー信号検出用のフォトダイ
オードと、フォーカスエラー信号検出用のフォトダイオ
ードを個別に位置調整でき、調整が容易である。
でいる光を、ウォラストンプリズム３３でＳ波とＰ波に
分離し、このそれぞれを、無偏光ビームスプリッタ３５
で異なる方向への２光束に分割する。フォトダイオード
ＰＤ２により分割した片方のＰ波でフォーカスエラー信
号を検出し、一方、トラッキングエラー信号は、異なる
方向に分割した片方のＳ波を用いＰＤ４で検出する。Ｐ
Ｄ１とＰＤ３により、Ｐ波とＳ波の差信号として、光磁
気差動信号を検出する。 【効果】 トラッキングエラー信号検出用のフォトダイ
オードと、フォーカスエラー信号検出用のフォトダイオ
ードを個別に位置調整でき、調整が容易である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記録において用
いられる光学ヘッドに関する。
いられる光学ヘッドに関する。
【０００２】
【従来の技術】光磁気記録においては、記録媒体に直線
偏光を照射し、記録媒体からの反射光ないしは透過光を
情報光として検知して、記録媒体の磁化の方向による偏
光面の回転を検出することによって記録情報を得てい
た。また、記録媒体の記録ビット上に正確にスポット光
を照射すべく、上記の情報光よりフォーカスエラー信号
およびトラッキングエラー信号を検出し、これらをサー
ボ信号としてアクチュエータをサーボ駆動し、対物レン
ズを制御していた。
偏光を照射し、記録媒体からの反射光ないしは透過光を
情報光として検知して、記録媒体の磁化の方向による偏
光面の回転を検出することによって記録情報を得てい
た。また、記録媒体の記録ビット上に正確にスポット光
を照射すべく、上記の情報光よりフォーカスエラー信号
およびトラッキングエラー信号を検出し、これらをサー
ボ信号としてアクチュエータをサーボ駆動し、対物レン
ズを制御していた。
【０００３】従来は、例えば光磁気記録媒体からの反射
光を、１／２波長板を通過せしめて、集光レンズ、シリ
ンドリカルレンズにより収束させ、検光子として働く偏
光ビームスプリッタに入射せしめてＰ偏光とＳ偏光とに
分離し、差動信号として記録情報信号を検出していた。
しかし、偏光ビームスプリッタを用いる方式では、消光
比が小さく感度に限界があり、また、情報信号とエラー
信号を検出するための光学系の簡略化に限界があるため
装置の小型化は困難であった。
光を、１／２波長板を通過せしめて、集光レンズ、シリ
ンドリカルレンズにより収束させ、検光子として働く偏
光ビームスプリッタに入射せしめてＰ偏光とＳ偏光とに
分離し、差動信号として記録情報信号を検出していた。
しかし、偏光ビームスプリッタを用いる方式では、消光
比が小さく感度に限界があり、また、情報信号とエラー
信号を検出するための光学系の簡略化に限界があるため
装置の小型化は困難であった。
【０００４】そこで、光磁気記録媒体によりカー回転角
を付与された情報光を、ウォラストンプリズムなどの複
屈折性材料を用いてＳ偏光とＰ偏光とに分離することが
提案されている。
を付与された情報光を、ウォラストンプリズムなどの複
屈折性材料を用いてＳ偏光とＰ偏光とに分離することが
提案されている。
【０００５】例えば、特公昭６１−１０８８８号公報に
は、光磁気記録媒体からの情報光をウォラストンプリズ
ムに導き常光成分と異常光成分とに分離し、受光素子に
より電気信号に変換して差動検出するに際して、Ｐ偏光
とＳ偏光とで反射率および透過率が異なるビームスプリ
ッタを介してウォラストンプリズムに導き、みかけ上の
偏光面の回転角を増大してＳＮ比を向上することが記載
されているが、ここでは、情報光に含まれるサーボ用エ
ラー信号（フォーカス・トラッキング）と光磁気信号の
採取法に関して具体的な記載はない。
は、光磁気記録媒体からの情報光をウォラストンプリズ
ムに導き常光成分と異常光成分とに分離し、受光素子に
より電気信号に変換して差動検出するに際して、Ｐ偏光
とＳ偏光とで反射率および透過率が異なるビームスプリ
ッタを介してウォラストンプリズムに導き、みかけ上の
偏光面の回転角を増大してＳＮ比を向上することが記載
されているが、ここでは、情報光に含まれるサーボ用エ
ラー信号（フォーカス・トラッキング）と光磁気信号の
採取法に関して具体的な記載はない。
【０００６】また、特開昭６４−６０８４０号公報に
は、光磁気記録媒体からの情報光を変形ウォラストンプ
リズムに導いて３ビームに分散し、中央ビームによりト
ラッキング方向およびフォーカス方向のサーボエラー信
号を検出し、左右のビームによりＭＯ再生信号（情報信
号）を検出することが記載されている。しかしこの方式
では、中央ビームとサイドビームに光量が分散されるた
め、情報信号のＳＮ比の面で不利である。
は、光磁気記録媒体からの情報光を変形ウォラストンプ
リズムに導いて３ビームに分散し、中央ビームによりト
ラッキング方向およびフォーカス方向のサーボエラー信
号を検出し、左右のビームによりＭＯ再生信号（情報信
号）を検出することが記載されている。しかしこの方式
では、中央ビームとサイドビームに光量が分散されるた
め、情報信号のＳＮ比の面で不利である。
【０００７】さらに、特開平１−２９４２３６号公報に
は、光磁気記録媒体からの情報光をウォラストンプリズ
ムに導いてＰ偏光とＳ偏光とに分離し、これらを複数の
受光面を有する１つの光検出器に導いて情報信号、フォ
ーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を検知する
ことが記載されている。しかしこの方式では、１つの光
検出器にフォーカスエラー信号の受光面とトラッキング
エラー信号の受光面が設けられているため、両受光面の
位置調整を一挙に行なうことが必要となり、調整が複雑
となる。
は、光磁気記録媒体からの情報光をウォラストンプリズ
ムに導いてＰ偏光とＳ偏光とに分離し、これらを複数の
受光面を有する１つの光検出器に導いて情報信号、フォ
ーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を検知する
ことが記載されている。しかしこの方式では、１つの光
検出器にフォーカスエラー信号の受光面とトラッキング
エラー信号の受光面が設けられているため、両受光面の
位置調整を一挙に行なうことが必要となり、調整が複雑
となる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、光磁気記録
媒体からの情報光を、ウォラストンプリズムなどの複屈
折性光学素子で２つの偏光成分に分離して光情報を検出
する際に、調整が容易で簡略化可能な光学ヘッドを提供
するものである。
媒体からの情報光を、ウォラストンプリズムなどの複屈
折性光学素子で２つの偏光成分に分離して光情報を検出
する際に、調整が容易で簡略化可能な光学ヘッドを提供
するものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の光学ヘッドは、
入射された光磁気記録媒体からの情報光を、直交する２
つの偏光成分に分離して出射する複屈折性光学素子と、
入射された２つの偏光成分を、それぞれ複数の光束に分
離して複数の方向に出射する、偏光方向に依存しない光
束分離素子と、光束分離素子からの光束を受光して光信
号を検出する複数の光検知素子とを有することを特徴と
する。
入射された光磁気記録媒体からの情報光を、直交する２
つの偏光成分に分離して出射する複屈折性光学素子と、
入射された２つの偏光成分を、それぞれ複数の光束に分
離して複数の方向に出射する、偏光方向に依存しない光
束分離素子と、光束分離素子からの光束を受光して光信
号を検出する複数の光検知素子とを有することを特徴と
する。
【００１０】
【実施例】図１は、本発明の実施例を示す説明図であ
る。レーザーダイオード１１により発振され、整形プリ
ズム１５およびビームスプリッタ１７を経て対物レンズ
１９に入射した直線偏光は、対物レンズ１９により収束
されて光磁気ディスク２１の記録トラック上にスポット
照射されて反射される。反射した直線偏光は、カー効果
により光磁気ディスク２１の磁化の方向に対応して偏光
面が互いに逆方向にわずかに回転し、記録情報を含んだ
情報光となる。
る。レーザーダイオード１１により発振され、整形プリ
ズム１５およびビームスプリッタ１７を経て対物レンズ
１９に入射した直線偏光は、対物レンズ１９により収束
されて光磁気ディスク２１の記録トラック上にスポット
照射されて反射される。反射した直線偏光は、カー効果
により光磁気ディスク２１の磁化の方向に対応して偏光
面が互いに逆方向にわずかに回転し、記録情報を含んだ
情報光となる。
【００１１】この情報光は、対物レンズ１９で平行光束
となり、ビームスプリッタ１７、ウォラストンプリズム
３３（複屈折性光学素子）を介して集光レンズ３１に入
射する。ウォラストンプリズム３３の光学軸を、光磁気
ディスク２１に入射する偏光面に相当する面に対して４
５度傾けておくと、ウォラストンプリズム３３で分離さ
れるＰ波成分Ｐ（常光成分）とＳ波成分Ｓ（異常光成
分）との光量がほぼ等しく、差動信号を得るのに最も効
率が良い。そこで、情報光をウォラストンプリズム３３
でＰ波とＳ波とに分離し、これらを集光レンズ３１で受
光素子にスポット照射して光量の差を検出することによ
り、偏光面の回転を差動電気信号として得ることがで
き、また、同じ情報光から、フォーカスエラー信号およ
びトラッキングエラー信号を検出できる。
となり、ビームスプリッタ１７、ウォラストンプリズム
３３（複屈折性光学素子）を介して集光レンズ３１に入
射する。ウォラストンプリズム３３の光学軸を、光磁気
ディスク２１に入射する偏光面に相当する面に対して４
５度傾けておくと、ウォラストンプリズム３３で分離さ
れるＰ波成分Ｐ（常光成分）とＳ波成分Ｓ（異常光成
分）との光量がほぼ等しく、差動信号を得るのに最も効
率が良い。そこで、情報光をウォラストンプリズム３３
でＰ波とＳ波とに分離し、これらを集光レンズ３１で受
光素子にスポット照射して光量の差を検出することによ
り、偏光面の回転を差動電気信号として得ることがで
き、また、同じ情報光から、フォーカスエラー信号およ
びトラッキングエラー信号を検出できる。
【００１２】図１では、さらにウォラストンプリズム３
３からのＰ波およびＳ波をハーフミラーなどの偏光方向
に依存しない無偏光ビームスプリッタ３５（光束分離素
子）に導き、Ｐ波とＳ波とをそれぞれ２方向に分ける。
すなわち、Ｐ波の５０％は無偏光ビームスプリッタ３５
を透過し（Ｐ1）、フォトダイオードＰＤ１に入射し、
残りの半分は無偏光ビームスプリッタ３５で反射されて
（Ｐ2）、フォトダイオードＰＤ４に入射する。Ｓ波も
同様に、透過光Ｓ1と、反射光Ｓ2とに分離されて、それ
ぞれフォトダイオードＰＤ２とＰＤ３に入射する。
３からのＰ波およびＳ波をハーフミラーなどの偏光方向
に依存しない無偏光ビームスプリッタ３５（光束分離素
子）に導き、Ｐ波とＳ波とをそれぞれ２方向に分ける。
すなわち、Ｐ波の５０％は無偏光ビームスプリッタ３５
を透過し（Ｐ1）、フォトダイオードＰＤ１に入射し、
残りの半分は無偏光ビームスプリッタ３５で反射されて
（Ｐ2）、フォトダイオードＰＤ４に入射する。Ｓ波も
同様に、透過光Ｓ1と、反射光Ｓ2とに分離されて、それ
ぞれフォトダイオードＰＤ２とＰＤ３に入射する。
【００１３】ウォラストンプリズム３３によるＰ波とＳ
波との分離角度は小さく、１組のフォトダイオード、例
えばＰＤ１とＰＤ２の位置調整は１回の操作で同時に行
なうのが現実的である。そこで透過光のＰ波成分Ｐ1 を
光磁気信号検出用に用いたときは、その直交成分である
透過光のＳ波成分Ｓ1 を主にサーボ誤差検出用（例えば
フォーカスエラー検出用）とし、反射側では逆に、Ｓ波
成分Ｓ2 を光磁気信号検出用に、Ｐ波成分Ｐ2 を主にサ
ーボ信号検出用（例えばトラッキングエラー検出用）に
用いる。図２はこのときの検出系を示す説明図であり、
フォトダイオードＰＤ１とＰＤ３との差信号から光磁気
差動信号を検出し、フォトダイオードＰＤ２からフォー
カスエラー信号を、フォトダイオードＰＤ４からトラッ
キングエラー信号を検出する。
波との分離角度は小さく、１組のフォトダイオード、例
えばＰＤ１とＰＤ２の位置調整は１回の操作で同時に行
なうのが現実的である。そこで透過光のＰ波成分Ｐ1 を
光磁気信号検出用に用いたときは、その直交成分である
透過光のＳ波成分Ｓ1 を主にサーボ誤差検出用（例えば
フォーカスエラー検出用）とし、反射側では逆に、Ｓ波
成分Ｓ2 を光磁気信号検出用に、Ｐ波成分Ｐ2 を主にサ
ーボ信号検出用（例えばトラッキングエラー検出用）に
用いる。図２はこのときの検出系を示す説明図であり、
フォトダイオードＰＤ１とＰＤ３との差信号から光磁気
差動信号を検出し、フォトダイオードＰＤ２からフォー
カスエラー信号を、フォトダイオードＰＤ４からトラッ
キングエラー信号を検出する。
【００１４】フォトダイオードＰＤ２，ＰＤ４として
は、例えば前述の特開平１−２９４２３６号公報に記載
された分割フォトダイオードなどを用いることができ、
この一例を示したのが図４（Ａ）である。図４（Ａ）
は、対物レンズ１９による合焦点位置で光磁気ディスク
２１にスポット照射されている場合（フォーカシングが
取れている場合）のＰＤ２上のスポット光４１の照射位
置を示す。ＰＤ２の３分割された受光面ａ，ｂ，ｃから
の光信号はｂ＝ａ＋ｃとなっている。フォーカシングが
外れると、スポット光４１の径が大きくまたは小さくな
り、光信号量がｂ＜ａ＋ｃまたはｂ＞ａ＋ｃとなりフォ
ーカスエラー信号が検出され、対物レンズ１９をフォー
カス方向Ｆｏにサーボ駆動する。一方、図４（Ｂ）は、
トラッキングが取れている場合のＰＤ４上のスポット４
１の状態を示す。ＰＤ４の２分割された受光面ｄ，ｅか
らの光信号はｄ＝ｅであり、この変位量からトラッキン
グエラー信号を検出して、対物レンズ１９をトラッキン
グ方向Ｔｒにサーボ駆動する。
は、例えば前述の特開平１−２９４２３６号公報に記載
された分割フォトダイオードなどを用いることができ、
この一例を示したのが図４（Ａ）である。図４（Ａ）
は、対物レンズ１９による合焦点位置で光磁気ディスク
２１にスポット照射されている場合（フォーカシングが
取れている場合）のＰＤ２上のスポット光４１の照射位
置を示す。ＰＤ２の３分割された受光面ａ，ｂ，ｃから
の光信号はｂ＝ａ＋ｃとなっている。フォーカシングが
外れると、スポット光４１の径が大きくまたは小さくな
り、光信号量がｂ＜ａ＋ｃまたはｂ＞ａ＋ｃとなりフォ
ーカスエラー信号が検出され、対物レンズ１９をフォー
カス方向Ｆｏにサーボ駆動する。一方、図４（Ｂ）は、
トラッキングが取れている場合のＰＤ４上のスポット４
１の状態を示す。ＰＤ４の２分割された受光面ｄ，ｅか
らの光信号はｄ＝ｅであり、この変位量からトラッキン
グエラー信号を検出して、対物レンズ１９をトラッキン
グ方向Ｔｒにサーボ駆動する。
【００１５】光ヘッドの初期設定時（組立時）におい
て、フォーカシングが取れている状態で図４（Ａ）のよ
うに、また、トラッキングが取れている状態で図４
（Ｂ）のようにスポット光４１が入射すべく位置調整す
る必要があるが、本発明ではフォトダイオードＰＤ２と
ＰＤ４とを個別に調整できるので、それぞれのフォトダ
イオードＰＤ２，４の中立位置に光スポットが入射する
ように容易に位置決め調整できる。なお、図４に示した
フォトダイオードＰＤ２，ＰＤ４は、光検知素子の一例
であり、検知方法は他の方式も採用できる。
て、フォーカシングが取れている状態で図４（Ａ）のよ
うに、また、トラッキングが取れている状態で図４
（Ｂ）のようにスポット光４１が入射すべく位置調整す
る必要があるが、本発明ではフォトダイオードＰＤ２と
ＰＤ４とを個別に調整できるので、それぞれのフォトダ
イオードＰＤ２，４の中立位置に光スポットが入射する
ように容易に位置決め調整できる。なお、図４に示した
フォトダイオードＰＤ２，ＰＤ４は、光検知素子の一例
であり、検知方法は他の方式も採用できる。
【００１６】なお、図１で無偏光ビームスプリッタ３５
からの透過光をトラッキングエラーの検出に利用しても
よく、また、Ｓ波、Ｐ波いずれを利用してもよいが、透
過光をトラッキングエラーの検出に用いた場合は反射光
でフォーカスエラーを検出し、逆に、反射光でトラッキ
ングエラーを検出する場合は透過光でフォーカスエラー
を検出し；Ｐ波をフォーカスエラー検出に利用した場合
はＳ波をトラッキングエラー検出に用い、Ｓ波でトラッ
キングエラーを検出する場合はＰ波でフォーカスエラー
を検出することが好ましい。
からの透過光をトラッキングエラーの検出に利用しても
よく、また、Ｓ波、Ｐ波いずれを利用してもよいが、透
過光をトラッキングエラーの検出に用いた場合は反射光
でフォーカスエラーを検出し、逆に、反射光でトラッキ
ングエラーを検出する場合は透過光でフォーカスエラー
を検出し；Ｐ波をフォーカスエラー検出に利用した場合
はＳ波をトラッキングエラー検出に用い、Ｓ波でトラッ
キングエラーを検出する場合はＰ波でフォーカスエラー
を検出することが好ましい。
【００１７】また、図１，２において、サーボ誤差検出
用に利用したＳ1およびＰ2も直交偏光成分などで、これ
らを光磁気信号検出に利用することもできる。図３はこ
の場合の検出系を示す説明図であり、フォトダイオード
ＰＤ２，ＰＤ４の出力の差から光磁気差動信号２を得て
いる。さらに、光磁気差動信号１，２の和を取って、無
偏光ビームスプリッタ３５の透過率−反射率の差など検
出系の誤差分を相殺するようにしてもよい。
用に利用したＳ1およびＰ2も直交偏光成分などで、これ
らを光磁気信号検出に利用することもできる。図３はこ
の場合の検出系を示す説明図であり、フォトダイオード
ＰＤ２，ＰＤ４の出力の差から光磁気差動信号２を得て
いる。さらに、光磁気差動信号１，２の和を取って、無
偏光ビームスプリッタ３５の透過率−反射率の差など検
出系の誤差分を相殺するようにしてもよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、ウォラストンプリズム
などの複屈折性光学素子を用いて、光磁気記録媒体から
の情報光を直交する２つの偏光成分に分離して検出する
に際し、この分離光をさらに２方向に分離することによ
り、トラッキングエラーの検出系とフォーカスエラーの
検出系を独立して調整できるので、サーボ誤差信号の検
出が容易となる。
などの複屈折性光学素子を用いて、光磁気記録媒体から
の情報光を直交する２つの偏光成分に分離して検出する
に際し、この分離光をさらに２方向に分離することによ
り、トラッキングエラーの検出系とフォーカスエラーの
検出系を独立して調整できるので、サーボ誤差信号の検
出が容易となる。
【００１９】また、複屈折性光学素子以降の検出系で
は、光磁気信号を偏光成分として扱う必要がないので、
以降の光学素子の光学的位相差などを考慮する必要がな
く、構成が簡略化できる。
は、光磁気信号を偏光成分として扱う必要がないので、
以降の光学素子の光学的位相差などを考慮する必要がな
く、構成が簡略化できる。
【図１】本発明の光学ヘッドの実施例を示す説明図であ
る。
る。
【図２】信号検出系の実施例を示す説明図である。
【図３】信号検出系の他の実施例を示す説明図である。
【図４】フォトダイオード（光検知素子）による、サー
ボ誤差信号の検出例を示す説明図である。
ボ誤差信号の検出例を示す説明図である。
１１ レーザーダイオード １３ コリメータレンズ １５ 整形プリズム １７ ビームスプリッタ １９ 対物レンズ ２１ 光磁気ディスク ３１ 集光レンズ ３３ ウォラストンプリズム ３５ 無偏光ビームスプリッタ ４１ スポット光 ＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ３，ＰＤ４ フォトダイオード
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 入射された光磁気記録媒体からの情報光
を、直交する２つの偏光成分に分離して出射する複屈折
性光学素子と、 入射された２つの偏光成分を、それぞれ複数の光束に分
離して複数の方向に出射する、偏光方向に依存しない光
束分離素子と、 光束分離素子からの光束を受光して光信号を検出する複
数の光検知素子とを有することを特徴とする光学ヘッ
ド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20628891A JPH0528575A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20628891A JPH0528575A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0528575A true JPH0528575A (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=16520828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20628891A Pending JPH0528575A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0528575A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7105768B2 (en) | 2003-07-30 | 2006-09-12 | Obara Corporation | Fixed type electrode tip take-out device |
-
1991
- 1991-07-22 JP JP20628891A patent/JPH0528575A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7105768B2 (en) | 2003-07-30 | 2006-09-12 | Obara Corporation | Fixed type electrode tip take-out device |
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