JPH0528768Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、チツプ部品をテープに配列させるチ
ツプ部品連製造装置等におけるチツプ部品測定捺
印装置に関する。

（従来の技術） チツプ部品のプリント基板への取り付けは、チ
ツプ部品装着機で自動的に行うのが一般的となつ
ており、そのようなチツプ部品装着機にチツプ部
品を供給するために、エンボス（凹部）付きのテ
ープのエンボスにチツプ部品を配置して蓋テープ
で蓋をした構成、もしくは紙テープに穴を抜いて
その穴にチツプ部品を配置し両側より蓋テープで
蓋をした構成のチツプ部品連が使用されることが
多くなつてきている。

従来は、そのようなチツプ部品連を製造するに
際して、所定個数のチツプ部品の静電容量、抵抗
値、インダクタンス等の電気的特性の測定は、測
定の専用機で実施し、測定後の所定個数のチツプ
部品の捺印は、捺印専用機にて実施していた。そ
して、捺印終了後の所定個数のチツプ部品をテー
プに配置するための専用機で最終的なチツプ部品
連としていた。

（考案が解決しようとする問題点） ところで、それらの各専用機で各工程を実施す
る場合、１つの専用機の１工程が終了するたびに
チツプ部品の保管、次の専用機の供給部への移送
を人手で行わねばならず、非能率で、省力効果が
不充分であつた。

（問題点を解決するための手段） 本考案は、上記の点に鑑み、円盤状インデツク
ス・テーブルでチツプ部品を間欠移送する間に測
定部でのチツプ部品の電気的特性の測定及び捺印
部での表示の捺印を各チツプ部品毎に順次実行す
るようにしてチツプ部品もしくはチツプ部品連製
造の際の省力化、効率の向上を図つたチツプ部品
測定捺印装置を提供しようとするものである。

本考案は、等角度間隔でチツプ部品を吸着保持
して間欠回転する円盤状インデツクス・テーブル
と、前記円盤状インデツクス・テーブルで移送さ
れて来たチツプ部品の電気的特性を測定する測定
部と、前記円盤状インデツクス・テーブルで移送
されて来たチツプ部品に表示を付ける捺印部と、
前記測定部及び捺印部を通過した良品排出位置で
前記円盤状インデツクス・テーブルから排出され
たチツプ部品を受ける搬送手段とを備えている。
前記円盤状インデツクス・テーブルは、チツプ部
品が載置される等角度間隔の位置決め凹部と、該
位置決め凹部上のチツプ部品を吸着する吸着穴
と、半径方向に摺動自在な押し棒とを有し、前記
測定部は、前記円盤状インデツクス・テーブルに
同期して上下する上下部材に枢着されていて下方
に付勢されたアームと、該アーム先端に取り付け
られていて下降位置でチツプ部品の端部電極に接
触可能な接触子とを有し、前記捺印部は、前記円
盤状インデツクス・テーブルの間欠回転に伴つて
回転して捺印動作を実行する該印したローラーを
有している。さらに、前記押し棒を不良品排出位
置で突出させるための固定カムと、前記押し棒を
前記良品排出位置で突出させるための可動カムと
が設けられている。そして、前記測定部での電気
的特性の測定結果により、特性不良のチツプ部品
の場合は前記可動カムを作動させずに前記搬送手
段に接続しない不良品排出位置で排出するように
している。このような構成によつて、上記従来技
術の問題点を解消している。

（作用） 本考案のチツプ部品測定捺印装置においては、
円盤状インデツクス・テーブルでチツプ部品が間
欠移送されている間に、チツプ部品の静電容量、
抵抗値、インダクタンス等の電気的特性の測定、
静電容量値、抵抗値、インダクタンス値等を識別
するための表示の捺印を実行できる。そして、正
規のチツプ部品は特定位置でインデツクス・テー
ブルの押し棒によつて搬送手段に送出される。さ
らに、電気的特性が不良のチツプ部品は、前記搬
送手段に接続しない位置で前記押し棒によつて排
出される。

（実施例） 以下、本考案に係るチツプ部品測定捺印装置の
実施例を図面に従つて説明する。

第１図は本考案の全体構成を示す概略平面図、
第２図は同概略斜視図である。これらの図に示さ
れるように、一定周期で間欠回転する円盤状イン
デツクス・テーブル１の周囲には、これにチツプ
部品を１個毎に供給する供給部２、チツプ部品の
電気的特性を測定する測定部３（ただし、チツプ
部品がチツプコンデンサの場合には、静電容量
を、チツプ抵抗器の場合には抵抗値、チツプイン
ダクタの場合にはインダクタンスを測定するよう
にする）、チツプ部品の静電容量値、抵抗値、イ
ンダクタンス値等の表示（捺印）を付けるための
捺印部４、電気的特性が正常のチツプ部品を次の
工程（例えば捺印を乾燥させる工程等）に移送す
るための搬送部５、及び特性不良と判定されたチ
ツプ部品を受ける不良品受け箱６が配置されてい
る。

第３図は円盤状インデツクス・テーブル１を示
し、第４図及び第５図は円盤状インデツクス・テ
ーブル１に付随した機構部分を示す。これらの図
において、円盤状インデツクス・テーブル１は平
坦周縁部１０を有し、チツプ部品２０が載置され
るべき全周を12分割した位置Q₁乃至Q₁₂に対応し
て（30度間隔で）位置決め凹部１１が形成されて
いる。また、チツプ部品の載置位置Q₁乃至Q₁₂に
対応する平坦周縁部１０の部分には吸着穴５１が
形成されている。さらに、各位置決め凹部１１よ
り突き出し自在に押し棒５２が放射状に摺動する
ごとく設けられている（ただし、第３図では一部
の押し棒５２の図示を省略している）。

このようなインデツクス・テーブル１は回転軸
５３に固定されており、該回転軸５３は支持フレ
ーム５４側に軸受５５を介して支持され、さらに
回転軸５３はインデツクス・テーブル１を30度間
隔で間欠回転させるためのインデツクス５６に連
結されている。

前記円盤状インデツクス・テーブル１の各吸着
穴５１に連通するように円環状吸引溝５７が形成
された円環状部材５８が支持フレーム５４上に配
置され、円環状吸引溝５７は真空吸引ホース５９
を介して真空ポンプに接続される。その円環状部
材５８は前記インデツクス・テーブル１の底面に
圧接している。

押し棒５２が取り付けられた押し棒スライダ６
０にはローラー６１が設けられ、該ローラー６１
は回転軸５３の周囲に固定された固定カム６２に
当接するように圧縮ばね６３で付勢されている。
この固定カム６２は第３図の位置Q₁乃至Q₈まで
は前記押し棒５２を引き込み状態とする。すなわ
ち、位置Q₁にて前記供給部２より送出されたチ
ツプ部品の供給を受け、位置Q₄で測定部３によ
るチツプ部品の電気的特性の測定を行い（ただ
し、チツプ部品がチツプコンデンサの場合には静
電容量を、チツプ抵抗器の場合には抵抗値、チツ
プインダクタの場合にはインダクタンスを測定す
るようにする）、位置Q₇で捺印部４による静電容
量値、抵抗値、インダクタンス値等の捺印をチツ
プ部品に対して行う。そして、電気的な特性が不
良のチツプ部品を排出するために位置Q₁₁（不良
品排出位置）では固定カム６２により押し棒５２
は突出状態となる。

また、位置Q₉（良品排出位置）では、電気的特
性が正常のチツプ部品を次段の搬送部５に送出
し、特性不良のチツプ部品は送出せずに位置Q₁₀
に移送されるようにしなければならない。このた
めに、第５図のように位置Q₉では固定カム６２
の代わりに可動カム６５がローラー６１に当接す
るようになつている。この可動カム６５は可動ス
ライダ６６に固定され、可動スライダ６６は支持
フレーム５４上に水平に配置、固定されたスライ
ドガイド軸６７に対して摺動自在に設けられてい
る。可動スライダ６６の先端のローラー６８は、
前記インデツクス・テーブル１の停止時に前記可
動カム６５を押し棒５２の突出方向に前進させる
操作力を発生する回転カム６９に当接可能になつ
ている。また、前記可動スライダ６６と支持フレ
ーム５４との間にはエアーシリンダ７０が接続さ
れ、このエアーシリンダ７０の縮動状態（不良品
検出状態）では可動カム６５は引き込み状態であ
つて、ローラー６８は回転カム６９とは離間し、
位置Q₉でのチツプ部品の搬送部５への送出は実
行されない。前記エアーシリンダ７０が伸動状態
のときにローラー６８が回転カム６９に当接し、
可動カム６５は周期的に前進してインデツクス・
テーブル１の停止時に押し棒５２を突出させ、位
置Q₉のチツプ部品を搬送部５へ送出する。

第６図、第７図及び第８図は測定部３の機械的
な構成部分を示す。これらの図において、上下ス
ライド軸で支持された上下スライダ３０には上下
バー７５が固定されている。一方、回転軸３１に
は測定部カム３２が固着され、この測定部カム３
２にカムフオロアとしてのレバー３３の端部のロ
ーラー３４が当接するようになつている。そし
て、レバー３３の他方の端部は上下スライダ３０
に連結される。従つて、上下スライダ３０及び上
下バー７５は、前記円盤状インデツクス・テーブ
ル１に同期して上下する。

前記上下バー７５には、第７図及び第８図に示
すように一対のアーム７６Ａ，７６Ｂが枢着さ
れ、各アーム７６Ａ，７６Ｂの先端に接触子７７
Ａ，７７Ｂが取り付けられている。また、各アー
ム７６Ａ，７６Ｂはそれぞれ圧縮ばね７８Ａ，７
８Ｂにより下方に付勢されている。

そして、測定部３の上下バー７５は、第３図の
インデツクス・テーブル１の回転期間中は上昇位
置、停止期間中は下降位置となつて、位置Q₄に
来たチツプ部品２０の両端の端部電極に前記一対
の接触子７７Ａ，７７Ｂを押し当て、チツプ部品
２０がチツプコンデンサの場合には静電容量を、
チツプ抵抗器の場合には抵抗値、チツプインダク
タの場合にはインダクタンスを図示していない測
定装置により測定する。

捺印部４は、第２図及び第６図に示すように、
種々の刻印を施したローラー８０をインデツク
ス・テーブル１の動きに連動させて、第３図の位
置Q₇に来たチツプ部品に例えば紫外線で硬化す
るインクによる捺印を実行する。すなわち、ロー
ラー８０はインデツクス・テーブル１の一定周期
の間欠回転に伴つて間欠回転して捺印動作を実行
する。例えば、チツプ部品が、チツプコンデンサ
であれば静電容量値、チツプ抵抗器であれば抵抗
値、チツプインダクタであればインダクタンス値
等を捺印する。

なお、第３図の位置Q₁に対応させてチツプ部
品検出センサ８５が第２図のように配置され、供
給部２を通して送出されてきたチツプ部品が位置
Q₁のインデツクス・テーブル１上に有るかどう
かを検出し、センサ８５がチツプ部品有りを検出
すると、チツプ部品が位置Q₄に着くタイミング
で前記測定部３の測定動作オン、すなわち上下バ
ー７５の下降動作を実行するようにしている。

以上の実施例の動作をまとめると次の通りであ
る。供給部２から第３図の円盤状インデツクス・
テーブル１の位置Q₁にチツプ部品が送り込まれ
ると、インデツクス・テーブル１は吸着穴５１の
真空吸引力でチツプ部品を吸着保持し、インデツ
クス・テーブル１は30度ずつ一定周期で間欠回転
してチツプ部品を移送して行く。第２図に図示の
チツプ部品検出センサ８５は位置Q₁におけるチ
ツプ部品有りを検出すると、位置Q₁のチツプ部
品が位置Q₄に到達した時点で測定部３の測定動
作をオンとする。この結果、位置Q₄にて測定部
３によりチツプ部品の電気的特性の測定が実施さ
れ、位置Q₇で捺印部４による捺印が実施される。
そして、測定部３による測定の結果、良品として
判定されたチツプ部品は、第５図の可動カム６５
の作用により位置Q₉で押し棒５２が突出するこ
とにより次段の搬送部５に送出される。

一方、測定部３で特性不良と判定されたチツプ
部品は、位置Q₉を通過して位置Q₁₁に至り、ここ
で固定カム６２の作用で押し棒５２が突出するこ
とにより、第１図及び第２図に図示の不良品受け
箱６に排出される。

なお、次段の搬送部５において、乾燥等の工程
を実施すればよい。

（考案の効果） 以上説明したように、本考案のチツプ部品測定
捺印装置によれば、円盤状インデツクス・テーブ
ルでチツプ部品を間欠移送する間に測定部でのチ
ツプ部品の電気的特性の測定及び捺印部での表示
の捺印を各チツプ部品毎に順次実行でき、チツプ
部品製造もしくはチツプ部品連製造の際の省力
化、効率の向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係るチツプ部品測定捺印装置
の実施例の全体構成を示す概略平面図、第２図は
同概略斜視図、第３図は実施例におけるインデツ
クス・テーブルを示す平面図、第４図はインデツ
クス・テーブル及びこれに付随する機構部分を示
す正断面図、第５図はインデツクス・テーブルの
押し棒を駆動する機構部分を示す平断面図、第６
図はインデツクス・テーブルにたいする測定部及
び捺印部の配置を示す一部を断面とした平面図、
第７図は測定部の機構部分を示す正面図、第８図
は同平面図である。 １……インデツクス・テーブル、２……供給
部、３……測定部、４……捺印部、５……搬送
部、６……不良品受け箱、１０……平坦周縁部、
２０……チツプ部品、５１……吸着穴、５２……
押し棒、５６……インデツクス、６２……固定カ
ム、６５……可動カム、７５……上下バー、７６
Ａ，７６Ｂ……アーム、７７Ａ，７７Ｂ……接触
子。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 等角度間隔でチツプ部品２０を吸着保持して間
   欠回転する円盤状インデツクス・テーブル１と、
   前記円盤状インデツクス・テーブルで移送されて
   来たチツプ部品の電気的特性を測定する測定部３
   と、前記円盤状インデツクス・テーブルで移送さ
   れて来たチツプ部品に表示を付ける捺印部４と、
   前記測定部及び捺印部を通過した良品排出位置で
   前記円盤状インデツクス・テーブルから排出され
   たチツプ部品を受ける搬送手段とを備え、 前記円盤状インデツクス・テーブル１は、チツ
   プ部品が載置される等角度間隔の位置決め凹部１
   １と、該位置決め凹部上のチツプ部品を吸着する
   吸着穴５１と、半径方向に摺動自在な押し棒５２
   とを有し、 前記測定部３は、前記円盤状インデツクス・テ
   ーブルに同期して上下する上下部材に枢着されて
   いて下方に付勢されたアームと、該アーム先端に
   取り付けられていて下降位置でチツプ部品の端部
   電極に接触可能な接触子とを有し、 前記捺印部４は、前記円盤状インデツクス・テ
   ーブルの間欠回転に伴つて回転して捺印動作を実
   行する該印したローラー８０を有し、 さらに、前記押し棒５２を不良品排出位置で突
   出させるための固定カムと、前記押し棒５２を前
   記良品排出位置で突出させるための可動カムとを
   設け、 前記測定部での電気的特性の測定結果により、
   特性不良のチツプ部品の場合は前記可動カムを作
   動させずに前記搬送手段に接続しない不良品排出
   位置で排出することを特徴とするチツプ部品測定
   捺印装置。