JPH0529061B2 - - Google Patents
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- JPH0529061B2 JPH0529061B2 JP61149324A JP14932486A JPH0529061B2 JP H0529061 B2 JPH0529061 B2 JP H0529061B2 JP 61149324 A JP61149324 A JP 61149324A JP 14932486 A JP14932486 A JP 14932486A JP H0529061 B2 JPH0529061 B2 JP H0529061B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- gas
- chambers
- infrared
- detector
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/61—Non-dispersive gas analysers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、同軸に相前後して配置されており赤
外線透過性の端面を設けられておりガスで満たさ
れている検出器チヤンバを有し、これらの検出器
チヤンバが圧力または流れに感ずる空気圧−電気
変換器を含む導管を介して互いに接続されている
非分散形赤外線（NDIR）ガス分析計用空気圧式
検出器に関する。
外線透過性の端面を設けられておりガスで満たさ
れている検出器チヤンバを有し、これらの検出器
チヤンバが圧力または流れに感ずる空気圧−電気
変換器を含む導管を介して互いに接続されている
非分散形赤外線（NDIR）ガス分析計用空気圧式
検出器に関する。
このような非分散形赤外線ガス分析計用空気圧
式検出器は例えばドイツ連邦共和国特許第101738
号明細書により公知である。この２層検出器の両
チヤンバは測定ガス、すなわち種々のガスの混合
ガス内で測定すべき成分を純粋な形態で、または
非吸収性のガスと混合された形態で含んでいる。
式検出器は例えばドイツ連邦共和国特許第101738
号明細書により公知である。この２層検出器の両
チヤンバは測定ガス、すなわち種々のガスの混合
ガス内で測定すべき成分を純粋な形態で、または
非吸収性のガスと混合された形態で含んでいる。
赤外線は相前後するチヤンバ内の測定ガスを通
過した後に吸収により定まる異なる高さの圧力上
昇を生ずる。
過した後に吸収により定まる異なる高さの圧力上
昇を生ずる。
第１のチヤンバのガス層内では１つの吸収帯域
の帯域中央および帯域縁の赤外線が吸収され、他
方第２のチヤンバのガス層内では主として帯域縁
の赤外線が吸収される。第１および第２のチヤン
バ内で生ずる圧力信号は差動的に接続されてお
り、差信号が出力信号として得られる。
の帯域中央および帯域縁の赤外線が吸収され、他
方第２のチヤンバのガス層内では主として帯域縁
の赤外線が吸収される。第１および第２のチヤン
バ内で生ずる圧力信号は差動的に接続されてお
り、差信号が出力信号として得られる。
それにより、測定ガス内の他のガス成分の重畳
する吸収帯域により惹起される干渉感度を大幅に
減少し、または消滅させることができる。それに
より測定の選択性が顕著に高められる。
する吸収帯域により惹起される干渉感度を大幅に
減少し、または消滅させることができる。それに
より測定の選択性が顕著に高められる。
しかしこのことは、検出器内の両チヤンバの長
さが両チヤンバ内でほぼ同一の帯域縁の赤外線が
吸収されるように順次に調整されている場合にの
み成り立つ。このことは関与するガスの種類およ
び吸収能に応じて非常に異なつているので、両チ
ヤンバ内の吸収関係の設定を測定目的により変更
せざるを得ない。
さが両チヤンバ内でほぼ同一の帯域縁の赤外線が
吸収されるように順次に調整されている場合にの
み成り立つ。このことは関与するガスの種類およ
び吸収能に応じて非常に異なつているので、両チ
ヤンバ内の吸収関係の設定を測定目的により変更
せざるを得ない。
このことは比較的費用がかさむので、本発明の
目的は、このような検出器の量産を容易にする簡
単な手段を提供することである。
目的は、このような検出器の量産を容易にする簡
単な手段を提供することである。
この目的は、本発明によれば、特許請求の範囲
第１項に記載の空気圧式検出器により達成され
る。
第１項に記載の空気圧式検出器により達成され
る。
以下、図面に示されている実施例により本発明
を説明する。
を説明する。
本発明による検出器は、主要部分を破線で示さ
れている非分散形赤外線（NDIR）ガス分析計の
部分である。
れている非分散形赤外線（NDIR）ガス分析計の
部分である。
赤外線源３から発せられた赤外線の光路は、回
転する赤外線断続器４により周期的に断続され
る。分析すべき混合ガスはこの光路内の１つのセ
ル２のなかに入れられている。
転する赤外線断続器４により周期的に断続され
る。分析すべき混合ガスはこの光路内の１つのセ
ル２のなかに入れられている。
空気圧式検出器１はいわゆる２層検出器として
構成されており、第１のチヤンバ５とその後に同
軸に配置された第２のチヤンバ６とから成つてお
り、これらのチヤンバは分析すべきガス、たとえ
ばCOを含む混合ガスで満たされている。
構成されており、第１のチヤンバ５とその後に同
軸に配置された第２のチヤンバ６とから成つてお
り、これらのチヤンバは分析すべきガス、たとえ
ばCOを含む混合ガスで満たされている。
相前後して位置する両チヤンバ５および６は１
つの導管７を介して接続されており、そのなかに
圧力または流れに感応する空気圧−電気変換器
８、たとえばコンデンサマイクロホンまたは熱線
風速計原理による流れセンサが配置されている。
つの導管７を介して接続されており、そのなかに
圧力または流れに感応する空気圧−電気変換器
８、たとえばコンデンサマイクロホンまたは熱線
風速計原理による流れセンサが配置されている。
第２のチヤンバ６の後の光路内に第３のチヤン
バ９が配置されており、第３のチヤンバ９は第２
のチヤンバ６と導管１０を介してガスが導通する
ように接続されている。
バ９が配置されており、第３のチヤンバ９は第２
のチヤンバ６と導管１０を介してガスが導通する
ように接続されている。
すべての３つのチヤンバの端面は赤外線透過性
窓として構成されている。
窓として構成されている。
第２のチヤンバ６の後方窓１１と第３のチヤン
バ９の入口窓１１との間に、赤外線吸収性の表面
を有する１つの変位可能な絞り１２が取付けられ
ており、それにより第３のチヤンバ９内へ入る赤
外線が減ぜられ得る。
バ９の入口窓１１との間に、赤外線吸収性の表面
を有する１つの変位可能な絞り１２が取付けられ
ており、それにより第３のチヤンバ９内へ入る赤
外線が減ぜられ得る。
それによつて、第１のチヤンバ５内の固有の吸
収される帯域縁赤外線とチヤンバ６および９内の
固有の吸収される帯域縁赤外線とをほぼ等しくす
ることができる。過補償（負の干渉感度）がこう
して回避され得る。
収される帯域縁赤外線とチヤンバ６および９内の
固有の吸収される帯域縁赤外線とをほぼ等しくす
ることができる。過補償（負の干渉感度）がこう
して回避され得る。
その内容ガスが共に第２の受光層を形成する第
２および第３のチヤンバ６，９の高さは、それら
の和が第１のチヤンバ５、従つてまた第１の受光
層の高さよりも大きいように選定されている。
２および第３のチヤンバ６，９の高さは、それら
の和が第１のチヤンバ５、従つてまた第１の受光
層の高さよりも大きいように選定されている。
第１図は本発明の実施例を説明するための構成
配置図である。 １……空気圧式検出器、２……セル、３……赤
外線源、４……赤外線断続器、５，６……チヤン
バ、７……導管、８……空気圧−電気変換器、９
……チヤンバ、１０……導管、１１……窓、１２
……絞り。
配置図である。 １……空気圧式検出器、２……セル、３……赤
外線源、４……赤外線断続器、５，６……チヤン
バ、７……導管、８……空気圧−電気変換器、９
……チヤンバ、１０……導管、１１……窓、１２
……絞り。
１ (a) 過酸化水素電極の感応部上に、電解重合
高分子薄膜からなる過酸化水素発生酵素の固定
化高分子膜を備えてなる第１作用電極と、 (b) 過酸化水素電極の感応部上に、電解重合高分
子薄膜からなり酵素を固定化していない又は失
活した過酸化水素発生酵素を固定化した高分子
膜を備えてなる第２作用電極と、 (c) 上記第１作用電極及び第２作用電極と電解系
を構成する対極と、 (d) 第１作用電極による電解電流と、第２作用電
極による電解電流との出力差を検出する差動出
力検出系、 を具備してなる酵素電極システム。
高分子薄膜からなる過酸化水素発生酵素の固定
化高分子膜を備えてなる第１作用電極と、 (b) 過酸化水素電極の感応部上に、電解重合高分
子薄膜からなり酵素を固定化していない又は失
活した過酸化水素発生酵素を固定化した高分子
膜を備えてなる第２作用電極と、 (c) 上記第１作用電極及び第２作用電極と電解系
を構成する対極と、 (d) 第１作用電極による電解電流と、第２作用電
極による電解電流との出力差を検出する差動出
力検出系、 を具備してなる酵素電極システム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE8518894U DE8518894U1 (de) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Pneumatischer Detektor für NDIR-Gasanalysatoren |
| DE8518894.8 | 1985-06-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6249243A JPS6249243A (ja) | 1987-03-03 |
| JPH0529061B2 true JPH0529061B2 (ja) | 1993-04-28 |
Family
ID=6782657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61149324A Granted JPS6249243A (ja) | 1985-06-28 | 1986-06-25 | 非分散形赤外線ガス分析計用空気圧式検出器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4742229A (ja) |
| EP (1) | EP0213304B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6249243A (ja) |
| DE (2) | DE8518894U1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE9014162U1 (de) * | 1990-10-11 | 1990-12-20 | Siemens AG, 8000 München | Pneumatischer Zweischichtdetektor für NDIR-Gasanalysatoren |
| US5362967A (en) * | 1992-09-30 | 1994-11-08 | Horiba, Ltd. | Pneumatic infrared ray detector for use in gas analyzer |
| US5357113A (en) * | 1992-11-18 | 1994-10-18 | Liston Scientific Corp. | Infrared gas mixture analyzer |
| US5585635A (en) * | 1994-09-26 | 1996-12-17 | Marquette Electronics, Inc. | Infrared gas analyzer and method |
| DE19723941C2 (de) * | 1997-06-06 | 1999-07-29 | Siemens Ag | Optisch-pneumatischer Detektor für nichtdispersive Gasanalysatoren |
| US7535007B1 (en) * | 2008-02-26 | 2009-05-19 | Honeywell International Inc. | Multiple chamber dual channel infrared gas detection system |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1132413A (fr) * | 1955-05-07 | 1957-03-11 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Perfectionnements apportés aux moyens pour analyser des mélanges de fluides par l'absorption d'un rayonnement |
| DE2405317C2 (de) * | 1974-02-05 | 1982-09-16 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Nichtdispersiver Zweistrahl-Ultrarotabsorptionsgasanalysator |
| US3968369A (en) * | 1974-11-15 | 1976-07-06 | Bergwerksverband Gmbh | Non-dispersive infrared gas analysis device with triple layer receiver |
| JPS5858614B2 (ja) * | 1976-01-26 | 1983-12-26 | 富士電機株式会社 | 赤外線ガス分析計用検出器 |
| DE2639210C2 (de) * | 1976-08-31 | 1985-09-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren |
| JPS5461977A (en) * | 1977-10-26 | 1979-05-18 | Horiba Ltd | Singleebeam pneumatic infrared analyzer |
| JPS5616847A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Horiba Ltd | Nondispersion type infrared-ray analysis meter |
| JPS58190743A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-07 | Fuji Electric Co Ltd | 赤外線ガス分析計 |
| DE3321360A1 (de) * | 1983-06-14 | 1984-12-20 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator |
| JPS60195438A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 赤外線ガス分析計 |
-
1985
- 1985-06-28 DE DE8518894U patent/DE8518894U1/de not_active Expired
-
1986
- 1986-06-23 US US06/877,447 patent/US4742229A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-23 DE DE8686108558T patent/DE3665772D1/de not_active Expired
- 1986-06-23 EP EP86108558A patent/EP0213304B1/de not_active Expired
- 1986-06-25 JP JP61149324A patent/JPS6249243A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0213304A1 (de) | 1987-03-11 |
| DE8518894U1 (de) | 1985-08-22 |
| DE3665772D1 (en) | 1989-10-26 |
| US4742229A (en) | 1988-05-03 |
| JPS6249243A (ja) | 1987-03-03 |
| EP0213304B1 (de) | 1989-09-20 |
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