JPH05298632A - ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機 - Google Patents
ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機Info
- Publication number
- JPH05298632A JPH05298632A JP9978392A JP9978392A JPH05298632A JP H05298632 A JPH05298632 A JP H05298632A JP 9978392 A JP9978392 A JP 9978392A JP 9978392 A JP9978392 A JP 9978392A JP H05298632 A JPH05298632 A JP H05298632A
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- JP
- Japan
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- magnetic head
- azimuth angle
- hard disk
- actual
- pulse motor
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構を
有する実機ＨＤＤ用のハードディスク又は磁気ヘッドの
試験を実機ＨＤＤと等価に行う。 【構成】 パルスモータ２によりボールスクリュー６を
介して直動ステージ５を移動させることにより、磁気ヘ
ッド３をハードディスク１の半径方向に移動させる。ま
た、パルスモータ13によりウォームギア11を介して直動
ステージ５に対しゴニオステージ９をその円弧面９ａに
沿って移動させ、磁気ヘッド３のアジマス角度を調整す
る。そして、実機ＨＤＤにおけるトラック位置に応じた
アジマス角度を算出し、これに基づいて制御装置15によ
りパルスモータ13を介してアジマス角度を制御する。
有する実機ＨＤＤ用のハードディスク又は磁気ヘッドの
試験を実機ＨＤＤと等価に行う。 【構成】 パルスモータ２によりボールスクリュー６を
介して直動ステージ５を移動させることにより、磁気ヘ
ッド３をハードディスク１の半径方向に移動させる。ま
た、パルスモータ13によりウォームギア11を介して直動
ステージ５に対しゴニオステージ９をその円弧面９ａに
沿って移動させ、磁気ヘッド３のアジマス角度を調整す
る。そして、実機ＨＤＤにおけるトラック位置に応じた
アジマス角度を算出し、これに基づいて制御装置15によ
りパルスモータ13を介してアジマス角度を制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スイングアーム式磁気
ヘッド位置決め機構を有する実機ハードディスクドライ
ブ（以下ＨＤＤと称す）に用いられるハードディスク又
は磁気ヘッドの試験（磁気ヘッドの試験には浮上量の測
定をも含む）に使用する「スピンスタンド」と呼ばれる
試験機に関し、特に実機ＨＤＤと等価の試験を可能なら
しめる試験機に関する。
ヘッド位置決め機構を有する実機ハードディスクドライ
ブ（以下ＨＤＤと称す）に用いられるハードディスク又
は磁気ヘッドの試験（磁気ヘッドの試験には浮上量の測
定をも含む）に使用する「スピンスタンド」と呼ばれる
試験機に関し、特に実機ＨＤＤと等価の試験を可能なら
しめる試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機
は、実機と同様に、ハードディスク回転用スピンドル
と、磁気ヘッド位置決め機構とを備えるが、従来の試験
機の磁気ヘッド位置決め機構の多くは、実機のもの（ス
イングアーム式）とは異なり、直動式ステージによって
磁気ヘッドの位置決めを行っていた。これは、汎用性を
考慮したためである。
は、実機と同様に、ハードディスク回転用スピンドル
と、磁気ヘッド位置決め機構とを備えるが、従来の試験
機の磁気ヘッド位置決め機構の多くは、実機のもの（ス
イングアーム式）とは異なり、直動式ステージによって
磁気ヘッドの位置決めを行っていた。これは、汎用性を
考慮したためである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような直
動式ステージによって磁気ヘッドの位置決めを行う試験
機を用いて、スイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構
を有する実機ＨＤＤ用ののディスク又は磁気ヘッドの試
験を行うと、実機ではトラック毎に磁気ヘッドのアジマ
ス角度が変化するのに対し、試験機ではアジマス角度が
常に一定であるため、実機と同条件の試験を行うことが
できない。
動式ステージによって磁気ヘッドの位置決めを行う試験
機を用いて、スイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構
を有する実機ＨＤＤ用ののディスク又は磁気ヘッドの試
験を行うと、実機ではトラック毎に磁気ヘッドのアジマ
ス角度が変化するのに対し、試験機ではアジマス角度が
常に一定であるため、実機と同条件の試験を行うことが
できない。
【０００４】磁気ヘッドのアジマス角度が変化すること
はスライダ角度の変化を意味し、スライダ角度が変化す
ると、ディスクに対する磁気ヘッドの浮上量が変化す
る。さらに磁気ヘッドの浮上量の変化はディスクに記録
再生する信号レベルの強弱に大きく関係する。このよう
に従来の単純な直動式ステージの試験機では、スイング
アーム式磁気ヘッド位置決め機構を有する実機と等価試
験を行うことができなかった。
はスライダ角度の変化を意味し、スライダ角度が変化す
ると、ディスクに対する磁気ヘッドの浮上量が変化す
る。さらに磁気ヘッドの浮上量の変化はディスクに記録
再生する信号レベルの強弱に大きく関係する。このよう
に従来の単純な直動式ステージの試験機では、スイング
アーム式磁気ヘッド位置決め機構を有する実機と等価試
験を行うことができなかった。
【０００５】また、スイングアーム式磁気ヘッド位置決
め機構を有する実機と等価試験を行う１つの方法は、実
機と全く同一機構の試験機を使用することである。しか
し、これは、アーム半径、旋回軸の位置などが限定され
るため、多機種に対応することが困難であり、試験機に
求められる汎用性が大幅に犠牲になる欠点がある。
め機構を有する実機と等価試験を行う１つの方法は、実
機と全く同一機構の試験機を使用することである。しか
し、これは、アーム半径、旋回軸の位置などが限定され
るため、多機種に対応することが困難であり、試験機に
求められる汎用性が大幅に犠牲になる欠点がある。
【０００６】もう１つの方法は、２軸直交のステージを
用い、トラック位置及びアジマス角度がスイングアーム
式位置決め機構を有する実機と等しくなる座標を計算
し、その点へ磁気ヘッドを位置決めする方法である。し
かし、この方法はアジマス角度の等価試験機としては理
論上問題はないものの、磁気ヘッドが直線上を移動しな
いため、インデックス信号に対するリード・ライトのタ
イミングがトラック毎に変わってしまい、データ処理が
煩雑である欠点がある。また、最内径でスピンドル軸と
干渉せぬよう注意が必要である。
用い、トラック位置及びアジマス角度がスイングアーム
式位置決め機構を有する実機と等しくなる座標を計算
し、その点へ磁気ヘッドを位置決めする方法である。し
かし、この方法はアジマス角度の等価試験機としては理
論上問題はないものの、磁気ヘッドが直線上を移動しな
いため、インデックス信号に対するリード・ライトのタ
イミングがトラック毎に変わってしまい、データ処理が
煩雑である欠点がある。また、最内径でスピンドル軸と
干渉せぬよう注意が必要である。
【０００７】本発明は、このような実情に鑑み、実機Ｈ
ＤＤと等価の試験を可能ならしめると共に、シンプルで
汎用性のあるハードディスク及び磁気ディスクの試験機
を提供することを目的とする。
ＤＤと等価の試験を可能ならしめると共に、シンプルで
汎用性のあるハードディスク及び磁気ディスクの試験機
を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このため、本発明は、磁
気ヘッド位置決め機構として、磁気ヘッドを直動部材を
介してハードディスクの半径方向に直線移動させる直動
機構と、その直動部材上で磁気ヘッドを回動してアジマ
ス角度を調整するアジマス角度調整機構とを設ける一
方、実機ＨＤＤにおけるトラック位置に応じたアジマス
角度を算出し、前記直動機構により変化するトラック位
置に応じて実機ＨＤＤにおけると同じアジマス角度を得
るように前記アジマス角度調整機構を制御する制御装置
を設けて、ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機を構
成する。
気ヘッド位置決め機構として、磁気ヘッドを直動部材を
介してハードディスクの半径方向に直線移動させる直動
機構と、その直動部材上で磁気ヘッドを回動してアジマ
ス角度を調整するアジマス角度調整機構とを設ける一
方、実機ＨＤＤにおけるトラック位置に応じたアジマス
角度を算出し、前記直動機構により変化するトラック位
置に応じて実機ＨＤＤにおけると同じアジマス角度を得
るように前記アジマス角度調整機構を制御する制御装置
を設けて、ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機を構
成する。
【０００９】
【作用】上記の構成においては、磁気ヘッドを直動機構
によりハードディスクの半径方向に直線移動させつつ、
各トラック位置にて磁気ヘッドを回動してアジマス角度
を調整する。調整に際しては、実機ＨＤＤにおけるトラ
ック位置に応じたアジマス角度を算出する。これは、例
えば、スイングアームの旋回半径及びディスクとアーム
との中心間距離をパラメータとして予め入力し、ディス
クの各トラックにおける半径を変数として与えることに
より求まる。そして、これに基づき、試験機において直
動機構により変化するトラック位置に応じてアジマス角
度調整機構を制御して、実機ＨＤＤにおけると同じアジ
マス角度を得る。
によりハードディスクの半径方向に直線移動させつつ、
各トラック位置にて磁気ヘッドを回動してアジマス角度
を調整する。調整に際しては、実機ＨＤＤにおけるトラ
ック位置に応じたアジマス角度を算出する。これは、例
えば、スイングアームの旋回半径及びディスクとアーム
との中心間距離をパラメータとして予め入力し、ディス
クの各トラックにおける半径を変数として与えることに
より求まる。そして、これに基づき、試験機において直
動機構により変化するトラック位置に応じてアジマス角
度調整機構を制御して、実機ＨＤＤにおけると同じアジ
マス角度を得る。
【００１０】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１及び図２は本発明に係る試験機の一実施例を
示している。試験機には、ハードディスク１を装着して
回転させるためのスピンドル２が設けられている。
する。図１及び図２は本発明に係る試験機の一実施例を
示している。試験機には、ハードディスク１を装着して
回転させるためのスピンドル２が設けられている。
【００１１】また、試験機には、磁気ヘッド３の位置決
め機構が設けられており、これについて説明する。ベー
ス４上に直動部材としての直動ステージ５が図１で左右
方向に摺動自在に案内されている。ベース４にはまたそ
の案内方向に延びるボールスクリュー６が回転自在に支
持されており、このボールスクリュー６は直動ステージ
５に螺合している。そして、ボールスクリュー６の一端
部は正逆転可能なパルスモータ７の出力軸に接続されて
いる。従って、パルスモータ７によりボールスクリュー
６を回転することにより、直動ステージ５を図１で左右
方向に移動させることができ、ベース４、直動ステージ
５、ボールスクリュー６及びパルスモータ７を含んで直
動機構が構成される。
め機構が設けられており、これについて説明する。ベー
ス４上に直動部材としての直動ステージ５が図１で左右
方向に摺動自在に案内されている。ベース４にはまたそ
の案内方向に延びるボールスクリュー６が回転自在に支
持されており、このボールスクリュー６は直動ステージ
５に螺合している。そして、ボールスクリュー６の一端
部は正逆転可能なパルスモータ７の出力軸に接続されて
いる。従って、パルスモータ７によりボールスクリュー
６を回転することにより、直動ステージ５を図１で左右
方向に移動させることができ、ベース４、直動ステージ
５、ボールスクリュー６及びパルスモータ７を含んで直
動機構が構成される。
【００１２】直動ステージ５の前面には支持部材８が固
定されている。この支持部材８の前面には凹状の円弧面
８ａが形成され、また、円弧面８ａに沿って突条８ｂ
（図２参照）が形成されている。また、突条８ｂの中央
に左右方向に延びる切欠き８ｃ（図２参照）が形成され
ている。そして、支持部材８には、その凹状の円弧面８
ａ及び突条８ｂ対応する凸状の円弧面９ａ及びあり溝９
ｂを後面に有するゴニオステージ９が摺動自在に取付け
られている。
定されている。この支持部材８の前面には凹状の円弧面
８ａが形成され、また、円弧面８ａに沿って突条８ｂ
（図２参照）が形成されている。また、突条８ｂの中央
に左右方向に延びる切欠き８ｃ（図２参照）が形成され
ている。そして、支持部材８には、その凹状の円弧面８
ａ及び突条８ｂ対応する凸状の円弧面９ａ及びあり溝９
ｂを後面に有するゴニオステージ９が摺動自在に取付け
られている。
【００１３】このゴニオステージ９にはそのあり溝９ｂ
の中央より突出させた形で円弧状にウォームホイール10
が形成されている。そして、支持部材８の切欠き８ｃ内
部にはウォームギア11が回転自在に支持されていて、ウ
ォームホイール10と噛み合っている。そして、ウォーム
ギア11の一端部はカップリング12を介して正逆転可能な
パルスモータ13の出力軸に接続されている。従って、パ
ルスモータ13によりウォームギア11を回転することによ
り、ゴニオステージ９を円弧運動させることができる。
の中央より突出させた形で円弧状にウォームホイール10
が形成されている。そして、支持部材８の切欠き８ｃ内
部にはウォームギア11が回転自在に支持されていて、ウ
ォームホイール10と噛み合っている。そして、ウォーム
ギア11の一端部はカップリング12を介して正逆転可能な
パルスモータ13の出力軸に接続されている。従って、パ
ルスモータ13によりウォームギア11を回転することによ
り、ゴニオステージ９を円弧運動させることができる。
【００１４】そして、ゴニオステージ９には磁気ヘッド
取付部14が設けられ、この取付部14にリード・ライト・
ギャップの中心が円弧の中心に位置するように磁気ヘッ
ド３がアッセンブリ状態で取付けられる。従って、支持
部材８、ゴニオステージ９、ウォームホイール10、ウォ
ームギア11、カップリング12及びパルスモータ13を含ん
でアジマス角度調整機構が構成される。
取付部14が設けられ、この取付部14にリード・ライト・
ギャップの中心が円弧の中心に位置するように磁気ヘッ
ド３がアッセンブリ状態で取付けられる。従って、支持
部材８、ゴニオステージ９、ウォームホイール10、ウォ
ームギア11、カップリング12及びパルスモータ13を含ん
でアジマス角度調整機構が構成される。
【００１５】尚、図３に磁気ヘッド３の一例を示す。こ
の例はサスペンション31とスライダ32の取付け方がトラ
ンスバーサル型のものである。また、33はフェライトコ
ア、34はギャップ、35は浮上面テーパ部である。ここに
おいて、直動機構のパルスモータ７及びアジマス角度調
整機構のパルスモータ13は、マイクロコンピュータ内蔵
の制御装置15により制御される。
の例はサスペンション31とスライダ32の取付け方がトラ
ンスバーサル型のものである。また、33はフェライトコ
ア、34はギャップ、35は浮上面テーパ部である。ここに
おいて、直動機構のパルスモータ７及びアジマス角度調
整機構のパルスモータ13は、マイクロコンピュータ内蔵
の制御装置15により制御される。
【００１６】制御装置15は、実機ＨＤＤにおけるトラッ
ク位置に応じたアジマス角度を算出し、パルスモータ７
による直動ステージ５を介しての磁気ヘッド３の移動に
より変化するトラック位置に応じて、実機ＨＤＤにおけ
ると同じアジマス角度を得るように、パルスモータ13に
よりゴニオステージ９を介して磁気ヘッド３をそのギャ
ップ中心回りに回動し、アジマス角度を調整する。
ク位置に応じたアジマス角度を算出し、パルスモータ７
による直動ステージ５を介しての磁気ヘッド３の移動に
より変化するトラック位置に応じて、実機ＨＤＤにおけ
ると同じアジマス角度を得るように、パルスモータ13に
よりゴニオステージ９を介して磁気ヘッド３をそのギャ
ップ中心回りに回動し、アジマス角度を調整する。
【００１７】次に実機ＨＤＤにおけるトラック位置に応
じたアジマス角度の算出方法について説明する。図４に
一般的なスイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構を有
する実機ＨＤＤを示す。図中41はハードディスク、42は
スピンドル、43は磁気ヘッド、44はアーム、45はアーム
旋回軸である。
じたアジマス角度の算出方法について説明する。図４に
一般的なスイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構を有
する実機ＨＤＤを示す。図中41はハードディスク、42は
スピンドル、43は磁気ヘッド、44はアーム、45はアーム
旋回軸である。
【００１８】図５にトラックの位置が変化することによ
ってアジマス角度が変化する様子を示す。図中51はトラ
ック、52は旋回軸、53は磁気ヘッド点、54は磁気ヘッド
軌跡である。トラックの法線と磁気ヘッドのギャップと
が一致するとき、アジマス角度がゼロで、図５はアジマ
ス角度がθであることを示している。
ってアジマス角度が変化する様子を示す。図中51はトラ
ック、52は旋回軸、53は磁気ヘッド点、54は磁気ヘッド
軌跡である。トラックの法線と磁気ヘッドのギャップと
が一致するとき、アジマス角度がゼロで、図５はアジマ
ス角度がθであることを示している。
【００１９】ここで、図５から、次の関係式が成立す
る。 Ｉ2 ＝Ｒ2 ＋ｒ2 −２Ｒ cosΨ ・・・（１） θ＝90°−Ψ ・・・（２） 但し、Ｉはディスクとアームとの中心間距離、Ｒはアー
ムの旋回半径、ｒはディスクのトラック半径、Ψはトラ
ックの法線とアームとの挟角、θはアジマス角である。
る。 Ｉ2 ＝Ｒ2 ＋ｒ2 −２Ｒ cosΨ ・・・（１） θ＝90°−Ψ ・・・（２） 但し、Ｉはディスクとアームとの中心間距離、Ｒはアー
ムの旋回半径、ｒはディスクのトラック半径、Ψはトラ
ックの法線とアームとの挟角、θはアジマス角である。
【００２０】（１），（２）式より、次の式が導かれ
る。 θ＝90°− cos-1（（Ｒ2 ＋ｒ2 −Ｉ2 ）／２Ｒｒ） ・・・（３） 従って、（３）式を用いて、各トラックにおける実機の
アジマス角度θを算出することができる。すなわち、ア
ームの旋回半径Ｒ及びディスクとアームとの中心間距離
Ｉをパラメータとして予め入力し、ディスクのトラック
半径ｒを変数として、アジマス角度θを算出することが
できる。
る。 θ＝90°− cos-1（（Ｒ2 ＋ｒ2 −Ｉ2 ）／２Ｒｒ） ・・・（３） 従って、（３）式を用いて、各トラックにおける実機の
アジマス角度θを算出することができる。すなわち、ア
ームの旋回半径Ｒ及びディスクとアームとの中心間距離
Ｉをパラメータとして予め入力し、ディスクのトラック
半径ｒを変数として、アジマス角度θを算出することが
できる。
【００２１】よって、制御装置15は、パルスモータ７に
よる直動ステージ５を介しての磁気ヘッド３の移動によ
り変化するトラック位置に応じて、（３）式にてｒの値
を変化させて、実機におけるアジマス角度θを割り出
し、これに基づいて、パルスモータ13によりゴニオステ
ージ９を介して磁気ヘッド３をそのギャップ中心回りに
回動し、実機におけると同じアジマス角度θに調整す
る。
よる直動ステージ５を介しての磁気ヘッド３の移動によ
り変化するトラック位置に応じて、（３）式にてｒの値
を変化させて、実機におけるアジマス角度θを割り出
し、これに基づいて、パルスモータ13によりゴニオステ
ージ９を介して磁気ヘッド３をそのギャップ中心回りに
回動し、実機におけると同じアジマス角度θに調整す
る。
【００２２】今、ある実機のトラック半径ｒ1 ，ｒ2 に
対するアジマス角度をθ1 ，θ2 としたとき、従来方式
の試験機では、図６に示すように２軸直交ステージを用
いて２方向に位置決めしなければならない。これに対
し、本発明による方式では、図７に示すように磁気ヘッ
ドは直線上を移動するので、１方向の位置決めでよく、
インデックス信号に対するタイミングも修正する必要が
ない。
対するアジマス角度をθ1 ，θ2 としたとき、従来方式
の試験機では、図６に示すように２軸直交ステージを用
いて２方向に位置決めしなければならない。これに対
し、本発明による方式では、図７に示すように磁気ヘッ
ドは直線上を移動するので、１方向の位置決めでよく、
インデックス信号に対するタイミングも修正する必要が
ない。
【００２３】尚、本試験機は、ハードディスク及び磁気
ヘッドそのものの試験のみならず、浮上量測定機として
も全く同様に使用できる。
ヘッドそのものの試験のみならず、浮上量測定機として
も全く同様に使用できる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、小
型ＨＤＤで現在主流となりつつあるスイングアーム式磁
気ヘッド位置決め機構をもつ実機に用いるハードディス
ク及び磁気ヘッドの試験を実機と等価の試験とすること
ができる一方、その試験機をシンプルにかつコンパクト
にまとめることが可能で、スペース及びコストの低減に
も効果がある。
型ＨＤＤで現在主流となりつつあるスイングアーム式磁
気ヘッド位置決め機構をもつ実機に用いるハードディス
ク及び磁気ヘッドの試験を実機と等価の試験とすること
ができる一方、その試験機をシンプルにかつコンパクト
にまとめることが可能で、スペース及びコストの低減に
も効果がある。
【図１】 本発明の一実施例を示す試験機の要部平面図
【図２】 図１のゴニオステージ部分の側面断面図
【図３】 磁気ヘッドの一例を示す図
【図４】 スイングアーム式磁気ヘッド位置決め機構の
概略図
概略図
【図５】 トラック位置によりアジマス角度が変化する
様子を示す図
様子を示す図
【図６】 ２軸直交ステージによりアジマス角度調整を
行う例を示す図
行う例を示す図
【図７】 本発明によりアジマス角度調整を行う例を示
す図
す図
１ ハードディスク ２ スピンドル ３ 磁気ヘッド ４ ベース ５ 直動ステージ ６ ボールスクリュー ７ パルスモータ ８ 支持部材 ９ ゴニオステージ 10 ウォームホイール 11 ウォームギア 13 パルスモータ 14 磁気ヘッド取付部 15 制御装置
Claims (1)
- 【請求項１】ハードディスク回転用スピンドルと、磁気
ヘッド位置決め機構とを備えて、スイングアーム式磁気
ヘッド位置決め機構を有する実機ハードディスクドライ
ブに用いられるハードディスク及び磁気ヘッドの少なく
とも一方の試験を行う試験機において、 前記磁気ヘッド位置決め機構として、磁気ヘッドを直動
部材を介してハードディスクの半径方向に直線移動させ
る直動機構と、その直動部材上で磁気ヘッドを回動して
アジマス角度を調整するアジマス角度調整機構とを設け
る一方、 実機ハードディスクドライブにおけるトラック位置に応
じたアジマス角度を算出し、前記直動機構により変化す
るトラック位置に応じて実機ハードディスクドライブに
おけると同じアジマス角度を得るように前記アジマス角
度調整機構を制御する制御装置を設けたことを特徴とす
るハードディスク及び磁気ヘッドの試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4099783A JP2589625B2 (ja) | 1992-04-20 | 1992-04-20 | ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4099783A JP2589625B2 (ja) | 1992-04-20 | 1992-04-20 | ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05298632A true JPH05298632A (ja) | 1993-11-12 |
| JP2589625B2 JP2589625B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=14256543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4099783A Expired - Fee Related JP2589625B2 (ja) | 1992-04-20 | 1992-04-20 | ハードディスク及び磁気ヘッドの試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2589625B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6653809B2 (en) | 2001-06-05 | 2003-11-25 | Agilent Technologies, Inc. | Method for head positioning |
-
1992
- 1992-04-20 JP JP4099783A patent/JP2589625B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6653809B2 (en) | 2001-06-05 | 2003-11-25 | Agilent Technologies, Inc. | Method for head positioning |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2589625B2 (ja) | 1997-03-12 |
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