JPH05298832A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH05298832A JPH05298832A JP9683292A JP9683292A JPH05298832A JP H05298832 A JPH05298832 A JP H05298832A JP 9683292 A JP9683292 A JP 9683292A JP 9683292 A JP9683292 A JP 9683292A JP H05298832 A JPH05298832 A JP H05298832A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- optical disk
- detection limit
- magneto
- sector
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 交替処理時における交替条件などをより細か
く制御する。 【構成】 光磁気ディスク１を構成するセクタ内のデー
タ部に対するオペレーションの内容（例えば、ベリファ
イオペレーションまたはリードオペレーション等）によ
って各種マーク（アドレスマーク，シンクなど）の検出
限界を検出限界制御部３２で決定し、マーク検出回路３
４によりその決定された検出限界に基づいて各種マーク
（アドレスマーク，シンクなど）を検出する。その検出
結果に応じて交替条件判断部３６で交替処理を行うかど
うかを判断しているので、一層きめ細かな交替処理を行
うことができる。
く制御する。 【構成】 光磁気ディスク１を構成するセクタ内のデー
タ部に対するオペレーションの内容（例えば、ベリファ
イオペレーションまたはリードオペレーション等）によ
って各種マーク（アドレスマーク，シンクなど）の検出
限界を検出限界制御部３２で決定し、マーク検出回路３
４によりその決定された検出限界に基づいて各種マーク
（アドレスマーク，シンクなど）を検出する。その検出
結果に応じて交替条件判断部３６で交替処理を行うかど
うかを判断しているので、一層きめ細かな交替処理を行
うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの記録面の
欠陥によって再生することのできない欠陥セクタが存在
した場合に、そのセクタに書かれる予定のデータが他の
セクタ（交替セクタ）に書かれるようにした交替処理が
行われる光ディスク記録再生装置に適用して好適な光デ
ィスク装置に関する。
欠陥によって再生することのできない欠陥セクタが存在
した場合に、そのセクタに書かれる予定のデータが他の
セクタ（交替セクタ）に書かれるようにした交替処理が
行われる光ディスク記録再生装置に適用して好適な光デ
ィスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は一般的な光磁気ディスク１の記録
フォーマットなどを示している。この光磁気ディスク１
では、記録溝が径方向Ｒの内周側から外周側に向かっ
て、スパイラル状に配置されている。
フォーマットなどを示している。この光磁気ディスク１
では、記録溝が径方向Ｒの内周側から外周側に向かっ
て、スパイラル状に配置されている。
【０００３】ただし、スパイラル状にはなっているが、
１周を１トラックと称して１周毎にトラック番号が内周
から順に付けられている。
１周を１トラックと称して１周毎にトラック番号が内周
から順に付けられている。
【０００４】さらに、各トラックはそれぞれ等角間隔の
セクタＳに分割され、その分割されたセクタＳに対して
番号が、例えば、時計回りに付けられている。
セクタＳに分割され、その分割されたセクタＳに対して
番号が、例えば、時計回りに付けられている。
【０００５】ここで、任意のセクタＳは、それぞれヘッ
ダー部Ｈとデータ部Ｄとから構成されている。なお、図
３中、セクタＳの参照符号を付けた部分を含む部分は、
１トラックの径方向Ｒの幅を誇張して描いている。
ダー部Ｈとデータ部Ｄとから構成されている。なお、図
３中、セクタＳの参照符号を付けた部分を含む部分は、
１トラックの径方向Ｒの幅を誇張して描いている。
【０００６】図４は、任意のセクタＳの詳細な構成を示
す図である。このうち、ヘッダー部Ｈには、トラック番
号ＴＮ（ここでは２バイト＝２Ｂ分のデータ、以下、単
に、２Ｂと記載する）とセクタ番号ＳＮ（１Ｂ）から構
成されるアドレスＩＤの他に同期位置を示す検出マーク
としてのアドレスマークＡＭ（１Ｂ）および誤り訂正検
出用の冗長語である誤り訂正符号ＣＲＣ（Cyclic Redun
dancy Check：２Ｂ）などがエンボス処理によって予め
書き込まれている。したがって、ヘッダー部Ｈの内容
は、読み出し専用であり、消えることはない。なお、ヘ
ッダー部Ｈに記録されたデータの読み取りを確実に行う
ために、アドレスマークＡＭ，アドレスＩＤおよび誤り
訂正符号ＣＲＣの組（以下、アドレスデータという）Ａ
ＤＲが、複数回、図４例では、３回書き込まれている。
す図である。このうち、ヘッダー部Ｈには、トラック番
号ＴＮ（ここでは２バイト＝２Ｂ分のデータ、以下、単
に、２Ｂと記載する）とセクタ番号ＳＮ（１Ｂ）から構
成されるアドレスＩＤの他に同期位置を示す検出マーク
としてのアドレスマークＡＭ（１Ｂ）および誤り訂正検
出用の冗長語である誤り訂正符号ＣＲＣ（Cyclic Redun
dancy Check：２Ｂ）などがエンボス処理によって予め
書き込まれている。したがって、ヘッダー部Ｈの内容
は、読み出し専用であり、消えることはない。なお、ヘ
ッダー部Ｈに記録されたデータの読み取りを確実に行う
ために、アドレスマークＡＭ，アドレスＩＤおよび誤り
訂正符号ＣＲＣの組（以下、アドレスデータという）Ａ
ＤＲが、複数回、図４例では、３回書き込まれている。
【０００７】一方、データ部Ｄには、その先頭を示す同
期信号ＳＹＮＣ（３Ｂ）と、同期用の特殊コードＲＥＳ
ＹＮＣ（１Ｂ）と、データ記録部ＤＡＴＡ（２０Ｂ）と
が記録できるようになっている。なお、データ記録部Ｄ
ＡＴＡには、誤り訂正符号ＥＣＣ（Error Correction C
ode）も同時に記録されている。
期信号ＳＹＮＣ（３Ｂ）と、同期用の特殊コードＲＥＳ
ＹＮＣ（１Ｂ）と、データ記録部ＤＡＴＡ（２０Ｂ）と
が記録できるようになっている。なお、データ記録部Ｄ
ＡＴＡには、誤り訂正符号ＥＣＣ（Error Correction C
ode）も同時に記録されている。
【０００８】このように構成されるデータ部Ｄに、外部
のホストコンピュータなどから記録用のデータが供給さ
れた場合に、その記録用のデータがデータ記録部ＤＡＴ
Ａに記録され、また、同期信号ＳＹＮＣ（３Ｂ）と、同
期用の特殊コードＲＥＳＹＮＣ（１Ｂ）も、その記録用
のデータと同時にその記録用のデータに自動的に付加さ
れるようにして記録されるようになっている。
のホストコンピュータなどから記録用のデータが供給さ
れた場合に、その記録用のデータがデータ記録部ＤＡＴ
Ａに記録され、また、同期信号ＳＹＮＣ（３Ｂ）と、同
期用の特殊コードＲＥＳＹＮＣ（１Ｂ）も、その記録用
のデータと同時にその記録用のデータに自動的に付加さ
れるようにして記録されるようになっている。
【０００９】なお、以下の説明において、ヘッダー部Ｈ
にのみアドレスＡＤＲが記録されていて、書き換え可能
なデータ部Ｄに何も記録されていない光磁気ディスク
を、生ディスクという。
にのみアドレスＡＤＲが記録されていて、書き換え可能
なデータ部Ｄに何も記録されていない光磁気ディスク
を、生ディスクという。
【００１０】このように構成されるセクタＳを有する光
磁気ディスク１は、図示しないスピンドルモータにより
回転軸を中心に矢印Ａ方向に、例えば、一定角速度（Ｃ
ＡＶ）で回転され、一方、この光磁気ディスク１に対向
して配置される光ピックアップ２が矢印Ｒ方向（径方
向）に内周側から外周側に向かって移動されることで、
セクタＳ内のヘッダーＨとデータＤの内容が読み出され
るようになっている。
磁気ディスク１は、図示しないスピンドルモータにより
回転軸を中心に矢印Ａ方向に、例えば、一定角速度（Ｃ
ＡＶ）で回転され、一方、この光磁気ディスク１に対向
して配置される光ピックアップ２が矢印Ｒ方向（径方
向）に内周側から外周側に向かって移動されることで、
セクタＳ内のヘッダーＨとデータＤの内容が読み出され
るようになっている。
【００１１】ところで、上記した光磁気ディスク１を利
用する光ディスク装置でのディスクオペレーションの種
類としては、一般的な動作時における、ライトオペレー
ション、リードオペレーション、ベリファイオペレーシ
ョンなどがあり、また、光磁気ディスク１の初期化時に
おけるサーティファイオペレーションもある。
用する光ディスク装置でのディスクオペレーションの種
類としては、一般的な動作時における、ライトオペレー
ション、リードオペレーション、ベリファイオペレーシ
ョンなどがあり、また、光磁気ディスク１の初期化時に
おけるサーティファイオペレーションもある。
【００１２】このうち、上記サーティファイオペレーシ
ョンは、光磁気ディスク１が上記した生ディスクの状態
になっている場合、いわゆる初期化時に、データ部Ｄの
全ての記録領域に適当なデータを書き込んだ後、セクタ
Ｓ内の全ての領域（ヘッダー部Ｈとデータ部Ｄ）のデー
タを読み出して、記録面の欠陥によって再生することの
できない欠陥セクタＤＳを検出し、その欠陥セクタＤＳ
のアドレスＩＤを光磁気ディスク１の内周側に形成され
ている基本欠陥リスト領域ＰＤＬ（図３参照）に書き込
むようにされたオペレーションをいう。
ョンは、光磁気ディスク１が上記した生ディスクの状態
になっている場合、いわゆる初期化時に、データ部Ｄの
全ての記録領域に適当なデータを書き込んだ後、セクタ
Ｓ内の全ての領域（ヘッダー部Ｈとデータ部Ｄ）のデー
タを読み出して、記録面の欠陥によって再生することの
できない欠陥セクタＤＳを検出し、その欠陥セクタＤＳ
のアドレスＩＤを光磁気ディスク１の内周側に形成され
ている基本欠陥リスト領域ＰＤＬ（図３参照）に書き込
むようにされたオペレーションをいう。
【００１３】また、上記ベリファイオペレーションは、
書き込んだデータが正しいかどうかを確認するオペレー
ションであり、データを書き込んだ後にそれを読み取っ
たデータと書き込み用データとを比較して確認するオペ
レーションであり、書き込んだデータをその光磁気ディ
スク１にセーブ処理する場合などに行われるオペレーシ
ョンである。このベリファイオペレーション時等の一般
的な動作時に欠陥セクタＤＳが検出された場合には、そ
の欠陥セクタＤＳのアドレスＩＤとその欠陥セクタＤＳ
に書かれる予定のデータを書き込むための他のセクタ
（以下、交替セクタという）ＡＳのアドレスＩＤとを対
の形で２次欠陥リスト領域ＳＤＬ（図３参照）に書き込
む処理がなされる。
書き込んだデータが正しいかどうかを確認するオペレー
ションであり、データを書き込んだ後にそれを読み取っ
たデータと書き込み用データとを比較して確認するオペ
レーションであり、書き込んだデータをその光磁気ディ
スク１にセーブ処理する場合などに行われるオペレーシ
ョンである。このベリファイオペレーション時等の一般
的な動作時に欠陥セクタＤＳが検出された場合には、そ
の欠陥セクタＤＳのアドレスＩＤとその欠陥セクタＤＳ
に書かれる予定のデータを書き込むための他のセクタ
（以下、交替セクタという）ＡＳのアドレスＩＤとを対
の形で２次欠陥リスト領域ＳＤＬ（図３参照）に書き込
む処理がなされる。
【００１４】さらに、上記リードオペレーションは、光
磁気ディスク１に書き込まれているデータを読み出すオ
ペレーションであり、この場合における欠陥セクタＤＳ
の検出は、上記誤り訂正符号ＣＲＣ，ＥＣＣを使用して
行うようになっている。欠陥セクタＤＳが検出された場
合の処理は、上記ベリファイオペレーションと同様に、
２次欠陥リスト領域ＳＤＬに欠陥セクタＤＳと交替セク
タＡＳとを対の形で書き込む処理がなされる。
磁気ディスク１に書き込まれているデータを読み出すオ
ペレーションであり、この場合における欠陥セクタＤＳ
の検出は、上記誤り訂正符号ＣＲＣ，ＥＣＣを使用して
行うようになっている。欠陥セクタＤＳが検出された場
合の処理は、上記ベリファイオペレーションと同様に、
２次欠陥リスト領域ＳＤＬに欠陥セクタＤＳと交替セク
タＡＳとを対の形で書き込む処理がなされる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した光
ディスク装置では、欠陥セクタＤＳを検出する際に、ヘ
ッダー部Ｈ内では、アドレスＩＤの検出回数によってそ
の欠陥セクタＤＳの検出限界を判断し、一方、データ部
Ｄ内では、データ領域ＤＡＴＡ内におけるエラーバイト
数によって検出限界を判断していた。その際、例えば、
上記ベリファイオペレーションと上記サーティファイオ
ペレーション時のリード時の検出限界は、一般的動作時
のリードオペレーション時に比較して厳しい値に設定し
ていた。すなわち、上記ベリファイオペレーション時な
どでは、僅かな欠陥が検出されてもそれを欠陥セクタＤ
Ｓと特定して交替処理を行うようにし、一方、上記一般
のリード時には上記検出限界を緩めて読み出すことによ
り、多少欠陥が多くても書き込まれたデータを読み込め
るようにして装置全体の信頼性を向上させるようにして
いた。
ディスク装置では、欠陥セクタＤＳを検出する際に、ヘ
ッダー部Ｈ内では、アドレスＩＤの検出回数によってそ
の欠陥セクタＤＳの検出限界を判断し、一方、データ部
Ｄ内では、データ領域ＤＡＴＡ内におけるエラーバイト
数によって検出限界を判断していた。その際、例えば、
上記ベリファイオペレーションと上記サーティファイオ
ペレーション時のリード時の検出限界は、一般的動作時
のリードオペレーション時に比較して厳しい値に設定し
ていた。すなわち、上記ベリファイオペレーション時な
どでは、僅かな欠陥が検出されてもそれを欠陥セクタＤ
Ｓと特定して交替処理を行うようにし、一方、上記一般
のリード時には上記検出限界を緩めて読み出すことによ
り、多少欠陥が多くても書き込まれたデータを読み込め
るようにして装置全体の信頼性を向上させるようにして
いた。
【００１６】しかしながら、上記従来の技術による光デ
ィスク装置に採用されている欠陥セクタ検出処理では、
僅かな欠陥の増大により、その欠陥セクタＤＳへのアク
セスが不能になり、言い換えれば、ライト・リードオペ
レーションが不可能になって、全体としての信頼性がそ
れほどには高くならないという問題があった。
ィスク装置に採用されている欠陥セクタ検出処理では、
僅かな欠陥の増大により、その欠陥セクタＤＳへのアク
セスが不能になり、言い換えれば、ライト・リードオペ
レーションが不可能になって、全体としての信頼性がそ
れほどには高くならないという問題があった。
【００１７】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであり、交替処理時における交替条件などをより細
かく制御することを可能とする光ディスク装置を提供す
ることを目的とする。
ものであり、交替処理時における交替条件などをより細
かく制御することを可能とする光ディスク装置を提供す
ることを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】第１の本発明光ディスク
装置は、例えば、図１および図４に示すように、ヘッダ
ー部Ｈとデータ部Ｄとを有するセクタＳの単位で情報信
号が記録されるとともに、セクタＳには、そのセクタＳ
内の物理的位置を示す各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）が記録されている光ディスク
装置において、外部からのオペレーションＯＰに対応す
る命令を出力するオペレーション命令部３１と、上記命
令に対応して各種マーク（アドレスＡＭ，シンクＳＹＮ
Ｃなど）の検出限界を決定する検出限界制御部３２と、
上記決定された検出限界が設定される検出限界設定回路
３３と、上記設定された検出限界に基づいて上記各種マ
ーク（アドレスＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）を検出する
マーク検出回路３４とを備えるものである。
装置は、例えば、図１および図４に示すように、ヘッダ
ー部Ｈとデータ部Ｄとを有するセクタＳの単位で情報信
号が記録されるとともに、セクタＳには、そのセクタＳ
内の物理的位置を示す各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）が記録されている光ディスク
装置において、外部からのオペレーションＯＰに対応す
る命令を出力するオペレーション命令部３１と、上記命
令に対応して各種マーク（アドレスＡＭ，シンクＳＹＮ
Ｃなど）の検出限界を決定する検出限界制御部３２と、
上記決定された検出限界が設定される検出限界設定回路
３３と、上記設定された検出限界に基づいて上記各種マ
ーク（アドレスＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）を検出する
マーク検出回路３４とを備えるものである。
【００１９】
【作用】本発明光ディスク装置によれば、データ部Ｄに
対するオペレーションの内容によって各種マーク（アド
レスマークＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）の検出限界を検
出限界制御部３２で決定し、マーク検出回路３４により
その決定された検出限界に基づいて各種マーク（アドレ
スマークＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）を検出するように
しているので、一層きめ細かな交替処理を行うことがで
きる。
対するオペレーションの内容によって各種マーク（アド
レスマークＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）の検出限界を検
出限界制御部３２で決定し、マーク検出回路３４により
その決定された検出限界に基づいて各種マーク（アドレ
スマークＡＭ，シンクＳＹＮＣなど）を検出するように
しているので、一層きめ細かな交替処理を行うことがで
きる。
【００２０】
【実施例】以下、本発明光ディスク装置の一実施例につ
いて図面を参照して説明する。なお、以下の説明にあた
り、上記図３および上記図４の図面も併せて参照して説
明する。また、以下に参照する図面において、上記した
図３と図４に示したものと対応するものには同一の符号
を付けてその詳細な説明を省略する。
いて図面を参照して説明する。なお、以下の説明にあた
り、上記図３および上記図４の図面も併せて参照して説
明する。また、以下に参照する図面において、上記した
図３と図４に示したものと対応するものには同一の符号
を付けてその詳細な説明を省略する。
【００２１】図１は、本発明光ディスク装置の一実施例
の構成を示している。図１において、１０は全体として
本実施例による光ディスク装置を示している。この光デ
ィスク装置１０は、光磁気ディスク制御回路１１を有し
ている。この光磁気ディスク制御回路１１には、図示し
ないホストコンピュータから入力端子１２を通じてディ
スクオペレーション（以下、単に、オペレーションとい
う）ＯＰが供給される。このオペレーションＯＰの種類
としては、一般的動作時おける、ライトオペレーション
ＯＰＷ、リードオペレーションＯＰＲ、ベリファイオペ
レーションＯＰＶなどがあり、また、初期化時における
サーティファイオペレーションＯＰＳなどがある。
の構成を示している。図１において、１０は全体として
本実施例による光ディスク装置を示している。この光デ
ィスク装置１０は、光磁気ディスク制御回路１１を有し
ている。この光磁気ディスク制御回路１１には、図示し
ないホストコンピュータから入力端子１２を通じてディ
スクオペレーション（以下、単に、オペレーションとい
う）ＯＰが供給される。このオペレーションＯＰの種類
としては、一般的動作時おける、ライトオペレーション
ＯＰＷ、リードオペレーションＯＰＲ、ベリファイオペ
レーションＯＰＶなどがあり、また、初期化時における
サーティファイオペレーションＯＰＳなどがある。
【００２２】また、上記ライトオペレーションＯＰＷ時
においては、そのライトオペレーションＯＰＷとともに
上記ホストコンピュータから書き込みデータＷＤも供給
される。その書き込みデータＷＤは、メモリ回路１３に
一旦格納される。さらに、上記リードオペレーションＯ
ＰＲ時においては、出力端子１４を通じて上記ホストコ
ンピュータに光磁気ディスク１から読みだされた読み出
しデータＲＤが出力される。
においては、そのライトオペレーションＯＰＷとともに
上記ホストコンピュータから書き込みデータＷＤも供給
される。その書き込みデータＷＤは、メモリ回路１３に
一旦格納される。さらに、上記リードオペレーションＯ
ＰＲ時においては、出力端子１４を通じて上記ホストコ
ンピュータに光磁気ディスク１から読みだされた読み出
しデータＲＤが出力される。
【００２３】光磁気ディスク制御回路１１は、ライトオ
ペレーションＯＰＷ時において、メモリ回路１３に書き
込まれた書き込みデータＷＤを１セクタＳ分のデータ毎
にブロック化するとともに、所定の付加情報（上記した
同期信号ＳＹＮＣ，同期用の特殊コードＲＥＳＹＮＣな
ど）を自動的に付加した記録データＳ1 を記録処理回路
２１に供給する。
ペレーションＯＰＷ時において、メモリ回路１３に書き
込まれた書き込みデータＷＤを１セクタＳ分のデータ毎
にブロック化するとともに、所定の付加情報（上記した
同期信号ＳＹＮＣ，同期用の特殊コードＲＥＳＹＮＣな
ど）を自動的に付加した記録データＳ1 を記録処理回路
２１に供給する。
【００２４】記録処理回路２１は、その記録データＳ1
を変調して磁気記録駆動信号Ｓ2 および光記録駆動信号
Ｓ3 を発生して、これらをそれぞれ磁気ヘッド２２およ
び光ピックアップ２に供給する。
を変調して磁気記録駆動信号Ｓ2 および光記録駆動信号
Ｓ3 を発生して、これらをそれぞれ磁気ヘッド２２およ
び光ピックアップ２に供給する。
【００２５】ここで、光磁気ディスク１は、スピンドル
モータ２３により回転軸を中心に矢印Ａ方向に、例え
ば、一定角速度（ＣＡＶ）で回転されている。なお、光
磁気ディスク１の記録フォーマットは、図３および図４
で示した記録フォーマットと同一の記録フォーマットを
有しているものとする。
モータ２３により回転軸を中心に矢印Ａ方向に、例え
ば、一定角速度（ＣＡＶ）で回転されている。なお、光
磁気ディスク１の記録フォーマットは、図３および図４
で示した記録フォーマットと同一の記録フォーマットを
有しているものとする。
【００２６】そこで、この回転する光磁気ディスク１に
対して、裏面側から光ピックアップ２により光記録駆動
信号信号Ｓ3 に応じて記録用レーザ光を照射するととも
に、表面側から磁気記録駆動信号Ｓ2 に応じた記録磁界
Ｈを供給することにより、書き込みデータＷＤ（記録デ
ータＳ1 ）に応じた情報信号が光磁気ディスク１のデー
タ部Ｄに書き込まれる。
対して、裏面側から光ピックアップ２により光記録駆動
信号信号Ｓ3 に応じて記録用レーザ光を照射するととも
に、表面側から磁気記録駆動信号Ｓ2 に応じた記録磁界
Ｈを供給することにより、書き込みデータＷＤ（記録デ
ータＳ1 ）に応じた情報信号が光磁気ディスク１のデー
タ部Ｄに書き込まれる。
【００２７】なお、実際上、生ディスクである光磁気デ
ィスク１の所定のセクタＳのデータ部Ｄに書き込みデー
タＷＤ（記録データＳ1 ）に対応する情報信号を書き込
む際には、まず、上記記録用レーザ光に比較してレーザ
パワーの小さい再生用レーザ光を光ピックアップ２によ
り光磁気ディスク１に照射する。
ィスク１の所定のセクタＳのデータ部Ｄに書き込みデー
タＷＤ（記録データＳ1 ）に対応する情報信号を書き込
む際には、まず、上記記録用レーザ光に比較してレーザ
パワーの小さい再生用レーザ光を光ピックアップ２によ
り光磁気ディスク１に照射する。
【００２８】そして、光ピックアップ２により光磁気デ
ィスク１から情報信号を読み出し再生処理回路２４でそ
の情報信号Ｓ4 を再生して再生データＳ5 を光磁気ディ
スク制御回路１１に供給する。光磁気ディスク制御回路
１１は、この再生データＳ5から、図４に示したヘッダ
ー部ＨにおけるアドレスデータＡＤＲを読み取ったと
き、記録データＳ1 を記録処理回路２１に供給する。
ィスク１から情報信号を読み出し再生処理回路２４でそ
の情報信号Ｓ4 を再生して再生データＳ5 を光磁気ディ
スク制御回路１１に供給する。光磁気ディスク制御回路
１１は、この再生データＳ5から、図４に示したヘッダ
ー部ＨにおけるアドレスデータＡＤＲを読み取ったと
き、記録データＳ1 を記録処理回路２１に供給する。
【００２９】一方、書き込みデータＷＤに対応する情報
信号が書き込まれた光磁気ディスク１から、その情報信
号を読み出す際には、リードオペレーションＯＰＲが光
磁気ディスク制御回路１１に入力される。この入力によ
り光磁気ディスク制御回路１１は光ピックアップ２から
再生用のレーザ光を光磁気ディスク１に照射する。この
結果、光ピックアップ１１は、光磁気ディスク１からの
反射光を受光する。この反射光に基づく情報信号Ｓ4 が
再生処理回路２４に供給されることで、この再生処理回
路２４で再生データＳ5 が形成される。この再生データ
Ｓ5 に対して、光磁気ディスク制御回路１１内で所定の
誤り検出訂正処理および欠陥セクタ検出処理などが行わ
れるとともに、デブロック化されて読み出しデータＲＤ
が出力端子１４から出力される。
信号が書き込まれた光磁気ディスク１から、その情報信
号を読み出す際には、リードオペレーションＯＰＲが光
磁気ディスク制御回路１１に入力される。この入力によ
り光磁気ディスク制御回路１１は光ピックアップ２から
再生用のレーザ光を光磁気ディスク１に照射する。この
結果、光ピックアップ１１は、光磁気ディスク１からの
反射光を受光する。この反射光に基づく情報信号Ｓ4 が
再生処理回路２４に供給されることで、この再生処理回
路２４で再生データＳ5 が形成される。この再生データ
Ｓ5 に対して、光磁気ディスク制御回路１１内で所定の
誤り検出訂正処理および欠陥セクタ検出処理などが行わ
れるとともに、デブロック化されて読み出しデータＲＤ
が出力端子１４から出力される。
【００３０】上記の誤り検出訂正処理および欠陥セクタ
検出処理などに関連して、光磁気ディスク制御回路１１
は、オペレーション命令部３１、検出限界制御部３２、
検出限界設定回路３３、各種マーク検出回路３４、デー
タリード処理回路３５および交替条件判断部３６を有し
ている。
検出処理などに関連して、光磁気ディスク制御回路１１
は、オペレーション命令部３１、検出限界制御部３２、
検出限界設定回路３３、各種マーク検出回路３４、デー
タリード処理回路３５および交替条件判断部３６を有し
ている。
【００３１】ここで、オペレーション命令部３１は、外
部装置である上記ホストコンピュータからのオペレーシ
ョンＯＰの要求に対応して光磁気ディスク装置１０が実
際に行うオペレーションＯＰを判断して、そのオペレー
ションＯＰに対応する命令を検出限界制御部３２などに
伝達する動作を行う。
部装置である上記ホストコンピュータからのオペレーシ
ョンＯＰの要求に対応して光磁気ディスク装置１０が実
際に行うオペレーションＯＰを判断して、そのオペレー
ションＯＰに対応する命令を検出限界制御部３２などに
伝達する動作を行う。
【００３２】検出限界制御部３２は、光磁気ディスク装
置１０が行うオペレーションＯＰに見合った各種マーク
の検出限界を決定して検出限界設定回路３３に検出限界
を設定する。なお、この実施例において、各種マークと
は、図４中、アドレスマークＡＭ、シンクＳＹＮＣおよ
びリシンクＲＥＳＹＮＣをいう。
置１０が行うオペレーションＯＰに見合った各種マーク
の検出限界を決定して検出限界設定回路３３に検出限界
を設定する。なお、この実施例において、各種マークと
は、図４中、アドレスマークＡＭ、シンクＳＹＮＣおよ
びリシンクＲＥＳＹＮＣをいう。
【００３３】検出限界設定回路３３は、実際に、マーク
検出回路３４で行われる検出の際の検出限界を切り替え
る。
検出回路３４で行われる検出の際の検出限界を切り替え
る。
【００３４】各種マーク検出回路３４は、光磁気ディス
ク１から読み出された再生データＳ 5 から各種マークを
検出して物理的位置情報を得る。
ク１から読み出された再生データＳ 5 から各種マークを
検出して物理的位置情報を得る。
【００３５】データリード処理回路３５は、再生データ
Ｓ5 を読み取る。
Ｓ5 を読み取る。
【００３６】交替条件判断部３６は、各種マーク検出回
路３４の出力信号およびデータリード処理回路３５の読
み取り結果からセクタＳの交替処理を行うべきかどうか
総合的に判断する。
路３４の出力信号およびデータリード処理回路３５の読
み取り結果からセクタＳの交替処理を行うべきかどうか
総合的に判断する。
【００３７】次に、上記実施例の動作のうち、光磁気デ
ィスク制御回路１１内で行われる欠陥セクタ検出処理に
ついて図２に示す動作フロー図をも参照して詳しく説明
する。なお、オペレーションＯＰの例としては、ベリフ
ァイオペレーションＯＰＶおよびリードオペレーション
ＯＰＲをあげる。
ィスク制御回路１１内で行われる欠陥セクタ検出処理に
ついて図２に示す動作フロー図をも参照して詳しく説明
する。なお、オペレーションＯＰの例としては、ベリフ
ァイオペレーションＯＰＶおよびリードオペレーション
ＯＰＲをあげる。
【００３８】まず、外部のホストコンピュータから入力
端子１２を通じて光磁気ディスク制御回路１１のオペレ
ーション命令部３１にベリファイオペレーションＯＰＶ
の命令が供給されたものとする。
端子１２を通じて光磁気ディスク制御回路１１のオペレ
ーション命令部３１にベリファイオペレーションＯＰＶ
の命令が供給されたものとする。
【００３９】この場合、オペレーション命令部３１は、
この命令がベリファイオペレーションＯＰＶを表す命令
であることを判断して（ステップＳ１１）、そのベリフ
ァイオペレーションＯＰＶに対応する命令（以下、ベリ
ファイ命令という）を検出限界制御部３２に供給する
（ステップＳ１２）。
この命令がベリファイオペレーションＯＰＶを表す命令
であることを判断して（ステップＳ１１）、そのベリフ
ァイオペレーションＯＰＶに対応する命令（以下、ベリ
ファイ命令という）を検出限界制御部３２に供給する
（ステップＳ１２）。
【００４０】検出限界制御部３２は、予め設定されてい
る検出限界テーブル４１を参照して上記ベリファイ命令
に対応する各種マークに対する検出限界を検出限界設定
回路３３に設定する。ここで、検出限界は、アドレスマ
ークＡＭについは100％、すなわち全一致に設定され、
シンクＳＹＮＣについては、80％に設定される（ステッ
プＳ１３）。なお、検出限界が80％とは、例えば、シン
クＳＹＮＣについては、３バイト（２４ビット）中、
２．４バイト（２０ビット）以上が一致しているときに
「良」と検出され、それ以下のときには、「否」と検出
されることを意味している。
る検出限界テーブル４１を参照して上記ベリファイ命令
に対応する各種マークに対する検出限界を検出限界設定
回路３３に設定する。ここで、検出限界は、アドレスマ
ークＡＭについは100％、すなわち全一致に設定され、
シンクＳＹＮＣについては、80％に設定される（ステッ
プＳ１３）。なお、検出限界が80％とは、例えば、シン
クＳＹＮＣについては、３バイト（２４ビット）中、
２．４バイト（２０ビット）以上が一致しているときに
「良」と検出され、それ以下のときには、「否」と検出
されることを意味している。
【００４１】このようにベリファイオペレーションＯＰ
Ｖ時においては、各種マークの検出限界を比較的に厳し
くして、光磁気ディスク１上に僅かな欠陥が存在しても
その欠陥が存在するセクタＤＳを使用不可と判断して交
替処理を行う。
Ｖ時においては、各種マークの検出限界を比較的に厳し
くして、光磁気ディスク１上に僅かな欠陥が存在しても
その欠陥が存在するセクタＤＳを使用不可と判断して交
替処理を行う。
【００４２】各種マーク検出回路３４は、再生データＳ
5 のうち、各種マーク、この場合、所定のセクタＳのヘ
ッダー部Ｈ中のアドレスマークＡＭおよびデータ部Ｄの
シンクＳＹＮＣなどを再生して各種マークに応じた検出
結果の良否を交替条件判断部３６に供給する（ステップ
Ｓ１４）。
5 のうち、各種マーク、この場合、所定のセクタＳのヘ
ッダー部Ｈ中のアドレスマークＡＭおよびデータ部Ｄの
シンクＳＹＮＣなどを再生して各種マークに応じた検出
結果の良否を交替条件判断部３６に供給する（ステップ
Ｓ１４）。
【００４３】一方、データリード処理回路３５は、その
所定のセクタＳのデータ部Ｄ中のデータＤＡＴＡ領域内
に記録されているデータについてのエラー訂正処理を行
い、例えば、データ100バイト分がエラーであるという
エラー情報を交替条件判断部３６に供給する（ステップ
Ｓ１５）。
所定のセクタＳのデータ部Ｄ中のデータＤＡＴＡ領域内
に記録されているデータについてのエラー訂正処理を行
い、例えば、データ100バイト分がエラーであるという
エラー情報を交替条件判断部３６に供給する（ステップ
Ｓ１５）。
【００４４】交替条件判断部３６は、各種マーク検出回
路３４から供給された各種マークに応じた検出結果の良
否およびデータリード処理回路３５から供給されたエラ
ー情報に基づいて予め設定された交替条件との対比を行
う（ステップＳ１６）。その対比した結果に基づいて、
交替処理を行うものと判断した場合には、上記した図３
に示した２次欠陥リスト領域ＳＤＬに欠陥セクタＤＳと
交替セクタＡＳとを対の形で記録するような処理を行わ
せる。
路３４から供給された各種マークに応じた検出結果の良
否およびデータリード処理回路３５から供給されたエラ
ー情報に基づいて予め設定された交替条件との対比を行
う（ステップＳ１６）。その対比した結果に基づいて、
交替処理を行うものと判断した場合には、上記した図３
に示した２次欠陥リスト領域ＳＤＬに欠陥セクタＤＳと
交替セクタＡＳとを対の形で記録するような処理を行わ
せる。
【００４５】なお、サーティファイオペレーションＯＰ
Ｓ時においても、上記したベリファイオペレーションＯ
ＰＶ時と同様に各種マークの検出限界が厳しく設定され
る。
Ｓ時においても、上記したベリファイオペレーションＯ
ＰＶ時と同様に各種マークの検出限界が厳しく設定され
る。
【００４６】次に、、外部のホストコンピュータから入
力端子１２を通じて光磁気ディスク制御回路１１のオペ
レーション命令部３１にリードオペレーションＯＰＲの
命令が供給されたものとする。
力端子１２を通じて光磁気ディスク制御回路１１のオペ
レーション命令部３１にリードオペレーションＯＰＲの
命令が供給されたものとする。
【００４７】この場合、オペレーション命令部３１は、
この命令がリードオペレーションＯＰＲを表す命令であ
ることを判断して（ステップＳ１１）、そのリードオペ
レーションＯＰＲに対応する命令（以下、リード命令と
いう）を検出限界制御部３２に供給する（ステップＳ１
７）。
この命令がリードオペレーションＯＰＲを表す命令であ
ることを判断して（ステップＳ１１）、そのリードオペ
レーションＯＰＲに対応する命令（以下、リード命令と
いう）を検出限界制御部３２に供給する（ステップＳ１
７）。
【００４８】検出限界制御部３２は、予め設定されてい
る検出限界テーブル４１を参照して上記リード命令に対
応する各種マークに対する検出限界を検出限界設定回路
３３に設定する。ここで、検出限界は、アドレスマーク
ＡＭについは70％に設定され、シンクＳＹＮＣについて
は、50％に設定される（ステップＳ１３）。
る検出限界テーブル４１を参照して上記リード命令に対
応する各種マークに対する検出限界を検出限界設定回路
３３に設定する。ここで、検出限界は、アドレスマーク
ＡＭについは70％に設定され、シンクＳＹＮＣについて
は、50％に設定される（ステップＳ１３）。
【００４９】このようにリードオペレーションＯＰＲ時
においては、各種マークの検出限界を比較的に緩くし
て、光磁気ディスク１上に多少の欠陥が存在していても
記録されているデータを読み出せるようにして、光ディ
スク装置１０の信頼性を向上するようにしている。
においては、各種マークの検出限界を比較的に緩くし
て、光磁気ディスク１上に多少の欠陥が存在していても
記録されているデータを読み出せるようにして、光ディ
スク装置１０の信頼性を向上するようにしている。
【００５０】このリードオペレーションＯＰＲ時におい
て、各種マーク検出回路３４、データリード処理回路３
５および交換条件判断部３６の動作は、上記したベリフ
ァイオペレーションＯＰＶ時と同様であるので省略す
る。
て、各種マーク検出回路３４、データリード処理回路３
５および交換条件判断部３６の動作は、上記したベリフ
ァイオペレーションＯＰＶ時と同様であるので省略す
る。
【００５１】このように上記した実施例によれば、デー
タ部Ｄに対するオペレーションＯＰの内容（例えば、ベ
リファイオペレーションＯＰＶまたはリードオペレーシ
ョンＯＰＲ等）によって各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）の検出限界を検出限界制御部
３２で決定し、マーク検出回路３４によりその決定され
た検出限界に基づいて各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）を検出している。さらにその
検出結果に応じて交替条件判断部３６で交替処理を行う
かどうかを判断している。
タ部Ｄに対するオペレーションＯＰの内容（例えば、ベ
リファイオペレーションＯＰＶまたはリードオペレーシ
ョンＯＰＲ等）によって各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）の検出限界を検出限界制御部
３２で決定し、マーク検出回路３４によりその決定され
た検出限界に基づいて各種マーク（アドレスマークＡ
Ｍ，シンクＳＹＮＣなど）を検出している。さらにその
検出結果に応じて交替条件判断部３６で交替処理を行う
かどうかを判断している。
【００５２】すなわち、各種マークの検出限界をオペレ
ーションＯＰの内容によって変更するような制御を行っ
ている。このため、交替処理時における交替条件をより
細かく制御することが可能になる。したがって、光磁気
ディスク１の僅かな欠陥が増大しても記録されたデータ
の読み出しができなくなるというような確率が減少し、
結果として、光ディスク装置１０全体として記録された
データに対する信頼性が一層向上するという利点が得ら
れる。
ーションＯＰの内容によって変更するような制御を行っ
ている。このため、交替処理時における交替条件をより
細かく制御することが可能になる。したがって、光磁気
ディスク１の僅かな欠陥が増大しても記録されたデータ
の読み出しができなくなるというような確率が減少し、
結果として、光ディスク装置１０全体として記録された
データに対する信頼性が一層向上するという利点が得ら
れる。
【００５３】なお、各種マークの検出限界をオペレーシ
ョンＯＰの内容により変更すると同時に、アドレスＩＤ
の検出回数およびデータ領域ＤＡＴＡ内におけるエラー
バイト数をそのオペレーションＯＰの内容により変更す
ることにより、一層信頼性が向上する。
ョンＯＰの内容により変更すると同時に、アドレスＩＤ
の検出回数およびデータ領域ＤＡＴＡ内におけるエラー
バイト数をそのオペレーションＯＰの内容により変更す
ることにより、一層信頼性が向上する。
【００５４】また、本発明は上記の実施例に限らず本発
明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得ること
はもちろんである。
明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得ること
はもちろんである。
【００５５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明光ディスク
装置によれば、データ部に対するオペレーションの内容
によって各種マークの検出限界を検出限界制御部で決定
し、マーク検出回路によりその決定された検出限界に基
づいて上記各種マークを検出するようにしているので、
一層きめ細かな交替処理を行うことができるという効果
を有する。
装置によれば、データ部に対するオペレーションの内容
によって各種マークの検出限界を検出限界制御部で決定
し、マーク検出回路によりその決定された検出限界に基
づいて上記各種マークを検出するようにしているので、
一層きめ細かな交替処理を行うことができるという効果
を有する。
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例の構成
を示す線図である。
を示す線図である。
【図２】図１例に示す光ディスク装置の動作説明に供さ
れるフロー図である。
れるフロー図である。
【図３】光磁気ディスクの記録フォーマットの説明に供
される線図である。
される線図である。
【図４】セクタ内の記録フォーマットの説明に供される
線図である。
線図である。
【符号の説明】 １ 光磁気ディスク １０ 光ディスク装置 １１ 光磁気ディスク制御回路 ３１ オペレーション命令部 ３２ 検出限界制御部 ３３ 検出限界設定回路 ３４ 各種マーク検出回路 ３５ データリード処理回路 ３６ 交替条件判断部 ＯＰ オペレーション
Claims (1)
- 【請求項１】 ヘッダー部とデータ部とを有するセクタ
の単位で情報信号が記録されるとともに、上記セクタに
は、そのセクタ内の物理的位置を示す各種マークが記録
されている光ディスク装置において、 外部からのオペレーションに対応する命令を出力するオ
ペレーション命令部と、 上記命令に対応して上記各種マークの検出限界を決定す
る検出限界制御部と、 上記決定された検出限界が設定される検出限界設定回路
と、 上記設定された検出限界に基づいて上記各種マークを検
出するマーク検出回路とを備えることを特徴とする光デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09683292A JP3257024B2 (ja) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09683292A JP3257024B2 (ja) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05298832A true JPH05298832A (ja) | 1993-11-12 |
| JP3257024B2 JP3257024B2 (ja) | 2002-02-18 |
Family
ID=14175519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09683292A Expired - Fee Related JP3257024B2 (ja) | 1992-04-16 | 1992-04-16 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3257024B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6975570B1 (en) | 1999-07-29 | 2005-12-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording/reproducing device using optical disk and method therefor and information recording system and information recording method |
-
1992
- 1992-04-16 JP JP09683292A patent/JP3257024B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6975570B1 (en) | 1999-07-29 | 2005-12-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording/reproducing device using optical disk and method therefor and information recording system and information recording method |
| USRE40240E1 (en) | 1999-07-29 | 2008-04-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording/reproducing device using optical disk and method therefor and information recording system and information recording method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3257024B2 (ja) | 2002-02-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071207 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091207 Year of fee payment: 8 |
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