JPH05299370A - 熱処理装置 - Google Patents
熱処理装置Info
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- JPH05299370A JPH05299370A JP4130193A JP13019392A JPH05299370A JP H05299370 A JPH05299370 A JP H05299370A JP 4130193 A JP4130193 A JP 4130193A JP 13019392 A JP13019392 A JP 13019392A JP H05299370 A JPH05299370 A JP H05299370A
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- heat
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 縦型熱処理炉内に被処理体を搬入直後直ち
に、チューブ下端開口を閉鎖できる熱処理装置を提供す
ること。 【構成】 上方に面状発熱源18を配置してなる縦型熱
処理炉12の上端には、ガス導入部60が連通して設け
られ、このガス導入部60に沿って昇降可能な吊下げ軸
38が配置され、その先端にウエハ28の支持部42が
固着される。縦型熱処理炉12の下端開口12aを密閉
する蓋118は、蓋駆動部110より昇降される。
に、チューブ下端開口を閉鎖できる熱処理装置を提供す
ること。 【構成】 上方に面状発熱源18を配置してなる縦型熱
処理炉12の上端には、ガス導入部60が連通して設け
られ、このガス導入部60に沿って昇降可能な吊下げ軸
38が配置され、その先端にウエハ28の支持部42が
固着される。縦型熱処理炉12の下端開口12aを密閉
する蓋118は、蓋駆動部110より昇降される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は縦型熱処理炉内にて被処
理体を熱処理する熱処理装置に関する。
理体を熱処理する熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体ウエハの製造においては酸
化、拡散、アニール、CVDなどの処理を行うために、
各種の熱処理装置が使用される。そして、近年縦型プロ
セスチューブを用いた縦型熱処理装置が主流になりつつ
ある。縦型プロセスチューブは上端が閉鎖され、その下
端に開口を有する。ウエハ等の被処理体は、下端開口よ
り縦型プロセスチューブ内に搬入され、被処理体が所定
位置に達した所で、フランジキャップ等と称される密閉
蓋が、下端開口を気密に閉鎖するようになっている。こ
の密閉蓋は、被処理体の昇降駆動を行う軸部に固定され
ている。
化、拡散、アニール、CVDなどの処理を行うために、
各種の熱処理装置が使用される。そして、近年縦型プロ
セスチューブを用いた縦型熱処理装置が主流になりつつ
ある。縦型プロセスチューブは上端が閉鎖され、その下
端に開口を有する。ウエハ等の被処理体は、下端開口よ
り縦型プロセスチューブ内に搬入され、被処理体が所定
位置に達した所で、フランジキャップ等と称される密閉
蓋が、下端開口を気密に閉鎖するようになっている。こ
の密閉蓋は、被処理体の昇降駆動を行う軸部に固定され
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、本願出願人
は先に、縦型プロセスチューブの上端と対向する位置に
面状発熱源を設けた熱処理装置を提案している。この熱
処理装置によれば、縦型プロセスチューブ内に配置され
る被処理体の位置、すなわち面状発熱源からの距離を変
えることで、加熱温度を容易に可変することができ、特
に高速加熱処理に好適できる。
は先に、縦型プロセスチューブの上端と対向する位置に
面状発熱源を設けた熱処理装置を提案している。この熱
処理装置によれば、縦型プロセスチューブ内に配置され
る被処理体の位置、すなわち面状発熱源からの距離を変
えることで、加熱温度を容易に可変することができ、特
に高速加熱処理に好適できる。
【0004】しかしながら、被処理体の昇降駆動部の軸
部に密閉蓋を固定した場合には、縦型プロセスチューブ
内にてあらかじめ定められた被処理体の処理位置を変化
させようとすると、密閉蓋がプロセスチューブ下端部と
干渉し、あるいは密閉蓋による気密な閉鎖が実現できな
いことになる。
部に密閉蓋を固定した場合には、縦型プロセスチューブ
内にてあらかじめ定められた被処理体の処理位置を変化
させようとすると、密閉蓋がプロセスチューブ下端部と
干渉し、あるいは密閉蓋による気密な閉鎖が実現できな
いことになる。
【0005】面状発熱源でないタイプすなわちチューブ
周囲にヒータを有する場合にも、被処理体が下端開口を
越えてプロセスチューブ内に搬入されても、プロセスチ
ューブ内の所定の処理位置に被処理体が達しなければ密
閉蓋を閉鎖できないことに変りはない。
周囲にヒータを有する場合にも、被処理体が下端開口を
越えてプロセスチューブ内に搬入されても、プロセスチ
ューブ内の所定の処理位置に被処理体が達しなければ密
閉蓋を閉鎖できないことに変りはない。
【0006】さらに他の課題として、従来技術において
は被処理体を搬出駆動する際には、必ず縦型プロセスチ
ューブの下端開口が開口された状態となる。この種の半
導体ウエハの製造においては、縦型プロセスチューブ内
へのウエハの搬入出を繰り返し、縦型プロセスチューブ
内が一定温度になった際に熱処理を行うことになるが、
搬入出の度にプロセスチューブ内の熱量が下端開口より
逃げ、チューブ内の熱量の変化が著しくなっている。
は被処理体を搬出駆動する際には、必ず縦型プロセスチ
ューブの下端開口が開口された状態となる。この種の半
導体ウエハの製造においては、縦型プロセスチューブ内
へのウエハの搬入出を繰り返し、縦型プロセスチューブ
内が一定温度になった際に熱処理を行うことになるが、
搬入出の度にプロセスチューブ内の熱量が下端開口より
逃げ、チューブ内の熱量の変化が著しくなっている。
【0007】そこで、本発明の目的とするところは、縦
型プロセスチューブ内に被処理体が搬入された後直ち
に、その下端開口を気密に密閉することのできる熱処理
装置を提供することにある。
型プロセスチューブ内に被処理体が搬入された後直ち
に、その下端開口を気密に密閉することのできる熱処理
装置を提供することにある。
【0008】本発明の他の目的とするところは、縦型プ
ロセスチューブへの被処理体の搬入出時にも処理空間の
加熱容量の変化を極小とし、処理のスループットを向上
することのできる熱処理装置を提供することにある。
ロセスチューブへの被処理体の搬入出時にも処理空間の
加熱容量の変化を極小とし、処理のスループットを向上
することのできる熱処理装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る本発明
は、縦型熱処理炉内にて被処理体を熱処理する熱処理装
置において、前記縦型熱処理炉の上端と連通して鉛直上
方に伸びる案内管と、この案内管に沿って昇降する軸部
及びこの軸部の下端に設けられた被処理体支持部から成
り、前記軸部の昇降により前記被処理体を前記縦型熱処
理炉内に設定し、かつ、前記縦型熱処理炉の下端開口よ
り前記被処理体を搬入出する被処理体駆動部と、前記被
処理体が前記縦型熱処理炉内に搬入された後に前記下端
開口を気密に密閉する蓋部材と、を有することを特徴と
する。
は、縦型熱処理炉内にて被処理体を熱処理する熱処理装
置において、前記縦型熱処理炉の上端と連通して鉛直上
方に伸びる案内管と、この案内管に沿って昇降する軸部
及びこの軸部の下端に設けられた被処理体支持部から成
り、前記軸部の昇降により前記被処理体を前記縦型熱処
理炉内に設定し、かつ、前記縦型熱処理炉の下端開口よ
り前記被処理体を搬入出する被処理体駆動部と、前記被
処理体が前記縦型熱処理炉内に搬入された後に前記下端
開口を気密に密閉する蓋部材と、を有することを特徴と
する。
【0010】請求項2に係る発明は、縦型熱処理炉内に
て被処理体を熱処理する熱処理装置において、前記縦型
熱処理炉の上端と連通して鉛直上方に伸びる案内管と、
この案内管に沿って昇降する軸部及びこの軸部の下端に
設けられた被処理体支持部から成り、前記軸部の昇降に
より前記被処理体を前記縦型熱処理炉内に設定し、か
つ、前記縦型熱処理炉の下端開口より前記被処理体を搬
入出する被処理体駆動部と、前記縦型熱処理炉の下端開
口の下方に気密室を配置し、かつ、この気密室内であっ
て前記下端開口と対向する領域にて開閉する、縦軸方向
で異なる複数箇所に設けられた複数段の遮熱用シャッタ
ーと、を有し、前記被処理体の搬入出時に少なくともい
ずれか一つの前記遮熱用シャッターが、前記下端開口と
対向する領域にて閉鎖状態に設定されることを特徴とす
る。
て被処理体を熱処理する熱処理装置において、前記縦型
熱処理炉の上端と連通して鉛直上方に伸びる案内管と、
この案内管に沿って昇降する軸部及びこの軸部の下端に
設けられた被処理体支持部から成り、前記軸部の昇降に
より前記被処理体を前記縦型熱処理炉内に設定し、か
つ、前記縦型熱処理炉の下端開口より前記被処理体を搬
入出する被処理体駆動部と、前記縦型熱処理炉の下端開
口の下方に気密室を配置し、かつ、この気密室内であっ
て前記下端開口と対向する領域にて開閉する、縦軸方向
で異なる複数箇所に設けられた複数段の遮熱用シャッタ
ーと、を有し、前記被処理体の搬入出時に少なくともい
ずれか一つの前記遮熱用シャッターが、前記下端開口と
対向する領域にて閉鎖状態に設定されることを特徴とす
る。
【0011】
【作用】請求項1に係る発明によれば、被処理体の搬入
出駆動を、縦型熱処理炉の上端側より行っているため、
被処理体がチューブ内に搬入された後には、その下端開
口の下方には蓋部材と干渉する部材が一切存在しないこ
とになる。従って、被処理体を縦型熱処理炉内に搬入し
た後直ちに、その下端開口を蓋部材で気密に密閉するこ
とができる。
出駆動を、縦型熱処理炉の上端側より行っているため、
被処理体がチューブ内に搬入された後には、その下端開
口の下方には蓋部材と干渉する部材が一切存在しないこ
とになる。従って、被処理体を縦型熱処理炉内に搬入し
た後直ちに、その下端開口を蓋部材で気密に密閉するこ
とができる。
【0012】請求項2に係る発明によれば、縦型熱処理
炉下端開口の下方には、縦軸方向で異なる箇所に複数段
の遮熱用シャッターが設けられている。そして、被処理
体の搬入出時には、少なくとも1つの遮熱用シャッター
が閉鎖状態であるため、搬入出時における熱処理炉内か
ら外部への熱の移動を低減でき、処理空間における加熱
容量の変化を極小とすることができる。特に、被処理体
の昇降駆動を縦型熱処理炉の上端側より行うことで、被
処理体の搬入後はチューブの下端開口にて蓋部材と干渉
する部材が一切なくなり、その遮熱性を向上することが
できる。
炉下端開口の下方には、縦軸方向で異なる箇所に複数段
の遮熱用シャッターが設けられている。そして、被処理
体の搬入出時には、少なくとも1つの遮熱用シャッター
が閉鎖状態であるため、搬入出時における熱処理炉内か
ら外部への熱の移動を低減でき、処理空間における加熱
容量の変化を極小とすることができる。特に、被処理体
の昇降駆動を縦型熱処理炉の上端側より行うことで、被
処理体の搬入後はチューブの下端開口にて蓋部材と干渉
する部材が一切なくなり、その遮熱性を向上することが
できる。
【0013】
【実施例】以下、本発明を適用した一実施例について、
図面を参照して具体的に説明する。 本実施例に係る装
置は例えば図1に示すように主に、被処理体例えば半導
体ウエハ28、LCDなどに各種の熱処理を行うための
熱処理部10、ウエハ28と面状発熱源18とを相対的
に接近させることにより急速加熱するためのウエハ昇降
部30、ウエハ28を外部より気密状態を保ったまま熱
処理装置内に搬入するためのウエハ搬入出部70、熱処
理炉を密封する蓋118を駆動する蓋駆動部110によ
り構成される。
図面を参照して具体的に説明する。 本実施例に係る装
置は例えば図1に示すように主に、被処理体例えば半導
体ウエハ28、LCDなどに各種の熱処理を行うための
熱処理部10、ウエハ28と面状発熱源18とを相対的
に接近させることにより急速加熱するためのウエハ昇降
部30、ウエハ28を外部より気密状態を保ったまま熱
処理装置内に搬入するためのウエハ搬入出部70、熱処
理炉を密封する蓋118を駆動する蓋駆動部110によ
り構成される。
【0014】熱処理部10は例えば以下のような構成と
なる。
なる。
【0015】まずプロセスチューブ12はチューブ内に
おいて被処理体例えばLCD、ウエハ28等の熱処理を
行うためのものであり、断熱性に優れ、汚染の少ない部
材例えば石英等により形成される。
おいて被処理体例えばLCD、ウエハ28等の熱処理を
行うためのものであり、断熱性に優れ、汚染の少ない部
材例えば石英等により形成される。
【0016】このプロセスチューブ12を覆うように、
例えばアルミナセラミックス等からなる断熱材14が設
けられている。この断熱材14は、ウエハ28の移動方
向に沿って適正な温度勾配をもたせるべく、例えば図1
に示すように下部に向かうにしたがって肉厚が薄くなる
形状とすることが好ましい。これにより下部に至るほど
保温効果を少なくすることができるからである。また断
熱材14の下端部には、熱処理の終了後にウエハ28を
急速に冷却するための冷却手段(図示せず)を設けるこ
とが望ましい。冷却手段としては、アンモニア、二硫化
イオウ、水等の冷媒を用いることができ、この冷媒の潜
熱を利用して例えば100℃〜300℃の温度に冷却す
る。
例えばアルミナセラミックス等からなる断熱材14が設
けられている。この断熱材14は、ウエハ28の移動方
向に沿って適正な温度勾配をもたせるべく、例えば図1
に示すように下部に向かうにしたがって肉厚が薄くなる
形状とすることが好ましい。これにより下部に至るほど
保温効果を少なくすることができるからである。また断
熱材14の下端部には、熱処理の終了後にウエハ28を
急速に冷却するための冷却手段(図示せず)を設けるこ
とが望ましい。冷却手段としては、アンモニア、二硫化
イオウ、水等の冷媒を用いることができ、この冷媒の潜
熱を利用して例えば100℃〜300℃の温度に冷却す
る。
【0017】プロセスチューブ12の上方には、面状発
熱源18が、断熱材14の上部の内壁に固定配置されて
いる。この面状発熱源18は、例えば二ケイ化モリブデ
ン(MoSi2 )、または、鉄(Fe)とクロム(C
r)とアルミニウム(Al)の合金線であるカンタル
(商品名)線等の抵抗発熱体を面状に配置することによ
り構成することができる。例えば二ケイ化モリブデン
は、単線として使用することができ、カンタル線はコイ
ルとして使用することができる。特に二ケイ化モリブデ
ンは1800℃の高温にも十分に耐えることができるの
で、酸化拡散材料としては好適である。面状発熱源18
は、例えば二ケイ化モリブデンの単線からなる抵抗発熱
線を螺旋状に配置して構成される。
熱源18が、断熱材14の上部の内壁に固定配置されて
いる。この面状発熱源18は、例えば二ケイ化モリブデ
ン(MoSi2 )、または、鉄(Fe)とクロム(C
r)とアルミニウム(Al)の合金線であるカンタル
(商品名)線等の抵抗発熱体を面状に配置することによ
り構成することができる。例えば二ケイ化モリブデン
は、単線として使用することができ、カンタル線はコイ
ルとして使用することができる。特に二ケイ化モリブデ
ンは1800℃の高温にも十分に耐えることができるの
で、酸化拡散材料としては好適である。面状発熱源18
は、例えば二ケイ化モリブデンの単線からなる抵抗発熱
線を螺旋状に配置して構成される。
【0018】面状発熱源18の発熱面は、ウエハ28の
処理面と同様の円形の形状であることが好ましく、また
面状発熱源18の発熱面の外径は、ウエハ28の外径の
2倍以上であることが望ましい。更に面状発熱源18の
発熱面は、ウエハ28と平行に配置されることが好まし
く、また発熱面の形状としては、全体が一様な平面であ
ってもよいし、周辺部がウエハ28に接近する方向に湾
曲していてもよい。
処理面と同様の円形の形状であることが好ましく、また
面状発熱源18の発熱面の外径は、ウエハ28の外径の
2倍以上であることが望ましい。更に面状発熱源18の
発熱面は、ウエハ28と平行に配置されることが好まし
く、また発熱面の形状としては、全体が一様な平面であ
ってもよいし、周辺部がウエハ28に接近する方向に湾
曲していてもよい。
【0019】図1に示す、距離Lは、ウエハ28と面状
発熱源18の最短離間距離であり、後述するようにウエ
ハ28の加熱温度の最高値の設定値を決めるものであ
る。ここで最短離間距離Lは、装置を小型化する観点か
らは短い方がよいが、大口径のウエハ28の全面を均一
な温度で加熱する観点からは長い方がよい。具体的に
は、両条件をある程度満足し得る距離、例えば300〜
600mm程度とされる。
発熱源18の最短離間距離であり、後述するようにウエ
ハ28の加熱温度の最高値の設定値を決めるものであ
る。ここで最短離間距離Lは、装置を小型化する観点か
らは短い方がよいが、大口径のウエハ28の全面を均一
な温度で加熱する観点からは長い方がよい。具体的に
は、両条件をある程度満足し得る距離、例えば300〜
600mm程度とされる。
【0020】面状発熱源18とウエハ28との間には、
均熱部材16を配置するのが望ましい。この均熱部材1
6は、面状発熱源18に発熱ムラが存在する場合に、こ
の発熱ムラを解消してウエハ28に向かう輻射熱を十分
に垂直方向に制御するものである。また均熱部材16は
例えば高純度炭化ケイ素(SiC)等のように汚染の少
ない材料により構成することが望ましい。これにより、
面状発熱源18を処理空間より完全に隔離することが可
能になり、面状発熱源18が汚染の原因となる重金属を
含む材料により構成されている場合にも、当該重金属に
よる汚染を有効に防止することができるからである。
均熱部材16を配置するのが望ましい。この均熱部材1
6は、面状発熱源18に発熱ムラが存在する場合に、こ
の発熱ムラを解消してウエハ28に向かう輻射熱を十分
に垂直方向に制御するものである。また均熱部材16は
例えば高純度炭化ケイ素(SiC)等のように汚染の少
ない材料により構成することが望ましい。これにより、
面状発熱源18を処理空間より完全に隔離することが可
能になり、面状発熱源18が汚染の原因となる重金属を
含む材料により構成されている場合にも、当該重金属に
よる汚染を有効に防止することができるからである。
【0021】この均熱部材16はウエハ28の処理面に
対向するように配置され、その外径は面状発熱源18と
同様にウエハ28の外径の2倍以上であることが好まし
い。また均熱部材16の形状としては例えば中央部の肉
厚を周辺部の肉厚よりも厚くした形状、また、その周辺
部がウエハ28に接近する方向に湾曲する形状とするこ
とが望ましい。このような形状とすることで、例えばウ
エハ28の周辺部の熱拡散を少なくすることが可能とな
り、中央部と周辺部との間の温度の均一性を更に高める
ことができるからである。
対向するように配置され、その外径は面状発熱源18と
同様にウエハ28の外径の2倍以上であることが好まし
い。また均熱部材16の形状としては例えば中央部の肉
厚を周辺部の肉厚よりも厚くした形状、また、その周辺
部がウエハ28に接近する方向に湾曲する形状とするこ
とが望ましい。このような形状とすることで、例えばウ
エハ28の周辺部の熱拡散を少なくすることが可能とな
り、中央部と周辺部との間の温度の均一性を更に高める
ことができるからである。
【0022】断熱材14の周りには、2重構造となった
例えばステンレススチール等により形成されるインナー
シェル20とアウターシェル24が配置される。このイ
ンナーシェル20とアウターシェル24との間には、水
冷機構22が配置され、熱処理部10内と外部とを熱隔
離することができる。これにより、熱処理部10内で高
温熱処理を行っている場合に、外部での操作の安全を十
分に確保することが可能となる。
例えばステンレススチール等により形成されるインナー
シェル20とアウターシェル24が配置される。このイ
ンナーシェル20とアウターシェル24との間には、水
冷機構22が配置され、熱処理部10内と外部とを熱隔
離することができる。これにより、熱処理部10内で高
温熱処理を行っている場合に、外部での操作の安全を十
分に確保することが可能となる。
【0023】ウエハ昇降部30は、例えば以下のような
構成となる。
構成となる。
【0024】ウエハ昇降部30は、吊下げ軸38を昇降
機構32により上下動させることにより、ウエハ28を
面状発熱源18に対して相対移動させるものであり、こ
れによりウエハ28の高速熱処理が可能となる。
機構32により上下動させることにより、ウエハ28を
面状発熱源18に対して相対移動させるものであり、こ
れによりウエハ28の高速熱処理が可能となる。
【0025】吊下げ軸38には図2に示すように、吊下
げアーム40及びウエハ支持部42が設けられ、これに
よりウエハ28の吊下げが可能となる。吊下げ軸38、
吊下げアーム40、ウエハ支持部42は、例えば石英、
高純度炭化ケイ素等のように、耐熱性が優れ、かつ、汚
染の少ない材料で構成することが好ましい。特に、高純
度炭化ケイ素は石英よりも耐熱性が優れており、約12
00℃の高温にも十分耐えることができるので、このよ
うな熱処理装置に使用する材料として好適なものであ
る。
げアーム40及びウエハ支持部42が設けられ、これに
よりウエハ28の吊下げが可能となる。吊下げ軸38、
吊下げアーム40、ウエハ支持部42は、例えば石英、
高純度炭化ケイ素等のように、耐熱性が優れ、かつ、汚
染の少ない材料で構成することが好ましい。特に、高純
度炭化ケイ素は石英よりも耐熱性が優れており、約12
00℃の高温にも十分耐えることができるので、このよ
うな熱処理装置に使用する材料として好適なものであ
る。
【0026】吊下げ軸38には、少なくとも3本以上例
えば図2に示すように4本の吊下げアーム40が設けら
れている。本実施例で吊下げアーム40を4本としたの
は、このようにすれば吊下げ軸38が高速に上下動した
場合にも安定してウエハ28を支持することが可能とな
るからである。この場合吊下げアーム40の形状として
は、上方からみた投影面積が最小となり、かつ、吊下げ
アーム40の強度を十分に確保できる形状例えば図2に
示すような偏平な形状とすることが望ましい。このよう
な形状とすれば、上方にある面状発熱源18からの輻射
熱及びウエハ28の上方に設けられたガス導入部63よ
りダウンフローされるプロセスガスが、吊下げアーム4
0に邪魔されることなく均一にウエハ28に到達するこ
とが可能となり、かつ、吊下げ軸38の高速な上下動に
対して吊下げアーム40の強度を十分に確保できるから
である。吊下げアーム40の下部にはウエハ支持部42
が、例えば図2、図3に示すような配置で設けられてい
る。この場合、ウエハ支持部42の配置位置としては図
3に示すように、極力ウエハ28を安定支持できる配置
位置であることが望ましい。また吊下げアーム40とウ
エハ支持部42の一方の接続位置と、他方の接続位置と
の距離Aが、ウエハ28の直径Bよりも大きくなるよう
に設定されている。これにより本実施例では、ウエハ2
8を安定支持でき、かつ、搬送アーム46により、ウエ
ハ支持部42への、ウエハ28の搬入が自在となる。
えば図2に示すように4本の吊下げアーム40が設けら
れている。本実施例で吊下げアーム40を4本としたの
は、このようにすれば吊下げ軸38が高速に上下動した
場合にも安定してウエハ28を支持することが可能とな
るからである。この場合吊下げアーム40の形状として
は、上方からみた投影面積が最小となり、かつ、吊下げ
アーム40の強度を十分に確保できる形状例えば図2に
示すような偏平な形状とすることが望ましい。このよう
な形状とすれば、上方にある面状発熱源18からの輻射
熱及びウエハ28の上方に設けられたガス導入部63よ
りダウンフローされるプロセスガスが、吊下げアーム4
0に邪魔されることなく均一にウエハ28に到達するこ
とが可能となり、かつ、吊下げ軸38の高速な上下動に
対して吊下げアーム40の強度を十分に確保できるから
である。吊下げアーム40の下部にはウエハ支持部42
が、例えば図2、図3に示すような配置で設けられてい
る。この場合、ウエハ支持部42の配置位置としては図
3に示すように、極力ウエハ28を安定支持できる配置
位置であることが望ましい。また吊下げアーム40とウ
エハ支持部42の一方の接続位置と、他方の接続位置と
の距離Aが、ウエハ28の直径Bよりも大きくなるよう
に設定されている。これにより本実施例では、ウエハ2
8を安定支持でき、かつ、搬送アーム46により、ウエ
ハ支持部42への、ウエハ28の搬入が自在となる。
【0027】ウエハ支持部42はウエハ28を支持する
ものであり、例えば図2に示すような段差44を設ける
ことが望ましい。このような段差44を設けることによ
り、吊下げ軸38を高速に上下動させても、ウエハ28
の動きを防止し、ウエハ28を安定に支持することが可
能となるからである。またこれにより例えば熱処理装置
に衝撃等が加わった場合にも、ウエハ28の落下を防止
することも可能となる。なおこのようなウエハ28の動
きを防止するものとしては、段差形状のものに限らず少
なくともウエハ28を安定支持できるものであれば例え
ば突起等の形状のものであってもよい。
ものであり、例えば図2に示すような段差44を設ける
ことが望ましい。このような段差44を設けることによ
り、吊下げ軸38を高速に上下動させても、ウエハ28
の動きを防止し、ウエハ28を安定に支持することが可
能となるからである。またこれにより例えば熱処理装置
に衝撃等が加わった場合にも、ウエハ28の落下を防止
することも可能となる。なおこのようなウエハ28の動
きを防止するものとしては、段差形状のものに限らず少
なくともウエハ28を安定支持できるものであれば例え
ば突起等の形状のものであってもよい。
【0028】吊下げ軸38は、昇降アーム34上に設け
られた例えば回転機構36に連結させ、この回転機構3
6により回転自在とすることが望ましい。この回転によ
り吊下げ軸38により吊下げられたウエハ28を、面状
発熱源18からの輻射熱、ガス導入部63からのプロセ
スガスにより、均一に熱処理することが可能となるから
である。
られた例えば回転機構36に連結させ、この回転機構3
6により回転自在とすることが望ましい。この回転によ
り吊下げ軸38により吊下げられたウエハ28を、面状
発熱源18からの輻射熱、ガス導入部63からのプロセ
スガスにより、均一に熱処理することが可能となるから
である。
【0029】昇降アーム34及びこれと一体となった回
転機構36、吊下げ軸38は、昇降機構32により高速
に上下動することが可能となり、これによりウエハ28
を高速に熱処理することが可能となる。この場合本実施
例では、この上下動の際にプロセスチューブ12内を外
気に対して気密とすべく、外管50と内管52により構
成される2重管構造のベローズが、昇降アーム34とフ
ランジ61との間に気密に設けられている。内管52
は、例えば炭化ケイ素、テフロン等の耐熱性、耐久性、
耐汚染性、耐食性、耐シール性の優れた材料から構成さ
れることが望ましい。また外管50は、例えばステンレ
ススチール等の耐久性、耐熱性の優れた材料から構成さ
れることが望ましい。この外管50は主に、例えば1〜
2年の長期使用後に交換する前に内管52が破損した場
合の保護用の管としての役割を果たすものである。
転機構36、吊下げ軸38は、昇降機構32により高速
に上下動することが可能となり、これによりウエハ28
を高速に熱処理することが可能となる。この場合本実施
例では、この上下動の際にプロセスチューブ12内を外
気に対して気密とすべく、外管50と内管52により構
成される2重管構造のベローズが、昇降アーム34とフ
ランジ61との間に気密に設けられている。内管52
は、例えば炭化ケイ素、テフロン等の耐熱性、耐久性、
耐汚染性、耐食性、耐シール性の優れた材料から構成さ
れることが望ましい。また外管50は、例えばステンレ
ススチール等の耐久性、耐熱性の優れた材料から構成さ
れることが望ましい。この外管50は主に、例えば1〜
2年の長期使用後に交換する前に内管52が破損した場
合の保護用の管としての役割を果たすものである。
【0030】この外管50と内管52との間、及び内管
52と吊下げ軸38との間には、例えば窒素、アルゴン
等の不活性な冷却ガスが導入可能となっている。この場
合導入ガスを不活性なものとするのは、仮にこのガスが
プロセスチューブ12内に進入したとしても、熱処理等
に悪影響を及ばさないようにするためである。
52と吊下げ軸38との間には、例えば窒素、アルゴン
等の不活性な冷却ガスが導入可能となっている。この場
合導入ガスを不活性なものとするのは、仮にこのガスが
プロセスチューブ12内に進入したとしても、熱処理等
に悪影響を及ばさないようにするためである。
【0031】内管52と吊下げ軸38との間に不活性な
冷却ガスを導入するのは主に、内管52の腐食、及びこ
れによる破損の防止のためである。つまり内管52とし
て例えばテフロン等を使用した場合、内管52と吊下げ
軸38との間の空間に進入したプロセスガスにより、内
管52の表面が腐食し、ピンホール等が生じることがあ
る。そしてこのピンホールの発生、及び長期使用による
経時変化により、内管52が破損してしまうことがあ
る。これを防止すべく本実施例では、内管52と吊下げ
軸38との間に不活性な冷却ガスを導入している。更に
このような冷却ガスを導入することにより、外管50を
冷却することが可能となり、例えば外部で作業をする場
合の安全を確保するためである。なお、これらの不活性
な冷却ガスは、図1に示す位置に配置される第1、第2
のガス導入孔54、56より導入され、第1、第2のガ
ス排気孔58、60より排気される構成となっている。
冷却ガスを導入するのは主に、内管52の腐食、及びこ
れによる破損の防止のためである。つまり内管52とし
て例えばテフロン等を使用した場合、内管52と吊下げ
軸38との間の空間に進入したプロセスガスにより、内
管52の表面が腐食し、ピンホール等が生じることがあ
る。そしてこのピンホールの発生、及び長期使用による
経時変化により、内管52が破損してしまうことがあ
る。これを防止すべく本実施例では、内管52と吊下げ
軸38との間に不活性な冷却ガスを導入している。更に
このような冷却ガスを導入することにより、外管50を
冷却することが可能となり、例えば外部で作業をする場
合の安全を確保するためである。なお、これらの不活性
な冷却ガスは、図1に示す位置に配置される第1、第2
のガス導入孔54、56より導入され、第1、第2のガ
ス排気孔58、60より排気される構成となっている。
【0032】外管50、内管52により構成されるベロ
ーズの下部には、例えば金属等により構成されるフラン
ジ61が設けられている。そしてこのフランジ61と、
石英等により形成されるガス導入部63は、気密部材例
えばOリング62等により気密固定される。
ーズの下部には、例えば金属等により構成されるフラン
ジ61が設けられている。そしてこのフランジ61と、
石英等により形成されるガス導入部63は、気密部材例
えばOリング62等により気密固定される。
【0033】ガス導入部63の内壁には、例えば1また
は複数のオリフィス64を設けることが望ましい。また
プロセスチューブ12内に導入するプロセスガスは、ガ
ス導入部63に気密に設けられた第3のガス導入孔66
より導入され、プロセスチューブ12の下部に気密に設
けられた第3のガス排気孔68から排気される。そして
本実施例では以下に述べる方法により、このプロセスガ
スが、内管52と吊下げ軸38との間の空間に流れ込む
ことを防止し、これにより内管52の内壁の腐食を防止
し、また、プロセスガスの外部への漏れを防止してい
る。つまり本実施例では、まず、内管52と吊下げ軸3
8との間の空間に導入される不活性な冷却ガスの圧力
を、プロセスチューブ12内のプロセスガスの圧力に対
して常に陽圧になるように同期して制御することによ
り、プロセスガスの流れ込みを防いでいる。更に第2の
ガス導入孔56から第2の排気孔60へと不活性な冷却
ガスをの流れを作ることにより、このガスの流れによる
シール効果によりプロセスガスの流れ込みを防止してい
る。つまり、本実施例では、冷却ガスは図1上の上方か
ら下方に流れ、またプロセスガスも図1上の上方から下
方に流れる構造となっているため、プロセスガスは、第
3のガス導入孔66の上方の空間である内管52と吊下
げ軸38との間の空間に、容易に入り込むことができな
いこととなる。更にこの流れ込みの防止を完全とするた
めに、1または複数のオリフィス64を例えば図1に示
す位置に例えば図1に示す形状で設けることが望まし
い。
は複数のオリフィス64を設けることが望ましい。また
プロセスチューブ12内に導入するプロセスガスは、ガ
ス導入部63に気密に設けられた第3のガス導入孔66
より導入され、プロセスチューブ12の下部に気密に設
けられた第3のガス排気孔68から排気される。そして
本実施例では以下に述べる方法により、このプロセスガ
スが、内管52と吊下げ軸38との間の空間に流れ込む
ことを防止し、これにより内管52の内壁の腐食を防止
し、また、プロセスガスの外部への漏れを防止してい
る。つまり本実施例では、まず、内管52と吊下げ軸3
8との間の空間に導入される不活性な冷却ガスの圧力
を、プロセスチューブ12内のプロセスガスの圧力に対
して常に陽圧になるように同期して制御することによ
り、プロセスガスの流れ込みを防いでいる。更に第2の
ガス導入孔56から第2の排気孔60へと不活性な冷却
ガスをの流れを作ることにより、このガスの流れによる
シール効果によりプロセスガスの流れ込みを防止してい
る。つまり、本実施例では、冷却ガスは図1上の上方か
ら下方に流れ、またプロセスガスも図1上の上方から下
方に流れる構造となっているため、プロセスガスは、第
3のガス導入孔66の上方の空間である内管52と吊下
げ軸38との間の空間に、容易に入り込むことができな
いこととなる。更にこの流れ込みの防止を完全とするた
めに、1または複数のオリフィス64を例えば図1に示
す位置に例えば図1に示す形状で設けることが望まし
い。
【0034】なおガス導入部63の構造としては、導入
されるプロセスガスを一定温度に温調すべく、例えば以
下に述べるような図示しない熱交換器をガス導入部63
内に設けることが望ましい。この熱交換器は、例えばガ
ス導入部63内の対向する内壁に交互に突起板を形成
し、この突起板上に例えば繊維状の保温部材例えば石英
ウールなどを設けることにより構成される。熱交換器内
には、このような突起板が形成されているため、導入さ
れたプロセスガスは熱交換器内を蛇行して通過すること
となり、この間に、プロセスガスを温調でき、さらに好
ましくはあらかじめ一定温度に保温された石英ウール等
の表面と接触することにより、プロセスガスを一定温度
に温調することもできる。この場合熱交換器内の経路を
蛇行させるのは、プロセスガスを一定温度に保つために
距離をかせぐためであり、また、保温部材を石英ウール
など繊維状のものとするのは、プロセスガスと保温部材
との熱接触面をより広くするためである。なおこの温調
効果を高めるべく、面状発熱源18の形状としては、例
えば図1に示すようにガス導入部63を包み込む形状と
することが望ましい。
されるプロセスガスを一定温度に温調すべく、例えば以
下に述べるような図示しない熱交換器をガス導入部63
内に設けることが望ましい。この熱交換器は、例えばガ
ス導入部63内の対向する内壁に交互に突起板を形成
し、この突起板上に例えば繊維状の保温部材例えば石英
ウールなどを設けることにより構成される。熱交換器内
には、このような突起板が形成されているため、導入さ
れたプロセスガスは熱交換器内を蛇行して通過すること
となり、この間に、プロセスガスを温調でき、さらに好
ましくはあらかじめ一定温度に保温された石英ウール等
の表面と接触することにより、プロセスガスを一定温度
に温調することもできる。この場合熱交換器内の経路を
蛇行させるのは、プロセスガスを一定温度に保つために
距離をかせぐためであり、また、保温部材を石英ウール
など繊維状のものとするのは、プロセスガスと保温部材
との熱接触面をより広くするためである。なおこの温調
効果を高めるべく、面状発熱源18の形状としては、例
えば図1に示すようにガス導入部63を包み込む形状と
することが望ましい。
【0035】ウエハ搬入出部70は例えば以下のような
構成となる。
構成となる。
【0036】ウエハ搬入出部70は主に、大気に対して
気密状態を保ちながらウエハ28をウエハ搬入出部70
に搬入出するための第1のロードロック室80、第2の
ロードロック室90、このようにして搬入されたウエハ
28を熱処理部10に受け渡すための受渡し室100に
より構成される。
気密状態を保ちながらウエハ28をウエハ搬入出部70
に搬入出するための第1のロードロック室80、第2の
ロードロック室90、このようにして搬入されたウエハ
28を熱処理部10に受け渡すための受渡し室100に
より構成される。
【0037】第1のロードロック室80は、第1、第2
のゲートバルブ82、83、搬送アーム84、第4のガ
ス導入孔86、第4のガス排気孔88とを備える。また
第2のロードロック室90は第3、第4のゲートバルブ
92、93、搬送アーム94第5のガス導入孔96、第
5のガス排気孔98とを備える。ゲートバルブ82、8
3、92、93は、装置外部とロードロック室80、9
0との間で、もしくは、ロードロック室80、90と受
渡し室100との間でウエハ28を搬入出する際に開
き、気密状態を保持する場合に閉じるという開閉機能を
有するものである。搬送アーム84、94は例えば多関
節を有するアームにより構成され、装置外部からロード
ロック室80、90へ、またロードロック室80、90
から受渡し室100へとウエハ28を搬入出する機能を
有する。第4、第5のガス導入孔86、96はロードロ
ック室80、90の例えばN2 パージを行うものであ
り、また第4、第5のガス排気孔88、98はロードロ
ック室80、90の例えば真空引きを行うためのもので
ある。
のゲートバルブ82、83、搬送アーム84、第4のガ
ス導入孔86、第4のガス排気孔88とを備える。また
第2のロードロック室90は第3、第4のゲートバルブ
92、93、搬送アーム94第5のガス導入孔96、第
5のガス排気孔98とを備える。ゲートバルブ82、8
3、92、93は、装置外部とロードロック室80、9
0との間で、もしくは、ロードロック室80、90と受
渡し室100との間でウエハ28を搬入出する際に開
き、気密状態を保持する場合に閉じるという開閉機能を
有するものである。搬送アーム84、94は例えば多関
節を有するアームにより構成され、装置外部からロード
ロック室80、90へ、またロードロック室80、90
から受渡し室100へとウエハ28を搬入出する機能を
有する。第4、第5のガス導入孔86、96はロードロ
ック室80、90の例えばN2 パージを行うものであ
り、また第4、第5のガス排気孔88、98はロードロ
ック室80、90の例えば真空引きを行うためのもので
ある。
【0038】受渡し室100はウエハ28をプロセスチ
ューブ12内に受け渡すためのものであり、例えばN2
パージを行うための第6のガス導入孔102、例えば真
空引きを行うための第6のガス排気孔104とを備え
る。なお石英等で形成されるプロセスチューブ12とロ
ードロック室80、90との接続部は、気密部材例えば
Oリング62により気密固定される。
ューブ12内に受け渡すためのものであり、例えばN2
パージを行うための第6のガス導入孔102、例えば真
空引きを行うための第6のガス排気孔104とを備え
る。なお石英等で形成されるプロセスチューブ12とロ
ードロック室80、90との接続部は、気密部材例えば
Oリング62により気密固定される。
【0039】蓋駆動部110は例えば以下のような構成
となる。
となる。
【0040】この蓋駆動部110は、例えば、蓋118
を支持する昇降軸116と、この昇降軸116が連結固
定される昇降アーム114を、昇降機構112により上
下動させることにより、プロセスチューブ12の下端開
口12aを蓋118により開閉するものである。この場
合蓋118は0リング等を用いた完全密封式のものであ
ることが好ましく、これにより、プロセスチューブ12
内を完全な減圧雰囲気の状態とすることが可能となる。
従って特に減圧下において熱処理を行うもの例えばCV
D等の熱処理に好適となる。また昇降アーム114の上
下動の際に、装置内部と外気とを気密に保つべく、昇降
アーム114と受渡し室100との間には、外管12
0、内管122により構成される二重構造のベローズが
設けられる。この外管120、内管122を形成する材
料としては、前述した外管50、内管52を形成する材
質とほぼ同様のものを使用することができる。また外管
120と内管122との間には、第7のガス導入孔12
4、第7のガス排気孔126により、例えば不活性な冷
却ガスの導入が可能である。このようにベローズを冷却
ガス導入可能な二重構造とすることにより、内管122
の腐食を防止し、プロセスガス等の外気への漏れを防止
し、また外部での操作上の安全を確保すること等が可能
となる。なおこの場合に、外管120と内管122の間
の圧力は、例えば受渡し室100内の圧力より高くする
ことが望ましい。このようにすれば、例えば外管12
0、内管122にピンホール等が生じた場合に、装置内
の処理ガスが外部に漏れることを防止できるからであ
る。
を支持する昇降軸116と、この昇降軸116が連結固
定される昇降アーム114を、昇降機構112により上
下動させることにより、プロセスチューブ12の下端開
口12aを蓋118により開閉するものである。この場
合蓋118は0リング等を用いた完全密封式のものであ
ることが好ましく、これにより、プロセスチューブ12
内を完全な減圧雰囲気の状態とすることが可能となる。
従って特に減圧下において熱処理を行うもの例えばCV
D等の熱処理に好適となる。また昇降アーム114の上
下動の際に、装置内部と外気とを気密に保つべく、昇降
アーム114と受渡し室100との間には、外管12
0、内管122により構成される二重構造のベローズが
設けられる。この外管120、内管122を形成する材
料としては、前述した外管50、内管52を形成する材
質とほぼ同様のものを使用することができる。また外管
120と内管122との間には、第7のガス導入孔12
4、第7のガス排気孔126により、例えば不活性な冷
却ガスの導入が可能である。このようにベローズを冷却
ガス導入可能な二重構造とすることにより、内管122
の腐食を防止し、プロセスガス等の外気への漏れを防止
し、また外部での操作上の安全を確保すること等が可能
となる。なおこの場合に、外管120と内管122の間
の圧力は、例えば受渡し室100内の圧力より高くする
ことが望ましい。このようにすれば、例えば外管12
0、内管122にピンホール等が生じた場合に、装置内
の処理ガスが外部に漏れることを防止できるからであ
る。
【0041】次に本実施例を用いて熱処理を行う場合の
動作について説明する。
動作について説明する。
【0042】まずウエハ28がウエハ搬入出部70に搬
入される。この場合、第2のロードロック室90を用い
て搬入する場合について以下説明する。ウエハ28を搬
入する場合、まずロードロック室90内を第5のガス導
入孔96によりN2 パージすることによりあらかじめ大
気圧と同圧の圧力とすることが望ましい。外気とロード
ロック室内の圧力を同圧にすれば、ゲートバルブ92が
開いた際に、気体の急激な流れ込みによる塵、ほこりな
どの飛散を防ぐことができるからである。次に第3のゲ
ートバルブ92が開き、ウエハ28が搬送アーム94に
よりロードロック室90内に搬入される。その後第3の
ゲートバルブ92が閉じ、第5のガス排気孔98により
ロードロック室内の真空引きが行われ、次いで第5のガ
ス導入孔96によりN2 パージが行われる。この際に、
プロセスチューブ12は主に第3のガス導入孔66、第
3のガス排気孔68により、また受渡し室100は主に
第6のガス導入孔102、第6のガス排気孔104によ
り、あらかじめ真空引き、N2 パージしておくことが望
ましい。そして前記したように、第4のゲートバルブ9
3が開いた際に塵、ほこりが飛散しないように、第2の
ロードロック室90内の圧力と受渡し室100内の圧力
とが同圧となるように圧力が調整される。次に第4のゲ
ートバルブ93が開き、搬送アーム94によりウエハ2
8が受渡し室100に搬送される。この際、蓋118は
昇降機構112により受渡し室100の最下部に配置し
ておく。またウエハ支持部42は、昇降機構32により
受渡し室100内に配置しておき、搬送されたウエハ2
8をウエハ支持部42に設けられた段差44に合わせて
配置する。その後、昇降機構32、112により、ウエ
ハ28及び蓋118を共に上方に移動させ、蓋118に
よりプロセスチューブ12を密閉し、熱処理を開始す
る。この結果、ウエハ28がプロセスチューブ12内に
搬入された直後に、蓋118を密閉することができる。
なお、本実施例でロードロック室を複数例えば2室設け
たのは、例えば第1のロードロック室80より搬入され
たウエハをプロセスチューブ12内で熱処理している間
に、上記した方法によりあらかじめ第2のロードロック
室90内にウエハを搬入させておき、これにより処理の
スループットを高めるためである。
入される。この場合、第2のロードロック室90を用い
て搬入する場合について以下説明する。ウエハ28を搬
入する場合、まずロードロック室90内を第5のガス導
入孔96によりN2 パージすることによりあらかじめ大
気圧と同圧の圧力とすることが望ましい。外気とロード
ロック室内の圧力を同圧にすれば、ゲートバルブ92が
開いた際に、気体の急激な流れ込みによる塵、ほこりな
どの飛散を防ぐことができるからである。次に第3のゲ
ートバルブ92が開き、ウエハ28が搬送アーム94に
よりロードロック室90内に搬入される。その後第3の
ゲートバルブ92が閉じ、第5のガス排気孔98により
ロードロック室内の真空引きが行われ、次いで第5のガ
ス導入孔96によりN2 パージが行われる。この際に、
プロセスチューブ12は主に第3のガス導入孔66、第
3のガス排気孔68により、また受渡し室100は主に
第6のガス導入孔102、第6のガス排気孔104によ
り、あらかじめ真空引き、N2 パージしておくことが望
ましい。そして前記したように、第4のゲートバルブ9
3が開いた際に塵、ほこりが飛散しないように、第2の
ロードロック室90内の圧力と受渡し室100内の圧力
とが同圧となるように圧力が調整される。次に第4のゲ
ートバルブ93が開き、搬送アーム94によりウエハ2
8が受渡し室100に搬送される。この際、蓋118は
昇降機構112により受渡し室100の最下部に配置し
ておく。またウエハ支持部42は、昇降機構32により
受渡し室100内に配置しておき、搬送されたウエハ2
8をウエハ支持部42に設けられた段差44に合わせて
配置する。その後、昇降機構32、112により、ウエ
ハ28及び蓋118を共に上方に移動させ、蓋118に
よりプロセスチューブ12を密閉し、熱処理を開始す
る。この結果、ウエハ28がプロセスチューブ12内に
搬入された直後に、蓋118を密閉することができる。
なお、本実施例でロードロック室を複数例えば2室設け
たのは、例えば第1のロードロック室80より搬入され
たウエハをプロセスチューブ12内で熱処理している間
に、上記した方法によりあらかじめ第2のロードロック
室90内にウエハを搬入させておき、これにより処理の
スループットを高めるためである。
【0043】本実施例においては、昇降機構32により
ウエハ28を面状発熱源18に急速に接近させることに
より、ウエハ28の熱処理を行う。このような熱処理方
法によれば、面状発熱源18からの放射熱が、ウエハ2
8の処理面にほぼ垂直に向かうようになるため、ウエハ
28の外径が例えば12インチと大面積であってもウエ
ハ28の処理面全体にわたって均一な温度で加熱するこ
とができるからである。また、ウエハ28の加熱速度は
この接近速度により制御できるため、この接近速度を急
速にすることにより任意の加熱速度での急速熱処理を行
うことが可能となる。更にプロセスガスは、ウエハ28
の処理面の上方より、完全なダウンフローでウエハ28
にフローされるため、例えばCVD等の処理において薄
膜を生成する場合に、ウエハ28の面内に均一に成膜す
ることが可能となる。
ウエハ28を面状発熱源18に急速に接近させることに
より、ウエハ28の熱処理を行う。このような熱処理方
法によれば、面状発熱源18からの放射熱が、ウエハ2
8の処理面にほぼ垂直に向かうようになるため、ウエハ
28の外径が例えば12インチと大面積であってもウエ
ハ28の処理面全体にわたって均一な温度で加熱するこ
とができるからである。また、ウエハ28の加熱速度は
この接近速度により制御できるため、この接近速度を急
速にすることにより任意の加熱速度での急速熱処理を行
うことが可能となる。更にプロセスガスは、ウエハ28
の処理面の上方より、完全なダウンフローでウエハ28
にフローされるため、例えばCVD等の処理において薄
膜を生成する場合に、ウエハ28の面内に均一に成膜す
ることが可能となる。
【0044】この結果本実施例では、まず高速熱処理を
可能とすることにより、50〜100オングストローム
のドーピング処理、ゲート酸化膜やキャパシター絶縁膜
などの極薄膜の形成、0.1μm以下の浅いPN接合の
形成など種々の熱処理において優れた効果を発揮する。
そしてこのような急速加熱ができるにもかかわらず、ウ
エハ28の面内での熱分布を均等にできるため、通常面
内での温度分布の不均一によって生じるとされるウエハ
28のスリップ、歪、反り等が発生しない。更にこの面
内での温度分布の均一性と、プロセスガスがウエハ28
の処理面に対して完全にダウンフローとなることによ
り、面内での膜厚の均一化、膜質の向上、ステップカバ
レージの向上等が図れることとなる。更に、このような
優れた性能を発揮するにもかかわらず、通常経時変化が
最も激しいとされる駆動部におけるベローズが、プロセ
スガスにより汚染されにくい構造となっているため、長
期間の使用に耐える耐久性の高い熱処理装置を実現でき
ることとなる。更に、本実施例においては、ウエハ28
を上から吊下げる構造としているため、吊下げ軸38の
自重等で変形することがないため、更に耐久性、信頼性
の高い装置を実現できることとなる。
可能とすることにより、50〜100オングストローム
のドーピング処理、ゲート酸化膜やキャパシター絶縁膜
などの極薄膜の形成、0.1μm以下の浅いPN接合の
形成など種々の熱処理において優れた効果を発揮する。
そしてこのような急速加熱ができるにもかかわらず、ウ
エハ28の面内での熱分布を均等にできるため、通常面
内での温度分布の不均一によって生じるとされるウエハ
28のスリップ、歪、反り等が発生しない。更にこの面
内での温度分布の均一性と、プロセスガスがウエハ28
の処理面に対して完全にダウンフローとなることによ
り、面内での膜厚の均一化、膜質の向上、ステップカバ
レージの向上等が図れることとなる。更に、このような
優れた性能を発揮するにもかかわらず、通常経時変化が
最も激しいとされる駆動部におけるベローズが、プロセ
スガスにより汚染されにくい構造となっているため、長
期間の使用に耐える耐久性の高い熱処理装置を実現でき
ることとなる。更に、本実施例においては、ウエハ28
を上から吊下げる構造としているため、吊下げ軸38の
自重等で変形することがないため、更に耐久性、信頼性
の高い装置を実現できることとなる。
【0045】ウエハ28の面状発熱源18に対する接近
速度は、ウエハ28の処理面での温度上昇が例えば20
℃/Sec以上、特に100℃/Sec以上となるよう
な速度であることが望ましい。具体的な接近速度として
は、例えば50〜200mm/Sec以上が好ましい。
また本実施例では、ウエハ28と面状発熱源18との最
短離間距離Lの設定値を変更することにより、温度の異
なる複数の熱処理を行うことが可能となる。これにより
例えば温度1200℃程度での高温処理や温度500℃
程度の低温処理を便宜選択して行うことができ、複合プ
ロセス処理が可能となる。ここで「最短離間距離」と
は、ウエハ28の接近が停止されて静止した状態でプロ
セス処理されるときの所定位置から面状発熱源18まで
の距離をいう。
速度は、ウエハ28の処理面での温度上昇が例えば20
℃/Sec以上、特に100℃/Sec以上となるよう
な速度であることが望ましい。具体的な接近速度として
は、例えば50〜200mm/Sec以上が好ましい。
また本実施例では、ウエハ28と面状発熱源18との最
短離間距離Lの設定値を変更することにより、温度の異
なる複数の熱処理を行うことが可能となる。これにより
例えば温度1200℃程度での高温処理や温度500℃
程度の低温処理を便宜選択して行うことができ、複合プ
ロセス処理が可能となる。ここで「最短離間距離」と
は、ウエハ28の接近が停止されて静止した状態でプロ
セス処理されるときの所定位置から面状発熱源18まで
の距離をいう。
【0046】なお、ウエハ28を下方より面状発熱源1
8に接近させてウエハ28の加熱温度を上昇させる場
合、この最短離間距離Lの位置よりもわずかに上方たと
えば10mm程度上方の位置にウエハ28を配置し、ウ
エハ28の加熱温度が所望の温度に安定した後に、最短
離間距離Lの位置にウエハ28を配置し処理を行うこと
が望ましい。このようにすることで、枚葉式熱処理装置
の技術的課題の一つである処理のスループットをあげる
ことができるからである。
8に接近させてウエハ28の加熱温度を上昇させる場
合、この最短離間距離Lの位置よりもわずかに上方たと
えば10mm程度上方の位置にウエハ28を配置し、ウ
エハ28の加熱温度が所望の温度に安定した後に、最短
離間距離Lの位置にウエハ28を配置し処理を行うこと
が望ましい。このようにすることで、枚葉式熱処理装置
の技術的課題の一つである処理のスループットをあげる
ことができるからである。
【0047】以上述べた熱処理が終了したら、昇降機構
32によりウエハ28を下降させ、例えばプロセスチュ
ーブ12の下部に設けられた前述した図示しない冷却機
構によりウエハ28を冷却する。その後プロセスチュー
ブ12内をN2 パージし受渡し室100の圧力と同圧に
した後、蓋118、及びウエハ28を下降させる。その
後、前述した方法と逆の手順を踏むことにより、ウエハ
28を装置の外部に搬出する。
32によりウエハ28を下降させ、例えばプロセスチュ
ーブ12の下部に設けられた前述した図示しない冷却機
構によりウエハ28を冷却する。その後プロセスチュー
ブ12内をN2 パージし受渡し室100の圧力と同圧に
した後、蓋118、及びウエハ28を下降させる。その
後、前述した方法と逆の手順を踏むことにより、ウエハ
28を装置の外部に搬出する。
【0048】次に本実施例の一変形例について図4に示
す。この変形実施例は主に本実施例の密封式の開閉装置
である蓋駆動部110を、シャッター式の開閉装置であ
るシャッター駆動部130に置き換えたものである。
す。この変形実施例は主に本実施例の密封式の開閉装置
である蓋駆動部110を、シャッター式の開閉装置であ
るシャッター駆動部130に置き換えたものである。
【0049】シャッター駆動部130は例えば以下のよ
うに構成される。
うに構成される。
【0050】本変形実施例では熱処理部10の下端開口
10aの下方であって、縦軸方向で異なる複数箇所に複
数段例えば2段の遮熱用シャッター132、136を有
している。各遮熱用シャッター132、136は、互い
に異なる方向に水平駆動例えば直線駆動される一対のシ
ャッター板132a、132b及び136a、136b
を有する。
10aの下方であって、縦軸方向で異なる複数箇所に複
数段例えば2段の遮熱用シャッター132、136を有
している。各遮熱用シャッター132、136は、互い
に異なる方向に水平駆動例えば直線駆動される一対のシ
ャッター板132a、132b及び136a、136b
を有する。
【0051】各シャッター板132a、132b、13
6a、136bは、プロセスチューブ12内の加熱容量
の変化を極小とし一定とするための遮熱機能を有するも
のであり、断熱部材により形成されることが望ましい。
この場合少なくとも上側のシャッターつまり第1の遮熱
用シャッター132を構成する一対のシャッター板13
2a、132bは、温調機能(図示せず)を有する構
造、例えばヒーター等の周辺に石英ウールを充填しこれ
を石英等の断熱部材でモールドした構造とすることが望
ましい。このような構造とすれば、熱処理の際に面状発
熱源18と、この温調機能を有するシャッターとの間で
の温度勾配を適正にすることができ、更に熱処理の際に
重金属等による汚染を防ぐことができるからである。こ
の場合例えばヒータの温度をセンサー等でフィードバッ
クして例えば800℃程度にコントロールすることによ
り、温度勾配を適正に保つことができる。下側の第2の
遮熱用シャッター136を構成する一対のシャッター板
136a、136bは、冷却機能(図示せず)を有する
構造例えば水冷ジャケット等の周辺に石英ウールを充填
しこれを石英等の断熱部材でモールドした構造とするこ
とが望ましい。これにより第2の遮熱用シャッター13
6の下方の空間を例えば常温等の低い温度領域とするこ
とができる。なおこの場合の冷却手段としては、アンモ
ニア、二硫化イオウ、水等の冷媒を用いることができ、
この冷媒の潜熱を利用して例えば300〜400℃の温
度に冷却することが望ましい。
6a、136bは、プロセスチューブ12内の加熱容量
の変化を極小とし一定とするための遮熱機能を有するも
のであり、断熱部材により形成されることが望ましい。
この場合少なくとも上側のシャッターつまり第1の遮熱
用シャッター132を構成する一対のシャッター板13
2a、132bは、温調機能(図示せず)を有する構
造、例えばヒーター等の周辺に石英ウールを充填しこれ
を石英等の断熱部材でモールドした構造とすることが望
ましい。このような構造とすれば、熱処理の際に面状発
熱源18と、この温調機能を有するシャッターとの間で
の温度勾配を適正にすることができ、更に熱処理の際に
重金属等による汚染を防ぐことができるからである。こ
の場合例えばヒータの温度をセンサー等でフィードバッ
クして例えば800℃程度にコントロールすることによ
り、温度勾配を適正に保つことができる。下側の第2の
遮熱用シャッター136を構成する一対のシャッター板
136a、136bは、冷却機能(図示せず)を有する
構造例えば水冷ジャケット等の周辺に石英ウールを充填
しこれを石英等の断熱部材でモールドした構造とするこ
とが望ましい。これにより第2の遮熱用シャッター13
6の下方の空間を例えば常温等の低い温度領域とするこ
とができる。なおこの場合の冷却手段としては、アンモ
ニア、二硫化イオウ、水等の冷媒を用いることができ、
この冷媒の潜熱を利用して例えば300〜400℃の温
度に冷却することが望ましい。
【0052】第1の遮熱用シャッター132を構成する
一対のシャッター板132a、132bは、図5(A)
に示すようにその先端部に、例えば半円形状の切り欠き
部39が形成されている。そして一対のシャッター板1
32a、132bは図5(A)〜(C)に示すように3
種の状態を実現できる。図5(A)は開放状態を示して
いる。また一対のシャッター板132a、132bを、
図5(B)に示すように、中心位置を越えて互いにオー
バードライブすることで、閉鎖状態を実現できる。この
場合オーバードライブした状態で、上方にあるシャッタ
ー板132aと下方にあるシャッター板132bとは、
互いになるべく近接していることが望ましい。またシャ
ッター板132aと132bの先端部が、共に中心位置
より僅かにオーバードライブした状態にある図5(C)
の閉鎖状態では、吊下げ軸38が自在に挿通できるよう
な円形空間が、2つの切り欠き部39により形成され
る。なお第2の遮熱用シャッター136も以上述べた一
対のシャッター板132a、132bの構成と全く同様
な一対のシャッター板136aとシャッター板136b
とを有している。
一対のシャッター板132a、132bは、図5(A)
に示すようにその先端部に、例えば半円形状の切り欠き
部39が形成されている。そして一対のシャッター板1
32a、132bは図5(A)〜(C)に示すように3
種の状態を実現できる。図5(A)は開放状態を示して
いる。また一対のシャッター板132a、132bを、
図5(B)に示すように、中心位置を越えて互いにオー
バードライブすることで、閉鎖状態を実現できる。この
場合オーバードライブした状態で、上方にあるシャッタ
ー板132aと下方にあるシャッター板132bとは、
互いになるべく近接していることが望ましい。またシャ
ッター板132aと132bの先端部が、共に中心位置
より僅かにオーバードライブした状態にある図5(C)
の閉鎖状態では、吊下げ軸38が自在に挿通できるよう
な円形空間が、2つの切り欠き部39により形成され
る。なお第2の遮熱用シャッター136も以上述べた一
対のシャッター板132a、132bの構成と全く同様
な一対のシャッター板136aとシャッター板136b
とを有している。
【0053】シャッター板132a、132b、136
a、136bはシリンダーロッド142に連結固定され
ている。このシリンダーロッド142は、図示しない駆
動機構例えばエアーシリンダー等により水平方向に自在
に駆動され、これにより、第1の遮熱用シャッター13
2と第2の遮熱用シャッター136の開閉の制御が可能
となる。このシリンダーロッド142とフランジ143
との間には、シャッターの開閉の際に外気に対して装置
の内部を気密に保つべくベローズ140が気密に設けら
れている。この場合ベローズ140の構造としては、後
述するような外管と内管とを有する二重構造とすること
が望ましい。更にこの外管と内管の間には、不活性な冷
却ガスを充填して、ベローズの耐久性、耐腐食性、安全
性を高める構造とすることが望ましい。
a、136bはシリンダーロッド142に連結固定され
ている。このシリンダーロッド142は、図示しない駆
動機構例えばエアーシリンダー等により水平方向に自在
に駆動され、これにより、第1の遮熱用シャッター13
2と第2の遮熱用シャッター136の開閉の制御が可能
となる。このシリンダーロッド142とフランジ143
との間には、シャッターの開閉の際に外気に対して装置
の内部を気密に保つべくベローズ140が気密に設けら
れている。この場合ベローズ140の構造としては、後
述するような外管と内管とを有する二重構造とすること
が望ましい。更にこの外管と内管の間には、不活性な冷
却ガスを充填して、ベローズの耐久性、耐腐食性、安全
性を高める構造とすることが望ましい。
【0054】シャッター板132bで構成されるシャッ
ター機構と、シャッター板136bとで構成されるシャ
ッター機構との中間部には、例えば第2のガス導入孔1
44が設けられる。またシャッター板132aで構成さ
れるシャッター機構と、シャッター板136aとで構成
されるシャッター機構との中間部には、例えば第2のガ
ス排気孔146が設けられる。この第2のガス導入孔1
44、第2のガス排気孔146は主に、第1の遮熱用シ
ャッター132と、第2の遮熱用シャッター136とが
例えば共に図5(B)の状態の時に、これらの上下のシ
ャッターの間の空間であるシャッター間スペース148
の真空引き及びN2 パージ等を行うためのものである。
ター機構と、シャッター板136bとで構成されるシャ
ッター機構との中間部には、例えば第2のガス導入孔1
44が設けられる。またシャッター板132aで構成さ
れるシャッター機構と、シャッター板136aとで構成
されるシャッター機構との中間部には、例えば第2のガ
ス排気孔146が設けられる。この第2のガス導入孔1
44、第2のガス排気孔146は主に、第1の遮熱用シ
ャッター132と、第2の遮熱用シャッター136とが
例えば共に図5(B)の状態の時に、これらの上下のシ
ャッターの間の空間であるシャッター間スペース148
の真空引き及びN2 パージ等を行うためのものである。
【0055】以上のように構成されるシャッター駆動部
130を有する図4に示す変形実施例の動作について、
図6〜図10を用いて以下に説明する。
130を有する図4に示す変形実施例の動作について、
図6〜図10を用いて以下に説明する。
【0056】まず前述した第1の実施例と同様の方法に
より、ロードロック室80、90にウエハ28を搬入し
ておく。またプロセスチューブ12、シャッター間スペ
ース148、受渡し室100を、それぞれガス導入孔6
6、144、102、ガス排気孔68、146、104
により真空引きし,N2 パージし、ロードロック室と同
圧の気圧としておく。またウエハ支持部42を吊下げ軸
38により受渡し室100内に配置しておく。この状態
で図6に示すように、例えば第4のゲートバルブ93を
開き、ウエハ28を、搬送アーム94を用いてウエハ支
持部42に搬出し、載置する。この場合一対のシャッタ
ー板132aと132b及び一対のシャッター板136
aと136bは共に図5の(C)の状態となっており、
吊下げ軸38が挿通可能となっている。
より、ロードロック室80、90にウエハ28を搬入し
ておく。またプロセスチューブ12、シャッター間スペ
ース148、受渡し室100を、それぞれガス導入孔6
6、144、102、ガス排気孔68、146、104
により真空引きし,N2 パージし、ロードロック室と同
圧の気圧としておく。またウエハ支持部42を吊下げ軸
38により受渡し室100内に配置しておく。この状態
で図6に示すように、例えば第4のゲートバルブ93を
開き、ウエハ28を、搬送アーム94を用いてウエハ支
持部42に搬出し、載置する。この場合一対のシャッタ
ー板132aと132b及び一対のシャッター板136
aと136bは共に図5の(C)の状態となっており、
吊下げ軸38が挿通可能となっている。
【0057】次に図7に示すように一対のシャッター板
136a、136bを、図5の(A)の状態になるよう
に開く。この状態で、シャッター板132a、132b
に内蔵されるヒーターにより、シャッター板132a、
132bの昇温を開始する。
136a、136bを、図5の(A)の状態になるよう
に開く。この状態で、シャッター板132a、132b
に内蔵されるヒーターにより、シャッター板132a、
132bの昇温を開始する。
【0058】次に吊下げ軸38により、ウエハ28を上
昇させウエハ28をシャッター間スペース148に配置
する。その後図8に示すように一対のシャッター板13
6a、136bを図5の(B)の状態になるように閉じ
る。
昇させウエハ28をシャッター間スペース148に配置
する。その後図8に示すように一対のシャッター板13
6a、136bを図5の(B)の状態になるように閉じ
る。
【0059】次に図9に示すように、一対のシャッター
板132a、132bを図5の(A)の状態になるよう
に開く。そして図10に示すように吊下げ軸38により
ウエハ28を上昇させ、プロセスチューブ12内に搬入
した後、一対のシャッター板132a、132bを図5
の(B)の状態になるように閉じる。
板132a、132bを図5の(A)の状態になるよう
に開く。そして図10に示すように吊下げ軸38により
ウエハ28を上昇させ、プロセスチューブ12内に搬入
した後、一対のシャッター板132a、132bを図5
の(B)の状態になるように閉じる。
【0060】このように本変形実施例によれば、ウエハ
28の搬入の際に、上側の第1の遮熱用シャッター13
2、下側の第2の遮熱用シャッター136の少なくとも
いずれか一方が閉じた状態となっているため、熱遮断が
可能となり、プロセスチューブ12の熱容量が一定のま
まで、ウエハ28の搬入ができることとなる。
28の搬入の際に、上側の第1の遮熱用シャッター13
2、下側の第2の遮熱用シャッター136の少なくとも
いずれか一方が閉じた状態となっているため、熱遮断が
可能となり、プロセスチューブ12の熱容量が一定のま
まで、ウエハ28の搬入ができることとなる。
【0061】このようにしてウエハ28をプロセスチュ
ーブ12内に搬入した後、前述した方法により、ウエハ
28の各種の熱処理を行う。このウエハ28の熱処理が
終了したら、前記した方法の逆の手順を踏むことによ
り、ウエハ28を受渡し室100に戻す。最後に受渡し
室100よりウエハ28を装置の外部に搬出し、次に例
えば第1のロードロック室80にあらかじめ載置された
ウエハ28を受渡し室100に搬入して、前記した方法
と同様の手順によりウエハ28をプロセスチューブ12
に搬入して熱処理を行う。
ーブ12内に搬入した後、前述した方法により、ウエハ
28の各種の熱処理を行う。このウエハ28の熱処理が
終了したら、前記した方法の逆の手順を踏むことによ
り、ウエハ28を受渡し室100に戻す。最後に受渡し
室100よりウエハ28を装置の外部に搬出し、次に例
えば第1のロードロック室80にあらかじめ載置された
ウエハ28を受渡し室100に搬入して、前記した方法
と同様の手順によりウエハ28をプロセスチューブ12
に搬入して熱処理を行う。
【0062】以上述べたように本変形実施例では、ウエ
ハ28の搬入出の際にも、プロセスチューブ12と受渡
し室100の間を完全な遮熱構造とすることが可能とな
る。従ってプロセスチューブ12内の加熱容量を極小
に、また常時一定とすることが可能となる。これによ
り、例えば一度プロセスチューブ12内に一定の適正な
温度勾配を形成した後、処理するウエハ28を入れ換え
ても、この形成された温度勾配を元に戻す時間及び必要
とするエネルギーを最小とすることが可能となる。これ
により例えば枚葉式熱処理炉の大きな技術的課題とされ
る処理のスループットあげることができ、更に、装置の
ローパワー化を図ることも可能となる。
ハ28の搬入出の際にも、プロセスチューブ12と受渡
し室100の間を完全な遮熱構造とすることが可能とな
る。従ってプロセスチューブ12内の加熱容量を極小
に、また常時一定とすることが可能となる。これによ
り、例えば一度プロセスチューブ12内に一定の適正な
温度勾配を形成した後、処理するウエハ28を入れ換え
ても、この形成された温度勾配を元に戻す時間及び必要
とするエネルギーを最小とすることが可能となる。これ
により例えば枚葉式熱処理炉の大きな技術的課題とされ
る処理のスループットあげることができ、更に、装置の
ローパワー化を図ることも可能となる。
【0063】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が
可能である。
のではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が
可能である。
【0064】例えば、本発明は必ずしも面状発熱源を用
いた枝葉式処理にのみ適用されるものに限らず、プロセ
スチューブ周囲にヒータを有し、かつ、ボートに多数の
被処理体を搭載して処理するバッチ熱処理装置にも適用
できる。
いた枝葉式処理にのみ適用されるものに限らず、プロセ
スチューブ周囲にヒータを有し、かつ、ボートに多数の
被処理体を搭載して処理するバッチ熱処理装置にも適用
できる。
【0065】また、プロセスチューブ12を密閉する機
構としては、上記したものに限られるものではなく、例
えば水平方向に自在に移動可能なスイング式の密封式の
シャッターを用いることもできる。
構としては、上記したものに限られるものではなく、例
えば水平方向に自在に移動可能なスイング式の密封式の
シャッターを用いることもできる。
【0066】また本実施例では、プロセスガス導入部6
3と、ウエハ昇降部30とを共用する構成としたが、本
発明はこのような構造に限られるものではなく、例え
ば、プロセスガスの導入孔をノズル形状として、プロセ
スチューブ12の下部もしくは側面よりプロセスガスを
導入して、ウエハ28にフローする構造としてもよい。
更に、例えばプロセスチューブを二重構造として、これ
によりプロセスガスを導入する構造としてもよい。
3と、ウエハ昇降部30とを共用する構成としたが、本
発明はこのような構造に限られるものではなく、例え
ば、プロセスガスの導入孔をノズル形状として、プロセ
スチューブ12の下部もしくは側面よりプロセスガスを
導入して、ウエハ28にフローする構造としてもよい。
更に、例えばプロセスチューブを二重構造として、これ
によりプロセスガスを導入する構造としてもよい。
【0067】また本発明に係る装置により処理する被処
理体としては、少なくとも面状形状の被処理体であれば
よく、半導体ウエハ以外にも例えばLCD等であっても
よい。また本発明が適用される熱処理としては、CVD
等以外にも例えば酸化、拡散、アニール等にも適用でき
るのはもちろんである。
理体としては、少なくとも面状形状の被処理体であれば
よく、半導体ウエハ以外にも例えばLCD等であっても
よい。また本発明が適用される熱処理としては、CVD
等以外にも例えば酸化、拡散、アニール等にも適用でき
るのはもちろんである。
【0068】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、縦
型熱処理炉内に被処理体を搬入直後に、その下端開口を
気密に閉鎖でき、その閉鎖後に被処理体を炉内で移動さ
せることができる。
型熱処理炉内に被処理体を搬入直後に、その下端開口を
気密に閉鎖でき、その閉鎖後に被処理体を炉内で移動さ
せることができる。
【0069】さらに本発明によれば、縦型熱処理炉の下
端開口の下方に複数段の遮熱用シャッターを儲け、被処
理体の搬入出時にいずれか1つの遮熱用シャッターを閉
鎖させることができ、処理空間の加熱容量の変化を極小
とすることができる。
端開口の下方に複数段の遮熱用シャッターを儲け、被処
理体の搬入出時にいずれか1つの遮熱用シャッターを閉
鎖させることができ、処理空間の加熱容量の変化を極小
とすることができる。
【図1】本発明を適用した装置を説明するための概略説
明図である。
明図である。
【図2】吊下げアーム、ウエハ支持部の形状を説明する
ための概略斜視図である。
ための概略斜視図である。
【図3】ウエハ支持部の配置の一例を説明するための概
略説明図である。
略説明図である。
【図4】本実施例の一変形例である装置を説明するため
の概略説明図である。
の概略説明図である。
【図5】図4の装置におけるシャッターの形状及び開閉
状態を説明するための概略説明図である。
状態を説明するための概略説明図である。
【図6】図4の装置でウエハを受渡し室に搬入した状態
を示す概略動作説明図である。
を示す概略動作説明図である。
【図7】図6の状態から下側のシャッターを開いた状態
を示す概略動作説明図である。
を示す概略動作説明図である。
【図8】図7の状態からウエハをシャッター間スペース
に搬入し下側のシャッターを閉じてた状態を示す概略動
作説明図である。
に搬入し下側のシャッターを閉じてた状態を示す概略動
作説明図である。
【図9】図8の状態から上側のシャッターを開いた状態
を示す概略動作説明図である。
を示す概略動作説明図である。
【図10】図9の状態からウエハを熱処理装置内に搬入
して上側のシャッターを閉じた状態を示す概略動作説明
図である。
して上側のシャッターを閉じた状態を示す概略動作説明
図である。
10 熱処理部 12 熱処理装置 14 断熱部材 16 均熱部材 18 面状発熱源 28 ウエハ 30 ウエハ昇降部 38 吊下げ軸 40 吊下げアーム 42 ウエハ支持部 50 外管 52 内管 54 第1のガス導入孔 56 第2のガス導入孔 58 第1のガス排気孔 60 第2のガス排気孔 66 第3のガス導入孔 68 第3のガス排気孔 70 ウエハ搬入出部 80 第1のロードロック室 90 第2のロードロック室 100 受渡し室 110 蓋駆動部 118 蓋 130 シャッター駆動部 132 第1の遮熱用シャッター 132a シャッター板 132b シャッター板 136 第2の遮熱用シャッター 136a シャッター板 136b シャッター板 148 シャッター間スペース
Claims (6)
- 【請求項1】 縦型熱処理炉内にて被処理体を熱処理す
る熱処理装置において、 前記縦型熱処理炉の上端と連通して鉛直上方に伸びる案
内管と、 この案内管に沿って昇降する軸部及びこの軸部の下端に
設けられた被処理体支持部から成り、前記軸部の昇降に
より前記被処理体を前記縦型熱処理装置内に設定し、か
つ、前記縦型熱処理炉の下端開口より前記被処理体を搬
入出する被処理体駆動部と、 前記被処理体が前記縦型熱処理炉内に搬入された後に前
記下端開口を気密に密閉する蓋部材と、 を有することを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項2】 縦型熱処理炉内にて被処理体を熱処理す
る熱処理装置において、 前記縦型熱処理炉の上端と連通して鉛直上方に伸びる案
内管と、 この案内管に沿って昇降する軸部及びこの軸部の下端に
設けられた被処理体支持部から成り、前記軸部の昇降に
より前記被処理体を前記縦型熱処理炉内に設定し、か
つ、前記縦型熱処理炉の下端開口より前記被処理体を搬
入出する被処理体駆動部と、 前記縦型熱処理炉の下端開口の下方に気密室を配置し、
かつ、この気密室内であって前記下端開口と対向する領
域にて開閉する、縦軸方向で異なる複数箇所に設けられ
た複数段の遮熱用シャッターと、 を有し、前記被処理体の搬入出時に少なくともいずれか
一つの前記遮熱用シャッターが、前記下端開口と対向す
る領域にて閉鎖状態に設定されることを特徴とする熱処
理装置。 - 【請求項3】 請求項2において前記各遮熱用シャッタ
ーは、互いに異なる方向に水平駆動される一対のシャッ
ター板で構成され、かつ、一対のシャッター板の対向端
部に前記軸部を挿通できる切り欠き部を有することを特
徴とする熱処理装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかにおいて前記
軸部を昇降する昇降部と、前記案内管の上端との間に、
伸縮自在な蛇腹状管体を連結し、かつ、前記昇降部側よ
り導入され前記蛇腹状管体内を通って前記案内管の上端
付近より排気される不活性ガス流を形成したことを特徴
とする熱処理装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかにおいて、 前記案内管をプロセスガス導入管として兼用したことを
特徴とする熱処理装置。 - 【請求項6】 請求項5において前記、縦型熱処理炉の
上端と対向する上方には、前記案内管を避けた位置に面
状発熱源が配置され、かつ、前記プロセスガス導入管と
して兼用される案内管途中には、その内壁より内方に突
出してプロセスガス流路を延長する突出部が設けられ、
前記面状発熱源からの熱量を利用して前記プロセスガス
を温調することを特徴とする熱処理装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4130193A JPH05299370A (ja) | 1992-04-23 | 1992-04-23 | 熱処理装置 |
| US07/987,024 US5429498A (en) | 1991-12-13 | 1992-12-07 | Heat treatment method and apparatus thereof |
| US08/341,047 US5651670A (en) | 1991-12-13 | 1994-11-16 | Heat treatment method and apparatus thereof |
| US08/410,538 US5662469A (en) | 1991-12-13 | 1995-03-24 | Heat treatment method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4130193A JPH05299370A (ja) | 1992-04-23 | 1992-04-23 | 熱処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05299370A true JPH05299370A (ja) | 1993-11-12 |
Family
ID=15028316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4130193A Withdrawn JPH05299370A (ja) | 1991-12-13 | 1992-04-23 | 熱処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05299370A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010238961A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Tokyo Electron Ltd | ガス流路構造体及び基板処理装置 |
| KR101346850B1 (ko) * | 2007-05-11 | 2014-01-07 | 주성엔지니어링(주) | 기판을 균일하게 가열하는 기판처리장치 및 이를 이용한자연산화막 제거방법과 기판처리방법 |
| JP2017511974A (ja) * | 2014-02-14 | 2017-04-27 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 射出アセンブリ付きの上方ドーム |
| JP2023097404A (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-07 | エイチピエスピ カンパニー リミテッド | 高圧熱処理装置 |
-
1992
- 1992-04-23 JP JP4130193A patent/JPH05299370A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR101486781B1 (ko) * | 2009-03-31 | 2015-01-28 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 가스 유로 구조체 및 기판 처리 장치 |
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| JP2023097404A (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-07 | エイチピエスピ カンパニー リミテッド | 高圧熱処理装置 |
| JP2024112930A (ja) * | 2021-12-27 | 2024-08-21 | エイチピエスピ カンパニー リミテッド | 高圧熱処理装置 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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