JPH0530156U - マグネトロンスパツタ装置 - Google Patents
マグネトロンスパツタ装置Info
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- JPH0530156U JPH0530156U JP7831391U JP7831391U JPH0530156U JP H0530156 U JPH0530156 U JP H0530156U JP 7831391 U JP7831391 U JP 7831391U JP 7831391 U JP7831391 U JP 7831391U JP H0530156 U JPH0530156 U JP H0530156U
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- magnetic field
- permanent magnet
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ターゲットの局部的消耗を防止し,基板に生
成すべき薄膜の膜厚の均一化を図ると共に,ターゲット
の使用効率を向上させ得るマグネトロンスパッタ装置を
提供する。 【構成】 真空容器内に基板支持体およびターゲットを
対向して配設し,これらの間に電源を接続して電極を構
成し,ターゲットの背面側に,永久磁石からなりその磁
界をターゲットに向けて作用させる磁界発生装置を設
け,ターゲットの基板支持体との対向面の近傍に電源に
よる基板支持体とターゲット間の電界に対して直交する
磁界を発生するように構成したマグネトロンスパッタ装
置において,磁界発生装置を形成する永久磁石を長辺部
と短辺部とからなる額縁状に形成し,短辺部の高さを長
辺部の高さより小に形成して,平板状に形成したヨーク
上に配設し,この永久磁石に包囲された領域の中央部に
長辺部と平行にセンターヨークを設ける。
成すべき薄膜の膜厚の均一化を図ると共に,ターゲット
の使用効率を向上させ得るマグネトロンスパッタ装置を
提供する。 【構成】 真空容器内に基板支持体およびターゲットを
対向して配設し,これらの間に電源を接続して電極を構
成し,ターゲットの背面側に,永久磁石からなりその磁
界をターゲットに向けて作用させる磁界発生装置を設
け,ターゲットの基板支持体との対向面の近傍に電源に
よる基板支持体とターゲット間の電界に対して直交する
磁界を発生するように構成したマグネトロンスパッタ装
置において,磁界発生装置を形成する永久磁石を長辺部
と短辺部とからなる額縁状に形成し,短辺部の高さを長
辺部の高さより小に形成して,平板状に形成したヨーク
上に配設し,この永久磁石に包囲された領域の中央部に
長辺部と平行にセンターヨークを設ける。
Description
【0001】
本考案は,真空中において基板の表面に薄板を生成するマグネトロンスパッタ 装置に関するものであり,特にターゲットの局部的消耗を防止することにより, ターゲットの使用効率を向上させ得るマグネトロンスパッタ装置に関するもので ある。
【0002】
従来からスパッタ技術は高品質の薄膜を生成できる特長を有するため,電子工 業の分野において広く利用されているが,薄膜の生成速度が遅いという欠点があ り,所望の厚さの薄膜を得るのに長時間を必要とするという生産上の欠点があっ た。このため近年においては,スパッタ装置のターゲットに向かう電界と直交す る磁界をターゲットの表面近傍に発生させ,この磁界の作用によって薄膜生成の 高速化を可能にしたマグネトロンスパッタ装置が普及している。
【0003】 図8は従来のマグネトロンスパッタ装置の例を示す要部縦断面図である。図8 において,1は真空容器であり,排気系(図示せず)と接続する排気口2を設け てある。真空容器1内には基板支持体3およびターゲット4を相互に対向するよ うに配設し,各々直流若しくは高周波の電源5と接続し,基板支持体3が陽極と なりターゲット4が陰極となるように形成する。基板支持体3上には,ターゲッ ト4と対向する表面に薄膜を形成すべき基板6を載置する。
【0004】 次に7は磁界発生装置であり,棒状に形成した中心磁石7aと,この中心磁石 7aを間隔を介して包囲する環状磁石7bとから形成すると共に,各々異なる磁 極をターゲット4に向けて設ける。8はヨークであり,ターゲット4の反対側に おいて中心磁石7aおよび環状磁石7bと磁気的に接続する。9は磁力線であり ,中心磁石7aおよび環状磁石7bとによって発生し,ターゲット4の表面近傍 において,その表面と平行に延在する部分を有する。一方電源5による基板支持 体3とターゲット4との間の電界の方向はターゲット4の表面と垂直に作用する 。従ってターゲット4の表面近傍には相互に直交する電磁界が得られる。
【0005】 上記のように電界に対して直交する磁界によって,ターゲット4の表面の近傍 においては,電子が確実に旋回運動させられ,高密度のプラズマが形成されるの である。そしてこのプラズマ中の正イオンが負電位となっているターゲット4に 高エネルギーで激突することにより,そのエネルギーを受けたターゲット物質が 飛び出し,基板6の表面に付着して薄膜を生成するのである。
【0006】 図9は量産型のマグネトロンスパッタ装置の例を示す要部正面図であり,同一 部分は前記図8と同一の参照符号で示す。なお理解を容易にするために,図8に 示すターゲット4は省略して示してある。図9において環状磁石7bは長辺部と 短辺部とからなる額縁状に形成し,その中央部に棒状に形成した中心磁石7aを 配設する。10はキャリアであり,基板6を保持して矢印方向に移動自在に形成 する。上記の構成により,キャリア10を介して基板6を磁界発生装置7に臨ま せて矢印方向に移動させれば,基板6の表面にターゲット(図示せず)を構成す る物質からなる薄膜を生成することができるのである。
【0007】
上記図9に示す構成の装置によって,基板6の表面に順次薄膜を生成すること ができるのであるが,従来の装置においては,基板6の表面に生成される薄膜の 厚さが不均一になり易いという問題点がある。すなわちキャリア10に支持され た基板6の位置によって薄膜の厚さが異なり,上下端に位置する基板6の膜厚が 中央に位置する基板6の膜厚より大であり,かつ膜厚のバラツキも大であるとい う傾向がある。
【0008】 図9において11はエロージョンの領域であり,中心磁石7aと環状磁石7b との中間の領域において特に顕著に現われ,ターゲットの繰り返し使用回数の増 大と共に進展する。
【0009】 図10は繰り返し使用後のターゲット4を示す要部縦断面図であり,同一部分 は前記図8と同一の参照符号で示す。図10において4aは凹部であり,ターゲ ット4の中心磁石7aと環状磁石7bとの略中間部の表面に,エロージョンすな わち局部的な消耗の結果生ずるものである。すなわちターゲット4の表面近傍に おける空隙磁束密度の水平成分は,水平方向の位置により夫々異なり,中心磁石 7aと環状磁石7bとの略中間部において最大となり,この部分における磁界が 最大値を示す。この結果上記部分におけるプラズマの発生が他の部分より大とな るため,ターゲット4の消耗が大となるためである。
【0010】 このように凹部4aが増大すると,当該部分のターゲット4の厚さが減少し, 遂にはターゲット物質の飛び出しが期待できなくなるため,新規のターゲット4 と交換する必要がある。この場合においても,ターゲット4の他の部分は充分使 用に耐える厚さ寸法を有しており,結局ターゲット4全体としての使用効率が約 20%に留まるという問題点がある。
【0011】 上記問題点を解決するために,中心磁石7aと環状磁石7bとの間におけるタ ーゲット4の厚さを他の部分より大に形成することにより,ターゲット4の使用 効率を向上させようとする提案がなされている(例えば特開昭57−207175号公報 参照)。しかしながら,この提案ではターゲット4の製作が極めて煩雑となるの みでなく,装置毎に異なる厚さ寸法のターゲット4を準備する必要があるため, 管理もまた煩雑であるという問題点がある。なお前記凹部4aの発生態様は,磁 場や電場の強さ等の作業条件によって変化するため,最適条件を見出すことがむ ずかしいという問題点もある。
【0012】 またマグネトロンスパッタ装置を構成する真空容器1の外部空間にソレノイド コイルを設けると共に,ターゲット4と基板支持体3間の外周に金属筒を挿入し ,電源5による電界分布を均一に分布させ,ターゲット表面の体積エッチング率 を平滑にするという提案もある(例えば特開昭57−207173号公報参照)。しかし ながら,このような構成にすると装置全体が大型化かつ複雑化するという問題点 があるのみならず,磁界発生装置7については全く従来のものと同様であり,空 隙磁束密度の水平成分の分布もまた同様であるため,ターゲット4に局部的消耗 による凹部4aが発生する傾向は以前として残存する。
【0013】 また前記図9においてエロージョンの領域11は,その位置によって消耗の程 度に差があり,上下端部11aにおいて著しい。これは,磁界発生装置7の上下 端部においては,磁束が中心磁石7aに集中することに起因する。このためキャ リア10の上下端に支持された基板6の膜厚が大となり,また膜厚のバラツキが 大きく現われるものと考えられる。このように従来のマグネトロンスパッタ装置 においては,基板6の表面に生成する薄膜の厚さが不均一となるのみならず,タ ーゲットの使用効率が低いという問題点がある。
【0014】 本考案は上記従来技術に存在する問題点を解決し,ターゲットの局部的消耗を 防止し,基板に生成すべき薄膜の膜厚の均一化を図ると共に,ターゲットの使用 効率を向上させ得るマグネトロンスパッタ装置を提供することを目的とする。
【0015】
上記目的を達成するために,本考案においては,真空容器内に基板支持体およ びターゲットを相互に対向して配設すると共に,これらの間に電源を接続して電 極を構成し,前記ターゲットの背面側に,永久磁石からなりその磁界をターゲッ トに向けて作用させる磁界発生装置を設け,ターゲットの基板支持体との対向面 の近傍に前記電源による基板支持体とターゲット間の電界に対して直交する磁界 を発生するように構成したマグネトロンスパッタ装置において,磁界発生装置を 形成する永久磁石を長辺部と短辺部とからなる額縁状に形成すると共に,短辺部 の高さを長辺部の高さより小に形成して,磁性材料により平板状に形成したヨー ク上に配設し,この永久磁石に包囲された領域の中央部に前記長辺部と平行にセ ンターヨークを設ける,という技術的手段を採用した。
【0016】 本考案において,短辺部の上端に磁性材料からなるポールピースを設ける構成 としてもよい。
【0017】
上記の構成により,磁界発生装置の上下端部と中央部とにおいて,空隙磁束密 度の水平成分の分布を均一にすることができ,基板の支持位置と無関係に膜厚の 均一化が図れるのである。
【0018】
図1は本考案の実施例における磁界発生装置を示す一部省略要部正面図,図2 は図1におけるA方向矢視図,図3は図1におけるB−B断面図であり,同一部 分は前記図8ないし図10と同一の参照符号で示す。図1ないし図3において, 71,72は各々永久磁石であり,長辺部と短辺部を構成し,全体として額縁状 に形成する。永久磁石71,72は各々横断面を矩形状に形成し,高さ方向に着 磁して,ヨーク8上に接着剤によって固着する。なおh1 ,h2 は永久磁石71 ,72の高さ寸法であり,h1 >h2 に形成する。73はポールピースであり, 例えば軟鉄のような磁性材料によって形成し,永久磁石72の端面に固着する。 なおtはポールピース73の厚さ寸法であり,h2 +t=h1 となるように選定 する。次に74はセンターヨークであり,例えば軟鉄のような磁性材料により, 横断面形状をI字状に形成して,ヨーク8上に例えば小ねじ(図示せず)によっ て固着する。なおセンターヨーク74の高さ寸法は前記永久磁石71と同一寸法 に形成する。
【0019】 上記の構成により,磁束が永久磁石71,72とセンターヨーク74との間に 形成されるから,これらの端面に設けたターゲット(図示せず)から薄膜生成物 質を飛び出させ得るのである。この場合短辺部を構成する永久磁石72の高さ寸 法h2 を,長辺部を構成する永久磁石71の高さ寸法h1 より小に形成してある から,磁界発生装置7の上下端部近傍における磁束の集中が緩和され,全体とし て均一化された磁束分布となり得る。
【0020】 図4は上記構成の磁界発生装置の例を示す要部正面図であり,同一部分は前記 図1ないし図3と同一の参照符号にて示す。図4において( )内の数字は,磁 界発生装置7の各部の寸法をmm単位で表わした数値であり,Cは中心線である。 なお前記図1ないし図3における高さ寸法に対応する数値は,h1 =24mm,h 2 =16mm,t=8mmである。N,Sは各々磁極の極性を示す。またヨーク8, ポールピース73およびセンターヨーク74はSS400によって形成し,永久 磁石71,72はフェライト磁石(日立金属製 YBM2B)によって形成した 。なお比較のために,永久磁石72の高さ寸法h2 を24mmに形成し,ポールピ ース73を欠如する磁界発生装置を製作した。
【0021】 図5は図4に示す装置の中心からの位置と磁束密度との関係を示す図である。 この場合位置P0 ,P2 は前記図4に示す位置と対応しており,磁束密度は,図 4におけるセンターヨーク74およびポールピース73の表面(比較例において は永久磁石72の表面)における長手方向の成分を示している。図5において, 曲線a,bは各々本考案の実施例および比較例と対応する磁束密度分布である。 図5から明らかなように,比較例と対応する曲線bは,位置P0 ,P2 間におけ る磁束密度の値が大であると共に, 最大最小の範囲が大である。これに対して本 考案の実施例と対応する曲線aにおいては,磁束密度の値が低くなっていると共 に,最大最小の範囲が縮小され,均一化された磁束密度分布となっている。
【0022】 図6および図7は各々本考案の実施例および比較例における磁束密度分布を立 体的に示す説明図であり,位置P0 ,P1 〜P3 は夫々前記図4および図5に示 すものと対応している。この場合磁束密度Br は,次式で表わされる値である。 なお磁束密度の目盛は各々最大値と最小値との間を8等分し,小数点以下を4捨 5入して示した。
【0023】
【数1】
【0024】 但し,Bx :磁界発生装置の長手方向の成分 By :磁界発生装置の幅方向の成分 Bz :磁界発生装置の垂直方向の成分 まず図7に示す比較例のものにおいては,最大値および最小値とも磁束密度の 値が大であると共に,その範囲が大である。また図7からも明らかなように,位 置P3 の近傍に最大値が存在し,かつこの部分における磁束密度の分布が急峻で あり,全体として不均一な分布状態を示している。これに対して図6に示す本考 案の実施例においては,前記図6に示すものより最大値および最小値とも磁束密 度の値が小になっていると共に,その範囲も小となっている。また磁束密度の分 布も全体としてなだらかであり,均一化されていることがわかる。
【0025】 本実施例においては,短辺部を形成する永久磁石72の端面にポールピース7 3を固着した例について記述したが,磁界発生装置7に要求される仕様を勘案し てポールピース73を欠如した構成としてもよい。また永久磁石71,72を一 体に形成してもよい。
【0026】
本考案は以上記述のような構成および作用であるから,磁界発生装置の長手方 向の端部近傍における磁束の集中を緩和することにより,当該部分におけるター ゲットの局部的消耗を防止し得ると共に,基板に生成すべき薄膜の膜厚を均一に することができるという効果が期待できる。
【図1】本考案の実施例における磁界発生装置を示す一
部省略要部正面図である。
部省略要部正面図である。
【図2】図1におけるA方向矢視図である。
【図3】図1におけるB−B断面図である。
【図4】本考案の実施例における磁界発生装置の例を示
す要部正面図である。
す要部正面図である。
【図5】図4に示す装置の中心からの位置と磁束密度と
の関係を示す図である。
の関係を示す図である。
【図6】本考案の実施例における磁束密度分布を立体的
に示す説明図である。
に示す説明図である。
【図7】比較例における磁束密度分布を立体的に示す説
明図である。
明図である。
【図8】従来のマグネトロンスパッタ装置の例を示す要
部縦断面図である。
部縦断面図である。
【図9】量産型のマグネトロンスパッタ装置の例を示す
要部正面図である。
要部正面図である。
【図10】繰り返し使用後のターゲットを示す要部縦断
面図である。
面図である。
71,72 永久磁石 73 ポールピース 74 センターヨーク
Claims (2)
- 【請求項1】 真空容器内に基板支持体およびターゲッ
トを相互に対向して配設すると共に,これらの間に電源
を接続して電極を構成し,前記ターゲットの背面側に,
永久磁石からなりその磁界をターゲットに向けて作用さ
せる磁界発生装置を設け,ターゲットの基板支持体との
対向面の近傍に前記電源による基板支持体とターゲット
間の電界に対して直交する磁界を発生するように構成し
たマグネトロンスパッタ装置において,磁界発生装置を
形成する永久磁石を長辺部と短辺部とからなる額縁状に
形成すると共に,短辺部の高さを長辺部の高さより小に
形成して,磁性材料により平板状に形成したヨーク上に
配設し,この永久磁石に包囲された領域の中央部に前記
長辺部と平行にセンターヨークを設けたことを特徴とす
るマグネトロンスパッタ装置。 - 【請求項2】 短辺部の上端に磁性材料からなるポール
ピースを設けたことを特徴とする請求項1記載のマグネ
トロンスパッタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7831391U JPH0530156U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | マグネトロンスパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7831391U JPH0530156U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | マグネトロンスパツタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0530156U true JPH0530156U (ja) | 1993-04-20 |
Family
ID=13658450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7831391U Pending JPH0530156U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | マグネトロンスパツタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0530156U (ja) |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP7831391U patent/JPH0530156U/ja active Pending
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