JPH05307587A - 回路レイアウト検証方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レイアウト検証で出力される疑似エラーを減
少させ、高精度なレイアウト検証を実現する。 【構成】 レイアウトデータに対応した回路データから
回路情報を抽出し、レイアウトデータに付加することに
より、レイアウトデータの検証範囲を設定し、検証範囲
に対応した検証ルールによりレイアウトデータを検証す
るレイアウト検証方式。 【効果】 レイアウト検証の効率が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、たとえば、ＬＳＩ等
の集積回路のレイアウト設計に対する検証に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】図４は従来のレイアウト検証方式を示す
フローチャート図であり、図において、４１は検証ルー
ルを設定するステップ、４２はステップ４１で設定した
検証ルールに従いレイアウトデータを検証するステップ
である。また、図２はレイアウトデータの一例を示すレ
イアウト図で、２０は分離層、２１ａ，２２ａは抵抗、
２３，２４はエピタキシャル層である。

【０００３】次に動作について説明する。ステップ４１
で設定した検証ルールに従い、ステップ４２でレイアウ
トデータを検証する。例えば従来のレイアウト検証方式
においては、図２に示すように、抵抗２１ａ，２２ａの
それぞれの幅が異なる場合においても、検証ルールは１
つしか設定されず、同一の検証ルールを用いて抵抗２１
ａ，２２ａを検証しようとするために正確な検証が困難
である場合があった。例えば、抵抗２１ａは１ミクロン
の幅を有するものであり、抵抗２２ａが２ミクロンの幅
を有するものである場合に、もし検証ルールを抵抗の幅
は１ミクロン以上であることと設定した場合に、抵抗２
１ａ，２２ａ共にこの検証ルールを満足することになる
が、抵抗２２ａが本来は２ミクロンの幅が必要とされて
いるにもかかわらず、１．５ミクロンしかない場合にお
いてもこの検証ルールを満足してしまうという不都合が
発生してしまう。一方，仮に検証ルールを抵抗の幅は
１．５ミクロン以上でなければならないと設定した場合
は、抵抗２２ａが２ミクロンある場合にはこれを満足す
るが、抵抗２１ａが１ミクロンしかないので、本来抵抗
２１ａは１ミクロンの幅を有しておれば十分であるにも
かかわらず、エラーとなってしまい（これを疑似エラー
という）不都合が発生してしまう。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来のレイアウト検証
は以上のように構成されているので、レイアウトデータ
に対してひとつの検証ルールしか設定できず、複雑な設
計基準で作成されたレイアウトデータに対しては、疑似
エラーが多く、検証が困難であった。

【０００５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、レイアウトデータに対する最適
な検証ルールを設定し、エラー箇所を容易に検証できる
ことを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明に係る回路レイ
アウト検証方式は、回路データに定義されている回路情
報を抽出する抽出手段と、回路データから抽出した回路
情報をレイアウトデータに付加し検証基準を設定する基
準設定手段と、レイアウトデータの検証基準に対応した
検証ルールを設定するルール設定手段と、設定した検証
ルールに従いレイアウトデータを検証する検証手段を備
えるものである。

【０００７】

【作用】この発明における回路レイアウト検証方式は、
回路データから抽出した回路情報により回路データに対
応するレイアウトデータの検証基準を設定し、検証基準
に対応した検証ルールにより、レイアウトデータを検証
する。

【０００８】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１において、１１は回路データから回路情報を
抽出するステップ、１２はステップ１１で設定した回路
情報に従い、レイアウトデータの検証範囲を設定するス
テップ、１３はステップ１２で設定した検証範囲の検証
ルールを設定するステップ、１４はステップ１３で設定
した検証ルールにより、検証範囲のレイアウトデータを
検証するステップ、１５は全ての検証範囲に対して検証
したか判断するステップである。図２はレイアウトデー
タの一例を示すレイアウト図で、２０は分離層、２１
ａ，２２ａは抵抗、２３，２４はエピタキシャル層であ
る。図３は、回路データの一例を示す回路図で、２１
ｂ，２２ｂは抵抗、３１，３２はそれぞれ回路情報とし
て指定されているエピタキシャル層２３，２４の電位で
ある。

【０００９】次に図１及び図２、図３を基にこの実施例
の動作について説明する。まず、前提条件として図２に
示したレイアウトデータの回路データは、あらかじめ、
データベースなどに記憶されているものとし、このデー
タベース内には回路データの一部としてエピタキシャル
層２３が５Ｖの電位を有し、エピタキシャル層２４は１
０Ｖの電位を有することが登録されているものとする。
又、これら５Ｖ及び１０Ｖの回路情報に対応して５Ｖ用
の検証範囲及び１０Ｖ用の検証範囲として、これらの検
証範囲に対応した検証ルールがそれぞれ登録されている
ものとする。例えば５Ｖ用の検証範囲としては、５Ｖ用
の抵抗の幅及び抵抗と分離層２０との距離が検証ルール
として登録されており、同じく１０Ｖ用の検証範囲とし
て１０Ｖ用の抵抗の幅及び抵抗と分離層２０の距離が登
録されているものとする。

【００１０】まず、ステップ１１（抽出手段）で回路デ
ータより検証する回路の回路情報として、抵抗２１ｂ，
２２ｂのエピタキシャル層の電位情報３１，３２を抽出
する。次にステップ１２（基準設定手段）で抵抗２１ｂ
に対しては電位情報３１により５Ｖの検証範囲を設定す
ることを決定する。同様に抵抗２２ｂに対しては電位情
報３０により１０Ｖ用の検証範囲を設定することを決定
する。次にステップ１３（ルール設定手段）で抵抗２１
ｂに対して設定した５Ｖ用の検証範囲に対応した検証ル
ールを予め記憶した記憶エリアから読み出し、これを抵
抗２１ｂの検証ルールとして設定する。

【００１１】検証ルールの具体例は、たとえば、以下の
様な内容である。 ルール１：抵抗の幅が、最小寸法以上か。 ルール２：抵抗と分離層の距離が、最小寸法以上か。 （最小寸法は、プロセス、回路情報（５０Ｖ，１０Ｖ）
等により異なる。）

【００１２】次にステップ１４（検証手段）でステップ
１３で設定した検証ルールを一つ一つチェックする。例
えば前述したように抵抗の幅が、最小寸法以上であるか
及び抵抗と分離層の距離が最小寸法以上であるかがチェ
ックされることになる。このチェックによりルールを満
たすものであれば、検証結果がＯＫになるが、ルールを
一つでも満たさない場合は、その回路はエラーとして表
示装置に表示したり、或いは印字装置に印字したりする
ことにより、外部に知らされる。

【００１３】このようにして、抵抗２１ｂに対する検証
が終了すると、次にステップ１５でその他に検証すべき
回路が残っているかどうかを判定し、例えばこの場合に
は抵抗２２ｂがまだ未検証なので、ループすることにな
る。この２回目のループでは抵抗２２ｂを検証するため
１０Ｖ用の検証範囲に対応した検証ルールをあらかじめ
記憶した記憶場所より読み込み検証ルールとして設定す
ることになる。そしてこの１０Ｖ用の検証ルールを用い
て抵抗２２ｂを検証し、エラーであれば同様に外部に出
力する。その後ステップ１５では同様に未検証回路があ
るかどうかが、チェックされ，例えばこの例では、２つ
の抵抗を検証する場合であるので、未検証の回路がない
ため終了することになる。

【００１４】以上のように、この実施例では、レイアウ
トデータに対応した回路データから回路情報を抽出し、
レイアウトデータに付加することにより、レイアウトデ
ータの検証範囲を設定し、検証範囲に対応した検証ルー
ルによりレイアウトデータを検証するレイアウト検証方
式を説明した。

【００１５】実施例２．なお、上記実施例では、回路情
報としてエピタキシャル層の電位情報について説明した
が、抵抗値等の回路情報でも上記実施例と同様の効果を
奏する。

【００１６】実施例３．また上記実施例としては、検証
する回路として抵抗回路について説明したが、検証する
回路は、たとえばトランジスタ回路等の他の回路であっ
ても上記実施例と同様の効果を奏する。

【００１７】実施例４．また、上記実施例では検証基準
の例として、（検証範囲の例として）５Ｖ用の検証範囲
及び１０Ｖ用の検証範囲の場合を示したが、この二つの
検証範囲に限られるものでなく、複数の検証範囲がある
場合にこの発明は適用することができる。また、検証範
囲として５Ｖ用１０Ｖ用の場合を示したが、他の電圧の
場合でもかまわない。また、検証範囲として電圧を基準
とする場合ばかりでなく、例えば温度、あるいは距離等
を基準とするような検証範囲を用いてもかまわない。

【００１８】実施例５．又、上記実施例では検証ルール
として、抵抗の幅及び抵抗と分離層の距離について説明
したが、幅や距離等の単位にかかわらず、厚さあるいは
レイアウト位置等の他のルールを用いる場合でもかまわ
ない。

【００１９】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば回路図
データから抽出した回路情報により、レイアウトデータ
の検証基準と検証ルールを設定してレイアウト検証を行
うため、疑似エラーが少なく、検証効率が向上する効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例を示すフローチャート図で
ある。

【図２】レイアウトデータの一例を示すレイアウト図で
ある。

【図３】回路データの一例を示す回路図である。

【図４】従来例を示すフローチャート図である。

【符号の説明】

１１〜１５ プログラムのステップ ２０ 分離 ２１ａ，２１ｂ 抵抗 ２３，２４ エピタキシャル層 ２１ｂ，２２ｂ 抵抗 ３１，３２ 電位情報 ４１，４２ プログラムのステップ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 以下の要素を有する回路レイアウト検証
   方式 （ａ）レイアウトを検証する回路の回路データから回路
   情報を抽出する抽出手段、（ｂ）上記抽出手段により抽
   出された回路情報に基づいて検証する回路の検証基準を
   設定する基準設定手段、（ｃ）上記設定手段により設定
   された検証基準に対応する検証ルールを設定するルール
   設定手段、（ｄ）上記ルール設定手段により設定された
   ルールに基づいて回路を検証する検証手段。