JPH05307760A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH05307760A JPH05307760A JP4110023A JP11002392A JPH05307760A JP H05307760 A JPH05307760 A JP H05307760A JP 4110023 A JP4110023 A JP 4110023A JP 11002392 A JP11002392 A JP 11002392A JP H05307760 A JPH05307760 A JP H05307760A
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- hologram
- photodetectors
- beams
- recording medium
- semiconductor laser
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 23
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 フォーカスエラー信号のオフセットを十分小
さくでき、安価にできる光ピックアップを提供する。 【構成】 半導体レーザ９および各々複数の受光領域１
２ａ〜１２ｃ，１５ａ〜１５ｃを有するフォーカスエラ
ー信号検出用の複数の光検出器１２，１５を具える半導
体基板６と、光学式情報記録媒体４からの反射光を互い
に逆方向のパワーを与えて回折させて光検出器１２，１
５に入射させるホログラム８とをユニット１として一体
化すると共に、このユニット１をピックアップベース２
１に対して、ホログラム８による回折方向とほぼ直交す
る方向に移動可能に設けて、フォーカスエラー信号のオ
フセットを調整する。
さくでき、安価にできる光ピックアップを提供する。 【構成】 半導体レーザ９および各々複数の受光領域１
２ａ〜１２ｃ，１５ａ〜１５ｃを有するフォーカスエラ
ー信号検出用の複数の光検出器１２，１５を具える半導
体基板６と、光学式情報記録媒体４からの反射光を互い
に逆方向のパワーを与えて回折させて光検出器１２，１
５に入射させるホログラム８とをユニット１として一体
化すると共に、このユニット１をピックアップベース２
１に対して、ホログラム８による回折方向とほぼ直交す
る方向に移動可能に設けて、フォーカスエラー信号のオ
フセットを調整する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク等の光学
式情報記録媒体に対して情報の記録および／または再生
を行う記録／再生装置に用いる光ピックアップに関する
ものである。
式情報記録媒体に対して情報の記録および／または再生
を行う記録／再生装置に用いる光ピックアップに関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ピックアップとして、例えばシ
ャープ技報（１９８９年９月号）および特開平１−２２
０１３３号公報にホログラムを用いたホログラムピック
アップが開示されており、また本願人も特願平２−２３
７２３６号において半導体レーザおよび光検出器を有す
る半導体基板とホログラムとを一体化したホログラムピ
ックアップを提案している。
ャープ技報（１９８９年９月号）および特開平１−２２
０１３３号公報にホログラムを用いたホログラムピック
アップが開示されており、また本願人も特願平２−２３
７２３６号において半導体レーザおよび光検出器を有す
る半導体基板とホログラムとを一体化したホログラムピ
ックアップを提案している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
シャープ技報に開示されたホログラムピックアップにお
いては、半導体レーザおよび光検出器を単一のステムに
マウントし、その後キャップを取り付けてから、このキ
ャップ上にホログラムを接着固定して、半導体レーザ、
光検出器およびホログラムを一体化しているが、ホログ
ラムの位置決めにあたっては、一々基準となるピックア
ップに取り付けて実際にＣＤを再生し、光検出器の出力
から生成される信号の強度、バランス等とＣＤ再生信号
のジッタ値とをモニタしながら、ＣＤ再生信号のジッタ
値が最小となるときにフォーカスエラー信号およびトラ
ッキングエラー信号のオフセットが零となるようにホロ
グラムを移動させて調整している。このため、一体化す
るにあたって、基準となるピックアップへの脱着等の工
数が増え、コストアップを招くという問題がある。
シャープ技報に開示されたホログラムピックアップにお
いては、半導体レーザおよび光検出器を単一のステムに
マウントし、その後キャップを取り付けてから、このキ
ャップ上にホログラムを接着固定して、半導体レーザ、
光検出器およびホログラムを一体化しているが、ホログ
ラムの位置決めにあたっては、一々基準となるピックア
ップに取り付けて実際にＣＤを再生し、光検出器の出力
から生成される信号の強度、バランス等とＣＤ再生信号
のジッタ値とをモニタしながら、ＣＤ再生信号のジッタ
値が最小となるときにフォーカスエラー信号およびトラ
ッキングエラー信号のオフセットが零となるようにホロ
グラムを移動させて調整している。このため、一体化す
るにあたって、基準となるピックアップへの脱着等の工
数が増え、コストアップを招くという問題がある。
【０００４】また、特開平１−２２０１３３号公報に開
示されたホログラムピックアップや特願平２−２３７２
３６号において提案したホログラムピックアップにおい
ては、ホログラムを精度良く取り付けても、その取り付
け精度には限界があるため、フォーカスエラー信号をビ
ームサイズ法により得ようとすると、フォーカスオフセ
ットが生じるという問題がある。
示されたホログラムピックアップや特願平２−２３７２
３６号において提案したホログラムピックアップにおい
ては、ホログラムを精度良く取り付けても、その取り付
け精度には限界があるため、フォーカスエラー信号をビ
ームサイズ法により得ようとすると、フォーカスオフセ
ットが生じるという問題がある。
【０００５】この発明は、このような従来の問題点に着
目してなされたもので、フォーカスエラー信号のオフセ
ットを十分小さくでき、しかも安価にできるよう適切に
構成した光ピックアップを提供することを目的とする。
目してなされたもので、フォーカスエラー信号のオフセ
ットを十分小さくでき、しかも安価にできるよう適切に
構成した光ピックアップを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この出願の第１の発明では、同一半導体基板上に設
けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有する複
数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光を光学
式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光学式情
報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワーを与
えて２光束に回折させて前記複数の光検出器に入射させ
るホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出力に基
づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体に対す
るフォーカスエラー信号を得るようにした光ピックアッ
プにおいて、前記半導体基板およびホログラムをユニッ
トとして一体化すると共に、このユニットをピックアッ
プベースに対して、前記ホログラムによる回折方向とほ
ぼ直交する方向に移動可能に設けて、フォーカスエラー
信号のオフセットを調整し得るよう構成する。
め、この出願の第１の発明では、同一半導体基板上に設
けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有する複
数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光を光学
式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光学式情
報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワーを与
えて２光束に回折させて前記複数の光検出器に入射させ
るホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出力に基
づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体に対す
るフォーカスエラー信号を得るようにした光ピックアッ
プにおいて、前記半導体基板およびホログラムをユニッ
トとして一体化すると共に、このユニットをピックアッ
プベースに対して、前記ホログラムによる回折方向とほ
ぼ直交する方向に移動可能に設けて、フォーカスエラー
信号のオフセットを調整し得るよう構成する。
【０００７】さらに、第２の発明では、同一半導体基板
上に設けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有
する複数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光
を光学式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光
学式情報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワ
ーを与えて２光束に回折させて前記複数の光検出器に入
射させるホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出
力に基づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体
に対するフォーカスエラー信号を得るようにした光ピッ
クアップにおいて、前記半導体基板およびホログラムを
ユニットとして一体化すると共に、このユニットをピッ
クアップベースに対して、前記半導体レーザの発光点を
ほぼ中心とする前記ホログラムによる回折方向の軸回り
に回転可能に設けて、フォーカスエラー信号のオフセッ
トを調整し得るよう構成する。
上に設けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有
する複数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光
を光学式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光
学式情報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワ
ーを与えて２光束に回折させて前記複数の光検出器に入
射させるホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出
力に基づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体
に対するフォーカスエラー信号を得るようにした光ピッ
クアップにおいて、前記半導体基板およびホログラムを
ユニットとして一体化すると共に、このユニットをピッ
クアップベースに対して、前記半導体レーザの発光点を
ほぼ中心とする前記ホログラムによる回折方向の軸回り
に回転可能に設けて、フォーカスエラー信号のオフセッ
トを調整し得るよう構成する。
【０００８】
【作用】第１の発明において、ホログラムによる回折方
向とほぼ直交する方向にユニットを移動させると、複数
の光検出器上でのスポットは、それぞれ受光領域の分割
方向に変位することになるので、これによりフォーカス
エラー信号のオフセットの調整が可能となる。
向とほぼ直交する方向にユニットを移動させると、複数
の光検出器上でのスポットは、それぞれ受光領域の分割
方向に変位することになるので、これによりフォーカス
エラー信号のオフセットの調整が可能となる。
【０００９】また、第２の発明において、半導体レーザ
の発光点をほぼ中心とするホログラムによる回折方向の
軸回りにユニットを回転させると、複数の光検出器上で
のスポットは、上記の第１の発明におけると同様に、そ
れぞれ受光領域の分割方向に変位することになるので、
これによりフォーカスエラー信号のオフセットの調整が
可能となる。
の発光点をほぼ中心とするホログラムによる回折方向の
軸回りにユニットを回転させると、複数の光検出器上で
のスポットは、上記の第１の発明におけると同様に、そ
れぞれ受光領域の分割方向に変位することになるので、
これによりフォーカスエラー信号のオフセットの調整が
可能となる。
【００１０】
【実施例】図１は、この発明の第１実施例を示すもので
ある。この実施例では、半導体レーザ、光検出器および
ホログラムをユニット化し、このユニット１からの出射
光を絞り２および対物レンズ３を経て記録媒体４に照射
し、その反射光（戻り光）を逆の経路をたどってユニッ
ト１に入射させる。
ある。この実施例では、半導体レーザ、光検出器および
ホログラムをユニット化し、このユニット１からの出射
光を絞り２および対物レンズ３を経て記録媒体４に照射
し、その反射光（戻り光）を逆の経路をたどってユニッ
ト１に入射させる。
【００１１】ユニット１は、図２に断面図を示すよう
に、基板５に半導体基板６を設けると共に、スペーサ７
を介してＨＯＥ（Hologram Optical Element）８を設け
て構成する。半導体基板６には、図３に平面図をも示す
ように、半導体レーザ９をマウントすると共に、この半
導体レーザ９のｘ方向両側にｙ方向に並んで、それぞれ
３個の光検出器１１，１２，１３および１４，１５，１
６を形成する。なお、中央の光検出器１２および１５
は、それぞれｙ方向に３分割した受光領域１２ａ，１２
ｂ，１２ｃおよび１５ａ，１５ｂ，１５ｃをもって構成
する。また、半導体レーザ９は、図４に部分断面図をも
示すように、半導体基板６にエッチングにより形成した
凹部６ａにマウントし、その凹部６ａのエッチングによ
る斜面６ｂをミラー面として、半導体レーザ９から半導
体基板６の平面と平行な方向に出射される光束を、ミラ
ー面６ｂで半導体基板６のほぼ法線方向に反射させるよ
うにする。
に、基板５に半導体基板６を設けると共に、スペーサ７
を介してＨＯＥ（Hologram Optical Element）８を設け
て構成する。半導体基板６には、図３に平面図をも示す
ように、半導体レーザ９をマウントすると共に、この半
導体レーザ９のｘ方向両側にｙ方向に並んで、それぞれ
３個の光検出器１１，１２，１３および１４，１５，１
６を形成する。なお、中央の光検出器１２および１５
は、それぞれｙ方向に３分割した受光領域１２ａ，１２
ｂ，１２ｃおよび１５ａ，１５ｂ，１５ｃをもって構成
する。また、半導体レーザ９は、図４に部分断面図をも
示すように、半導体基板６にエッチングにより形成した
凹部６ａにマウントし、その凹部６ａのエッチングによ
る斜面６ｂをミラー面として、半導体レーザ９から半導
体基板６の平面と平行な方向に出射される光束を、ミラ
ー面６ｂで半導体基板６のほぼ法線方向に反射させるよ
うにする。
【００１２】さらに、ＨＯＥ８には、図２に示すよう
に、半導体基板６側の表面に半導体レーザ９からの光束
を一本のメインビームと２本のサブビームとの３本のビ
ームに分離するグレーティング８ａを形成し、反対側の
表面にホログラムパターン８ｂを形成する。ホログラム
パターン８ｂは、記録媒体４からの戻り光の±１次回折
光に互いに逆方向のパワーを与えるように形成する。な
お、ｘ，ｙ，ｚ座標は、光軸方向をｚ軸、ホログラムの
回折方向をｘ軸としている。
に、半導体基板６側の表面に半導体レーザ９からの光束
を一本のメインビームと２本のサブビームとの３本のビ
ームに分離するグレーティング８ａを形成し、反対側の
表面にホログラムパターン８ｂを形成する。ホログラム
パターン８ｂは、記録媒体４からの戻り光の±１次回折
光に互いに逆方向のパワーを与えるように形成する。な
お、ｘ，ｙ，ｚ座標は、光軸方向をｚ軸、ホログラムの
回折方向をｘ軸としている。
【００１３】上記構成において、半導体レーザ９からの
出射光は、ミラー面６ｂで反射された後、グレーティン
グ８ａで３本のビームに分離され、それぞれ絞り２およ
び対物レンズ３を経て記録媒体４に照射される。これら
３本のビームの記録媒体４からの戻り光は、逆の経路を
たどってホログラムパターン８ｂに入射してそれぞれ回
折され、メインビームの±１次回折光が、中央の光検出
器１２および１５にそれぞれ入射し、一方のサブビーム
の±１次回折光が、例えば光検出器１１および１４に、
他方のサブビームの±１次回折光が、光検出器１３およ
び１６にそれぞれ入射する。なお、ホログラムパターン
８ｂは、±１次回折光に互いに逆方向のパワーを与える
よう構成されているので、各ビームの例えば＋１次回折
光は半導体基板６の後方で焦点を結び、−１次回折光は
前方で焦点を結ぶことになる。
出射光は、ミラー面６ｂで反射された後、グレーティン
グ８ａで３本のビームに分離され、それぞれ絞り２およ
び対物レンズ３を経て記録媒体４に照射される。これら
３本のビームの記録媒体４からの戻り光は、逆の経路を
たどってホログラムパターン８ｂに入射してそれぞれ回
折され、メインビームの±１次回折光が、中央の光検出
器１２および１５にそれぞれ入射し、一方のサブビーム
の±１次回折光が、例えば光検出器１１および１４に、
他方のサブビームの±１次回折光が、光検出器１３およ
び１６にそれぞれ入射する。なお、ホログラムパターン
８ｂは、±１次回折光に互いに逆方向のパワーを与える
よう構成されているので、各ビームの例えば＋１次回折
光は半導体基板６の後方で焦点を結び、−１次回折光は
前方で焦点を結ぶことになる。
【００１４】ここで、記録媒体４に対して対物レンズ３
が合焦位置にあるとき、図５Ｂに示すように、光検出器
１２および１５に入射するそれぞれのビームのスポット
１７および１８の大きさが等しく、かつそれらのスポッ
ト１７および１８の中心が受光領域１２ａおよび１５ａ
の中心にそれぞれ位置するように設定すれば、対物レン
ズ３が合焦位置よりも記録媒体４側に近づいたときには
例えば図５Ａに示すようになり、反対に遠ざかったとき
には図５Ｃに示すようになり、非合焦の方向に応じてス
ポット１７および１８の大きさが反転することになる。
したがって、光検出器１２の受光領域１２ａ，１２ｂ，
１２ｃの出力をそれぞれＡ１，Ａ２，Ａ３とし、光検出
器１５の受光領域１５ａ，１５ｂ，１５ｃの出力をそれ
ぞれＡ４，Ａ５，Ａ６とすると、フォーカスエラー信号
ＦＥＳは、下記の数１により得ることができる。
が合焦位置にあるとき、図５Ｂに示すように、光検出器
１２および１５に入射するそれぞれのビームのスポット
１７および１８の大きさが等しく、かつそれらのスポッ
ト１７および１８の中心が受光領域１２ａおよび１５ａ
の中心にそれぞれ位置するように設定すれば、対物レン
ズ３が合焦位置よりも記録媒体４側に近づいたときには
例えば図５Ａに示すようになり、反対に遠ざかったとき
には図５Ｃに示すようになり、非合焦の方向に応じてス
ポット１７および１８の大きさが反転することになる。
したがって、光検出器１２の受光領域１２ａ，１２ｂ，
１２ｃの出力をそれぞれＡ１，Ａ２，Ａ３とし、光検出
器１５の受光領域１５ａ，１５ｂ，１５ｃの出力をそれ
ぞれＡ４，Ａ５，Ａ６とすると、フォーカスエラー信号
ＦＥＳは、下記の数１により得ることができる。
【数１】 ＦＥＳ＝（Ａ１＋Ａ５＋Ａ６）−（Ａ２＋Ａ３＋Ａ４）
【００１５】また、トラッキングエラー信号ＴＥＳは、
光検出器１１，１３，１４，１６の出力をそれぞれＢ
１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４とすると、いわゆる３ビーム法に
より、下記の数２から得ることができる。
光検出器１１，１３，１４，１６の出力をそれぞれＢ
１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４とすると、いわゆる３ビーム法に
より、下記の数２から得ることができる。
【数２】ＴＥＳ＝（Ｂ１＋Ｂ３）−（Ｂ２＋Ｂ４）
【００１６】この実施例では、上記のように、半導体レ
ーザ９および光検出器１１〜１６をマウントした半導体
基板６と、グレーティング８ａおよびホログラムパター
ン８ｂを形成したＨＯＥ８とを一体化してユニット１を
形成するが、このユニット１は測定顕微鏡で位置調整を
行いながら組み立てることができる。このユニット１の
組み立ての際に、ＨＯＥ８に貼り付け誤差が生じると、
その誤差は、図５においてスポット１７，１８のｘ，ｙ
方向のずれとして現れる。ここで、スポット１７，１８
のｘ方向、すなわちホログラムパターン８ｂによる回折
方向のずれは、光検出器１２，１５の分割線の方向に沿
ったずれであるため、フォーカスエラー信号に何ら悪影
響を及ぼすことはないが、ホログラムパターン８ｂによ
る回折方向と直交するｙ方向のずれは、フォーカスエラ
ー信号にオフセットを発生させることになる。
ーザ９および光検出器１１〜１６をマウントした半導体
基板６と、グレーティング８ａおよびホログラムパター
ン８ｂを形成したＨＯＥ８とを一体化してユニット１を
形成するが、このユニット１は測定顕微鏡で位置調整を
行いながら組み立てることができる。このユニット１の
組み立ての際に、ＨＯＥ８に貼り付け誤差が生じると、
その誤差は、図５においてスポット１７，１８のｘ，ｙ
方向のずれとして現れる。ここで、スポット１７，１８
のｘ方向、すなわちホログラムパターン８ｂによる回折
方向のずれは、光検出器１２，１５の分割線の方向に沿
ったずれであるため、フォーカスエラー信号に何ら悪影
響を及ぼすことはないが、ホログラムパターン８ｂによ
る回折方向と直交するｙ方向のずれは、フォーカスエラ
ー信号にオフセットを発生させることになる。
【００１７】そこで、この実施例では、図１および図６
に示すように、ユニット１を、これを実際に取り付ける
ピックアップベース２１に対してほぼｙ方向に移動可能
に取り付ける。例えば、図６に示すように、ユニット１
をピックアップベース２１に対してｙ方向にΔｙ移動し
て取り付けると、絞り２の中心を通る主光線３１は、ホ
ログラムパターン８ｂの中心Ｐ（ｘ′，ｙ′）＝（０，
０）からｙ方向にずれた点Ａ（０，Δｙ′）を通ること
になる。ここで、往路において主光線３１がホログラム
パターン８ｂで回折されて何処へ行くかを考えると、一
般に、ビームサイズ法に用いるホログラムパターンの式
ｆ（ｘ，ｙ）は、ｘ2 ，ｙ2 の項が入った下記の数３で
表すことができるので、
に示すように、ユニット１を、これを実際に取り付ける
ピックアップベース２１に対してほぼｙ方向に移動可能
に取り付ける。例えば、図６に示すように、ユニット１
をピックアップベース２１に対してｙ方向にΔｙ移動し
て取り付けると、絞り２の中心を通る主光線３１は、ホ
ログラムパターン８ｂの中心Ｐ（ｘ′，ｙ′）＝（０，
０）からｙ方向にずれた点Ａ（０，Δｙ′）を通ること
になる。ここで、往路において主光線３１がホログラム
パターン８ｂで回折されて何処へ行くかを考えると、一
般に、ビームサイズ法に用いるホログラムパターンの式
ｆ（ｘ，ｙ）は、ｘ2 ，ｙ2 の項が入った下記の数３で
表すことができるので、
【数３】 ｆ（ｘ，ｙ）＝Ｆｘ＋Ｇｘ2 ＋Ｈｙ2 −ｎλ＝０ただ
し、ｎは整数、λは波長、Ｆ，Ｇ，Ｈは定数である。ホ
ログラム８への入射光の方向余弦（ｌ，ｍ，ｎ）と回折
光の方向余弦（ｌ′，ｍ′，ｎ′）との関係は、下記の
数４で表すことができる。
し、ｎは整数、λは波長、Ｆ，Ｇ，Ｈは定数である。ホ
ログラム８への入射光の方向余弦（ｌ，ｍ，ｎ）と回折
光の方向余弦（ｌ′，ｍ′，ｎ′）との関係は、下記の
数４で表すことができる。
【数４】ｌ′＝ｌ±（Ｆ＋２Ｇｘ） ｍ′＝ｍ±２Ｈｙ ｎ′＝（１−ｌ′2 −ｍ′2 ）1/2
【００１８】上記の数４におけるｍ′＝ｍ±２Ｈｙか
ら、ｙ＝０上に入射した光線は、ｙ方向へ回折を受ける
ことなく、ｘ方向のみに回折されることがわかる。した
がって、ユニット１をｙ方向へ移動して取り付けない場
合は、主光線３１はｙ＝０上に入射するため、ｘ方向の
みの回折を受け、ｘ軸上に回折光が行くことになる（ｘ
軸上＝光検出器１２，１５の中心）。これに対して、ユ
ニット１をｙ方向に移動して取り付ければ、主光線３１
は、ｙ＝Δｙ′を通ることになるので、ｙ方向にも回折
され、光検出器１２，１５の中心からｙ方向にずれたと
ころへ行くことになる。
ら、ｙ＝０上に入射した光線は、ｙ方向へ回折を受ける
ことなく、ｘ方向のみに回折されることがわかる。した
がって、ユニット１をｙ方向へ移動して取り付けない場
合は、主光線３１はｙ＝０上に入射するため、ｘ方向の
みの回折を受け、ｘ軸上に回折光が行くことになる（ｘ
軸上＝光検出器１２，１５の中心）。これに対して、ユ
ニット１をｙ方向に移動して取り付ければ、主光線３１
は、ｙ＝Δｙ′を通ることになるので、ｙ方向にも回折
され、光検出器１２，１５の中心からｙ方向にずれたと
ころへ行くことになる。
【００１９】以上のように、ユニット１をほぼｙ方向に
移動して取り付ければ、主光線が光検出器１２，１５の
中心からｙ方向にずれ、したがってスポット１７，１８
もほぼｙ方向にずれるので、上記の組み立て誤差で生じ
たスポット１７，１８のずれを補正でき、フォーカスエ
ラー信号のオフセットを調整することができる。
移動して取り付ければ、主光線が光検出器１２，１５の
中心からｙ方向にずれ、したがってスポット１７，１８
もほぼｙ方向にずれるので、上記の組み立て誤差で生じ
たスポット１７，１８のずれを補正でき、フォーカスエ
ラー信号のオフセットを調整することができる。
【００２０】この実施例によれば、半導体レーザ９およ
び光検出器１１〜１６を有する半導体基板６とＨＯＥ８
とを一体化したユニット１を、単にピックアップベース
２１に対してホログラムパターン８ｂの回折方向とほぼ
直交する方向に移動可能に取り付けるという簡単な構成
で、フォーカスエラー信号のオフセットを容易に調整す
ることができる。
び光検出器１１〜１６を有する半導体基板６とＨＯＥ８
とを一体化したユニット１を、単にピックアップベース
２１に対してホログラムパターン８ｂの回折方向とほぼ
直交する方向に移動可能に取り付けるという簡単な構成
で、フォーカスエラー信号のオフセットを容易に調整す
ることができる。
【００２１】図７は、この発明の第２実施例を示すもの
である。この実施例は、ユニット１を、図４に示すよう
に、半導体レーザ９の見掛け上の発光点３５をほぼ中心
としてほぼｘ軸回りに回転可能にピックアップベース２
１に取り付けたもので、その他の構成は第１実施例と同
様である。
である。この実施例は、ユニット１を、図４に示すよう
に、半導体レーザ９の見掛け上の発光点３５をほぼ中心
としてほぼｘ軸回りに回転可能にピックアップベース２
１に取り付けたもので、その他の構成は第１実施例と同
様である。
【００２２】かかる構成において、ユニット１をほぼｘ
軸回りに回転させると、第１実施例と同様に、戻り光の
絞り２の中心を通る主光線は、ホログラムパターン８ｂ
の中心からほぼｙ方向にずれた部位に入射することにな
るので、第１実施例と同様に簡単な構成でフォーカスエ
ラー信号のオフセットを容易に調整することができる。
軸回りに回転させると、第１実施例と同様に、戻り光の
絞り２の中心を通る主光線は、ホログラムパターン８ｂ
の中心からほぼｙ方向にずれた部位に入射することにな
るので、第１実施例と同様に簡単な構成でフォーカスエ
ラー信号のオフセットを容易に調整することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザ、各々複数の受光領域を有する複数の光検出器
およびホログラムをユニットとして一体化し、このユニ
ットを実際に装着するピックアップベースに対して移動
または回転可能に設けるという簡単な構成でフォーカス
エラー信号のオフセットを調整することができるので、
フォーカスエラー信号のオフセットを十分小さくでき、
しかも安価にできる。
体レーザ、各々複数の受光領域を有する複数の光検出器
およびホログラムをユニットとして一体化し、このユニ
ットを実際に装着するピックアップベースに対して移動
または回転可能に設けるという簡単な構成でフォーカス
エラー信号のオフセットを調整することができるので、
フォーカスエラー信号のオフセットを十分小さくでき、
しかも安価にできる。
【図１】この発明の第１実施例を示す図である。
【図２】図１に示すユニットの構成を示す断面図であ
る。
る。
【図３】図２に示す半導体基板の平面図である。
【図４】同じく半導体基板の部分断面図である。
【図５】第１実施例におけるフォーカスエラー信号の検
出動作を説明するための図である。
出動作を説明するための図である。
【図６】同じく第１実施例におけるフォーカスエラー信
号のオフセットの調整動作を説明するための図である。
号のオフセットの調整動作を説明するための図である。
【図７】この発明の第２実施例を示す図である。
１ ユニット ２ 絞り ３ 対物レンズ ４ 記録媒体 ５ 基板 ６ 半導体基板 ６ａ 凹部 ６ｂ ミラー面 ７ スペーサ ８ ＨＯＥ ８ａ グレーティング ８ｂ ホログラムパターン ９ 半導体レーザ １１〜１６ 光検出器 １２ａ〜１２ｃ，１５ａ〜１５ｃ 受光領域 １７，１８ スポット ２１ ピックアップベース
Claims (2)
- 【請求項１】 同一半導体基板上に設けた半導体レーザ
および各々複数の受光領域を有する複数の光検出器と、
前記半導体レーザからの出射光を光学式情報記録媒体に
照射する収束光学系と、前記光学式情報記録媒体からの
反射光を、互いに逆方向のパワーを与えて２光束に回折
させて前記複数の光検出器に入射させるホログラムとを
有し、前記複数の光検出器の出力に基づいて前記収束光
学系の前記光学式情報記録媒体に対するフォーカスエラ
ー信号を得るようにした光ピックアップにおいて、前記
半導体基板およびホログラムをユニットとして一体化す
ると共に、このユニットをピックアップベースに対し
て、前記ホログラムによる回折方向とほぼ直交する方向
に移動可能に設けて、フォーカスエラー信号のオフセッ
トを調整し得るよう構成したことを特徴とする光ピック
アップ。 - 【請求項２】 同一半導体基板上に設けた半導体レーザ
および各々複数の受光領域を有する複数の光検出器と、
前記半導体レーザからの出射光を光学式情報記録媒体に
照射する収束光学系と、前記光学式情報記録媒体からの
反射光を、互いに逆方向のパワーを与えて２光束に回折
させて前記複数の光検出器に入射させるホログラムとを
有し、前記複数の光検出器の出力に基づいて前記収束光
学系の前記光学式情報記録媒体に対するフォーカスエラ
ー信号を得るようにした光ピックアップにおいて、前記
半導体基板およびホログラムをユニットとして一体化す
ると共に、このユニットをピックアップベースに対し
て、前記半導体レーザの発光点をほぼ中心とする前記ホ
ログラムによる回折方向の軸回りに回転可能に設けて、
フォーカスエラー信号のオフセットを調整し得るよう構
成したことを特徴とする光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4110023A JPH05307760A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4110023A JPH05307760A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 光ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05307760A true JPH05307760A (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=14525159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4110023A Withdrawn JPH05307760A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | 光ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05307760A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5689108A (en) * | 1995-05-27 | 1997-11-18 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Integrated optical pick-up |
| US5727009A (en) * | 1994-07-29 | 1998-03-10 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus and optical pickup apparatus using the same |
| US6072607A (en) * | 1993-10-15 | 2000-06-06 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Optical pickup device |
-
1992
- 1992-04-28 JP JP4110023A patent/JPH05307760A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6072607A (en) * | 1993-10-15 | 2000-06-06 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Optical pickup device |
| US5727009A (en) * | 1994-07-29 | 1998-03-10 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus and optical pickup apparatus using the same |
| US5689108A (en) * | 1995-05-27 | 1997-11-18 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Integrated optical pick-up |
| CN1079977C (zh) * | 1995-05-27 | 2002-02-27 | 日本胜利株式会社 | 整体光拾取器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990706 |