JPH0531736B2 - - Google Patents
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- JPH0531736B2 JPH0531736B2 JP22717984A JP22717984A JPH0531736B2 JP H0531736 B2 JPH0531736 B2 JP H0531736B2 JP 22717984 A JP22717984 A JP 22717984A JP 22717984 A JP22717984 A JP 22717984A JP H0531736 B2 JPH0531736 B2 JP H0531736B2
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- optical fiber
- light
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光フアイバの基本特性の一つである
波長分散の測定方法に関する。特に、光フアイバ
のフアイバパラメータのバラツキに起因して、理
論値からずれている光フアイバの零分散波長を決
定する方法に関する。
波長分散の測定方法に関する。特に、光フアイバ
のフアイバパラメータのバラツキに起因して、理
論値からずれている光フアイバの零分散波長を決
定する方法に関する。
光フアイバ中を光信号が伝搬する速度は光信号
の波長によつて異なる。したがつて、波長広がり
がある光源から送出された光パルス信号のパルス
幅は、光フアイバを伝搬した後に広がるために、
帯域幅を狭めなければならず光信号の伝送速度が
制限される。このために、光フアイバの遅延時間
の波長依存性、すなわち光の波長に依存して群速
度が異なることにより生ずる波長分散を評価する
ことは、光通信装置を設計する上で重要である。
の波長によつて異なる。したがつて、波長広がり
がある光源から送出された光パルス信号のパルス
幅は、光フアイバを伝搬した後に広がるために、
帯域幅を狭めなければならず光信号の伝送速度が
制限される。このために、光フアイバの遅延時間
の波長依存性、すなわち光の波長に依存して群速
度が異なることにより生ずる波長分散を評価する
ことは、光通信装置を設計する上で重要である。
光フアイバの波長分散による帯域制限は、光源
波長と光フアイバの零分散波長とが一致したとき
にその影響が最小になる。この零分散波長は、フ
アイバパラメータ（コア径、コア材料およびクラ
ツド材料の物質定数、コア・ドーパント濃度、屈
折率分布形状）によつて理論的に求めることがで
きるが、実際に製造される光フアイバは、フアイ
バパラメータのバラツキによりこの理論値に必ず
しも一致しない。したがつて、光通信装置の設計
する上で実測により零分散波長を決定しておく必
要が生じる。
波長と光フアイバの零分散波長とが一致したとき
にその影響が最小になる。この零分散波長は、フ
アイバパラメータ（コア径、コア材料およびクラ
ツド材料の物質定数、コア・ドーパント濃度、屈
折率分布形状）によつて理論的に求めることがで
きるが、実際に製造される光フアイバは、フアイ
バパラメータのバラツキによりこの理論値に必ず
しも一致しない。したがつて、光通信装置の設計
する上で実測により零分散波長を決定しておく必
要が生じる。
ところが、従来はこのような光フアイバの零分
散波長を直接にしかも正確に測定する方法がなか
つた。
散波長を直接にしかも正確に測定する方法がなか
つた。
すなわち、零分散波長の近傍の波長分散値を
種々の波長分散測定方法により求め、波長を横軸
としてこの測定値をプロツトした後に、内挿ある
いは外挿により零分散波長を決定する方法を用い
ていた。しかし、光フアイバの波長分散測定は、
分散値が小さい程その誤差の影響が大きくなるた
めに、零分散波長を直接的に決定することができ
る方法の開発が切望されていた。
種々の波長分散測定方法により求め、波長を横軸
としてこの測定値をプロツトした後に、内挿ある
いは外挿により零分散波長を決定する方法を用い
ていた。しかし、光フアイバの波長分散測定は、
分散値が小さい程その誤差の影響が大きくなるた
めに、零分散波長を直接的に決定することができ
る方法の開発が切望されていた。
本発明は、このような要求に対してなされたも
ので、光フアイバの製造で生じるフアイバパラメ
ータのバラツキに起因して、理論値からずれてい
る光フアイバの零分散波長を実測により容易に求
めることができる、光フアイバの零分散波長測定
方法および装置を提供することを目的とする。
ので、光フアイバの製造で生じるフアイバパラメ
ータのバラツキに起因して、理論値からずれてい
る光フアイバの零分散波長を実測により容易に求
めることができる、光フアイバの零分散波長測定
方法および装置を提供することを目的とする。
本発明の零分散波長測定方法は、波長分散値が
零となる波長λ0の大略の値が理論的に計算される
被測定光フアイバの零分散波長を測定する方法に
おいて、その被測定光フアイバの一端から、強度
変調が施された入射光を入射させ、上記被測定光
フアイバの他端から出射する出射光を電気信号に
変換し、上記入射光または上記出射光に中心波長
λが上記波長λ0に近い波長変調を施し、上記電気
信号の位相変調成分の一次スペクトルが極小にな
るように上記中心波長を変化させ、上記スペク
トルが消失した時点の波長を上記被測定光フアイ
バの零分散波長とする。
零となる波長λ0の大略の値が理論的に計算される
被測定光フアイバの零分散波長を測定する方法に
おいて、その被測定光フアイバの一端から、強度
変調が施された入射光を入射させ、上記被測定光
フアイバの他端から出射する出射光を電気信号に
変換し、上記入射光または上記出射光に中心波長
λが上記波長λ0に近い波長変調を施し、上記電気
信号の位相変調成分の一次スペクトルが極小にな
るように上記中心波長を変化させ、上記スペク
トルが消失した時点の波長を上記被測定光フアイ
バの零分散波長とする。
本発明の零分散波長測定装置は、広い波長帯で
発光する光源と、発振器および電源と、この発振
器および電源の出力を入力とし、上記光源の出力
光に強度変調を施すための変調信号を発生し、上
記光源を駆動する強度変調回路と、上記光源の出
力光を被測定光フアイバに入射させる手段と、光
電気変換器と、上記被測定光フアイバの出射光を
上記光電気変換器に導く手段と、上記光源から上
記光電気変換器までの間に挿入され、上記出力光
に波長変調を施す波長変調器と、上記光電気変換
器から出力される電気信号を増幅する増幅器と、
この増幅器の出力を入力とする同期検波器と、こ
の同期検波器に上記発振器の出力を伝達する手段
と、上記同期検波器の出力のスペクトル観測を行
うスペクトラムアナライザとを備え、上記波長変
調器は変調波長が可変であり、この可変範囲は、
上記スペクトラムアナライザで観測される位相変
調成分の一次スペクトルが極小になるようにその
中心波長を設定できる範囲であることを特徴とす
る。
発光する光源と、発振器および電源と、この発振
器および電源の出力を入力とし、上記光源の出力
光に強度変調を施すための変調信号を発生し、上
記光源を駆動する強度変調回路と、上記光源の出
力光を被測定光フアイバに入射させる手段と、光
電気変換器と、上記被測定光フアイバの出射光を
上記光電気変換器に導く手段と、上記光源から上
記光電気変換器までの間に挿入され、上記出力光
に波長変調を施す波長変調器と、上記光電気変換
器から出力される電気信号を増幅する増幅器と、
この増幅器の出力を入力とする同期検波器と、こ
の同期検波器に上記発振器の出力を伝達する手段
と、上記同期検波器の出力のスペクトル観測を行
うスペクトラムアナライザとを備え、上記波長変
調器は変調波長が可変であり、この可変範囲は、
上記スペクトラムアナライザで観測される位相変
調成分の一次スペクトルが極小になるようにその
中心波長を設定できる範囲であることを特徴とす
る。
本発明は、被測定光フアイバの一端から、強度
変調および波長変調された光信号を入射させ、こ
の伝搬光を強度変調角周波数ωcで同期検波する。
この検波出力をスペクトラムアナライザに入力し
て、この波長変調角周波数ωnのスペクトル成分
に着目し、中心波長を掃引してゆくと、中心波
長が零分散波長λeに一致したときに波長変調角
周波数ωnのスペクトルが消失する。これにより、
零分散波長λeを決定することができる。
変調および波長変調された光信号を入射させ、こ
の伝搬光を強度変調角周波数ωcで同期検波する。
この検波出力をスペクトラムアナライザに入力し
て、この波長変調角周波数ωnのスペクトル成分
に着目し、中心波長を掃引してゆくと、中心波
長が零分散波長λeに一致したときに波長変調角
周波数ωnのスペクトルが消失する。これにより、
零分散波長λeを決定することができる。
波長変調器は被測定光フアイバの出射端側に設
置しても、本発明を実施することができる。
置しても、本発明を実施することができる。
光フアイバの波長分散値は、フアイバパラメー
タより計算することができ、この計算値が零に等
しくなる光波長を「理論的零分散波長」という。
タより計算することができ、この計算値が零に等
しくなる光波長を「理論的零分散波長」という。
通常の石英系単一モード光フアイバでは、クラ
ツドが純粋石英（125μmφ）、コアがゲルマニウ
ムドープ（10μmφ）、コア−クラツドの比屈折率
差が約0.3％の場合には、零分散波長は1.3μmの近
傍にある。コア屈折率分布形状が、理想的なステ
ツプ形状から若干ずれていることなどに起因する
零分散波長のバラツキはあまり大きくなく、1.30
〜1.32μmの波長領域の中にほぼ収まるとみてよ
い。光源としては、この波長領域をカバーする程
度の広波長帯域特性のものが必要である。
ツドが純粋石英（125μmφ）、コアがゲルマニウ
ムドープ（10μmφ）、コア−クラツドの比屈折率
差が約0.3％の場合には、零分散波長は1.3μmの近
傍にある。コア屈折率分布形状が、理想的なステ
ツプ形状から若干ずれていることなどに起因する
零分散波長のバラツキはあまり大きくなく、1.30
〜1.32μmの波長領域の中にほぼ収まるとみてよ
い。光源としては、この波長領域をカバーする程
度の広波長帯域特性のものが必要である。
本発明は、被測定光フアイバの一端から、変調
角周波数ωcの強度変調、および変調角周波数ωn、
中心波長、波長振幅Δλの波長変調の二重同時
変調を受けた光を入射させる。このような変調を
受けた光が、この被測定光フアイバを伝搬し、他
端から出射した後に光電気変換器で光強度に比例
した電気信号に変換される。この電気信号は、適
当なレベルまで増幅されたのちに、強度変調角周
波数ωcで同期検波する。この検波出力をスペク
トラムアナライザに入力すると、波長変調角周波
数ωnの成分、およびその２倍の高周波成分が観
測される。そこで、この波長変調角周波数ωnの
スペクトル成分に着目し、中心波長を掃引して
ゆくと、中心波長が零分散波長λeに一致したと
きに波長変調角周波数ωnのスペクトルが消失す
る。これにより、零分散波長λeを決定することが
できる。
角周波数ωcの強度変調、および変調角周波数ωn、
中心波長、波長振幅Δλの波長変調の二重同時
変調を受けた光を入射させる。このような変調を
受けた光が、この被測定光フアイバを伝搬し、他
端から出射した後に光電気変換器で光強度に比例
した電気信号に変換される。この電気信号は、適
当なレベルまで増幅されたのちに、強度変調角周
波数ωcで同期検波する。この検波出力をスペク
トラムアナライザに入力すると、波長変調角周波
数ωnの成分、およびその２倍の高周波成分が観
測される。そこで、この波長変調角周波数ωnの
スペクトル成分に着目し、中心波長を掃引して
ゆくと、中心波長が零分散波長λeに一致したと
きに波長変調角周波数ωnのスペクトルが消失す
る。これにより、零分散波長λeを決定することが
できる。
以下、本発明の実施例方式を図面に基づいて説
明する。
明する。
第１図は、本発明測定装置の一実施例を示すブ
ロツク構成図である。第１図において、光源１は
発振器２および電流源３を接続する強度変調回路
４に接続される。この光源１の出力光は波長変調
器５に入射され、その出力光はレンズ６を介して
被測定光フアイバ７に入射する。被測定光フアイ
バ７からの出射光は、レンズ８を介して光電気変
換器９に入射され、その出力は増幅器１０を介し
て発振器２の出力を入力している同期検波器１１
に入力し、さらにその出力はスペクトラムアナラ
イザ１２に入力する。
ロツク構成図である。第１図において、光源１は
発振器２および電流源３を接続する強度変調回路
４に接続される。この光源１の出力光は波長変調
器５に入射され、その出力光はレンズ６を介して
被測定光フアイバ７に入射する。被測定光フアイ
バ７からの出射光は、レンズ８を介して光電気変
換器９に入射され、その出力は増幅器１０を介し
て発振器２の出力を入力している同期検波器１１
に入力し、さらにその出力はスペクトラムアナラ
イザ１２に入力する。
光源１は広い波長帯で発光する発光ダイオード
が適当である。光源１は、発振器２からの正弦波
信号と電流源３からのバイアス電流とを重畳する
強度変調回路４により駆動される。強度変調され
た光源１の出力光は、波長変調器５に入射し波長
変調を受ける。波長変調器５は、通常の分光器に
光偏向器を備えたもので実現できる。波長変調器
５からの出力光は、被測定光フアイバ７を伝搬し
て光電気変換器９で光信号に比例した電気信号に
変換される。この電気信号は、適当な利得をもつ
増幅器１０で増幅されたのち、発振器２の出力に
同期する同期検波器１１に入力して強度変調成分
を落とし、スペクトラムアナライザ１２でスペク
トル観測を行う。中心波長が零分散波長λeに一
致したときに波長変調角周波数ωnの成分は消失
するので、これを用いて零分散波長λeが決定され
る。
が適当である。光源１は、発振器２からの正弦波
信号と電流源３からのバイアス電流とを重畳する
強度変調回路４により駆動される。強度変調され
た光源１の出力光は、波長変調器５に入射し波長
変調を受ける。波長変調器５は、通常の分光器に
光偏向器を備えたもので実現できる。波長変調器
５からの出力光は、被測定光フアイバ７を伝搬し
て光電気変換器９で光信号に比例した電気信号に
変換される。この電気信号は、適当な利得をもつ
増幅器１０で増幅されたのち、発振器２の出力に
同期する同期検波器１１に入力して強度変調成分
を落とし、スペクトラムアナライザ１２でスペク
トル観測を行う。中心波長が零分散波長λeに一
致したときに波長変調角周波数ωnの成分は消失
するので、これを用いて零分散波長λeが決定され
る。
発振器２と同期検波器１１とを接続する手段
は、被測定光フアイバ７が布設前で巻かれた状態
にあるときには問題はないが、布設された後では
被測定光フアイバ７の入射端と出射端とが離れて
いるために伝送路を必要とする。しかし、発振器
２の発振周波数は、音響周波数程度の低い周波数
を用いているので、この伝送路は通常の電話回線
あるいは被測定光フアイバに実装されたケーブル
の介在対を利用することがよい。
は、被測定光フアイバ７が布設前で巻かれた状態
にあるときには問題はないが、布設された後では
被測定光フアイバ７の入射端と出射端とが離れて
いるために伝送路を必要とする。しかし、発振器
２の発振周波数は、音響周波数程度の低い周波数
を用いているので、この伝送路は通常の電話回線
あるいは被測定光フアイバに実装されたケーブル
の介在対を利用することがよい。
第２図は、波長変調器５の構成例を示す概略図
である。本決定方法は、スペクトルの消失波長を
探すことによる零位法測定なので、波長振幅Δλ
が測定精度に影響することはないが、あまり小さ
いとスペクトル観測が困難になるので、大まかな
値は知つておく必要がある。
である。本決定方法は、スペクトルの消失波長を
探すことによる零位法測定なので、波長振幅Δλ
が測定精度に影響することはないが、あまり小さ
いとスペクトル観測が困難になるので、大まかな
値は知つておく必要がある。
第２図において、回折格子２１により回折した
光が、光偏向素子２２により正弦波的に出射スリ
ツト２３（幅2W）を走査するように構成する。
このとき、光偏向素子２２と出射スリツト２３と
の間の距離をｈとする。回折素子２１の回折角変
化Δθに対応する波長変化Δλは、 dθ／dλ＝１／cosθ ｍ／ｄ ……(1) を満たす。ここで、θは回折角（出射光と回折格
子面上の法線とがなす角）、ｍは回折次数、ｄは
回折格子間隔である。
光が、光偏向素子２２により正弦波的に出射スリ
ツト２３（幅2W）を走査するように構成する。
このとき、光偏向素子２２と出射スリツト２３と
の間の距離をｈとする。回折素子２１の回折角変
化Δθに対応する波長変化Δλは、 dθ／dλ＝１／cosθ ｍ／ｄ ……(1) を満たす。ここで、θは回折角（出射光と回折格
子面上の法線とがなす角）、ｍは回折次数、ｄは
回折格子間隔である。
仮に、ｍ＝１、ｄ＝１／600〔mm〕、2W＝100
〔μm〕、ｈ＝50〔cm〕およびcosθ＝１／６とする
と、出射スリツトから出射される光の波長変動振
幅Δλは10〔μm〕になる。実際の分光器では回折
格子２１と出射スリツト２３との間に結像系が挿
入されるが、本実施例では本質的な影響がないの
で省略している。
〔μm〕、ｈ＝50〔cm〕およびcosθ＝１／６とする
と、出射スリツトから出射される光の波長変動振
幅Δλは10〔μm〕になる。実際の分光器では回折
格子２１と出射スリツト２３との間に結像系が挿
入されるが、本実施例では本質的な影響がないの
で省略している。
中心波長の掃引は、回折格子を回転させるこ
とにより行うことができる。回折格子系として通
常の分光器を用いると、この分光器の波長読み取
り目盛が中心波長を示すので、この中心波長
が零分散波長λeであり、測定は極めて容易にな
る。
とにより行うことができる。回折格子系として通
常の分光器を用いると、この分光器の波長読み取
り目盛が中心波長を示すので、この中心波長
が零分散波長λeであり、測定は極めて容易にな
る。
以下、測定原理について詳細に説明する。光フ
アイバの出射光は、光フアイバの伝搬による遅延
時間をτとして、 S0（λ、ｔ）∝１＋cos〔ωc（ｔ＋τ）〕 ……(2) τ(k)＝１／Ｃ（∂β／∂k）k ……(3) となる。ただし、S0は光フアイバの波長分散、ｋ
は波数、βは伝搬定数である。
アイバの出射光は、光フアイバの伝搬による遅延
時間をτとして、 S0（λ、ｔ）∝１＋cos〔ωc（ｔ＋τ）〕 ……(2) τ(k)＝１／Ｃ（∂β／∂k）k ……(3) となる。ただし、S0は光フアイバの波長分散、ｋ
は波数、βは伝搬定数である。
零分散波長（λe＝2π／k0）のまわりで遅延時
間τを展開すると、光フアイバ長Ｌとして、 τ(k) ＝Ｌ／Ｃ〔（∂β／∂k）k0＋（ｋ−k0）（∂2β／∂
k2）k0 ＋（ｋ−k0）2／２！（∂3β／∂k3）k0＋…〕……(4
) ∴τ(k) Ｌ／Ｃ〔τ0−（λe−λ）2／２（dS／dλ）〕……
(5) となる。ここで、(5)式の導出には波長分散Ｓ、す
なわち、 Ｓ＝2π／Cλ（∂2β／∂k2）k ……(6) は、波長λe（＝2π／k0）において零であるとし、
(4)式における４次以降の高次項は無視した。
間τを展開すると、光フアイバ長Ｌとして、 τ(k) ＝Ｌ／Ｃ〔（∂β／∂k）k0＋（ｋ−k0）（∂2β／∂
k2）k0 ＋（ｋ−k0）2／２！（∂3β／∂k3）k0＋…〕……(4
) ∴τ(k) Ｌ／Ｃ〔τ0−（λe−λ）2／２（dS／dλ）〕……
(5) となる。ここで、(5)式の導出には波長分散Ｓ、す
なわち、 Ｓ＝2π／Cλ（∂2β／∂k2）k ……(6) は、波長λe（＝2π／k0）において零であるとし、
(4)式における４次以降の高次項は無視した。
本発明では、光電気変換器９に受光される光波
長を中心波長のまわりにΔλの振幅で正弦的に
変化させているので、(5)式におけるλは、 λ＝＋Δλcosωnｔ ……(7) と表され、(2)式においてdS／dλ＝S′とおけば、 S0（λ，ｔ）１ ＋cos〔ωct′＋S′Δλ2ωcＬ／４cos2ωnｔ ＋S′Δλ（λe−λ）ωcＬ／２cosωnｔ〕 ……(8) となる。(8)式で表される信号を強度変調角周波数
ωcで同期検波すると、波長変調角周波数ωnのス
ペクトル成分とその二次高調波成分が得られる。
中心波長と零分散波長λeが一致したときωnの
一次スペクトルが消失することが(8)式よりわか
る。
長を中心波長のまわりにΔλの振幅で正弦的に
変化させているので、(5)式におけるλは、 λ＝＋Δλcosωnｔ ……(7) と表され、(2)式においてdS／dλ＝S′とおけば、 S0（λ，ｔ）１ ＋cos〔ωct′＋S′Δλ2ωcＬ／４cos2ωnｔ ＋S′Δλ（λe−λ）ωcＬ／２cosωnｔ〕 ……(8) となる。(8)式で表される信号を強度変調角周波数
ωcで同期検波すると、波長変調角周波数ωnのス
ペクトル成分とその二次高調波成分が得られる。
中心波長と零分散波長λeが一致したときωnの
一次スペクトルが消失することが(8)式よりわか
る。
したがつて、波長変調器５は被測定光フアイバ
７の出射端側に設置しても、同様に本発明を実施
することができる。
７の出射端側に設置しても、同様に本発明を実施
することができる。
第３図は、この場合の実施例を示すブロツク構
成図である。ここでは、発振器２の出力を同期検
波器１１に伝達する伝送路手段として、電話回線
を使用した場合を示し、発振器２の出力を電話回
線に送出する送信器１３、および伝送されてきた
信号を受信し同期検波器１１に接続する受信器１
４を表示している。
成図である。ここでは、発振器２の出力を同期検
波器１１に伝達する伝送路手段として、電話回線
を使用した場合を示し、発振器２の出力を電話回
線に送出する送信器１３、および伝送されてきた
信号を受信し同期検波器１１に接続する受信器１
４を表示している。
本発明の零分散波長方法は、零位法により高精
度の測定を可能にし、しかも分光器の読取り波長
がそのまま零分散波長になるので、至極簡便な直
接測定方法である。
度の測定を可能にし、しかも分光器の読取り波長
がそのまま零分散波長になるので、至極簡便な直
接測定方法である。
したがつて、光フアイバの入力端と出力端が遠
く離れている測定環境、すなわち現場に布設され
た後の伝送路光フアイバであつても、容易にしか
も正確に零分散波長を決定することができ、光通
信システムを形成する上でもより効率的な運用が
可能になる優れた効果がある。
く離れている測定環境、すなわち現場に布設され
た後の伝送路光フアイバであつても、容易にしか
も正確に零分散波長を決定することができ、光通
信システムを形成する上でもより効率的な運用が
可能になる優れた効果がある。
第１図は本発明測定装置の一実施例を示すブロ
ツク構成図。第２図は波長変調器の構成例を示す
概略図。第３図は本発明測定装置の別の実施例を
示すブロツク構成図。 １…光源、２…発振器、３…電流源、４…強度
変調回路、５…波長変調器、６，８…レンズ、７
…被測定光フアイバ（単一モード光フアイバ）、
９…光電気変換器、１０…増幅器、１１…同期検
波器、１２…スペクトラムアナライザ、１３…送
信器、１４…受信器、２１…回折格子、２２…光
偏向素子、２３…出射スリツト。
ツク構成図。第２図は波長変調器の構成例を示す
概略図。第３図は本発明測定装置の別の実施例を
示すブロツク構成図。 １…光源、２…発振器、３…電流源、４…強度
変調回路、５…波長変調器、６，８…レンズ、７
…被測定光フアイバ（単一モード光フアイバ）、
９…光電気変換器、１０…増幅器、１１…同期検
波器、１２…スペクトラムアナライザ、１３…送
信器、１４…受信器、２１…回折格子、２２…光
偏向素子、２３…出射スリツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 波長分散値が零となる波長λ0の大略の値が理
論的に計算される被測定光フアイバの零分散波長
を測定する方法において、 その被測定光フアイバの一端から、強度変調が
施された入射光を入射させ、 上記被測定光フアイバの他端から出射する出射
光を電気信号に変換し、 上記入射光または上記出射光に中心波長が上
記波長λ0に近い波長変調を施し、 上記電気信号の位相変調成分の一次スペクトル
が極小になるように上記中心波長を変化させ、 上記スペクトルが消失した時点の波長を上記被
測定光フアイバの零分散波長とする 光フアイバの零分散波長測定方法。 ２ 中心波長の波長変調を被測定光フアイバの
入射光に与える 特許請求の範囲第１項に記載の光フアイバの零分
散波長測定方法。 ３ 中心波長の波長変調を被測定光フアイバの
出射光に与える 特許請求の範囲第１項に記載の光フアイバの零分
散波長測定方法。 ４ 広い波長帯で発光する光源と、 発振器および電源と、 この発振器および電源の出力を入力とし、上記
光源の出力光に強度変調を施すための変調信号を
発生し、上記光源を駆動する強度変調回路と、 上記光源の出力光を被測定光フアイバに入射さ
せる手段と、 光電気変換器と、 上記被測定光フアイバの出射光を上記光電気変
換器に導く手段と、 上記光源から上記光電気変換器までの間に挿入
され、上記出力光に波長変調を施す波長変調器
と、 上記光電気変換器から出力される電気信号を増
幅する増幅器と、 この増幅器の出力を入力とする同期検波器と、 この同期検波器に上記発振器の出力を伝達する
手段と、 上記同期検波器の出力のスペクトル観測を行う
スペクトラムアナライザと を備え、 上記波長変調器は変調波長が可変であり、この
可変範囲は、上記スペクトラムアナライザで観測
される位相変調成分の一次スペクトルが極小にな
るようにその中心波長を設定できる範囲である ことを特徴とする光フアイバの零分散波長測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22717984A JPS61105440A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 光フアイバの零分散波長測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22717984A JPS61105440A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 光フアイバの零分散波長測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61105440A JPS61105440A (ja) | 1986-05-23 |
| JPH0531736B2 true JPH0531736B2 (ja) | 1993-05-13 |
Family
ID=16856723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22717984A Granted JPS61105440A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 光フアイバの零分散波長測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61105440A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0614074B1 (en) * | 1992-08-25 | 1998-05-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical wavelength measuring instrument |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP22717984A patent/JPS61105440A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61105440A (ja) | 1986-05-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |