JPH0532356B2 - - Google Patents

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JPH0532356B2
JPH0532356B2 JP60155223A JP15522385A JPH0532356B2 JP H0532356 B2 JPH0532356 B2 JP H0532356B2 JP 60155223 A JP60155223 A JP 60155223A JP 15522385 A JP15522385 A JP 15522385A JP H0532356 B2 JPH0532356 B2 JP H0532356B2
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JP
Japan
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silicon
silicon carbide
fired
furnace
carbide body
Prior art date
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JP60155223A
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JPS6217088A (ja
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Harusuke Ono
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TOKAI KONETSU KOGYO KK
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TOKAI KONETSU KOGYO KK
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属シリコンを含浸させることにより
ち密化された炭化珪素焼成体の製造方法に関する
ものである。特に半導体製造用拡散炉に用いられ
る均熱管や、製鋼用加熱炉に使用するラジアン
ト・チユーブ、測温用保護管の製造方法に係わ
る。
〔従来の技術〕
一般に、半導体製造用拡散炉の均熱管は該拡散
炉内の熱を均熱管の内側に設置したプロセス・チ
ユーブとしての石英管へ均一に放射し、該石英管
内の半導体材料を均一に焼成するための部材であ
る。また均熱管内の石英管は高温にさらされた場
合、不純物としてナトリウムなどのアルカリ金属
が微量でも存在すると該アルカリ金属を核として
結晶化がおこり(この現象を失透という)石英管
の寿命を著しく縮めるため、均熱管は外部からの
不純物の混入を防ぐ役割も果たさなければならな
い。
更に耐熱性構造材として用いられる製品に対し
て要求される特性としては、ラジアント・チユー
ブ内や保護管内を外気と遮断する必要から、やは
りガス不透過性が要求される。一般に上述の用途
には、炭化珪素焼成体が用いられることが多い。
しかし、炭化珪素焼成体は通常の製法では気孔率
が10〜30%と比較的高く、不純物やガスが透過し
やすいため、該焼成体を均熱管あるいは構造材と
して用いる場合には気孔に何らかの物質を充填さ
せて気孔率を零近くまで下げる工夫が必要であ
る。気孔へ充填させ得る物質としては種々考えら
れるが、炭化珪素との濡れ性が良好な金属シリコ
ンが用いられる場合が多い。従来、炭化珪素体中
へ金属シリコンを含浸させる方法としては大別す
ると次の5つである。
加熱溶融した金属シリコン中に炭化珪素体を
浸漬して含浸させる方法。
2000℃以上の温度下のシリコン蒸気中に炭化
珪素粉末をさらしてシリコンを含浸させる方
法。
窒化珪素粉末を分解温度(1900℃)以上に加
熱し、発生したシリコン蒸気を炭化珪素体中へ
含浸させる方法。
珪石粉と炭素粉とを混合させた反応剤中へ炭
化珪素体を埋め込み、約2000℃で加熱して珪石
粉と炭素粉が反応して得られたシリコン蒸気を
炭化珪素体へ含浸させる方法。
炭化珪素体の内側へ黒鉛体を配し、炭化珪素
体と黒鉛体との間に粒状の金属シリコンを充填
し、これらを高周波誘導加熱炉内へ挿入して黒
鉛体を誘導加熱し金属シリコンを溶融蒸発させ
て炭化珪素体へ含浸させる方法。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上記の製法のうち、上記および
の方法では熱衝撃が激しく熱歪みやクラツクが
発生しやすい欠点があつた。特にの場合炭化珪
素粒界の毛細管現象を利用してシリコンを含浸さ
せるため、十分にシリコンが浸透しない悩みがあ
つた。次に上記およびの方法ではいずれも粉
末材料を扱うために作業性が悪く、かつ装置も大
型化することは避けられない。上記の方法にお
いては溶融蒸発したシリコンが発熱体としての黒
鉛を侵食するために黒鉛体の寿命は著しく短い。
本発明は上記問題点を解決するためになされた
ものであり、炭化珪素焼成体へ安易かつ安価な方
法で必要最少限の金属シリコンを含浸させ、ち密
な炭化珪素焼成体を得るための製造方法である。
〔問題点を解決するための手段〕
即ち本発明の方法は中性あるいは不活性ガス中
の一酸化炭素ガス濃度が1.52%以下である雰囲気
で、理論量とほぼ同等の金属シリコンを炭化珪素
焼成体に接触させて1430℃から1600℃の温度域で
加熱することを特徴とする。
〔構成〕
以下、本発明を詳細に説明する。
炭化珪素粉にバインダー、可塑剤、滑剤を加え
た混練物を成形後加熱して、再結晶化させた焼成
体を得る。次に該焼成体へ塊状の金属シリコンを
接触させて置く。シリコンの置き方は焼成体の形
状によつて異なるが、焼成体がチユーブ状であれ
ばチユーーブの内径側へ置けばよく、板状であれ
ばその上へ置くだけでよい。最後に該炭化珪素焼
成体と金属シリコンを中性あるいは不活性雰囲気
中、1430℃〜1600℃の温度下で、約1時間程度キ
ープすれば粒界に金属シリコンが充填されたち密
な炭化珪素体が得られる。該炭化珪素焼成体と金
属シリコンを炉中で加熱する際に注意しなければ
ならないのは、炉内雰囲気ガス中の一酸化炭素ガ
ス濃度である。ある一定量以上の一酸化炭素ガス
が炉内に存在すると溶融した金属シリコン表面で
次式の反応が進行する。
2Si+CO→SiC+SiO (式) この結果、焼成体内へ含浸されるはずのシリコ
ンが一酸化炭素と反応して炭化珪素となるため従
来は式の減少分を見込んで添加する金属シリコ
ン量を決定していた。種々の実験を重ねた結果
1430℃〜1600℃の温度域で炉内雰囲気ガス中の一
酸化炭素ガス濃度が1.52%以下であれば式の反
応はほとんど進行しないことが確認された。更に
式のSiOは次式に従つて炉内の残留酸素と反
応してクリストバライトとなる。
2SiO+O2→2SiO2 (式) 上記クリストバライトは金属シリコンとの濡れ
性が悪く炭化珪素体の粒界でシリコンの浸透を妨
げる働きをするため、従来の技法では十分に金属
シリコンで充填されたち密な炭化珪素体を得られ
ないでいた。
ところで式の反応は高温であるほど進行しづ
らくなるが、1600℃以上の温度域では一酸化炭素
ガス濃度とは無関係に蒸発して飛散するシリコン
があるため、理論量だけでは十分なシリコンの充
填が得られなかつた。本発明では炉内温度は1600
℃以下に抑えられており、この温度域でのシリコ
ン蒸気圧は7×10-4atmと微小で、気体としての
シリコンの飛散はほとんど問題にならないため余
分なシリコンを添加することなく、炭化珪素焼成
体中へ十分にシリコンを含浸させることができ
る。
以上述べたように本発明によれば1430℃〜1600
℃の温度域で炉内雰囲気ガス中の一酸化炭素ガス
濃度を1.52%以下に制御することにより、炭化珪
素焼成体中へ全く無駄なく理論量どおりの金属シ
リコンが含浸され、ち密な炭化珪素体が得られ
る。
〔実施例〕
以下に本発明の一実施例を説明する。
まず粒径1〜600μmの炭化珪素粉末を連続粒配
法にて配合し、これにセルローズ系バインダー、
可塑剤としてのポリエチレングリコール、滑剤と
してのワツクス系エマルジヨン、水を加えて混練
した後、外径255mm、内径240mm、長さ2000mmのチ
ユーブ状に成形した。約150℃で乾燥後、炉内で
2200℃の温度下で加熱し、炭化珪素焼成体を得
た。この時点で該焼成体は平均して23.5%の気孔
を持ち、ガス透過性であつた。次に該焼成体内径
側に接触させて魂状の金属シリコンを置く。添加
するシリコン重量は焼成体の持つ気孔体積とシリ
コン比重の積の値より決定される。内径側に金属
シリコンを炭化珪素焼成体に接触させ、再度炉内
へ送り込み、アルゴン雰囲気中1520℃の温度で1
時間加熱したが、この間炉内の雰囲気ガス中の一
酸化炭素ガス濃度は0.3〜0.5%であつた。上記の
工程を経て得られた炭化珪素体は当初考えられて
いた通りの量のシリコンが炭化珪素焼成体の気孔
に充填され、気孔率は炭化珪素体の各点で1%以
下であり、ガス不透過性であつた。
〔比較例 1〕 まず上記実施例と同様に、平均して25.0%の気
孔を持つ炭化珪素焼成体を準備する。次に該焼成
体内径側に気孔体積とシリコンの比重から計算さ
れた重量分の魂状金属シリコンを置き、これを炉
内に挿入し、アルゴン雰囲気中1520℃の温度で加
熱したが、ここで炉内の雰囲気を操作して炉内雰
囲気ガス中の一酸化炭素ガス濃度を1.60%に設定
し、この状態で1時間キープした。本実験で得ら
れた炭化珪素体は金属シリコンが一部炭化珪素と
なり、炭化珪素体内径側に残留していた。また炭
化珪素体の気孔も完全にはシリコンが充填され
ず、気孔率は平均して5.6%であつた。
〔比較例 2〕 上記実施例と同様に平均して21.4%の気孔を持
つ炭化珪素焼成体を準備し、実施例と同様に計算
された重量の魂状金属シリコンを置いて、これを
炉内でアルゴン雰囲気中1800℃に加熱して1時間
キープした。このとき炉内雰囲気ガス中の一酸化
炭素ガス濃度は1%以下であつたが、高温で蒸
発・飛散したシリコンがあつたため、得られた炭
化珪素体は一部でシリコンが含浸されずガス透過
性であつた。
〔効果〕
以上述べたように本発明によれば、1430℃〜
1600℃の温度域で加熱中の炉内雰囲気ガス中の一
酸化炭素ガス濃度を1.52%以下に制限することに
より、炭化珪素焼成体中の気孔へ全くの無駄な
く、理論量どおりの金属シリコンを充填させるこ
とができる。
従来のシリコン含浸方法が加熱炉内の雰囲気を
無視して技術的に複雑な手段をとり、その結果作
業性が悪く装置が大型化していたのに比べ、本発
明は炉内の雰囲気制御を達成することにより珪素
含浸方法自体の技術を簡便かつ安価としたもので
ある。本発明が半導体製造用拡散炉の均熱管や、
構造材として用いられるち密な炭化珪素体を製造
する上での産業上の効果は大きい。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 中性あるいは不活性ガス中の一酸化炭素ガス
    濃度が1.52%以下である雰囲気で、理論量とほぼ
    同等の金属シリコンを炭化珪素焼成体に接触させ
    て1430℃から1600℃の温度域で加熱することを特
    徴とする炭化珪素焼成体へのシリコン含浸方法。
JP60155223A 1985-07-16 1985-07-16 炭化珪素焼成体のシリコン含浸方法 Granted JPS6217088A (ja)

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JP60155223A JPS6217088A (ja) 1985-07-16 1985-07-16 炭化珪素焼成体のシリコン含浸方法

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JPS6217088A JPS6217088A (ja) 1987-01-26
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JP2015047619A (ja) * 2013-09-02 2015-03-16 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 複合材物品製造のための消費コアおよび関連する方法

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JPS6217088A (ja) 1987-01-26

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