JPH05325809A - イオン源 - Google Patents
イオン源Info
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- JPH05325809A JPH05325809A JP4162102A JP16210292A JPH05325809A JP H05325809 A JPH05325809 A JP H05325809A JP 4162102 A JP4162102 A JP 4162102A JP 16210292 A JP16210292 A JP 16210292A JP H05325809 A JPH05325809 A JP H05325809A
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Links
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Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料を保持した真空チャンバとイオン源の間
はセラミック製の円筒によって接続される。この円筒は
絶縁と真空保持の機能を持つ。大きいイオン源になる
と、セラミック円筒も大きくなって製作しにくい。セラ
ミック円筒を用いないイオン源構造を提供する。 【構成】 円筒形セラミックのかわりに複数の小さいセ
ラミック支柱を用いる。そして、イオン源の全体をより
大きい外套チャンバによって囲む。外套チャンバは接地
する。
はセラミック製の円筒によって接続される。この円筒は
絶縁と真空保持の機能を持つ。大きいイオン源になる
と、セラミック円筒も大きくなって製作しにくい。セラ
ミック円筒を用いないイオン源構造を提供する。 【構成】 円筒形セラミックのかわりに複数の小さいセ
ラミック支柱を用いる。そして、イオン源の全体をより
大きい外套チャンバによって囲む。外套チャンバは接地
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は組み立て保守が容易で
大型化に好適なイオン源に関する。イオン源は原料ガス
または原料蒸気を熱、放電等によって励起しこれをプラ
ズマとし電圧を掛けてイオンビ−ムとして引き出すもの
である。イオン源はイオン照射装置、イオン注入装置、
イオンエッチング装置等に用いられる。これはチャンバ
と電源、電極、フィラメントなどを備えている。チャン
バは高電圧が印加される。しかもチャンバは真空状態を
保持しなければならない。
大型化に好適なイオン源に関する。イオン源は原料ガス
または原料蒸気を熱、放電等によって励起しこれをプラ
ズマとし電圧を掛けてイオンビ−ムとして引き出すもの
である。イオン源はイオン照射装置、イオン注入装置、
イオンエッチング装置等に用いられる。これはチャンバ
と電源、電極、フィラメントなどを備えている。チャン
バは高電圧が印加される。しかもチャンバは真空状態を
保持しなければならない。
【0002】図2は従来例に係るイオン源の断面図であ
る。チャンバの出口には3枚の引出電極系の電極板が設
けられる。これらは複数または単数のイオン引き出し用
の孔が穿孔された導体の板である。チャンバ側から加速
電極1、抑制電極2、接地電極3という。円筒形の絶縁
物4がイオン源チャンバ6と、真空チャンバ8とを連結
している。イオン源チャンバ6はプラズマを発生する空
間である。これも円筒形の壁面とこれを閉ざす上蓋7か
らなっている。上蓋7にはフィラメント12が挿通して
ある。これは陰極電位にあって通電されることによって
熱電子を発生する。
る。チャンバの出口には3枚の引出電極系の電極板が設
けられる。これらは複数または単数のイオン引き出し用
の孔が穿孔された導体の板である。チャンバ側から加速
電極1、抑制電極2、接地電極3という。円筒形の絶縁
物4がイオン源チャンバ6と、真空チャンバ8とを連結
している。イオン源チャンバ6はプラズマを発生する空
間である。これも円筒形の壁面とこれを閉ざす上蓋7か
らなっている。上蓋7にはフィラメント12が挿通して
ある。これは陰極電位にあって通電されることによって
熱電子を発生する。
【0003】上蓋7には原料ガス入口15が設けられ
る。フィラメント12にはフィラメント電源16によっ
て電力が供給される。イオン源チャンバ6とフィラメン
ト12の間にはア−ク電源17が接続される。これによ
ってイオン源チャンバ6とフィラメント12との間にア
−ク放電が引き起こされる。イオン源チャンバ6の他端
フランジ部は絶縁物18を介して大径のフランジ19に
結合される。このフランジ19に加速電極1が固定され
る。フランジ19は前記の円筒形絶縁物4によって真空
チャンバ8の側の連結フランジ20に連結される。連結
フランジ20の内方に斜め向きに円錐支持部21があ
る。この先端に接地電極3が固定される。加速電源22
の正極は前記のア−ク電源17、フィラメント電源16
の一方の極に接続される。加速電源22の正極はさらに
はフランジ19及び加速電極1に接続されこれを高電圧
に維持する。
る。フィラメント12にはフィラメント電源16によっ
て電力が供給される。イオン源チャンバ6とフィラメン
ト12の間にはア−ク電源17が接続される。これによ
ってイオン源チャンバ6とフィラメント12との間にア
−ク放電が引き起こされる。イオン源チャンバ6の他端
フランジ部は絶縁物18を介して大径のフランジ19に
結合される。このフランジ19に加速電極1が固定され
る。フランジ19は前記の円筒形絶縁物4によって真空
チャンバ8の側の連結フランジ20に連結される。連結
フランジ20の内方に斜め向きに円錐支持部21があ
る。この先端に接地電極3が固定される。加速電源22
の正極は前記のア−ク電源17、フィラメント電源16
の一方の極に接続される。加速電源22の正極はさらに
はフランジ19及び加速電極1に接続されこれを高電圧
に維持する。
【0004】前記の円錐支持部21の先には絶縁物23
を介して抑制電極2が取り付けられる。抑制電極2は抑
制電源24によって負電圧が印加される。これは試料か
ら放出された二次電子がイオン源に入るのを防ぐもので
ある。イオン源チャンバ6や真空チャンバ8は高真空に
保持しなければならないので部材の接続箇所にはOリン
グなどの気密部材が設けられる。上蓋7とイオン源チャ
ンバ6のフランジの間にはOリング30が介装される。
イオン源チャンバ6の他のフランジ部と絶縁物18の間
にはOリング31がある。絶縁物18とフランジ19と
の間にはOリング32が設けられる。円筒形の絶縁物4
と、フランジ19及び連結フランジ20の間にはOリン
グ33、34がある。また連結フランジ20と真空チャ
ンバ8の間にもOリング35がある。
を介して抑制電極2が取り付けられる。抑制電極2は抑
制電源24によって負電圧が印加される。これは試料か
ら放出された二次電子がイオン源に入るのを防ぐもので
ある。イオン源チャンバ6や真空チャンバ8は高真空に
保持しなければならないので部材の接続箇所にはOリン
グなどの気密部材が設けられる。上蓋7とイオン源チャ
ンバ6のフランジの間にはOリング30が介装される。
イオン源チャンバ6の他のフランジ部と絶縁物18の間
にはOリング31がある。絶縁物18とフランジ19と
の間にはOリング32が設けられる。円筒形の絶縁物4
と、フランジ19及び連結フランジ20の間にはOリン
グ33、34がある。また連結フランジ20と真空チャ
ンバ8の間にもOリング35がある。
【0005】真空チャンバはイオンビ−ムを照射すべき
試料等が保持されている。このような構造において、フ
ィラメント12とイオン源チャンバ6の間にア−ク放電
が起きる。原料ガスはこれによって励起されてプラズマ
となる。これが加速電極1、抑制電極2、接地電極3の
孔を通過してイオンビ−ムとして引き出される。引き出
されたイオンビ−ムはさまざまの用途に用いられる。
試料等が保持されている。このような構造において、フ
ィラメント12とイオン源チャンバ6の間にア−ク放電
が起きる。原料ガスはこれによって励起されてプラズマ
となる。これが加速電極1、抑制電極2、接地電極3の
孔を通過してイオンビ−ムとして引き出される。引き出
されたイオンビ−ムはさまざまの用途に用いられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図2のイオン源は通常
よく用いられるものである。しかしこれは幾つかの難点
がある。 ひとつは気密部が多くて多数の気密部材を必要とする
ということである。この例でも多数のOリング30〜3
5が用いられている。多くの気密部で真空漏れが起こる
確率が高い。イオン源チャンバ6も真空チャンバ8も内
部がいずれも高真空である。ところがこれらのチャンバ
の外側は直ぐに大気であるからである。これが第1の難
点である。
よく用いられるものである。しかしこれは幾つかの難点
がある。 ひとつは気密部が多くて多数の気密部材を必要とする
ということである。この例でも多数のOリング30〜3
5が用いられている。多くの気密部で真空漏れが起こる
確率が高い。イオン源チャンバ6も真空チャンバ8も内
部がいずれも高真空である。ところがこれらのチャンバ
の外側は直ぐに大気であるからである。これが第1の難
点である。
【0007】装置が小型であれば良いのであるが、大
型化しようとすると中間の絶縁物4を作るのが難しくな
る。イオン源チャンバ6と真空チャンバ8を絶縁する絶
縁物4は円筒形でしかも直径が大きく高さもかなりのも
のである。これは例えばセラミックである。材料を型に
入れ成形して炉の中で加熱して作る。焼き物である。こ
れだけの大きさのものを初めから作らなくてはいけな
い。イオン源の全体が大きくなれば円筒形絶縁物の寸法
も大きくなる。するとこれを成形用の型や焼くための炉
も大きくなくてはならない。またセラミックは焼くこと
により体積が70〜80%に減少する。この減少が必ず
しも空間的に均一でない。ために焼く前に成形する型の
設計が難しい。また焼き物としての歩留りも低い。しか
も絶縁物4は電気的な絶縁の他に気密性を保持するため
の部材でもある。すると端面の平坦度が高精度でなけれ
ばならない。焼結と後加工が極めて難しくなる。大型の
絶縁物がたとえできたとしても大層高価なものになって
しまう。これは、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂によ
って形成しても、略同様の傾向である。
型化しようとすると中間の絶縁物4を作るのが難しくな
る。イオン源チャンバ6と真空チャンバ8を絶縁する絶
縁物4は円筒形でしかも直径が大きく高さもかなりのも
のである。これは例えばセラミックである。材料を型に
入れ成形して炉の中で加熱して作る。焼き物である。こ
れだけの大きさのものを初めから作らなくてはいけな
い。イオン源の全体が大きくなれば円筒形絶縁物の寸法
も大きくなる。するとこれを成形用の型や焼くための炉
も大きくなくてはならない。またセラミックは焼くこと
により体積が70〜80%に減少する。この減少が必ず
しも空間的に均一でない。ために焼く前に成形する型の
設計が難しい。また焼き物としての歩留りも低い。しか
も絶縁物4は電気的な絶縁の他に気密性を保持するため
の部材でもある。すると端面の平坦度が高精度でなけれ
ばならない。焼結と後加工が極めて難しくなる。大型の
絶縁物がたとえできたとしても大層高価なものになって
しまう。これは、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂によ
って形成しても、略同様の傾向である。
【0008】大型のイオン源になるとこのような構造
では組み立て難い。気密部が多く組み立てに細心の注意
を払わなければならないからである。また保守点検の手
数もかかりメンテナンス性が劣る。
では組み立て難い。気密部が多く組み立てに細心の注意
を払わなければならないからである。また保守点検の手
数もかかりメンテナンス性が劣る。
【0009】イオン源チャンバは高電圧が掛かってい
るし途中のフランジ19も加速電圧が掛かっている。こ
れと接地電位にある真空チャンバ8の部分は電圧の差が
大きいので両者の間に広い絶縁距離を取らなくてはなら
ない。すると軸方向に嵩たかいものになる。
るし途中のフランジ19も加速電圧が掛かっている。こ
れと接地電位にある真空チャンバ8の部分は電圧の差が
大きいので両者の間に広い絶縁距離を取らなくてはなら
ない。すると軸方向に嵩たかいものになる。
【0010】高圧部が外部に露出しており危険であ
る。このような難点を解決し、より大型のものにして
も,製作組み立て容易で、より安価安全なイオン源を提
供することが本発明の目的である。
る。このような難点を解決し、より大型のものにして
も,製作組み立て容易で、より安価安全なイオン源を提
供することが本発明の目的である。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のイオン源は、チ
ャンバ間を隔てるべき絶縁物を円筒形としない。この円
筒形の絶縁物の代わりに複数の支柱を用いる。支柱によ
ってイオン源チャンバと真空チャンバを連結する。支柱
を複数本立てるだけでは真空を維持できない。そこでイ
オン源チャンバや絶縁物の全体をさらに大きい外套チャ
ンバでこれらを囲むようにする。外套チャンバが真空を
保持する。イオン源チャンバは最早外部に露出しない。
このためにイオン源チャンバや絶縁物、フランジを接続
する部分に最早気密部材を必要としない。
ャンバ間を隔てるべき絶縁物を円筒形としない。この円
筒形の絶縁物の代わりに複数の支柱を用いる。支柱によ
ってイオン源チャンバと真空チャンバを連結する。支柱
を複数本立てるだけでは真空を維持できない。そこでイ
オン源チャンバや絶縁物の全体をさらに大きい外套チャ
ンバでこれらを囲むようにする。外套チャンバが真空を
保持する。イオン源チャンバは最早外部に露出しない。
このためにイオン源チャンバや絶縁物、フランジを接続
する部分に最早気密部材を必要としない。
【0012】
【作用】本発明では、外套チャンバによってイオン源の
全体を覆い、外套チャンバにより真空を維持するように
している。このためにイオン源チャンバと真空チャンバ
を繋ぐ部分に気密保持できる円筒形の絶縁物を必要とし
ない。かわりに複数の小さい支柱を立てれば良い。寸法
の大きい円筒形セラミックを作るのは極めて難しい。し
かし支柱であればこれを作るのは極めて容易である。セ
ラミック材料の量が少ない。小さいものであるから成形
も簡単である。これを焼くための炉も小さくても良い。
単純な形状でありしかも小さいので焼くことによる減量
も僅かであり計算できる。歩留りが高い。
全体を覆い、外套チャンバにより真空を維持するように
している。このためにイオン源チャンバと真空チャンバ
を繋ぐ部分に気密保持できる円筒形の絶縁物を必要とし
ない。かわりに複数の小さい支柱を立てれば良い。寸法
の大きい円筒形セラミックを作るのは極めて難しい。し
かし支柱であればこれを作るのは極めて容易である。セ
ラミック材料の量が少ない。小さいものであるから成形
も簡単である。これを焼くための炉も小さくても良い。
単純な形状でありしかも小さいので焼くことによる減量
も僅かであり計算できる。歩留りが高い。
【0013】寸法にもよるが、図2に示すような大径の
セラミック円筒の絶縁物を作るにはひとつで数百万円か
かる。大型であるから炉も大きくなくてはならないし材
料費もかさみ歩留りも悪いからである。この円筒の長さ
をL、外径をD2 、内径をD1 とする。本発明ではこれ
を複数の支柱で置き換えようとするのであるから、支柱
の直径dは(D2 −D1 )程度である。長さはLであっ
て良い。d<<D1 、D2 であるから製造が容易なのは
当然である。これも寸法によるが4本または8本使った
ところで絶縁物のコストは極めて安くなる。
セラミック円筒の絶縁物を作るにはひとつで数百万円か
かる。大型であるから炉も大きくなくてはならないし材
料費もかさみ歩留りも悪いからである。この円筒の長さ
をL、外径をD2 、内径をD1 とする。本発明ではこれ
を複数の支柱で置き換えようとするのであるから、支柱
の直径dは(D2 −D1 )程度である。長さはLであっ
て良い。d<<D1 、D2 であるから製造が容易なのは
当然である。これも寸法によるが4本または8本使った
ところで絶縁物のコストは極めて安くなる。
【0014】支柱では真空を維持できないからイオン源
チャンバの全体を外套チャンバによって囲む。これによ
って真空を維持する。真空シ−ル部の箇所が減るのでリ
−クの惧れが少ない。また組み立てや保守点検が容易に
なる。又全体を外套チャンバによって囲むから、高電圧
部が露出しない。ために安全性も向上する。
チャンバの全体を外套チャンバによって囲む。これによ
って真空を維持する。真空シ−ル部の箇所が減るのでリ
−クの惧れが少ない。また組み立てや保守点検が容易に
なる。又全体を外套チャンバによって囲むから、高電圧
部が露出しない。ために安全性も向上する。
【0015】
【実施例】図1によって本発明の実施例を説明する。イ
オン源の電極は従来のものと同様である。初めに加速電
極1、次に抑制電極2、最後に接地電極3が設けられ
る。イオン源をなす容器は円筒形のイオン源チャンバ6
と上蓋7である。イオン源の前方に試料を設置すべき空
間である真空チャンバ8がある。この例では加速電極1
はイオン源チャンバ6の方に取り付けられ、その他の電
極2、3は真空チャンバの方に取り付けられている。イ
オン源チャンバ6と真空チャンバ8の上のフランジ20
を結合するものは複数のセラミック支柱5である。図3
は支柱部分の横断面図を示す。図4は従来の(図2に示
す)円筒形の絶縁物の部分の横断面図である。両者を比
較すれば円筒絶縁物に比べて支柱の小さいことが良く分
かる。
オン源の電極は従来のものと同様である。初めに加速電
極1、次に抑制電極2、最後に接地電極3が設けられ
る。イオン源をなす容器は円筒形のイオン源チャンバ6
と上蓋7である。イオン源の前方に試料を設置すべき空
間である真空チャンバ8がある。この例では加速電極1
はイオン源チャンバ6の方に取り付けられ、その他の電
極2、3は真空チャンバの方に取り付けられている。イ
オン源チャンバ6と真空チャンバ8の上のフランジ20
を結合するものは複数のセラミック支柱5である。図3
は支柱部分の横断面図を示す。図4は従来の(図2に示
す)円筒形の絶縁物の部分の横断面図である。両者を比
較すれば円筒絶縁物に比べて支柱の小さいことが良く分
かる。
【0016】支柱5の一端はイオン源チャンバ6のフラ
ンジ19に結合する。支柱5の他端は真空チャンバ8側
のフランジ20に固結される。フランジ20のイオン源
側の面には円錐支持部21がありこの先端には抑制電極
2と、加速電極1が取り付けられる。これは図2に示し
たものと同様である。但しこれはフィラメントを使うイ
オン源ではなく、高周波放電を利用してプラズマを生成
する例である。本発明はどのような放電励起機構を持つ
イオン源にも適用できる。
ンジ19に結合する。支柱5の他端は真空チャンバ8側
のフランジ20に固結される。フランジ20のイオン源
側の面には円錐支持部21がありこの先端には抑制電極
2と、加速電極1が取り付けられる。これは図2に示し
たものと同様である。但しこれはフィラメントを使うイ
オン源ではなく、高周波放電を利用してプラズマを生成
する例である。本発明はどのような放電励起機構を持つ
イオン源にも適用できる。
【0017】イオン源チャンバ6と上蓋7との間にRF
電源41が接続されこれによってRF放電が引き起こさ
れる。チャンバ6と上蓋7とは絶縁物43によって絶縁
される。本発明の最も特徴的な構造物は大きくイオン源
チャンバを覆う外套チャンバ9である。これが内部の真
空を維持している。外套チャンバ9の蓋10を貫いて原
料ガス導入管42が設けられる。これはさらに内部の上
蓋7を貫いてイオン源チャンバ6の内部に原料ガスを供
給できる。外套チャンバ9の側方の一箇所には大きい開
口44とこれの外縁をなすフランジ45がある。このフ
ランジ45には、円板状のフィ−ドスル−13が取り付
けられる。これは外部の電源から、内部の電極に電流を
流すためのものである。RF電源41、加速電源22、
抑制電源24からの電線がフィ−ドスル−13をとおし
て内部の電極に接続される。
電源41が接続されこれによってRF放電が引き起こさ
れる。チャンバ6と上蓋7とは絶縁物43によって絶縁
される。本発明の最も特徴的な構造物は大きくイオン源
チャンバを覆う外套チャンバ9である。これが内部の真
空を維持している。外套チャンバ9の蓋10を貫いて原
料ガス導入管42が設けられる。これはさらに内部の上
蓋7を貫いてイオン源チャンバ6の内部に原料ガスを供
給できる。外套チャンバ9の側方の一箇所には大きい開
口44とこれの外縁をなすフランジ45がある。このフ
ランジ45には、円板状のフィ−ドスル−13が取り付
けられる。これは外部の電源から、内部の電極に電流を
流すためのものである。RF電源41、加速電源22、
抑制電源24からの電線がフィ−ドスル−13をとおし
て内部の電極に接続される。
【0018】蓋10は外套チャンバ9の胴部にOリング
51を介して装着される。また外套チャンバ9とフラン
ジ20との間にもOリング52が設けられる。さらにフ
ランジ20と真空チャンバ8の間にもOリング53があ
る。前記開口44に取り付けたフィ−ドスル−13とフ
ランジ45の間にもOリング54が設けられる。外套チ
ャンバ9は接地電位とする。高圧部が外部に露出しな
い。外套チャンバ9とその蓋10及び真空チャンバ8等
の外部に露出した部分は全て接地電位である。極めて安
全である。また外套チャンバ9と内部のイオン源チャン
バ6との間には高い電圧が掛かっている。しかしここは
真空であり窒素など低圧の気体が存在するだけであるか
ら絶縁耐圧が大気中よりも高い。
51を介して装着される。また外套チャンバ9とフラン
ジ20との間にもOリング52が設けられる。さらにフ
ランジ20と真空チャンバ8の間にもOリング53があ
る。前記開口44に取り付けたフィ−ドスル−13とフ
ランジ45の間にもOリング54が設けられる。外套チ
ャンバ9は接地電位とする。高圧部が外部に露出しな
い。外套チャンバ9とその蓋10及び真空チャンバ8等
の外部に露出した部分は全て接地電位である。極めて安
全である。また外套チャンバ9と内部のイオン源チャン
バ6との間には高い電圧が掛かっている。しかしここは
真空であり窒素など低圧の気体が存在するだけであるか
ら絶縁耐圧が大気中よりも高い。
【0019】
【発明の効果】本発明のイオン源は従来のイオン源とは
違い高圧で真空であるべきチャンバを全て外套チャンバ
によって覆ってしまっている。シ−ルすべき箇所が少な
くなり真空漏れの可能性が少なくなる。また内部のイオ
ン源チャンバは気密保持の必要が無くOリングなどを付
ける必要がない。気密保持して結合すべき箇所が減る。
ために組み立てや分解は極めて容易になる。
違い高圧で真空であるべきチャンバを全て外套チャンバ
によって覆ってしまっている。シ−ルすべき箇所が少な
くなり真空漏れの可能性が少なくなる。また内部のイオ
ン源チャンバは気密保持の必要が無くOリングなどを付
ける必要がない。気密保持して結合すべき箇所が減る。
ために組み立てや分解は極めて容易になる。
【0020】特筆すべきことは、円筒形の絶縁物が不要
になるということである。外套チャンバがイオン源チャ
ンバを囲むので、絶縁物に真空を維持するという機能が
課されない。ために複数の小さい支柱でこれを置き換え
ることがきる。セラミックで絶縁物を作るが、大きい円
筒形状のものを製作するためには炉自体を大きくしなけ
ればならない。また焼くことによって不均等に減量する
ので形状が初期のものから異なってくる。面精度を高め
るため研磨しなければならない。材料費、設備費が嵩む
し歩留りも悪いから寸法の大きい円筒形状の絶縁物は極
めて高額のものになる。しかし本発明では複数の小径の
支柱を用いれば良い。材料費は少なく製造は容易で歩留
りも高いので絶縁物の価額が著しく低減する。この利点
は大きいイオン源を作ろうとする時に特に顕著なものと
なる。
になるということである。外套チャンバがイオン源チャ
ンバを囲むので、絶縁物に真空を維持するという機能が
課されない。ために複数の小さい支柱でこれを置き換え
ることがきる。セラミックで絶縁物を作るが、大きい円
筒形状のものを製作するためには炉自体を大きくしなけ
ればならない。また焼くことによって不均等に減量する
ので形状が初期のものから異なってくる。面精度を高め
るため研磨しなければならない。材料費、設備費が嵩む
し歩留りも悪いから寸法の大きい円筒形状の絶縁物は極
めて高額のものになる。しかし本発明では複数の小径の
支柱を用いれば良い。材料費は少なく製造は容易で歩留
りも高いので絶縁物の価額が著しく低減する。この利点
は大きいイオン源を作ろうとする時に特に顕著なものと
なる。
【0021】また外套チャンバで一括してイオン源チャ
ンバを囲むので、シ−ル構造が単純化される。当然真空
漏れの可能性も少なくなる。信頼性の高いイオン源装置
となる。また外部に高電圧部が露出しない。露出した部
分は全て接地電位である。ために極めて安全性が高いと
共に、この種装置のコンパクト化を図ることができる。
大型のイオン源を設計製造しようとする場合本発明のイ
オン源が最適である。
ンバを囲むので、シ−ル構造が単純化される。当然真空
漏れの可能性も少なくなる。信頼性の高いイオン源装置
となる。また外部に高電圧部が露出しない。露出した部
分は全て接地電位である。ために極めて安全性が高いと
共に、この種装置のコンパクト化を図ることができる。
大型のイオン源を設計製造しようとする場合本発明のイ
オン源が最適である。
【図1】本発明の実施例に係るイオン源の縦断面図。
【図2】従来例によるイオン源の縦断面図。
【図3】図1のイオン源の絶縁物の部分の横断面図。
【図4】図2のイオン源の絶縁物の部分の横断面図。
1 加速電極 2 抑制電極 3 接地電極 4 円筒状絶縁物 5 絶縁支柱 6 イオン源チャンバ 7 上蓋 8 真空チャンバ 9 外套チャンバ 10 蓋 12 フィラメント 13 フィ−ドスル− 14 抜き穴 15 原料ガス入口 16 フィラメント電源 17 ア−ク電源 18 絶縁物 19 フランジ 20 フランジ 22 加速電源 23 絶縁物 24 抑制電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村坂 英輔 京都市右京区梅津高畝町47番地日新電機株 式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 内部に原料ガスを導入しこれを放電によ
って励起しプラズマとする空間であるイオン源チャンバ
と、イオン源チャンバの出口に設けられイオンビ−ムを
引き出すための引出電極系と、引き出されたイオンビ−
ムを試料の処理に用いるための真空チャンバと、イオン
源チャンバと真空チャンバを絶縁しつつ連結するための
複数本の絶縁支柱と、イオン源チャンバを囲み真空チャ
ンバに固結され、内部を真空に引くことのできる外套チ
ャンバよりなり、イオン源チャンバおよび引出電極系に
は高電圧が印加されるが、外套チャンバは接地されてい
ることを特徴とするイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4162102A JPH05325809A (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4162102A JPH05325809A (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | イオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05325809A true JPH05325809A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=15748095
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4162102A Pending JPH05325809A (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05325809A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010531529A (ja) * | 2007-06-25 | 2010-09-24 | バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド | トリプルジャンクション破壊に起因するイオン注入装置における不安定性を防ぐ高圧絶縁装置 |
-
1992
- 1992-05-27 JP JP4162102A patent/JPH05325809A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010531529A (ja) * | 2007-06-25 | 2010-09-24 | バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド | トリプルジャンクション破壊に起因するイオン注入装置における不安定性を防ぐ高圧絶縁装置 |
| KR101446187B1 (ko) * | 2007-06-25 | 2014-10-01 | 베리안 세미콘덕터 이큅먼트 어소시에이츠, 인크. | 삼중점 파괴로 인한 이온 주입기에서의 불안정성을 방지하기 위한 고전압 절연체 |
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