JPH0532904B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0532904B2 JPH0532904B2 JP57199091A JP19909182A JPH0532904B2 JP H0532904 B2 JPH0532904 B2 JP H0532904B2 JP 57199091 A JP57199091 A JP 57199091A JP 19909182 A JP19909182 A JP 19909182A JP H0532904 B2 JPH0532904 B2 JP H0532904B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- groove
- rotating shaft
- rotation
- guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/50—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for positioning, orientation or alignment
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は半導体装置の製造に使用されるウエハ
ー整列方法及びその整列装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wafer alignment method and an alignment apparatus used for manufacturing semiconductor devices.
[発明の技術的背景とその問題点]
半導体装置の製造においては、加熱炉内で弦部
(オリエンテーシヨンフラツト・以下OFと略す)
を有する薄円板状の半導体ウエハーの表面を酸化
させたり、表面に不純物を拡散させたりする熱処
理工程が行われる。この工程ではウエハーをボー
トと呼ばれる、熱処理用ウエハー保持具に収納し
一度に多枚数の処理が行われる。しかし、この時
OFがばらばらの位置にあると、ウエハーのボー
ト上での高さがまちまちとなり、ウエハー全面で
の均一な熱処理が行われないため、不良となるチ
ツプ数が多くなる。そこで熱処理工程を行う場合
は、ウエハーのOFを揃えてボート上に配置する
ことが必要である。[Technical background of the invention and its problems] In the manufacturing of semiconductor devices, a string section (orientation flat, hereinafter abbreviated as OF) is
A heat treatment process is performed to oxidize the surface of a thin disk-shaped semiconductor wafer having a wafer and to diffuse impurities into the surface. In this process, wafers are stored in a wafer holder for heat treatment called a boat, and a large number of wafers are processed at once. But at this time
If the OFs are in different positions, the heights of the wafers on the boat will vary, and the heat treatment will not be uniform across the wafers, increasing the number of chips that will be defective. Therefore, when performing a heat treatment process, it is necessary to align the OFs of the wafers and place them on the boat.
従来、この作業はピンセツトまたはバキユーム
ピンセツトでウエハーをチヤツクして、OFを目
視で揃えて行われていた。 Conventionally, this work was performed by checking the wafer with tweezers or vacuum tweezers and visually aligning the OF.
しかし、この方法は手作業のため作業性が悪
く、また、作業中誤つてウエハーに傷をつけてし
まう恐れもあつた。 However, this method has poor workability because it is manual work, and there is also the risk of accidentally damaging the wafer during the process.
そこで、この作業を簡単にするため、本出願人
はすでに特願昭56−71683号を出願している。前
記発明は、ウエハーをキヤリアからボートに、
OFを揃えて移し替える作業を自動的に行うもの
であるが、その概略は以下の通りである。回転軸
を、その円周部の一部を露出させてブロツク部に
埋め込む。この回転軸にウエハーをのせ、回転軸
を回転させる。ウエハーの回転はOFがブロツク
部に当つた時、止まるための適切な時間、回転軸
を回転させてやれば、OFを揃えることができる。
このとき、ウエハーは、回転軸上方に配置された
ガイドにより回転軸方向の位置間隔が保たれてい
るのであるが、ウエハーの回転につれて、回転軸
上の位置は徐々にずれてくる場合が多かつた。こ
のため次の工程でウエハーをボートに収容する際
ボートの溝にウエハーが円滑に入らないことが多
く、ウエハーに損傷を与えることがあつた。 Therefore, in order to simplify this work, the present applicant has already filed Japanese Patent Application No. 1983-71683. Said invention transfers wafers from a carrier to a boat;
The work of arranging and transferring OFs is performed automatically, and the outline is as follows. A rotating shaft is embedded in a block part with a part of its circumference exposed. A wafer is placed on this rotating shaft and the rotating shaft is rotated. When the wafer is rotated, the OF can be aligned by rotating the rotating shaft for an appropriate amount of time to stop when the OF hits the block.
At this time, the wafer's positional spacing in the direction of the rotation axis is maintained by a guide placed above the rotation axis, but as the wafer rotates, the position on the rotation axis often shifts gradually. Ta. For this reason, when the wafers are placed in the boat in the next step, the wafers often do not fit smoothly into the grooves of the boat, resulting in damage to the wafers.
[発明の目的]
本発明は前記のような欠点を鑑みてなされたも
のであり、ウエハーを損傷させることなく、円滑
にウエハー保持具に移し替えることができるよう
ウエハーの回転軸方向の位置を制御しつつOFを
揃えることを目的とする。[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks, and it is an object of the present invention to control the position of the wafer in the rotational axis direction so that the wafer can be smoothly transferred to the wafer holder without damaging the wafer. The purpose is to align the OF while doing so.
[発明の概要と効果]
ウエハーをその周囲部を支持すべく回転軸に設
けられた溝の上に配置する。次に回転軸を回転さ
せるとウエハーは回転軸との摩擦により回転し、
暫時経過すると、ウエハーのOFが、回転軸側方
に配置される止め機構に当接し、ウエハーの回転
を止めることによりウエハーが整列される。この
際、ウエハーは溝により支持されているため、ウ
エハー間隔は一定に保持される。このため、ウエ
ハーをウエハー保持具等に移し替える際、ウエハ
ーに損傷が加わることはなく、円滑な移し替えを
行うことができる。[Summary and Effects of the Invention] A wafer is placed on a groove provided in a rotating shaft to support the periphery of the wafer. Next, when the rotating shaft is rotated, the wafer rotates due to friction with the rotating shaft.
After a while, the OF of the wafer comes into contact with a stop mechanism arranged on the side of the rotation axis, and the rotation of the wafer is stopped, thereby aligning the wafer. At this time, since the wafers are supported by the grooves, the wafer spacing is maintained constant. Therefore, when transferring the wafer to a wafer holder or the like, the wafer is not damaged, and the transfer can be performed smoothly.
[発明の実施例]
本発明の一実施例を図を用いて説明する。まず
第1図、第2図により整列装置を説明する。[Embodiment of the Invention] An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the alignment device will be explained with reference to FIGS. 1 and 2.
ボート1は複数の第二の溝を有する2本の円柱
1a,1bと、その下方に固着される2本の円柱
1c,1dと、これら4本の円柱を平行に保持す
るために、1a,1bの2本の一端付近に固着さ
れる円柱1eと、1a,1bの2本の円柱の他端
及びその近傍に固着される2本の円柱1f,1g
とから成る。なお、2本の円柱1a,1bの第二
の溝は、同一ピツチで設けられ、その位置は互い
に対応しており、かつ内側に向け傾斜している。 The boat 1 includes two cylinders 1a and 1b having a plurality of second grooves, two cylinders 1c and 1d fixed below them, and 1a, 1b to hold these four cylinders in parallel. A cylinder 1e fixed near one end of the two cylinders 1b, and two cylinders 1f and 1g fixed to the other ends of the two cylinders 1a and 1b and their vicinity.
It consists of The second grooves of the two cylinders 1a and 1b are provided at the same pitch, their positions correspond to each other, and they are inclined inward.
前記ボート1は中空部を有し、周囲に囲みが設
けられた受台2上に載置されている。上部が平面
となつているブロツク部3を前記受台2の中空部
に対して挿脱自在に配設する。この挿脱は、ブロ
ツク部3の下方に伸びる支持棒3aを垂直方向に
動かすことにより行う。 The boat 1 has a hollow part and is placed on a pedestal 2 having a surrounding area. A block part 3 having a flat upper part is arranged to be freely insertable and removable in the hollow part of the pedestal 2. This insertion/removal is performed by vertically moving the support rod 3a extending below the block portion 3.
前記ブロツク部3に複数の第一の溝を有する回
転軸4をその円周部の一部が露出するように埋設
する。この回転軸4に設けられている第一の溝
は、ボート1の第二の溝と同一ピツチであり、そ
の幅はボート1の2本の円柱1a,1bの第二の
溝幅よりも狭い。埋設の程度は回転軸4の第一の
溝の最頂部が、ブロツク部3の上面よりもわずか
に上方になるようにする。 A rotary shaft 4 having a plurality of first grooves is buried in the block portion 3 so that a part of its circumference is exposed. The first groove provided on the rotating shaft 4 has the same pitch as the second groove on the boat 1, and its width is narrower than the second groove width on the two cylinders 1a and 1b of the boat 1. . The degree of embedding is such that the top of the first groove of the rotating shaft 4 is slightly above the upper surface of the block part 3.
前記ボートの第二の溝を有する2本の円柱1
a,1bそれぞれの上方には、ウエハーの円周部
を保持するための第三の溝を有する2つのガイド
5,6が設けられている。2つのガイド5,6
は、その間隔を変えることができるように水平方
向に移動可能になつている。またこれらに設けら
れている第三の溝はボート1の第二の溝と同一ピ
ツチであり、第三の溝の位置が回転軸の第一の溝
と対応した位置になるように2つのガイド5,6
は配置される。 Two cylinders 1 with a second groove of the boat
Two guides 5 and 6 each having a third groove for holding the circumferential portion of the wafer are provided above each of guides 5 and 1b. two guides 5, 6
are horizontally movable so that their spacing can be changed. Also, the third groove provided in these has the same pitch as the second groove of the boat 1, and the two guides are arranged so that the position of the third groove corresponds to the first groove of the rotating shaft. 5,6
is placed.
なお、支持棒3a及び2つのガイド5,6の動
力部は省略した。 Note that the power parts of the support rod 3a and the two guides 5 and 6 are omitted.
次に第2図、第3図、第4図を用いて動作を説
明する。 Next, the operation will be explained using FIGS. 2, 3, and 4.
まず、受台2に付設するボート1の第二の溝の
位置が、ブロツク部3に埋設された回転軸4の第
一の溝に対応するようにボート1を固定する。回
転軸4の上面をボート1の上端とほぼ同じ高さに
なるように位置させる。さらに2つのガイド5,
6の間隔をウエハーを保持するのに適切な間隔に
する。 First, the boat 1 is fixed so that the second groove of the boat 1 attached to the pedestal 2 corresponds to the first groove of the rotating shaft 4 embedded in the block part 3. The upper surface of the rotating shaft 4 is located at almost the same height as the upper end of the boat 1. Two more guides 5,
6 is the appropriate spacing to hold the wafer.
次にウエハーを2つのガイド5,6の対応した
位置の各第三の溝へ挿入する。すると、ウエハー
はガイドの第三の溝に案内され、回転軸4の対応
した位置の第一の溝に納まる。(第2図)
なお、この時OF8がどの位置になるかは不定
である。又、OF8が回転軸上にない場合、ウエ
ハーとブロツク部3は当接しないようにブロツク
部3は当接しないようにブロツク部3が配置され
ている。 Next, the wafer is inserted into each third groove of the two guides 5, 6 at corresponding positions. Then, the wafer is guided into the third groove of the guide and is placed in the first groove of the rotating shaft 4 at the corresponding position. (Figure 2) Note that the position of OF8 at this time is uncertain. Further, when the OF 8 is not on the rotation axis, the block part 3 is arranged so that the wafer and the block part 3 do not come into contact with each other.
次に、回転軸4をたとえば第2図において向つ
て右回りに回転させる。するとウエハー7は回転
軸4の第一の溝との摩擦力により左回りの回転を
始める。暫時経過すると、OF端8aが回転軸4
を通過し、その後OF端8bがブロツク部3に当
り、ウエハー7は回転を止める。(第3図)つま
りブロツク部3は止め機構として働く。又回転軸
4はこの後も回転を続け、全てのウエハーのOF
端8bがブロツク部3に当り回転を止めるまで回
転させる。そして、所定時間経過後回転軸4の回
転を止める。回転軸4を回転させる時間は、ウエ
ハー7と同じ直径を持つ円板が1.5回転する程度
の時間とすれば充分である。このようにすれば、
第2図の状態において、OF8の位置がどこにあ
るウエハーも、回転軸4の回転が止つた時には第
3図のごとくそのOF8が揃つた状態となつてい
る。このOF8を揃える動作中ウエハー7の回転
軸方向の位置は回転軸4に第一の溝が設けてある
ため、ずれることはなく、所定の位置に保たれ
る。 Next, the rotating shaft 4 is rotated, for example, clockwise in FIG. 2. Then, the wafer 7 starts to rotate counterclockwise due to the frictional force with the first groove of the rotating shaft 4. After a while, the OF end 8a moves to the rotating shaft 4.
After that, the OF end 8b hits the block part 3, and the wafer 7 stops rotating. (FIG. 3) In other words, the block portion 3 functions as a stopping mechanism. Also, the rotating shaft 4 continues to rotate after this, and the OF of all wafers is
Rotate until the end 8b hits the block part 3 and stops rotating. Then, after a predetermined period of time has elapsed, the rotation of the rotating shaft 4 is stopped. It is sufficient that the rotation shaft 4 is rotated for 1.5 rotations of a disk having the same diameter as the wafer 7. If you do this,
In the state shown in FIG. 2, no matter where the OF8 is located on the wafer, when the rotation of the rotating shaft 4 stops, the OF8 will be aligned as shown in FIG. During the operation of aligning the OF 8, the position of the wafer 7 in the direction of the rotation axis does not shift because the rotation axis 4 is provided with the first groove, and is maintained at a predetermined position.
次にブロツク部3をゆつくりと降下させる。ウ
エハー7は、ブロツク部3と回転軸4により支持
されているため、ブロツク部3の降下と共に降下
する。やがて、ウエハー7の円周部が2つのガイ
ド5,6、回転軸4の第三の溝、第一の溝に対応
した位置のボート1の第二の溝に入り、ウエハー
7はブロツク部3と回転軸4による支持から離
れ、ボート1により支持されるようになる。この
時、回転軸の第一の溝はボートの第二の溝よりも
その幅を狭く形成させているため、ウエハーは円
滑にボートの第二の溝に収納される。(第4図)
最後に、ガイド5,6を水平方向に移動してガ
イド間の間隔を広げ、ボート1を取り出す。 Next, the block part 3 is slowly lowered. Since the wafer 7 is supported by the block part 3 and the rotating shaft 4, it descends as the block part 3 descends. Eventually, the circumference of the wafer 7 enters the two guides 5 and 6, the third groove of the rotating shaft 4, and the second groove of the boat 1 at a position corresponding to the first groove, and the wafer 7 enters the block portion 3. Then, it is separated from the support by the rotating shaft 4 and comes to be supported by the boat 1. At this time, since the width of the first groove of the rotating shaft is narrower than that of the second groove of the boat, the wafer is smoothly accommodated in the second groove of the boat. (FIG. 4) Finally, the guides 5 and 6 are moved horizontally to widen the gap between them, and the boat 1 is taken out.
前記の実施例においては止め機構として、ブロ
ツク部を用いたが、この他、回転軸側方に、回転
軸と平行に棒を配設し、止め機構としてもよい。
また、受台を駆動してウエハーをボートに収納す
ることも可能である。 In the embodiment described above, a block portion was used as the stopping mechanism, but in addition to this, a bar may be disposed on the side of the rotating shaft in parallel with the rotating shaft to serve as the stopping mechanism.
It is also possible to drive the pedestal and store the wafers in the boat.
さらに前記実施例は、複数のウエハーを一度に
整列させるものであつたが、これを1枚のみのウ
エハーを扱う装置に応用することも容易に行え
る。 Furthermore, although the embodiment described above was for aligning a plurality of wafers at once, this can easily be applied to an apparatus that handles only one wafer.
第1図は本発明の一実施例の装置を示す平面
図、第2図、第3図、第4図は本装置作動中のA
−A′断面図である。
1……ボート、2……受台、3……ブロツク
部、3a……支持棒、5……ガイド、6……ガイ
ド、7……ウエハー、8……OF。
FIG. 1 is a plan view showing a device according to an embodiment of the present invention, and FIGS.
-A' sectional view. 1...boat, 2...cradle, 3...block, 3a...support rod, 5...guide, 6...guide, 7...wafer, 8...OF.
Claims (1)
一定ピツチに形成された複数の第一の溝を有する
回転軸の上面を、前記第一の溝と同一ピツチで、
且つ溝幅が第一の溝幅以上に形成された第二の溝
を有するウエハー保持具の上端とほぼ同じ高さに
なるように位置させ、前記第一の溝と同一ピツチ
に形成された第三の溝を有し、ウエハーの円周部
を保持するためのガイドを前記ウエハー保持具の
上方に位置させ、且つ前記第一の溝、第二の溝及
び第三の溝を互いに対応するように位置させる工
程と、 一部に弦部を有する薄円板状のウエハーを前記
ガイドの第三の溝及び前記回転軸の第一の溝内に
挿入し、前記ガイド及び前記回転軸にて前記ウエ
ハーを支持する工程と、 前記回転軸を回転させることにより、ウエハー
の円周部を回転軸の第一の溝に接触して前記ウエ
ハーを回転させる工程と、 前記ウエハーの弦部が回転軸を通過し前記止め
機構の上面に接触した時、前記ウエハーの回転を
止める工程と、 その後、回転軸の回転を止める工程と、 前記止め機構及び前記回転軸を前記ウエハーか
ら離脱させ、前記ウエハーの円周部を前記ウエハ
ー保持具の第二の溝に挿入し、前記ガイド及び前
記ウエハー保持具によりウエハーを保持させる工
程とを具備することを特徴とするウエハー整列方
法。 2 一部に弦部を有する薄円板状の複数のウエハ
ーを支持するための一定ピツチに形成された複数
の第一の溝を有し上下に移動可能な回転軸と、 前記回転軸の側方に配置され、前記ウエハーの
弦部が回転軸を通過し、その上面に接触した時、
その回転を止める上下に移動可能な止め機構と、 前記止め機構の側方に配置され、回転軸の第一
の溝と同一ピツチで、且つその溝幅が第一の溝幅
以上に形成されて、且つ第一の溝と対応する第二
の溝を有するウエハー保持具と、 前記ウエハー保持具上方に位置し、且つ回転軸
の第一の溝と同一ピツチで、第一の溝及び第二の
溝と対応し前記ウエハーの円周部を保持するため
の第三の溝を有するガイドと、 前記回転軸上に支持されているウエハーをウエ
ハー保持具に収納するために前記回転軸及び止め
機構との位置関係を変化させる駆動機構とを具備
することを特徴とするウエハー整列装置。 3 凹陥部を有し、前記凹陥部に回転軸がその円
周部の一部が露出された状態で埋め込まれている
ブロツク部を止め機構として用いることを特徴と
する請求項2記載のウエハー整列装置。[Scope of Claims] 1. The upper surface of a rotating shaft having a plurality of first grooves embedded in a vertically movable stop mechanism and formed at a constant pitch, at the same pitch as the first grooves,
The wafer holder is positioned at approximately the same height as the upper end of the wafer holder having a second groove formed with a groove width greater than or equal to the first groove width, and a second groove formed at the same pitch as the first groove. A guide having three grooves for holding the circumference of the wafer is positioned above the wafer holder, and the first groove, second groove and third groove are arranged to correspond to each other. Inserting a thin disc-shaped wafer having a chord part in a part into the third groove of the guide and the first groove of the rotating shaft, and positioning the wafer in the direction of the guide and the rotating shaft. a step of supporting the wafer; a step of rotating the wafer by rotating the rotation shaft so that a circumferential portion of the wafer contacts a first groove of the rotation shaft; stopping the rotation of the wafer when the wafer passes through and comes into contact with the top surface of the stop mechanism; thereafter, stopping the rotation of the rotation shaft; and removing the stop mechanism and the rotation shaft from the wafer, and the rotation of the wafer is stopped. A wafer alignment method comprising the step of inserting a peripheral portion into a second groove of the wafer holder and holding the wafer by the guide and the wafer holder. 2. A vertically movable rotating shaft having a plurality of first grooves formed at a constant pitch for supporting a plurality of thin disc-shaped wafers each having a chord part; and a side of the rotating shaft. When the chord part of the wafer passes through the rotation axis and comes into contact with the upper surface of the wafer,
a vertically movable stop mechanism that stops the rotation; and a stop mechanism disposed on the side of the stop mechanism, the groove width being formed at the same pitch as the first groove of the rotating shaft and having a groove width greater than or equal to the first groove width. , and a wafer holder having a second groove corresponding to the first groove; a guide having a third groove corresponding to the groove and for holding the circumferential portion of the wafer; and a guide having a third groove for holding the circumferential portion of the wafer; and the rotation shaft and a stop mechanism for storing the wafer supported on the rotation shaft in a wafer holder. A wafer alignment device comprising: a drive mechanism that changes the positional relationship of the wafers; 3. The wafer alignment according to claim 2, wherein a block portion having a recessed portion and a rotating shaft embedded in the recessed portion with a part of its circumference exposed is used as a stopping mechanism. Device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57199091A JPS5989432A (en) | 1982-11-15 | 1982-11-15 | Method for wafer alignment and device thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57199091A JPS5989432A (en) | 1982-11-15 | 1982-11-15 | Method for wafer alignment and device thereof |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5989432A JPS5989432A (en) | 1984-05-23 |
| JPH0532904B2 true JPH0532904B2 (en) | 1993-05-18 |
Family
ID=16401956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57199091A Granted JPS5989432A (en) | 1982-11-15 | 1982-11-15 | Method for wafer alignment and device thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5989432A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100226489B1 (en) * | 1996-12-28 | 1999-10-15 | 김영환 | Wafer Support and Transfer Mechanism |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5245155Y2 (en) * | 1973-06-08 | 1977-10-14 | ||
| JPS53117977A (en) * | 1977-03-25 | 1978-10-14 | Hitachi Ltd | Datum level direction aligner |
-
1982
- 1982-11-15 JP JP57199091A patent/JPS5989432A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5989432A (en) | 1984-05-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5340359B2 (en) | High-speed exchange station for wafer transfer | |
| JP2812642B2 (en) | Wafer alignment machine | |
| JPS6336137B2 (en) | ||
| CA2331079A1 (en) | Method and device for changing a semiconductor wafer position | |
| TW470681B (en) | Abrasive system | |
| JPH0573346B2 (en) | ||
| JP4275420B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
| JP4601130B2 (en) | Teaching apparatus and method for wafer handling robot | |
| JPH0790910B2 (en) | Wafer transfer device | |
| JPH0532904B2 (en) | ||
| US6196906B1 (en) | Surface polishing apparatus and method of taking out workpiece | |
| JP5001064B2 (en) | Chuck table mechanism | |
| JPH02122541A (en) | Transfer device for semiconductor wafer | |
| JPH05235147A (en) | Substrate transferring apparatus | |
| JPH041150Y2 (en) | ||
| JP4338286B2 (en) | Transfer type cutting machine | |
| EP1004400A1 (en) | Method for polishing a notch of a wafer | |
| CN224137617U (en) | An exposure machine conveyor platform with dual-station alternating exposure. | |
| JP7762625B2 (en) | Expanding device and method for manufacturing semiconductor chips | |
| JP3663480B2 (en) | Semiconductor wafer notch aligner | |
| JPS607487Y2 (en) | Pellet peeling device | |
| JPH09246357A (en) | Semiconductor wafer simultaneous orientation method and its device | |
| JPS62136439A (en) | Plate takeout device | |
| JPH03148154A (en) | Wafer positioning device | |
| JPS6126235A (en) | Wafer replacement device |