JPH05333152A - 傾き計測装置 - Google Patents
傾き計測装置Info
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- JPH05333152A JPH05333152A JP16531892A JP16531892A JPH05333152A JP H05333152 A JPH05333152 A JP H05333152A JP 16531892 A JP16531892 A JP 16531892A JP 16531892 A JP16531892 A JP 16531892A JP H05333152 A JPH05333152 A JP H05333152A
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- Japan
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- light
- light emitting
- measuring device
- emitting elements
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、平面等の傾きを計測する傾き計測
装置に関するものであり、製造作業が容易で、計測精度
のよい小型、軽量な傾き計測装置を提供することを目的
とする。 【構成】 傾きを計測する対象の計測面２３に対して出
力光を照射する複数の発光素子２０1 〜２０n であって
互いに離間して配置されたものと、計測面２３からの反
射光を受光する光検出部２１とを備え、これら複数の発
光素子２０1 〜２０n を順次に発光させて光検出部２１
でその反射光を受光することで、各発光素子２０1 〜２
０n と計測平面２３との距離をそれぞれ計測して計測面
２３の傾きを求めるよう構成されたものである。
装置に関するものであり、製造作業が容易で、計測精度
のよい小型、軽量な傾き計測装置を提供することを目的
とする。 【構成】 傾きを計測する対象の計測面２３に対して出
力光を照射する複数の発光素子２０1 〜２０n であって
互いに離間して配置されたものと、計測面２３からの反
射光を受光する光検出部２１とを備え、これら複数の発
光素子２０1 〜２０n を順次に発光させて光検出部２１
でその反射光を受光することで、各発光素子２０1 〜２
０n と計測平面２３との距離をそれぞれ計測して計測面
２３の傾きを求めるよう構成されたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、平面等の傾きを計測す
る傾き計測装置に関するものである。近年、ロボットに
よる作業が盛んに行われるようになっているが、作業対
象のワークの位置が未知であるような場合、遠隔操作あ
るいはワークの自動位置決めなどを行うためには、その
ワークの位置・姿勢などを距離センサ等の各種センサ情
報に基づいて求める必要がある。このため、例えばロボ
ットのハンドに非接触式の計測装置を取り付けてこの計
測装置によりワークまでの距離や傾きなどを計測してい
る。
る傾き計測装置に関するものである。近年、ロボットに
よる作業が盛んに行われるようになっているが、作業対
象のワークの位置が未知であるような場合、遠隔操作あ
るいはワークの自動位置決めなどを行うためには、その
ワークの位置・姿勢などを距離センサ等の各種センサ情
報に基づいて求める必要がある。このため、例えばロボ
ットのハンドに非接触式の計測装置を取り付けてこの計
測装置によりワークまでの距離や傾きなどを計測してい
る。
【０００２】
【従来の技術】一般的な従来の傾き計測装置は、任意の
位置にある計測対象の平面と基準平面との成す角度を非
接触で計測するものであり、そのためには、図６に示さ
れるように、基準平面の座標上に３つの非接触距離セン
サ９a 、９b 、９c を同一円周上に１２０°間隔で配置
している。この非接触距離センサ９a 、９b 、９c は発
光素子と光点位置検出素子（ＰＳＤ）を用いて距離測定
を行うものである。この傾き計測装置を用いて、図７に
示されるように、各非接触距離センサ９a 、９b、９c
と計測平面１０間の距離をそれぞれ計測し、それらの距
離情報に基づいて計測平面１０の傾きθを求めている。
位置にある計測対象の平面と基準平面との成す角度を非
接触で計測するものであり、そのためには、図６に示さ
れるように、基準平面の座標上に３つの非接触距離セン
サ９a 、９b 、９c を同一円周上に１２０°間隔で配置
している。この非接触距離センサ９a 、９b 、９c は発
光素子と光点位置検出素子（ＰＳＤ）を用いて距離測定
を行うものである。この傾き計測装置を用いて、図７に
示されるように、各非接触距離センサ９a 、９b、９c
と計測平面１０間の距離をそれぞれ計測し、それらの距
離情報に基づいて計測平面１０の傾きθを求めている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の傾き計測装置
は、センサ取付け面の所定位置に複数の非接触距離セン
サをそれぞれ配置するものであるが、その配置に相対位
置誤差があるとその誤差が計測精度を劣化させる。この
ため、非接触距離センサはその配置位置を正確に取り付
けなければならず、その取付け作業は慎重を要し時間が
かかる。
は、センサ取付け面の所定位置に複数の非接触距離セン
サをそれぞれ配置するものであるが、その配置に相対位
置誤差があるとその誤差が計測精度を劣化させる。この
ため、非接触距離センサはその配置位置を正確に取り付
けなければならず、その取付け作業は慎重を要し時間が
かかる。
【０００４】また各々独立した非接触距離センサを複数
個必要とする構成であるため、装置が大きく重たくなる
という問題点があり、特にロボットハンド部分に装置を
取り付けようとする場合などには不都合である。
個必要とする構成であるため、装置が大きく重たくなる
という問題点があり、特にロボットハンド部分に装置を
取り付けようとする場合などには不都合である。
【０００５】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、製造作業が容易
で、計測精度のよい小型、軽量な傾き計測装置を提供す
ることにある。
のであり、その目的とするところは、製造作業が容易
で、計測精度のよい小型、軽量な傾き計測装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】図１は本発明に係る原理
説明図である。本発明の傾き計測装置は、傾きを計測す
る対象の計測面２３に対して出力光を照射する複数の発
光素子２０1 〜２０n であって互いに離間して配置され
たものと、計測面２３からの反射光を受光する光検出部
２１とを備え、これら複数の発光素子２０1 〜２０n を
順次に発光させて光検出部２１でその反射光を受光する
ことで、各発光素子２０1 〜２０n と計測平面２３との
距離をそれぞれ計測して計測面２３の傾きを求めるよう
構成されたものである。
説明図である。本発明の傾き計測装置は、傾きを計測す
る対象の計測面２３に対して出力光を照射する複数の発
光素子２０1 〜２０n であって互いに離間して配置され
たものと、計測面２３からの反射光を受光する光検出部
２１とを備え、これら複数の発光素子２０1 〜２０n を
順次に発光させて光検出部２１でその反射光を受光する
ことで、各発光素子２０1 〜２０n と計測平面２３との
距離をそれぞれ計測して計測面２３の傾きを求めるよう
構成されたものである。
【０００７】ここで、上記光検出部２１は、受光した反
射光の結像点の位置を一次元的に検出する一つの光点位
置検出素子、またはかかる光点位置検出素子の複数個の
組合せで構成することができる。
射光の結像点の位置を一次元的に検出する一つの光点位
置検出素子、またはかかる光点位置検出素子の複数個の
組合せで構成することができる。
【０００８】また上記光検出部２１は、受光した反射光
の結像点の位置を二次元的に検出する光点位置検出素子
で構成することができる。
の結像点の位置を二次元的に検出する光点位置検出素子
で構成することができる。
【０００９】また、本発明の傾き計測装置は、発光素子
の数を２個として、この発光素子を含む面を回転できる
ように構成し、回転前の計測値と回転後の計測値に基づ
いて計測面の傾きを求めるように構成されたものであ
る。
の数を２個として、この発光素子を含む面を回転できる
ように構成し、回転前の計測値と回転後の計測値に基づ
いて計測面の傾きを求めるように構成されたものであ
る。
【００１０】
【作用】複数の発光素子２０1 〜２０n を順次に発光さ
せて光検出部２１でその反射光を受光し、それにより信
号処理回路２２で各発光素子２０1 〜２０n と計測平面
２３との距離をそれぞれ計測して計測面２３の傾きを求
める。
せて光検出部２１でその反射光を受光し、それにより信
号処理回路２２で各発光素子２０1 〜２０n と計測平面
２３との距離をそれぞれ計測して計測面２３の傾きを求
める。
【００１１】光検出部２１は、例えば発光素子が２個の
場合には、受光した反射光の結像点の位置を一次元的に
検出する一つの光点位置検出素子をこの２個の発光素子
に共用してもよいし、また例えば発光素子が３個である
場合には、かかる光点位置検出素子を二つ（そのうち一
つの二つの発光素子に共用）または三つ（各発光素子に
それぞれ対応）組み合わせて使用してもよい。
場合には、受光した反射光の結像点の位置を一次元的に
検出する一つの光点位置検出素子をこの２個の発光素子
に共用してもよいし、また例えば発光素子が３個である
場合には、かかる光点位置検出素子を二つ（そのうち一
つの二つの発光素子に共用）または三つ（各発光素子に
それぞれ対応）組み合わせて使用してもよい。
【００１２】また上記光検出部２１を、受光した反射光
の結像点の位置を二次元的に検出する光点位置検出素子
で構成すれば、光点位置検出素子としては一つで足り
る。
の結像点の位置を二次元的に検出する光点位置検出素子
で構成すれば、光点位置検出素子としては一つで足り
る。
【００１３】また、発光素子の数を２個として、この発
光素子を含む面を回転できるように構成すれば、回転前
の各計測値と回転後の各計測値を求めることで、それら
に基づいて計測面の傾きを求めることができる。なお、
回転を行わない場合には、２点の距離よりセンサの長手
方向と計測面の成す角度を求めることができる。
光素子を含む面を回転できるように構成すれば、回転前
の各計測値と回転後の各計測値を求めることで、それら
に基づいて計測面の傾きを求めることができる。なお、
回転を行わない場合には、２点の距離よりセンサの長手
方向と計測面の成す角度を求めることができる。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図２および図３には本発明の一実施例としての傾
き計測装置が示される。ここで図２は傾き計測装置にお
けるセンサヘッド部の構成が、また図３はこのセンサヘ
ッド部の他に電気回路部分も含めた傾き計測装置の全体
的構成が示される。
する。図２および図３には本発明の一実施例としての傾
き計測装置が示される。ここで図２は傾き計測装置にお
けるセンサヘッド部の構成が、また図３はこのセンサヘ
ッド部の他に電気回路部分も含めた傾き計測装置の全体
的構成が示される。
【００１５】図２において、（Ａ）はセンサヘッド部の
正面図、（Ｂ）はその側面図、（Ｃ）はセンサヘッド部
内の電気回路の構成図である。図２に示されるように、
三つの発光素子１a 、１b 、１c が、素子取付け面にお
いて同一円周上に１２０°間隔で離間して配置され、そ
の同心円の中心点付近に光検出素子２a 、２bcが配置さ
れる。この光検出素子２a 、２bcは反射光の結像位置を
一次元的（線的）に検出する光点位置検出素子によりそ
れぞれ構成されるもので、光検出素子２a は発光素子１
a の反射光の受光用、光検出素子２bcは１b 、１c の反
射光の受光用で、この二つがまとまって一つの光検出部
２を形成している。
正面図、（Ｂ）はその側面図、（Ｃ）はセンサヘッド部
内の電気回路の構成図である。図２に示されるように、
三つの発光素子１a 、１b 、１c が、素子取付け面にお
いて同一円周上に１２０°間隔で離間して配置され、そ
の同心円の中心点付近に光検出素子２a 、２bcが配置さ
れる。この光検出素子２a 、２bcは反射光の結像位置を
一次元的（線的）に検出する光点位置検出素子によりそ
れぞれ構成されるもので、光検出素子２a は発光素子１
a の反射光の受光用、光検出素子２bcは１b 、１c の反
射光の受光用で、この二つがまとまって一つの光検出部
２を形成している。
【００１６】また発光素子１a 、１b 、１c の前方位置
（計測平面側）にはそれぞれ投光レンズ５a 、５b 、５
c が取り付けられており、この投光レンズ５a 、５b 、
５cにより計測平面１０上に照射光を集光させるように
なっている。同様に光検出部２の前方位置には一つの受
光レンズ６が取り付けられており、この受光レンズ６に
より光検出部２上に計測平面１０からの反射光が結像す
るようになっている。
（計測平面側）にはそれぞれ投光レンズ５a 、５b 、５
c が取り付けられており、この投光レンズ５a 、５b 、
５cにより計測平面１０上に照射光を集光させるように
なっている。同様に光検出部２の前方位置には一つの受
光レンズ６が取り付けられており、この受光レンズ６に
より光検出部２上に計測平面１０からの反射光が結像す
るようになっている。
【００１７】また、駆動回路３a 、３b 、３c はそれぞ
れ発光素子１a 、１b 、１c を駆動するための回路、信
号増幅回路４は光検出部２から受信した光／電気変換後
の受信信号（結像点の位置情報）を増幅するための回路
である。
れ発光素子１a 、１b 、１c を駆動するための回路、信
号増幅回路４は光検出部２から受信した光／電気変換後
の受信信号（結像点の位置情報）を増幅するための回路
である。
【００１８】図３において、制御装置７は駆動回路３a
、３b 、３c を順番に駆動する制御を行ったり、ある
いは駆動照射中の発光素子からの受信信号に基づいてそ
の発光素子と計測平面間の距離に相当するアナログ出力
（電圧）を生成して後段の演算器８に与えたりする制御
を行う回路である。演算器８はこれらのアナログ出力Ｖ
a 、Ｖb 、Ｖc に基づいて各発光素子１a 、１b 、１c
の位置から計測平面までの距離ａ、ｂ、ｃを求め、それ
らの距離情報から計測平面の傾きθを計算して、それら
距離ａ、ｂ、ｃと傾きθの値を出力する回路である。
、３b 、３c を順番に駆動する制御を行ったり、ある
いは駆動照射中の発光素子からの受信信号に基づいてそ
の発光素子と計測平面間の距離に相当するアナログ出力
（電圧）を生成して後段の演算器８に与えたりする制御
を行う回路である。演算器８はこれらのアナログ出力Ｖ
a 、Ｖb 、Ｖc に基づいて各発光素子１a 、１b 、１c
の位置から計測平面までの距離ａ、ｂ、ｃを求め、それ
らの距離情報から計測平面の傾きθを計算して、それら
距離ａ、ｂ、ｃと傾きθの値を出力する回路である。
【００１９】この実施例装置の動作を以下に説明する。
制御装置７により、まず発光素子１a が発光するよう制
御する。その出力光は投光レンズ５a で細く絞られ、計
測対象の計測平面１０に入射される。計測平面１０で拡
散反射された反射光は受光レンズ６で集光されて光検出
部２上に結像する。その結像位置情報は制御装置７を通
してアナログ出力Ｖa として演算器８に送られ、このア
ナログ出力Ｖa から発光素子１a と計測平面１０間の距
離ａが求まる。
制御装置７により、まず発光素子１a が発光するよう制
御する。その出力光は投光レンズ５a で細く絞られ、計
測対象の計測平面１０に入射される。計測平面１０で拡
散反射された反射光は受光レンズ６で集光されて光検出
部２上に結像する。その結像位置情報は制御装置７を通
してアナログ出力Ｖa として演算器８に送られ、このア
ナログ出力Ｖa から発光素子１a と計測平面１０間の距
離ａが求まる。
【００２０】次に、制御装置７により発光素子１b を発
光させて同様にして発光素子１b と計測平面１０間の距
離ｂを求める。さらに同様にして発光素子１c を発光さ
せて発光素子１c と計測平面１０間の距離ｃを求める。
演算器８はこれらの距離情報に基づいて計測平面１０の
傾きθを演算し出力する。
光させて同様にして発光素子１b と計測平面１０間の距
離ｂを求める。さらに同様にして発光素子１c を発光さ
せて発光素子１c と計測平面１０間の距離ｃを求める。
演算器８はこれらの距離情報に基づいて計測平面１０の
傾きθを演算し出力する。
【００２１】図４には本発明の他の実施例が示される。
この実施例はセンサヘッド部の構成を変更したものであ
る。図示するように、発光素子１a 、１b 、１c の配置
は前述の実施例と同様である。相違するところは光検出
部２の構成であり、この実施例では、発光素子１a の反
射光受光用に光検出素子２a を、発光素子１b の反射光
受光用に光検出素子２b を、発光素子１c の反射光受光
用に光検出素子２c をそれぞれ設け、これらを同心円の
中心付近に１２０°間隔で配置し、これら３つの光検出
素子２a 、２b 、２c によって光検出部２を形成してい
る。動作は前述の実施例と同様であり、発光素子１a 、
１b 、１c を順次に発光させて各発光素子１a 、１b 、
１c と計測平面１０間の距離を求めている。
この実施例はセンサヘッド部の構成を変更したものであ
る。図示するように、発光素子１a 、１b 、１c の配置
は前述の実施例と同様である。相違するところは光検出
部２の構成であり、この実施例では、発光素子１a の反
射光受光用に光検出素子２a を、発光素子１b の反射光
受光用に光検出素子２b を、発光素子１c の反射光受光
用に光検出素子２c をそれぞれ設け、これらを同心円の
中心付近に１２０°間隔で配置し、これら３つの光検出
素子２a 、２b 、２c によって光検出部２を形成してい
る。動作は前述の実施例と同様であり、発光素子１a 、
１b 、１c を順次に発光させて各発光素子１a 、１b 、
１c と計測平面１０間の距離を求めている。
【００２２】このように各発光素子１a 、１b 、１c に
それぞれ対応させて光検出素子２a、２b 、２c を設け
ると、前述の実施例の光検出素子２bcのように二つの発
光素子１b 、１c に共用する場合に比べて、結像の際の
誤差が少なくなり計測できる距離レンジが大きくなる。
それぞれ対応させて光検出素子２a、２b 、２c を設け
ると、前述の実施例の光検出素子２bcのように二つの発
光素子１b 、１c に共用する場合に比べて、結像の際の
誤差が少なくなり計測できる距離レンジが大きくなる。
【００２３】図５には本発明のまた他の実施例が示され
る。この実施例もセンサヘッド部の構成を変更したもの
である。図示するように、発光素子１a 、１b 、１c の
配置は前述の実施例と同様である。相違するところは光
検出部２の構成であり、この実施例では、光検出部２は
結像点位置を２次元的（面的）に計測することができる
２次元配置形の単一の光点位置検出素子で構成し、これ
を発光素子１a 、１b、１c を配置した同心円の中心部
分に配置している。動作は前述の実施例と同様であり、
発光素子１a 、１b 、１c を順次に発光させて各発光素
子１a 、１b 、１c と計測平面１０間の距離を求めてい
る。
る。この実施例もセンサヘッド部の構成を変更したもの
である。図示するように、発光素子１a 、１b 、１c の
配置は前述の実施例と同様である。相違するところは光
検出部２の構成であり、この実施例では、光検出部２は
結像点位置を２次元的（面的）に計測することができる
２次元配置形の単一の光点位置検出素子で構成し、これ
を発光素子１a 、１b、１c を配置した同心円の中心部
分に配置している。動作は前述の実施例と同様であり、
発光素子１a 、１b 、１c を順次に発光させて各発光素
子１a 、１b 、１c と計測平面１０間の距離を求めてい
る。
【００２４】本発明の実施にあたっては上述した各実施
例の他にも種々の変形形態が可能である。例えば、上述
の実施例では発光素子を三つ使用して傾きを計測するも
のについて説明したが、本発明はこれに限られるもので
はなく、発光素子を二つとすることもできる。この場
合、この二つの発光素子を素子取付け面における同一円
周上で直径方向に対峙する２点に配置してその中心点に
その直径方向に沿うようにして一次元配置形の一つの光
点位置検出素子を配置する。このようにした装置では、
２点の距離からセンサの長手方向（二つの発光素子を結
ぶ方向）と計測平面との成す角度を求めることができ
る。このような傾き計測装置は、例えば計測平面の傾き
がある方向については既知で一定である場合のような計
測条件が限定されている場合などに有用である。
例の他にも種々の変形形態が可能である。例えば、上述
の実施例では発光素子を三つ使用して傾きを計測するも
のについて説明したが、本発明はこれに限られるもので
はなく、発光素子を二つとすることもできる。この場
合、この二つの発光素子を素子取付け面における同一円
周上で直径方向に対峙する２点に配置してその中心点に
その直径方向に沿うようにして一次元配置形の一つの光
点位置検出素子を配置する。このようにした装置では、
２点の距離からセンサの長手方向（二つの発光素子を結
ぶ方向）と計測平面との成す角度を求めることができ
る。このような傾き計測装置は、例えば計測平面の傾き
がある方向については既知で一定である場合のような計
測条件が限定されている場合などに有用である。
【００２５】また、計測条件が限定されていない場合で
も、このような二つの発光素子で構成された計測装置を
用いて各発光素子と計測平面間の距離を計測し、その後
にその計測装置の素子取付け面を面の法線を中心として
例えば９０°回転させて回転後の各発光素子と計測平面
間の距離を計測することで、等価的に四つの発光素子と
計測平面間の距離を計測することもでき、それにより面
の傾きを求めることができる。
も、このような二つの発光素子で構成された計測装置を
用いて各発光素子と計測平面間の距離を計測し、その後
にその計測装置の素子取付け面を面の法線を中心として
例えば９０°回転させて回転後の各発光素子と計測平面
間の距離を計測することで、等価的に四つの発光素子と
計測平面間の距離を計測することもでき、それにより面
の傾きを求めることができる。
【００２６】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、従来のような各非接触距離センサの取付け位置の相
対位置誤差に起因する計測精度の劣化を排除することが
できる。また製造時において、従来のように各非接触距
離センサを正確な位置に取り付けるのに比べて、その製
造作業が簡単になる。また受光レンズや信号処理回路を
複数の発光素子に共用化できるため、装置の小型化、軽
量化を図ることができる。
ば、従来のような各非接触距離センサの取付け位置の相
対位置誤差に起因する計測精度の劣化を排除することが
できる。また製造時において、従来のように各非接触距
離センサを正確な位置に取り付けるのに比べて、その製
造作業が簡単になる。また受光レンズや信号処理回路を
複数の発光素子に共用化できるため、装置の小型化、軽
量化を図ることができる。
【図１】本発明に係る原理説明図である。
【図２】本発明の一実施例としての傾き計測装置のセン
サヘッド部の構成を示す図である。
サヘッド部の構成を示す図である。
【図３】本発明の一実施例としての傾き計測装置の全体
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図４】本発明の傾き計測装置のセンサヘッド部の他の
実施例を示す図である。
実施例を示す図である。
【図５】本発明の傾き計測装置のセンサヘッド部のまた
他の実施例を示す図である。
他の実施例を示す図である。
【図６】傾き計測装置のセンサヘッド部の従来例を示す
図である。
図である。
【図７】従来の傾き計測装置の動作を説明する図であ
る。
る。
１a 、１b 、１c 発光素子 ２a 、２b 、２c 光検出素子（光点位置検出装置：Ｐ
ＳＤ） ２ 光検出部 ３a 、３b 、３c 駆動回路 ４ 信号増幅回路 ５a 、５b 、５c 投光レンズ ６ 受光レンズ ７ 制御装置 ８ 演算器 ９a 、９b 、９c 非接触距離センサ
ＳＤ） ２ 光検出部 ３a 、３b 、３c 駆動回路 ４ 信号増幅回路 ５a 、５b 、５c 投光レンズ ６ 受光レンズ ７ 制御装置 ８ 演算器 ９a 、９b 、９c 非接触距離センサ
Claims (4)
- 【請求項１】 傾きを計測する対象の計測面（２３）に
対して出力光を照射する複数の発光素子（２０1 〜２０
n ）であって互いに離間して配置されたものと、 該計測面からの反射光を受光する光検出部（２１）とを
備え、 該複数の発光素子を順次に発光させて該光検出部でその
反射光を受光することで、各発光素子と計測平面との距
離をそれぞれ計測して計測面の傾きを求めるよう構成さ
れた傾き計測装置。 - 【請求項２】 上記光検出部は受光した反射光の結像点
の位置を一次元的に検出する一つの光点位置検出素子、
またはかかる光点位置検出素子の複数個の組合せで構成
された請求項１記載の傾き計測装置。 - 【請求項３】 上記光検出部は受光した反射光の結像点
の位置を二次元的に検出する光点位置検出素子で構成さ
れた請求項１記載の傾き計測装置。 - 【請求項４】 該発光素子の数は２個であり、この発光
素子を含む面を回転できるように構成し、回転前の計測
値と回転後の計測値に基づいて計測面の傾きを求めるよ
うに構成された請求項１〜３の何れかに記載の傾き計測
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16531892A JPH05333152A (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 傾き計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16531892A JPH05333152A (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 傾き計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05333152A true JPH05333152A (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=15810054
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16531892A Pending JPH05333152A (ja) | 1992-06-01 | 1992-06-01 | 傾き計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05333152A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271350A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Fujifilm Corp | 平面表示型ディスプレイの基準平面設定方法及び視野角測定方法 |
| JP2009121991A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Casio Comput Co Ltd | 距離測定装置及びプロジェクタ |
| WO2015046127A1 (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-02 | 株式会社村田製作所 | 傾き検出装置 |
| CN104678998A (zh) * | 2013-11-29 | 2015-06-03 | 丰田自动车株式会社 | 自主移动体及其控制方法 |
| CN104850119A (zh) * | 2014-02-14 | 2015-08-19 | 丰田自动车株式会社 | 自主车辆及其故障确定方法 |
| JP2019164121A (ja) * | 2018-01-26 | 2019-09-26 | ジック アーゲー | 光電センサ及び物体検出方法 |
-
1992
- 1992-06-01 JP JP16531892A patent/JPH05333152A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271350A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Fujifilm Corp | 平面表示型ディスプレイの基準平面設定方法及び視野角測定方法 |
| JP2009121991A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Casio Comput Co Ltd | 距離測定装置及びプロジェクタ |
| WO2015046127A1 (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-02 | 株式会社村田製作所 | 傾き検出装置 |
| JP6020738B2 (ja) * | 2013-09-25 | 2016-11-02 | 株式会社村田製作所 | 傾き検出装置 |
| CN104678998A (zh) * | 2013-11-29 | 2015-06-03 | 丰田自动车株式会社 | 自主移动体及其控制方法 |
| JP2015106254A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | トヨタ自動車株式会社 | 自律移動体、その制御方法及び制御プログラム |
| CN104850119A (zh) * | 2014-02-14 | 2015-08-19 | 丰田自动车株式会社 | 自主车辆及其故障确定方法 |
| JP2019164121A (ja) * | 2018-01-26 | 2019-09-26 | ジック アーゲー | 光電センサ及び物体検出方法 |
| US11914074B2 (en) | 2018-01-26 | 2024-02-27 | Sick Ag | Optoelectronic sensor and method for the detection of objects |
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