JPH05340708A - 小口径管内遠隔自動膜厚測定装置 - Google Patents
小口径管内遠隔自動膜厚測定装置Info
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- JPH05340708A JPH05340708A JP4150715A JP15071592A JPH05340708A JP H05340708 A JPH05340708 A JP H05340708A JP 4150715 A JP4150715 A JP 4150715A JP 15071592 A JP15071592 A JP 15071592A JP H05340708 A JPH05340708 A JP H05340708A
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 37
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 小口径管内に形成されるに金属膜厚の検出精
度を高めることを可能とする。 【構成】 小口径管３の内壁面６に形成される金属膜７
の厚さを測定するための装置において、上記小口径管内
３を管軸方向にかつ管内周方向に移動自在に挿入される
ヘッド１１と、そのヘッド１１に周方向に配置されると
共に管径方向に進退移動自在に設けられ、先端部が上記
内壁面６に当接して管内にヘッド１１を固定保持するた
めのヘッド固定ピン１５と、上記ヘッド１１に管径方向
に進退移動自在に設けられ、上記内壁面６に形成された
上記金属膜７に当接して膜厚を検出するための渦電流式
膜厚検出センサ１７とから構成したことをを特徴として
いる。
度を高めることを可能とする。 【構成】 小口径管３の内壁面６に形成される金属膜７
の厚さを測定するための装置において、上記小口径管内
３を管軸方向にかつ管内周方向に移動自在に挿入される
ヘッド１１と、そのヘッド１１に周方向に配置されると
共に管径方向に進退移動自在に設けられ、先端部が上記
内壁面６に当接して管内にヘッド１１を固定保持するた
めのヘッド固定ピン１５と、上記ヘッド１１に管径方向
に進退移動自在に設けられ、上記内壁面６に形成された
上記金属膜７に当接して膜厚を検出するための渦電流式
膜厚検出センサ１７とから構成したことをを特徴として
いる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は小口径管の内壁面に形成
される金属膜の厚さを測定するための装置に係り、特に
金属膜の厚さの検出精度を高めることのできる小口径管
内遠隔自動膜厚測定装置に関するものである。
される金属膜の厚さを測定するための装置に係り、特に
金属膜の厚さの検出精度を高めることのできる小口径管
内遠隔自動膜厚測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】原子炉容器の底部には中性子を検出する
計装を案内するためにインコアハウジングが設けられて
いる。図８に示するように、このインコアハウジングは
原子炉容器１の底部を形成する下鏡２に挿入支持された
ステンレス製小口径管３で構成されており、この小口径
管３は下鏡２に形成された開口部４に挿入されて溶接に
より取り付けられている。小口径管３は外周部から溶接
されて開口部４に取り付けられるため、その溶接部５の
近傍の小口径管３の内壁面６には劣化等の進行を防止す
るためにＣｒ，Ｎｉ等の混合粉末がペースト状に塗布さ
れ、さらにこのペースト状金属膜７はレーザー照射され
て硬質な金属膜となる。
計装を案内するためにインコアハウジングが設けられて
いる。図８に示するように、このインコアハウジングは
原子炉容器１の底部を形成する下鏡２に挿入支持された
ステンレス製小口径管３で構成されており、この小口径
管３は下鏡２に形成された開口部４に挿入されて溶接に
より取り付けられている。小口径管３は外周部から溶接
されて開口部４に取り付けられるため、その溶接部５の
近傍の小口径管３の内壁面６には劣化等の進行を防止す
るためにＣｒ，Ｎｉ等の混合粉末がペースト状に塗布さ
れ、さらにこのペースト状金属膜７はレーザー照射され
て硬質な金属膜となる。
【０００３】このように管内壁面６に混合粉末によるペ
ーストを塗布してこれにレーザー照射する場合、ペース
トの厚さをコントロールしないと最終的な金属膜が得ら
れないため、ペーストの厚さ管理を要する。
ーストを塗布してこれにレーザー照射する場合、ペース
トの厚さをコントロールしないと最終的な金属膜が得ら
れないため、ペーストの厚さ管理を要する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来、電磁式センサで
ペースト状金属膜７が測定されており、この電磁式セン
サは金属膜７に接触するプローブに交流を流すとその周
囲に磁界が発生し、これに比例した電流が二次側コイル
に流れるため、ペースト厚に応じた二次側コイルの二次
電流の変化から膜厚を測定するものである。電磁式セン
サによる膜厚の測定においてはプローブの接触部が不安
定になり、二次電流の測定値にバラツキが発生し、信頼
性に欠ける問題があった。
ペースト状金属膜７が測定されており、この電磁式セン
サは金属膜７に接触するプローブに交流を流すとその周
囲に磁界が発生し、これに比例した電流が二次側コイル
に流れるため、ペースト厚に応じた二次側コイルの二次
電流の変化から膜厚を測定するものである。電磁式セン
サによる膜厚の測定においてはプローブの接触部が不安
定になり、二次電流の測定値にバラツキが発生し、信頼
性に欠ける問題があった。
【０００５】本発明は上記問題点を有効に解決すべく創
案されたものである。
案されたものである。
【０００６】本発明は小口径管内に形成されるに金属膜
厚の検出精度を高めることのできる小口径管内遠隔自動
膜厚測定装置を提供することを目的とする。
厚の検出精度を高めることのできる小口径管内遠隔自動
膜厚測定装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は小口径管の内壁
面に形成される金属膜の厚さを測定するための装置にお
いて、上記小口径管内に管軸方向にかつ管内周方向に移
動自在に挿入されるヘッドと、そのヘッドに周方向に配
置されると共に管径方向に進退移動自在に設けられ、先
端部が上記内壁面に当接して管内にヘッドを固定保持す
るためのヘッド固定ピンと、上記ヘッドに管径方向に進
退移動自在に設けられ、上記内壁面に形成された上記金
属膜に当接して膜厚を検出するための渦電流式膜厚検出
センサとから構成したものである。
面に形成される金属膜の厚さを測定するための装置にお
いて、上記小口径管内に管軸方向にかつ管内周方向に移
動自在に挿入されるヘッドと、そのヘッドに周方向に配
置されると共に管径方向に進退移動自在に設けられ、先
端部が上記内壁面に当接して管内にヘッドを固定保持す
るためのヘッド固定ピンと、上記ヘッドに管径方向に進
退移動自在に設けられ、上記内壁面に形成された上記金
属膜に当接して膜厚を検出するための渦電流式膜厚検出
センサとから構成したものである。
【０００８】
【作用】このように小口径管内に固定されるヘッドに渦
電流式膜厚検出センサが取り付けられるため、膜厚の検
出精度を高めることができる。
電流式膜厚検出センサが取り付けられるため、膜厚の検
出精度を高めることができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
て詳述する。
【００１０】図１に示すように、原子炉容器１の底部を
形成する下鏡２にはインコアモニターハウジングとして
ステンレス製小口径管３が鉛直方向に挿入され、この小
口径管３は溶接により下鏡２に形成された開口部４に保
持されている。その溶接部５の近傍の小口径管３の内壁
面６には内壁面６を覆って劣化の進行を阻止すべくＣ
ｒ，Ｎｉ等の混合粉末がペースト状に塗布された金属被
膜７が形成され、この金属膜７はレーザー照射されて硬
化されるものである。すなわち、非磁性体金属上にペー
スト状の磁性体金属膜を形成することになる。
形成する下鏡２にはインコアモニターハウジングとして
ステンレス製小口径管３が鉛直方向に挿入され、この小
口径管３は溶接により下鏡２に形成された開口部４に保
持されている。その溶接部５の近傍の小口径管３の内壁
面６には内壁面６を覆って劣化の進行を阻止すべくＣ
ｒ，Ｎｉ等の混合粉末がペースト状に塗布された金属被
膜７が形成され、この金属膜７はレーザー照射されて硬
化されるものである。すなわち、非磁性体金属上にペー
スト状の磁性体金属膜を形成することになる。
【００１１】特に、レーザー照射に先立って管内壁面６
に形成されるペースト状金属膜７の厚さを検出するため
の装置として小口径管３内には管軸方向にかつ管内周方
向に所定ピッチで移動可能なヘッド１１が挿入される。
このヘッド１１には下方にロッド１２が延出されてお
り、ロッド１２にはヘッド１１を小口径管３内で管軸方
向にかつ管内周方向に所定ピッチで移動させるために図
示されないモータ等を有する駆動機構１３が設けられて
いる。駆動機構１３にはヘッド１１の移動を遠隔操作す
るためのコントローラ１４が接続されている。
に形成されるペースト状金属膜７の厚さを検出するため
の装置として小口径管３内には管軸方向にかつ管内周方
向に所定ピッチで移動可能なヘッド１１が挿入される。
このヘッド１１には下方にロッド１２が延出されてお
り、ロッド１２にはヘッド１１を小口径管３内で管軸方
向にかつ管内周方向に所定ピッチで移動させるために図
示されないモータ等を有する駆動機構１３が設けられて
いる。駆動機構１３にはヘッド１１の移動を遠隔操作す
るためのコントローラ１４が接続されている。
【００１２】具体的には小口径管３内に挿入されるヘッ
ド１１の先端部には図２に示すように、また、ヘッド１
１の基端部には図３に示すように、それぞれヘッド１１
を小口径管３内に保持するためにヘッド固定ピン１５が
進退移動自在に設けられる。このヘッド固定ピン１５は
ヘッド１１の周方向に等ピッチで設けられており、図４
に示すように、ヘッド固定ピン１５はヘッド１１の周方
向に１２０度毎に３つ配置されている。図２および図３
において、各ヘッド固定ピン１５を進退移動させるべく
ヘッド１１内には上下端部にそれぞれエアシリンダ１６
が収容され、このエアシリンダ１６はエア供給管１６ａ
から供給される圧気により各ヘッド固定ピン１５を同時
に等しい移動量だけ前進させあるいは同時に後退させる
ようになっている。したがって、ヘッド固定ピン１５を
前進させると小口径管３の内壁面６にヘッド固定ピン１
５の先端部が当接して小口径管３内にヘッド１１が固定
保持され、ヘッド固定ピン１５を後退させるとヘッド１
１の固定が解除されることになる。
ド１１の先端部には図２に示すように、また、ヘッド１
１の基端部には図３に示すように、それぞれヘッド１１
を小口径管３内に保持するためにヘッド固定ピン１５が
進退移動自在に設けられる。このヘッド固定ピン１５は
ヘッド１１の周方向に等ピッチで設けられており、図４
に示すように、ヘッド固定ピン１５はヘッド１１の周方
向に１２０度毎に３つ配置されている。図２および図３
において、各ヘッド固定ピン１５を進退移動させるべく
ヘッド１１内には上下端部にそれぞれエアシリンダ１６
が収容され、このエアシリンダ１６はエア供給管１６ａ
から供給される圧気により各ヘッド固定ピン１５を同時
に等しい移動量だけ前進させあるいは同時に後退させる
ようになっている。したがって、ヘッド固定ピン１５を
前進させると小口径管３の内壁面６にヘッド固定ピン１
５の先端部が当接して小口径管３内にヘッド１１が固定
保持され、ヘッド固定ピン１５を後退させるとヘッド１
１の固定が解除されることになる。
【００１３】また、ヘッド１１には小口径管３の内壁面
６に形成される金属膜７の厚さを検出するための渦電流
式膜厚検出センサ１７が設けられ、このセンサ１７はヘ
ッド１１に管径方向に進退移動自在に設けられている。
すなわち、図２および図５に示すようにヘッド１１には
センサ１７の進退移動を許容する開口部１８が形成され
ると共にセンサ１７の移動を案内するガイド１９が設け
られており、かつ、センサ１７を管径方向に進退移動さ
せる移動機構が設けられている。移動機構はヘッド１１
内にピン２１を中心に揺動自在に支持されたレバー部材
２２とを有すると共にのレバー部材２２に連結されるエ
アシリンダ２３を有する。レバー部材２２は一端部に形
成される長穴２４内にピン２５を係合させてセンサ１７
の後端部に連結されると共に、レバー部材２２の他端部
はＬの字状に折り返されてエアシリンダ２３のロッド２
６に連結されている。したがって、エアシリンダ２３に
接続されるエア供給管２７から供給される圧気によりロ
ッド２６が後退すると、ピン２１を中心にレバー部材２
２が図中左回りに回動し、センサ１７は管内壁面６に向
けて移動してペースト状金属膜７に当接することにな
り、これとは反対に、ロッド２６の前進移動はセンサ１
７を後退させることになる。図５において２８はスプリ
ングであり、このスプリング２８はセンサ１７を後退方
向に付勢するようになっている。
６に形成される金属膜７の厚さを検出するための渦電流
式膜厚検出センサ１７が設けられ、このセンサ１７はヘ
ッド１１に管径方向に進退移動自在に設けられている。
すなわち、図２および図５に示すようにヘッド１１には
センサ１７の進退移動を許容する開口部１８が形成され
ると共にセンサ１７の移動を案内するガイド１９が設け
られており、かつ、センサ１７を管径方向に進退移動さ
せる移動機構が設けられている。移動機構はヘッド１１
内にピン２１を中心に揺動自在に支持されたレバー部材
２２とを有すると共にのレバー部材２２に連結されるエ
アシリンダ２３を有する。レバー部材２２は一端部に形
成される長穴２４内にピン２５を係合させてセンサ１７
の後端部に連結されると共に、レバー部材２２の他端部
はＬの字状に折り返されてエアシリンダ２３のロッド２
６に連結されている。したがって、エアシリンダ２３に
接続されるエア供給管２７から供給される圧気によりロ
ッド２６が後退すると、ピン２１を中心にレバー部材２
２が図中左回りに回動し、センサ１７は管内壁面６に向
けて移動してペースト状金属膜７に当接することにな
り、これとは反対に、ロッド２６の前進移動はセンサ１
７を後退させることになる。図５において２８はスプリ
ングであり、このスプリング２８はセンサ１７を後退方
向に付勢するようになっている。
【００１４】駆動機構１３には図１に示すようにヘッド
固定ピン１５およびセンサ１７の進退移動をコントロー
ルするためにパソコン３１が接続される。このパソコン
３１にはリアルタイムに金属膜厚が記録が表示され、か
つ、記録はプリンタ３２で記録紙に表示されるようにな
っている。
固定ピン１５およびセンサ１７の進退移動をコントロー
ルするためにパソコン３１が接続される。このパソコン
３１にはリアルタイムに金属膜厚が記録が表示され、か
つ、記録はプリンタ３２で記録紙に表示されるようにな
っている。
【００１５】次に上記実施例の作用について説明する。
【００１６】実際の金属膜厚を測定するに先立って校正
試験がなされる。先ず、ペースト状金属膜厚の異なる基
準テストピースを作製し、実厚をダイヤルゲージで測定
する。次いで、渦電流式膜厚検出センサにより実厚の測
定点近傍の電圧を測定し、ダイヤルゲージによる実厚と
センサによる電圧値との相関曲線を作成し、これを所定
値補正してペースト厚判定曲線とする。
試験がなされる。先ず、ペースト状金属膜厚の異なる基
準テストピースを作製し、実厚をダイヤルゲージで測定
する。次いで、渦電流式膜厚検出センサにより実厚の測
定点近傍の電圧を測定し、ダイヤルゲージによる実厚と
センサによる電圧値との相関曲線を作成し、これを所定
値補正してペースト厚判定曲線とする。
【００１７】具体的には図６に示す如き基準テストピー
ス４１が作製される。このテストピース４１は小口径管
と同様な非磁性体金属の管状母材４２の内壁面４３に周
方向にリング溝４４を形成し、そのリング溝４４内に管
状母材４２の内径に等しい磁性体金属のペースト４５を
塗布する。ペースト４５にはダイヤルゲージによる測定
のための測定穴４６が形成される。このように構成され
たテストピース４１において測定点Ａにダイヤルゲージ
をセットしてペースト厚ｄを測定した後、測定点Ｂに渦
電流式センサを当て発生電圧を測定すると、ダイヤルゲ
ージによるペースト厚ｄを電圧に換算できる。ダイヤル
ゲージによる多数のペースト厚の測定値から電圧値を得
ると、図７に示すごとき校正曲線を得ることができる。
ス４１が作製される。このテストピース４１は小口径管
と同様な非磁性体金属の管状母材４２の内壁面４３に周
方向にリング溝４４を形成し、そのリング溝４４内に管
状母材４２の内径に等しい磁性体金属のペースト４５を
塗布する。ペースト４５にはダイヤルゲージによる測定
のための測定穴４６が形成される。このように構成され
たテストピース４１において測定点Ａにダイヤルゲージ
をセットしてペースト厚ｄを測定した後、測定点Ｂに渦
電流式センサを当て発生電圧を測定すると、ダイヤルゲ
ージによるペースト厚ｄを電圧に換算できる。ダイヤル
ゲージによる多数のペースト厚の測定値から電圧値を得
ると、図７に示すごとき校正曲線を得ることができる。
【００１８】図７は縦軸にダイヤルゲージで得られたペ
ースト厚を、横軸に渦電流センサで得られた測定値をと
り、ダイヤルゲージによる実厚とセンサによる電圧値と
の相関曲線を示すと共にこれを所定値補正したペースト
厚判定曲線を示す。ペースト厚が所定範囲にある場合が
合格ペースト厚である。このような校正試験に基づいて
実際に小口径管３内にセットされる渦電流式膜厚検出セ
ンサ１７で得られる電圧値を校正試験で得られたダイヤ
ルゲージによる測定値に換算してこれを金属膜厚とす
る。
ースト厚を、横軸に渦電流センサで得られた測定値をと
り、ダイヤルゲージによる実厚とセンサによる電圧値と
の相関曲線を示すと共にこれを所定値補正したペースト
厚判定曲線を示す。ペースト厚が所定範囲にある場合が
合格ペースト厚である。このような校正試験に基づいて
実際に小口径管３内にセットされる渦電流式膜厚検出セ
ンサ１７で得られる電圧値を校正試験で得られたダイヤ
ルゲージによる測定値に換算してこれを金属膜厚とす
る。
【００１９】実際に金属膜厚を測定するには図１に示す
ように管径方向にヘッド固定ピン１５を前進させて管軸
上にヘッド１１を固定保持する。ヘッド１１が固定保持
された状態においてセンサ１７を管径方向に前進させて
そのヘッド固定保持地点の金属膜厚が得られる。次い
で、センサ１７およびヘッド固定ピン１５を後退させて
ヘッド１１の固定を解除した後、ヘッド１１を管内周方
向および管軸方向に測定箇所を移動させて管内周方向お
よび管軸方向の多数点の金属膜厚を測定する。例えば、
軸方向に１ｍｍピッチ、管内周方向に１度ピッチで測定
される。金属膜厚の変化に応じて渦電流の強さが変化す
るため、膜厚の増大に応じて検出される電圧値も大きく
なる。これらセンサ１７およびヘッド固定ピン１５の進
退移動はパソコン３１により操作され、検出結果はパソ
コン３１に表示されると共に必要に応じて記録紙３２に
記録される。
ように管径方向にヘッド固定ピン１５を前進させて管軸
上にヘッド１１を固定保持する。ヘッド１１が固定保持
された状態においてセンサ１７を管径方向に前進させて
そのヘッド固定保持地点の金属膜厚が得られる。次い
で、センサ１７およびヘッド固定ピン１５を後退させて
ヘッド１１の固定を解除した後、ヘッド１１を管内周方
向および管軸方向に測定箇所を移動させて管内周方向お
よび管軸方向の多数点の金属膜厚を測定する。例えば、
軸方向に１ｍｍピッチ、管内周方向に１度ピッチで測定
される。金属膜厚の変化に応じて渦電流の強さが変化す
るため、膜厚の増大に応じて検出される電圧値も大きく
なる。これらセンサ１７およびヘッド固定ピン１５の進
退移動はパソコン３１により操作され、検出結果はパソ
コン３１に表示されると共に必要に応じて記録紙３２に
記録される。
【００２０】なお、実際のペースト状金属膜厚が合格範
囲を逸脱して検出された場合にはその金属膜７は除去さ
れ、小口径管３の内壁面６には再度ペースト状金属膜７
が塗布されれることになる。
囲を逸脱して検出された場合にはその金属膜７は除去さ
れ、小口径管３の内壁面６には再度ペースト状金属膜７
が塗布されれることになる。
【００２１】このように本発明は小口径管３内に管軸方
向かつ管内周方向に移動可能なヘッド１１からヘッド固
定ピン１５および渦電流式膜厚検出センサ１７を管径方
向に進退移動自在に設けるため、渦電流式膜厚検出セン
サ１７の安定した固定保持をなし得ると共に、渦電流式
膜厚検出センサ１７によりバラツキのない測定値を得る
ことができ、金属膜厚の測定精度を高めることができ
る。
向かつ管内周方向に移動可能なヘッド１１からヘッド固
定ピン１５および渦電流式膜厚検出センサ１７を管径方
向に進退移動自在に設けるため、渦電流式膜厚検出セン
サ１７の安定した固定保持をなし得ると共に、渦電流式
膜厚検出センサ１７によりバラツキのない測定値を得る
ことができ、金属膜厚の測定精度を高めることができ
る。
【００２２】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、小口径管
内に管軸方向かつ管内周方向に移動可能なヘッドからヘ
ッド固定ピンおよび渦電流式膜厚検出センサを管径方向
に進退移動自在に設けるため、センサの安定した固定保
持をなし得ると共に、渦電流式膜厚検出センサによりバ
ラツキのない測定値を得ることができ、膜厚の測定精度
を高めることができる。
内に管軸方向かつ管内周方向に移動可能なヘッドからヘ
ッド固定ピンおよび渦電流式膜厚検出センサを管径方向
に進退移動自在に設けるため、センサの安定した固定保
持をなし得ると共に、渦電流式膜厚検出センサによりバ
ラツキのない測定値を得ることができ、膜厚の測定精度
を高めることができる。
【図１】本発明の膜厚検出装置を示す図である。
【図２】ヘッドの先端部を示す断面図である。
【図３】ヘッドの基端部を示す図である。
【図４】図２のＸ−Ｘ線矢視図である。
【図５】図２のＹ−Ｙ線矢視図である。
【図６】テストピースを示す図である。
【図７】校正曲線を示す図である。
【図８】小口径管を示す図である。
３ 小口径管 ６ 内壁面 ７ 金属膜 １１ ヘッド １５ ヘッド固定ピン １７ 渦電流式膜厚検出センサ
Claims (1)
- 【請求項１】 小口径管の内壁面に形成される金属膜の
厚さを測定するための装置において、上記小口径管内に
管軸方向にかつ管内周方向に移動自在に挿入されるヘッ
ドと、該ヘッドに周方向に配置されると共に管径方向に
進退移動自在に設けられ、先端部が上記内壁面に当接し
て管内にヘッドを固定保持するためのヘッド固定ピン
と、上記ヘッドに管径方向に進退移動自在に設けられ、
上記内壁面に形成された上記金属膜に当接して膜厚を検
出するための渦電流式膜厚検出センサとを備えたことを
特徴とする小口径管内遠隔自動膜厚測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04150715A JP3079777B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 小口径管内遠隔自動膜厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04150715A JP3079777B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 小口径管内遠隔自動膜厚測定装置 |
Publications (2)
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| JPH05340708A true JPH05340708A (ja) | 1993-12-21 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2003057002A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-26 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | コーティング厚さ検査法 |
| CN1327190C (zh) * | 2006-01-25 | 2007-07-18 | 北京航空航天大学 | 径向/轴向六位集成一体化电涡流传感器 |
| US7807726B2 (en) | 2005-03-11 | 2010-10-05 | 3M Innovative Properties Company | Recovery of fluorinated surfactants from a basic anion exchange resin having quaternary ammonium groups |
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| CN117054333A (zh) * | 2023-10-13 | 2023-11-14 | 天津尚源金属表面处理有限公司 | 一种金属管件镀锌表面性能检测装置 |
-
1992
- 1992-06-10 JP JP04150715A patent/JP3079777B2/ja not_active Expired - Lifetime
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