JPH05340975A - 周波数測定装置 - Google Patents

周波数測定装置

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JPH05340975A
JPH05340975A JP15233092A JP15233092A JPH05340975A JP H05340975 A JPH05340975 A JP H05340975A JP 15233092 A JP15233092 A JP 15233092A JP 15233092 A JP15233092 A JP 15233092A JP H05340975 A JPH05340975 A JP H05340975A
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JP
Japan
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frequency
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time
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measurement
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Application number
JP15233092A
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English (en)
Inventor
Shinya Nishida
晋也 西田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】離散データ(ディジタル信号)の周波数を測定
する。処理時間が短く、かつ高精度な周波数測定をす
る。 【構成】入力アナログ信号を離散データ(ディジタル信
号)に変換し、これを処理して周波数fを得る。離散デ
ータより測定範囲内で基準レベルと交差する波数nと、
離散データより測定範囲内で基準レベルと最初および最
後に交差する時点までの個数m1,m2を求める。この個
数m1,m2を、基準レベルと交差する直前および直後に
位置する離散データに対応する個数より直線近似でもっ
て交差する時点に対応する高精度な個数m(小数項を有
する)を演算し、個数m1,m2を高精度化する。そし
て、周波数fをn・fs/(m2−m1)として得る。離
散データを処理して周波数fを得るため、周波数測定の
動作をソフトウェアで簡単に実現し得る。周波数fを高
精度で測定でき、処理時間を短くでき、短区間における
周波数測定をも高精度で行い得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ディジタル信号(離
散的データ)の周波数を測定するのに使用して好適な周
波数測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、周波数測定装置としてアナログ信
号の周波数を測定するものがある。この場合、測定する
周波数の平均をFとしたとき、ゲートタイムTにアナロ
グ信号Sanが基準レベル(一般には波形の中心レベル)
と交差する回数nをカウントし、F=n/Tとして求め
ている(図12参照)。図12において、*は交差点を
示している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述の周波数測定にお
いては、回数nには誤差を含まないが、図12より明か
なようにゲートタイムTには誤差(A+B)が含まれ
る。FがN桁の精度を得るためには、(A+B)/T<
1/10Nでなければならず、T>(A+B)×10N
なる。
【0004】ここで、AおよびBはそれぞれ最大1周期
であるので、(A+B)の最大は2周期となる。そのた
め、ゲートタイムTを膨大にしないと、ある一定の精度
を得ることができなくなる。
【0005】そのため従来は、ゲートタイムTを大きく
しているが、処理時間が長くなると共に、短区間での周
波数測定ができないため連続キャリアの周波数しか測定
できないという不都合があった。
【0006】また、従来の周波数測定装置はアナログ信
号Sanの周波数を測定するものであり、ディジタル信号
の周波数を測定することは不可能であった。すなわち、
ディジタル信号はアナログ信号Sanを所定のサンプリン
グ周波数でもってサンプリングして得られる離散データ
であるため、基準レベルと交差するサンプリングデータ
*が必ずしも得られるとは限らないからである(図13
参照)。図13において、実線は測定周波数信号、破線
はサンプリング周波数信号を示している。
【0007】そこで、この発明では、ディジタル信号の
周波数を測定できる周波数測定装置を提供することを目
的とする。またこの発明では、処理時間が短く、かつ高
精度な周波数測定ができる周波数測定装置を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、離散データ
より測定範囲内で基準レベルと交差する波数を検出する
波数検出手段と、離散データより測定範囲内で基準レベ
ルと最初および最後に交差する時点を検出してその差を
全体時間とする時間検出手段と、波数検出手段で検出さ
れる波数を上記時間検出手段で検出される全体時間で除
して周波数を得る演算手段とを備えてなるものである。
【0009】例えば、時間検出手段では、基準レベルと
交差する直前および直後に位置する離散データに対応す
る時点より直線近似でもって交差する時点を得るもので
ある。
【0010】また例えば、測定範囲および基準レベルを
画面上でカーソルを使用して設定するものである。
【0011】
【作用】この発明においては、離散データ(ディジタル
信号)を処理して周波数測定をするものであるため、周
波数測定の動作をソフトウェアで簡単に実現することが
可能となる。
【0012】また、基準レベルと交差する直前および直
後に位置する離散データに対応する時点より直線近似で
もって交差する時点を得ることで、離散データを取り扱
うにも拘らず全体時間を高精度で検出することができ、
周波数測定を高精度で行なうことが可能となる。
【0013】また、測定範囲および基準レベルを画面上
でカーソルを使用して設定することで、画面上の測定波
形を観察しながらカーソルを移動して測定範囲および基
準レベルを設定することができ、目的とする信号の周波
数測定を適切、かつ容易に設定し得る。
【0014】
【実施例】以下、図面を参照しながら、この発明の一実
施例について説明する。図1は実施例の構成を示す図で
ある。同図において、1はCPUであり、3はDSP
(ディジタルシグナルプロセッサ)であり、これらCP
U1およびDSP3のデータのやり取りはディアルRA
M2を介して行なわれる。CPU1は主に画面制御を行
い、パラメータ設定(エディタ)、DSP3へのデータ
要求、DSP3の演算結果の出力等を行なう。DSP3
は入力データをもとに各種の解析、分析のためのデータ
編集(演算)、ハード制御のためのI/Oセット等を行
なう。
【0015】また、DSP3にはI/Oポート4を介し
てハード部5が接続される。このハード部5は、種々の
操作キーが配されたキーパネル5a、入力波形や後述す
る測定周波数の演算結果等を表示するディスプレイ5
b、入力データや測定周波数の演算結果データ等を格納
するRAM5c、入力端子5eに供給される入力アナロ
グ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器5d等
を有して構成されている。
【0016】本例においては、ディジタル信号、従って
離散データより周波数測定が行なわれる。
【0017】まず、離散データによる周波数測定の理論
について説明する。上述したように、ディジタル信号の
場合には、基準レベルと交差するデータが必ず得られる
とは限らない。そこで、図2に示すように、前回のデー
タが基準レベルよりも下にあり、今回のデータが基準レ
ベルよりも上にくるときは、交差したとみなすことにす
る。図2において、*はサンプリングデータを示してい
る。
【0018】ここで、測定範囲内で最初に交差した時点
をt1、最後に交差した時点をt2、交差した波数をnと
すると、求める周波数fは、数1に示すように求められ
る。
【0019】
【数1】
【0020】t1,t2は時間であるが、ディジタル処理
では時間の概念は扱いにくい。そのため、サンプリング
周波数をfsとすると、時点t1のときまでにサンプリ
ングされたデータの個数をm1、時点t2のときまでにサ
ンプリングされたデータの個数をm2とすると、t1,t
2はそれぞれ数2に示すようになる。
【0021】
【数2】
【0022】したがって、数2を数1に代入することに
より、周波数fは数3に示すようになる。
【0023】
【数3】
【0024】次に、本例において交差した波数は以下の
ようにして求められる。図3において、1周期分の信号
は、基準レベルの下から上に行く点aから次に基準レベ
ルの下から上に行く点cまで、あるいは基準レベルの上
から下に行く点bから次に基準レベルの上から下に行く
点dまでである。したがって、基準レベルと交差した波
数は、数4に示すように求められる。
【0025】
【数4】
【0026】図3の例の場合、基準レベルを下から上に
行く点はa,c,eの3点であるので、数4の(1)式
より波数n=3−1=2となる。あるいは、基準レベル
を上から下に行く点はb,d,fの3点であるので、数
4の(2)式より波数n=3−1=2となる。
【0027】なお、数4の(1)式と(2)式の使い分
けは、最初の点によって決定される。図3の例の場合に
は、最初の点aが基準レベルを下から上に行く点である
ので、(1)式が使用される。
【0028】ところで、数3において、nとfsは誤差
を持たないが、t1,t2の求め方より明らかなようにm
1,m2には誤差が含まれる。したがって、数3で求めら
れる周波数fの誤差は全てm1,m2によるものである。
図4より、m1,m2の誤差は最大1データ分であり、m
2−m1の誤差周波数は、1/(m2−m1)である。
【0029】そのため、例えば6桁の精度を得るのに必
要な条件は、M=m2−m1とすると、数5に示すように
なる。したがって、6桁の精度を得るためには、最低1
00万個のデータの処理が必要となる。
【0030】
【数5】
【0031】m1,m2を正確に測定できれば、数3で示
す周波数fの誤差が小さくなる。そこで本例において
は、m1,m2は以下のように求められる。m1,m2は同
様に求められるので、基準レベルNと交差する時点tに
おける個数をmとして説明する。
【0032】図5に示すように、時点t(n-1)(m(n-1)
/fs)の離散データp(n-1)のレベルLが基準レベル
Nより下にあり、次の時点tn(mn/fs)の離散デー
タpnのレベルMが基準レベルNより上にきたとき、基
準レベルNと交差する時点tをm/fsとする。
【0033】時点t(n-1)とtnは離散的な時間軸上で必
ず隣接するので、mn=m(n-1)+1となる。
【0034】そのため、比例関係より、個数mには数6
の関係が成立する。
【0035】
【数6】
【0036】そして、この数6に、上述したmn=m(n-
1)+1の関係を代入すると、数7に示すように個数mが
求められる。数7より明らかなように、測定データとし
て基準レベルNと交差する直前の離散データp(n-1)の
個数m(n-1)とレベルL、基準レベルNと交差した直後
の離散データpnのレベルMが得られることで、基準レ
ベルNと交差する時点tにおける個数mを正確に求める
ことができる。
【0037】
【数7】
【0038】数7における第1項のm(n-1)は整数項で
あり、第2項の|L−N|/(|L−N|+|M−N
|)は小数項になる。このことより、個数mの精度は第
2項のみによって決まる。つまり、L,Mの分解能がそ
のまま精度に比例することになる。
【0039】例えば、離散データを8ビットとすると、
個数mの精度は、1/256≒0.0039となる。し
たがって、1/(m2−m1)の精度として6桁の精度を
得るのに必要な条件は、M=m2−m1とすると、数8に
示すようになる。
【0040】
【数8】
【0041】そのため、本例においては、6桁の精度を
得るためには、3907個のデータ処理で済むようにな
る。ただし、上述したように個数mを求めるのに直線近
似を利用しているため(図5参照)、個数mの誤差によ
る精度落ちが多少生じる。
【0042】次に、本例における周波数測定の動作を図
6のフローチャートを使用して説明する。図示せずも、
この周波数測定の動作は、例えばキーパネル5a(図1
参照)の操作によって設定されるパラメータに基づいて
行なわれる。パラメータとしては、入力アナログ信号を
サンプリングするサンプリング周波数fs、基準レベル
(しきい値)、ディスプレイの画面にどの程度の時間分
の入力信号波形を表示するかを示すタイム、測定範囲が
設定される。
【0043】図9は、ディスプレイ5bの主画面10
と、それに関連して配設されたタイムとサンプリング周
波数fs、さらには測定された周波数fの表示部を示し
ている。主画面10には入力信号波形が設定されたタイ
ム分だけ表示される。そして、基準レベルおよび測定範
囲は、この主画面10上でカーソル11の位置および長
さを変化させることで任意に設定される。
【0044】以上のように設定されるパラメータに基づ
いて図6に示す周波数測定の動作がリアルタイムで実行
され、設定されたパラメータに対応する測定周波数fが
順次表示される。
【0045】図6のフローチャートにおいて、まず測定
範囲内で基準レベルを交差する波数nと、測定範囲内で
基準レベルと最初に交差した時点t1までのサンプリン
グデータの個数m1と、測定範囲内で最後に交差した時
点t2までのサンプリングデータの個数m2とを求める
(ステップ21)。
【0046】次に、補正する個数をm1とし(ステップ
22)、数7を実行して高精度の個数mを求め(ステッ
プ23)、補正後の個数mをm1とする(ステップ2
4)。さらに、補正する個数をm2とし(ステップ2
5)、数7を実行して高精度の個数mを求め(ステップ
26)、補正後の個数mをm2とする(ステップ2
7)。
【0047】そして、以上のステップで求められた波数
n、個数m1,m2と、サンプリング周波数fsを使用
し、数3の式をもって周波数fを演算する(ステップ2
8)。以下、ステップ21〜28の動作を繰り返すこと
になる。
【0048】次に、図7のフローチャートを使用して、
図6のステップ21における波数n、個数m1,m2を求
める動作を説明する。
【0049】まず、波数nを「0」にリセットする(ス
テップ30)。そして、RAM5c(図1に図示)より
サンプリングデータ(離散データ)を1個読み込み(ス
テップ31)、データカウンタを「1」だけインクリメ
ントする(ステップ32)。
【0050】次に、読み出されたサンプリングデータが
基準レベルNより下か否かを判断する(ステップ3
3)。基準レベルNより下であるときは、RAM5cよ
りサンプリングデータを1個読み込んだ後(ステップ3
4)、測定範囲内であるか否か判断する(ステップ3
5)。測定範囲内であるときは、データカウンタを
「1」だけインクリメントする(ステップ36)。
【0051】次に、サンプリングデータが基準レベルN
より上か否か判断する(ステップ37)。基準レベルN
より上でないときは、フラグをオンとして(ステップ3
8)、ステップ34に戻る。
【0052】また、ステップ37で、サンプリングデー
タが基準レベルNより上であるときは、フラグがオンで
あるか否かを判断する(ステップ39)。フラグがオン
でないときは、ステップ34に戻る。フラグがオンであ
るときは、フラグをオフとした後(ステップ40)、波
数nを「1」だけインクリメントする(ステップ4
1)。
【0053】次に、最初に交差した点であるか否かを判
断する(ステップ42)。最初に交差した点であるとき
は、データカウンタのカウント値を個数m1とした後
(ステップ43)、ステップ34に戻る。一方、最初に
交差した点でないときは、データカウンタのカウント値
を個数m2とした後(ステップ44)、ステップ34に
戻る。
【0054】また、ステップ35で、測定範囲内でない
ときは、波数nを「1」だけデクリメントし(ステップ
45)、動作を終了する。
【0055】また、ステップ33で、サンプリングデー
タが基準レベルNより下でないときは、RAM5cより
サンプリングデータを1個読み込んだ後(ステップ4
6)、測定範囲内であるか否か判断する(ステップ4
7)。測定範囲内であるときは、データカウンタを
「1」だけインクリメントする(ステップ48)。
【0056】次に、サンプリングデータが基準レベルN
より下か否かを判断する(ステップ49)。基準レベル
Nより下でないときは、フラグをオンとして(ステップ
50)、ステップ46に戻る。
【0057】また、ステップ49で、サンプリングデー
タが基準レベルNより下であるときは、フラグがオンで
あるか否かを判断する(ステップ51)。フラグがオン
でないときは、ステップ46に戻る。フラグがオンであ
るときは、フラグをオフとした後(ステップ52)、波
数nを「1」だけインクリメントする(ステップ5
3)。
【0058】次に、最初に交差した点であるか否かを判
断する(ステップ54)。最初に交差した点であるとき
は、データカウンタのカウント値を個数m1とした後
(ステップ55)、ステップ46に戻る。一方、最初に
交差した点でないときは、データカウンタのカウント値
を個数m2とした後(ステップ56)、ステップ46に
戻る。
【0059】また、ステップ47で、測定範囲内でない
ときは、波数nを「1」だけデクリメントし(ステップ
45)、動作を終了する。
【0060】次に、図8のフローチャートを使用して、
図6のステップ23,27における個数(時間)の高精
度化の動作を説明する。
【0061】まず、基準レベルNと交差する時点tの直
前のデータp(n-1)(ステップ23では個数m1−1、ス
テップ27では個数m2−1に相当するデータ)のレベ
ルLより基準レベルNを減算して、前点の差L−Nを求
める(ステップ61)。
【0062】次に、前点の差L−Nが0以上であるか否
かを判断する(ステップ62)。0以上であるときは、
ステップ64に進む。一方、0以上でないとき、つまり
負の値であるときは、正の値に変換した後(ステップ6
3)、ステップ64に進む。
【0063】ステップ64では、基準レベルNと交差す
る時点tの直後のデータpn(ステップ23では個数m
1、ステップ27では個数m2に相当するデータ)のレベ
ルMより基準レベルNを減算して、後点の差M−Nを求
める。
【0064】次に、後点の差M−Nが0以上であるか否
かを判断する(ステップ65)。0以上であるときは、
ステップ67に進む。一方、0以上でないとき、つまり
負の値であるときは、正の値に変換した後(ステップ6
6)、ステップ67に進む。
【0065】ステップ67では、前点の差を前点の差と
後点の差との和で割り算し、その結果を補正値とする。
そして、この補正値を、前点の個数(ステップ23では
m1−1、ステップ27ではm2−1)に加算して補正後
の個数mとして(ステップ68)、高精度化の動作を終
了する。
【0066】以上説明したように本例においては、入力
アナログ信号をディジタル信号に変換し、このディジタ
ル信号を処理して周波数fを測定するものであるため、
周波数測定の動作をソフトウェアで簡単に実現すること
ができる。
【0067】また、ディジタル信号は離散データである
が、高精度化の動作により(図8のフローチャートおよ
び数7参照)、周波数fを算出するための個数m1,m2
を補正して高精度で得るようにしているので、周波数f
を高精度で測定することができる。
【0068】また、周波数fを高精度で測定することが
できるため、処理時間を短くすることができ、短区間に
おける周波数測定をも高精度で行なうことができる。し
たがって、ビデオ信号から直接クロマの周波数を測定す
ることもできる。従来においては、誤差の関係から短区
間の測定は不可能であり、クロマの周波数測定はクロマ
を発信する回路から直接信号を拾って行なわなければな
らなかった。
【0069】図10および図11は、周波数測定時にお
けるディスプレイ5b(図1参照)の主画面10および
その他の表示部における表示例を示している。図10
は、単一キャリア周波数の測定例である。この場合、カ
ーソル11の長さ(測定範囲)によって実行速度、精度
が変わる。一方、図11は、ビデオ信号のクロマの周波
数の測定例である。この場合、カーソル11をビデオ信
号のクロマ内に設定することにより、クロマの周波数測
定が行なわれる。
【0070】また、本例においては、ディスプレイ5b
の主画面10上で測定波形を観察しながらカーソル11
を使用して測定範囲および基準レベルを設定することが
でき、目的とする信号の周波数測定が行なわれるよう
に、これらを適切、かつ容易に設定できる利益がある。
【0071】
【発明の効果】この発明によれば、離散データ(ディジ
タル信号)を処理して周波数測定をするものであるた
め、周波数測定の動作をソフトウェアで簡単に実現でき
る。
【0072】また、基準レベルと交差する直前および直
後に位置する離散データに対応する時点より直線近似で
もって交差する時点を得ることで、離散データを取り扱
うにも拘らず全体時間を高精度で検出することができ、
周波数測定を高精度で行なうことができる。またこれに
より、処理時間を短くすることができ、短区間における
周波数測定をも高精度で行なうことができ、ビデオ信号
から直接クロマの周波数を測定することもできる。
【0073】さらに、測定範囲および基準レベルを画面
上でカーソルを使用して設定することで、画面上の測定
波形を観察しながらカーソルを移動して測定範囲および
基準レベルを設定することができ、目的とする信号の周
波数測定を適切、かつ容易に設定できる利益がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】交差した点の求め方を説明するための図であ
る。
【図3】基準レベルと交差した波数の求め方を説明する
ための図である。
【図4】個数の誤差を説明するための図である。
【図5】個数(時間)の高精度化の説明のための図であ
る。
【図6】周波数測定動作を説明するためのフローチャー
トである。
【図7】波数および個数を求める動作を説明するための
フローチャートである。
【図8】個数(時間)の高精度化の動作を説明するため
のフローチャートである。
【図9】主画面およびその他の表示部を示す図である。
【図10】主画面およびその他の表示部の表示例を示す
図である。
【図11】主画面およびその他の表示部の表示例を示す
図である。
【図12】従来の周波数測定の方法を説明するための図
である。
【図13】離散データ(ディジタル信号)と基準レベル
との関係を示す図である。
【符号の説明】
1 CPU 2 ディアルRAM 3 DSP(ディジタルシグナルプロセッサ) 4 I/Oポート 5 ハード部 5a キーパネル 5b ディスプレイ 5c RAM 5d A/D変換器 5e 入力端子 10 主画面 11 カーソル

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 離散データより測定範囲内で基準レベル
    と交差する波数を検出する波数検出手段と、 上記離散データより上記測定範囲内で上記基準レベルと
    最初および最後に交差する時点を検出してその差を全体
    時間とする時間検出手段と、 上記波数検出手段で検出される波数を上記時間検出手段
    で検出される全体時間で除して周波数を得る演算手段と
    を備えてなる周波数測定装置。
  2. 【請求項2】 上記時間検出手段では、上記離散データ
    が上記基準レベルの下から上に、あるいは上から下にな
    った時点を交差した時点とすることを特徴とする請求項
    1記載の周波数測定装置。
  3. 【請求項3】 上記時間検出手段では、上記基準レベル
    と交差する直前および直後に位置する離散データに対応
    する時点より直線近似でもって上記交差する時点を得る
    ことを特徴とする請求項1記載の周波数測定装置。
  4. 【請求項4】 上記測定範囲および上記基準レベルを画
    面上でカーソルを使用して設定することを特徴とする請
    求項1記載の周波数測定装置。
JP15233092A 1992-06-11 1992-06-11 周波数測定装置 Pending JPH05340975A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007119488A1 (ja) * 2006-03-22 2007-10-25 National University Corporation Gunma University 周波数測定装置及び周波数測定方法

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WO2007119488A1 (ja) * 2006-03-22 2007-10-25 National University Corporation Gunma University 周波数測定装置及び周波数測定方法

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