JPH053549B2 - - Google Patents
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- JPH053549B2 JPH053549B2 JP4216884A JP4216884A JPH053549B2 JP H053549 B2 JPH053549 B2 JP H053549B2 JP 4216884 A JP4216884 A JP 4216884A JP 4216884 A JP4216884 A JP 4216884A JP H053549 B2 JPH053549 B2 JP H053549B2
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- JP
- Japan
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- signal
- ground level
- level
- waveform
- linear amplifier
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
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- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばプリアンプとリニアアンプが
交流結合されている場合に、見かけのグランドレ
ベルを真のグランドレベルに補正するための真の
グランドレベル推定方法に関する。
交流結合されている場合に、見かけのグランドレ
ベルを真のグランドレベルに補正するための真の
グランドレベル推定方法に関する。
放射線推定装置では、第１図に示すように、線
源１１から放出される放射線をゲルマニウム検出
器等の検出器１２を用いて検出している。この検
出出力はμV程度の微弱なものである。プリアン
プ１３はこれをmV程度に増幅すると共に、内蔵
のRC回路を用いて波形整形を行う。リニアアン
プ（メインアンプ）１４は、これを波高分析器等
の測定器１５に適合した電圧レベルまで増幅する
と共に波形整形する。
源１１から放出される放射線をゲルマニウム検出
器等の検出器１２を用いて検出している。この検
出出力はμV程度の微弱なものである。プリアン
プ１３はこれをmV程度に増幅すると共に、内蔵
のRC回路を用いて波形整形を行う。リニアアン
プ（メインアンプ）１４は、これを波高分析器等
の測定器１５に適合した電圧レベルまで増幅する
と共に波形整形する。
さて図のようにプリアンプ１３とリニアアンプ
１４がコンデンサ１６によつて交流結合されてい
る場合には、プリアンプ１３から出力される信号
の状態によつてリニアアンプ１４側のグランドレ
ベルが変動する。一般に第２図Ａに実線１８で示
すようなパルス信号がプリアンプから出力される
とすると、リニアアンプ側のグランドレベルは破
線１９で示すようなものとなる。また同図Ｂに実
線２１で示すようにパルス信号の周波数が上昇す
ると、破線２２で示すようにグランドレベルが上
昇する。
１４がコンデンサ１６によつて交流結合されてい
る場合には、プリアンプ１３から出力される信号
の状態によつてリニアアンプ１４側のグランドレ
ベルが変動する。一般に第２図Ａに実線１８で示
すようなパルス信号がプリアンプから出力される
とすると、リニアアンプ側のグランドレベルは破
線１９で示すようなものとなる。また同図Ｂに実
線２１で示すようにパルス信号の周波数が上昇す
ると、破線２２で示すようにグランドレベルが上
昇する。
第１図に示した放射線推定装置では、放射線の
検出されるたびに第３図に示すような指数関数的
に減少するパルス信号２４1，２４2……が１つず
つ出力されるのが通常である。これらのパルス信
号２４1，２４2……の発生状況は線源１１の状態
によるものであり、もちろん未定である。従つて
従来のこの種の測定装置ではリニアアンプ側で真
のグランドレベルを推定することができず、波高
分析器等の後段の測定器の推定結果に誤差を生じ
させるという問題があつた。
検出されるたびに第３図に示すような指数関数的
に減少するパルス信号２４1，２４2……が１つず
つ出力されるのが通常である。これらのパルス信
号２４1，２４2……の発生状況は線源１１の状態
によるものであり、もちろん未定である。従つて
従来のこの種の測定装置ではリニアアンプ側で真
のグランドレベルを推定することができず、波高
分析器等の後段の測定器の推定結果に誤差を生じ
させるという問題があつた。
本発明は上記した事情に鑑み、リニアアンプ側
で真のグランドレベルを推定し、波形整形後のベ
ースラインの安定化ができる方法を提供すること
をその目的とする。
で真のグランドレベルを推定し、波形整形後のベ
ースラインの安定化ができる方法を提供すること
をその目的とする。
本発明では、入力される信号をその波形の立ち
上がりあるいは立ち下がりで検出し、これから所
定時間経過後にその信号を模擬する信号を発生さ
せ、演算器によつてこれら両者の信号の差を演算
して前記所定時間と等しい時間幅をもつたパルス
信号にこれを整形する波形整形装置において、こ
の装置側におけるグランドレベルと演算器から出
力される信号のレベルとの差を検出し、前記した
所定時間以外の期間中におけるこの差を演算器か
ら出力される信号レベルの誤差としてこの演算器
に帰還し、そのレベルを補正する。そしてこの補
正後におけるグランドレベルを波形整形装置側の
真のグランドレベルと推定する。
上がりあるいは立ち下がりで検出し、これから所
定時間経過後にその信号を模擬する信号を発生さ
せ、演算器によつてこれら両者の信号の差を演算
して前記所定時間と等しい時間幅をもつたパルス
信号にこれを整形する波形整形装置において、こ
の装置側におけるグランドレベルと演算器から出
力される信号のレベルとの差を検出し、前記した
所定時間以外の期間中におけるこの差を演算器か
ら出力される信号レベルの誤差としてこの演算器
に帰還し、そのレベルを補正する。そしてこの補
正後におけるグランドレベルを波形整形装置側の
真のグランドレベルと推定する。
以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
第４図は本実施例の真のグランドレベル推定方
法を用いたリニアアンプの要部を表わしたもので
ある。このリニアアンプの入力端子３１には、例
えば第５図ａに示すような波形の信号３２が入力
される。このときプリアンプからは、同図ｂに示
すような波形の信号３３が出力されている。すな
わち信号３２のレベルlpはプリアンプのグランド
レベルであり、リニアアンプ側のグランドレベル
lLとの間に所定のレベル差が存在している。
法を用いたリニアアンプの要部を表わしたもので
ある。このリニアアンプの入力端子３１には、例
えば第５図ａに示すような波形の信号３２が入力
される。このときプリアンプからは、同図ｂに示
すような波形の信号３３が出力されている。すな
わち信号３２のレベルlpはプリアンプのグランド
レベルであり、リニアアンプ側のグランドレベル
lLとの間に所定のレベル差が存在している。
信号３２は演算器３４を経て信号検出回路３５
に入力される。信号検出回路３５では信号３２の
立ち上がりを検出し、検出信号をスイツチ回路３
６に供給する。スイツチ回路３６では、この立ち
上がり時点から所定の時間Ｔだけ経過したとき、
模擬信号発生回路３７に対して模擬信号送出開始
制御信号３９を送出する。
に入力される。信号検出回路３５では信号３２の
立ち上がりを検出し、検出信号をスイツチ回路３
６に供給する。スイツチ回路３６では、この立ち
上がり時点から所定の時間Ｔだけ経過したとき、
模擬信号発生回路３７に対して模擬信号送出開始
制御信号３９を送出する。
模擬信号発生回路３７は例えばコンデンサと抵
抗から成る指数関数発生回路を備えており、信号
３２によつてそのコンデンサに電荷を蓄える。そ
して模擬信号送出開始制御信号３９が入力された
時点から、指数関数的に減少する模擬信号４１
（第５図ｃ）を発生させる。入力端子３１に入力
される信号３２の波形はプリアンプによつて予め
定まる。従つて指数関数的に減少するパルス信号
を出力するプリアンプを用いたときは、このよう
に同様の波形が模擬信号４１として出力されるこ
とになる。また第６図に示すように階段状に直流
レベルが変化する波形が入力される場合には、模
擬信号４１もこれを模擬した階段状の波形とな
る。図で示した模擬信号４１の場合には、リニア
アンプ側のオフセツト△Ｖだけ信号レベルが低下
（あるいは上昇）した電圧がリニアアンプの見か
け上のグランドレベルlL′となる。
抗から成る指数関数発生回路を備えており、信号
３２によつてそのコンデンサに電荷を蓄える。そ
して模擬信号送出開始制御信号３９が入力された
時点から、指数関数的に減少する模擬信号４１
（第５図ｃ）を発生させる。入力端子３１に入力
される信号３２の波形はプリアンプによつて予め
定まる。従つて指数関数的に減少するパルス信号
を出力するプリアンプを用いたときは、このよう
に同様の波形が模擬信号４１として出力されるこ
とになる。また第６図に示すように階段状に直流
レベルが変化する波形が入力される場合には、模
擬信号４１もこれを模擬した階段状の波形とな
る。図で示した模擬信号４１の場合には、リニア
アンプ側のオフセツト△Ｖだけ信号レベルが低下
（あるいは上昇）した電圧がリニアアンプの見か
け上のグランドレベルlL′となる。
さて演算器３４は、模擬信号発生回路３７から
出力された模擬信号４１と入力端子３１から入力
された信号３２の差をとる。この結果得られた出
力信号４２は出力端子４３に供給され、ここから
後段の回路部分に送られることになる。
出力された模擬信号４１と入力端子３１から入力
された信号３２の差をとる。この結果得られた出
力信号４２は出力端子４３に供給され、ここから
後段の回路部分に送られることになる。
ところで第５図ｄは、グランドレベルの補正を
行わないと仮定した場合における出力信号４２′
の波形を表わしたものである。この図から了解さ
れるように、出力信号４２は模擬信号４１（同図
ｃ）の波形の立ち上がりに応じてその差だけ一度
に立ち下がるが、その後もリニアアンプの見かけ
上のグランドレベルlL′に向かつて指数関数的に
減少する。従つてこのような出力信号４２′では、
プリアンプ側から出力される信号３３の波高に正
確に対応した波高のパルス信号を得ることができ
ない。
行わないと仮定した場合における出力信号４２′
の波形を表わしたものである。この図から了解さ
れるように、出力信号４２は模擬信号４１（同図
ｃ）の波形の立ち上がりに応じてその差だけ一度
に立ち下がるが、その後もリニアアンプの見かけ
上のグランドレベルlL′に向かつて指数関数的に
減少する。従つてこのような出力信号４２′では、
プリアンプ側から出力される信号３３の波高に正
確に対応した波高のパルス信号を得ることができ
ない。
そこで本実施例では、誤差検出回路４５を用い
てグランドレベルの補正を行う。誤差検出回路４
５はスイツチ回路３６から波形通過信号４６（第
５図ｅ）の供給を受け、これ以外の期間において
グランドレベルの補正を行う。ここで波形通過信
号４６とは、信号３２の立ち上がり時点から時間
Ｔの間発生するパルス信号である。すなわち誤差
検出回路４５は、グランドと演算器３４の出力側
の電位を比較し、模擬信号発生回路３７から出力
される模擬信号４１のレベルをリニアアンプ側の
グランドレベルlLに一致させる。この結果、出力
信号は第５図ｆに示すようにその零レベルが真の
グランドレベルlLとなり、その波高が信号３３の
波高と正確に対応することになる。
てグランドレベルの補正を行う。誤差検出回路４
５はスイツチ回路３６から波形通過信号４６（第
５図ｅ）の供給を受け、これ以外の期間において
グランドレベルの補正を行う。ここで波形通過信
号４６とは、信号３２の立ち上がり時点から時間
Ｔの間発生するパルス信号である。すなわち誤差
検出回路４５は、グランドと演算器３４の出力側
の電位を比較し、模擬信号発生回路３７から出力
される模擬信号４１のレベルをリニアアンプ側の
グランドレベルlLに一致させる。この結果、出力
信号は第５図ｆに示すようにその零レベルが真の
グランドレベルlLとなり、その波高が信号３３の
波高と正確に対応することになる。
このように本発明によれば演算器の比較演算に
よつて得られた誤差を演算器にフイードバツク
し、真のグランドレベルを推定することとしてい
る。従つて実施例で示したように交流結合による
グランドレベルの変動のみならず、温度等の原因
によるプリアンプやリニアアンプ側のオフセツト
にも有効に対処することができ、波高分析等の精
度を向上させることができる。
よつて得られた誤差を演算器にフイードバツク
し、真のグランドレベルを推定することとしてい
る。従つて実施例で示したように交流結合による
グランドレベルの変動のみならず、温度等の原因
によるプリアンプやリニアアンプ側のオフセツト
にも有効に対処することができ、波高分析等の精
度を向上させることができる。
第１図は放射線測定装置の一般的な構成を示す
ブロツク図、第２図ＡおよびＢはパルス信号のデ
ユーテイとグランドレベルの関係を表わした波形
図、第３図はプリアンプから出力される信号の一
例を示す波形図、第４図は本発明の一実施例にお
ける真のグランドレベル推定方法を適用したリニ
アアンプの要部を示すブロツク図、第５図はこの
実施例における回路動作を説明するための各種波
形図、第６図は入力される信号の他の例を示す波
形図である。 ３２……入力される信号、３４……演算器、４
１……模擬信号、４２……出力信号、４５……誤
差検出回路、lL……リニアアンプ側のグランドレ
ベル。
ブロツク図、第２図ＡおよびＢはパルス信号のデ
ユーテイとグランドレベルの関係を表わした波形
図、第３図はプリアンプから出力される信号の一
例を示す波形図、第４図は本発明の一実施例にお
ける真のグランドレベル推定方法を適用したリニ
アアンプの要部を示すブロツク図、第５図はこの
実施例における回路動作を説明するための各種波
形図、第６図は入力される信号の他の例を示す波
形図である。 ３２……入力される信号、３４……演算器、４
１……模擬信号、４２……出力信号、４５……誤
差検出回路、lL……リニアアンプ側のグランドレ
ベル。
Claims (1)
- １ 入力される信号をその波形の立ち上がりある
いは立ち下がりで検出し、これから所定時間経過
後にその信号を模擬する信号を発生させ、演算器
によつてこれら両者の信号の差を演算して前記所
定時間と等しい時間幅をもつたパルス信号にこれ
を整形する波形整形装置において、この装置側に
おけるグランドレベルと前記演算器から出力され
る信号のレベルとの差を検出し、前記所定時間以
外の期間中におけるこの差を前記演算器から出力
される信号レベルの誤差として前記演算器に帰還
してそのレベルを補正し、補正後のこの部分の信
号レベルを真のグランドレベルと推定する真のグ
ランドレベル推定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4216884A JPS60187877A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 真のグランドレベル推定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4216884A JPS60187877A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 真のグランドレベル推定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60187877A JPS60187877A (ja) | 1985-09-25 |
| JPH053549B2 true JPH053549B2 (ja) | 1993-01-18 |
Family
ID=12628436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4216884A Granted JPS60187877A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 真のグランドレベル推定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60187877A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2686982B1 (fr) * | 1992-01-30 | 1997-12-19 | Schlumberger Services Petrol | Procede de spectroscopie d'impulsions nucleaires a taux de comptage eleve. |
-
1984
- 1984-03-07 JP JP4216884A patent/JPS60187877A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60187877A (ja) | 1985-09-25 |
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