JPH0536363U - ガスクロマトグラフの温度制御装置 - Google Patents
ガスクロマトグラフの温度制御装置Info
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- JPH0536363U JPH0536363U JP9302491U JP9302491U JPH0536363U JP H0536363 U JPH0536363 U JP H0536363U JP 9302491 U JP9302491 U JP 9302491U JP 9302491 U JP9302491 U JP 9302491U JP H0536363 U JPH0536363 U JP H0536363U
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- heater
- control
- temperature sensor
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 恒温槽内の加熱方法として熱板式を用いる場
合に、熱源と温度制御対象が離れていても設定精度を高
くするようにする。 【構成】 熱板式の恒温槽1内のTCD(熱伝導度検出
器)の近傍にヒータ温度コントロール用温度センサとは
別個に温度センサ13を設ける。そして、この温度セン
サ13の検出値PVと予め設定された目標値SPを比較
部21で比較し、その偏差に応じた制御出力をPID演
算部22で求めたうえ、その制御出力に基づきヒータの
ON/OFF制御部25を制御する。このように、TC
D温度コントロール用の温度センサ13の出力をフィー
ドバックして温度制御を行うことにより、熱源のヒータ
とTCDの位置が離れていてもTCDの温度を正確に制
御することができる。
合に、熱源と温度制御対象が離れていても設定精度を高
くするようにする。 【構成】 熱板式の恒温槽1内のTCD(熱伝導度検出
器)の近傍にヒータ温度コントロール用温度センサとは
別個に温度センサ13を設ける。そして、この温度セン
サ13の検出値PVと予め設定された目標値SPを比較
部21で比較し、その偏差に応じた制御出力をPID演
算部22で求めたうえ、その制御出力に基づきヒータの
ON/OFF制御部25を制御する。このように、TC
D温度コントロール用の温度センサ13の出力をフィー
ドバックして温度制御を行うことにより、熱源のヒータ
とTCDの位置が離れていてもTCDの温度を正確に制
御することができる。
Description
【0001】
本考案は、キャリアガスによって移送されるサンプルガスをカラムに導いて各 ガス成分に分離し、これを熱伝導度検出器(以下、TCDと略称する)で検出し てガス分析を行うガスクロマトグラフに関し、特にそのカラムを収容する恒温槽 の温度制御装置に関するものである。
【0002】
石油化学プロセスや鉄鋼プロセス等においてプロセスガスに成分分析を行い、 その分析結果に基づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行ったりする ための監視装置としてガスクロマトグラフが従来から一般的に用いられている。
【0003】 図4はこの種のガスクロマトグラフの基本的構成を示す図で、所定温度に保持 されるアナライザ本体を構成する恒温槽1,この恒温槽1内に配置されるサンプ ルバルブ2,カラム3および検出器4,計量管5,ヘリウム等の不活性ガスから なるキャリアガスCGを所定圧に減圧する減圧弁6等を備え、測定時にサンプル バルブ2に流路を実線の状態から破線の状態に切替えることにより、計量管5に よって分取した測定すべきサンプルガスSGをキャリアガスCGによってカラム 3内に送り込むようにしている。
【0004】 また、カラム3にはサンプルガスSGに応じて異なるが、活性炭,活性アルミ ナ,モレキュラーシーブ等の粒度を揃えた粉末が固定相として充填されており、 この固定相とサンプルガス中の各ガス成分との吸着性や分配係数の差異に基づく 移動速度の差を利用して、各ガス成分を相互に分離し、これをTCD等の検出器 4によって検出し電気信号に変換する。この電気信号はガス成分濃度に比例し、 これをコントローラ7により波形処理したり記録紙に記録する。 一方、非測定時にはサンプルバルブ2の流路を実線図示の状態に切替えること により、キャリアガスCGをカラム3および検出器4へ導いている。
【0005】 ところで、このようなガスクロマトグラフにおいてカラム3などを所定温度に 加熱する恒温槽1の加熱方式は2つあり、1つは熱風を循環させ空気を媒体とし て熱を各部へ伝える熱風式で、もう1つは熱板式である。この熱板式はヒータに よって加熱された金属ブロックにカラムを密着させ、金属の熱伝導を利用して熱 を供給する方式である。そしてこの温度制御は、ヒータを恒温槽の制御対象内に 配し、サーミスタ等の温度センサをヒータの近傍に設置することにより、その制 御対象の検出値つまりPV値が目標値よりも高いときはヒータをOFFとし、P V値より目標値の方が高いときにはヒータをONとするON/OFF制御方式が 主に用いられている。
【0006】
しかし、この熱板式の恒温槽の場合には、金属ブロック自体の温度分布が一定 ではなく、熱源のヒータから離れた位置にカラムやTCD等の制御対象がある場 合は、正確な温度制御が困難になる。特に検出器としてTCDを用いる場合、カ ラムおよび検出器の温度を高精度で一定に保つ必要がある。
【0007】 本考案は以上の点に鑑みてなされたもので、恒温槽内の加熱方法として熱板式 を用いる場合に、熱源と温度制御対象が離れていても設定精度を高くすることが できるガスクロマトグラフの温度制御装置を提供することを目的とする。
【0008】
上記の目的を達成するため、本考案に係るガスクロマトグラフの温度制御装置 は、カラムを収納する熱板式の恒温槽内にそのカラムを一定温度に加熱するため のヒータと,それに近接して配置されたヒータ温度コントロール用の第1の温度 センサを設け、さらに恒温槽内のTCDの近傍に第1の温度センサとは別個に第 2の温度センサを設け、この第2の温度センサの検出値と予め設定された目標値 を比較してその偏差に応じた制御出力を求めたうえ、その制御出力に基づきヒー タを制御することにより、TCDの温度を一定に保つようにしたものである。
【0009】
本考案においては、熱源と温度制御対象が離れていてもそのTCDの温度を正 確に制御することができる。
【0010】
図1は本考案によるガスクロマトグラフの温度制御装置の一実施例を示すブロ ック図であり、図2はその恒温槽内のカラムと各温度センサとの配置関係を示す 概略図である。これらの図において図4と同一または相当部分は同一符号を付し てある。
【0011】 ここで恒温槽1は、図2に示すようにヒータ11によって加熱される金属ブロ ック10にカラム3を密着させ、その金属の熱伝導を利用して熱を供給する従来 例と同様の熱板式のものであり、ヒータ11と相対する上部位置に配設された検 出器としてのTCD4の近傍には、TCD温度コントロール用のサーミスタ等の 温度センサ13が設けられている。
【0012】 そして、この温度センサ13の検出値は図1に示すように制御値PVとして比 較部21に入力されている。この比較部21は予め設定された目標値SPが入力 されていて、その目標値SPとTCD温度コントロール用の温度センサ13の検 出値PVを比較してその偏差をPID演算部22に入力する。このPID演算部 22はその偏差をもとに制御出力を求め、その制御出力VREF を温度センサ回路 23入力する。
【0013】 この温度センサ回路23は、図3に示すように、ヒータ温度コントロール用の 温度センサ12を含むオペアンプ31とオペアンプ32から構成され、PID演 算部22より得られる制御出力VREF をもとに温度センサ12の抵抗値を応じた 信号を検出し、その信号をデューティ比制御部24に入力する。
【0014】 このデューティ比制御部24は、図3に示すようにA/D変換部33,CPU 34,タイマ35からなり、温度センサ回路23から得られる出力に対応したデ ューティ比を求め、その出力によりヒータON/OFF制御部25を駆動して恒 温槽1内のヒータ11をオン・オフ制御する。すなわち、ヒータ11をON駆動 するデューティ比をTCD温度コントロール用温度センサ13の検出温度に応じ て可変するために、TCD温度コントロール用温度センサ13の制御値PVが目 標値SPを大きく下回っているときにはデューティ比を高く、その制御値PVが 目標値SPに近づくにつれてデューティ比を小さくすることにより、そのデュー ティ比に応じた信号によってヒータ11をオン・オフ駆動してTCD4の温度を 一定に制御するものとなっている。
【0015】 なお、ヒータON/OFF制御部25は通常周知のスイッチング素子36とイ ンバータ回路37およびゼロクロス回路付きACスイッチ部38から構成されて いる。また、図3中39はAC電源、VDは直流の駆動電圧である。
【0016】 このように本実施例の温度制御装置によると、熱板式の恒温槽1においてその ヒータ11と相対するTCD4の近傍にヒータ温度コントロール用の温度センサ 12とは別個に温度センサ13を設け、その温度センサ13の検出出力をフィー ドバックして温度制御を行うことにより、TCD4の温度を一定に制御すること ができる。特にこの制御方式は制御対象の熱容量が大きい場合に有効である。 また、ヒータ11の近傍に計量管5をおくことにより、その計量管5の温度を ヒータ11の温度で代表せさることができる。そのため、サンプルガスの計量管 5へ取り込む量の温度依存性を補正によりキャンセルすることができ、TCD4 による濃度出力の温度特性の向上につながる。
【0017】 さらに本実施例によると、ヒータ11をON/OFF制御する際に、そのデュ ーティ比をTCD温度コントロール用の温度センサ13の検出出力に応じて変化 させることにより、高精度の温度制御が可能となる。すなわち、従来のON/O FF制御方式では、ヒータそのものが大きな熱容量をもっており、制御対象の熱 容量が大きい場合には精度の高い制御が困難になる。特に複雑な制御方式を取ろ うとした場合には目標の設定値を可変にするしかなく、その設定が複雑になって しまうことになる。
【0018】 これに対して、本実施例によると、ヒータ11のON/OFFのデューティ比 を可変にし、TCD温度コントロール用温度センサ13の検出値が目標値SPを 大きく下回っているときはデューティ比を高く、その温度センサ13の検出値が 目標値SPに近づくに従ってデューティ比を小さくすることにより、より精度の 高い制御を行うことができる。さらに、デューティ比の変え方により複雑な制御 方式に対応させることができるとともに、位相制御方式に比して、長いサイクル での制御が可能になるので、ヒータON/OFF制御部25を構成するACスイ ッチ部38にゼロクロス回路を採用すれば、そのスイッチのオン・オフに伴なう ノイズが発生しない。さらにヒータ11がON駆動している時間が短くなること から、省電力化がはかれる利点を有する。
【0019】
以上のように本考案によるガスクロマトグラフの温度制御装置によれば、熱板 式の恒温槽内に熱源のヒータと離れて設置されるTCDの近傍にその温度コント ロール用の温度センサを設け、その温度センサの検出出力をフィードバックして 温度制御を行うことにより、熱源のヒータとTCDの位置が離れていてもTCD の温度を正確に制御することができる。
【0020】 また本考案によれば、ヒータのON/OFFのデューティ比を変化させること により、精度の高い温度制御を行うことができるとともに、そのデューティ比の 変え方によって複雑な制御方式に対応させることができるという効果がある。
【図1】本考案によるガスクロマトグラフの温度制御装
置の一実施例を示すブロック図である。
置の一実施例を示すブロック図である。
【図2】本実施例の恒温槽におけるカラムと各温度セン
サの配置関係を示す図である。
サの配置関係を示す図である。
【図3】本実施例の主要部の具体例を示す回路構成図で
ある。
ある。
【図4】一般のガスクロマトグラフの基本構成を示す図
である。
である。
1 熱板式の恒温槽 3 カラム 4 TCD(熱伝導度検出器) 10 金属ブロック 11 ヒータ 12 ヒータ温度コントロール用の温度センサ 13 TCD温度コントロール用の温度センサ 21 比較部 22 PID演算部 23 温度センサ回路部 24 デューティ比制御部 25 ヒータON/OFF制御部
Claims (2)
- 【請求項1】 カラムを収容する熱板式の恒温槽を有
し、該カラムによって分離されるサンプルガス成分を熱
伝導度検出器で検出して分析するガスクロマトグラフに
おいて、前記恒温槽内にそのカラムを一定温度に加熱す
るためのヒータと,それに近接して配置されたヒータ温
度コントロール用の第1の温度センサを設け、さらに前
記恒温槽内の熱伝導度検出器の近傍に第1の温度センサ
とは別個に第2の温度センサを設け、該第2の温度セン
サの検出値と予め設定された目標値を比較してその偏差
に応じた制御出力を求めたうえ、その制御出力に基づき
前記ヒータを制御して熱伝導度検出器の温度を一定に保
つようにしたことを特徴とするガスクロマトグラフの温
度制御装置。 - 【請求項2】 請求項1において、ヒータの制御手段と
してON/OFF制御手段を用い、そのON/OFFの
デューティ比を変化させるようにしたことを特徴とする
ガスクロマトグラフの温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9302491U JPH0536363U (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | ガスクロマトグラフの温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9302491U JPH0536363U (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | ガスクロマトグラフの温度制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0536363U true JPH0536363U (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=14070923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9302491U Pending JPH0536363U (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | ガスクロマトグラフの温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0536363U (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006194706A (ja) * | 2005-01-13 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | 分析装置における温度制御装置 |
| JP2014130078A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Tosoh Corp | 液体クロマトグラフ用恒温槽 |
| WO2016039854A1 (en) * | 2014-09-13 | 2016-03-17 | Agilent Technologies, Inc. | Gas chromatography (gc) column heater |
| WO2016039853A1 (en) * | 2014-09-13 | 2016-03-17 | Agilent Technologies, Inc. | Gas chromatography (gc) column heater |
| WO2016069070A1 (en) * | 2014-10-31 | 2016-05-06 | Agilent Technologies, Inc. | Gas chromatography (gc) column heater control using multiple temperature sensors |
| US10145823B2 (en) | 2014-09-13 | 2018-12-04 | Agilent Technologies, Inc. | Gas chromatography (GC) column heater control using multiple temperature sensors |
| US10401331B2 (en) | 2014-09-13 | 2019-09-03 | Agilent Technologies, Inc. | Gas chromatography (GC) column heater |
| CN113009165A (zh) * | 2019-12-18 | 2021-06-22 | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 | 用于控制分析仪的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5920683U (ja) * | 1982-07-29 | 1984-02-08 | 松下電器産業株式会社 | 電子機器等の表示装置 |
| JPS62167473A (ja) * | 1985-12-03 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ |
-
1991
- 1991-10-18 JP JP9302491U patent/JPH0536363U/ja active Pending
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| CN106716124A (zh) * | 2014-09-13 | 2017-05-24 | 安捷伦科技有限公司 | 气相色谱(gc)柱加热器 |
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