JPH0537544A - ヘツダエラーチエツク装置及びatmセル監視装置 - Google Patents
ヘツダエラーチエツク装置及びatmセル監視装置Info
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- JPH0537544A JPH0537544A JP4006024A JP602492A JPH0537544A JP H0537544 A JPH0537544 A JP H0537544A JP 4006024 A JP4006024 A JP 4006024A JP 602492 A JP602492 A JP 602492A JP H0537544 A JPH0537544 A JP H0537544A
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- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 7
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 第1乃至第Pのヘッダブロック(各ヘッダブ
ロックは第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを持
つ)と、ヘッダエラーチェック(HEC)ブロック(H
ECブロックは第1乃至第NのATMセルHECユニッ
トを持つ)とを、備えたヘッダパートを含むSTM信号
Sを受け、ヘッダパートのヘッダエラーをチェックする
コンパクトな装置を提供する。 【構成】 制御信号が第p(pは1〜Pの間で可変な自
然数)のヘッダブロックの第n(nは1〜Nの間で可変
な自然数)のATMセルヘッダユニット及び第nのAT
MセルHECユニットを指示した時、第pのヘッダブロ
ックの第nのATMセルヘッダユニット及び第nのAT
MセルHECユニットに関してヘッダエラーをチェック
する単一エラーチェック部33、35、37を有する。
制御信号発生部15は、第1乃至第Pのヘッダブロック
の第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを連続的に
指示し、続いて、第1乃至第NのATMセルHECユニ
ットを連続的に指示する制御信号を発生する。
ロックは第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを持
つ)と、ヘッダエラーチェック(HEC)ブロック(H
ECブロックは第1乃至第NのATMセルHECユニッ
トを持つ)とを、備えたヘッダパートを含むSTM信号
Sを受け、ヘッダパートのヘッダエラーをチェックする
コンパクトな装置を提供する。 【構成】 制御信号が第p(pは1〜Pの間で可変な自
然数)のヘッダブロックの第n(nは1〜Nの間で可変
な自然数)のATMセルヘッダユニット及び第nのAT
MセルHECユニットを指示した時、第pのヘッダブロ
ックの第nのATMセルヘッダユニット及び第nのAT
MセルHECユニットに関してヘッダエラーをチェック
する単一エラーチェック部33、35、37を有する。
制御信号発生部15は、第1乃至第Pのヘッダブロック
の第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを連続的に
指示し、続いて、第1乃至第NのATMセルHECユニ
ットを連続的に指示する制御信号を発生する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、STM(synchronous
transfer mode:同期転送モード)信号に使用されるAT
M(asynchronous transfer mode: 非同期転送モード)
セルを監視するATMセル監視装置に関し、ATMセル
におけるヘッダエラーをチェックするヘッダエラーチェ
ック装置に関する。
transfer mode:同期転送モード)信号に使用されるAT
M(asynchronous transfer mode: 非同期転送モード)
セルを監視するATMセル監視装置に関し、ATMセル
におけるヘッダエラーをチェックするヘッダエラーチェ
ック装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ATMセルは、STM(同期転送モー
ド)においてSTM信号として伝送される。STM(同
期転送モード)は種々のレベルで使用される。STM信
号は、レベルM(Mは予め定められた自然数)で伝送さ
れる時、STM−M信号と呼ばれる。STM−1信号
は、155.52Mbit/sのビットレートで送信され、2,016 個
の電話チャンネルを含む。STM−4信号は、662.08Mb
it/sのビットレートで送信され、8,064 個の電話チャン
ネルを含む。STM−16信号は、2,488.32Mbit/sのビ
ットレートで送信され、32,256個の電話チャンネルを含
む。
ド)においてSTM信号として伝送される。STM(同
期転送モード)は種々のレベルで使用される。STM信
号は、レベルM(Mは予め定められた自然数)で伝送さ
れる時、STM−M信号と呼ばれる。STM−1信号
は、155.52Mbit/sのビットレートで送信され、2,016 個
の電話チャンネルを含む。STM−4信号は、662.08Mb
it/sのビットレートで送信され、8,064 個の電話チャン
ネルを含む。STM−16信号は、2,488.32Mbit/sのビ
ットレートで送信され、32,256個の電話チャンネルを含
む。
【0003】後に詳述するように、種々のヘッダエラー
チェック装置が既に知られている。そのようなヘッダエ
ラーチェック装置は、ヘッダパートを有するSTM信号
を受信するデータ入力端子を持っている。ヘッダエラー
チェック装置は、ヘッダパートにおけるヘッダエラーを
チェックするものである。ヘッダパートは第1乃至第P
(Pは第1の所定の自然数)のヘッダブロックとヘッダ
エラーチェックブロックとを有する。ヘッダブロックの
各々は第1乃至第N(Nは第2の所定の自然数)のAT
Mセルヘッダユニットを有し、ヘッダエラーチェックブ
ロックは第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットを有する。第1乃至第Pのヘッダブロックの
第1のATMセルヘッダユニットと、第1のATMセル
ヘッダエラーチェックユニットは、第1のATMセルの
ヘッダを構成する。同様に、第1乃至第Pのヘッダブロ
ックの第NのATMセルヘッダユニットと、第NのAT
Mセルヘッダエラーチェックユニットは、第NのATM
セルのヘッダを構成する。第1乃至第NのATMセルヘ
ッダユニット及び第1乃至第NのATMセルヘッダエラ
ーチェックユニットの各々は、所定のビット間隔で第3
の所定の自然数のビットを有する。
チェック装置が既に知られている。そのようなヘッダエ
ラーチェック装置は、ヘッダパートを有するSTM信号
を受信するデータ入力端子を持っている。ヘッダエラー
チェック装置は、ヘッダパートにおけるヘッダエラーを
チェックするものである。ヘッダパートは第1乃至第P
(Pは第1の所定の自然数)のヘッダブロックとヘッダ
エラーチェックブロックとを有する。ヘッダブロックの
各々は第1乃至第N(Nは第2の所定の自然数)のAT
Mセルヘッダユニットを有し、ヘッダエラーチェックブ
ロックは第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットを有する。第1乃至第Pのヘッダブロックの
第1のATMセルヘッダユニットと、第1のATMセル
ヘッダエラーチェックユニットは、第1のATMセルの
ヘッダを構成する。同様に、第1乃至第Pのヘッダブロ
ックの第NのATMセルヘッダユニットと、第NのAT
Mセルヘッダエラーチェックユニットは、第NのATM
セルのヘッダを構成する。第1乃至第NのATMセルヘ
ッダユニット及び第1乃至第NのATMセルヘッダエラ
ーチェックユニットの各々は、所定のビット間隔で第3
の所定の自然数のビットを有する。
【0004】ヘッダエラーチェック装置は、データ入力
端子に接続され、制御信号を発生する制御信号発生部を
含む。制御信号発生部は、例えば、SDH(synchronous
digital hierachy)終端部である。従来のヘッダエラー
チェック装置では、第1乃至第Nの制御信号を含む。第
nの制御信号は、ヘッダブロックの各々の第nのATM
セルヘッダユニットのビット及び第nのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットを連続的に指示する。ここ
で、nは1以上〜N以下の間で可変である。
端子に接続され、制御信号を発生する制御信号発生部を
含む。制御信号発生部は、例えば、SDH(synchronous
digital hierachy)終端部である。従来のヘッダエラー
チェック装置では、第1乃至第Nの制御信号を含む。第
nの制御信号は、ヘッダブロックの各々の第nのATM
セルヘッダユニットのビット及び第nのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットを連続的に指示する。ここ
で、nは1以上〜N以下の間で可変である。
【0005】従来のヘッダエラーチェック装置の一つに
おいては、第nのシリアルパラレル変換器は、第nの制
御信号によって制御され、第1乃至第Pのヘッダブロッ
クの第nのATMセルヘッダユニット及び第nのATM
セルヘッダエラーチェックユニットの各々を、第nのビ
ットパラレル信号に変換する。第nの巡回冗長チェック
(CRC)回路は、第nのビットパラレル信号について
巡回冗長チェックを行い、ヘッダブロックの第nのAT
Mセルヘッダユニットにおけるヘッダエラーをチェック
する。
おいては、第nのシリアルパラレル変換器は、第nの制
御信号によって制御され、第1乃至第Pのヘッダブロッ
クの第nのATMセルヘッダユニット及び第nのATM
セルヘッダエラーチェックユニットの各々を、第nのビ
ットパラレル信号に変換する。第nの巡回冗長チェック
(CRC)回路は、第nのビットパラレル信号について
巡回冗長チェックを行い、ヘッダブロックの第nのAT
Mセルヘッダユニットにおけるヘッダエラーをチェック
する。
【0006】従来のヘッダエラーチェック装置のもう一
つにおいては、第nの巡回冗長チェック(CRC)回路
は、第nの制御信号によって制御され、STM信号の第
nのATMセルヘッダユニットの各々について巡回冗長
チェックを行い、ヘッダブロックの第nのATMセルヘ
ッダユニットにおけるヘッダエラーをチェックする。
つにおいては、第nの巡回冗長チェック(CRC)回路
は、第nの制御信号によって制御され、STM信号の第
nのATMセルヘッダユニットの各々について巡回冗長
チェックを行い、ヘッダブロックの第nのATMセルヘ
ッダユニットにおけるヘッダエラーをチェックする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ここで、nが1とNと
の間で可変なことから、このような従来のヘッダエラー
チェック装置が、第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路
を含むことは明らかであろう。従って、従来のヘッダエ
ラーチェック装置は大型で高価なものとなる。
の間で可変なことから、このような従来のヘッダエラー
チェック装置が、第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路
を含むことは明らかであろう。従って、従来のヘッダエ
ラーチェック装置は大型で高価なものとなる。
【0008】従来のヘッダエラーチェック装置は、第1
乃至第NのATMセルヘッダユニットを用いて、STM
信号のヘッダパートにおけるヘッダエラーをチェックす
ることによって、第1乃至第NのATMセルのヘッダに
おけるヘッダエラーをチェックすることができるので、
ヘッダエラーチェック装置がATMセルを監視する装置
であると理解ができる。しかしながら、従来のヘッダエ
ラーチェック装置は、ATMセルのヘッダと共にATM
セルを構成するATMセルの情報フィールドにおける情
報エラーはチェックすることができない。
乃至第NのATMセルヘッダユニットを用いて、STM
信号のヘッダパートにおけるヘッダエラーをチェックす
ることによって、第1乃至第NのATMセルのヘッダに
おけるヘッダエラーをチェックすることができるので、
ヘッダエラーチェック装置がATMセルを監視する装置
であると理解ができる。しかしながら、従来のヘッダエ
ラーチェック装置は、ATMセルのヘッダと共にATM
セルを構成するATMセルの情報フィールドにおける情
報エラーはチェックすることができない。
【0009】従って、本発明の課題は、コンパクトで安
価なヘッダエラーチェック装置を提供することにある。
価なヘッダエラーチェック装置を提供することにある。
【0010】本発明のもう一つの課題は、ATMセルの
ヘッダにおけるヘッダエラーのみならずATMセルの情
報フィールドにおける情報エラーをもチェックすること
ができるATMセル監視装置を提供することにある。
ヘッダにおけるヘッダエラーのみならずATMセルの情
報フィールドにおける情報エラーをもチェックすること
ができるATMセル監視装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の一態様によれ
ば、ヘッダパートを有するSTM信号を受信するデータ
入力端子を持ち、前記ヘッダパートにおけるヘッダエラ
ーをチェックするヘッダエラーチェック装置であって、
前記ヘッダパートは第1乃至第P(Pは第1の所定の自
然数)のヘッダブロックとヘッダエラーチェックブロッ
クとを有し、前記ヘッダブロックの各々は第1乃至第N
(Nは第2の所定の自然数)のATMセルヘッダユニッ
トを有し、前記ヘッダエラーチェックブロックは第1乃
至第NのATMセルヘッダエラーチェックユニットを有
し、前記データ入力端子に接続され、前記第1乃至前記
第Pのヘッダブロックの前記第1乃至前記第NのATM
セルヘッダユニットを連続的に指示し、続いて、前記第
1乃至前記第NのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットを連続的に指示する制御信号を発生する制御信号発
生部を含む前記ヘッダエラーチェック装置において、前
記データ入力端子及び前記制御信号発生部に接続され、
前記制御信号が第p(pは1以上〜P以下の間で可変な
自然数)のヘッダブロックの第n(nは1以上〜N以下
の間で可変な自然数)のATMセルヘッダユニット及び
第nのATMセルヘッダエラーチェックユニットを指示
した時、前記第pのヘッダブロックの前記第nのATM
セルヘッダユニット及び前記第nのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットに関して前記ヘッダエラーをチェ
ックする単一エラーチェック部を有することを特徴とす
るヘッダエラーチェック装置が得られる。
ば、ヘッダパートを有するSTM信号を受信するデータ
入力端子を持ち、前記ヘッダパートにおけるヘッダエラ
ーをチェックするヘッダエラーチェック装置であって、
前記ヘッダパートは第1乃至第P(Pは第1の所定の自
然数)のヘッダブロックとヘッダエラーチェックブロッ
クとを有し、前記ヘッダブロックの各々は第1乃至第N
(Nは第2の所定の自然数)のATMセルヘッダユニッ
トを有し、前記ヘッダエラーチェックブロックは第1乃
至第NのATMセルヘッダエラーチェックユニットを有
し、前記データ入力端子に接続され、前記第1乃至前記
第Pのヘッダブロックの前記第1乃至前記第NのATM
セルヘッダユニットを連続的に指示し、続いて、前記第
1乃至前記第NのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットを連続的に指示する制御信号を発生する制御信号発
生部を含む前記ヘッダエラーチェック装置において、前
記データ入力端子及び前記制御信号発生部に接続され、
前記制御信号が第p(pは1以上〜P以下の間で可変な
自然数)のヘッダブロックの第n(nは1以上〜N以下
の間で可変な自然数)のATMセルヘッダユニット及び
第nのATMセルヘッダエラーチェックユニットを指示
した時、前記第pのヘッダブロックの前記第nのATM
セルヘッダユニット及び前記第nのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットに関して前記ヘッダエラーをチェ
ックする単一エラーチェック部を有することを特徴とす
るヘッダエラーチェック装置が得られる。
【0012】本発明のもう一つの態様によれば、システ
ム入力ATMセルを受けるシステム入力端子と、システ
ム出力端子とを、有するATMセル伝送システムに組み
合わされて使用されるATMセル監視装置であって、前
記ATMセル伝送システムは、前記システム入力ATM
セルをそのまま前記システム出力端子に伝送し、前記シ
ステム入力ATMセルをシステム出力ATMセルとして
出力するものであり、前記ATMセル伝送システムを監
視し、前記システム出力ATMセルにおけるエラーをチ
ェックする前記ATMセル監視装置において、所定数の
バイトからなる原ATMセルを受け、該原ATMセル
を、前記所定数のバイトとそれに付加された一つの空き
バイトとからなる第1の変換されたATMセルに変換す
る第1のフォーマット変換器と;前記第1のフォーマッ
ト変換器に接続され、前記第1の変換されたATMセル
における前記所定数のバイトにおける第1のエラーをチ
ェックし、第1のエラー訂正符号を出力する第1のエラ
ーチェック回路と;前記ATMセル伝送システムの前記
システム入力端子と、前記第1のフォーマット変換器
と、前記第1のエラーチェック回路とに接続され、前記
第1のエラー訂正符号を前記第1の変換されたATMセ
ルの前記空きバイトに挿入して、満たされたATMセル
とし、該満たされたフルATMセルを前記システム入力
ATMセルとして前記システム入力端子に送出する結合
器と;前記ATMセル伝送システムの前記システム出力
端子に接続され、前記システム出力ATMセルにおける
前記所定数のバイトにおける第2のエラーをチェック
し、第2のエラー訂正符号を出力する第2のエラーチェ
ック回路と;前記ATMセル伝送システムの前記システ
ム出力端子と前記第2のエラーチェック回路とに接続さ
れ、前記システム出力ATMセルに含まれている前記第
1のエラー訂正符号を前記第2のエラー訂正符号に比較
し、比較結果を出力する比較器と;を有することを特徴
とするATMセル監視装置が得られる。
ム入力ATMセルを受けるシステム入力端子と、システ
ム出力端子とを、有するATMセル伝送システムに組み
合わされて使用されるATMセル監視装置であって、前
記ATMセル伝送システムは、前記システム入力ATM
セルをそのまま前記システム出力端子に伝送し、前記シ
ステム入力ATMセルをシステム出力ATMセルとして
出力するものであり、前記ATMセル伝送システムを監
視し、前記システム出力ATMセルにおけるエラーをチ
ェックする前記ATMセル監視装置において、所定数の
バイトからなる原ATMセルを受け、該原ATMセル
を、前記所定数のバイトとそれに付加された一つの空き
バイトとからなる第1の変換されたATMセルに変換す
る第1のフォーマット変換器と;前記第1のフォーマッ
ト変換器に接続され、前記第1の変換されたATMセル
における前記所定数のバイトにおける第1のエラーをチ
ェックし、第1のエラー訂正符号を出力する第1のエラ
ーチェック回路と;前記ATMセル伝送システムの前記
システム入力端子と、前記第1のフォーマット変換器
と、前記第1のエラーチェック回路とに接続され、前記
第1のエラー訂正符号を前記第1の変換されたATMセ
ルの前記空きバイトに挿入して、満たされたATMセル
とし、該満たされたフルATMセルを前記システム入力
ATMセルとして前記システム入力端子に送出する結合
器と;前記ATMセル伝送システムの前記システム出力
端子に接続され、前記システム出力ATMセルにおける
前記所定数のバイトにおける第2のエラーをチェック
し、第2のエラー訂正符号を出力する第2のエラーチェ
ック回路と;前記ATMセル伝送システムの前記システ
ム出力端子と前記第2のエラーチェック回路とに接続さ
れ、前記システム出力ATMセルに含まれている前記第
1のエラー訂正符号を前記第2のエラー訂正符号に比較
し、比較結果を出力する比較器と;を有することを特徴
とするATMセル監視装置が得られる。
【0013】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【0014】まず、図6を参照して、本発明のより良き
理解のために、従来のヘッダエラーチェック装置を説明
する。このヘッダエラーチェック装置は、上述したレベ
ルMのSTM信号Sを受信するデータ入力端子12と、
第1乃至第Nの結果出力端子13(1)、13(2)、
…、及び13(N)とを持っている。結果出力端子は、
全体的に見た時、添字を省略して参照符号13で指定さ
れるものとする。結果出力端子13のある一つに着目し
た時、その結果出力端子13は第nの結果出力端子と呼
ばれ、参照符号13(n)で指定されるものとする。こ
れは、本明細書において使用される他の参照符号にも適
用される。
理解のために、従来のヘッダエラーチェック装置を説明
する。このヘッダエラーチェック装置は、上述したレベ
ルMのSTM信号Sを受信するデータ入力端子12と、
第1乃至第Nの結果出力端子13(1)、13(2)、
…、及び13(N)とを持っている。結果出力端子は、
全体的に見た時、添字を省略して参照符号13で指定さ
れるものとする。結果出力端子13のある一つに着目し
た時、その結果出力端子13は第nの結果出力端子と呼
ばれ、参照符号13(n)で指定されるものとする。こ
れは、本明細書において使用される他の参照符号にも適
用される。
【0015】図7を参照して、STM信号Sは、図7の
第1ラインに示すように、公知のセクションオーバヘッ
ドSOHとバーチャルコンテナVCとを含む。バーチャ
ルコンテナVCは、公知のパスオーバヘッドPOHと、
ヘッダパートHP及び情報パートIPを有するペイロー
ドとを有する。パスオーバヘッドPOHは、STM信号
Sにおいて、セクションオーバヘッドSOHに続く。ヘ
ッダパートHPは、STM信号Sにおいて、パスオーバ
ヘッドPOHに続く。情報パートIPは、ヘッダパート
HPに続き、第1乃至第J(Jは予め定められた正の整
数)の情報ブロック(図示せず)を有し、情報ブロック
の各々は、第1乃至第NのATM情報ユニット(図示せ
ず)を有する。本ヘッダエラーチェック装置は、ヘッダ
パートHPにおけるヘッダエラーをチェックするための
ものである。
第1ラインに示すように、公知のセクションオーバヘッ
ドSOHとバーチャルコンテナVCとを含む。バーチャ
ルコンテナVCは、公知のパスオーバヘッドPOHと、
ヘッダパートHP及び情報パートIPを有するペイロー
ドとを有する。パスオーバヘッドPOHは、STM信号
Sにおいて、セクションオーバヘッドSOHに続く。ヘ
ッダパートHPは、STM信号Sにおいて、パスオーバ
ヘッドPOHに続く。情報パートIPは、ヘッダパート
HPに続き、第1乃至第J(Jは予め定められた正の整
数)の情報ブロック(図示せず)を有し、情報ブロック
の各々は、第1乃至第NのATM情報ユニット(図示せ
ず)を有する。本ヘッダエラーチェック装置は、ヘッダ
パートHPにおけるヘッダエラーをチェックするための
ものである。
【0016】図7の第2ラインに示すように、ヘッダパ
ートHPは、第1乃至第P(Pは第1の所定の自然数)
のヘッダブロックとヘッダエラーチェック(HEC)ブ
ロックとを有する。ヘッダブロックの各々は、第1乃至
第N(Nは第2の所定の自然数)のATMセルヘッダユ
ニット(これらは、“第1乃至第Nのヘッダユニット”
と省略して示されている。)を有する。ヘッダエラーチ
ェック(HEC)ブロックは、第1乃至第NのATMセ
ルヘッダエラーチェックユニット(これらは、“第1乃
至第NのHECユニット”と省略して示されている。)
を有する。第1乃至第NのATMセルヘッダユニット及
び第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットの各々は、所定のビット間隔で第3の所定の自然数
Q分のビットを有する。
ートHPは、第1乃至第P(Pは第1の所定の自然数)
のヘッダブロックとヘッダエラーチェック(HEC)ブ
ロックとを有する。ヘッダブロックの各々は、第1乃至
第N(Nは第2の所定の自然数)のATMセルヘッダユ
ニット(これらは、“第1乃至第Nのヘッダユニット”
と省略して示されている。)を有する。ヘッダエラーチ
ェック(HEC)ブロックは、第1乃至第NのATMセ
ルヘッダエラーチェックユニット(これらは、“第1乃
至第NのHECユニット”と省略して示されている。)
を有する。第1乃至第NのATMセルヘッダユニット及
び第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットの各々は、所定のビット間隔で第3の所定の自然数
Q分のビットを有する。
【0017】ここで、第1の所定の自然数Pが4に等し
く、第2の所定の自然数Nが特別の値を持たないと仮定
する。一般に、第3の所定の自然数Qは典型的には8に
等しい。即ち、ATMセルヘッダユニット及びATMセ
ルヘッダエラーチェックユニットの各々は、一バイト
長,即ち8ビット長を有する。詳細には、第1のヘッダ
ブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビット
は、A(1),…,及びA(8)で示されている。第2
のヘッダブロックの第1のATMセルヘッダユニットの
ビットは、A(9),…,及びA(16)で示される。
同様に、第1のヘッダブロックの第2のATMセルヘッ
ダユニットのビットは、B(1),…,及びB(8)で
示される。
く、第2の所定の自然数Nが特別の値を持たないと仮定
する。一般に、第3の所定の自然数Qは典型的には8に
等しい。即ち、ATMセルヘッダユニット及びATMセ
ルヘッダエラーチェックユニットの各々は、一バイト
長,即ち8ビット長を有する。詳細には、第1のヘッダ
ブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビット
は、A(1),…,及びA(8)で示されている。第2
のヘッダブロックの第1のATMセルヘッダユニットの
ビットは、A(9),…,及びA(16)で示される。
同様に、第1のヘッダブロックの第2のATMセルヘッ
ダユニットのビットは、B(1),…,及びB(8)で
示される。
【0018】ここで、第2の所定の自然数Nが4に等し
いと仮定すると、第Pのヘッダブロックの第NのATM
セルヘッダユニットのビットは、N(25),…,及び
N(32)で示される。第1のATMセルヘッダエラー
チェックユニットのビットは、AH(1),…,及びA
H(8)で示される。第2のATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットのビットは、BH(1),…,及びBH
(8)で示される。第NのATMセルヘッダエラーチェ
ックユニットのビットは、NH(8)で終わる。このよ
うに、第2の所定の自然数Nは多重度を示している。
いと仮定すると、第Pのヘッダブロックの第NのATM
セルヘッダユニットのビットは、N(25),…,及び
N(32)で示される。第1のATMセルヘッダエラー
チェックユニットのビットは、AH(1),…,及びA
H(8)で示される。第2のATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットのビットは、BH(1),…,及びBH
(8)で示される。第NのATMセルヘッダエラーチェ
ックユニットのビットは、NH(8)で終わる。このよ
うに、第2の所定の自然数Nは多重度を示している。
【0019】図8を参照すると、第1乃至第NのATM
セルの一つは、53バイトを有する。図示のATMセル
は、第nのATMセルと呼ばれる。ここで、nは上述の
ように1以上〜N以下の間で可変な自然数である。第1
乃至第5のバイトは、第nのATMセルのヘッダと呼ば
れ、第6乃至第53(即ち、48個)のバイトは、第n
のATMセルの情報フィールドと呼ばれる。図示の情報
フィールドにおいては、前述の予め定められた正の整数
Jは48に等しい。
セルの一つは、53バイトを有する。図示のATMセル
は、第nのATMセルと呼ばれる。ここで、nは上述の
ように1以上〜N以下の間で可変な自然数である。第1
乃至第5のバイトは、第nのATMセルのヘッダと呼ば
れ、第6乃至第53(即ち、48個)のバイトは、第n
のATMセルの情報フィールドと呼ばれる。図示の情報
フィールドにおいては、前述の予め定められた正の整数
Jは48に等しい。
【0020】図8に加えて図7も参照して、第1乃至第
4のバイトは、第1乃至第4(第P)のヘッダブロック
の第nのATMセルヘッダユニットを表す。換言すれ
ば、第nのATMセルヘッダユニットは第pのバイトと
して示され、pは1以上〜N以下の間で可変である。詳
細には、第pのヘッダブロックは、第1乃至第NのAT
Mセルの第pのバイトで、第1乃至第NのATMセルヘ
ッダユニットからなる。図8の第5のバイトは第nのA
TMセルヘッダエラーチェックユニットである。このよ
うに、STM信号SのヘッダパートHPは、第1乃至第
NのATMセルのヘッダを含む。同様に、STM信号S
の情報パートIPは、第1乃至第NのATMセルの情報
フィールドを含む。
4のバイトは、第1乃至第4(第P)のヘッダブロック
の第nのATMセルヘッダユニットを表す。換言すれ
ば、第nのATMセルヘッダユニットは第pのバイトと
して示され、pは1以上〜N以下の間で可変である。詳
細には、第pのヘッダブロックは、第1乃至第NのAT
Mセルの第pのバイトで、第1乃至第NのATMセルヘ
ッダユニットからなる。図8の第5のバイトは第nのA
TMセルヘッダエラーチェックユニットである。このよ
うに、STM信号SのヘッダパートHPは、第1乃至第
NのATMセルのヘッダを含む。同様に、STM信号S
の情報パートIPは、第1乃至第NのATMセルの情報
フィールドを含む。
【0021】図7において、第1乃至第Pのヘッダブロ
ックの第nのATMセルヘッダユニットに着目して、第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットを、第(1,n)、第(2,n)、…、及び第
(P,n)のATMセルヘッダと呼ぶことが可能であ
る。第1乃至第Pのヘッダブロックにおける第pのヘッ
ダブロックにおいて、第nのATMセルヘッダユニット
を、第(p,n)のATMセルヘッダと呼ぶ。
ックの第nのATMセルヘッダユニットに着目して、第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットを、第(1,n)、第(2,n)、…、及び第
(P,n)のATMセルヘッダと呼ぶことが可能であ
る。第1乃至第Pのヘッダブロックにおける第pのヘッ
ダブロックにおいて、第nのATMセルヘッダユニット
を、第(p,n)のATMセルヘッダと呼ぶ。
【0022】図7を参照しながら図6に戻って、本ヘッ
ダエラーチェック装置は、データ入力端子12に接続さ
れたSDH(synchronous digital hierachy)終端部15
を有する。SDH終端部15は、セクションオーバヘッ
ドSOHとパスオーバヘッドPOHに応答して、第1乃
至第Nのビット及びユニット制御信号C(1)、C
(2)、…、及びC(N)を発生する。図7の第3及び
第4ラインに示された第1及び第2のビット及びユニッ
ト制御信号C(1)及びC(2)から明らかなように、
第nのビット及びユニット制御信号C(n)は、第1乃
至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニ
ットのビット及び第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットのビットを指示する。
ダエラーチェック装置は、データ入力端子12に接続さ
れたSDH(synchronous digital hierachy)終端部15
を有する。SDH終端部15は、セクションオーバヘッ
ドSOHとパスオーバヘッドPOHに応答して、第1乃
至第Nのビット及びユニット制御信号C(1)、C
(2)、…、及びC(N)を発生する。図7の第3及び
第4ラインに示された第1及び第2のビット及びユニッ
ト制御信号C(1)及びC(2)から明らかなように、
第nのビット及びユニット制御信号C(n)は、第1乃
至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニ
ットのビット及び第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットのビットを指示する。
【0023】第1乃至第Nのシリアルパラレル(S/
P)変換器17(1)、17(2)、及び17(N)
は、データ入力端子12に接続され、SDH終端部15
から第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号C(添
字略)を受けるクロック端子CKを持つ。第1乃至第N
のシリアルパラレル変換器17(添字略)の第nのシリ
アルパラレル変換器17(n)は、STM信号Sのヘッ
ダパートHPを第nのビットパラレル信号に変換する。
図7の第5ラインに(17)として第1のビットパラレ
ル信号が示されているように、第1乃至第P(第4)の
ヘッダブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビ
ットA(1)〜A(32)及び第1のATMセルヘッダ
エラーチェックユニットのビットAH(1)〜AH
(8)が第1のビット及びユニット制御信号C(1)の
終了時に現れる。
P)変換器17(1)、17(2)、及び17(N)
は、データ入力端子12に接続され、SDH終端部15
から第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号C(添
字略)を受けるクロック端子CKを持つ。第1乃至第N
のシリアルパラレル変換器17(添字略)の第nのシリ
アルパラレル変換器17(n)は、STM信号Sのヘッ
ダパートHPを第nのビットパラレル信号に変換する。
図7の第5ラインに(17)として第1のビットパラレ
ル信号が示されているように、第1乃至第P(第4)の
ヘッダブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビ
ットA(1)〜A(32)及び第1のATMセルヘッダ
エラーチェックユニットのビットAH(1)〜AH
(8)が第1のビット及びユニット制御信号C(1)の
終了時に現れる。
【0024】第1乃至第Nの巡回冗長チェック(CR
C)回路19(1)、19(2)、…、及び19(N)
は、第1乃至第Nのシリアルパラレル変換器17(添字
略)から第1乃至第Nのビットパラレル信号を受ける。
第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路19(添字略)の
第nの巡回冗長チェック回路19(n)は、第nのビッ
トパラレル信号について巡回冗長チェックを行い、ヘッ
ダエラーが検出された時ハイレベルで、ヘッダエラーが
検出されなかった時ローレベルで、第nのチェック結果
を表す第nのチェック結果信号を出力する。図7の第6
ラインに(19)として第1のチェック結果信号が示さ
れているように、第nのチェック結果信号は、第1乃至
第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニッ
トにおいてヘッダエラーが検出されなかった時に、ロー
レベルを持つ。このようにして、第1乃至第Nの巡回冗
長チェック回路19は、第1乃至第Nのチェック結果信
号を第1乃至第Nの結果出力端子13に出力する。
C)回路19(1)、19(2)、…、及び19(N)
は、第1乃至第Nのシリアルパラレル変換器17(添字
略)から第1乃至第Nのビットパラレル信号を受ける。
第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路19(添字略)の
第nの巡回冗長チェック回路19(n)は、第nのビッ
トパラレル信号について巡回冗長チェックを行い、ヘッ
ダエラーが検出された時ハイレベルで、ヘッダエラーが
検出されなかった時ローレベルで、第nのチェック結果
を表す第nのチェック結果信号を出力する。図7の第6
ラインに(19)として第1のチェック結果信号が示さ
れているように、第nのチェック結果信号は、第1乃至
第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニッ
トにおいてヘッダエラーが検出されなかった時に、ロー
レベルを持つ。このようにして、第1乃至第Nの巡回冗
長チェック回路19は、第1乃至第Nのチェック結果信
号を第1乃至第Nの結果出力端子13に出力する。
【0025】次に、図9及び図10を参照して、従来の
ヘッダエラーチェック装置のもう一つについて説明す
る。このヘッダエラーチェック装置において、上述と同
じ部分には同じ参照符号が付されている。データ入力端
子12は、STM信号SのヘッダパートHPを受ける。
図9には示されていないが、SDH終端部15(図6)
は第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号Cを発生
する。SDH終端部15は、更に、第1乃至第NのAT
Mセルヘッダエラーチェックユニット信号T(1)、T
(2)、…、及びT(N)を選択的に発生する。ここで
は、第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェックユ
ニット信号T(添字略)は、第1乃至第Nの選択信号と
呼ばれる。第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号
Cは簡略化して第1乃至第Nの制御信号と呼ばれる。第
1乃至第Nの制御信号Cは、第1乃至第Nの制御入力端
子21(1)、21(2)、…、及び21(N)、即ち
21、に供給され、第1乃至第Nの選択信号Tは、第1
乃至第Nの選択入力端子23(1)、23(2)、…、
及び23(N)、即ち23、に与えられる。
ヘッダエラーチェック装置のもう一つについて説明す
る。このヘッダエラーチェック装置において、上述と同
じ部分には同じ参照符号が付されている。データ入力端
子12は、STM信号SのヘッダパートHPを受ける。
図9には示されていないが、SDH終端部15(図6)
は第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号Cを発生
する。SDH終端部15は、更に、第1乃至第NのAT
Mセルヘッダエラーチェックユニット信号T(1)、T
(2)、…、及びT(N)を選択的に発生する。ここで
は、第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェックユ
ニット信号T(添字略)は、第1乃至第Nの選択信号と
呼ばれる。第1乃至第Nのビット及びユニット制御信号
Cは簡略化して第1乃至第Nの制御信号と呼ばれる。第
1乃至第Nの制御信号Cは、第1乃至第Nの制御入力端
子21(1)、21(2)、…、及び21(N)、即ち
21、に供給され、第1乃至第Nの選択信号Tは、第1
乃至第Nの選択入力端子23(1)、23(2)、…、
及び23(N)、即ち23、に与えられる。
【0026】図10において、STM信号Sのヘッダパ
ートHPが第1ラインに示され、これは図6及び図7を
参照して述べられたものと同じである。図10の第2及
び第3ラインに示された第1及び第2のビット及びユニ
ット制御信号C(1)及びC(2)から明らかなよう
に、第nのビット及びユニット制御信号C(n)は、図
6及び図7を参照して述べられたものと同様に、第1乃
至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニ
ットのビット及び第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットのビットを指示する。図10の第4ラインに
(T(1))として示された第1の選択信号T(1)か
ら明らかなように、第nの選択信号T(n)は、第nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットを選択的に指
示する。
ートHPが第1ラインに示され、これは図6及び図7を
参照して述べられたものと同じである。図10の第2及
び第3ラインに示された第1及び第2のビット及びユニ
ット制御信号C(1)及びC(2)から明らかなよう
に、第nのビット及びユニット制御信号C(n)は、図
6及び図7を参照して述べられたものと同様に、第1乃
至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダユニ
ットのビット及び第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットのビットを指示する。図10の第4ラインに
(T(1))として示された第1の選択信号T(1)か
ら明らかなように、第nの選択信号T(n)は、第nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットを選択的に指
示する。
【0027】第1乃至第Nの巡回冗長チェック(CR
C)回路19は、図6のようにシリアルパラレル変換器
17を介さずに、データ入力端子12に直接接続され
る。第nの巡回冗長チェック回路19は、第nの制御入
力端子21(n)に更に接続され、第nの制御信号C
(n)が第nの制御入力端子21(n)に供給される。
第nの巡回冗長チェック回路19は、第nの制御信号C
(n)によってSTM信号Sから選択された、第1乃至
第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダエラー
チェックユニットについて、巡回冗長チェックを行い、
第nの結果を表す第nの結果信号を出力する。詳しく
は、第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路19(1)〜
19(N)は、第1乃至第Nの結果を表す第1乃至第N
の結果信号を、それぞれ出力する。第nの結果信号は、
図6及び図7の場合のようにハイ或いはローレベルを持
っておらず、第3の所定の自然数Qに等しい数の更新チ
ェックビットからなる第nの更新ATMセルヘッダエラ
ーチェックユニットを表している。第nの更新ATMセ
ルヘッダエラーチェックユニットの更新チェックビット
は、典型的には、第1乃至第Pのヘッダブロックの第n
のATMセルヘッダユニットを生成多項式で割算して得
られた余りを、エラー訂正符号として表すものである。
C)回路19は、図6のようにシリアルパラレル変換器
17を介さずに、データ入力端子12に直接接続され
る。第nの巡回冗長チェック回路19は、第nの制御入
力端子21(n)に更に接続され、第nの制御信号C
(n)が第nの制御入力端子21(n)に供給される。
第nの巡回冗長チェック回路19は、第nの制御信号C
(n)によってSTM信号Sから選択された、第1乃至
第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダエラー
チェックユニットについて、巡回冗長チェックを行い、
第nの結果を表す第nの結果信号を出力する。詳しく
は、第1乃至第Nの巡回冗長チェック回路19(1)〜
19(N)は、第1乃至第Nの結果を表す第1乃至第N
の結果信号を、それぞれ出力する。第nの結果信号は、
図6及び図7の場合のようにハイ或いはローレベルを持
っておらず、第3の所定の自然数Qに等しい数の更新チ
ェックビットからなる第nの更新ATMセルヘッダエラ
ーチェックユニットを表している。第nの更新ATMセ
ルヘッダエラーチェックユニットの更新チェックビット
は、典型的には、第1乃至第Pのヘッダブロックの第n
のATMセルヘッダユニットを生成多項式で割算して得
られた余りを、エラー訂正符号として表すものである。
【0028】図10の第5ラインに(19(1))とし
て示された第1の結果信号から明らかなように、第nの
更新ATMセルヘッダエラーチェックユニットは、更新
ビットAh(1)〜Ah(8)からなる。他方、データ
入力端子12で受信されたSTM信号に含まれるATM
セルヘッダエラーチェックユニットは原ATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットと呼び、原ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットのビットは原ビットと呼ぶこと
にする。
て示された第1の結果信号から明らかなように、第nの
更新ATMセルヘッダエラーチェックユニットは、更新
ビットAh(1)〜Ah(8)からなる。他方、データ
入力端子12で受信されたSTM信号に含まれるATM
セルヘッダエラーチェックユニットは原ATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットと呼び、原ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットのビットは原ビットと呼ぶこと
にする。
【0029】第1乃至第Nのセレクタ或いはスイッチ2
5(1)、25(1)、…、及び25(N)は、第1の
セレクタ25(1)がデータ入力端子12に接続され、
且つ、第Nのセレクタ25(N)がデータ出力端子27
に接続された状態に、縦続接続されている。第nのセレ
クタ25(n)は、第nの巡回冗長チェック回路19
(n)から第nの結果信号を受ける。第nのセレクタ2
5(n)は、第nの選択入力端子23(n)から受けた
第nの選択信号によって制御されて、第nの更新ATM
セルヘッダエラーチェックユニットを、データ入力端子
12から供給されたSTM信号に含まれる原ATMセル
ヘッダエラーチェックユニットの代りに挿入する。第N
のセレクタ25(N)は、それ故、ヘッダエラーチェッ
クブロックが更新ヘッダエラーチェックブロックに立て
直されたSTM信号を、データ出力端子27に、データ
出力信号として供給する。
5(1)、25(1)、…、及び25(N)は、第1の
セレクタ25(1)がデータ入力端子12に接続され、
且つ、第Nのセレクタ25(N)がデータ出力端子27
に接続された状態に、縦続接続されている。第nのセレ
クタ25(n)は、第nの巡回冗長チェック回路19
(n)から第nの結果信号を受ける。第nのセレクタ2
5(n)は、第nの選択入力端子23(n)から受けた
第nの選択信号によって制御されて、第nの更新ATM
セルヘッダエラーチェックユニットを、データ入力端子
12から供給されたSTM信号に含まれる原ATMセル
ヘッダエラーチェックユニットの代りに挿入する。第N
のセレクタ25(N)は、それ故、ヘッダエラーチェッ
クブロックが更新ヘッダエラーチェックブロックに立て
直されたSTM信号を、データ出力端子27に、データ
出力信号として供給する。
【0030】図6乃至図10を回顧すると、従来のヘッ
ダエラーチェック装置は、第2の所定の自然数(即ち多
重度)Nが増大すると、多数の巡回冗長チェック回路1
9が必要になる。図6の従来のヘッダエラーチェック装
置は、そのうえに、多数のシリアルパラレル変換器17
が必要になり、図9の従来のヘッダエラーチェック装置
は、そのうえに、多数のセレクタ25が必要になる。そ
の結果、従来の装置は大型で高価なものとなる。
ダエラーチェック装置は、第2の所定の自然数(即ち多
重度)Nが増大すると、多数の巡回冗長チェック回路1
9が必要になる。図6の従来のヘッダエラーチェック装
置は、そのうえに、多数のシリアルパラレル変換器17
が必要になり、図9の従来のヘッダエラーチェック装置
は、そのうえに、多数のセレクタ25が必要になる。そ
の結果、従来の装置は大型で高価なものとなる。
【0031】次に、図1及び図2を参照して、本発明の
一実施例によるヘッダエラーチェック装置を説明する。
図1において、上述と同じ部分には同じ参照符号が付さ
れている。図6及び図9と同様に、データ入力端子12
は原STM信号Sを受ける。このヘッダエラーチェック
装置は単一のデータ出力端子31を持っている。SDH
終端部15は、データ入力端子12から受信した原ST
M信号Sによって搬送されたパスオーバヘッド及びセク
ションオーバヘッドを受け、ビット制御信号C(a)及
びユニット制御信号C(b)を発生する。
一実施例によるヘッダエラーチェック装置を説明する。
図1において、上述と同じ部分には同じ参照符号が付さ
れている。図6及び図9と同様に、データ入力端子12
は原STM信号Sを受ける。このヘッダエラーチェック
装置は単一のデータ出力端子31を持っている。SDH
終端部15は、データ入力端子12から受信した原ST
M信号Sによって搬送されたパスオーバヘッド及びセク
ションオーバヘッドを受け、ビット制御信号C(a)及
びユニット制御信号C(b)を発生する。
【0032】図2の第1ラインに示すように、原STM
信号Sは図6乃至図10を参照して説明したものと同じ
である。図2の第2ラインに示すように、ビット制御信
号C(a)は第1乃至第Pのヘッダブロックの第1乃至
第NのATMセルヘッダユニットのビット及び第1乃至
第NのATMセルヘッダエラーチェックユニットのビッ
トを指示する。図2の第3ラインにパルスで示すよう
に、ユニット制御信号C(b)は第1乃至第Pのヘッダ
ブロックの第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを
連続的に指示し、続いて、第1乃至第NのATMセルヘ
ッダエラーチェックユニットを連続的に指示する。
信号Sは図6乃至図10を参照して説明したものと同じ
である。図2の第2ラインに示すように、ビット制御信
号C(a)は第1乃至第Pのヘッダブロックの第1乃至
第NのATMセルヘッダユニットのビット及び第1乃至
第NのATMセルヘッダエラーチェックユニットのビッ
トを指示する。図2の第3ラインにパルスで示すよう
に、ユニット制御信号C(b)は第1乃至第Pのヘッダ
ブロックの第1乃至第NのATMセルヘッダユニットを
連続的に指示し、続いて、第1乃至第NのATMセルヘ
ッダエラーチェックユニットを連続的に指示する。
【0033】シリアルパラレル(S/P)変換器33
は、データ入力端子12から受信した原STM信号Sを
受け、且つ、SDH終端部15から受けたビット制御信
号C(a)及びユニット制御信号C(b)によって制御
される。シリアルパラレル変換器33は、ユニット制御
信号C(b)が第(p,n)のATMセルヘッダユニッ
ト(即ち、第pのヘッダブロックの第nのATMセルヘ
ッダユニット)を指示している時にビット制御信号C
(a)によって制御されて、第0のビットパラレル信号
を発生する。第0のビットパラレル信号は、ユニット制
御信号C(b)が第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットを指示している時、第(p,n)のATMセ
ルヘッダユニット及び続いて第nのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットをビットパラレルに表す信号であ
る。
は、データ入力端子12から受信した原STM信号Sを
受け、且つ、SDH終端部15から受けたビット制御信
号C(a)及びユニット制御信号C(b)によって制御
される。シリアルパラレル変換器33は、ユニット制御
信号C(b)が第(p,n)のATMセルヘッダユニッ
ト(即ち、第pのヘッダブロックの第nのATMセルヘ
ッダユニット)を指示している時にビット制御信号C
(a)によって制御されて、第0のビットパラレル信号
を発生する。第0のビットパラレル信号は、ユニット制
御信号C(b)が第nのATMセルヘッダエラーチェッ
クユニットを指示している時、第(p,n)のATMセ
ルヘッダユニット及び続いて第nのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットをビットパラレルに表す信号であ
る。
【0034】第1乃至第Pの遅延回路35(1)、35
(2)、及び35(P)は、シリアルパラレル変換器3
3に縦続接続される。第1乃至第Pの遅延回路35(添
字略)は、各遅延回路がSDH終端部15からユニット
制御信号C(b)を供給された状態で、第1乃至第Nの
ビットパラレル信号を発生する。このようにして、第p
の遅延回路35(p)は、第(p−1)のビットパラレ
ル信号に第3の所定の自然数QのN倍に等しい数NQの
ビット間隔の遅延を与えることによって、第pのビット
パラレル信号を発生する。pが1に等しい時、第(p−
1)のビットパラレル信号は第0のビットパラレル信号
である。
(2)、及び35(P)は、シリアルパラレル変換器3
3に縦続接続される。第1乃至第Pの遅延回路35(添
字略)は、各遅延回路がSDH終端部15からユニット
制御信号C(b)を供給された状態で、第1乃至第Nの
ビットパラレル信号を発生する。このようにして、第p
の遅延回路35(p)は、第(p−1)のビットパラレ
ル信号に第3の所定の自然数QのN倍に等しい数NQの
ビット間隔の遅延を与えることによって、第pのビット
パラレル信号を発生する。pが1に等しい時、第(p−
1)のビットパラレル信号は第0のビットパラレル信号
である。
【0035】ユニット制御信号C(b)が第nのATM
セルヘッダエラーチェックユニットを指示する時、第1
乃至第Pのビットパラレル信号は、第1乃至第Pのヘッ
ダブロックの第nのATMセルヘッダユニットを、ビッ
トパラレルに、表している。この時点では、第0のビッ
トパラレル信号は、第nのATMセルヘッダエラーユニ
ットをビットパラレルに表している。
セルヘッダエラーチェックユニットを指示する時、第1
乃至第Pのビットパラレル信号は、第1乃至第Pのヘッ
ダブロックの第nのATMセルヘッダユニットを、ビッ
トパラレルに、表している。この時点では、第0のビッ
トパラレル信号は、第nのATMセルヘッダエラーユニ
ットをビットパラレルに表している。
【0036】図1及び図2において、第1の所定の自然
数Pが4に等しいと仮定すると、遅延回路35は、連続
的に、参照符号35(1)、35(2)、35(3)、
及び35(4)で表すことができる。図2の第4ライン
に(35(4))として示されるように、第4のビット
パラレル信号は、ユニット制御信号C(b)が第1のA
TMセルヘッダエラーチェックユニットを示した後の時
点で、第1のヘッダブロックの第1のATMセルヘッダ
ユニットのビットA(1)〜A(8)を表し、図2の第
56ラインに(35(3))として示されるように、第
3のビットパラレル信号は、上記時点で、第2のヘッダ
ブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビットA
(9)〜A(16)を表す。同様に、第2及び第1のビ
ットパラレル信号は、上記時点で、第3及び第4のヘッ
ダブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビット
A(17)〜A(32)を表す。図2の第6ラインに
(33)として示されるように、第0のビットパラレル
信号は、上記時点で、第1のヘッダブロックの第1のA
TMセルヘッダユニットのビットAH(1)〜AH
(8)を表す。ここで、一般に、第pのビットパラレル
信号は、ユニット制御信号C(b)が第nのATMセル
ヘッダエラーチェックユニットを指示する時、(P−
(p−1))のヘッダブロックの第nのATMセルヘッ
ダユニットのビットを表す。
数Pが4に等しいと仮定すると、遅延回路35は、連続
的に、参照符号35(1)、35(2)、35(3)、
及び35(4)で表すことができる。図2の第4ライン
に(35(4))として示されるように、第4のビット
パラレル信号は、ユニット制御信号C(b)が第1のA
TMセルヘッダエラーチェックユニットを示した後の時
点で、第1のヘッダブロックの第1のATMセルヘッダ
ユニットのビットA(1)〜A(8)を表し、図2の第
56ラインに(35(3))として示されるように、第
3のビットパラレル信号は、上記時点で、第2のヘッダ
ブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビットA
(9)〜A(16)を表す。同様に、第2及び第1のビ
ットパラレル信号は、上記時点で、第3及び第4のヘッ
ダブロックの第1のATMセルヘッダユニットのビット
A(17)〜A(32)を表す。図2の第6ラインに
(33)として示されるように、第0のビットパラレル
信号は、上記時点で、第1のヘッダブロックの第1のA
TMセルヘッダユニットのビットAH(1)〜AH
(8)を表す。ここで、一般に、第pのビットパラレル
信号は、ユニット制御信号C(b)が第nのATMセル
ヘッダエラーチェックユニットを指示する時、(P−
(p−1))のヘッダブロックの第nのATMセルヘッ
ダユニットのビットを表す。
【0037】図1において、単一巡回冗長チェック(C
RC)回路37は、第0乃至第Pのビットパラレル信号
をシリアルパラレル変換器33及び第1乃至第Pの遅延
回路35から受ける。巡回冗長チェック回路37は、第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットと第nのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットとに関する第0乃第Pのビットパラレル信号につい
て巡回冗長チェックを行い、第1乃至第Nのチェック結
果の中の第nのチェック結果を表す第nのチェック結果
信号を出力する。第1乃至第Nのチェック結果は、ユニ
ット制御信号C(b)が第1乃至第NのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットを連続的に指示する時に第1
乃至第Nのチェック結果信号によって連続的に表される
ものである。
RC)回路37は、第0乃至第Pのビットパラレル信号
をシリアルパラレル変換器33及び第1乃至第Pの遅延
回路35から受ける。巡回冗長チェック回路37は、第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットと第nのATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットとに関する第0乃第Pのビットパラレル信号につい
て巡回冗長チェックを行い、第1乃至第Nのチェック結
果の中の第nのチェック結果を表す第nのチェック結果
信号を出力する。第1乃至第Nのチェック結果は、ユニ
ット制御信号C(b)が第1乃至第NのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットを連続的に指示する時に第1
乃至第Nのチェック結果信号によって連続的に表される
ものである。
【0038】図2の第7ラインに(37)として示され
るように、第1のチェック結果信号は図6及び図7を参
照して説明したように、ハイ及びローレベルを持つ。第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットにおいてヘッダエラーが検出されなかった時、
第nのチェック結果信号はローレベルを持つ。具体的に
は、巡回冗長チェック回路37は、第1乃至第Pのヘッ
ダブロックの第nのATMセルヘッダユニットと第nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットとの組合わせ
を生成多項式で割算し、余りが無ければ、即ち、余りが
0なら、ローレベルを持つ第nのチェック結果信号を出
力し、余りが有れば、ハイレベルを持つ第nのチェック
結果信号を出力する。
るように、第1のチェック結果信号は図6及び図7を参
照して説明したように、ハイ及びローレベルを持つ。第
1乃至第Pのヘッダブロックの第nのATMセルヘッダ
ユニットにおいてヘッダエラーが検出されなかった時、
第nのチェック結果信号はローレベルを持つ。具体的に
は、巡回冗長チェック回路37は、第1乃至第Pのヘッ
ダブロックの第nのATMセルヘッダユニットと第nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットとの組合わせ
を生成多項式で割算し、余りが無ければ、即ち、余りが
0なら、ローレベルを持つ第nのチェック結果信号を出
力し、余りが有れば、ハイレベルを持つ第nのチェック
結果信号を出力する。
【0039】次に、図3及び図4を参照して、本発明の
第2の実施例によるヘッダエラーチェック装置を説明す
る。図3において、上述と同じ部分には同じ参照符号が
付されている。データ入力端子12は原STM信号Sを
受ける。このヘッダエラーチェック装置は、図9及び図
10を参照して説明したタイプの立て直されたSTM信
号をデータ出力信号としてデータ出力端子27に供給す
るものである。
第2の実施例によるヘッダエラーチェック装置を説明す
る。図3において、上述と同じ部分には同じ参照符号が
付されている。データ入力端子12は原STM信号Sを
受ける。このヘッダエラーチェック装置は、図9及び図
10を参照して説明したタイプの立て直されたSTM信
号をデータ出力信号としてデータ出力端子27に供給す
るものである。
【0040】図3において、SDH終端部15(図6及
び図1)は、データ入力端子12から原STM信号Sを
受け、セクションオーバヘッド及びパスオーバヘッドに
より制御されて、ビット制御信号C及びユニット選択信
号Tを発生する。ビット制御信号Cは図1及び図2を参
照して述べたものと同じである。ユニット選択信号Tは
以下に述べる。
び図1)は、データ入力端子12から原STM信号Sを
受け、セクションオーバヘッド及びパスオーバヘッドに
より制御されて、ビット制御信号C及びユニット選択信
号Tを発生する。ビット制御信号Cは図1及び図2を参
照して述べたものと同じである。ユニット選択信号Tは
以下に述べる。
【0041】図4の第1ラインに示したように、原ST
M信号Sは上述のものと変わらない。第2ラインに示し
たように、ビット制御信号Cは、第1乃至第Pのヘッダ
ブロックの第1乃至第NのATMセルヘッダユニットの
ビット及び第1乃至第NのATMセルヘッダユニットの
ビットを指示する。図4の第3ラインに(T)として第
1のATMセルヘッダエラーチェックユニットのみにつ
いて示すように、ユニット選択信号は、第1乃至第Nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットを選択的に論
理0レベルで指示する。
M信号Sは上述のものと変わらない。第2ラインに示し
たように、ビット制御信号Cは、第1乃至第Pのヘッダ
ブロックの第1乃至第NのATMセルヘッダユニットの
ビット及び第1乃至第NのATMセルヘッダユニットの
ビットを指示する。図4の第3ラインに(T)として第
1のATMセルヘッダエラーチェックユニットのみにつ
いて示すように、ユニット選択信号は、第1乃至第Nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットを選択的に論
理0レベルで指示する。
【0042】図示のヘッダエラーチェック装置において
は、クロックカウンタ41は、SDH終端部15からビ
ット制御信号Cを受け、ビット制御信号Cによって指示
されたビットをカウントし、ビットが第3の所定の自然
数Qだけカウントされる毎に、クロックカウントをゼロ
の初期値から一つ一つカウントアップする。(N−1)
のクロックカウントに到達すると、クロックカウントは
リセットされる。それによって、クロックカウンタ41
は、そのようなクロックカウントを、第(0,1)乃至
第(0,N)、第(1,1)乃至第(1,N)、…、第
(p,1)乃至第(p,N)、…、及び第(P,1)乃
至第(P,N)のクロックカウントとして表すカウント
信号を出力する。第(p,n)のクロックカウントの各
々は、図1及び図2を参照して述べられたユニット制御
信号C(b)と等価なカウント信号によってビットパラ
レルに表される。
は、クロックカウンタ41は、SDH終端部15からビ
ット制御信号Cを受け、ビット制御信号Cによって指示
されたビットをカウントし、ビットが第3の所定の自然
数Qだけカウントされる毎に、クロックカウントをゼロ
の初期値から一つ一つカウントアップする。(N−1)
のクロックカウントに到達すると、クロックカウントは
リセットされる。それによって、クロックカウンタ41
は、そのようなクロックカウントを、第(0,1)乃至
第(0,N)、第(1,1)乃至第(1,N)、…、第
(p,1)乃至第(p,N)、…、及び第(P,1)乃
至第(P,N)のクロックカウントとして表すカウント
信号を出力する。第(p,n)のクロックカウントの各
々は、図1及び図2を参照して述べられたユニット制御
信号C(b)と等価なカウント信号によってビットパラ
レルに表される。
【0043】クロックカウンタ41は、更に、書き込み
を指示する負の書き込みパルスの書き込みパルス列を出
力する。書き込みパルス列において、書き込みパルス
は、クロックカウントに対応して番号付けられた第
(0,1)乃至第(0,N)、…、第(p,1)乃至第
(p,N)、…、及び第(P,1)乃至第(P,N)の
書き込み時点を指示すべく現れる。各書き込みパルス
は、カウント信号が対応して番号付けられたクロックカ
ウントを示している時、出力される。
を指示する負の書き込みパルスの書き込みパルス列を出
力する。書き込みパルス列において、書き込みパルス
は、クロックカウントに対応して番号付けられた第
(0,1)乃至第(0,N)、…、第(p,1)乃至第
(p,N)、…、及び第(P,1)乃至第(P,N)の
書き込み時点を指示すべく現れる。各書き込みパルス
は、カウント信号が対応して番号付けられたクロックカ
ウントを示している時、出力される。
【0044】図4の第4ラインに(41−1)として示
されているように、カウント信号は、0乃至(N−1)
を、第(p,1)乃至第(p,N)のクロックカウント
として、繰返し表している。この際、連続したヘッダブ
ロックを示すpは各繰返しで一つ一つインクレメントさ
れる。書き込みパルス列は、図4の第5ラインに(41
−2)として示されている。
されているように、カウント信号は、0乃至(N−1)
を、第(p,1)乃至第(p,N)のクロックカウント
として、繰返し表している。この際、連続したヘッダブ
ロックを示すpは各繰返しで一つ一つインクレメントさ
れる。書き込みパルス列は、図4の第5ラインに(41
−2)として示されている。
【0045】図3において、単一巡回冗長チェック(C
RC)回路43は、データ入力端子12から原STM信
号を直接受けると共に、SDH終端部15からビット制
御信号Cを受ける。以下に説明するように、巡回冗長チ
ェック回路43は、更に、第(p,n)の前回結果信号
を受ける。この第(p,n)の前回結果信号は、第
(p,n)の書き込み時点で定義された現在時点での前
回結果を表す。即ち、この前回結果は、第(p,n)の
書き込み時点より第3の所定の自然数のN倍だけ前の第
(p−1,n)の書き込み時点で定義された前回時点で
得られたものである。巡回冗長チェック回路43は、前
回結果信号を用いて、原STM信号Sから第(p,n)
のATMセルヘッダユニットを選択し、第(p,n)の
ATMセルヘッダユニットについて巡回冗長チェック
し、図9及び図10で説明したタイプの第(p,n)の
結果信号を出力する。詳しくは、第(p,n)の結果信
号は、第(p,n)の結果として、ビットパラレルに出
力される、第(p,n)の更新ATMセルヘッダエラー
チェックユニットを表す第(p,n)の中間結果信号と
して働くものである。
RC)回路43は、データ入力端子12から原STM信
号を直接受けると共に、SDH終端部15からビット制
御信号Cを受ける。以下に説明するように、巡回冗長チ
ェック回路43は、更に、第(p,n)の前回結果信号
を受ける。この第(p,n)の前回結果信号は、第
(p,n)の書き込み時点で定義された現在時点での前
回結果を表す。即ち、この前回結果は、第(p,n)の
書き込み時点より第3の所定の自然数のN倍だけ前の第
(p−1,n)の書き込み時点で定義された前回時点で
得られたものである。巡回冗長チェック回路43は、前
回結果信号を用いて、原STM信号Sから第(p,n)
のATMセルヘッダユニットを選択し、第(p,n)の
ATMセルヘッダユニットについて巡回冗長チェック
し、図9及び図10で説明したタイプの第(p,n)の
結果信号を出力する。詳しくは、第(p,n)の結果信
号は、第(p,n)の結果として、ビットパラレルに出
力される、第(p,n)の更新ATMセルヘッダエラー
チェックユニットを表す第(p,n)の中間結果信号と
して働くものである。
【0046】アンドゲート45は、巡回冗長チェック回
路43から第(p,n)の中間結果信号を受ける。アン
ドゲート45は、更に、SDH終端部15からユニット
選択信号Tを受け、ユニット選択信号Tが図4の第3ラ
インに示されているハイレベルを与えられている限り
は、第(p,n)の中間結果信号を第(p,n)の出力
結果信号として通過させる。
路43から第(p,n)の中間結果信号を受ける。アン
ドゲート45は、更に、SDH終端部15からユニット
選択信号Tを受け、ユニット選択信号Tが図4の第3ラ
インに示されているハイレベルを与えられている限り
は、第(p,n)の中間結果信号を第(p,n)の出力
結果信号として通過させる。
【0047】ランダムアクセスメモリ(RAM)47
は、第(p,n)の出力結果信号をアンドゲート45か
ら供給され、クロックカウンタ41から供給されたカウ
ント信号によって表された第(p,1)乃至第(p,
N)のクロックカウントでアクセス可能な第1乃至第N
のメモリセル49(1)、49(2)、…、及び49
(N)を有している。クロックカウンタ41から供給さ
れた、第nのメモリセル49(n)にアクセスするため
に第(p,n)のクロックカウントを表すカウント信号
と、クロックカウンタ41から供給された、対応して番
号付けられた書き込み時点を指示する書き込みパルス列
とに応答して、第(p,n)の出力結果信号は、第
(p,n)の記憶された結果信号として第のメモリセル
49(n)に記憶される。第(p,n)のクロックカウ
ントを表すカウント信号のみを供給されている時には、
ランダムアクセスメモリ47は、第nのメモリセル49
(n)から、第(p−1,n)の記憶された結果信号を
第(p,n)の前回結果信号として出力する。
は、第(p,n)の出力結果信号をアンドゲート45か
ら供給され、クロックカウンタ41から供給されたカウ
ント信号によって表された第(p,1)乃至第(p,
N)のクロックカウントでアクセス可能な第1乃至第N
のメモリセル49(1)、49(2)、…、及び49
(N)を有している。クロックカウンタ41から供給さ
れた、第nのメモリセル49(n)にアクセスするため
に第(p,n)のクロックカウントを表すカウント信号
と、クロックカウンタ41から供給された、対応して番
号付けられた書き込み時点を指示する書き込みパルス列
とに応答して、第(p,n)の出力結果信号は、第
(p,n)の記憶された結果信号として第のメモリセル
49(n)に記憶される。第(p,n)のクロックカウ
ントを表すカウント信号のみを供給されている時には、
ランダムアクセスメモリ47は、第nのメモリセル49
(n)から、第(p−1,n)の記憶された結果信号を
第(p,n)の前回結果信号として出力する。
【0048】とかくするうちに、カウント信号は、第
(P,n−1)のクロックカウントを示し、それに続い
て第(P,n)のクロックカウントを示す。この時点
で、第(P,n)の出力結果信号が第nのメモリセル4
9(n)に第nの最終結果信号として記憶される。カウ
ント信号が第(P,n)のクロックカウントを示す時、
ランダムアクセスメモリ47は、第(P,n)の出力結
果信号を、図9及び図10で述べたタイプの第nの結果
を表す第nの結果信号として出力する。
(P,n−1)のクロックカウントを示し、それに続い
て第(P,n)のクロックカウントを示す。この時点
で、第(P,n)の出力結果信号が第nのメモリセル4
9(n)に第nの最終結果信号として記憶される。カウ
ント信号が第(P,n)のクロックカウントを示す時、
ランダムアクセスメモリ47は、第(P,n)の出力結
果信号を、図9及び図10で述べたタイプの第nの結果
を表す第nの結果信号として出力する。
【0049】このように、図3において、アンドゲート
45及びランダムアクセスメモリ47は、巡回冗長チェ
ック回路43に接続され、ユニット制御信号として作用
する書き込みパルス列によって制御されメモー部として
働く。ユニット制御信号が第(p,n)のATMセルヘ
ッダユニットを連続的に指示した時、メモー部(45、
47)は第(p,n)の中間結果信号を第(p,n)の
記憶された結果信号として記憶し、巡回冗長チェック回
路43に第(p−1,n)の記憶された結果信号を第
(p,n)の前回結果信号として供給し、ユニット制御
信号が第nのATMセルヘッダエラーチェックユニット
を指示した時、第(P,n)の記憶された結果信号を、
第(p,n)のATMセルヘッダユニットにおける前述
のエラー訂正符号(即ち、前述の余り)を表す第nの結
果として出力する。
45及びランダムアクセスメモリ47は、巡回冗長チェ
ック回路43に接続され、ユニット制御信号として作用
する書き込みパルス列によって制御されメモー部として
働く。ユニット制御信号が第(p,n)のATMセルヘ
ッダユニットを連続的に指示した時、メモー部(45、
47)は第(p,n)の中間結果信号を第(p,n)の
記憶された結果信号として記憶し、巡回冗長チェック回
路43に第(p−1,n)の記憶された結果信号を第
(p,n)の前回結果信号として供給し、ユニット制御
信号が第nのATMセルヘッダエラーチェックユニット
を指示した時、第(P,n)の記憶された結果信号を、
第(p,n)のATMセルヘッダユニットにおける前述
のエラー訂正符号(即ち、前述の余り)を表す第nの結
果として出力する。
【0050】また、図3において、巡回冗長チェック回
路43は、データ入力端子12及びSDH終端部15に
接続され、ユニット制御信号が第1乃至第Pのヘッダブ
ロックの第nのATMセルヘッダユニットを第(p,
n)のATMセルヘッダユニットとして連続的に指示し
た時、第(p,n)のATMセルヘッダユニット及び第
(p,n)の前回結果信号について巡回冗長チェックを
行い、巡回冗長チェックの結果を第(p,n)の中間結
果信号として、第(p,n)の中間結果信号の各々がビ
ット制御信号Cに従ってビットパラレルに出力された状
態で、出力するものである。
路43は、データ入力端子12及びSDH終端部15に
接続され、ユニット制御信号が第1乃至第Pのヘッダブ
ロックの第nのATMセルヘッダユニットを第(p,
n)のATMセルヘッダユニットとして連続的に指示し
た時、第(p,n)のATMセルヘッダユニット及び第
(p,n)の前回結果信号について巡回冗長チェックを
行い、巡回冗長チェックの結果を第(p,n)の中間結
果信号として、第(p,n)の中間結果信号の各々がビ
ット制御信号Cに従ってビットパラレルに出力された状
態で、出力するものである。
【0051】更に、図3において、SDH終端部15と
クロックカウンタ41とは、データ入力端子12に接続
された制御信号発生部として働くものである。この制御
信号発生部(15及び41)は、ビット制御信号Cとユ
ニット制御信号とを制御信号として発生する。
クロックカウンタ41とは、データ入力端子12に接続
された制御信号発生部として働くものである。この制御
信号発生部(15及び41)は、ビット制御信号Cとユ
ニット制御信号とを制御信号として発生する。
【0052】図1及び図3において、ヘッダエラーチェ
ック装置は、STM信号Sを受信するデータ入力端子1
2を持ち、SDH終端部15、又は、SDH終端部15
とクロックカウンタ41との組合わせを、制御信号を発
生する制御信号発生部として含んでいる。シリアルパラ
レル変換器33、遅延回路35、及び巡回冗長チェック
回路37の組合わせ、又は、巡回冗長チェック回路43
及びメモリ部(45、47)の組合わせは、単一エラー
チェック部として作用する。単一エラーチェック部(3
3、35、37又は43、45、47)は、データ入力
端子12及び制御信号発生部(15又は15、41)に
接続され、制御信号が第p(pは1以上〜P以下の間で
可変な自然数)のヘッダブロックの第n(nは1以上〜
N以下の間で可変な自然数)のATMセルヘッダユニッ
ト及び第nのATMセルヘッダエラーチェックユニット
を指示した時、第pのヘッダブロックの第nのATMセ
ルヘッダユニット及び第nのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットに関してヘッダエラーをチェックする。
ック装置は、STM信号Sを受信するデータ入力端子1
2を持ち、SDH終端部15、又は、SDH終端部15
とクロックカウンタ41との組合わせを、制御信号を発
生する制御信号発生部として含んでいる。シリアルパラ
レル変換器33、遅延回路35、及び巡回冗長チェック
回路37の組合わせ、又は、巡回冗長チェック回路43
及びメモリ部(45、47)の組合わせは、単一エラー
チェック部として作用する。単一エラーチェック部(3
3、35、37又は43、45、47)は、データ入力
端子12及び制御信号発生部(15又は15、41)に
接続され、制御信号が第p(pは1以上〜P以下の間で
可変な自然数)のヘッダブロックの第n(nは1以上〜
N以下の間で可変な自然数)のATMセルヘッダユニッ
ト及び第nのATMセルヘッダエラーチェックユニット
を指示した時、第pのヘッダブロックの第nのATMセ
ルヘッダユニット及び第nのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットに関してヘッダエラーをチェックする。
【0053】図3及び図4を参照して、このヘッダエラ
ーチェック装置は、カウント信号が第(P,n)のAT
Mセルヘッダユニットを示している時、SDH終端部1
5からビット制御信号Cを、ランダムアクセスメモリ4
7から第nの最終結果信号を受けるパラレルシリアル
(P/S)変換器51を有する。パラレルシリアル変換
器51は、ビット制御信号Cによって制御され、第nの
最終結果信号を、第1乃至第Nの更新ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットの第nの更新ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットに変換する。図4の第6ライン
に(51)として示されているように、第1の更新AT
Mセルヘッダエラーチェックユニットは第1乃至第N
(第8)の更新ビットAh(1)、Ah(2)、…、及
びAh(8)からなる。
ーチェック装置は、カウント信号が第(P,n)のAT
Mセルヘッダユニットを示している時、SDH終端部1
5からビット制御信号Cを、ランダムアクセスメモリ4
7から第nの最終結果信号を受けるパラレルシリアル
(P/S)変換器51を有する。パラレルシリアル変換
器51は、ビット制御信号Cによって制御され、第nの
最終結果信号を、第1乃至第Nの更新ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットの第nの更新ATMセルヘッダ
エラーチェックユニットに変換する。図4の第6ライン
に(51)として示されているように、第1の更新AT
Mセルヘッダエラーチェックユニットは第1乃至第N
(第8)の更新ビットAh(1)、Ah(2)、…、及
びAh(8)からなる。
【0054】単一のセレクタ或いはスイッチ53は、デ
ータ入力端子12、SDH終端部15、データ出力端子
27、及びパラレルシリアル変換器51に接続されてい
る。セレクタ53は、第nのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットを指示するユニット選択信号Tによって
制御され、第nの更新ATMセルヘッダエラーチェック
ユニットを第nの原ATMセルヘッダエラーチェックユ
ニットの代りに挿入する。セレクタ53は、その結果、
第1乃至第Nの原ATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットが第1乃至第Nの更新ATMセルヘッダエラーチェ
ックユニットに選択的に変えられた、立て直されたST
M信号をデータ出力端子27に出力する。立て直された
STM信号は、図4の第7ラインに(27)として示さ
れている。
ータ入力端子12、SDH終端部15、データ出力端子
27、及びパラレルシリアル変換器51に接続されてい
る。セレクタ53は、第nのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットを指示するユニット選択信号Tによって
制御され、第nの更新ATMセルヘッダエラーチェック
ユニットを第nの原ATMセルヘッダエラーチェックユ
ニットの代りに挿入する。セレクタ53は、その結果、
第1乃至第Nの原ATMセルヘッダエラーチェックユニ
ットが第1乃至第Nの更新ATMセルヘッダエラーチェ
ックユニットに選択的に変えられた、立て直されたST
M信号をデータ出力端子27に出力する。立て直された
STM信号は、図4の第7ラインに(27)として示さ
れている。
【0055】ユニット選択信号Tは、第nのATMセル
ヘッダエラーチェックユニットを示すのに、ローレベル
を持っている。この場合、アンドゲート45は第(p,
n)の出力結果信号の代りに0信号を出力する。
ヘッダエラーチェックユニットを示すのに、ローレベル
を持っている。この場合、アンドゲート45は第(p,
n)の出力結果信号の代りに0信号を出力する。
【0056】次に、図5を参照して、本発明の第3の実
施例によるATMセル監視装置を説明する。このATM
セル監視装置は、システム入力ATMセルを受けるシス
テム入力端子61と、システム出力端子62とを、有す
るATMセル伝送システム60に組み合わされて使用さ
れる。ATMセル伝送システム60は、システム入力A
TMセルをそのままシステム出力端子62に伝送し、シ
ステム入力ATMセルをシステム出力ATMセルとして
出力するものである。ATMセル伝送システム60は、
例えば、公知のクロスコネクションネットワークであ
る。
施例によるATMセル監視装置を説明する。このATM
セル監視装置は、システム入力ATMセルを受けるシス
テム入力端子61と、システム出力端子62とを、有す
るATMセル伝送システム60に組み合わされて使用さ
れる。ATMセル伝送システム60は、システム入力A
TMセルをそのままシステム出力端子62に伝送し、シ
ステム入力ATMセルをシステム出力ATMセルとして
出力するものである。ATMセル伝送システム60は、
例えば、公知のクロスコネクションネットワークであ
る。
【0057】本ATMセル監視装置は、ATMセル伝送
システム60を監視し、システム出力ATMセルにおけ
るエラーをチェックするためのものである。本ATMセ
ル監視装置は、所定数のバイト(典型的には、図8を参
照して述べられた53バイト)からなる原ATMセルを
受ける第1のフォーマット変換器71を含む。
システム60を監視し、システム出力ATMセルにおけ
るエラーをチェックするためのものである。本ATMセ
ル監視装置は、所定数のバイト(典型的には、図8を参
照して述べられた53バイト)からなる原ATMセルを
受ける第1のフォーマット変換器71を含む。
【0058】原ATMセルは、もう一つのSTM信号に
よって搬送されるバ−チャルコンテナVC−4(NC)
に含まれる。バ−チャルコンテナVC−4(NC)は、
パスオーバヘッドPOHと、STM信号においてパスオ
ーバヘッドPOHに続く一連のATMセルを含む。一連
のATMセルの内の一つに着目した時、そのATMセル
を原ATMセルと呼ぶ。図6のSDH終端部15と同様
なSDH終端部によって制御されて、原ATMセルは第
1のフォーマット変換器71に供給される。
よって搬送されるバ−チャルコンテナVC−4(NC)
に含まれる。バ−チャルコンテナVC−4(NC)は、
パスオーバヘッドPOHと、STM信号においてパスオ
ーバヘッドPOHに続く一連のATMセルを含む。一連
のATMセルの内の一つに着目した時、そのATMセル
を原ATMセルと呼ぶ。図6のSDH終端部15と同様
なSDH終端部によって制御されて、原ATMセルは第
1のフォーマット変換器71に供給される。
【0059】第1のフォーマット変換器71は、原AT
Mセルを、所定数のバイトとそれに付加された一つの空
きバイトとからなる第1の変換されたATMセルに変換
する。一つの空きバイトは図8に仮想線で示されてい
る。
Mセルを、所定数のバイトとそれに付加された一つの空
きバイトとからなる第1の変換されたATMセルに変換
する。一つの空きバイトは図8に仮想線で示されてい
る。
【0060】第1のエラーチェック回路72は、第1の
フォーマット変換器71に接続され、第1の変換された
ATMセルにおける前記所定数のバイトにおける第1の
エラーをチェックし、第1のエラー訂正符号を出力す
る。第1のエラーチェック回路は、典型的には、第1の
巡回冗長エラーチェック(CRC)回路である。この場
合、第1のエラー訂正符号は第1の変換されたATMセ
ルに含まれる原ATMセルの前記所定数のバイトを生成
多項式で割算することによって得られた余りである。
フォーマット変換器71に接続され、第1の変換された
ATMセルにおける前記所定数のバイトにおける第1の
エラーをチェックし、第1のエラー訂正符号を出力す
る。第1のエラーチェック回路は、典型的には、第1の
巡回冗長エラーチェック(CRC)回路である。この場
合、第1のエラー訂正符号は第1の変換されたATMセ
ルに含まれる原ATMセルの前記所定数のバイトを生成
多項式で割算することによって得られた余りである。
【0061】結合器73は、ATMセル伝送システム6
0のシステム入力端子61と、第1のフォーマット変換
器71と、第1のエラーチェック回路72とに接続され
ている。結合器73は、、第1のエラー訂正符号を第1
の変換されたATMセルの前記空きバイトに挿入して、
満たされたATMセルとし、該満たされたフルATMセ
ルをシステム入力ATMセルとしてシステム入力端子6
1に送出する。
0のシステム入力端子61と、第1のフォーマット変換
器71と、第1のエラーチェック回路72とに接続され
ている。結合器73は、、第1のエラー訂正符号を第1
の変換されたATMセルの前記空きバイトに挿入して、
満たされたATMセルとし、該満たされたフルATMセ
ルをシステム入力ATMセルとしてシステム入力端子6
1に送出する。
【0062】第2のエラーチェック回路74は、ATM
セル伝送システム60のシステム出力端子62に接続さ
れ、システム出力ATMセルに含まれる原ATMセルの
前記所定数のバイトにおける第2のエラーをチェック
し、第2のエラー訂正符号を出力する。第2のエラーチ
ェック回路は、典型的には、第2の巡回冗長エラーチェ
ック(CRC)回路である。この場合、第2のエラー訂
正符号はシステム出力ATMセルにおける前記所定数の
バイトを生成多項式で割算することによって得られた余
りである。
セル伝送システム60のシステム出力端子62に接続さ
れ、システム出力ATMセルに含まれる原ATMセルの
前記所定数のバイトにおける第2のエラーをチェック
し、第2のエラー訂正符号を出力する。第2のエラーチ
ェック回路は、典型的には、第2の巡回冗長エラーチェ
ック(CRC)回路である。この場合、第2のエラー訂
正符号はシステム出力ATMセルにおける前記所定数の
バイトを生成多項式で割算することによって得られた余
りである。
【0063】比較器75は、ATMセル伝送システム6
0のシステム出力端子62と第2のエラーチェック回路
74とに接続され、システム出力ATMセルに含まれて
いる第1のエラー訂正符号を第2のエラー訂正符号に比
較し、比較結果を出力する。詳細には、比較器75は、
第1のエラー訂正符号と第2のエラー訂正符号との一致
及び不一致を表す一致及び不一致信号を、比較結果とし
て、出力する。
0のシステム出力端子62と第2のエラーチェック回路
74とに接続され、システム出力ATMセルに含まれて
いる第1のエラー訂正符号を第2のエラー訂正符号に比
較し、比較結果を出力する。詳細には、比較器75は、
第1のエラー訂正符号と第2のエラー訂正符号との一致
及び不一致を表す一致及び不一致信号を、比較結果とし
て、出力する。
【0064】第2のフォーマット変換器76は、ATM
セル伝送システム60のシステム出力端子62に接続さ
れ、前記所定数のバイトとそれに付加された第1のエラ
ー訂正符号とからなるシステム出力ATMセルを、前記
所定数のバイトからなる第2の変換されたATMセルに
変換する。一致信号が比較器75によって出力された時
には、原ATMセルはATMセル伝送システム60によ
って正しく第2の変換されたATMセルとして伝送さ
れ、不一致信号が比較器75によって出力された時に
は、原ATMセルはATMセル伝送システム60によっ
て誤って第2の変換されたATMセルとして伝送されて
いる。
セル伝送システム60のシステム出力端子62に接続さ
れ、前記所定数のバイトとそれに付加された第1のエラ
ー訂正符号とからなるシステム出力ATMセルを、前記
所定数のバイトからなる第2の変換されたATMセルに
変換する。一致信号が比較器75によって出力された時
には、原ATMセルはATMセル伝送システム60によ
って正しく第2の変換されたATMセルとして伝送さ
れ、不一致信号が比較器75によって出力された時に
は、原ATMセルはATMセル伝送システム60によっ
て誤って第2の変換されたATMセルとして伝送されて
いる。
【0065】このように、このATMセル監視装置は、
ATMセルのヘッダとそのATMセルにおいてヘッダに
続く情報フィールドとにおけるエラーをチェックするこ
とができる。
ATMセルのヘッダとそのATMセルにおいてヘッダに
続く情報フィールドとにおけるエラーをチェックするこ
とができる。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
コンパクトで安価なヘッダエラーチェック装置を得るこ
とができる。更に、本発明によれば、ATMセルのヘッ
ダとそのATMセルにおいてヘッダに続く情報フィール
ドとにおけるエラーをチェックすることができるATM
セル監視装置が得られる。
コンパクトで安価なヘッダエラーチェック装置を得るこ
とができる。更に、本発明によれば、ATMセルのヘッ
ダとそのATMセルにおいてヘッダに続く情報フィール
ドとにおけるエラーをチェックすることができるATM
セル監視装置が得られる。
【図1】本発明の第1の実施例によるヘッダエラーチェ
ック装置のブロック図である。
ック装置のブロック図である。
【図2】図1の装置の動作を説明するためのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図3】本発明の第2の実施例によるヘッダエラーチェ
ック装置のブロック図である。
ック装置のブロック図である。
【図4】図3の装置の動作を説明するためのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図5】本発明の第3の実施例によるATMセル監視装
置のブロック図である。
置のブロック図である。
【図6】従来のヘッダエラーチェック装置のブロック図
である。
である。
【図7】図6の装置の動作を説明するためのタイムチャ
ートである。
ートである。
【図8】ATMセルの構成を説明するための図である。
【図9】もう一つの従来のヘッダエラーチェック装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図10】図9の装置の動作を説明するためのタイムチ
ャートである。
ャートである。
S STM信号
C(a) ビット制御信号
C(b) ユニット制御信号
12 データ入力端子
15 SDH終端部
33 シリアルパラレル(S/P)変換器
35 遅延回路
37 巡回冗長チェック(CRC)回路
C ビット制御信号
T ユニット選択信号
41 クロックカウンタ
43 巡回冗長チェック(CRC)回路
45 アンドゲート
47 ランダムアクセスメモリ
51 パラレルシリアル(P/S)変換器
53 セレクタ
60 ATMセル伝送システム
61 システム入力端子
62 システム出力端子
71 第1のフォーマット変換器
72 第1のエラーチェック回路
73 結合器
74 第2のエラーチェック回路
75 比較器
76 第2のフォーマット変換器
Claims (9)
- 【請求項1】 ヘッダパートを有するSTM信号を受信
するデータ入力端子を持ち、前記ヘッダパートにおける
ヘッダエラーをチェックするヘッダエラーチェック装置
であって、前記ヘッダパートは第1乃至第P(Pは第1
の所定の自然数)のヘッダブロックとヘッダエラーチェ
ックブロックとを有し、前記ヘッダブロックの各々は第
1乃至第N(Nは第2の所定の自然数)のATMセルヘ
ッダユニットを有し、前記ヘッダエラーチェックブロッ
クは第1乃至第NのATMセルヘッダエラーチェックユ
ニットを有し、前記データ入力端子に接続され、前記第
1乃至前記第Pのヘッダブロックの前記第1乃至前記第
NのATMセルヘッダユニットを連続的に指示し、続い
て、前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットを連続的に指示する制御信号を発生する
制御信号発生部を含む前記ヘッダエラーチェック装置に
おいて、 前記データ入力端子及び前記制御信号発生部に接続さ
れ、前記制御信号が第p(pは1以上〜P以下の間で可
変な自然数)のヘッダブロックの第n(nは1以上〜N
以下の間で可変な自然数)のATMセルヘッダユニット
及び第nのATMセルヘッダエラーチェックユニットを
指示した時、前記第pのヘッダブロックの前記第nのA
TMセルヘッダユニット及び前記第nのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットに関して前記ヘッダエラーを
チェックする単一エラーチェック部を有することを特徴
とするヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項2】 前記第1乃至前記第NのATMセルヘッ
ダユニット及び前記第1乃至前記第NのATMセルヘッ
ダエラーチェックユニットの各々が所定のビット間隔で
第3の所定の自然数分のビットを有し、前記制御信号発
生部はビット制御信号とユニット制御信号とを前記制御
信号として発生するものであり、前記ビット制御信号
は、前記第1乃至前記第Pのヘッダブロックの前記第1
乃至前記第NのATMセルヘッダユニットの前記ビット
と、前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットのビットとを、指示し、前記ユニット制
御信号は前記第1乃至前記第Pのヘッダブロックの前記
第1乃至前記第NのATMセルヘッダユニットと、前記
第1乃至前記第NのATMセルヘッダエラーチェックユ
ニットとを、指示するものである請求項1のヘッダエラ
ーチェック装置において、 前記単一エラーチェック部は:前記データ入力端子に接
続され、前記ビット制御信号及び前記ユニット制御信号
によって制御され、前記第1乃至前記第Pのヘッダブロ
ックの前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダユニッ
トの各々と、前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダ
エラーチェックユニットの各々とを、第0のビットパラ
レル信号に変換するシリアルパラレル変換器と;前記シ
リアルパラレル変換器に縦続接続され、前記ユニット制
御信号によって制御され、第(p−1)のビットパラレ
ル信号に前記第3の所定の自然数のN倍に等しい数のビ
ット間隔の遅延を与えることによって、第1乃至第Pの
ビットパラレル信号を出力する第1乃至第Pの遅延回路
と;前記シリアルパラレル変換器と前記第1乃至前記第
Pの遅延回路とに接続され、前記第0乃至第Pのビット
パラレル信号に応答して、前記ヘッダエラーをチェック
するエラーチェック回路と;を有し、 第pのビットパラレル信号は、ある時点で第(p−(p
−1))のヘッダブロックの前記第nのATMセルヘッ
ダユニットの前記ビットを含み、前記第0のビットパラ
レル信号は前記時点で第nのATMセルヘッダエラーチ
ェックユニットの前記ビットを含むものであることを特
徴とするヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項3】 前記時点は、前記ユニット制御信号が前
記第1乃至前記第Pの各々の第NのATMセルヘッダユ
ニットを指示している時点であることを特徴とする請求
項2のヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項4】 前記エラーチェック回路は、前記シリア
ルパラレル変換器と前記第1乃至前記第Pの遅延回路と
に接続され、前記第0乃至第Pのビットパラレル信号に
ついて巡回冗長チェックを行い、前記ヘッダエラーをチ
ェックする巡回冗長チェック回路であることを特徴とす
る請求項2のヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項5】 前記ATMセルヘッダユニット及び前記
ATMセルヘッダエラーチェックユニットの各々が所定
のビット間隔で第3の所定の自然数分のビットを有し、
前記制御信号発生部はビット制御信号とユニット制御信
号とを前記制御信号として発生するものであり、前記ビ
ット制御信号は、前記第1乃至前記第Pのヘッダブロッ
クの前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダユニット
の前記ビットと、前記第1乃至前記第NのATMセルヘ
ッダエラーチェックユニットのビットとを、指示し、前
記ユニット制御信号は前記第1乃至前記第Pのヘッダブ
ロックの前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダユニ
ットと、前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダエラ
ーチェックユニットとを、指示するものである請求項1
のヘッダエラーチェック装置において、 前記単一エラーチェック部は:前記データ入力端子及び
前記制御信号発生部に接続され、前記ユニット制御信号
が前記第1乃至前記第Pのヘッダブロックの前記第nの
ATMセルヘッダユニットを第(p,n)のATMセル
ヘッダユニットとして連続的に指示した時、前記第
(p,n)のATMセルヘッダユニット及び第(p,
n)の前回結果信号について巡回冗長チェックを行い、
該巡回冗長チェックの結果を第(p,n)の中間結果信
号として、該第(p,n)の中間結果信号の各々が前記
ビット制御信号に従ってビットパラレルに出力された状
態で、出力する単一巡回冗長チェック回路と;前記巡回
冗長チェック回路に接続され、前記ユニット制御信号に
よって制御され、前記ユニット制御信号が前記第(p,
n)のATMセルヘッダユニットを連続的に指示した
時、前記第(p,n)の中間結果信号を第(p,n)の
記憶された結果信号として記憶し、前記ユニット制御信
号が前記第nのATMセルヘッダエラーチェックユニッ
トを連続的に指示した時、第(P,n)の記憶された結
果信号を、第nの結果として出力するメモリ部と;を有
することを特徴とするヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項6】 前記制御信号発生部は前記第1乃至前記
第NのATMセルヘッダエラーチェックユニットを選択
的に指示するユニット選択信号を更に発生するものであ
る請求項5のヘッダエラーチェック装置において、 前記データ入力端子、前記制御信号発生部、及び前記メ
モー部に接続され、前記ユニット選択信号が前記第nの
ATMセルヘッダエラーチェックユニットを指示してい
る時、前記第nの結果を前記第nのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットの代りに挿入し、且つ、前記ST
M信号を、前記第1乃至前記第NのATMセルヘッダエ
ラーチェックユニットが前記メモリ部によって出力され
た第1乃至第Nの結果に選択的に変えられた、立て直さ
れたSTM信号に変える単一のセレクタ部を、更に有す
ることを特徴とするヘッダエラーチェック装置。 - 【請求項7】 システム入力ATMセルを受けるシステ
ム入力端子と、システム出力端子とを、有するATMセ
ル伝送システムに組み合わされて使用されるATMセル
監視装置であって、前記ATMセル伝送システムは、前
記システム入力ATMセルをそのまま前記システム出力
端子に伝送し、前記システム入力ATMセルをシステム
出力ATMセルとして出力するものであり、前記ATM
セル伝送システムを監視し、前記システム出力ATMセ
ルにおけるエラーをチェックする前記ATMセル監視装
置において、 所定数のバイトからなる原ATMセルを受け、該原AT
Mセルを、前記所定数のバイトとそれに付加された一つ
の空きバイトとからなる第1の変換されたATMセルに
変換する第1のフォーマット変換器と;前記第1のフォ
ーマット変換器に接続され、前記第1の変換されたAT
Mセルにおける前記所定数のバイトにおける第1のエラ
ーをチェックし、第1のエラー訂正符号を出力する第1
のエラーチェック回路と;前記ATMセル伝送システム
の前記システム入力端子と、前記第1のフォーマット変
換器と、前記第1のエラーチェック回路とに接続され、
前記第1のエラー訂正符号を前記第1の変換されたAT
Mセルの前記空きバイトに挿入して、満たされたATM
セルとし、該満たされたフルATMセルを前記システム
入力ATMセルとして前記システム入力端子に送出する
結合器と;前記ATMセル伝送システムの前記システム
出力端子に接続され、前記システム出力ATMセルにお
ける前記所定数のバイトにおける第2のエラーをチェッ
クし、第2のエラー訂正符号を出力する第2のエラーチ
ェック回路と;前記ATMセル伝送システムの前記シス
テム出力端子と前記第2のエラーチェック回路とに接続
され、前記システム出力ATMセルに含まれている前記
第1のエラー訂正符号を前記第2のエラー訂正符号に比
較し、比較結果を出力する比較器と;を有することを特
徴とするATMセル監視装置。 - 【請求項8】 前記ATMセル伝送システムの前記シス
テム出力端子に接続され、前記所定数のバイトとそれに
付加された前記第1のエラー訂正符号とからなる前記シ
ステム出力ATMセルを、前記所定数のバイトからなる
第2の変換されたATMセルに変換する第2のフォーマ
ット変換器を、更に、有することを特徴とする請求項7
のATMセル監視装置。 - 【請求項9】 前記第1のエラーチェック回路は、前記
第1のフォーマット変換器に接続され、前記第1の変換
されたATMセルにおける前記所定数のバイトにおける
第1のエラーをチェックし、前記第1のエラー訂正符号
を出力する第1の巡回冗長エラーチェック回路であり、 前記第2のエラーチェック回路は、前記ATMセル伝送
システムの前記システム出力端子に接続され、前記シス
テム出力ATMセルにおける前記所定数のバイトにおけ
る第2のエラーをチェックし、前記第2のエラー訂正符
号を出力する第2の巡回冗長エラーチェック回路である
ことを特徴とする請求項7のATMセル監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4006024A JPH0537544A (ja) | 1991-01-16 | 1992-01-16 | ヘツダエラーチエツク装置及びatmセル監視装置 |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1496391 | 1991-01-16 | ||
| JP2938491 | 1991-01-30 | ||
| JP3-14963 | 1991-01-31 | ||
| JP3-54173 | 1991-01-31 | ||
| JP5417391 | 1991-01-31 | ||
| JP3-29384 | 1991-01-31 | ||
| JP4006024A JPH0537544A (ja) | 1991-01-16 | 1992-01-16 | ヘツダエラーチエツク装置及びatmセル監視装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24482598A Division JP3009038B2 (ja) | 1991-01-16 | 1998-08-31 | ヘッダエラーチェック装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0537544A true JPH0537544A (ja) | 1993-02-12 |
Family
ID=27454409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4006024A Pending JPH0537544A (ja) | 1991-01-16 | 1992-01-16 | ヘツダエラーチエツク装置及びatmセル監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0537544A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5768274A (en) * | 1994-03-31 | 1998-06-16 | Hitachi, Ltd. | Cell multiplexer having cell delineation function |
| US6560653B1 (en) | 1997-08-08 | 2003-05-06 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | System and method for processing a signalling message in an ATM network |
-
1992
- 1992-01-16 JP JP4006024A patent/JPH0537544A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5768274A (en) * | 1994-03-31 | 1998-06-16 | Hitachi, Ltd. | Cell multiplexer having cell delineation function |
| US6560653B1 (en) | 1997-08-08 | 2003-05-06 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | System and method for processing a signalling message in an ATM network |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991104 |