JPH053998U - イオン濃度測定用シート型電極 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】コネクタピンとの摺動接触があってもリード部
が容易に磨耗せず、長期にわたって安定して測定を行う
ことができる信頼性の高いシート型電極を提供するこ
と。 【構成】リード部13の表面を、銀よりも耐磨耗性を有す
る金属を用いてメッキ処理している。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、イオン濃度測定用シート型電極に関する。

【０００２】

【従来の技術】

イオン濃度測定用シート型電極（以下、シート型電極と言う）は、小型であり 、その取扱いが容易であるところから広く使用されており、本願出願人は、この 種のシート型電極およびその周辺技術については、数多く出願しているところで ある。

【０００３】 前記シート型電極として、例えば特願昭61−285371号（特開昭63−138255号） や、実願平２− 38369号に示すように、演算処理部、操作部、表示部、コネクタ などを本体ユニットに設ける一方、絶縁性基板の表面に測定電極と比較電極とを 設けて平面的に形成された平面センサおよびこの平面センサと電気的に接続され たリード部を測定ユニットに設け、これら両ユニットを接続分離自在に構成する と共に、この接続分離に伴って前記コネクタとリード部とが互いに電気的に接続 または分離（以下、接離と言う）するように構成したものがある。

【０００４】 これらのシート型電極においては、図６に示すように、測定ユニット61に設け られるリード部62は、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）などのような高絶 縁性の基板63上に、銀あるいはカーボンまたはそれらの混合物を５μｍ程度の厚 さに印刷した後、さらに、５μｍ程度の厚さに銀メッキを施して、銀印刷／銀メ ッキ層に形成され、外部接続端子として使用できるように構成されている。そし て、測定ユニット61と本体ユニット（図外）との接続は、リード部62と本体ユニ ットに設けられたばね式のコネクタピン64とによって行われる。なお、65はＰＥ Ｔよりなる基板である。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】 しかしながら、上記従来のシート型電極においては、次のような不都合があっ た。すなわち、図６に示すように、前記コネクタピン64には突部66が形成してあ り、しかも、コネクタピン64は常にリード部62側に付勢されているので、リード 部62とコネクタピン64とが接触したり、離間する際、両者62, 64が互いに擦れ合 い、これによって、余り厚くない銀印刷／銀メッキ層が徐々に削り取られていき 、10〜50回程度の接離動作で、銀メッキ層が損傷して銀印刷層が露出するように なり、ついには、使用不可能になってしまい、長期にわたって使用できないとい った不都合があった。

【０００６】 本考案は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的とするところは、 コネクタピンとの摺動接触があってもリード部が容易に磨耗せず、長期にわたっ て安定して測定を行うことができる信頼性の高いシート型電極を提供することに ある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、本考案に係るシート型電極は、リード部の表面を、 銀よりも耐磨耗性を有する金属を用いてメッキ処理している。 前記メッキ処理として、電解Ｎｉメッキや、無電解Ｎｉメッキ（Ｎｉ−Ｃｒメ ッキ）や、Ｎｉメッキ液中にＳｉＣ粉末をコンポジットさせたメッキ液を用いた 複合メッキなどがある。

【０００８】

【作用】

例えば銀メッキしたリード部に電解Ｎｉメッキを10〜20μｍ施してＮｉメッキ 層を形成した場合、接離動作を 10000回繰り返しても磨耗劣化が生じなかった。 なお、上記他のメッキによってもほぼ同様の結果が得られた。

【０００９】

【実施例】

以下、本考案の実施例を、図面に基づいて説明する。

【００１０】 図１および２は、本考案に係るシート型電極を示し、これらの図において、１ は本体ユニット、２はそのケースである。そして、詳細には図示してないが、本 体ケース２の内部には演算処理部が設けられると共に、外部には操作部および表 示部が設けられ、端部には接続口部３が設けられている。

【００１１】 ４は本体ケース２内に配置されたプリント基板で、その接続口部３側の端部に コネクタ５が取り付けられている。このコネクタ５は、絶縁材からなる支持体６ に、燐青銅に金メッキを施すなどした弾性変形が可能なばね性を有する導電性金 属板からなる複数のコネクタピン７を並列的に取り付けてなるものである。８は ケース２において、コネクタピン７の遊端側（接触部側）と当接するように設け られるカバー部である。

【００１２】 ９は前記本体ユニット１に対して接続分離自在に構成された測定ユニット、10 はそのケースである。11は複数の絶縁性シートをラミネートしてなる絶縁性基板 で、その一端側（接続側）の表面には、イオン濃度測定用の平面センサ12が形成 されている。13は平面センサ12と電気的に接続され、前記接続分離に伴ってコネ クタ５と接離するリード部で、接続側まで延設されている。ここまでの構成は、 例えば前記実願平２− 38369号に示されたものと変わるところがない。

【００１３】 そして、本考案においては、前記リード部13は、銀印刷／銀メッキ層の表面に 、銀よりも耐磨耗性を有する金属を用いてメッキ処理されている。図３は、リー ド部13の一例を示すもので、この図において、14は絶縁性基板11を構成するＰＥ Ｔシートで、その表面に銀印刷／銀メッキ層15が形成され、さらに、この銀印刷 ／銀メッキ層15の表面には、電解Ｎｉメッキによって10〜20μｍ程度の厚いＮｉ メッキ層16が形成されている。17はＰＥＴシートである。

【００１４】 このように構成されたリード部13においては、コネクタピン７との接離動作を 10000回繰り返しても磨耗劣化が生じず、従来に比べてその耐久性が飛躍的に延 びたのである。また、上記実施例においては、Ｎｉメッキ層16の端部にＰＥＴシ ート17を被覆しているので、Ｎｉメッキ層16が剥がれにくいといった利点がある 。

【００１５】 本考案は、上記実施例に限られるものではなく、種々に変形して実施すること ができる。すなわち、図４に示す実施例においては、銀印刷／銀メッキ層15の表 面に、無電解Ｎｉメッキ（Ｎｉ−Ｃｒメッキ）によって１〜５μｍの薄いメッキ 層18が形成されている。そして、この例では、ＰＥＴシート17から露出している 部分のみがメッキされている。

【００１６】 図５は、さらに他の実施例を示すもので、この実施例においては、19はリード 部で、このリード部13は、銀とカーボンとの混合物を用いて印刷した後、銀メッ キして形成したもので、このリード部13のコネクタ５が当接する表面のみに、Ｎ ｉメッキ液中にＳｉＣ粉末をコンポジットさせたメッキ液を用いて複合メッキを 施してメッキ層19を形成している。

【００１７】 前記図４，５に示した実施例においても、上記図１に示したのと同様の耐久性 があることが判った。

【００１８】 そして、上述の説明から理解されるように、リード部13のメッキ処理に用いら れる金属は、耐磨耗性の他に、化学変化が生じにくいといった性質を備えたもの が好ましく、このような性質を備えたものとして、Ｔａ，Ｗ，Ｔｉなどがある。

【００１９】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案によれば、コネクタピンとの摺動接触があっても リード部が容易に磨耗せず、長期にわたって安定して測定を行うことができるよ うになった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例に係るイオン濃度測定用シー
ト型電極の一例を示し、本体ユニットと測定ユニットと
を分離した状態を示す部分縦断面図である。

【図２】前記本体ユニットと測定ユニットとが接続され
た状態を示す部分縦断面図である。

【図３】リード部の一構成例を示す断面図である。

【図４】リード部の他の構成例を示す断面図である。

【図５】リード部のさらに他の構成例を示す断面図であ
る。

【図６】従来技術を説明するための図である。

【符号の説明】

１…本体ユニット、５…コネクタ、９…測定ユニット、
12…平面センサ、13…リード部、16、18、19…メッキ
層。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 演算処理部を内蔵し、外部に操作部およ
   び表示部が形成され、コネクタを備えた本体ユニット
   と、この本体ユニットに対して接続分離自在に構成さ
   れ、絶縁性基板の表面に形成された平面センサおよびこ
   の平面センサと電気的に接続されると共に、前記接続分
   離に伴って前記コネクタと接離するリード部を備えた測
   定ユニットとからなるイオン濃度測定用シート型電極に
   おいて、前記リード部の表面を、銀よりも耐磨耗性を有
   する金属を用いてメッキ処理したことを特徴とするイオ
   ン濃度測定用シート型電極。