JPH0540946A - 分離型光ヘツド - Google Patents
分離型光ヘツドInfo
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- JPH0540946A JPH0540946A JP3199083A JP19908391A JPH0540946A JP H0540946 A JPH0540946 A JP H0540946A JP 3199083 A JP3199083 A JP 3199083A JP 19908391 A JP19908391 A JP 19908391A JP H0540946 A JPH0540946 A JP H0540946A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオ
フセットを生じることがない分離型光ヘッドを達成す
る。 【構成】図1において、回折格子25とビームスプリッ
タ26とミラープリズム29を可動光学系6内に配置
し、トラックずれ検出用(または焦点ずれ検出用)のサ
ブビームを可動光学系6内で分離した。さらに、可動光
学系6から出射する反射ビーム30の方向を、固定光学
系5からの出射ビーム24と平行にし検出光学系を固定
光学系5内に配置した。 【効果】可動光学系のアクセス移動によって、トラック
ずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセットを生じる
ことがなく、可動光学系を軽量化できる。
フセットを生じることがない分離型光ヘッドを達成す
る。 【構成】図1において、回折格子25とビームスプリッ
タ26とミラープリズム29を可動光学系6内に配置
し、トラックずれ検出用(または焦点ずれ検出用)のサ
ブビームを可動光学系6内で分離した。さらに、可動光
学系6から出射する反射ビーム30の方向を、固定光学
系5からの出射ビーム24と平行にし検出光学系を固定
光学系5内に配置した。 【効果】可動光学系のアクセス移動によって、トラック
ずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセットを生じる
ことがなく、可動光学系を軽量化できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置や光カ
ード装置や光テープ装置などの光情報処理装置などに用
いる光ヘッドに関する。
ード装置や光テープ装置などの光情報処理装置などに用
いる光ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】情報化社会の進展にともない、大容量の
データファイル装置が望まれている。この要求に答える
大容量ファイル装置として、光ディスク装置がある。し
かし、光ディスク装置は、磁気ディスク装置に比べてデ
ータへのアクセス時間が遅く、アクセス時間の短縮が大
きな課題となっている。光ディスク装置においてアクセ
ス時間を短縮する手段の一例として、例えば特開昭63−
298725号公報に記載のように、光源部分やディスク反射
ビームを分離するビームスプリッタや検出光学系部分な
どは固定光学系として動かさず、フォーカスレンズとス
ポット位置制御アクチュエータを含むフォーカシング部
分のみを可動光学系として移動させる、分離型光ヘッド
がある。分離型光ヘッドは、従来の一体型光ヘッドに比
べて可動部分の部品が少なく軽量であるから、アクセス
時間を短縮することが出来る。
データファイル装置が望まれている。この要求に答える
大容量ファイル装置として、光ディスク装置がある。し
かし、光ディスク装置は、磁気ディスク装置に比べてデ
ータへのアクセス時間が遅く、アクセス時間の短縮が大
きな課題となっている。光ディスク装置においてアクセ
ス時間を短縮する手段の一例として、例えば特開昭63−
298725号公報に記載のように、光源部分やディスク反射
ビームを分離するビームスプリッタや検出光学系部分な
どは固定光学系として動かさず、フォーカスレンズとス
ポット位置制御アクチュエータを含むフォーカシング部
分のみを可動光学系として移動させる、分離型光ヘッド
がある。分離型光ヘッドは、従来の一体型光ヘッドに比
べて可動部分の部品が少なく軽量であるから、アクセス
時間を短縮することが出来る。
【0003】一方、光ディスクの光ヘッドでは、ディス
クのばたつきによる焦点ずれや偏心によるトラックずれ
を検出し、2次元レンズアクチュエータなどを用いて自
動焦点制御や自動トラッキング制御を行なうことが必須
である。これらのために、回折格子を用いたトラックず
れ検出方式や焦点ずれ検出方式が提案されている。
クのばたつきによる焦点ずれや偏心によるトラックずれ
を検出し、2次元レンズアクチュエータなどを用いて自
動焦点制御や自動トラッキング制御を行なうことが必須
である。これらのために、回折格子を用いたトラックず
れ検出方式や焦点ずれ検出方式が提案されている。
【0004】例えば、トラックずれ検出に回折格子を用
いた方式の一例として、例えば特開昭49−50954 号公報
に記載のように、3スポット方式が知られている。この
方式では、回折格子を用いてトラックずれ検出用の2つ
のサブビームを生成し、メインスポットの前後(ディス
クトラック方向)に2つのサブスポットを配置する。2
つのサブスポットのディスク半径方向の位置は、それぞ
れトラック間隔の約4分の1ずつずらしておく。ディス
クが半径方向にずれると、一方のサブスポットのグルー
ブやピットによる回折は強くなり、そのサブスポットの
反射光量は減少するが、他方のサブスポットの回折は弱
くなり、反射光量は増加する。そこで、2つのサブスポ
ットの反射光量を2つの光検出器で検出し、それらの出
力の差信号からトラックずれ検出信号を得ることができ
る。
いた方式の一例として、例えば特開昭49−50954 号公報
に記載のように、3スポット方式が知られている。この
方式では、回折格子を用いてトラックずれ検出用の2つ
のサブビームを生成し、メインスポットの前後(ディス
クトラック方向)に2つのサブスポットを配置する。2
つのサブスポットのディスク半径方向の位置は、それぞ
れトラック間隔の約4分の1ずつずらしておく。ディス
クが半径方向にずれると、一方のサブスポットのグルー
ブやピットによる回折は強くなり、そのサブスポットの
反射光量は減少するが、他方のサブスポットの回折は弱
くなり、反射光量は増加する。そこで、2つのサブスポ
ットの反射光量を2つの光検出器で検出し、それらの出
力の差信号からトラックずれ検出信号を得ることができ
る。
【0005】また、焦点ずれ検出に回折格子を用いた方
式の一例として、特開平1−303632号公報に記載の方式
が提案されている。特開平1−303632 号公報に開示され
ている実施例によれば、その回折格子は、格子溝間隔が
順次増加または減少する複数の同心円溝の集合の一部分
であり、+1次ビームと−1次ビームに正と負の像点縦
移動の収差(焦点ずれの収差)を与える。また、その回
折格子は、同心円溝の中心位置がメインビームの主光線
軸の位置から偏心した領域を用いて、+1次サブビーム
と−1次サブビームをメインビームの主光線軸に対して
反対方向に放射する。そこで、2つのサブビームは、フ
ォーカスレンズによりメインビームに対して焦点深さ方
向の異なる位置に2つのサブスポットとして絞り込まれ
る。2つのサブスポットの反射光量は光ディスクに記録
されたピットによって変調され、それらの変調度は光検
出素子と包絡線検波回路で検出される。2つのサブスポ
ットによる変調度は光ディスクの焦点ずれによって変化
するので、2つの変調度の差をとることにより焦点ずれ
検出信号が得られる。
式の一例として、特開平1−303632号公報に記載の方式
が提案されている。特開平1−303632 号公報に開示され
ている実施例によれば、その回折格子は、格子溝間隔が
順次増加または減少する複数の同心円溝の集合の一部分
であり、+1次ビームと−1次ビームに正と負の像点縦
移動の収差(焦点ずれの収差)を与える。また、その回
折格子は、同心円溝の中心位置がメインビームの主光線
軸の位置から偏心した領域を用いて、+1次サブビーム
と−1次サブビームをメインビームの主光線軸に対して
反対方向に放射する。そこで、2つのサブビームは、フ
ォーカスレンズによりメインビームに対して焦点深さ方
向の異なる位置に2つのサブスポットとして絞り込まれ
る。2つのサブスポットの反射光量は光ディスクに記録
されたピットによって変調され、それらの変調度は光検
出素子と包絡線検波回路で検出される。2つのサブスポ
ットによる変調度は光ディスクの焦点ずれによって変化
するので、2つの変調度の差をとることにより焦点ずれ
検出信号が得られる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】通常、回折格子を用い
たトラックずれ検出方式や焦点ずれ検出方式において
は、ディスクで反射したメインビームやサブビームが再
度回折格子を通過すると、サブビームとメインビームが
混合してしまい、正確なトラックずれ検出や焦点ずれ検
出が不可能になる。よって、回折格子は、特開昭49−50
954号公報のFig.4に記載のように、光源部分とデ
ィスク反射ビームを分離するビームスプリッタの間に配
置している。そこで、例えば特開昭63−298725号公報の
図3に記載の分離型光ヘッドで、回折格子を用いたトラ
ックずれ検出方式や焦点ずれ検出方式を用いる場合、回
折格子は、固定光学系12内でカップリングレンズ19
とビームスプリッタ20の間に配置される。
たトラックずれ検出方式や焦点ずれ検出方式において
は、ディスクで反射したメインビームやサブビームが再
度回折格子を通過すると、サブビームとメインビームが
混合してしまい、正確なトラックずれ検出や焦点ずれ検
出が不可能になる。よって、回折格子は、特開昭49−50
954号公報のFig.4に記載のように、光源部分とデ
ィスク反射ビームを分離するビームスプリッタの間に配
置している。そこで、例えば特開昭63−298725号公報の
図3に記載の分離型光ヘッドで、回折格子を用いたトラ
ックずれ検出方式や焦点ずれ検出方式を用いる場合、回
折格子は、固定光学系12内でカップリングレンズ19
とビームスプリッタ20の間に配置される。
【0007】しかし、分離型光ヘッドにおいては、同じ
く特開昭63−298725号公報で論じられているように、固
定光学系の光源部分から出射するビームの方向と可動光
学系が移動する方向とは、機械部品の加工精度の誤差や
組立による誤差などによってずれる可能性がある。そこ
で、アクセスのための移動光学系移動により、フォーカ
スレンズが横にずれ、2つのサブスポットのフォーカス
レンズによるけられ量が異なり、2つのサブスポットの
反射光量はアンバランスになり、2つの光検出器の出力
信号は直流的な差が生じる。よって、このような分離型
光ヘッドでは、可動光学系のアクセスする位置によっ
て、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセ
ットが生ずる、という問題がある。
く特開昭63−298725号公報で論じられているように、固
定光学系の光源部分から出射するビームの方向と可動光
学系が移動する方向とは、機械部品の加工精度の誤差や
組立による誤差などによってずれる可能性がある。そこ
で、アクセスのための移動光学系移動により、フォーカ
スレンズが横にずれ、2つのサブスポットのフォーカス
レンズによるけられ量が異なり、2つのサブスポットの
反射光量はアンバランスになり、2つの光検出器の出力
信号は直流的な差が生じる。よって、このような分離型
光ヘッドでは、可動光学系のアクセスする位置によっ
て、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセ
ットが生ずる、という問題がある。
【0008】本発明の目的は、回折格子などを用いた分
離型光ヘッドにおいて、可動光学系のアクセス移動によ
って、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフ
セットを生じることがない分離型光ヘッドを提供するこ
とにある。
離型光ヘッドにおいて、可動光学系のアクセス移動によ
って、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフ
セットを生じることがない分離型光ヘッドを提供するこ
とにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明では、ビームを出射するビーム出射手段
を有する固定された固定光学系と、ビーム出射手段から
の出射ビームをディスクなどの情報媒体面上に結像する
フォーカスレンズなどの結像光学手段を有する固定光学
系に対して移動可能な可動光学系とからなる分離型光ヘ
ッドにおいて、出射ビームから複数のサブビームを分割
する回折格子などのビーム分割手段を可動光学系に配置
する。
に、第1の発明では、ビームを出射するビーム出射手段
を有する固定された固定光学系と、ビーム出射手段から
の出射ビームをディスクなどの情報媒体面上に結像する
フォーカスレンズなどの結像光学手段を有する固定光学
系に対して移動可能な可動光学系とからなる分離型光ヘ
ッドにおいて、出射ビームから複数のサブビームを分割
する回折格子などのビーム分割手段を可動光学系に配置
する。
【0010】第2の発明では、情報媒体からの反射ビー
ムを出射ビームから分離するビームスプリッタなどのビ
ーム分離手段をビーム分割手段と結像手段の間に配置す
る。第3の発明では、ビーム分離手段によって分離され
た分離ビームの進行方向を出射ビームの進行方向とほぼ
平行にするためのミラーやプリズムなどのビーム偏向手
段を可動光学系に配置する。
ムを出射ビームから分離するビームスプリッタなどのビ
ーム分離手段をビーム分割手段と結像手段の間に配置す
る。第3の発明では、ビーム分離手段によって分離され
た分離ビームの進行方向を出射ビームの進行方向とほぼ
平行にするためのミラーやプリズムなどのビーム偏向手
段を可動光学系に配置する。
【0011】
【作用】第1の発明では、固定光学系から出射したビー
ムは、そのまま可動光学系に達し、可動光学系内に配置
されたビーム分割手段によって複数のサブビームに分割
された後、ビーム分割手段の近傍にある結像手段に達す
る。ビーム分割手段と結像手段は、共に可動光学系内に
あって近傍に配置でき、可動光学系のアクセスによって
相対位置は変化しない。そこで、可動光学系のアクセス
する位置に関わりなく、焦点ずれ検出やトラックずれ検
出に用いる2つのサブビームのフォーカスレンズによる
けられ量を、等しく保つことができる。よって、トラッ
クずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセットを生じ
ることがない。
ムは、そのまま可動光学系に達し、可動光学系内に配置
されたビーム分割手段によって複数のサブビームに分割
された後、ビーム分割手段の近傍にある結像手段に達す
る。ビーム分割手段と結像手段は、共に可動光学系内に
あって近傍に配置でき、可動光学系のアクセスによって
相対位置は変化しない。そこで、可動光学系のアクセス
する位置に関わりなく、焦点ずれ検出やトラックずれ検
出に用いる2つのサブビームのフォーカスレンズによる
けられ量を、等しく保つことができる。よって、トラッ
クずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオフセットを生じ
ることがない。
【0012】第2の発明では、可動光学系内で、ビーム
分離手段をビーム分割手段と結像手段の間に配置したの
で、情報媒体からの反射ビームは、ビーム分割手段によ
ってさらに分割されることなく、ビーム分離手段によっ
て検出光学系に導かれる。よって、サブビームとメイン
ビームが混合することはなく、正確なトラックずれ検出
や焦点ずれ検出が可能になる。
分離手段をビーム分割手段と結像手段の間に配置したの
で、情報媒体からの反射ビームは、ビーム分割手段によ
ってさらに分割されることなく、ビーム分離手段によっ
て検出光学系に導かれる。よって、サブビームとメイン
ビームが混合することはなく、正確なトラックずれ検出
や焦点ずれ検出が可能になる。
【0013】第3の発明では、可動光学系内でビーム分
離手段によって分離された分離ビームは、ビーム偏向手
段によって出射ビームの進行方向とほぼ平行に可動光学
系から出射するので、可動光学系のアクセスする位置に
関わりなく、分離ビームが固定光学系に到達する位置は
変化しない。よって、検出光学系を固定光学系内に配置
することができ、可動光学系を軽量化することができ
る。
離手段によって分離された分離ビームは、ビーム偏向手
段によって出射ビームの進行方向とほぼ平行に可動光学
系から出射するので、可動光学系のアクセスする位置に
関わりなく、分離ビームが固定光学系に到達する位置は
変化しない。よって、検出光学系を固定光学系内に配置
することができ、可動光学系を軽量化することができ
る。
【0014】
【実施例】まず、分離型光ヘッドを用いた光ディスク装
置の一構成例を、図2と図3を用いて説明する。図2は
光ディスク装置の構成図で、(a)はその上面図、
(b)はその側面図、である。1は光ディスク装置、2
は本発明を用いた光ヘッドのボディ、3は光ディスク、
4はモータである。分離型の光ヘッドボディ2とモータ
4は光ディスク装置1に固定されており、光ディスク3
はモータ4によって回転する。図3は、光ヘッドボディ
2内部の機構を上方から見た図である。5は分離型光ヘ
ッドの固定光学系、6は分離型光ヘッドの可動光学系、
7はシャフト、8はステップモータ、9はガイド機構、
である。固定光学系5とステップモータ8とシャフト7
は、光ヘッドボディ2に固定されていて、ガイド機構9
は可動光学系6に取り付けられている。可動光学系6
は、その両端を貫通する2本のシャフト7によって滑ら
かに支持されており、シャフト7方向に移動することが
できる。ステップモータ8のロータにはスクリュ状の溝
が刻まれており、ガイド機構9の突起部がそのスクリュ
状の溝にはめ込まれている。よって、ステップモータ8
のロータを回転することにより、スクリュ状の溝がガイ
ド機構9の突起部を押し、可動光学系6はシャフト7方
向に滑らかに移動することができる。
置の一構成例を、図2と図3を用いて説明する。図2は
光ディスク装置の構成図で、(a)はその上面図、
(b)はその側面図、である。1は光ディスク装置、2
は本発明を用いた光ヘッドのボディ、3は光ディスク、
4はモータである。分離型の光ヘッドボディ2とモータ
4は光ディスク装置1に固定されており、光ディスク3
はモータ4によって回転する。図3は、光ヘッドボディ
2内部の機構を上方から見た図である。5は分離型光ヘ
ッドの固定光学系、6は分離型光ヘッドの可動光学系、
7はシャフト、8はステップモータ、9はガイド機構、
である。固定光学系5とステップモータ8とシャフト7
は、光ヘッドボディ2に固定されていて、ガイド機構9
は可動光学系6に取り付けられている。可動光学系6
は、その両端を貫通する2本のシャフト7によって滑ら
かに支持されており、シャフト7方向に移動することが
できる。ステップモータ8のロータにはスクリュ状の溝
が刻まれており、ガイド機構9の突起部がそのスクリュ
状の溝にはめ込まれている。よって、ステップモータ8
のロータを回転することにより、スクリュ状の溝がガイ
ド機構9の突起部を押し、可動光学系6はシャフト7方
向に滑らかに移動することができる。
【0015】次に、本発明を分離型光ヘッドのトラック
ずれ検出手段に用いた一実施例を、図1および図4から
図7を用いて説明する。図1は、分離型光ヘッドの光学
構成を示す図である。固定光学系5内の半導体レーザ2
1から出射したレーザ光束は、コリメートレンズ22に
よって平行光束になり、2つのビーム整形プリズム23
で軸対称の等方的光強度分布の平行光束になり、固定光
学系5から出射し可動光学系6に入射する。出射ビーム
24の出射方向は、シャフト7方向と平行である。可動
光学系6内の25は回折格子で、平行光束を0次回折光
と+1次回折光と−1次回折光に分離する。分離された
3つの回折光束は、ビームスプリッタ26を通過し、ミ
ラー27で紙面上方に反射し、フォーカスレンズ28に
よって、ディスク3面上にメインスポットと2つのサブ
スポットとして集束する。
ずれ検出手段に用いた一実施例を、図1および図4から
図7を用いて説明する。図1は、分離型光ヘッドの光学
構成を示す図である。固定光学系5内の半導体レーザ2
1から出射したレーザ光束は、コリメートレンズ22に
よって平行光束になり、2つのビーム整形プリズム23
で軸対称の等方的光強度分布の平行光束になり、固定光
学系5から出射し可動光学系6に入射する。出射ビーム
24の出射方向は、シャフト7方向と平行である。可動
光学系6内の25は回折格子で、平行光束を0次回折光
と+1次回折光と−1次回折光に分離する。分離された
3つの回折光束は、ビームスプリッタ26を通過し、ミ
ラー27で紙面上方に反射し、フォーカスレンズ28に
よって、ディスク3面上にメインスポットと2つのサブ
スポットとして集束する。
【0016】ディスク3からの反射ビームは、再度フォ
ーカスレンズ28で平行ビームになり、ミラー27で反
射され、今度はビームスプリッタ26で反射され、さら
にミラープリズム28によって出射ビーム24と平行な
方向に反射され、反射ビーム30となって固定光学系に
戻る。30で示す反射ビームは、回折格子25で分離さ
れた0次回折ビームと+1次回折ビームと−1次回折ビ
ームの3つの回折ビームからなる。固定光学系5に入射
した反射ビーム30は、ミラープリズム31で反射され
る。この反射ビーム30の一部は、ビームスプリッタ3
2を透過し、凸レンズ33とハーフプリズム34と2つ
のサーボ用光検出器35と36とからなる、焦点ずれお
よびトラックずれ検出手段に導かれる。サーボ用光検出
器35は凸レンズ33の焦点位置よりもハーフプリズム
34に近い方向に、また、サーボ用光検出器36は凸レ
ンズ33の焦点位置よりもハーフプリズム34から遠い
方向に、それぞれ同じ距離ずらして配置されている。ま
た、ミラープリズム31で反射された反射ビーム30の
一部は、ビームスプリッタ32で反射し、2分の1波長
板37とウォーラストンプリズム38と凸レンズ39と
信号用光検出器40とからなる信号検出手段に導かれ
る。
ーカスレンズ28で平行ビームになり、ミラー27で反
射され、今度はビームスプリッタ26で反射され、さら
にミラープリズム28によって出射ビーム24と平行な
方向に反射され、反射ビーム30となって固定光学系に
戻る。30で示す反射ビームは、回折格子25で分離さ
れた0次回折ビームと+1次回折ビームと−1次回折ビ
ームの3つの回折ビームからなる。固定光学系5に入射
した反射ビーム30は、ミラープリズム31で反射され
る。この反射ビーム30の一部は、ビームスプリッタ3
2を透過し、凸レンズ33とハーフプリズム34と2つ
のサーボ用光検出器35と36とからなる、焦点ずれお
よびトラックずれ検出手段に導かれる。サーボ用光検出
器35は凸レンズ33の焦点位置よりもハーフプリズム
34に近い方向に、また、サーボ用光検出器36は凸レ
ンズ33の焦点位置よりもハーフプリズム34から遠い
方向に、それぞれ同じ距離ずらして配置されている。ま
た、ミラープリズム31で反射された反射ビーム30の
一部は、ビームスプリッタ32で反射し、2分の1波長
板37とウォーラストンプリズム38と凸レンズ39と
信号用光検出器40とからなる信号検出手段に導かれ
る。
【0017】図4は、回折格子25の構成を示す図で、
41で示すような直線の格子溝が等間隔で形成されてい
る。よって、回折格子25で分離された+1次回折ビー
ムと−1次回折ビームの出射方向は、0次回折ビームに
対してそれぞれ反対方向に微小角度傾く。これらのビー
ムは、フォーカスレンズ28によってディスク3面上に
スポットとして集束する。図5は、ディスク3面上のス
ポットの配置を示す図で、42aは0次回折ビームによ
るメインスポット、42bは+1次回折ビームによるサ
ブスポット、42cは−1次回折ビームによるサブスポ
ット、である。また、45はスポット案内用(トラッキ
ング用)のグルーブを示し、44はトラック中心を示
す。2つのサブスポット42bと42cは、メインスポ
ット42aに対してディスク半径方向(グルーブ45と
直角な方向)に、それぞれトラック間隔の約4分の1ず
つずれて配置する。メインスポット42aと2つのサブ
スポット42bと42cの反射ビームはサーボ用光検出
器35と36で受光される。図6は、サーボ用光検出器
35と36の受光面形状を示す図である。サーボ用光検
出器35の受光面は、図6の(a)に示すように、短冊
状に3分割された受光素子35a1と35a1と35a
3と、その両わきの受光素子35bと35cとからな
る。50aはメインスポット42aの反射ビームで受光
素子35a1と35a1と35a3で受光され、50b
はサブスポット42bの反射ビームで受光素子35bで
受光され、50cはサブスポット42cの反射ビームで
受光素子35cで受光される。また、サーボ用光検出器
36の受光面は、図6の(b)に示すように、短冊状に
3分割された受光素子36a1と36a1と36a3
と、その両わきの受光素子36bと36cとからなる。
51aはメインスポット42aの反射ビームで受光素子3
6a1と36a1と36a3で受光され、51bはサブ
スポット42bの反射ビームで受光素子36bで受光さ
れ、51cはサブスポット42cの反射ビームで受光素
子36cで受光される。
41で示すような直線の格子溝が等間隔で形成されてい
る。よって、回折格子25で分離された+1次回折ビー
ムと−1次回折ビームの出射方向は、0次回折ビームに
対してそれぞれ反対方向に微小角度傾く。これらのビー
ムは、フォーカスレンズ28によってディスク3面上に
スポットとして集束する。図5は、ディスク3面上のス
ポットの配置を示す図で、42aは0次回折ビームによ
るメインスポット、42bは+1次回折ビームによるサ
ブスポット、42cは−1次回折ビームによるサブスポ
ット、である。また、45はスポット案内用(トラッキ
ング用)のグルーブを示し、44はトラック中心を示
す。2つのサブスポット42bと42cは、メインスポ
ット42aに対してディスク半径方向(グルーブ45と
直角な方向)に、それぞれトラック間隔の約4分の1ず
つずれて配置する。メインスポット42aと2つのサブ
スポット42bと42cの反射ビームはサーボ用光検出
器35と36で受光される。図6は、サーボ用光検出器
35と36の受光面形状を示す図である。サーボ用光検
出器35の受光面は、図6の(a)に示すように、短冊
状に3分割された受光素子35a1と35a1と35a
3と、その両わきの受光素子35bと35cとからな
る。50aはメインスポット42aの反射ビームで受光
素子35a1と35a1と35a3で受光され、50b
はサブスポット42bの反射ビームで受光素子35bで
受光され、50cはサブスポット42cの反射ビームで
受光素子35cで受光される。また、サーボ用光検出器
36の受光面は、図6の(b)に示すように、短冊状に
3分割された受光素子36a1と36a1と36a3
と、その両わきの受光素子36bと36cとからなる。
51aはメインスポット42aの反射ビームで受光素子3
6a1と36a1と36a3で受光され、51bはサブ
スポット42bの反射ビームで受光素子36bで受光さ
れ、51cはサブスポット42cの反射ビームで受光素
子36cで受光される。
【0018】図5において、メインスポットがトラック
中心44上にある場合、サブスポット42bと42c
は、グルーブ45によって同じように回折され、各々の
反射ビーム50bと50c、または51bと51cの光
量は等しい。しかし、図5でディスク3が紙面右方向に
ずれると、サブスポット43cはグルーブ45上に位置
するのでグルーブ45によってより強く回折され、サブ
スポット43cの反射ビーム50cまたは51cの光量
は減少する。一方、サブスポット43bはグルーブ45
の間に位置するのでグルーブ45による回折は弱くな
り、サブスポット43bの反射ビーム50bまたは51
bの光量は増加する。逆に、図5でディスク3が紙面左
方向にずれると、サブスポット43bはグルーブ45上
に位置するのでグルーブ45によってより強く回折さ
れ、サブスポット43bの反射ビーム50bまたは51
bの光量は減少する。一方、サブスポット43cはグル
ーブ45の間に位置するのでグルーブ45による回折は
弱くなり、サブスポット43cの反射ビーム50cまたは
51cの光量は増加する。よって、受光素子35b,3
5c,36b,36cの出力信号を、それぞれI(35
b),I(35c),I(36b),I(36c)とすれば、
トラックずれ検出信号TRは、 TR=I(35b)−I(35c) または、 TR=I(36b)−I(36c) または、 TR=I(35b)+I(36b)−I(35c)−I(36
c) で得ることができる。
中心44上にある場合、サブスポット42bと42c
は、グルーブ45によって同じように回折され、各々の
反射ビーム50bと50c、または51bと51cの光
量は等しい。しかし、図5でディスク3が紙面右方向に
ずれると、サブスポット43cはグルーブ45上に位置
するのでグルーブ45によってより強く回折され、サブ
スポット43cの反射ビーム50cまたは51cの光量
は減少する。一方、サブスポット43bはグルーブ45
の間に位置するのでグルーブ45による回折は弱くな
り、サブスポット43bの反射ビーム50bまたは51
bの光量は増加する。逆に、図5でディスク3が紙面左
方向にずれると、サブスポット43bはグルーブ45上
に位置するのでグルーブ45によってより強く回折さ
れ、サブスポット43bの反射ビーム50bまたは51
bの光量は減少する。一方、サブスポット43cはグル
ーブ45の間に位置するのでグルーブ45による回折は
弱くなり、サブスポット43cの反射ビーム50cまたは
51cの光量は増加する。よって、受光素子35b,3
5c,36b,36cの出力信号を、それぞれI(35
b),I(35c),I(36b),I(36c)とすれば、
トラックずれ検出信号TRは、 TR=I(35b)−I(35c) または、 TR=I(36b)−I(36c) または、 TR=I(35b)+I(36b)−I(35c)−I(36
c) で得ることができる。
【0019】図6のビーム形状は、ディスク3がメイン
スポット42aの焦点位置にある場合で、ビーム50a
とビーム51aの大きさは等しい。光ディスク3が、フ
ォーカスレンズ28に近づく方向にずれると、ビーム5
0aは大きくなり、ビーム50bは小さくなる。逆に、
光ディスク3が、フォーカスレンズ28から遠のく方向
にずれると、ビーム50aは小さくなり、ビーム50b
は大きくなる。よって、受光素子35a2,35a3,
36a2,36a3の出力信号を、それぞれI(35a
2),I(35a3),I(36a2),I(36a3)とす
れば、焦点ずれ検出信号AFは、 AF=I(35a2)+I(35a3)−I(36a2)−I
(36a3) で得ることができる。
スポット42aの焦点位置にある場合で、ビーム50a
とビーム51aの大きさは等しい。光ディスク3が、フ
ォーカスレンズ28に近づく方向にずれると、ビーム5
0aは大きくなり、ビーム50bは小さくなる。逆に、
光ディスク3が、フォーカスレンズ28から遠のく方向
にずれると、ビーム50aは小さくなり、ビーム50b
は大きくなる。よって、受光素子35a2,35a3,
36a2,36a3の出力信号を、それぞれI(35a
2),I(35a3),I(36a2),I(36a3)とす
れば、焦点ずれ検出信号AFは、 AF=I(35a2)+I(35a3)−I(36a2)−I
(36a3) で得ることができる。
【0020】図1のビームスプリッタ32で反射したビ
ームは、2分の1波長板37で偏光方向が45度回転
し、ウォーラストンプリズム38で2つの直行した偏光
成分に分離され、凸レンズ39で集光されて、公知の光
磁気差動再生方法を用いて光磁気信号を再生するため
に、分割光検出器40で受光される。図7は、分割型光
検出器40の受光素子形状と、ビーム形状を示す図であ
る。ビーム52aと53aはメインスポット42aの反
射ビームであり、ビーム52bと53bはサブスポット
42bの反射ビームであり、ビーム52cと53cはサ
ブスポット42cの反射ビームである。ビーム52aと
52bと52cの偏光方向と、ビーム53aと53bと
53cの偏光方向は、直交している。光磁気信号は、ビ
ーム52aを受光する受光素子40a1の出力信号と、
ビーム53aを受光する受光素子40a2の出力信号を差動
演算した差信号で得ることができる。
ームは、2分の1波長板37で偏光方向が45度回転
し、ウォーラストンプリズム38で2つの直行した偏光
成分に分離され、凸レンズ39で集光されて、公知の光
磁気差動再生方法を用いて光磁気信号を再生するため
に、分割光検出器40で受光される。図7は、分割型光
検出器40の受光素子形状と、ビーム形状を示す図であ
る。ビーム52aと53aはメインスポット42aの反
射ビームであり、ビーム52bと53bはサブスポット
42bの反射ビームであり、ビーム52cと53cはサ
ブスポット42cの反射ビームである。ビーム52aと
52bと52cの偏光方向と、ビーム53aと53bと
53cの偏光方向は、直交している。光磁気信号は、ビ
ーム52aを受光する受光素子40a1の出力信号と、
ビーム53aを受光する受光素子40a2の出力信号を差動
演算した差信号で得ることができる。
【0021】本実施例によれば、固定光学系から出射し
たビームは、そのまま可動光学系に達し、可動光学系内
に配置された回折格子25によって複数のサブビームに
分割された後、フォーカスレンズ28に達する。回折格
子25とフォーカスレンズ28は、共に可動光学系6内
にあって近傍に配置でき、可動光学系6のアクセスによ
ってそれらの相対位置は変化しない。そこで、可動光学
系6のアクセスする位置に関わりなく、トラックずれ検
出に用いる2つのサブビームのフォーカスレンズによる
けられ量を、等しく保つことができる。よって、トラッ
クずれ検出信号にオフセットを生じることがない。
たビームは、そのまま可動光学系に達し、可動光学系内
に配置された回折格子25によって複数のサブビームに
分割された後、フォーカスレンズ28に達する。回折格
子25とフォーカスレンズ28は、共に可動光学系6内
にあって近傍に配置でき、可動光学系6のアクセスによ
ってそれらの相対位置は変化しない。そこで、可動光学
系6のアクセスする位置に関わりなく、トラックずれ検
出に用いる2つのサブビームのフォーカスレンズによる
けられ量を、等しく保つことができる。よって、トラッ
クずれ検出信号にオフセットを生じることがない。
【0022】また、ビームスプリッタ26を、可動光学
系6内の回折格子25とフォーカスレンズ28の間に配
置したので、ディスク3からの反射ビームは、回折格子
25によってさらに分割されることなく、検出光学系に
導かれる。よって、サブビームとメインビームが混合す
ることはなく、正確なトラックずれ検出が可能になる。
系6内の回折格子25とフォーカスレンズ28の間に配
置したので、ディスク3からの反射ビームは、回折格子
25によってさらに分割されることなく、検出光学系に
導かれる。よって、サブビームとメインビームが混合す
ることはなく、正確なトラックずれ検出が可能になる。
【0023】さらに、ミラープリズム29によって反射
ビーム30は出射ビーム24の進行方向とほぼ平行に可
動光学系6から出射するので、反射ビーム30が固定光
学系5に到達する位置は可動光学系6のアクセスによっ
て変化しない。よって、検出光学系を固定光学系5内に
配置することができ、可動光学系6を軽量化することが
できる。
ビーム30は出射ビーム24の進行方向とほぼ平行に可
動光学系6から出射するので、反射ビーム30が固定光
学系5に到達する位置は可動光学系6のアクセスによっ
て変化しない。よって、検出光学系を固定光学系5内に
配置することができ、可動光学系6を軽量化することが
できる。
【0024】次に、本発明を分離型光ヘッドの焦点ずれ
検出手段に用いた他の一実施例を、図8から図13を用
いて説明する。
検出手段に用いた他の一実施例を、図8から図13を用
いて説明する。
【0025】図8は、他の分離型光ヘッドの光学構成を
示す図である。固定光学系5内の半導体レーザ21から
出射したレーザ光束は、コリメートレンズ22によって
平行光束になり、2つのビーム整形プリズム23で軸対
称の等方的光強度分布の平行光束になり、固定光学系5
から出射し可動光学系6に入射する。出射ビーム24の
出射方向は、シャフト7方向と平行である。可動光学系
6内の61は回折格子で、平行光束を0次回折光と+1
次回折光と−1次回折光に分離し、+1次回折光と−1
次回折光に絶対値が等しい正と負の非点収差を与える。
分離された3つの回折光束は、ビームスプリッタ62の
分離面62′を通過し、ミラー27で紙面上方に反射
し、フォーカスレンズ28によって、ディスク3面上に
メインスポットと2つのサブスポットとして集束する。
ディスク3からの反射ビームは、再度フォーカスレンズ
28で平行ビームになり、ミラー27で反射され、今度
はビームスプリッタ62の分離面62′で反射され、さ
らにビームスプリッタ62のミラー面63によって出射
ビーム24と平行な方向に反射され、反射ビーム64と
なって固定光学系に戻る。64で示す反射ビームは、回
折格子61で分離された0次回折ビームと+1次回折ビ
ームと−1次回折ビームの3つの回折ビームからなる。
固定光学系5に入射した反射ビーム64は、2分の1波
長板37で偏光方向が45度回転し、ウォーラストンプ
リズム38で2つの直行した偏光成分に分離され、凸レ
ンズ39で集光されて、分割光検出器65で受光され
る。
示す図である。固定光学系5内の半導体レーザ21から
出射したレーザ光束は、コリメートレンズ22によって
平行光束になり、2つのビーム整形プリズム23で軸対
称の等方的光強度分布の平行光束になり、固定光学系5
から出射し可動光学系6に入射する。出射ビーム24の
出射方向は、シャフト7方向と平行である。可動光学系
6内の61は回折格子で、平行光束を0次回折光と+1
次回折光と−1次回折光に分離し、+1次回折光と−1
次回折光に絶対値が等しい正と負の非点収差を与える。
分離された3つの回折光束は、ビームスプリッタ62の
分離面62′を通過し、ミラー27で紙面上方に反射
し、フォーカスレンズ28によって、ディスク3面上に
メインスポットと2つのサブスポットとして集束する。
ディスク3からの反射ビームは、再度フォーカスレンズ
28で平行ビームになり、ミラー27で反射され、今度
はビームスプリッタ62の分離面62′で反射され、さ
らにビームスプリッタ62のミラー面63によって出射
ビーム24と平行な方向に反射され、反射ビーム64と
なって固定光学系に戻る。64で示す反射ビームは、回
折格子61で分離された0次回折ビームと+1次回折ビ
ームと−1次回折ビームの3つの回折ビームからなる。
固定光学系5に入射した反射ビーム64は、2分の1波
長板37で偏光方向が45度回転し、ウォーラストンプ
リズム38で2つの直行した偏光成分に分離され、凸レ
ンズ39で集光されて、分割光検出器65で受光され
る。
【0026】図9は、回折格子61の構成を示す図で、
同心楕円群71の偏心した領域の格子溝71で形成され
ている。よって、回折格子61で分離された+1次回折
ビームと−1次回折ビームは、0次回折ビームに対して
それぞれ反対方向に微小角度傾いた方向に出射するとと
もに、x方向とy方向の集束位置が異なる非点収差が与
えられる。また、回折格子の回折角の対称性により、+
1次回折ビームに与えられた正の非点収差と−1次回折
ビームに与えられた負の非点収差の絶対値は等しい。こ
れらのビームは、フォーカスレンズ28によってディス
ク3面上にスポットとして集束し、光ディスク3で反射
して反射ビーム64となり、分割型光検出器65で受光
される。
同心楕円群71の偏心した領域の格子溝71で形成され
ている。よって、回折格子61で分離された+1次回折
ビームと−1次回折ビームは、0次回折ビームに対して
それぞれ反対方向に微小角度傾いた方向に出射するとと
もに、x方向とy方向の集束位置が異なる非点収差が与
えられる。また、回折格子の回折角の対称性により、+
1次回折ビームに与えられた正の非点収差と−1次回折
ビームに与えられた負の非点収差の絶対値は等しい。こ
れらのビームは、フォーカスレンズ28によってディス
ク3面上にスポットとして集束し、光ディスク3で反射
して反射ビーム64となり、分割型光検出器65で受光
される。
【0027】図10は、分割型光検出器65の受光素子
形状とビーム形状、および信号検出回路を示す図であ
る。ビーム75aと76aは0次回折ビームの反射ビー
ムであり、ビーム75bと76bは+1次回折ビームの
反射ビームであり、ビーム75cと76cは−1次回折ビ
ームの反射ビームである。ビーム75aと75bと75c
の偏光方向と、ビーム76aと76bと76cの偏光方
向は、直交している。受光素子65a1はビーム75a
を受光して信号77a1を出力し、受光素子65a2はビー
ム76aを受光して信号77a2を出力する。加算回路
92は、信号77a1と77a2を加算して、0次回折ビー
ムの光量信号93を出力する。また、受光素子65bは
ビーム75bと76bを受光して+1次回折ビームの光
量信号77bを出力し、受光素子65cはビーム75cと
76cを受光して−1次回折ビームの光量信号77cを
出力する。
形状とビーム形状、および信号検出回路を示す図であ
る。ビーム75aと76aは0次回折ビームの反射ビー
ムであり、ビーム75bと76bは+1次回折ビームの
反射ビームであり、ビーム75cと76cは−1次回折ビ
ームの反射ビームである。ビーム75aと75bと75c
の偏光方向と、ビーム76aと76bと76cの偏光方
向は、直交している。受光素子65a1はビーム75a
を受光して信号77a1を出力し、受光素子65a2はビー
ム76aを受光して信号77a2を出力する。加算回路
92は、信号77a1と77a2を加算して、0次回折ビー
ムの光量信号93を出力する。また、受光素子65bは
ビーム75bと76bを受光して+1次回折ビームの光
量信号77bを出力し、受光素子65cはビーム75cと
76cを受光して−1次回折ビームの光量信号77cを
出力する。
【0028】図11は、光ディスク3面上における0次
回折ビームによるメインスポット101aと、+1次回
折ビームによるサブスポット101bと、−1次回折ビ
ームによるサブスポット101cを示す。また、光ディ
スク3面上には、一点鎖線で示すトラック102上に凹
凸形状のピット103aとピット103bが配置されて
いる。各々のピット103aとピット103bの位置
は、ディスクの半径方向(紙面上下方向)に沿って少なく
とも数トラックの範囲でそろっている。また、ピット1
03aは紙面上方向に約4分の1トラックずれており、
ピット103bは紙面下方向に約4分の1トラックずれ
ている。
回折ビームによるメインスポット101aと、+1次回
折ビームによるサブスポット101bと、−1次回折ビ
ームによるサブスポット101cを示す。また、光ディ
スク3面上には、一点鎖線で示すトラック102上に凹
凸形状のピット103aとピット103bが配置されて
いる。各々のピット103aとピット103bの位置
は、ディスクの半径方向(紙面上下方向)に沿って少なく
とも数トラックの範囲でそろっている。また、ピット1
03aは紙面上方向に約4分の1トラックずれており、
ピット103bは紙面下方向に約4分の1トラックずれ
ている。
【0029】図11の(3)は、光ディスク3がメイン
ビームの焦点位置にある場合で、スポット101aは最
も小さく、情報の記録再生に適したディスク位置(焦点
合わせの目標点位置)である。サブビーム101bと1
01cは、回折格子61によって与えられた非点収差の
ため、紙面上下方向には収束位置が大きくずれ、紙面横
方向には収束位置が少しずれているので、同じ大きさの
縦に長い楕円型のサブスポット101bと101cにな
る。よって、光量信号77bと77cのピット103a
および103bによる変調度は等しくなる。
ビームの焦点位置にある場合で、スポット101aは最
も小さく、情報の記録再生に適したディスク位置(焦点
合わせの目標点位置)である。サブビーム101bと1
01cは、回折格子61によって与えられた非点収差の
ため、紙面上下方向には収束位置が大きくずれ、紙面横
方向には収束位置が少しずれているので、同じ大きさの
縦に長い楕円型のサブスポット101bと101cにな
る。よって、光量信号77bと77cのピット103a
および103bによる変調度は等しくなる。
【0030】図11の(2)は、光ディスク3がフォーカ
スレンズ28から離れる方向にずれた場合で、−1次回
折ビームは横方向に一番よく絞られ、サブスポット10
1cは縦に長いスポットになる。また各々のピット10
3aとピット103bはディスクの半径方向(紙面上下
方向)に沿ってそろっているので、光量信号77cは最
も大きく変調される。一方、+1次回折ビームのサブス
ポット101bは(3)の場合よりもさらに大きくなり、
光量信号77bの変調度は(3)の場合よりも小さくな
る。
スレンズ28から離れる方向にずれた場合で、−1次回
折ビームは横方向に一番よく絞られ、サブスポット10
1cは縦に長いスポットになる。また各々のピット10
3aとピット103bはディスクの半径方向(紙面上下
方向)に沿ってそろっているので、光量信号77cは最
も大きく変調される。一方、+1次回折ビームのサブス
ポット101bは(3)の場合よりもさらに大きくなり、
光量信号77bの変調度は(3)の場合よりも小さくな
る。
【0031】図11の(1)は、光ディスク3がさらに
フォーカスレンズ28から離れる方向にずれた場合で、
−1次回折ビームは今度は縦方向に絞られ、サブスポッ
ト101cは横に長いスポットになり、光量信号77c
の変調度は(2)の場合よりも減少する。サブスポット
101bは(2)の場合よりもさらに大きくなり、光量
信号77cの変調度は(2)の場合よりもさらに小さく
なる。
フォーカスレンズ28から離れる方向にずれた場合で、
−1次回折ビームは今度は縦方向に絞られ、サブスポッ
ト101cは横に長いスポットになり、光量信号77c
の変調度は(2)の場合よりも減少する。サブスポット
101bは(2)の場合よりもさらに大きくなり、光量
信号77cの変調度は(2)の場合よりもさらに小さく
なる。
【0032】逆に、図11の(4)は、光ディスク3が
フォーカスレンズ28に近づく方向にずれた場合で、+
1次回折ビームは横方向に一番よく絞られ、サブスポッ
ト101bは縦に長いスポットになり、光量信号77b
は最も大きく変調される。一方、サブスポット101c
は(3)の場合よりもさらに大きくなり、光量信号77
cの変調度は(3)の場合よりも小さくなる。
フォーカスレンズ28に近づく方向にずれた場合で、+
1次回折ビームは横方向に一番よく絞られ、サブスポッ
ト101bは縦に長いスポットになり、光量信号77b
は最も大きく変調される。一方、サブスポット101c
は(3)の場合よりもさらに大きくなり、光量信号77
cの変調度は(3)の場合よりも小さくなる。
【0033】図11の(5)は、光ディスク3がさらに
フォーカスレンズ28に近づく方向にずれた場合で、+
1次回折ビームは今度は縦方向に絞られ、サブスポット
101bは横に長いスポットになり、光量信号77bの変調
度は(4)の場合よりも減少する。サブスポット101
cは(4)の場合よりもさらに大きくなり、光量信号7
7cの変調度は(4)の場合よりもさらに小さくなる。
フォーカスレンズ28に近づく方向にずれた場合で、+
1次回折ビームは今度は縦方向に絞られ、サブスポット
101bは横に長いスポットになり、光量信号77bの変調
度は(4)の場合よりも減少する。サブスポット101
cは(4)の場合よりもさらに大きくなり、光量信号7
7cの変調度は(4)の場合よりもさらに小さくなる。
【0034】図12の(1)は、光ディスク位置の変化
を横軸にとった場合の、光量信号77bと77cの変調
度の変化を示した図である。光量信号77bの振幅はデ
ィスク位置(4)で最大になり、光量信号77cの振幅
はディスク位置(2)で最大になり、ディスク位置
(3)では光量信号77bの振幅と光量信号77cの振
幅は等しくなり、最大振幅の約半分に減少する。光量信
号77bと光量信号77cは、図10に示したエンベロー
プ検波回路88bと88cに入力される。エンベロープ
検波回路88bは、図12の(1)の光量信号77bの
振幅の上レベル110bと下レベル111bを検出し、
その差、すなわち光量信号77bの変調度信号89bを
出力する。エンベロープ検波回路88cは、図12の
(1)の光量信号77cの振幅の上レベル110cと下
レベル111cを検出し、その差、すなわち光量信号7
7cの変調度信号89cを出力する。図12の(2)
は、エンベロープ検波回路で得られる変調度信号89b
と89cを示し、変調度信号89cはディスク位置
(2)で最大になり、変調度信号89bはディスク位置
(4)で最大になる。焦点合わせの目標点位置(3)で
は、変調度信号89bと89cは最大値の約半分にな
る。よって、変調度信号89bと89cを図10の差動
演算回路90に入力すれば、図12の(3)の実線で示
すような焦点ずれ検出信号91がえられる。光ディスク
3が焦点合わせの目標点位置(3)にある場合は、焦点
ずれ検出信号振幅信号91は自動的にゼロレベルにな
る。
を横軸にとった場合の、光量信号77bと77cの変調
度の変化を示した図である。光量信号77bの振幅はデ
ィスク位置(4)で最大になり、光量信号77cの振幅
はディスク位置(2)で最大になり、ディスク位置
(3)では光量信号77bの振幅と光量信号77cの振
幅は等しくなり、最大振幅の約半分に減少する。光量信
号77bと光量信号77cは、図10に示したエンベロー
プ検波回路88bと88cに入力される。エンベロープ
検波回路88bは、図12の(1)の光量信号77bの
振幅の上レベル110bと下レベル111bを検出し、
その差、すなわち光量信号77bの変調度信号89bを
出力する。エンベロープ検波回路88cは、図12の
(1)の光量信号77cの振幅の上レベル110cと下
レベル111cを検出し、その差、すなわち光量信号7
7cの変調度信号89cを出力する。図12の(2)
は、エンベロープ検波回路で得られる変調度信号89b
と89cを示し、変調度信号89cはディスク位置
(2)で最大になり、変調度信号89bはディスク位置
(4)で最大になる。焦点合わせの目標点位置(3)で
は、変調度信号89bと89cは最大値の約半分にな
る。よって、変調度信号89bと89cを図10の差動
演算回路90に入力すれば、図12の(3)の実線で示
すような焦点ずれ検出信号91がえられる。光ディスク
3が焦点合わせの目標点位置(3)にある場合は、焦点
ずれ検出信号振幅信号91は自動的にゼロレベルにな
る。
【0035】図13の(1)は、図11の(3)に示し
たのと同じ光ディスク3面上で、特にトラッキング制御
に関する部分を示す。101aは0次回折ビームのスポ
ット、102はトラック中心、103aは紙面上方に4
分の1トラックだけずれて配置されたピット、103b
は紙面下方に4分の1トラックだけずれて配置されたピ
ットを示し、スポット101aがトラック中心102の
真上(トラッキング制御の目標点)を紙面右方向に移動
する場合である。図13の(2)には光量信号93の一
例を示す。
たのと同じ光ディスク3面上で、特にトラッキング制御
に関する部分を示す。101aは0次回折ビームのスポ
ット、102はトラック中心、103aは紙面上方に4
分の1トラックだけずれて配置されたピット、103b
は紙面下方に4分の1トラックだけずれて配置されたピ
ットを示し、スポット101aがトラック中心102の
真上(トラッキング制御の目標点)を紙面右方向に移動
する場合である。図13の(2)には光量信号93の一
例を示す。
【0036】図13は、紙面右方向に全体として同一の
時間経過を示す。図10に示したサンプルサーボ回路9
4は、図13の(2)の丸点120で示すピット103
aによる変調レベルと、三角点121で示すピット10
3bによる変調レベルを保持して、2つのレベルの差を
出力するものである。ピット103aと103bはトラ
ック102の中心から同じ量だけずれて配置されている
から、図13の(1)に示すようにスポット101aが
トラック102の真上(トラッキング制御の目標点)を
移動する場合には、ピット103aによる変調レベル1
20とピット103bによる変調レベル121は等しく
なり、サンプルサーボ回路94が出力する信号95は自
動的にゼロレベルになる。
時間経過を示す。図10に示したサンプルサーボ回路9
4は、図13の(2)の丸点120で示すピット103
aによる変調レベルと、三角点121で示すピット10
3bによる変調レベルを保持して、2つのレベルの差を
出力するものである。ピット103aと103bはトラ
ック102の中心から同じ量だけずれて配置されている
から、図13の(1)に示すようにスポット101aが
トラック102の真上(トラッキング制御の目標点)を
移動する場合には、ピット103aによる変調レベル1
20とピット103bによる変調レベル121は等しく
なり、サンプルサーボ回路94が出力する信号95は自
動的にゼロレベルになる。
【0037】図13の(1a)に示すようにスポット1
01aが紙面上方向にずれた場合には、図13の(2
a)に示すようにピット103aではより大きく変調さ
れ変調レベル120はより低いレベルになり、ピット1
03bではあまり変調されずに変調レベル121はより
高いレベルになり、出力信号95は例えば負レベルにな
る。逆に、図13の(1b)に示すようにスポット10
1aが紙面下方向にずれた場合には、図13の(2b)
に示すようにピット103aではあまり変調されずに変
調レベル120はより高いレベルになり、ピット103
bでは大きく変調され変調レベル121はより低いレベ
ルになり、出力信号95は正レベルになる。よって、サ
ンプルサーボ回路94の出力信号95によりトラックず
れ検出信号を得ることができる。
01aが紙面上方向にずれた場合には、図13の(2
a)に示すようにピット103aではより大きく変調さ
れ変調レベル120はより低いレベルになり、ピット1
03bではあまり変調されずに変調レベル121はより
高いレベルになり、出力信号95は例えば負レベルにな
る。逆に、図13の(1b)に示すようにスポット10
1aが紙面下方向にずれた場合には、図13の(2b)
に示すようにピット103aではあまり変調されずに変
調レベル120はより高いレベルになり、ピット103
bでは大きく変調され変調レベル121はより低いレベ
ルになり、出力信号95は正レベルになる。よって、サ
ンプルサーボ回路94の出力信号95によりトラックず
れ検出信号を得ることができる。
【0038】また、光磁気信号は、ビーム75aを受光
する受光素子65a1の出力信号と、ビーム76aを受
光する受光素子65a2の出力信号を差動演算した差信
号で得ることができる。
する受光素子65a1の出力信号と、ビーム76aを受
光する受光素子65a2の出力信号を差動演算した差信
号で得ることができる。
【0039】本実施例によれば、回折格子61とフォー
カスレンズ28は、共に可動光学系6内にあって近傍に
配置でき、可動光学系6のアクセスによって相対位置は
変化しないので、可動光学系6のアクセスする位置に関
わりなく、焦点ずれ検出に用いる2つのサブビームのフ
ォーカスレンズによるけられ量を等しく保つことができ
る。よって、焦点ずれ検出信号にオフセットを生じるこ
とがない。また、ビームスプリッタ63を、可動光学系
6内の回折格子61とフォーカスレンズ28の間に配置
したので、ディスク3からの反射ビームは、回折格子6
1によってさらに分割されてサブビームとメインビーム
が混合することはなく、正確な焦点ずれ検出が可能にな
る。さらに、ビームスプリッタ63のミラー面63によ
って反射ビーム64は出射ビーム24の進行方向とほぼ
平行に可動光学系6から出射するので、反射ビーム64
が固定光学系5に到達する位置は可動光学系6のアクセ
スによって変化しない。よって、検出光学系を固定光学
系5内に配置することができ、可動光学系6を軽量化す
ることができる。
カスレンズ28は、共に可動光学系6内にあって近傍に
配置でき、可動光学系6のアクセスによって相対位置は
変化しないので、可動光学系6のアクセスする位置に関
わりなく、焦点ずれ検出に用いる2つのサブビームのフ
ォーカスレンズによるけられ量を等しく保つことができ
る。よって、焦点ずれ検出信号にオフセットを生じるこ
とがない。また、ビームスプリッタ63を、可動光学系
6内の回折格子61とフォーカスレンズ28の間に配置
したので、ディスク3からの反射ビームは、回折格子6
1によってさらに分割されてサブビームとメインビーム
が混合することはなく、正確な焦点ずれ検出が可能にな
る。さらに、ビームスプリッタ63のミラー面63によ
って反射ビーム64は出射ビーム24の進行方向とほぼ
平行に可動光学系6から出射するので、反射ビーム64
が固定光学系5に到達する位置は可動光学系6のアクセ
スによって変化しない。よって、検出光学系を固定光学
系5内に配置することができ、可動光学系6を軽量化す
ることができる。
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、回折格子などを用いた
分離型光ヘッドにおいて、可動光学系のアクセス移動に
よって、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオ
フセットを生じることがない分離型光ヘッドが実現でき
る。
分離型光ヘッドにおいて、可動光学系のアクセス移動に
よって、トラックずれ検出信号や焦点ずれ検出信号にオ
フセットを生じることがない分離型光ヘッドが実現でき
る。
【図1】本発明の光ヘッドの構成図。
【図2】光ディスク装置の機構系の構成図。
【図3】光ヘッドの上面図。
【図4】回折格子の構成の説明図。
【図5】光ディスク面上のスポットとピットの説明図。
【図6】サーボ用光検出器の受光面形状とビーム形状の
説明図。
説明図。
【図7】信号用光検出器の受光面形状の説明図。
【図8】本発明の他の光ヘッドの構成図。
【図9】回折格子の構成の説明図。
【図10】光検出器と演算回路の構成図。
【図11】光ディスク面上のスポットとピットの説明
図。
図。
【図12】焦点ずれ検出信号生成の説明図。
【図13】トラックずれ検出信号生成の説明図
5…固定光学系、6…可動光学系、21…半導体レー
ザ、24…出射ビーム、25…回折格子、26…ビーム
スプリッタ、28…フォーカスレンズ、29…ミラープ
リズム、30…反射ビーム、31…ミラープリズム、6
1…回折格子、62…ビームスプリッタ、63…ミラー
面、64…反射ビーム。
ザ、24…出射ビーム、25…回折格子、26…ビーム
スプリッタ、28…フォーカスレンズ、29…ミラープ
リズム、30…反射ビーム、31…ミラープリズム、6
1…回折格子、62…ビームスプリッタ、63…ミラー
面、64…反射ビーム。
Claims (3)
- 【請求項1】ビームを出射するビーム出射手段を有する
固定光学系と、該出射ビームを情報媒体面上に結像する
結像光学手段を有し該固定光学系に対して移動可能な可
動光学系とからなる分離型光ヘッドにおいて、 該出射ビームから複数のサブビームを分割するビーム分
割手段を該可動光学系に配置した、ことを特徴とする分
離型光ヘッド。 - 【請求項2】請求項1に記載の分離型光ヘッドであっ
て、該情報媒体からの反射ビームを該出射ビームから分
離するビーム分離手段を該ビーム分割手段と該結像手段
の間に配置した、ことを特徴とする分離型光ヘッド。 - 【請求項3】請求項2に記載の分離型光ヘッドであっ
て、該ビーム分離手段によって分離された分離ビームの
進行方向を該出射ビームの進行方向とほぼ平行にするた
めのビーム偏向手段を該可動光学系に配置した、ことを
特徴とする分離型光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3199083A JPH0540946A (ja) | 1991-08-08 | 1991-08-08 | 分離型光ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3199083A JPH0540946A (ja) | 1991-08-08 | 1991-08-08 | 分離型光ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0540946A true JPH0540946A (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=16401821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3199083A Pending JPH0540946A (ja) | 1991-08-08 | 1991-08-08 | 分離型光ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0540946A (ja) |
-
1991
- 1991-08-08 JP JP3199083A patent/JPH0540946A/ja active Pending
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