JPH0544885Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0544885Y2 JPH0544885Y2 JP1985017113U JP1711385U JPH0544885Y2 JP H0544885 Y2 JPH0544885 Y2 JP H0544885Y2 JP 1985017113 U JP1985017113 U JP 1985017113U JP 1711385 U JP1711385 U JP 1711385U JP H0544885 Y2 JPH0544885 Y2 JP H0544885Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- magnetic
- magnetic tape
- magnetic head
- support surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、ビデオ装置等に用いられる磁気ヘツ
ドまたは磁気テープの性能を試験する装置の改良
に関する。
ドまたは磁気テープの性能を試験する装置の改良
に関する。
(従来の技術)
従来の磁気ヘツドまたは磁気テープの試験装置
では、たとえば実開昭56−115733号公報に見られ
るように、回転体の外側に円筒状のテープ支持面
が形成されており、磁気テープの両端は回転体の
内側に配置された2本の巻き取り棒にそれぞれ巻
き取られ、これにより、磁気テープがテープ支持
面に密着されるようになつている。そして、磁気
テープの外周面に磁気ヘツドが接触するとともに
回転体が回転した状態で、磁気テープに記録され
た信号を磁気ヘツドから読み取ることによつて、
磁気ヘツドまたは磁気テープの性能を試験するも
のである。
では、たとえば実開昭56−115733号公報に見られ
るように、回転体の外側に円筒状のテープ支持面
が形成されており、磁気テープの両端は回転体の
内側に配置された2本の巻き取り棒にそれぞれ巻
き取られ、これにより、磁気テープがテープ支持
面に密着されるようになつている。そして、磁気
テープの外周面に磁気ヘツドが接触するとともに
回転体が回転した状態で、磁気テープに記録され
た信号を磁気ヘツドから読み取ることによつて、
磁気ヘツドまたは磁気テープの性能を試験するも
のである。
(考案が解決しようとしている問題点)
しかしながら、上記構成の試験装置では、磁気
ヘツドおよび磁気テープを実際の使用状況に即し
た状態で試験することができないという問題があ
つた。
ヘツドおよび磁気テープを実際の使用状況に即し
た状態で試験することができないという問題があ
つた。
すなわち、実際のビデオ装置等においては、磁
気テープを円弧にほぼ沿うように走行させる一
方、磁気ヘツドを円弧状に湾曲した磁気テープの
内側の面に接触させるようにしている。しかる
に、従来の試験装置では、テープ支持面が回転体
の外周面に形成されているため、磁気ヘツドは円
弧状に湾曲した磁気テープの外側の面に接触する
ことになる。このため、実際の使用状況に即した
試験を行うことができなかつたのである。
気テープを円弧にほぼ沿うように走行させる一
方、磁気ヘツドを円弧状に湾曲した磁気テープの
内側の面に接触させるようにしている。しかる
に、従来の試験装置では、テープ支持面が回転体
の外周面に形成されているため、磁気ヘツドは円
弧状に湾曲した磁気テープの外側の面に接触する
ことになる。このため、実際の使用状況に即した
試験を行うことができなかつたのである。
特に、第8図に示すように、先端面Haが円弧
状に形成され、この先端面Haに2つのギヤツプ
Gが形成されたダブルアジマス型磁気ヘツドHを
試験する場合には、先端面Haと磁気テープTと
が凸面どうしの接触になるため、2つのギヤツプ
Gを磁気テープTに同時に接触させることがほと
んど不可能である。このため、ダブルアジマス型
磁気ヘツドを試験する場合には、一方のギヤツプ
Gを磁気テープTに接触させて試験した後、他方
のギヤツプGを磁気テープTに接触させて試験し
なければならず、実際の使用状況に即した試験を
行うことができないばかりか、1つの磁気ヘツド
Hについて試験を2回行わなければならず試験に
手間がかかるという問題があつた。
状に形成され、この先端面Haに2つのギヤツプ
Gが形成されたダブルアジマス型磁気ヘツドHを
試験する場合には、先端面Haと磁気テープTと
が凸面どうしの接触になるため、2つのギヤツプ
Gを磁気テープTに同時に接触させることがほと
んど不可能である。このため、ダブルアジマス型
磁気ヘツドを試験する場合には、一方のギヤツプ
Gを磁気テープTに接触させて試験した後、他方
のギヤツプGを磁気テープTに接触させて試験し
なければならず、実際の使用状況に即した試験を
行うことができないばかりか、1つの磁気ヘツド
Hについて試験を2回行わなければならず試験に
手間がかかるという問題があつた。
(問題点を解決するための手段)
本考案は上記問題点を解消するためになされた
もので、その要旨は、回転体の円筒状をなすテー
プ支持面に磁気テープを沿わせて固定し、この磁
気テープに磁気ヘツドを接触させるようにし、磁
気テープに記録された信号を磁気ヘツドから読み
とることにより、磁気ヘツドまたは磁気テープの
性能を試験する装置において、上記円筒状のテー
プ支持面を回転体の内周面に形成し、このテープ
支持面には、上記磁気テープを吸引してテープ支
持面に吸着固定する多数の吸着孔を開口させたこ
とを特徴とする磁気ヘツドまたは磁気テープの試
験装置にある。
もので、その要旨は、回転体の円筒状をなすテー
プ支持面に磁気テープを沿わせて固定し、この磁
気テープに磁気ヘツドを接触させるようにし、磁
気テープに記録された信号を磁気ヘツドから読み
とることにより、磁気ヘツドまたは磁気テープの
性能を試験する装置において、上記円筒状のテー
プ支持面を回転体の内周面に形成し、このテープ
支持面には、上記磁気テープを吸引してテープ支
持面に吸着固定する多数の吸着孔を開口させたこ
とを特徴とする磁気ヘツドまたは磁気テープの試
験装置にある。
(実施例)
以下、本考案の一実施例をなす試験装置を、図
面を参照して説明する。試験装置は大別して、磁
気テープ100を巻き付け支持する回転体10
(第1図〜第3図に示す)と、この回転体10を
回転させる駆動機構30(第4図に示す)と、磁
気ヘツド101を支持するヘツド支持機構50
(第1図に示す)とから構成されている。
面を参照して説明する。試験装置は大別して、磁
気テープ100を巻き付け支持する回転体10
(第1図〜第3図に示す)と、この回転体10を
回転させる駆動機構30(第4図に示す)と、磁
気ヘツド101を支持するヘツド支持機構50
(第1図に示す)とから構成されている。
回転体10は、有底円筒状の内側構成体11と
円筒状の外側構成体12とを連結することによつ
て構成されている。外側構成体12の内周面と内
側構成体11の外周面との間には環状の吸気路1
3が形成されている。この吸気路13はOリング
14によつて気密状態を保持されている。
円筒状の外側構成体12とを連結することによつ
て構成されている。外側構成体12の内周面と内
側構成体11の外周面との間には環状の吸気路1
3が形成されている。この吸気路13はOリング
14によつて気密状態を保持されている。
内側構成体11の内側には、円筒状のテープ支
持面15が形成されている。このテープ支持面1
5は第3図に示すように、隣接する上下の内周面
16よりもわずかに大径に形成され、その上下の
境部には環状の段部17が形成されている。ま
た、このテープ支持面15の中央部には、このテ
ープ支持面15に沿つて環状凹部18が形成され
ている。
持面15が形成されている。このテープ支持面1
5は第3図に示すように、隣接する上下の内周面
16よりもわずかに大径に形成され、その上下の
境部には環状の段部17が形成されている。ま
た、このテープ支持面15の中央部には、このテ
ープ支持面15に沿つて環状凹部18が形成され
ている。
内側構成体11には、第2図に示すように、小
径の吸気孔20が周方向に沿つて間隔をおいて多
数形成されている。この吸気孔20は第1図に示
すように、上記環状凹部18の上下に形成されて
いる。また、この吸気孔20の一端部20aは上
記テープ支持面15側に開口し、他端部20bは
上記吸気路13側に開口している。第3図に示す
ように、この吸気孔20の一端部20aはテープ
支持面15に向かつて徐々に拡径し、他端部20
bも径が大きくなつている。第2図に示すよう
に、テープ支持面15の一箇所には凹部21が形
成されており、この凹部21とテープ支持面15
の境部22は丸みをもつて形成されており、この
境部22にも上記吸気孔20の一端部が開口され
ている。
径の吸気孔20が周方向に沿つて間隔をおいて多
数形成されている。この吸気孔20は第1図に示
すように、上記環状凹部18の上下に形成されて
いる。また、この吸気孔20の一端部20aは上
記テープ支持面15側に開口し、他端部20bは
上記吸気路13側に開口している。第3図に示す
ように、この吸気孔20の一端部20aはテープ
支持面15に向かつて徐々に拡径し、他端部20
bも径が大きくなつている。第2図に示すよう
に、テープ支持面15の一箇所には凹部21が形
成されており、この凹部21とテープ支持面15
の境部22は丸みをもつて形成されており、この
境部22にも上記吸気孔20の一端部が開口され
ている。
内側構成体11の底部には吸気孔23が形成さ
れている。この吸気孔23の一端は上記吸気路1
3側に連通し、他端は内側構成体11の底面中央
に開口している。
れている。この吸気孔23の一端は上記吸気路1
3側に連通し、他端は内側構成体11の底面中央
に開口している。
回転体10を回転させる駆動機構30は、回転
系と固定系の構成部材からなり、また、吸気系を
備えている。以下、詳述する。
系と固定系の構成部材からなり、また、吸気系を
備えている。以下、詳述する。
図中31は回転シヤフトであり、この回転シヤ
フト31の上端は回転体10の底部に連結されて
おり、その下端には上部回転部材32、中間回転
部材33、下部回転部材34が順にねじ結合によ
つて連結されている。以上が回転系の構成部材で
ある。なお、下部回転部材34は、歯車機構(図
示しない)を介してモータ(図示しない)の回転
軸に連結されている。また、中間回転部材33に
はスリーブ35が挿入されている。
フト31の上端は回転体10の底部に連結されて
おり、その下端には上部回転部材32、中間回転
部材33、下部回転部材34が順にねじ結合によ
つて連結されている。以上が回転系の構成部材で
ある。なお、下部回転部材34は、歯車機構(図
示しない)を介してモータ(図示しない)の回転
軸に連結されている。また、中間回転部材33に
はスリーブ35が挿入されている。
下部回転部材34およびスリーブ35には、固
定シヤフト36が挿入されている。固定シヤフト
36の上面には支持部材37が固定されており、
この支持部材37の筒部37bに鋼球38が挿入
固定されている。以上が固定系の構成部材であ
る。上記鋼球38は、前述した上部回転部材32
に形成された円錘面状のテーパ面32bに接触す
るようになつている。鋼球38は、前述した中間
回転部材33内に配置されている。この中間回転
部材33内には、上記鋼球38とテーパ面32b
との接触線の位置まで油39が満たされている。
なお、スリーブ35の外周および固定シヤフト3
6の外周には油漏れを防ぐためのOリング40,
41が設けられている。
定シヤフト36が挿入されている。固定シヤフト
36の上面には支持部材37が固定されており、
この支持部材37の筒部37bに鋼球38が挿入
固定されている。以上が固定系の構成部材であ
る。上記鋼球38は、前述した上部回転部材32
に形成された円錘面状のテーパ面32bに接触す
るようになつている。鋼球38は、前述した中間
回転部材33内に配置されている。この中間回転
部材33内には、上記鋼球38とテーパ面32b
との接触線の位置まで油39が満たされている。
なお、スリーブ35の外周および固定シヤフト3
6の外周には油漏れを防ぐためのOリング40,
41が設けられている。
前述した回転シヤフト31、上部回転部材3
2、鋼球38、支持部材37、固定シヤフト36
には、それぞれ貫通孔31a,32a,38a,
37a,36aが形成されており、これら貫通孔
によつて、吸気系が構成されている。この吸気系
の一端は前述した回転体10の吸気孔23に連通
し、他端は吸引ポンプ(図示しない)に連通して
いる。なお、回転シヤフト31の上下端に設けた
Oリング42,43および前述した油39によつ
て、駆動機構30の吸気系の気密が保持されてい
る。
2、鋼球38、支持部材37、固定シヤフト36
には、それぞれ貫通孔31a,32a,38a,
37a,36aが形成されており、これら貫通孔
によつて、吸気系が構成されている。この吸気系
の一端は前述した回転体10の吸気孔23に連通
し、他端は吸引ポンプ(図示しない)に連通して
いる。なお、回転シヤフト31の上下端に設けた
Oリング42,43および前述した油39によつ
て、駆動機構30の吸気系の気密が保持されてい
る。
ヘツド支持機構50は、水平移動および上下方
向に回動可能なアーム51と、このアーム51の
先端に設けられ磁気ヘツド101のヘツドベース
102を載せる支持台52と、スプリング53の
弾性力によつてヘツドベース102を押さえ付け
る押さえ部材54とを有している。
向に回動可能なアーム51と、このアーム51の
先端に設けられ磁気ヘツド101のヘツドベース
102を載せる支持台52と、スプリング53の
弾性力によつてヘツドベース102を押さえ付け
る押さえ部材54とを有している。
第6図に示すように、磁気ヘツド101は、ス
イツチ60の切り換えにより、増幅器61を介し
て信号発生器62に接続されるか、増幅器63を
介してオシロスコープ64に接続される。
イツチ60の切り換えにより、増幅器61を介し
て信号発生器62に接続されるか、増幅器63を
介してオシロスコープ64に接続される。
上記構成において、磁気テープ100は次のよ
うにして、回転体10にセツトする。すなわち、
吸引ポンプの作動により、駆動機構30の吸気系
および、回転体10の吸気孔23、吸気路13を
介して、吸気孔20から吸気を行なう。この状態
で、磁気テープ100をテープ支持面15に沿わ
せると、磁気テープ100の上側部および下側部
がテープ支持面15に吸着される。この結果、磁
気テープ100を安定した状態で確実にセツトで
きる。また、環状凹部18に対応する磁気テープ
100の中央部では、上記上側部および下側部の
吸着により、張られた状態となる。なお、磁気テ
ープ100をテープ支持面15に沿わせる際、環
状の段部17により磁気テープ100を位置決め
することができる。また、磁気テープ100の両
端部は、凹部21に入り込む。この際、凹部21
とテープ支持面15との間の境部22において、
吸気孔20による吸着がなされるので、この両端
部の支持も確実になされる。
うにして、回転体10にセツトする。すなわち、
吸引ポンプの作動により、駆動機構30の吸気系
および、回転体10の吸気孔23、吸気路13を
介して、吸気孔20から吸気を行なう。この状態
で、磁気テープ100をテープ支持面15に沿わ
せると、磁気テープ100の上側部および下側部
がテープ支持面15に吸着される。この結果、磁
気テープ100を安定した状態で確実にセツトで
きる。また、環状凹部18に対応する磁気テープ
100の中央部では、上記上側部および下側部の
吸着により、張られた状態となる。なお、磁気テ
ープ100をテープ支持面15に沿わせる際、環
状の段部17により磁気テープ100を位置決め
することができる。また、磁気テープ100の両
端部は、凹部21に入り込む。この際、凹部21
とテープ支持面15との間の境部22において、
吸気孔20による吸着がなされるので、この両端
部の支持も確実になされる。
他方、ヘツド支持機構50を位置調節すること
により、磁気ヘツド101を、上記テープ支持面
15に吸着された磁気テープ100の内周面に接
触させる。
により、磁気ヘツド101を、上記テープ支持面
15に吸着された磁気テープ100の内周面に接
触させる。
この状態で、モータを駆動し、回転部材34,
33,32、回転シヤフト31を介して回転体1
0を回転させる。そして、スイツチ60の切り換
え動作により、最初に信号発生器62からの信号
を磁気ヘツド101を介して磁気テープ100に
記録させ、次に磁気テープ100で記録された信
号を磁気ヘツド101から読み取つてオシロスコ
ープ64で表示する。これにより、磁気テープ1
00または磁気ヘツド101の性能をチエツクす
る。
33,32、回転シヤフト31を介して回転体1
0を回転させる。そして、スイツチ60の切り換
え動作により、最初に信号発生器62からの信号
を磁気ヘツド101を介して磁気テープ100に
記録させ、次に磁気テープ100で記録された信
号を磁気ヘツド101から読み取つてオシロスコ
ープ64で表示する。これにより、磁気テープ1
00または磁気ヘツド101の性能をチエツクす
る。
ところで、磁気ヘツド101は、磁気テープ1
00の内周面に接触するので、第5図に示す接触
状態となる。すなわち、磁気テープ100の曲率
半径の中心と、磁気ヘツド100の接触面100
aの曲率半径の中心とは接触部Xに対して同方向
にある。このため、磁気テープ100に無理な力
をかけることなく良好な接触状態が得られる。し
かも、この接触状態は、ビデオ装置等における磁
気ヘツド101と磁気テープ100との接触状態
とほぼ同じであるから、実際の接触状態に即した
試験を行うことができる。したがつて、試験での
性能と実際の使用時の性能とに差異が生じない。
00の内周面に接触するので、第5図に示す接触
状態となる。すなわち、磁気テープ100の曲率
半径の中心と、磁気ヘツド100の接触面100
aの曲率半径の中心とは接触部Xに対して同方向
にある。このため、磁気テープ100に無理な力
をかけることなく良好な接触状態が得られる。し
かも、この接触状態は、ビデオ装置等における磁
気ヘツド101と磁気テープ100との接触状態
とほぼ同じであるから、実際の接触状態に即した
試験を行うことができる。したがつて、試験での
性能と実際の使用時の性能とに差異が生じない。
また、第7図に示すように、先端面201が円
弧状をなし、先端面201に2つのギヤツプ20
2,202が形成されたダブルアジマス型磁気ヘ
ツド200を試験する場合には、磁気テープ10
0と先端面201とが凹面(磁気テープ100)
と凸面(先端面201)との接触になるので、2
つのギヤツプ202,202を磁気テープ100
に同時に接触させることができる。したがつて、
磁気ヘツド200の試験を1回で済ますことがで
きる。特に、この実施例においては、テープ支持
面15に環状凹部18を形成し、磁気ヘツド10
1を磁気テープ100に対し環状凹部18に対応
する箇所を接触させるようにしているから、磁気
ヘツド101を磁気テープ100に比較的強く接
触させることにより、ギヤツプ202,202を
磁気テープ100に確実に接触させることができ
る。
弧状をなし、先端面201に2つのギヤツプ20
2,202が形成されたダブルアジマス型磁気ヘ
ツド200を試験する場合には、磁気テープ10
0と先端面201とが凹面(磁気テープ100)
と凸面(先端面201)との接触になるので、2
つのギヤツプ202,202を磁気テープ100
に同時に接触させることができる。したがつて、
磁気ヘツド200の試験を1回で済ますことがで
きる。特に、この実施例においては、テープ支持
面15に環状凹部18を形成し、磁気ヘツド10
1を磁気テープ100に対し環状凹部18に対応
する箇所を接触させるようにしているから、磁気
ヘツド101を磁気テープ100に比較的強く接
触させることにより、ギヤツプ202,202を
磁気テープ100に確実に接触させることができ
る。
本考案は上記実施例に制約されず種々の態様が
可能である。例えば、回転体の吸気孔は、多孔質
材料の微細な連続孔であつてもよい。
可能である。例えば、回転体の吸気孔は、多孔質
材料の微細な連続孔であつてもよい。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案の試験装置では、
テープ支持面に多数の吸着孔を形成しているの
で、回転体の内周面に形成されたテープ支持面に
磁気テープを容易に、かつ能率良くセツトするこ
とができる。しかも、テープ支持面を回転体の内
周面に形成しているから、磁気ヘツドまたは磁気
テープを実際の使用に即して性能試験することが
でき、したがつて試験での性能と実際の使用時に
おける性能とで差異が生じないようにすることが
できる。また、2つのギヤツプを有するダブルア
ジマス型磁気ヘツドを試験する場合には、2つの
ギヤツプにつきそれぞれ試験を行う必要がなく、
1回で試験することができ、試験の能率を向上さ
せることができる等の効果が得られる。
テープ支持面に多数の吸着孔を形成しているの
で、回転体の内周面に形成されたテープ支持面に
磁気テープを容易に、かつ能率良くセツトするこ
とができる。しかも、テープ支持面を回転体の内
周面に形成しているから、磁気ヘツドまたは磁気
テープを実際の使用に即して性能試験することが
でき、したがつて試験での性能と実際の使用時に
おける性能とで差異が生じないようにすることが
できる。また、2つのギヤツプを有するダブルア
ジマス型磁気ヘツドを試験する場合には、2つの
ギヤツプにつきそれぞれ試験を行う必要がなく、
1回で試験することができ、試験の能率を向上さ
せることができる等の効果が得られる。
第1図は本考案の試験装置の一実施例を示す縦
断面図、第2図は第1図中−線に沿う横断面
図、第3図は回転体の要部拡大縦断面図、第4図
は回転体を駆動する機構の縦断面図、第5図は磁
気テープと磁気ヘツドとの接触状態を拡大して示
す平面図、第6図は回路ブロツク図、第7図は本
考案の試験装置による磁気ヘツドと磁気テープと
の接触状況を示す図、第8図は従来の試験装置に
よる磁気ヘツドと磁気テープとの接触状況を示す
図である。 10……回転体、15……テープ支持面、20
……吸気孔、50……ヘツド支持機構、100…
…磁気テープ、101……磁気ヘツド、200…
…磁気ヘツド。
断面図、第2図は第1図中−線に沿う横断面
図、第3図は回転体の要部拡大縦断面図、第4図
は回転体を駆動する機構の縦断面図、第5図は磁
気テープと磁気ヘツドとの接触状態を拡大して示
す平面図、第6図は回路ブロツク図、第7図は本
考案の試験装置による磁気ヘツドと磁気テープと
の接触状況を示す図、第8図は従来の試験装置に
よる磁気ヘツドと磁気テープとの接触状況を示す
図である。 10……回転体、15……テープ支持面、20
……吸気孔、50……ヘツド支持機構、100…
…磁気テープ、101……磁気ヘツド、200…
…磁気ヘツド。
Claims (1)
- 回転体の円筒状をなすテープ支持面に磁気テー
プを沿わせて固定し、この磁気テープに磁気ヘツ
ドを接触させるようにし、磁気テープに記録され
た信号を磁気ヘツドから読みとることにより、磁
気ヘツドまたは磁気テープの性能を試験する装置
において、上記円筒状のテープ支持面を回転体の
内周面に形成し、このテープ支持面には、上記磁
気テープを吸引してテープ支持面に吸着固定する
多数の吸着孔を開口させたことを特徴とする磁気
ヘツドまたは磁気テープの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985017113U JPH0544885Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985017113U JPH0544885Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61136317U JPS61136317U (ja) | 1986-08-25 |
| JPH0544885Y2 true JPH0544885Y2 (ja) | 1993-11-16 |
Family
ID=30504517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985017113U Expired - Lifetime JPH0544885Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0544885Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5692467A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-27 | Akai Electric Co Ltd | Measuring device of characteristic value for magnetic head |
-
1985
- 1985-02-12 JP JP1985017113U patent/JPH0544885Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61136317U (ja) | 1986-08-25 |
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