JPH0544976B2 - - Google Patents
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- JPH0544976B2 JPH0544976B2 JP59182147A JP18214784A JPH0544976B2 JP H0544976 B2 JPH0544976 B2 JP H0544976B2 JP 59182147 A JP59182147 A JP 59182147A JP 18214784 A JP18214784 A JP 18214784A JP H0544976 B2 JPH0544976 B2 JP H0544976B2
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- single mode
- polarization
- measured
- mode optical
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/14—Mode converters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、単一モード光フアイバ用光パルス
試験器に関し、特に、この試験器の被測定光フア
イバへの励振部の改良に関する。
試験器に関し、特に、この試験器の被測定光フア
イバへの励振部の改良に関する。
(ロ) 従来技術
従来の光パルス試験器は、その送受信部が偏光
分離プリズムとレーザダイオードの偏光性を利用
して構成されている。第７図に示すように、パル
ス発生器１のパルス出力でレーザダイオード２を
変調して光パルスを発射させ、この光パルスを光
学系３、偏光分離プリズム４および光学系５を経
て被測定単一モード光フアイバ６の一端に入射す
る。この被測定光フアイバ６中で発生したレーリ
後方散乱光は、反射点までの距離に比例した遅延
時間後に入射端に戻つてくる。この戻つてきた光
は光学系５を経て偏光分離プリズム４に入射さ
れ、このプリズム４により分離され、光学系７を
経て取り出され、受光器８により電気信号に変換
される。
分離プリズムとレーザダイオードの偏光性を利用
して構成されている。第７図に示すように、パル
ス発生器１のパルス出力でレーザダイオード２を
変調して光パルスを発射させ、この光パルスを光
学系３、偏光分離プリズム４および光学系５を経
て被測定単一モード光フアイバ６の一端に入射す
る。この被測定光フアイバ６中で発生したレーリ
後方散乱光は、反射点までの距離に比例した遅延
時間後に入射端に戻つてくる。この戻つてきた光
は光学系５を経て偏光分離プリズム４に入射さ
れ、このプリズム４により分離され、光学系７を
経て取り出され、受光器８により電気信号に変換
される。
この場合、偏光分離プリズム４とレーザダイオ
ード２の偏光性が利用され、レーザダイオード２
から出た光は偏光分離プリズム４を通過する際に
は分岐されずに被測定単一モード光フアイバ６に
入射され、光フアイバ６の入射端で反射した光は
偏光が保たれているためレーザダイオード２側に
戻り受光器８側に入射しないので、受光器８での
飽和が防げるという利点がある。
ード２の偏光性が利用され、レーザダイオード２
から出た光は偏光分離プリズム４を通過する際に
は分岐されずに被測定単一モード光フアイバ６に
入射され、光フアイバ６の入射端で反射した光は
偏光が保たれているためレーザダイオード２側に
戻り受光器８側に入射しないので、受光器８での
飽和が防げるという利点がある。
しかし、単一モード光フアイバの場合には後方
散乱光も偏光依存性があるので、このように被測
定単一モード光フアイバ６に直線偏光を入射する
と、単一モード光フアイバ６中の偏光状態のふら
つきに原因して測定値にばらつきが生じる。その
ため、従来より被測定単一モード光フアイバ６の
入射端側で光フアイバ６を揺らすとか外乱を与え
て故意に偏光状態のふらつきを生じさせ、偏光方
向の平均化を図ることも行なわれているが、再現
性、安定性に乏しく、後方散乱光から光フアイバ
の伝送損失を推定するという用途には使用できな
い。
散乱光も偏光依存性があるので、このように被測
定単一モード光フアイバ６に直線偏光を入射する
と、単一モード光フアイバ６中の偏光状態のふら
つきに原因して測定値にばらつきが生じる。その
ため、従来より被測定単一モード光フアイバ６の
入射端側で光フアイバ６を揺らすとか外乱を与え
て故意に偏光状態のふらつきを生じさせ、偏光方
向の平均化を図ることも行なわれているが、再現
性、安定性に乏しく、後方散乱光から光フアイバ
の伝送損失を推定するという用途には使用できな
い。
(ハ) 目的
この発明は、被測定単一モード光フアイバ中の
偏光状態のふらつきに起因する測定値のばらつき
を解消し、安定した測定を行なうことができる単
一モード光フアイバ用光パルス試験器を提供する
ことを目的とする。
偏光状態のふらつきに起因する測定値のばらつき
を解消し、安定した測定を行なうことができる単
一モード光フアイバ用光パルス試験器を提供する
ことを目的とする。
(ニ) 構成
この発明によれば、光パルスを偏光分離プリズ
ムを介して被測定単一モード光フアイバの一端に
入射し、この入射端に戻つてきた後方散乱光を上
記偏光分離プリズムにより分離して検出する単一
モード光フアイバ用光パルス試験器において、上
記偏光分離プリズムと被測定単一モード光フアイ
バとの間に、被測定単一モード光フアイバに無偏
光を励振する機能を有する、２本の定偏波光フア
イバを、それらの主軸が互いに45°傾くよう接続
してなるデポライザ（偏光度減少器）を挿入した
ことを特徴とする。
ムを介して被測定単一モード光フアイバの一端に
入射し、この入射端に戻つてきた後方散乱光を上
記偏光分離プリズムにより分離して検出する単一
モード光フアイバ用光パルス試験器において、上
記偏光分離プリズムと被測定単一モード光フアイ
バとの間に、被測定単一モード光フアイバに無偏
光を励振する機能を有する、２本の定偏波光フア
イバを、それらの主軸が互いに45°傾くよう接続
してなるデポライザ（偏光度減少器）を挿入した
ことを特徴とする。
(ホ) 実施例
第１図に示すように、パルス発生器１、レーザ
ダイオード２、光学系３，５，７、偏光分離プリ
ズム４、被測定単一モード光フアイバ６、受光器
８より構成される単一モード光フアイバ用光パル
ス試験器において、偏光分離プリズム４と被測定
単一モード光フアイバ６との間に光フアイバデポ
ライザ９が挿入される。
ダイオード２、光学系３，５，７、偏光分離プリ
ズム４、被測定単一モード光フアイバ６、受光器
８より構成される単一モード光フアイバ用光パル
ス試験器において、偏光分離プリズム４と被測定
単一モード光フアイバ６との間に光フアイバデポ
ライザ９が挿入される。
デポライザは、直線偏光をインコヒーレントな
無偏光に変換するもので、方解石等の複屈折結晶
を用いた構成のものはリオのデポライザとして知
られているが、これと同様の機能は定偏波光フア
イバを用いることによつて実現できる。この第１
図の光フアイバデポライザ９は定偏波光フアイバ
を用いて構成されたデポライザである。このよう
な光フアイバデポライザ９を挿入することによ
り、被測定単一モード光フアイバ６へ無偏光を励
振でき、後方散乱光の偏光依存性をなくすことが
できる。
無偏光に変換するもので、方解石等の複屈折結晶
を用いた構成のものはリオのデポライザとして知
られているが、これと同様の機能は定偏波光フア
イバを用いることによつて実現できる。この第１
図の光フアイバデポライザ９は定偏波光フアイバ
を用いて構成されたデポライザである。このよう
な光フアイバデポライザ９を挿入することによ
り、被測定単一モード光フアイバ６へ無偏光を励
振でき、後方散乱光の偏光依存性をなくすことが
できる。
つぎに、定偏波光フアイバを用いて構成される
光フアイバデポライザの例をいくつか説明する。
第２図に示す光フアイバデポライザは、２本の定
偏波光フアイバ、すなわち短い方の定偏波光フア
イバ２２と、長い方の定偏波光フアイバ２３と
を、第３図のようにそれらの主軸を互いに45°傾
けて接続し、さらに入出射端に被測定単一モード
光フアイバとの結合の容易性を考慮してそれぞれ
単一モード光フアイバ２１，２４を融着接続して
なるものである。この定偏波光フアイバ２２，２
３の長さはレーザ光のコヒーレンス長に対し定偏
波光フアイバの固有モード間の位相差が同等かそ
れ以上になるように定められ、また、短い方の定
偏波光フアイバ２２の長さLaと長い方の定偏波
光フアイバ２３の長さLbとの関係はLb≧2Laと
なるようにする。このようにフアイバ長（特に
Lb）を十分にとることにより２つの偏波間の相
関をなくしているのである。
光フアイバデポライザの例をいくつか説明する。
第２図に示す光フアイバデポライザは、２本の定
偏波光フアイバ、すなわち短い方の定偏波光フア
イバ２２と、長い方の定偏波光フアイバ２３と
を、第３図のようにそれらの主軸を互いに45°傾
けて接続し、さらに入出射端に被測定単一モード
光フアイバとの結合の容易性を考慮してそれぞれ
単一モード光フアイバ２１，２４を融着接続して
なるものである。この定偏波光フアイバ２２，２
３の長さはレーザ光のコヒーレンス長に対し定偏
波光フアイバの固有モード間の位相差が同等かそ
れ以上になるように定められ、また、短い方の定
偏波光フアイバ２２の長さLaと長い方の定偏波
光フアイバ２３の長さLbとの関係はLb≧2Laと
なるようにする。このようにフアイバ長（特に
Lb）を十分にとることにより２つの偏波間の相
関をなくしているのである。
第４図に示す光フアイバデポライザは多数の短
尺の定偏波光フアイバ４１を、隣り合う光フアイ
バ間での主軸のなす角度がランダムになるように
多数回接続したものである。２つの偏波を次の定
偏波光フアイバで半分づつに分割するということ
を繰り返して偏波成分の平均化を行ない、出射偏
光の無偏光化を図つている。
尺の定偏波光フアイバ４１を、隣り合う光フアイ
バ間での主軸のなす角度がランダムになるように
多数回接続したものである。２つの偏波を次の定
偏波光フアイバで半分づつに分割するということ
を繰り返して偏波成分の平均化を行ない、出射偏
光の無偏光化を図つている。
第５図の光フアイバデポライザでは、２本の定
偏波光フアイバ５２，５３が45°主軸をずらして
接続され、定偏波光フアイバ５３がピエゾ効果を
有する円筒５５に巻き付けられている。また、第
２図と同様に被測定単一モード光フアイバとの結
合の容易性を考慮して、入力射端に単一モード光
フアイバ５１，５４が融着接続されている。円筒
５５により定偏波光フアイバ５３に振動を与える
ことによつて定偏波光フアイバ５３の長さを長く
したと同等の効果を生じさせ、出射偏光の無偏光
化を図つている。この第５図の例は、第２図の例
の効果を向上させる改良と言える。
偏波光フアイバ５２，５３が45°主軸をずらして
接続され、定偏波光フアイバ５３がピエゾ効果を
有する円筒５５に巻き付けられている。また、第
２図と同様に被測定単一モード光フアイバとの結
合の容易性を考慮して、入力射端に単一モード光
フアイバ５１，５４が融着接続されている。円筒
５５により定偏波光フアイバ５３に振動を与える
ことによつて定偏波光フアイバ５３の長さを長く
したと同等の効果を生じさせ、出射偏光の無偏光
化を図つている。この第５図の例は、第２図の例
の効果を向上させる改良と言える。
つぎに具体的に実験を行ないデータを得たの
で、これについて説明する。この実験では光フア
イバデポライザとして第２図に示す構成のものを
用いた。すなわち、直径125μｍ、ビート長が波
長1.3μｍにおいて４mmの定偏波光フアイバに、シ
リコーンゴムを外径400μｍに、さらにナイロン
を外径0.9mmに被覆した定偏波光フアイバ心線を、
長さ150ｍと300ｍとに切断して２本の定偏波光フ
アイバとし、これらに、それぞれ長さが５ｍでコ
ア径9μｍ、フアイバ径125μｍ、カツトオフ波長
1.2μｍの２本の単一モード光フアイバを、第２図
のように接続して光フアイバデポライザを構成し
た。そして、被測定光フアイバとして長さ５Kmの
単一モード光フアイバを用い、これに上記の光フ
アイバデポライザを第１図にようにして融着接続
して測定した。また、比較のため、上記の光フア
イバデポライザの代りに長さ１Kmの通常の単一モ
ード光フアイバを被測定単一モード光フアイバに
融着接続し測定してみた。
で、これについて説明する。この実験では光フア
イバデポライザとして第２図に示す構成のものを
用いた。すなわち、直径125μｍ、ビート長が波
長1.3μｍにおいて４mmの定偏波光フアイバに、シ
リコーンゴムを外径400μｍに、さらにナイロン
を外径0.9mmに被覆した定偏波光フアイバ心線を、
長さ150ｍと300ｍとに切断して２本の定偏波光フ
アイバとし、これらに、それぞれ長さが５ｍでコ
ア径9μｍ、フアイバ径125μｍ、カツトオフ波長
1.2μｍの２本の単一モード光フアイバを、第２図
のように接続して光フアイバデポライザを構成し
た。そして、被測定光フアイバとして長さ５Kmの
単一モード光フアイバを用い、これに上記の光フ
アイバデポライザを第１図にようにして融着接続
して測定した。また、比較のため、上記の光フア
イバデポライザの代りに長さ１Kmの通常の単一モ
ード光フアイバを被測定単一モード光フアイバに
融着接続し測定してみた。
まず、単なる単一モード光フアイバを接続した
場合は、第６図Ａのような測定結果が得られた。
単なる１Kmの単一モード光フアイバを接続しただ
けでは第６図Ａの実線のように、観測される後方
散乱光強度の長さ方向変動が大きいことが分る。
また、被測定単一モード光フアイバに機械的振動
を加えると改善が見られる（同図点線参照）もの
の、観測波形にはゆらぎが残る。なお、点Ｐは１
Kmの単一モード光フアイバと被測定単一モード光
フアイバとの接続点である。
場合は、第６図Ａのような測定結果が得られた。
単なる１Kmの単一モード光フアイバを接続しただ
けでは第６図Ａの実線のように、観測される後方
散乱光強度の長さ方向変動が大きいことが分る。
また、被測定単一モード光フアイバに機械的振動
を加えると改善が見られる（同図点線参照）もの
の、観測波形にはゆらぎが残る。なお、点Ｐは１
Kmの単一モード光フアイバと被測定単一モード光
フアイバとの接続点である。
一方、上記の光フアイバデポライザを用いて被
測定単一モード光フアイバを励振した場合は、第
６図Ｂのような測定結果が得られ、長さ方向のゆ
らぎもなく、被測定単一モード光フアイバの伝送
損失の推定も可能であつた。これは、光フアイバ
デポライザを用いたことにより、被測定単一モー
ド光フアイバの後方散乱光の偏光依存性をなくす
ことができたからであると考えられる。なお、こ
の第６図Ｂで点Ｑは光フアイバデポライザと被測
定単一モード光フアイバとの接続点である。
測定単一モード光フアイバを励振した場合は、第
６図Ｂのような測定結果が得られ、長さ方向のゆ
らぎもなく、被測定単一モード光フアイバの伝送
損失の推定も可能であつた。これは、光フアイバ
デポライザを用いたことにより、被測定単一モー
ド光フアイバの後方散乱光の偏光依存性をなくす
ことができたからであると考えられる。なお、こ
の第６図Ｂで点Ｑは光フアイバデポライザと被測
定単一モード光フアイバとの接続点である。
(ヘ) 効果
この発明の単一モード光フアイバ用光パルス試
験器によれば、２本の定偏波光フアイバを、それ
らの主軸が互いに45°傾くよう接続することによ
り、被測定単一モード光フアイバに無偏光を励振
するようにしたので、被測定単一モード光フアイ
バにおける偏光状態のふらつきに起因して後方散
乱光の測定値がばらつく不都合を解消することが
でき、安定に測定を行なうことが可能となる。
験器によれば、２本の定偏波光フアイバを、それ
らの主軸が互いに45°傾くよう接続することによ
り、被測定単一モード光フアイバに無偏光を励振
するようにしたので、被測定単一モード光フアイ
バにおける偏光状態のふらつきに起因して後方散
乱光の測定値がばらつく不都合を解消することが
でき、安定に測定を行なうことが可能となる。
第１図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
２図は光フアイバデポライザの一例を示す模式
図、第３図は接続部における主軸の角度を説明す
るための模式図、第４図および第５図は光フアイ
バデポライザの他の例をそれぞれ示す模式図、第
６図Ａ，Ｂは測定結果を示すグラフ、第７図は従
来例のブロツク図である。 １……パルス発生器、２……レーザダイオー
ド、３，５，７……光学系、４……偏光分離プリ
ズム、６……被測定単一モード光フアイバ、８…
…受光器、９……光フアイバデポライザ、２１，
２４，５１，５４……単一モード光フアイバ、２
２，２３，４１，５２，５３……定偏波光フアイ
バ、５５……ピエゾ効果を有する円筒。
２図は光フアイバデポライザの一例を示す模式
図、第３図は接続部における主軸の角度を説明す
るための模式図、第４図および第５図は光フアイ
バデポライザの他の例をそれぞれ示す模式図、第
６図Ａ，Ｂは測定結果を示すグラフ、第７図は従
来例のブロツク図である。 １……パルス発生器、２……レーザダイオー
ド、３，５，７……光学系、４……偏光分離プリ
ズム、６……被測定単一モード光フアイバ、８…
…受光器、９……光フアイバデポライザ、２１，
２４，５１，５４……単一モード光フアイバ、２
２，２３，４１，５２，５３……定偏波光フアイ
バ、５５……ピエゾ効果を有する円筒。
Claims (1)
- １ 光パルスを偏光分離プリズムを介して被測定
単一モード光フアイバの一端に入射し、この入射
端に戻つてきた後方散乱光を上記偏光分離プリズ
ムにより分離して検出する単一モード光フアイバ
用光パルス試験器において、上記偏光分離プリズ
ムと被測定単一モード光フアイバとの間に、被測
定単一モード光フアイバに無偏光を励振する機能
を有する、２本の定偏波光フアイバを、それらの
主軸が互いに45°傾くよう接続してなるデポライ
ザを挿入したことを特徴とする単一モード光フア
イバ用光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18214784A JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18214784A JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159236A JPS6159236A (ja) | 1986-03-26 |
| JPH0544976B2 true JPH0544976B2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=16113178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18214784A Granted JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6159236A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0208011B1 (de) * | 1985-07-10 | 1988-11-17 | Hewlett-Packard GmbH | Lichtkoppelvorrichtung für die optische Reflektometrie |
| JPH0827212B2 (ja) * | 1987-11-09 | 1996-03-21 | 大塚電子株式会社 | 分光器 |
| JPH01140151U (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | ||
| US12514456B2 (en) | 2013-01-31 | 2026-01-06 | Eximo Medical Ltd. | System and methods for lesion characterization in blood vessels |
| EP3145430B1 (en) * | 2014-05-18 | 2019-07-03 | Eximo Medical Ltd. | System for tissue ablation using pulsed laser |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031103A (ja) * | 1983-07-31 | 1985-02-16 | Anritsu Corp | 光方向性結合装置 |
-
1984
- 1984-08-30 JP JP18214784A patent/JPS6159236A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6159236A (ja) | 1986-03-26 |
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