JPH0545498A - 多層膜反射鏡 - Google Patents

多層膜反射鏡

Info

Publication number
JPH0545498A
JPH0545498A JP3199711A JP19971191A JPH0545498A JP H0545498 A JPH0545498 A JP H0545498A JP 3199711 A JP3199711 A JP 3199711A JP 19971191 A JP19971191 A JP 19971191A JP H0545498 A JPH0545498 A JP H0545498A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nickel
chromium
substance
multilayer film
refractive index
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3199711A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3060624B2 (ja
Inventor
Hiroshi Nakamura
浩 中村
Katsuhiko Murakami
勝彦 村上
Hiroshi Nagata
浩 永田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP3199711A priority Critical patent/JP3060624B2/ja
Priority to US07/911,493 priority patent/US5239566A/en
Publication of JPH0545498A publication Critical patent/JPH0545498A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3060624B2 publication Critical patent/JP3060624B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KHANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/062Devices having a multilayer structure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KHANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/061Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements characterised by a multilayer structure
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KHANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/064Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements having a curved surface

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】周期が小さくても高い反射率を有する多層膜を
提供する。 【構成】軟X線領域での屈折率と真空の屈折率との差が
大きい物質と小さい物質とを交互に積層してなる多層膜
反射鏡において、前記屈折率の差が大きい物質として、
クロムを5重量パーセント以上含むニッケル−クロム合
金またはクロム単体を用いた。なお、前記屈折率の差が
小さい物質としては、酸化バナジウム、酸化珪素または
炭素を用いることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、軟X線領域で用いられ
る多層膜反射鏡、特に、生体観察用の軟X線顕微鏡に好
適な多層膜反射鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線領域では物質の屈折率は n=1−δ−ik(δ、k:実数)と表され、δ、kと
もに1に比べて非常に小さい。(屈折率の虚部kはX線
の吸収を表す)そのため、可視光領域のような屈折を利
用したレンズは使用できない。
【0003】そこで、反射を利用した光学系が用いられ
るが、全反射臨界角θc (波長25Åで5°程度以下)よ
りも垂直に近い入射角では反射率が非常に小さいので、
界面の振幅反射率の高い物質の組合せを何層も積層する
ことにより、反射面を多数(例えば数百層も)設けて、
それぞれの反射波の位相が合うように光学干渉理論に基
づいて各層の厚さを調整した多層膜反射鏡が用いられ
る。
【0004】より具体的に説明すれば、多層膜反射鏡
は、使用X線波長での屈折率と真空の屈折率(=1)と
の差が大きい物質と、差の小さい物質とを交互に積層す
ることによって得られ、その代表例としてW(タングス
テン)/C(カーボン)、Mo (モリブデン)/Si
(シリコン)などの組合せが従来から知られており、ス
パッタリング、真空蒸着、CVD等の薄膜形成技術によ
って形成されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】軟X線顕微鏡で生体観
察を行なう場合に使用するX線の波長は、図6に示すよ
うにタンパク質と水との吸収係数の差の大きい「水の
窓」と呼ばれる領域、即ち、酸素のK吸収端(23Å)と
炭素のK吸収端(44Å)の間の領域が用いられる。(な
お、なるべく厚い試料まで観察できるように、吸収係数
の小さい酸素の吸収端近傍の25Åの波長がより好まし
い。)また、図1に示すように多層膜反射鏡の周期(前
記真空の屈折率との差が大きい物質と小さい物質の1ペ
ア分の膜厚)をdとすると、周期dは使用するX線の波
長λと斜入射角θに対し、近似的に 2dsinθ=λで表されるブラッグの式を満たさなけ
ればならない。そのため、従来の多層膜反射鏡は前記周
期と斜入射角を適宜設定することで前記「水の窓」領域
の波長を有するX線を反射させていた。
【0006】一方、前記軟X線顕微鏡等においては、多
層膜反射鏡をできるだけ直入射に近い状態で使用した方
が該反射鏡を小さくでき、光学系の設計の自由度が高く
なる。そのため顕微鏡の小型化も可能になる。従って、
前記斜入射角θはできるだけ大きい方が望ましかった。
しかし、前記ブラッグの式から明らかなように、前記波
長域内でなるべく直入射に近い斜入射角で多層膜反射鏡
にX線を入射させるためには、周期を小さくしなければ
ならなかった。例えば、波長33.7ÅのX線を斜入射角45
°で多層膜反射鏡に入射させる場合、周期を24Åにしな
ければならない。そのため、周期を小さくしても高い反
射率を有する多層膜反射鏡が望まれていた。
【0007】ところで、ニッケルは前記波長域で真空と
の屈折率の差が大きく、高い反射率が得られることが期
待される物質である。しかし、実際にニッケルを用いた
多層膜では、ニッケル層の膜厚を薄くする(反射鏡の周
期を小さくする)と反射率が急激に低下してしまうこと
が実験によって確かめられた。図3は、ニッケル/酸化
珪素の組合せの多層膜に波長1.54ÅのX線を反射させた
時の、周期と反射率比(実測値/計算値)の関係を示す
ものである。図3から、ニッケル/酸化珪素の組合せの
多層膜は、周期が60Åの時は計算値の80%を反射率が得
られるが、周期を小さくすると反射率は急激に低下し、
周期が30Åになると全く反射しなくなることが分かる。
従って、ニッケルを用いた多層膜でも周期を小さくする
と反射率が低下し、前記「水の窓」領域の波長において
斜入射角が大きい状態で高い反射率を得ることができな
かった。
【0008】本発明は上記課題を解決することを目的と
する。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的のために本発明
では、軟X線領域での屈折率と真空の屈折率(=1)と
の差が大きい物質と小さい物質とを交互に積層してなる
多層膜反射鏡において、前記屈折率の差が大きい物質と
して、クロムを5重量パーセント以上含むニッケル−ク
ロム合金またはクロム単体を用いるようにした。
【0010】
【作用】図4は、軟X線の波長(20〜50Å)とニッケル
およびクロムの光学定数δ、kの値との関係を示すもの
である。図から明らかなように、ニッケルの方が真空と
の屈折率の差が大きい(δ、kの値が大きいため)。従
って、この波長域においてはニッケルを用いた方が高い
反射率が得られることが予想される。しかし、前述のよ
うに、ニッケルを用いた多層膜では周期を小さくすると
反射率が急激に低下してしまう。
【0011】図3は、ニッケル/酸化珪素の組合せの多
層膜、ニッケル−クロム合金(重量%でニッケル80%、
クロム20%)/酸化珪素の組合せの多層膜、およびクロ
ム/酸化珪素の組合せの多層膜について、波長1.54Åの
X線における、周期と反射率比の関係を示している。図
3から、ニッケルの代わりにニッケル−クロム合金また
はクロムを用いた場合は、周期を小さくした時の反射率
比の低下の度合いが著しく改善されることが分かる。
【0012】なお、波長20〜50Åの軟X線に対して、ニ
ッケル−クロム合金の光学定数は、ニッケルとクロムの
混合比によってニッケル単体の光学定数とクロム単体の
光学定数の間の値をとる。即ち、クロムの混合比が小さ
い場合にはニッケル単体に近い光学定数となり、該混合
比が大きい場合にはクロム単体に近い光学定数となる。
従って、クロム単体を用いた多層膜に比べ、ニッケル−
クロム合金を用いた多層膜の方が、少ない層数で高い反
射率を得ることができる。
【0013】図5は、波長33.7Åの軟X線を使用した時
にニッケルに対するクロムの含有量(重量パーセント)
と反射率の関係を示している。ここで使用した多層膜
は、膜厚20Åのニッケル−クロム合金と、真空との屈折
率の差が小さい物質である膜厚20Åの酸化バナジウム、
とをそれぞれ50層ずつ交互に積層して形成した。図から
明らかなように、ニッケルにクロムを含有させると、ニ
ッケル単体の場合より反射率が高くなる。
【0014】従って、ニッケル−クロム合金またはクロ
ム単体を真空との屈折率の差が大きい物質として用いる
ことで、周期を小さくすることで生じる反射率比の急激
な減少を防止することができる。さらに、図5から分か
るようにニッケル中へクロムを5%以上含有させれば、
クロム単体の場合よりも反射率を高くすることができ
る。
【0015】
【実施例1】図1に示すように、Si ウエハ基板3上
に、イオンビームスパッタ法によりニッケル−クロム合
金2と、酸化バナジウム1を所定の膜厚(それぞれa
Å、bÅとする)で交互に10層(図では層数を省略)ず
つ積層して多層膜反射鏡Aを作製した。
【0016】同様に、基板上に、イオンビームスパッタ
法によりクロムと、酸化バナジウムを所定の膜厚(それ
ぞれaÅ、bÅとする)で交互に10層(図では層数を省
略)ずつ積層して多層膜反射鏡Bを作製した。さらに、
基板上に、イオンビームスパッタ法によりニッケルと、
酸化バナジウムを所定の膜厚(それぞれaÅ、bÅとす
る)で交互に10層(図では層数を省略)ずつ積層して多
層膜反射鏡Cを作製した。
【0017】上記多層膜反射鏡AないしCは、それぞれ
に対して周期dを40Å、50Å、60Åとした3種類を作製
した。なお、前記多層膜の各層の膜厚aおよびbは、そ
れぞれ多層膜の周期の1/2 になる(つまり、a=b=d
/2(Å)となる)ようにした。例えば、周期が40Åの
場合はそれぞれ20Åずつ、また周期が50Åの場合はそれ
ぞれ25Åずつ交互に積層するようにした。
【0018】そして、これら多層膜反射鏡AないしCの
反射率を波長33.7Åの軟X線を用いて測定した。この結
果を表1に示す。なお、測定に際して軟X線の斜入射角
は、周期dが40Åの時は約25°、50Åの時は約20°、60
Åの時は約17°とした。
【0019】
【表1】
【0020】表1から分かるように、周期が60Åの時は
多層膜反射鏡C(ニッケル/酸化バナジウムの組合せ)
が最も高い反射率を示しているが、周期が小さくなる
(40Å、50Å)と多層膜反射鏡A(ニッケル−クロム合
金/酸化バナジウムの組合せ)および多層膜反射鏡B
(クロム/酸化バナジウムの組合せ)の方が高い反射率
を示す。
【0021】なお、真空の屈折率の差が小さい物質とし
て、酸化バナジウムの代わりに酸化珪素または炭素を使
用しても、ほぼ同様の効果を奏することができる。
【0022】
【実施例2】図2は、本発明の多層膜反射鏡を用いた生
体観察用の軟X線顕微鏡を示す概略構成図である。多層
膜コンデンサーミラー4は、回転楕円体状に形成され、
該回転楕円体の2つの焦点には、それぞれ光源5と試料
6が設置されている。光源5からは波長33.7ÅのX線が
得られるように設定してある。また、前記顕微鏡は試料
6を照射したX線を結像させるゾーンプレートからなる
結像光学系7と、試料6を照射したX線を検出する検出
器8とを備えている。
【0023】上記顕微鏡においては、光源5から発した
X線は多層膜コンデンサーミラー4で反射され試料6を
照射する。そして、試料6を照射したX線はゾーンプレ
ートからなる結像光学系7によって検出器8上に結像す
るように構成されている。このような軟X線顕微鏡に使
用される多層膜を成膜した回転楕円体ミラーの反射効率
を波長33.7Åの軟X線を用いて測定した。
【0024】多層膜コンデンサーミラーは、ガラスを研
磨加工して得られた回転楕円体状の基板に、イオンビー
ムスパッタ法でニッケル−クロム合金と酸化バナジウム
の組合せの多層膜を成膜して作製した。ミラーへの斜入
射角は、ニッケル−クロム合金と酸化バナジウムの組合
せの多層膜において高い反射率が予想される71°に設定
した。成膜した多層膜は、ミラーの中心部での周期を54
Å、積層数を75ペアとした。また、ミラー面内における
周期の均一性が2%以内になるようにした。ミラーの大
きさは対物ゾーンプレートのNA(=0.024 )に合わせ
て100 ×39(mm)とした。
【0025】この多層膜コンデンサーミラーの反射効率
を測定したところ、14.3%であった。また、比較のため
に同様の形状の基板に前述と同じ条件下でニッケル/酸
化バナジウムの組合せの多層膜を成膜して測定したとこ
ろ、反射効率は12%しか得られなかった。
【0026】
【実施例3】実施例2で使用した顕微鏡において、斜入
射角65°で使用するミラーにクロム/酸化バナジウムの
組合せの多層膜を使用し、実施例2と同様に反射効率の
測定を行った。多層膜は、ミラー中心での周期を40Å、
積層数を200 ペアとして成膜した。また、ミラー面内に
おける周期の均一性は2%以内になるようにしてある。
ミラーの大きさは対物ゾーンプレートのNA(=0.024
)に合わせて100 ×42mmとした。
【0027】上述のように形成した多層膜コンデンサー
ミラーの波長33.7Åの軟X線に対する反射効率を測定し
たところ10.5%であった。比較のために、同様のミラー
にニッケル/酸化バナジウムの組合せの多層膜を成膜し
て測定したところ、反射効率は6%しか得られなかっ
た。
【0028】
【発明の効果】以上のように本発明は、真空の屈折率と
の差が大きい物質としてニッケル−クロム合金またはク
ロム単体を用いて多層膜反射鏡を構成したことにより、
周期が小さくても高い反射率を得ることができる。その
ため、前記多層膜に対して軟X線を直入射に近い状態で
入射させる光学系を構成することが可能となり、光学系
を設計する際の自由度が増す。
【0029】また、多層膜反射鏡の寸法を小さくするこ
とができ、該反射鏡を使用した装置の小型、軽量化に役
立つ。本発明は、生体観察用の軟X線顕微鏡を初め、そ
の他の用途のX線顕微鏡やX線リソグラフィー、X線望
遠鏡、X線レーザ等の軟X線領域で用いられる光学機器
全般に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明の実施例1における多層膜反射鏡の
断面図である。
【図2】は、多層膜反射鏡を用いたX線顕微鏡の概略構
成図である。
【図3】は、ニッケル/酸化珪素、ニッケル−クロム合
金/酸化珪素、クロム/酸化珪素の組合せの各多層膜に
おける波長1.54ÅのX線で使用した場合の周期と反射率
比の関係を示すグラフである。
【図4】は、ニッケルとクロムの波長20〜50Åの軟X線
に対する光学定数δおよびkの関係を示すグラフであ
る。
【図5】は、ニッケル中へのクロム含有量による反アラ
イメント光学率の変化を示すグラフである。
【図6】は、軟X線領域での水とタンパク質の吸収係数
を示すグラフである。
【主要部分の符合の説明】
1 酸化バナジウム(V2O5)層 2 ニッケル−クロム合金またはクロム層 3 基板 4 多層膜コンデンサミラー 5 X線源 6 試料 7 結像光学系 8 検出器 9 X線

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軟X線領域での屈折率と真空の屈折率と
    の差が大きい物質と小さい物質とを交互に積層してなる
    多層膜反射鏡において、 前記屈折率の差が大きい物質として、クロムを5重量パ
    ーセント以上含むニッケル−クロム合金またはクロム単
    体を用いたことを特徴とする多層膜反射鏡。
  2. 【請求項2】 前記屈折率の差が小さい物質として、酸
    化バナジウム、酸化珪素または炭素を用いたことを特徴
    とする請求項1記載の多層膜反射鏡。
JP3199711A 1991-08-09 1991-08-09 多層膜反射鏡 Expired - Lifetime JP3060624B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3199711A JP3060624B2 (ja) 1991-08-09 1991-08-09 多層膜反射鏡
US07/911,493 US5239566A (en) 1991-08-09 1992-07-10 Multi-layered mirror

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3199711A JP3060624B2 (ja) 1991-08-09 1991-08-09 多層膜反射鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0545498A true JPH0545498A (ja) 1993-02-23
JP3060624B2 JP3060624B2 (ja) 2000-07-10

Family

ID=16412342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3199711A Expired - Lifetime JP3060624B2 (ja) 1991-08-09 1991-08-09 多層膜反射鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5239566A (ja)
JP (1) JP3060624B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08199342A (ja) * 1995-01-19 1996-08-06 Rikagaku Kenkyusho 軟x線光学素子用多層膜構造
JP2012014153A (ja) * 2010-06-02 2012-01-19 Canon Inc X線導波路

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2995371B2 (ja) * 1992-11-12 1999-12-27 セイコーインスツルメンツ株式会社 X線反射鏡用材料
US5491331A (en) * 1994-04-25 1996-02-13 Pilot Industries, Inc. Soft x-ray imaging device
US6377655B1 (en) * 1998-05-08 2002-04-23 Nikon Corporation Reflective mirror for soft x-ray exposure apparatus
US6295164B1 (en) 1998-09-08 2001-09-25 Nikon Corporation Multi-layered mirror
US6416194B1 (en) * 1999-02-11 2002-07-09 Turkiye Sise Ve Cam Fabrikalari A.S. Thermostable back-surface mirrors
JP4374735B2 (ja) * 1999-08-11 2009-12-02 株式会社ニコン 反射型軟x線顕微鏡、マスク検査装置及び反射マスクの製造方法
DE60041323D1 (de) * 1999-11-29 2009-02-26 Nikon Corp Optisches element wie mehrschichtfilm-reflektionsspiegel, verfahren zur herstellung dazu und dieses verwendende vorrichtung
DE10028970C1 (de) * 2000-06-05 2002-01-24 Fraunhofer Ges Forschung Röntgenoptische Anordnung zur Erzeugung einer parallelen Röntgenstrahlung
US6749309B1 (en) 2001-09-27 2004-06-15 Gsi Lumonics Corporation Optical element for scanning system and method of manufacture thereof
JP4071714B2 (ja) * 2001-10-24 2008-04-02 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 多層系の製造方法
JP5344123B2 (ja) * 2008-07-18 2013-11-20 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 X線反射体、x線反射装置およびx線反射鏡作成方法
CN102782531B (zh) * 2009-12-15 2014-12-17 卡尔蔡司Smt有限责任公司 用于极紫外光刻的反射光学元件

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4785470A (en) * 1983-10-31 1988-11-15 Ovonic Synthetic Materials Company, Inc. Reflectivity and resolution X-ray dispersive and reflective structures for carbon, beryllium and boron analysis
US4684565A (en) * 1984-11-20 1987-08-04 Exxon Research And Engineering Company X-ray mirrors made from multi-layered material
JPH02225346A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Central Glass Co Ltd 熱線反射ガラス

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08199342A (ja) * 1995-01-19 1996-08-06 Rikagaku Kenkyusho 軟x線光学素子用多層膜構造
JP2012014153A (ja) * 2010-06-02 2012-01-19 Canon Inc X線導波路

Also Published As

Publication number Publication date
JP3060624B2 (ja) 2000-07-10
US5239566A (en) 1993-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6228512B1 (en) MoRu/Be multilayers for extreme ultraviolet applications
JP3673968B2 (ja) 多層膜反射鏡の製造方法
JPH0545498A (ja) 多層膜反射鏡
JPH1138192A (ja) 多層膜反射鏡
JP2883100B2 (ja) 軟x線・真空紫外線用ハーフミラー又はビームスプリッター
KR100699858B1 (ko) 극자외선 리소그래피용 반사 디바이스 및 그 제조 방법 및이를 적용한 극자외선 리소그래피용 마스크, 프로젝션광학계 및 리소그래피 장치
US11385536B2 (en) EUV mask blanks and methods of manufacture
JPH05157900A (ja) X線顕微鏡
JPH06148399A (ja) X線用多層膜ミラーおよびx線顕微鏡
WO2025252612A1 (en) Reflective optical element for grazing incidence
US6728037B2 (en) Multilayer-coated reflective mirrors for X-ray optical systems, and methods for producing same
Horikawa et al. Design and fabrication of the Schwarzschild objective for soft x-ray microscopes
JP4406980B2 (ja) 多層反射防止膜
JPS63266397A (ja) X線反射鏡
JPH0256000A (ja) 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡
JPH07280999A (ja) X線多層膜反射鏡
JP2814595B2 (ja) 多層膜反射鏡
JPH09113697A (ja) 多層膜反射鏡
JPS63266399A (ja) X線反射鏡
JPS63266400A (ja) X線多層膜反射鏡
JPH0240600A (ja) 多層膜反射鏡
JPH075298A (ja) X線多層膜反射鏡
JPH1054903A (ja) 多層膜反射鏡
JP3648791B2 (ja) 多層膜反射鏡の製造方法
JPH08122496A (ja) 多層膜反射鏡

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090428

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428

Year of fee payment: 12