JPH0549190B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0549190B2 JPH0549190B2 JP62084930A JP8493087A JPH0549190B2 JP H0549190 B2 JPH0549190 B2 JP H0549190B2 JP 62084930 A JP62084930 A JP 62084930A JP 8493087 A JP8493087 A JP 8493087A JP H0549190 B2 JPH0549190 B2 JP H0549190B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- contacts
- circuit
- switch
- self
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
- G01R31/3275—Fault detection or status indication
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
- H01H47/002—Monitoring or fail-safe circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
発明の分野
この発明は、概してスイツチ動作監視用の自己
検査回路及びその自己検査方法、特に、原子力プ
ラントのためのスイツチ動作監視用の自己検査回
路及び方法に関し、該回路は、回路自身の動作及
び付加的な監視回路の動作の双方を検査するため
に、人工的に創成される故障状態をとることがで
きるようにしている。
検査回路及びその自己検査方法、特に、原子力プ
ラントのためのスイツチ動作監視用の自己検査回
路及び方法に関し、該回路は、回路自身の動作及
び付加的な監視回路の動作の双方を検査するため
に、人工的に創成される故障状態をとることがで
きるようにしている。
従来技術
原子力プラントを含むプラントのための制御装
置における多くの応用において、スイツチ接点の
状態を検知することが望ましく必要でさえもあ
る。スイツチは主制御盤の押しボタンあるいは選
択スイツチであつて良く、または、それらはモー
タ駆動されるアクチユエータに位置付けられたリ
ミツトスイツチであつても良い。いずれの場合に
も、プロセス制御装置がスイツチ状態を確実に検
知できるということが極めて重要である。このよ
うな装置の信頼性を高めるために使用される１つ
の方法は、対にされたもしくは冗長の接点を使用
することであり、それにおいてスイツチは、常に
反対の状態にある少なくとも２つの対の接点を有
している。“Ｃ”型接点もしくは“Ｄ”型接点を
もつスイツチは、このようなスイツチである。
“Ｃ”型のスイツチにおいては、２つの対のスイ
ツチがあり、一方は通常開かれ、他方は通常閉じ
られている。一方のスイツチを開くと自動的に他
方を閉じ、逆も同じである。“Ｃ”型のスイツチ
においては、それら接点は、“ブレークビフオメ
ーク”態様に配列され；“Ｄ”型スイツチにおい
ては、それらは“メークビフオブレーク”態様に
配列されている。いずれの場合においても、もし
双方の対の接点が短い遷移時間の後、同じ状態を
有するならば、すなわち双方とも開かれているか
あるいは双方とも閉じられているならば、そのス
イツチは故障であると推定され得る。それ故、ス
イツチを確実に検査するために、スイツチの各半
分、すなわち接点の各対の状態を監視することが
でき、そしてもし双方の対の接点が同じ状態にあ
るならば、エラー信号を発生する回路をもうける
ことだけが必要である。通常の回路においてこれ
は、接点対の状態のデイジタル指示、例えばもし
接点の対が開かれているならば“０”、そして接
点の対が閉じられているならば“１”を与えるこ
とにより達成されている。一方の接点の対の状態
を示す信号は、次に他方の対の接点の状態を示す
信号と論理的に比較される。もし信号が同じ論理
値を有するならば（２つの組み合わせの信号のパ
リテイが偶数ならば）そのスイツチは、故障とし
て検出され、そして適切な修正手段が開始され得
る。
置における多くの応用において、スイツチ接点の
状態を検知することが望ましく必要でさえもあ
る。スイツチは主制御盤の押しボタンあるいは選
択スイツチであつて良く、または、それらはモー
タ駆動されるアクチユエータに位置付けられたリ
ミツトスイツチであつても良い。いずれの場合に
も、プロセス制御装置がスイツチ状態を確実に検
知できるということが極めて重要である。このよ
うな装置の信頼性を高めるために使用される１つ
の方法は、対にされたもしくは冗長の接点を使用
することであり、それにおいてスイツチは、常に
反対の状態にある少なくとも２つの対の接点を有
している。“Ｃ”型接点もしくは“Ｄ”型接点を
もつスイツチは、このようなスイツチである。
“Ｃ”型のスイツチにおいては、２つの対のスイ
ツチがあり、一方は通常開かれ、他方は通常閉じ
られている。一方のスイツチを開くと自動的に他
方を閉じ、逆も同じである。“Ｃ”型のスイツチ
においては、それら接点は、“ブレークビフオメ
ーク”態様に配列され；“Ｄ”型スイツチにおい
ては、それらは“メークビフオブレーク”態様に
配列されている。いずれの場合においても、もし
双方の対の接点が短い遷移時間の後、同じ状態を
有するならば、すなわち双方とも開かれているか
あるいは双方とも閉じられているならば、そのス
イツチは故障であると推定され得る。それ故、ス
イツチを確実に検査するために、スイツチの各半
分、すなわち接点の各対の状態を監視することが
でき、そしてもし双方の対の接点が同じ状態にあ
るならば、エラー信号を発生する回路をもうける
ことだけが必要である。通常の回路においてこれ
は、接点対の状態のデイジタル指示、例えばもし
接点の対が開かれているならば“０”、そして接
点の対が閉じられているならば“１”を与えるこ
とにより達成されている。一方の接点の対の状態
を示す信号は、次に他方の対の接点の状態を示す
信号と論理的に比較される。もし信号が同じ論理
値を有するならば（２つの組み合わせの信号のパ
リテイが偶数ならば）そのスイツチは、故障とし
て検出され、そして適切な修正手段が開始され得
る。
このような回路は、多くの場合において、全シ
ステムの信頼性ある動作を確実にするために充分
なものではあるが、検査回路自身を周期的に検査
することによつてさらに高いレベルの信頼性を提
供することがしばしば必要である。過去において
は、この高いレベルの検査は、単に、６ケ月ごと
に１度の程度で行われる保守行為であつた。再度
この周期的な検査は、多くのシステムにおいて充
分な程度の信頼性を確実にするに充分なものでは
あるが、検査が容易に度々行われることができる
ように自動的にかつオンラインで行われるなら
ば、成就するに有利である。
ステムの信頼性ある動作を確実にするために充分
なものではあるが、検査回路自身を周期的に検査
することによつてさらに高いレベルの信頼性を提
供することがしばしば必要である。過去において
は、この高いレベルの検査は、単に、６ケ月ごと
に１度の程度で行われる保守行為であつた。再度
この周期的な検査は、多くのシステムにおいて充
分な程度の信頼性を確実にするに充分なものでは
あるが、検査が容易に度々行われることができる
ように自動的にかつオンラインで行われるなら
ば、成就するに有利である。
発明の概要
従つてこの発明の目的は、スイツチ動作監視用
の自己検査回路及びその自己検査方法を提供する
ことである。
の自己検査回路及びその自己検査方法を提供する
ことである。
この発明のさらなる目的は、検査されているス
イツチから検査回路を一時的に離し、代わりに、
スイツチの動作を制御可能に模擬するリレーに該
検査回路を実際上接続する回路を有したスイツチ
動作監視用の自己検査回路及びその自己検査方法
を提供することである。
イツチから検査回路を一時的に離し、代わりに、
スイツチの動作を制御可能に模擬するリレーに該
検査回路を実際上接続する回路を有したスイツチ
動作監視用の自己検査回路及びその自己検査方法
を提供することである。
この発明の広範な概念においては、共通の接点
を有する第１及び第２の接点対を有し、前記接点
対の一方は、通常開いており、他方は、スイツチ
が故障でない限り閉じている型のスイツチの動作
を監視するために、 (a) 前記第１の接点対の両端に接続され、第１の
イネーブル信号及び第１のセレクト信号に応答
して、前記イネーブル信号がない場合に、前記
第１の接点対が開いているならば第１の値を、
かつ前記第１の接点対が閉じているならば第２
の値を有する第１の出力信号を出力し、そして
前記第１のイネーブル信号が存在する場合に
は、前記第１の接点対が開いているか閉じてい
るかに無関係に、前記第１のセレクト信号に従
つて、前記第１の値及び前記第２の値の一方を
有する第１の出力信号を出力する第１の検査手
段と、 (b) 前記第２の接点対の両端に接続され、第２の
イネーブル信号及び第２のセレクト信号に応答
して、前記第２のイネーブル信号がない場合に
は、前記第２の接点対が開いているならば前記
第１の値を、かつ前記第２の接点対が閉じてい
るならば前記第２の値を有する第２の出力信号
を出力し、そして前記第２のイネーブル信号が
存在する場合には、前記第２の接点対が開いて
いるか閉じているかに無関係に、前記第２のセ
レクト信号に従つて、前記第１の値及び前記第
２の値の一方を有する第２の出力信号を出力す
る第２の検査手段と、 (c) 前記第１及び第２の検査手段に応答して、前
記第１及び第２の出力信号が等しい値を有する
ならばエラー信号を生成するための論理手段
と、 を備えたことを特徴とするスイツチ動作監視用の
自己検査回路が提供される。
を有する第１及び第２の接点対を有し、前記接点
対の一方は、通常開いており、他方は、スイツチ
が故障でない限り閉じている型のスイツチの動作
を監視するために、 (a) 前記第１の接点対の両端に接続され、第１の
イネーブル信号及び第１のセレクト信号に応答
して、前記イネーブル信号がない場合に、前記
第１の接点対が開いているならば第１の値を、
かつ前記第１の接点対が閉じているならば第２
の値を有する第１の出力信号を出力し、そして
前記第１のイネーブル信号が存在する場合に
は、前記第１の接点対が開いているか閉じてい
るかに無関係に、前記第１のセレクト信号に従
つて、前記第１の値及び前記第２の値の一方を
有する第１の出力信号を出力する第１の検査手
段と、 (b) 前記第２の接点対の両端に接続され、第２の
イネーブル信号及び第２のセレクト信号に応答
して、前記第２のイネーブル信号がない場合に
は、前記第２の接点対が開いているならば前記
第１の値を、かつ前記第２の接点対が閉じてい
るならば前記第２の値を有する第２の出力信号
を出力し、そして前記第２のイネーブル信号が
存在する場合には、前記第２の接点対が開いて
いるか閉じているかに無関係に、前記第２のセ
レクト信号に従つて、前記第１の値及び前記第
２の値の一方を有する第２の出力信号を出力す
る第２の検査手段と、 (c) 前記第１及び第２の検査手段に応答して、前
記第１及び第２の出力信号が等しい値を有する
ならばエラー信号を生成するための論理手段
と、 を備えたことを特徴とするスイツチ動作監視用の
自己検査回路が提供される。
検査手段はリレーを含んでいるのが好ましい。
該リレーはシステム内に無効論理状態を“注入”
するために使用され得る。もし、無効論理状態の
注入が故障の指示を生じさせることに失敗したな
らば、検査回路自体が故障であると推定され得、
修正手段が取られ得る。
該リレーはシステム内に無効論理状態を“注入”
するために使用され得る。もし、無効論理状態の
注入が故障の指示を生じさせることに失敗したな
らば、検査回路自体が故障であると推定され得、
修正手段が取られ得る。
この発明は、自己検査をしばしば行うのに充分
に簡単かつ容易で、それ故信頼性を高めた自己検
査のための手段及び方法を提供するものである。
に簡単かつ容易で、それ故信頼性を高めた自己検
査のための手段及び方法を提供するものである。
この発明のこれらの及び他の特徴や長所は、添
付図面と共に為される以下の実施例の説明から容
易に理解されるであろう。
付図面と共に為される以下の実施例の説明から容
易に理解されるであろう。
好適な実施例の説明
以下、添付図面を参照して、この発明の好適な
実施例について説明する。
実施例について説明する。
第１図は、この発明による基本回路の機能的ブ
ロツク回路図を示している。数字１０は、２つの
対の接点を有するスイツチを総括的に示してお
り、該接点の一方は通常開かれ（第１図の接点対
２０）そして他方は通常閉じられている（第１図
の接点対３０）。接点対２０の両端に第１の検査
回路４０が接続されている。同様に接点対３０の
両端に第２の検査回路５０が接続されている。第
１の検査回路４０は、接点対２０の状態を通常示
す第１の状態信号STAT1を生成するよう適合さ
れている。同様に第２の検査回路５０は、接点対
３０の状態を通常示す第２の状態信号STAT2を
生成するよう適合されている。スイツチが正当に
動作しているとき、それら接点対は反対の状態に
あるということが与えられているので、もしスイ
ツチが正当に動作しているならば、STAT1及び
STAT2の値は、決して等しくないはずである。
論理回路６０は、STAT1とSTAT2の値を比較
し、もしSTAT1STAT2が等しくないならば、
正常動作を示す第１の値、そしてもしSTAT1と
STAT2が等しならば、スイツチ１０が故障であ
るといることを示す第２の値を有する監視信号
MONを生成する。
ロツク回路図を示している。数字１０は、２つの
対の接点を有するスイツチを総括的に示してお
り、該接点の一方は通常開かれ（第１図の接点対
２０）そして他方は通常閉じられている（第１図
の接点対３０）。接点対２０の両端に第１の検査
回路４０が接続されている。同様に接点対３０の
両端に第２の検査回路５０が接続されている。第
１の検査回路４０は、接点対２０の状態を通常示
す第１の状態信号STAT1を生成するよう適合さ
れている。同様に第２の検査回路５０は、接点対
３０の状態を通常示す第２の状態信号STAT2を
生成するよう適合されている。スイツチが正当に
動作しているとき、それら接点対は反対の状態に
あるということが与えられているので、もしスイ
ツチが正当に動作しているならば、STAT1及び
STAT2の値は、決して等しくないはずである。
論理回路６０は、STAT1とSTAT2の値を比較
し、もしSTAT1STAT2が等しくないならば、
正常動作を示す第１の値、そしてもしSTAT1と
STAT2が等しならば、スイツチ１０が故障であ
るといることを示す第２の値を有する監視信号
MONを生成する。
第１図に示した回路は、また検査制御回路７０
をも含んでいる。制御信号Ｃに応答して、検査制
御回路７０は、第１の検査回路４０に対して第１
のイネーブル信号EN1及び第１のセレクト信号
SEL1を、そして第２の検査回路５０に対して、
第２のイネーブル信号EN2及び第２のセレクト
信号SEL2を生成することができる。検査制御回
路７０として働く回路の構成の詳細は、当該技術
の通常の熟練度を有するものに容易に明らかにな
るであろう。イネーブル信号が第１の論理値（例
えば低い）を有する場合、第１及び第２の検査回
路４０及び５０は通常動作し、すなわち、信号
STAT1及びSTAT2が接点対２０及び３０の実
際の状態をそれぞれ示す。イネーブル信号が第２
の値（例えば高い）をとる場合には、信号
STAT1及びSTAT2は、もはや接点対の状態を
反映せず、その代わりに、それぞれSEL1及び
SEL2信号の値に依存するある値をとる。このよ
うに、禁止された論理値をシステム内に“注入”
することが可能である。イネーブル信号が検査を
可能とし、かつセレクト信号がSTAT1及び
STAT2に対して同じ値を選択する場合、誤り状
態が人工的に創成される。もし論理回路が、無効
の論理状態の注入に応答して故障表示を生成しな
いならば、次に、その論理回路が故障している。
もしくは検査回路が故障していることが推定さ
れ、そして、適当な修正手段がとられ得る。
をも含んでいる。制御信号Ｃに応答して、検査制
御回路７０は、第１の検査回路４０に対して第１
のイネーブル信号EN1及び第１のセレクト信号
SEL1を、そして第２の検査回路５０に対して、
第２のイネーブル信号EN2及び第２のセレクト
信号SEL2を生成することができる。検査制御回
路７０として働く回路の構成の詳細は、当該技術
の通常の熟練度を有するものに容易に明らかにな
るであろう。イネーブル信号が第１の論理値（例
えば低い）を有する場合、第１及び第２の検査回
路４０及び５０は通常動作し、すなわち、信号
STAT1及びSTAT2が接点対２０及び３０の実
際の状態をそれぞれ示す。イネーブル信号が第２
の値（例えば高い）をとる場合には、信号
STAT1及びSTAT2は、もはや接点対の状態を
反映せず、その代わりに、それぞれSEL1及び
SEL2信号の値に依存するある値をとる。このよ
うに、禁止された論理値をシステム内に“注入”
することが可能である。イネーブル信号が検査を
可能とし、かつセレクト信号がSTAT1及び
STAT2に対して同じ値を選択する場合、誤り状
態が人工的に創成される。もし論理回路が、無効
の論理状態の注入に応答して故障表示を生成しな
いならば、次に、その論理回路が故障している。
もしくは検査回路が故障していることが推定さ
れ、そして、適当な修正手段がとられ得る。
スイツチ１０は、“Ｃ”型スイツチを表すよう
意図されているが、“Ｄ”型スイツチ、あるいは、
正常時、異なつた状態を有する２つの対の接点を
含む他のどのようなスイツチが使用されても良
い。もし“Ｄ”型スイツチが使用されるならば
（ブレーク前にメークする）、当然、双方のスイツ
チが閉じられる短い瞬間がある。しかしながら、
無効の論理状態が瞬間的に存在することは、識別
されかつ判別されることができ、それ故、故障信
号を生成しない。
意図されているが、“Ｄ”型スイツチ、あるいは、
正常時、異なつた状態を有する２つの対の接点を
含む他のどのようなスイツチが使用されても良
い。もし“Ｄ”型スイツチが使用されるならば
（ブレーク前にメークする）、当然、双方のスイツ
チが閉じられる短い瞬間がある。しかしながら、
無効の論理状態が瞬間的に存在することは、識別
されかつ判別されることができ、それ故、故障信
号を生成しない。
また、前述の説明及び以下の説明において、イ
ネーブル及びセレクト信号が別々に発生されるい
うことが仮定されている。しかしながら、同じイ
ネーブル及びセレクト信号が、第１の検査回路４
０及び第２の検査回路５０に送られ、なお、装置
の充分な動作を提供し得るということが、通常の
当業者には明らかであろう。
ネーブル及びセレクト信号が別々に発生されるい
うことが仮定されている。しかしながら、同じイ
ネーブル及びセレクト信号が、第１の検査回路４
０及び第２の検査回路５０に送られ、なお、装置
の充分な動作を提供し得るということが、通常の
当業者には明らかであろう。
最後に、最大の信頼性のために、各“チヤンネ
ル”（接点の対によつて定義される）が独自の電
源を有することが望ましい。第１図に示された回
路においては、２つの電源が接地を表す三角形に
対して別々の数字によつて表されている。それら
電源は、それらの高電圧側が、接点対の間に＋Ｖ
で一緒に接続されているということが想定されて
いる。
ル”（接点の対によつて定義される）が独自の電
源を有することが望ましい。第１図に示された回
路においては、２つの電源が接地を表す三角形に
対して別々の数字によつて表されている。それら
電源は、それらの高電圧側が、接点対の間に＋Ｖ
で一緒に接続されているということが想定されて
いる。
第２Ａ図は、第１の検査回路４０の作用を果た
すための好ましい回路を示している。図から分か
るように、この回路は、第１の端子９０、第２の
端子１００、及び第３の端子１１０を有している
第１のリレー８０を含んでいる。第１の端子９０
は、スイツチ２０の接点に接続され、該第１の端
子９０は、直接には他方の接点の対３０に接続さ
れない。第３の接点１１０は、第１のリレーの腕
１２０の位置によつて、第１の端子９０もしくは
第２の端子１００のいずれかに選択的に接続可能
である。第１のリレーの腕１２０の位置は、電流
が第１のリレーのコイル１３０を流れるか流れな
いかによつて制御され、次に電流が流れるか流れ
ないかの状態は、EN1が高いか低いか（すなわ
ちEN1の存在もしくは不存在）によつて制御さ
れる。
すための好ましい回路を示している。図から分か
るように、この回路は、第１の端子９０、第２の
端子１００、及び第３の端子１１０を有している
第１のリレー８０を含んでいる。第１の端子９０
は、スイツチ２０の接点に接続され、該第１の端
子９０は、直接には他方の接点の対３０に接続さ
れない。第３の接点１１０は、第１のリレーの腕
１２０の位置によつて、第１の端子９０もしくは
第２の端子１００のいずれかに選択的に接続可能
である。第１のリレーの腕１２０の位置は、電流
が第１のリレーのコイル１３０を流れるか流れな
いかによつて制御され、次に電流が流れるか流れ
ないかの状態は、EN1が高いか低いか（すなわ
ちEN1の存在もしくは不存在）によつて制御さ
れる。
回路は、また、少なくとも第４の端子１５０及
び第５の端子１６０を有している第２のスイツチ
もしくはリレー１４０をも含んでいる。第１のリ
レー８０の第２の端子１００は、第２のリレー１
４０の第４の端子１５０に接続される。第５の端
子は、＋Ｖに接続される。第４の端子従つて第２
の端子が＋Ｖに接続されるか否かは、第２のリレ
ーの腕１８０の位置によつて制御され、該第２の
リレーの腕１８０は、次に、第２のリレーのコイ
ル１９０によつて制御される。換言すれば、第４
の端子１５０と第５の端子１６０との間の接続
は、電流コイル１９０を流れるとき為され、この
ことは、セレクト信号SEL1が高電位となつたと
き生ずる。
び第５の端子１６０を有している第２のスイツチ
もしくはリレー１４０をも含んでいる。第１のリ
レー８０の第２の端子１００は、第２のリレー１
４０の第４の端子１５０に接続される。第５の端
子は、＋Ｖに接続される。第４の端子従つて第２
の端子が＋Ｖに接続されるか否かは、第２のリレ
ーの腕１８０の位置によつて制御され、該第２の
リレーの腕１８０は、次に、第２のリレーのコイ
ル１９０によつて制御される。換言すれば、第４
の端子１５０と第５の端子１６０との間の接続
は、電流コイル１９０を流れるとき為され、この
ことは、セレクト信号SEL1が高電位となつたと
き生ずる。
リレー８０及び１４０は、例えばTeledyne
712M−112のようなどのような適当なリレーであ
つても良い。さらにリレー１４０は、単純な電磁
スイツチに代替されても良い。
712M−112のようなどのような適当なリレーであ
つても良い。さらにリレー１４０は、単純な電磁
スイツチに代替されても良い。
第３の端子１１０からの出力は、光電分離回路
１９５に対する入力として使用される。端子１１
０が高電位のとき（すなわち、以下に述べる態様
で端子１１０が、接点の対２０もしくは第２のリ
ーレ１４０を経て＋Ｖに接続されるとき）、電流
が光電分離回路１９５の内部にLEDを通つて流
れ、それ故、該LEDは光を発する。この光の伝
送は、光電分離回路の出力側のダイオードを導通
状態とし、従つて、状態信号STAT1を低電位も
しくは論理０信号にする。さもなければ、状態信
号STAT1は高電位のままである。
１９５に対する入力として使用される。端子１１
０が高電位のとき（すなわち、以下に述べる態様
で端子１１０が、接点の対２０もしくは第２のリ
ーレ１４０を経て＋Ｖに接続されるとき）、電流
が光電分離回路１９５の内部にLEDを通つて流
れ、それ故、該LEDは光を発する。この光の伝
送は、光電分離回路の出力側のダイオードを導通
状態とし、従つて、状態信号STAT1を低電位も
しくは論理０信号にする。さもなければ、状態信
号STAT1は高電位のままである。
通常の動作において、イネーブル信号は、低電
位であり、このことは、スイツチ２０を直接、光
電分離回路１９５に接続し、それ故、状態信号
STAT1の論理値は、接点の対２０が開いている
かもしくは閉じているかを反映している。回路を
検査することが望まれたとき、他方では、イネー
ブル信号EN1が高電位となつてリレーコイル１
３０を附勢し、それ故、リレー腕１２０を第１の
端子９０を有した接点から第２の端子１００を有
した接点に移動する。状態信号STAT1の論理値
は、リレー腕１８０及び第４の接点１５０によつ
て限定されるスイツチが、開いているか閉じてい
るかに依存する。該スイツチの状態はセレクト信
号SEL1によつて制御される。SEL１が低電位の
ときスイツチは開いたままであり光電分離回路１
９５に電流は流れず、そしてSTAT1信号は高電
位のままである。スイツチが閉じたとき、光電分
離回路１９５内の発光ダイオードを経て電流が流
れ、故にSTAT1信号は低電位になる。光電分離
回路は例えばHCPL−3700のようなどのような適
当な回路であつて良い。
位であり、このことは、スイツチ２０を直接、光
電分離回路１９５に接続し、それ故、状態信号
STAT1の論理値は、接点の対２０が開いている
かもしくは閉じているかを反映している。回路を
検査することが望まれたとき、他方では、イネー
ブル信号EN1が高電位となつてリレーコイル１
３０を附勢し、それ故、リレー腕１２０を第１の
端子９０を有した接点から第２の端子１００を有
した接点に移動する。状態信号STAT1の論理値
は、リレー腕１８０及び第４の接点１５０によつ
て限定されるスイツチが、開いているか閉じてい
るかに依存する。該スイツチの状態はセレクト信
号SEL1によつて制御される。SEL１が低電位の
ときスイツチは開いたままであり光電分離回路１
９５に電流は流れず、そしてSTAT1信号は高電
位のままである。スイツチが閉じたとき、光電分
離回路１９５内の発光ダイオードを経て電流が流
れ、故にSTAT1信号は低電位になる。光電分離
回路は例えばHCPL−3700のようなどのような適
当な回路であつて良い。
第２の検査回路５０の構成及び動作の詳細は、
今述べたものと同一であるので、簡略のためにこ
こでは省略する。第２Ｂ図に示された第２の検査
回路５０も、それぞれリレー８０，１４０に対し
て上述したものと同様の態様で相互接続されたリ
レー８５，１４５の対と、光電分離回路１９７と
を含んでいると言えば充分である。
今述べたものと同一であるので、簡略のためにこ
こでは省略する。第２Ｂ図に示された第２の検査
回路５０も、それぞれリレー８０，１４０に対し
て上述したものと同様の態様で相互接続されたリ
レー８５，１４５の対と、光電分離回路１９７と
を含んでいると言えば充分である。
今説明したような回路でもつて、各接点の入力
回路の周期的な検査が４〜６週間の間隔で実行可
能であることが要求される。上述したように、
“Ｃ”型接点配列のような接点配列は、固有のエ
ラー検出における手段を設けている。４つの可能
な組み合わせ（00、01、10、及び11）のうち、２
つだけが有効であり、他の２つは無効として検出
され得る。検査回路は実際、入力が00及び11（偶
数パリテイを有するもの）の無効状態をとるのを
強制し、そして作られたエラー検出論理が正しく
働いていることを確認する。次の周期の検査ま
で、接点閉の入力システムが有効な入力に対して
連続的にチエツクを行い、もしワイヤ接続、もし
くはスイツチが“短絡”あるいは“開路”故障と
なつたならば、論理プロセツサは、その故障を報
告し、そしてより安全なもしくは好ましい状態に
戻すような適切な動作をとるようにプログラム化
されている。
回路の周期的な検査が４〜６週間の間隔で実行可
能であることが要求される。上述したように、
“Ｃ”型接点配列のような接点配列は、固有のエ
ラー検出における手段を設けている。４つの可能
な組み合わせ（00、01、10、及び11）のうち、２
つだけが有効であり、他の２つは無効として検出
され得る。検査回路は実際、入力が00及び11（偶
数パリテイを有するもの）の無効状態をとるのを
強制し、そして作られたエラー検出論理が正しく
働いていることを確認する。次の周期の検査ま
で、接点閉の入力システムが有効な入力に対して
連続的にチエツクを行い、もしワイヤ接続、もし
くはスイツチが“短絡”あるいは“開路”故障と
なつたならば、論理プロセツサは、その故障を報
告し、そしてより安全なもしくは好ましい状態に
戻すような適切な動作をとるようにプログラム化
されている。
接点閉入力の論理プロセツサの連続的な検査能
力を検査することに加えて、自動テスタが、入力
から出力までのシステム論理をチエツクするため
の検査条件を用意している。例えばキースイツチ
によつて可能化されたとき、自動テスタは、各々
個別の接点閉入力（CCI）信号の状態が閉じられ
るかもしくは開かれるように強制することができ
る。自動テスタは、論理０を出力することによつ
てこれを行い、それ故スイツチが閉じられたかの
ようにする。このようにして、すべての４つの可
能な状態がシステム内に注入され得、そしてデー
タリンクを介して自動テスタによつて監視される
出力信号によつて、正しいシステム動作が確かめ
られ得る。
力を検査することに加えて、自動テスタが、入力
から出力までのシステム論理をチエツクするため
の検査条件を用意している。例えばキースイツチ
によつて可能化されたとき、自動テスタは、各々
個別の接点閉入力（CCI）信号の状態が閉じられ
るかもしくは開かれるように強制することができ
る。自動テスタは、論理０を出力することによつ
てこれを行い、それ故スイツチが閉じられたかの
ようにする。このようにして、すべての４つの可
能な状態がシステム内に注入され得、そしてデー
タリンクを介して自動テスタによつて監視される
出力信号によつて、正しいシステム動作が確かめ
られ得る。
第３図は、原子力プラントにおけるような安全
評価の適用に使用されるであろう全システムの部
分として検査可能の接点閉入力回路を示す。第３
図に示された装置において、耐サージ回路２００
及び２１０が検査回路とそれら検査回路のそれぞ
れの接点の対との間に挿間されている。耐サージ
回路は、無効の検査中、検査注入回路からプラン
ト接点を離すために使用され、そしてそれら耐サ
ージ回路は、検査回路への耐サージ回路検査電流
を制限するようにも働く。これらの検査回路は当
該技術で通常の熟練度を有するものに既知であ
り、そして代表的には、RF信号を除くためのチ
ヨークコイルと、適当な抵抗回路網と、コンデン
サ回路網とを含んでいる。代表的には、それら
は、3000ボルトのサージまでに耐えるよう設計さ
れている。
評価の適用に使用されるであろう全システムの部
分として検査可能の接点閉入力回路を示す。第３
図に示された装置において、耐サージ回路２００
及び２１０が検査回路とそれら検査回路のそれぞ
れの接点の対との間に挿間されている。耐サージ
回路は、無効の検査中、検査注入回路からプラン
ト接点を離すために使用され、そしてそれら耐サ
ージ回路は、検査回路への耐サージ回路検査電流
を制限するようにも働く。これらの検査回路は当
該技術で通常の熟練度を有するものに既知であ
り、そして代表的には、RF信号を除くためのチ
ヨークコイルと、適当な抵抗回路網と、コンデン
サ回路網とを含んでいる。代表的には、それら
は、3000ボルトのサージまでに耐えるよう設計さ
れている。
第１の検査回路４０及び第２の検査回路５０の
下流には、デバウンス（Debounce）回路２４０
及び２５０がある。これらデバウンス回路は、い
くつかの連続的なサンプルに対して信号レベルが
安定してしまつた後にのみ状態変化を受け入れる
ことによつて、信号を“デバウンス
（debounce）”する、すなわち信号のはずみを抑
える（すなわち、スイツチの“バウンス即ち、接
点のチヤタリング”によつて不慮に生じるスイツ
チの複数回の押し下げの誤つた指示を避ける）。
このようなデバウンス回路は、当該技術分野にお
いて既知であり、かつ商業的に入手可能である。
例えば、Motorola MC14490 Hex接点バウンス
排除器は、この適用に充分であるだろう。
下流には、デバウンス（Debounce）回路２４０
及び２５０がある。これらデバウンス回路は、い
くつかの連続的なサンプルに対して信号レベルが
安定してしまつた後にのみ状態変化を受け入れる
ことによつて、信号を“デバウンス
（debounce）”する、すなわち信号のはずみを抑
える（すなわち、スイツチの“バウンス即ち、接
点のチヤタリング”によつて不慮に生じるスイツ
チの複数回の押し下げの誤つた指示を避ける）。
このようなデバウンス回路は、当該技術分野にお
いて既知であり、かつ商業的に入手可能である。
例えば、Motorola MC14490 Hex接点バウンス
排除器は、この適用に充分であるだろう。
最後に付加的な対の光電分離回路２６０及び２
７０がデバウンス回路と論理回路との間にそれぞ
れ挿間されており、これにより、電気的分離の程
度を高め、そしてどのような循環する電流をも避
ける。
７０がデバウンス回路と論理回路との間にそれぞ
れ挿間されており、これにより、電気的分離の程
度を高め、そしてどのような循環する電流をも避
ける。
第４図は、原子力プラントの監視システム内に
組み込まれた自己−検査監視回路を示す。常開接
点２０及び常閉接点３０を有しているスイツチ１
０は、原子炉の制御装置パネル内に通常含まれて
いる多数のスイツチ（例えば“Ｃ”型もしくは
“Ｄ”型）のいずれかを表す。自己−検査監視回
路は、上述したように接点の両端に接続されそし
て正しい動作もしくは故障のいずれかを決定して
応答するために、監視システムが使用する監視信
号を生成する。
組み込まれた自己−検査監視回路を示す。常開接
点２０及び常閉接点３０を有しているスイツチ１
０は、原子炉の制御装置パネル内に通常含まれて
いる多数のスイツチ（例えば“Ｃ”型もしくは
“Ｄ”型）のいずれかを表す。自己−検査監視回
路は、上述したように接点の両端に接続されそし
て正しい動作もしくは故障のいずれかを決定して
応答するために、監視システムが使用する監視信
号を生成する。
この発明の精神から離れることなく、上述の特
定の実施例に関する多くの変更が為され得るとい
うことを、当該技術の通常の熟練度を有するもの
には明らかであろう。例えば、所望なら、第１及
び第２のリレーは、状態出力STAT1及び
STAT2を所望の高電位または低電位にさせるた
めの光電分離回路と代替され得る。従つて、この
発明は、特定的に上述した実施例に制限されるも
のとみなされるべきではなく、その代わり、この
発明の範囲に充分相当するものとみなされるべき
である。
定の実施例に関する多くの変更が為され得るとい
うことを、当該技術の通常の熟練度を有するもの
には明らかであろう。例えば、所望なら、第１及
び第２のリレーは、状態出力STAT1及び
STAT2を所望の高電位または低電位にさせるた
めの光電分離回路と代替され得る。従つて、この
発明は、特定的に上述した実施例に制限されるも
のとみなされるべきではなく、その代わり、この
発明の範囲に充分相当するものとみなされるべき
である。
第１図は、この発明の一実施例による自己検査
回路を示す機能ブロツク回路図、第２Ａ図及び第
２Ｂ図は、第１図に示したそれぞれ第１及び第２
の検査回路の詳細を示す回路図、第３図は、信頼
性を確保するために特に厳しい手段を必要とする
適用における場合のこの発明の他の実施例による
自己検査回路を示す機能ブロツク回路図、第４図
は、この発明による自己検査回路を原子力プラン
トの監視システムに組み込んだ場合を示す機能ブ
ロツク回路図である。図において、１０はスイツ
チ、２０及び３０は接点対、４０は第１の検査回
路、５０は第２の検査回路、６０は論理回路、７
０は検査制御回路である。
回路を示す機能ブロツク回路図、第２Ａ図及び第
２Ｂ図は、第１図に示したそれぞれ第１及び第２
の検査回路の詳細を示す回路図、第３図は、信頼
性を確保するために特に厳しい手段を必要とする
適用における場合のこの発明の他の実施例による
自己検査回路を示す機能ブロツク回路図、第４図
は、この発明による自己検査回路を原子力プラン
トの監視システムに組み込んだ場合を示す機能ブ
ロツク回路図である。図において、１０はスイツ
チ、２０及び３０は接点対、４０は第１の検査回
路、５０は第２の検査回路、６０は論理回路、７
０は検査制御回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検査されているスイツチから検査回路を一時
的に離し、代わりに、前記スイツチの動作を模擬
するリレーに該検査回路を接続する回路を有した
スイツチ動作監視用の自己検査回路であつて、前
記自己検査回路は、 共通の接点を有する第１及び第２の接点対を有
し、前記接点対の一方は、通常開いており、他方
は、前記スイツチが故障でない限り閉じている型
のものであり、前記スイツチの動作を監視するた
めに、 (a) 前記第１の接点対の両端に接続され、第１の
イネーブル信号及び第１のセレクト信号に応答
して、前記イネーブル信号がない場合に、前記
第１の接点対が開いているならば第１の値を、
かつ前記第１の接点対が閉じているならば第２
の値を有する第１の出力信号を出力し、そして
前記第１のイネーブル信号が存在する場合に
は、前記第１の接点対が開いているか閉じてい
るかに無関係に、前記第１のセレクト信号に従
つて、前記第１の値又は前記第２の値の一方を
有する第１の出力信号を出力する第１の検査手
段と、 (b) 前記第２の接点対の両端に接続され、第２の
イネーブル信号及び第２のセレクト信号に応答
して、前記第２のイネーブル信号がない場合
に、前記第２の接点対が開いているならば前記
第１の値を、かつ前記第２の接点対が閉じてい
るならば前記第２の値を有する第２の出力信号
を出力し、そして前記第２のイネーブル信号が
存在する場合には、前記第２の接点対が開いて
いるか閉じているかに無関係に、前記第２のセ
レクト信号に従つて、前記第１の値又は前記第
２の値の一方を有する第２の出力信号を出力す
る第２の検査手段と、 (c) 前記第１及び第２の検査手段に応答して、前
記第１及び第２の出力信号が等しい値を有する
ならばエラー信号を生成するための論理手段
と、 を備えたことを特徴とするスイツチ動作監視用の
自己検査回路。 ２ 前記第１の検査手段は、前記第１のイネーブ
ル信号がない場合に、前記第１の接点対が前記論
理手段に接続され、前記第１のイネーブル信号が
存在する場合に、前記第１の接点対が前記論理手
段から切り離されるように切り換え可能なリレー
の第１の対を含んでいる特許請求の範囲第１項記
載のスイツチ動作監視用の自己検査回路。 ３ 前記第２の検査手段は、前記第２のイネーブ
ル信号がない場合に前記第２の接点対を前記論理
手段に接続し、前記第２のイネーブル信号が存在
する場合に、前記第２の接点対を前記論理手段か
ら切り離すように切り換え可能なリレーの第２の
対を含んでいる特許請求の範囲第１項記載のスイ
ツチ動作監視用の自己検査回路。 ４ 前記第１の接点対の両端に生じ得るサージ電
圧から前記第１の検査手段を保護すると共に、前
記第２の接点対の両端に生じ得るサージ電圧から
前記第２の検査手段を保護するために、前記第１
の接点対及び前記第１の検査手段間に挿間された
第１の耐サージ手段と、前記第２の接点対及び前
記第２の検査手段間に挿間された第２の耐サージ
手段とを設けるようにした特許請求の範囲第１項
記載のスイツチ動作監視用の自己検査回路。 ５ 前記第１の検査手段は、前記リレーの第１の
対を前記論理手段から電気的に分離するために、
前記リレーの第１の対及び前記論理手段間に挿間
された第１の光電分離回路を含んでいる特許請求
の範囲第２項記載のスイツチ動作監視用の自己検
査回路。 ６ 前記第２の検査手段は、前記リレーの第２の
対を前記論理手段から電気的に分離するために、
前記リレーの第２の対及び前記論理手段間に挿間
された第２の光電分離回路を含んでいる特許請求
の範囲第３項記載のスイツチ動作監視用の自己検
査回路。 ７ 前記第１の対及び前記第２の対におけるバウ
ンスに基づく故障指示を除去するために、前記第
１の検査手段及び前記論理手段間に挿間された第
１のデバウンス回路と、前記第２の検査手段及び
前記論理手段間に挿間された第２のデバウンス回
路とをそれぞれ設けた特許請求の範囲第１項記載
のスイツチ動作監視用の自己検査回路。 ８ 検査されているスイツチから検査回路を一時
的に離し、代わりに、前記スイツチの動作を模擬
するリレーに該検査回路を接続する回路を有した
スイツチ動作監視用の自己検査回路の自己検査方
法であつて、 前記自己検査回路は、 共通の接点を有する第１及び第２の接点対を有
し、前記接点対の一方は開いており、他方は故障
でない限り閉じており、前記スイツチの動作を監
視するために、 前記第１の接点対の両端に接続され、前記第１
の接点対が開いているならば第１の値を、前記第
１の接点対が閉じているならば第２の値を有する
第１の出力信号を生成する第１の検査手段と、 前記第２の接点対の両端に接続され、前記第２
の接点対が開いているならば前記第１の値を、前
記第２の接点対が閉じているならば前記第２の値
を有する第２の出力信号を生成する第２の検査手
段と、 前記第１及び第２の検査手段に応答して、前記
第１及び第２の出力信号が等しい値を有するなら
ばエラー信号を生成する論理手段と、 を備え、前記自己検査回路を自己検査するため
に、 (a) 前記第１の接点対の両端から前記第１の検査
手段を切り離し、そして前記第１の接点対が開
いているか閉じているかに無関係に、前記第１
の値又は第２の値の一方を前記第１の出力信号
に導入し、 (b) 前記第２の接点対の両端から前記第２の検査
手段を切り離し、そして前記第２の接点対が開
いているか閉じているかに無関係に、前記第１
の値又は第２の値の一方を前記第２の出力信号
に導入し、 それにより、前記論理手段に対して故意にエラ
ー状態を創成するようにしたスイツチ動作監視用
の自己検査回路の自己検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US849246 | 1986-04-08 | ||
| US06/849,246 US4762663A (en) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | Self-testing monitoring circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62245161A JPS62245161A (ja) | 1987-10-26 |
| JPH0549190B2 true JPH0549190B2 (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=25305394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62084930A Granted JPS62245161A (ja) | 1986-04-08 | 1987-04-08 | スイッチ動作監視用の自己検査回路及びその自己検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4762663A (ja) |
| EP (1) | EP0241270B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62245161A (ja) |
| ES (1) | ES2024505B3 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4832900A (en) * | 1986-02-18 | 1989-05-23 | Westinghouse Electric Corp. | Test tool for a reactor vessel fluid level instrumentation |
| US4992777A (en) * | 1987-08-10 | 1991-02-12 | Omron Tateisi Electronics Co. | Switch device with a trouble detecting and indicating function |
| US4845475A (en) * | 1987-11-17 | 1989-07-04 | The Boeing Company | Automatic testing of position sensing devices employing stored sensed position |
| FR2626403B1 (fr) * | 1988-01-27 | 1990-05-11 | Framatome Sa | Systeme de protection d'un reacteur nucleaire en cas de chute d'un element antireactif |
| US5077521A (en) * | 1989-12-26 | 1991-12-31 | Ncr Corporation | Supply connection integrity monitor |
| US5222684A (en) * | 1990-03-19 | 1993-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tape driving apparatus for tape medium record reproducing apparatus |
| US5448164A (en) * | 1992-12-24 | 1995-09-05 | Delco Electronics Corp. | Electrical test apparatus and method of checking the apparatus |
| FR2705153B1 (fr) * | 1993-05-12 | 1995-07-13 | Senstronic Sa | Dispositif de branchement et de synthese logique d'une pluralite de paires d'elements de commutation. |
| DE19707241C2 (de) * | 1997-02-25 | 2000-05-31 | Pilz Gmbh & Co | Modulares Sicherheitsschaltgerät |
| DE19915234A1 (de) | 1999-04-03 | 2000-10-05 | Moeller Gmbh | Schaltungsanordnung mit Sicherheitsfunktion |
| US6538870B2 (en) * | 2001-02-02 | 2003-03-25 | Eaton Corporation | Circuit breaker and electrical distribution panel employing the same |
| JP2002359289A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | プロセスモニタ回路を備えた半導体装置、その試験方法、並びにその製造方法 |
| DE102005014122A1 (de) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Pilz Gmbh & Co. Kg | Sicherheitsschaltvorrichtung zum sicheren Abschalten eines elektrischen Verbrauchers |
| US20120242357A1 (en) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | Hamilton Sundstrand Corporation | Automatic fault insertion, calibration and test system |
| EP3196913B1 (en) * | 2016-01-20 | 2019-04-10 | Schneider Electric Industries SAS | Relay circuit and method for performing self-test of relay circuit |
| US20180143251A1 (en) * | 2016-11-22 | 2018-05-24 | Sotiraq L Tili | Portable Troubleshooting Relay Electric Testing Device |
| JP6725578B2 (ja) * | 2018-04-09 | 2020-07-22 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| CN108806809B (zh) * | 2018-05-31 | 2024-07-09 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种用于核电站定期试验的系统 |
| JP6781212B2 (ja) * | 2018-08-23 | 2020-11-04 | 矢崎総業株式会社 | 地絡検出装置 |
| CN117250495B (zh) * | 2023-11-16 | 2024-04-26 | 广州三晶电气股份有限公司 | 按键粘连检测装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2440720A1 (de) * | 1974-08-24 | 1976-03-04 | Loos Gmbh Eisenwerk Theodor | Elektrische ueberwachungseinrichtung zur gegenseitigen ueberwachung zweier wechselschaltkontakte |
| DE2614748A1 (de) * | 1976-04-06 | 1977-10-27 | Baum Elektrophysik Gmbh | Schaltung zur funktionsueberwachung eines mittelbar wirkenden schalters |
| US4516076A (en) * | 1982-09-17 | 1985-05-07 | The Singer Company | Fault detection arrangement for relay switching system |
| US4583013A (en) * | 1984-02-13 | 1986-04-15 | Rockwell International Corporation | Oscillator signal detect circuit |
| US4692298A (en) * | 1985-10-18 | 1987-09-08 | Westinghouse Electric Corp. | Analog process control system testing |
| US4664870A (en) * | 1985-10-31 | 1987-05-12 | Westinghouse Electric Corp. | Testable voted logic power interface |
-
1986
- 1986-04-08 US US06/849,246 patent/US4762663A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-04-07 EP EP87303028A patent/EP0241270B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-07 ES ES87303028T patent/ES2024505B3/es not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-08 JP JP62084930A patent/JPS62245161A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62245161A (ja) | 1987-10-26 |
| US4762663A (en) | 1988-08-09 |
| ES2024505B3 (es) | 1992-03-01 |
| EP0241270A1 (en) | 1987-10-14 |
| EP0241270B1 (en) | 1991-08-07 |
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