JPH05501816A - 工作物のエッジを検知する方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 工作物のエツジを検知する方法及び装置本発明は、請求項１または請求項７の前 提概念に記載の、検知位置にたいして相対運動を行なう工作物のエツジを検知す る方法及び装置に関するものである。この種の方法及び装置は米国特許第４８２ ９１９４号公報から知られており、加工布のエツジを検知し、これに応じてミシ ンの作動を制御するためにミシンに使用される。しかし本発明はこの適用分野に 限定されるものではなく、縫製処理機械及び他の繊維処理機械における加工布の エツジの検知にも適用することができる。

フォトインターラブターのような光学的な測定装置を用いて工作物のエツジを自 動的に検出する際の問題は、測定の周辺条件が変化することである。例えば外部 光のような外乱のほかにも、検知位置に工作物のエツジが現われる前において初 期条件が異なることもある。例えば加工布の終端稜を検知する場合には、加工布 が検知位置に到達する前に測定された光成分は、加工布の密度や色のような性質 に非常に依存している。このような種々の初期条件にエツジ検知器の感度を適合 させるためには調整装置を使用するのが望ましい。この調整装置は、調整段階に おいて、工作物のエツジが到達する前に光測定装置の測定範囲、及び／またはエ ツジ検知信号を発生させるための閾値を最適に調整する。

ドイツ特許公開第３６０６２０８号公報から知られている終端稜検知器では、調 整装置は調整段階の間、増幅値をコンピュータで調整することにより測定信号を 最小値以上の一定の参照値へもたらし、表示閾値をある一定量だけこの参照値を 越えるように設定する。測定信号がこの表示閾値を越えたときに、終端稜検知信 号が発せられる。

このようなりＲ整方法が満足に適用できるのは、終端稜を検知すべき縫製物が光 学的に見て十分等質であり、従ってエツジが現われるまで測定信号がその調整さ れた値をほぼ維持する場合である。しかしほとんどの工作物は、該工作物から放 たれる光成分が場所によって非常に異なるのが通常であり、例えば模様を施した 加工布、或いは比較的粗い構造の材料の場合がそうである。このため前記ｔＲ整 方法においては、増幅調整値がなんらかの偶然的な値に設定され、このようにし て設定された表示閾値は、工作物の終端稜が現われたときにだけエツジ検知信号 を発生させるようにするためには高すぎたり、低すぎたりすることがある。

また、一つの工作物の終端稜を検知するばかりでなく。

前稜をも検知することが望ましい場合がある。特にミシンの場合には、例えばポ ケットを縫い付けるときのように、第１の加工布の上に置かれた第２の加工布の 始端と終端とを検知しなければならない。

このような問題を解消するため、冒頭で上げた米国特許第４８２９１９４号公報 に記載の方法では、調整段階の間にまず工作物の一部分（例えば加工布層の、透 過光測定にとって“明るい”単層部分）を、検知位置を通過するように移動させ 、その除虫じる測定信号の変動の極値、即ち極大値と極小値を検出し、第１のメ モリ対に記憶される。次に加工布の他の部分（例えば加工布層の、透過光測定に とって“暗い”二層部分）を、検知位置を通過するように移動させて、同様に測 定信号の極値を検出し、第２のメモリ対に記憶させる。次に、加工布の明るい部 分の“最も暗い”値と、加工布の暗い部分の“最も明るい”値とを選定して、こ れらの値を用いて閾値を算出する。閾値は両値の間にあり、上閾値と下閾値によ って決定される。この二つの閾値は比較装置で設定され、該比較装置は検知段階 において測定信号を受傷し、測定信号が順次両閾値と交差したときにエツジ検知 信号を発生させる。

即ちこの公知の方法の場合、検知用閾値を設定するためには、加工布の二つの領 域、即ち検知されるべきエノジの両側にある部分を、調整段階において連続する 別個の工程で検知位置を通過させるように移動させ、それぞれの部分にたいして 閾値の対を検出しなければならない。

また予め加工布の画部分のうちどちらの部分が明るく、または暗いかを決定して おかねばならない。なぜならそういないと、加工布の最初の移動の際に検出され る極値が、この極値のために設けられているメモリ対に達しないからである。ま た加工布の第２の部分を、検知位置を通過するように移動させる前に、他のメモ リ対を選択するための切り換えを行なわねばならない。

この公知の方法において２、要な、加工布の二つの部分の測光は、比較的時間を 要するばかりでなく、調整段階の開操作者が何度も介入し注意を向けねばならな い。即ち操作者は、調整段階の開始時に、加工布の二つの部分のどちらの部分が より明るいかの決定を行なわねばならないばかりでなく　（この決定は比較的簡 単である）、カロ工布の、その都度望ましいように選択される一方の領域を、２ 回連続して、検知位置を通過するように移動させねばならない。しかもそれぞれ の回において他の領域も移動させねばならない。従ってこれに伴う欠点は、加工 布が互いに縫合されるべき２枚の加工布から成り、一方の加工布の縁の検知され るべきエツジが他方の加工布の上にある場合である。このような場合には、調整 段階の間両加工布を一緒に保持して、その検知されるべきエツジが少なくとも１ 回検知位置を通過するように前進させ、且つ後退させる必要がある。即ち少なく とも１回は縫製方向とは逆の方向へ移動させねばならない。このことはこの種の 方法の自動化を制限するものである。

本発明の課題は、エツジ検知方法を実施するために必要な労力を低減させること である。この課題は、請求項１の特徴部分に記載された構成要件によって解決さ れる。

また、本発明による方法を実施するための装置の特徴は、請求項７に記載されて いる。

本発明の認識は、通常の場合のエツジ検知にたいしては、エツジの前方にある部 分の（不等質性による）明度極値を考慮し、エツジが通過したときの測定信号の 方向の変化に関する情報が与えられる限りにおいてはエツジ後方での光特性を考 慮すれば、検知用閾値を決定するために十分であり、この部分の極値を検出する 必要はないるという点にある。一方エッジの前方にある部分にたいしては、予め 決定される方向（即ち設定されるべき閾値のほうへ）振れる極値ばかりでなく、 逆方向へ振れる極値も閾値算出アルゴリズムに導入される。逆の方向へ振れる極 値は前記公知の方法でも検出されるが、しかし閾値の算出そのものには関与せず 、予め決定される方向へ振れる他の極値を量の比較によって見つけ出すためだけ に用いられるものである。

本発明による方法は、従来の方法に比べて多くの利点を有している。その一つは 、加工布の、エツジの後方にある部分の極値を分析する必要がないので、調整段 階が全体的に短縮され、また簡潔化される。他方、工作物を調整段階の間前後に 移動させる必要がない。なぜなら、極値の検出がエツジの前方にある部分に限定 されているため、調整段階の間に必要な工作物の移動は同一方向であり、次の検 知段階における工作物の運動と連続してしするからである。このため方法の実施 が容易になり、工作物の移動に際しては調整段階においても検知段階におｌ、Ｎ ても同一の送り量が適用されるので、十分な自動化が達成される。調整段階とそ れに続く検知段階への移行は、工作物を加工している間中断なしに、または工作 物の送り量になんらかの影響を与えることなく行なうことができる。

本発明による装置の有利な構成では、透過光測定と反射光測定の切り換えが選択 的に行なわれる。例えば革のように非常に密度の高い材料の終端稜を検知する場 合、または非常に密度の高い加工布の上にある他の加工布のエツジを検知する場 合には、反射光測定が有利である。

また、調整段階の間より強い測定信号をもたらす測定を常時適用するのが有利で ある。

上記の実施例及び他の実施例は従属項に記載されている。次に、本発明の実施例 を添付の図面を用いて説明する。

第１図は　部分的に重ねられそれぞれぎわだった不等質性を有している２枚の加 工布と、両加工布の異なる位置を透過する光のグラフを示し、 第２図は　本発明による装置の１実施例の回路構成図を示し、 第３図は　透過光フォトインターラブターと反射光フォトインターラブターとを 組み合わせたインターラブター装置の原理を説明するための説明図、 である。

第１ａ図に図示した加工布１と２は、明るい部分Ａとくらい部分Ｂとが交互に配 置されている極めて不等質な加工布である。この不等質性は、例えば色模様また は加工布の交互構造によって生じさせることができる。上加工布１はきわだった エツジ３で終わっている。

層を成している加工布１．２が所定の第１の方向において、検知位置を形成して いる透過式フォトインターラブターにたいして相対運動すると、即ち加工布を左 側へ移動させるか、フォトインターラブターを右側へ移動させることによって前 記相対運動を行なわせると、フォトインターラブターの出力側の測定信号は第１ ｂ図に図示したように変化する。重ね合わされている加工布１．２においては比 較的少量の光が透過し、その結果測定信号の振幅は比較的小さい。即ち測定信号 の振幅は、明るい領域Ａによって生じる極大値Ｕ、と、暗い領域Ｂによって生じ る極小値Ｕ、の間で変動する。上加工布１の端部、即ちエツジ３においては、透 過光の強度が変化し、従って測定信号の振幅は高いほうの値へ変化する。これは 、この時点から上加工布２だけを光が透過するからである。

次に測定信号はより高い極小値Ｕ′１とより高い極大値Ｕ’２の間で変動する。

加工布とフォトインターラブターの間の相対運動が逆の方向で行なわれると、第 ｉｂ図のグラフは右側から左側へ経過する。即ち測定信号Ｕはまず極小値Ｕ″１ と極大値Ｕ′２の間で変動し、エツジ３が現われたときに極大値Ｕ′２よりもさ らに低下する。その後測定信号は低い極値Ｕ、とＵ２の間で変動する。

検知は、エツジ３がフォトインターラブターを横切るような瞬間に行なわれる。

加工布１．２が右側から左側へ相対運動する場合には、エツジ３が終端エツジで あり。

測定信号Ｕが以前の極大値Ｕ、よりも高く上昇することによってエツジ３が現わ れたことが判明する。これにたいして加工布１．２が左側から右側へ相対運動す る場合には、エツジ３が前稜であり、測定信号Ｕが以前の最小値Ｕ′、よりも低 く降下したことによってエツジ３が現われたことが判明する。従ってエツジを検 知するため測定信号は、終端エツジの場合には以前の極大値よりも大きく、前稜 の場合には以前の極小値よりも低いような閾値と比較され、測定信号がこの閾値 と交差したとき（前者の場合には閾値を上回り、後者の場合には閾値を下回るン に、エツジ検知信号が発せられる。以下では、第２図を用いてこの検知方法を実 施する装置に関して説明する。

検知位置にはフォトインターラブターが設けられている。フォトインターラブタ ーは、発光ダイオード１３として構成された光源と、フォトダイオード１４とし て構成されている受光器を有している。発光ダイオード１３とフォトダイオード １４の間を、エツジが検知されるべき加工布が横切る。加工布を移動させる代わ りに、発光ダイオード１３とフォトダイオード１４から成るフォトインターラブ ターを定置の加工布にたいして移動させて、加工布のエツジの位置を決定するよ うにしてもよい。図示した例の場合、加工布は、第１ａ図に詳細に図示したよう な不等質の加工布２の上に置かれた不等質の加工布ｌから成る。

フォトダイオード１４は、発光ダイオード１３がら発せられた光のうち、加工布 を透過した光成分を捕捉し、測定増幅器１５の出力に対応する電圧を生じさせる 。発光ダイオード１３は、駆動増幅器１２を介して、所定の周波数を持った発信 器１１により変調され、測定増幅器１５の出力信号は、上記周波数に同調してい る帯域フィルタ１６を介して、発信器１１の周波数に同期している同期整流器１ ７に与えられる。発信器１１と同期整流器１７の間に設けられている遅延素子１ ８は、同期信号が正確な位相で同期整流器１７に生じるように作動時間の補正に 用いる。光の変調とこれに続く同期整流は外乱を押えるために行ないう。この後 に設けられる低域フィルタ１９は整流された測定電圧を滑らかにする。滑らかに された測定電圧は、切り換えスイフチ２０（その機能については後述する）を介 してアナログ／デジタル変換器２１に送られて、連続するデジタル走査値として の測定信号Ｕが形成される。両加工布１，２とフォトインターラブター１３．１ ４とが相対運動を実施する場合、この測定信号はほぼ第１ｂ図に図示したように 変化する。

測定信号Ｕはデジタル比較器２５の第１の入力に達する。デジタル比較器２５の 第２の入力には閾値が入力される。測定信号Ｕが閾値Ｕ、を横切ると、フォトイ ンターラブターに加工布のエツジが現われたことを示す信号（エツジ検知信号） Ｋを比較器２５が出力側から発する。

加工布が不等質であるにもかかわらず、例えばエツジ３のような加工布のエツジ が検知位置にてフォトインターラブター内に現われるときだけエツジ検知信号が 発せられるように閾値ＵＳを設定するため、調整装置が設けられている。調整装 置は極値検出装置２２と、閾値調整装置２３とを有し、加工布のエツジが現われ る前の調整段階の間プログラム制御装置２６によって作動可能である。極値検出 装置２２は、測定信号Ｕの連続する走査値と、加工布のエツジが現われたときの 測定信号の変化の方向を表す方向信号Ｒとを受信する。調整段階の間に受信され る測定信号Ｕの走査値に基づき、極値検出装置２２は、方向信号Ｒによって示さ れる方向に振れる極値Ｕｌと、逆の方向へ振れる極値Ｕ２とを検出する。検出さ れた極値Ｕ１とＵ２は閾値調整装置２３で処理されて、閾値Ｕ、が次のようなレ ベルにもたらされ、即ち方向信号Ｒによって示される方向では極値Ｕ１を越える ようなレベルであって、他方エツジが現われたときの測定信号の振れによってほ ぼ確実に達成されるようなレベルにもたらされる。

このために用いられる閾値調整装置２３のアルゴリズムは、次の式 ％式％） で表される。ここでｍは１よりも小さな正のファクタである。このファクタにた いしては、異なる条件にたいして一様に満足のいく普遍的に有効な値を統計学的 にめられることが判明した。この普遍的に有効な値はほぼ０゜２５であるのが有 利である。上記の式はそのまま前稜の検知にたいしても終端エツジの検知にたい しても有効である。ただし、上述のように二つの極値にはＵ、とＵ２が関係付け られている（Ｕｌは、指示された方向に振れる極値、Ｕ２は、逆方向に振れる極 値）。

さらに第２図には、本発明による装置の有利な構成における諸々の構成要素が図 示されている。例えば第２の光センナはフォトトランジスタ１４ａとして図示さ れている。フォトトランジスタ１４ａは、発光ダイオード１３から発せられた光 のうち、加工布によって検知位置にて反射した成分を受光する。このフォトトラ ンジスタ１４ａにも同様に測定増幅器１５ａと、帯域フィルタ１６ａと、同期整 流器１７ａと、低域フィルタ１９ａとが接続されている。これらの構成要素の機 能は、フォトダイオード１４の出力の後方に配置した構成要素１５゜１６．１７ ．１９の機能と同一である。低域フィルタ１９から発せられる信号は加工布によ って検知位置にて反射した光に対応しているが、この信号は、例えば加工布２が 革のように光を透過しない材料から成り、従ってフォトダイオード１４が加工布 のエツジの前方でも後方でも光を受光しないような場合には、加工布１のエツジ ３を検知する上で、低域フィルタ１９から送られて来る“透過光信号”よりも有 益である。加工布１の光透過性が少ない場合、またはまったく透過しない場合に も、少なくとも終端エツジを検知する場合には透過光測定方式によるエツジ検出 には問題がある。従ってこのような場合には反射光測定方式に切り換える必要が ある。切り換えの判断基準は、透過光信号と反射光信号の振幅を比較することに よって行なう。このために用いられる振幅判別器３０は両低域フィルタ１９と１ ９ａの出力信号を受信し、調整段階が開始されると作動して、より高い振幅の測 定信号を送る出力にその都度切り換えスイッチ２０を設定する。どちらの測定信 号がより強いかの指示を操作者が受ける場合、または処理されるべき加工布の性 質を考慮してどちらの測定方式が優先されるべきかの判断をできるほどの経験を 操作者が持っている場合には、もちろん切り換えを手動で行なうこともできる。

測定方式（透過光測定方式または反射光測定方式）を選択した後、方向信号Ｒに 関する決定も行なわれる。なぜなら、エツジが現われたときに測定信号がどちら の方向に振れるかも測定方式に依存しているからである。この決定はあまり難し くない。なぜなら、当該測定方式にたいして加工布がエツジの後方でより明るく 見えるか、より暗く見えるか、或いはエツジの前方でより明るく見えるか、より 暗く見えるかは、目で簡単に識別できるからである。この場合、選択した測定方 式を表示させるのが有利である。

他の構成では、調整段階の開始時に測定信号Ｕを最も好ましい測定範囲にもたら すことができるように、駆動増幅器１２及び／または測定増幅器１５．１５ａの 増幅ファクタを調整可能にするのが有利である。このことを上記増幅器の制御入 力ＳＴとＳＭによって示唆した。上記増幅器のための制御信号Ｓ７とＳ＆１は、 測定信号Ｕを実際値として受信し、所望の測定範囲の中心にある値を目標値とし て受信する調節装置２７から送られる。

第２図には、極値検出回路２２と、閾値調整装置２３と、比較器２５と、プログ ラム制御装置２６と、調節装置２７が不連続な構成要素群として図示されている 。これらの構成要素群は、それぞれノ＼−ド配線した回路によって実施すること ができる。しかしこれらの構成要素のいくつかまたはすべての機能を、適当なソ フトウェアを備えたマイクロコントローラーによって実施することもできる。こ のことを第２図では、破線で囲んだ枠４０で示した。このようなマイクロコント ローラーは不連続な回路の代わりとして有利に使用される。

次に、第２図に図示したエツジ検知装置の作用を説明する。第１の実施例では“ 手動”調整が行なわれ、第２の実施例では“自動”調整が行なわれる。両実施例 ともミシンに適用され、加工布２の上方にある加工布１の終端エツジ３が検知さ れるべきものとする。なお、フォトインターラブターがオンにされ、方向が選択 され、透過光測定経路１４，１５．１７．１９だけが存在し、アナログ／デジタ ル変換器２１が低域フィルタ１９の出力信号を受けるものとする。まず操作者は 、上加工布２を検知位置にてフォトインターラブターの中へ挿入する。当初駆動 増幅器１２と測定信号増幅器１５とはキー操作せずに最小増幅値に調整され、次 に駆動増幅器１２は、測定信号Ｕが所望の測定範囲に達するまで高増幅値のほう へ調整される。駆動増幅器１２の増幅値を最大に調整してもこの所望の測定範囲 に達しない場合には、測定増幅値１５の増幅値を上げて、測定範囲に到達させる 。この作業はすべてプログラミング制御装置２６と調節装置２７とを用いて、ま たはマイクロコントローラーを用いて完全自動的に行なわれる。

反射光測定経路１４ａ、１５ａ、１６ａ、１７ａ。

１９ａも存在している場合には、例えば透過光測定経路の測定範囲に到達しない ときに、切り換えスイッチ２０を切り換えて同じ処置をこの反射光測定経路を用 いて行なうことができる。この切り換えも自動的に行なうことができる。所望の 測定範囲により早く　（即ちより小さな増幅値で）到達するような測定経路を選 択するために、両測定経路を互いに独立にテストすることもできる。振幅判別器 ３０を使用するとこのテストが自動的に行なわれ、この場合振幅判別器３０は切 り換えスイッチ２ｏを常に、より強い出力信号を発する測定経路へ設定する。

このようにして測定範囲を設定した後、該当する調節機構を停止させ、例えば適 当なキーＪを押すことによって不等質性調整命令を出す。これと同時に極値検出 装置２２が作動する。この時点で操作者は、フォトインターラブターを横切るよ うに上加工布２を手で変位させ、有利には加工布の縫製送り方向に、光学的に区 別される加工布の不等質性の周期に少なくとも等しいような長さだけ１例えば加 工布の一つの模様のリピート長さだけ移動させる。所定の時間が経過した後、極 値検出装置２２は、それまで現われていた測定信号Ｕの両極値Ｕ′、とＵ′２を 閾値調整装置２３に送る。閾値調整装置２３は、前記アルゴリズムに従って比較 器２５に閾値Ｕ、を設定する。

これによって調整過程が終了し、極値検出装置２２がオフにされ、閾値調整装置 ２３が停止される。この時点で操作者は両加工布１と２を縫製すべくミシンを始 動させる。この場合、同時に比較器２５もオンにされ、終端エツジ３が検知位置 に現われたときにエツジ検知信号Ｋが発せられて、このエツジにおける縫製過程 を終了させるべくミシンを作動させる。

上記の手動による調整と“自動的な”調整との大きな違いは、縫製過程の開始前 に操作者が加工布を手で移動させたり、キーを押す必要がないことである。操作 者は加工布１と２、即ち互いに位置が正確になるように整向された加工布１と２ を設置し、ただちに縫製を始める。

極値検出装置２２を作動させる不等質性調整命令は、ミシンのスタートともに作 動し、これと同時に、実施されたステッチ数を計数するカウンタ（図示せず）を 始動させる。このステッチカウンタが予め設定された計数値に達すると、閾値調 整装置２３が作動して、それ迄に検出された閾値Ｕ１とＵ２またはＵ′１とＵ″ ２に基づいて比較器２５に閾値ＵＳを設定する。次に比較器２５がオンにされ、 閾値調整装置２３と閾値検出装置２２が停止される。従って、縫製過程が継続し ている間に加工布のエツジ３が検知位置に現われたときにエツジ検知信号Ｋを発 生させることができる。ステッチカウンタに予め設定されている計数値は、不等 質性の周期長さく例えばリピート長さ）に関する送り量に対応するステッチ数と 少なくと同数であるように選定するのが有利である。

以上は、終端稜を検知するための作動態様を述べたものであるが、上加工布１の 前装を検知するに際しては、上に述べた調整段階における調整はもっばら上加工 布２にたいして行なわれる。この場合の作動は上記の場合と同様であるが、方向 信号Ｒは“逆に”設定される。なぜなら、前装が到達したときの測定信号の振れ が、終端稜が到達したときの測定信号の振れと逆であるからである。

個々の作業工程においてます前装を検知し、次に終端稜を検知する場合には、前 装を検知した後に方向信号Ｒを切り換えて、調整命令を新たに発生させることに より、中間介入の必要なしに全工程を自動化させることができる。このためには 、方向信号発生器をフリップフロップ回路とし、その状態をエツジ検知信号によ ってその都度交替させるようにするのが好ましい。このようにすると、連続する 多数の前装及び後装を検知することができ、手動によるなんらかの中間調整また は中断の必要がない。

第３図は、第２図の回路装置に使用することができる、透過光フォトインターラ ブターと反射光インターラブターとを組み合わせたインターラブターの実施例を 示すものである。位置固定の下敷き５０（例えばミシンの針板）に埋設されるよ うに光電受光体が設けられている。この光電受光体は例えば第２図に図示したフ ォトダイオード１４である。この下敷き５０からある程度離れていわゆる反射ス キャナー５２が設けられている。反射スキャナー５２は送光及び受光を行なう。

この反射スキャナー５２は例えば発光ダイオード１３及びフォトトランジスタ１ ４ａを含むことができ、これら両要素は互いに密接して下敷き５０にたいして指 向せしめられる。一方直接の光の入射を防止するため、互いに遮蔽されている。

反射スキャナーの代わりにガラスファイバー光学系または反射カップリングを使 用することもできる。反射スキャナー５２と下敷き５０との間隔は、例えば加工 布１と２の検知されるべきエツジを備えた材料が良好に通過することができるよ うに選定されている（ミシンの場合例えばほぼ５　ｍ　ｍである）。

Ｆｊｇ、７ Ｆｉｇ、３ 補正書の写しく翻訳文）提出書（特許法第１８４条の８）平成　４年　４月１６ 日酸

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．検知位置にたいして相対運動を行なう工作物のエッジを、検知位置を照明す る送光器と少なくとも一つの受光器とを有する測定装置を用いて検知する方法で あって、検知位置から出た光成分を測定して対応する測定信号を発生させ、その 際次の工程を実施し、即ち準備調整過程の間に工作物を検知位置を通過するよう に移動させ、その際生じる測定信号の変動の極値を検出し、検出した極値から、 工作物のエッジが現われたときに所定の方向において測定信号と交差することが 期待されるような閾値を算出させ、検知段階の間に、測定信号を算出した閾値と 比較することにより、測定信号が前記閾値を通過したときにエッジ検知信号を発 生させるようにした前記方法において、 調整段階の間、工作物の、エッジの前方にある部分だけを、検知位置を通過する ように移動させること、 Ｕ１を所定の方向へ振れる極値、Ｕ２を逆の方向へ振れる極値、ｍを１よりも小 さい正のファクタとしたとき、閾値として、Ｕ５＝Ｕ１−ｍ（Ｕ２−Ｕ１）を満 たすようなただ一つの閾値Ｕ５を算出することを特徴とする方法。 ２．ｍがほぼ０．２５に等しいことを特徴とする、請求項１に記載の方法。 ３．調整段階の間、検知位置にある工作物の前記部分を、該部分の光学的に判別 可能な不等質性の周期に少なくとも等しい長さだけ移動させることを特徴とする 、請求項１または２に記載の方法。 ４．工作物が単層または複層の加工布であり、予め与えられる縫製ステッチ回数 が実施されている間であって加工布のエッジが到達する前に調整段階を開始させ ることを特徴とする、請求項１から３までのいずれか１つに記載の方法。 ５．測定装置の作業点を設定するため、測定信号が所定の測定範囲に達するまで 送光器の出力を調整し、受光器の増幅値が低く設定されているときに送光器の出 力を増大させること、送光器の出力が最大であるときに測定信号が測定範囲に達 しない場合に、測定信号が測定範囲に達するまで受光器の増幅値を増大させるこ とを特徴とする、請求項１から４までのいずれか１つに記載の方法。 ６．二つの受光器のうち第１の受光器が工作物を透過する光成分を受光し、第２ の受光器が工作物によって反射される光成分を受光し、調整段階の開始時により 強い測定信号を発するほうの受光器を選択することを特徴とする、請求項１から ５までのいずれか１つに記載の方法。 ７．請求項１に記載の方法を実施するための装置であって、測定信号を発生させ る測定装置のほかに、調整段階の間に作動可能で、測定信号の極値を検出し、且 つ閾値を算出する調整装置と、調整段階の終了時に作動可能で、算出した閾値を 設定するための閾値調整装置と、検知段階の間に作動可能で、測定信号を算出し た閾値と比較させ、且つ測定信号が設定した閾値を通過したときにエッジ検知信 号を発生させる比較装置とを有している前記装置において、エッジに生じる測定 信号の変化の方向を表す方向信号（Ｒ）を発生させる方向信号発生器（２８）が 設けられていること、 Ｕ１を所定の方向へ振れる極値、Ｕ２を逆の方向へ振れる極値、ｍを１よりも小 さい正のファクタとしたとき、前記調整装置が、閾値としてＵ５＝Ｕ１−ｍ（Ｕ ２−Ｕ１）を満たすようなただ一つの閾値Ｕ５を発することを特徴とする装置。 ８．ｍがほぼ０．２５に等しいことを特徴とする、請求項７に記載の装置。 ９．測定装置の測定信号を設定するための調整素子として、調整可能な増幅器が 送光器の駆動回路内に設けられ、他の調整素子として、調整可能な増幅器（１５ ）が受光器（１４−１９）内に設けられていることを特徴とする、請求項７また は８に記載の装置。 １０．調整素子（１２；１５）の少なくとも一方が、選択的に御可能な調節回路 （２７）の構成要素であり、調節回路（２７）は、調整量として測定信号（Ｕ） を受信し、目標値として測定範囲の中間を表す値を受信することを特徴とする、 請求項７から９までのいずれか１つに記載の装置。 １１．測定装置の送光器（１１−１３）が、所定周波数の変光を生じさせる光源 （１３）であって発信器（１１）によって制御される光源（１３）を有している こと、受光器（１４−１９）が、発信器（１１）に同期している同期整流器（１ ７）を有していることを特徴とする、請求項７から１０までのいずれか１つに記 載の装置。 １２．同期整流器（１７）の前に帯域フィルタ（１６）が接続されていることを 特徴とする、請求項１１に記載の装置。 １３．同期整流器（１７）の後に低域フィルタ（１９）が接続されていることを 特徴とする、請求項１１または１２に記載の装置。 １４．二つの受光器（１４−１９；１４ａ−１９ａ）が設けられ、第１の受光器 が工作物（１，２）を透過した光成分を受光し、第２の受光器が工作物によって 反射された光成分を受光すること、両受光器を選択的に切り換えるための装置（ ２０）が設けられていることを特徴とする、請求項７から１３までのいずれか１ つに記載の装置。 １５．切り換え装置（２０）に振幅判別器（３０）が接続され、該振幅判別器（ ３０）は、両受光器（１４−１９；１４ａ−１９ａ）の出力に接続され、且つよ り強い測定信号を発する受光器を選択するために切り換え装置に制御命令を発す ることを特徴とする、請求項１４に記載の装置。 １６．加工物が縫製されるべき加工布であり、ステッチカウンタを備えたプログ ラム制御装置（２６）が設けられ、該プログラム制御装置（２６）は、調整装置 （２２，２３）のオンにより始動させ且つ縫製ステッチを予め設定可能な数量だ けカウントした後調整装置をオフにさせると共に比較装置（２５）をオンにさせ ることを特徴とする、請求項７から１５までのいずれか１つに記載の装置。 １７．プログラム制御装置（２６）が、調整装置（２２，２３）を再びオンにさ せるエッジ検知信号（Ｋ）に応答することを特徴とする、請求項７から１６まで のいずれか１つに記載の装置。 １８．プログラム制御装置（２６）が、方向信号発生器（２８）としての双安定 装置を有し、該双安定装置の切り換え状態が方向信号（Ｒ）を決定することを特 徴とする、請求項７から１７までのいずれか１つに記載の装置。 １９．双安定装置（２８）が手動でセット及びリセット可能であることを特徴と する、請求項１８に記載の装置。 ２０．双安定装置（２８）の切り換え状態がエッジ検知信号（Ｋ）によって切り 換え可能であることを特徴とする、請求項１８または１９に記載の装置。 ２１．測定信号（Ｕ）をデジタル形式に変換するアナログ／デジタル変換器（２ １）が設けられていること、比較装置（２５）と調整装置（２２，２３）とがデ ジタルマイクロコントローラとして構成されていることを特徴とする、請求項７ から２０までのいずれか１つに記載の装置。 ２２．プログラム制御装置もマイクロコントローラとして構成されていることを 特徴とする、請求項６から１９までのいずれか１つまたは請求項２１に記載の装 置。