JPH0553205B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0553205B2 JPH0553205B2 JP4344887A JP4344887A JPH0553205B2 JP H0553205 B2 JPH0553205 B2 JP H0553205B2 JP 4344887 A JP4344887 A JP 4344887A JP 4344887 A JP4344887 A JP 4344887A JP H0553205 B2 JPH0553205 B2 JP H0553205B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- measured
- basis weight
- thickness
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本発明は放射線を用いて紙、プラスチツク、ゴ
ムなどの坪量（厚さ）を測定する放射線応用測定
装置に関する。
ムなどの坪量（厚さ）を測定する放射線応用測定
装置に関する。
＜従来の技術＞
放射線（例えばβ線）が物質層を通過すると、
電離作用や励起作用等によつて次第にエネルギー
を失つて減衰し、更にこの様な非弾性散乱を多数
回受けて進行方向が変化する。従つて物質層の厚
さが増すに伴い透過するβ線の数は減少する。こ
の様な原理を応用し、シート状の種々の物質の厚
さを測定する装置が知られている。
電離作用や励起作用等によつて次第にエネルギー
を失つて減衰し、更にこの様な非弾性散乱を多数
回受けて進行方向が変化する。従つて物質層の厚
さが増すに伴い透過するβ線の数は減少する。こ
の様な原理を応用し、シート状の種々の物質の厚
さを測定する装置が知られている。
この様な放射線応用測定装置において、坪量
（面積密度ｇ／m2）をＢとし、β線が物質を透過
する前後における放射線検出器の出力電流I0およ
びＩの関係は Ｉ＝I0e-〓B … μ；物質の質量吸収係数 に近似することが出来る。更に設定坪量（既知の
基準板）により校正し計算機で演算することによ
りＢ値を求めている。
（面積密度ｇ／m2）をＢとし、β線が物質を透過
する前後における放射線検出器の出力電流I0およ
びＩの関係は Ｉ＝I0e-〓B … μ；物質の質量吸収係数 に近似することが出来る。更に設定坪量（既知の
基準板）により校正し計算機で演算することによ
りＢ値を求めている。
第４図はこの様な放射線応用測定装置の従来技
術の原理構成を示すもので、１０は放射線（β
線）源、２０は放射線検出器（以下、単に検出器
という）、３０はβ線源と検出器の間に配置され
たシート状の被測定体である。
術の原理構成を示すもので、１０は放射線（β
線）源、２０は放射線検出器（以下、単に検出器
という）、３０はβ線源と検出器の間に配置され
たシート状の被測定体である。
＜発明が解決しようとする問題点＞
上記従来の放射線応用測定装置において、β線
源から出射したβ線は被測定体により後方に散乱
されるが、この量は被測定体の組成（原子番号）
と坪量（厚さ）の違いにより大きく変化する。こ
のため、ある材質の校正用基準板のμを基準と
し、他の材質の被測定体を測定した場合、測定値
と実際の坪量とが異なるという問題があつた。
源から出射したβ線は被測定体により後方に散乱
されるが、この量は被測定体の組成（原子番号）
と坪量（厚さ）の違いにより大きく変化する。こ
のため、ある材質の校正用基準板のμを基準と
し、他の材質の被測定体を測定した場合、測定値
と実際の坪量とが異なるという問題があつた。
この原因は式のμが被測定体の組成と坪量に
より変化するためで、組成と坪量（厚さ）が大き
く異なる被測定体に対しては、それぞれその被測
定体と同程度の材質と坪量を有する既知の校正用
基準板の坪量を測定して校正する必要があつた。
より変化するためで、組成と坪量（厚さ）が大き
く異なる被測定体に対しては、それぞれその被測
定体と同程度の材質と坪量を有する既知の校正用
基準板の坪量を測定して校正する必要があつた。
第５図はこの様な従来のβ線厚さ計において、
放射線として 85Krを用い、放射線源を被測定体
の間隔を略30mm程度とし、式によりポリエステ
ルフイルムの基準板を用いてポリエステルフイル
ムの検量線を求め、次にAlの基準板を用いてAl
の検量線を求め、同じくTiの基準板を用いてTi
の検量線を求め、縦軸をμi／μp（ｉ＝Tiまたは、
Al、ｐ＝ポリエステルフイルム）とし、横軸を
坪量としたときの関係を示す図である。図中、点
線は検出器として電離箱を用いた場合であり、実
線は半導体（CdTe）検出器を用いた場合を示し
ている。
放射線として 85Krを用い、放射線源を被測定体
の間隔を略30mm程度とし、式によりポリエステ
ルフイルムの基準板を用いてポリエステルフイル
ムの検量線を求め、次にAlの基準板を用いてAl
の検量線を求め、同じくTiの基準板を用いてTi
の検量線を求め、縦軸をμi／μp（ｉ＝Tiまたは、
Al、ｐ＝ポリエステルフイルム）とし、横軸を
坪量としたときの関係を示す図である。図中、点
線は検出器として電離箱を用いた場合であり、実
線は半導体（CdTe）検出器を用いた場合を示し
ている。
図によればポリエステルフイルムによる検量線
とTiやAlによる検量線では、例えば坪量100
（ｇ／m2）以下ではTiの場合1.5倍以上、Alの場
合1.2倍以上の誤差が生じ、坪量500（μ／mm2）で
は1.1〜1.2程度の誤差が生じていることが分る。
とTiやAlによる検量線では、例えば坪量100
（ｇ／m2）以下ではTiの場合1.5倍以上、Alの場
合1.2倍以上の誤差が生じ、坪量500（μ／mm2）で
は1.1〜1.2程度の誤差が生じていることが分る。
この様な誤差は紙等の坪量の管理を行う場合で
も、紙の灰分（酸化チタン、炭酸カルシウム、タ
ルク等）の含有料と坪量の違いに基づいて測定誤
差が発生することを示している。
も、紙の灰分（酸化チタン、炭酸カルシウム、タ
ルク等）の含有料と坪量の違いに基づいて測定誤
差が発生することを示している。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みて成され
たもので、放射線を用いてその透過量を測定し坪
量（厚さ）等を求める装置において、被測定体の
組成（成分；原子番号）と坪量（厚さ）の違いに
よる測定誤差の少ない放射線応用測定装置を実現
することを目的とする。
たもので、放射線を用いてその透過量を測定し坪
量（厚さ）等を求める装置において、被測定体の
組成（成分；原子番号）と坪量（厚さ）の違いに
よる測定誤差の少ない放射線応用測定装置を実現
することを目的とする。
＜問題点を解決するための手段＞
上記問題点を解決するための本発明の構成は、
放射線源から放射され被測定体を透過してくる放
射線を放射線検出器により検出し、前記測定体の
坪量の測定を行う放射線応用測定装置において、
前記放射線源と被測定体または前記被測定体と放
射線検出器の間に放射線の後方散乱が略飽和に達
する程度の吸収板を配置したことを特徴とするも
のである。
放射線源から放射され被測定体を透過してくる放
射線を放射線検出器により検出し、前記測定体の
坪量の測定を行う放射線応用測定装置において、
前記放射線源と被測定体または前記被測定体と放
射線検出器の間に放射線の後方散乱が略飽和に達
する程度の吸収板を配置したことを特徴とするも
のである。
＜実施例＞
第１図は本発明の一実施例を示す要部構成図で
あり、第４図と同一要素には同一符号を付してあ
る。図において５０は吸収板であり、従来例との
差違はこの吸収板の有無である。この吸収板は放
射線が照射される検出部分の少なくとも有効面積
を覆つて配置され（図では検出器２０の窓を覆つ
て固定されている、）その厚さはβ線の強さに応
じて適宜調整するが、β線の最大飛程の約1/5の
厚さより大きくする（これは吸収板による飽和後
方散乱が実験的に最大飛程の約1/5の厚さとなる
ことによる）。
あり、第４図と同一要素には同一符号を付してあ
る。図において５０は吸収板であり、従来例との
差違はこの吸収板の有無である。この吸収板は放
射線が照射される検出部分の少なくとも有効面積
を覆つて配置され（図では検出器２０の窓を覆つ
て固定されている、）その厚さはβ線の強さに応
じて適宜調整するが、β線の最大飛程の約1/5の
厚さより大きくする（これは吸収板による飽和後
方散乱が実験的に最大飛程の約1/5の厚さとなる
ことによる）。
上記構成によればβ線源１０から出射されたβ
線は被測定体３０で散乱、吸収された後再度吸収
板５０で散乱、吸収される。この吸収板の後方散
乱は被測定体にβ線が入射した際に被測定体の厚
さが厚くなるに従つて変化する後方散乱に重畳し
て検出器に入射するβ線強度に影響を与える。と
くに被測定体が薄い場合は被測定体の後方散乱は
減少するが、吸収板による後方散乱は常に一定で
ある。その結果相対的に後方散乱の被測定体の厚
さによる変化分が小となる。
線は被測定体３０で散乱、吸収された後再度吸収
板５０で散乱、吸収される。この吸収板の後方散
乱は被測定体にβ線が入射した際に被測定体の厚
さが厚くなるに従つて変化する後方散乱に重畳し
て検出器に入射するβ線強度に影響を与える。と
くに被測定体が薄い場合は被測定体の後方散乱は
減少するが、吸収板による後方散乱は常に一定で
ある。その結果相対的に後方散乱の被測定体の厚
さによる変化分が小となる。
被測定体の組成が異なる場合は後方散乱は原子
番号が重いほど大きくなるため、同じ坪量であつ
ても被測定体を透過するβ線強度は変化する。こ
のとき吸収板にAl、Ti等を用いればポリエステ
ルフイルム等の原子番号が小さい物質で構成され
る被測定体に対しては吸収板による散乱の方が支
配的になる。その結果、吸収板による後方散乱は
常に一定であるため、被測定体の組成が変化して
も散乱による透過β線に与える変化は小となる。
番号が重いほど大きくなるため、同じ坪量であつ
ても被測定体を透過するβ線強度は変化する。こ
のとき吸収板にAl、Ti等を用いればポリエステ
ルフイルム等の原子番号が小さい物質で構成され
る被測定体に対しては吸収板による散乱の方が支
配的になる。その結果、吸収板による後方散乱は
常に一定であるため、被測定体の組成が変化して
も散乱による透過β線に与える変化は小となる。
第２図は被測定体としてTi、Alを用い、式
のμをポリエステルフイルムの検量線を基準と
し、吸収板を坪量400.3ｇ／m2のAlとした時の
μi／μpの坪量との関係を示すもので坪量100ｇ／
m2以下での誤差はTiで1.3倍以下、Alでは1.1倍以
下となり、坪量200ｇ／m2ではTiで1.12倍程度Al
では1.1倍以下と誤差が少なくなつている。
のμをポリエステルフイルムの検量線を基準と
し、吸収板を坪量400.3ｇ／m2のAlとした時の
μi／μpの坪量との関係を示すもので坪量100ｇ／
m2以下での誤差はTiで1.3倍以下、Alでは1.1倍以
下となり、坪量200ｇ／m2ではTiで1.12倍程度Al
では1.1倍以下と誤差が少なくなつている。
第３図は同じく吸収板をAlとし、坪量を766.2
ｇ／m2とした場合を示すもので、吸収板の坪量を
400.3ｇ／m2とした場合に比較しμi／μpの値が更
に１に近付いていることが分る。
ｇ／m2とした場合を示すもので、吸収板の坪量を
400.3ｇ／m2とした場合に比較しμi／μpの値が更
に１に近付いていることが分る。
なお、上記実施例においては被測定体と検出器
の間に吸収板を配置したがβ線源と被測定体の間
に吸収板を配置しても同様の効果を得ることが出
来る。
の間に吸収板を配置したがβ線源と被測定体の間
に吸収板を配置しても同様の効果を得ることが出
来る。
また、本実施例では放射線をβ線として説明し
たがβ線に限ることなく、同様の効果を有する他
の放射線であつてもよい。
たがβ線に限ることなく、同様の効果を有する他
の放射線であつてもよい。
＜発明の効果＞
以上、実施例とともに具体的に説明したように
本発明によれば、被測定体の組成（成分；原子番
号）と坪量（厚さ）の違いによる測定誤差の少な
い放射線応用測定装置を実現することが出来る。
本発明によれば、被測定体の組成（成分；原子番
号）と坪量（厚さ）の違いによる測定誤差の少な
い放射線応用測定装置を実現することが出来る。
第１図は本発明の一実施例を示す原理構成図、
第２、第３図は吸収板を用いた場合の坪量とμi／
μpの関係を示す図、第４図は従来例を示す原理
構成図、第５図はポリエステルフイルムの質量吸
収係数（μp）を基準として他の被測定体の質量
吸収係数（μi）を測定した時の各坪量に対する吸
収係数の誤差（μi／μp）を示す図である。 １０…β線源、２０…放射線検出器、３０…被
測定体、５０…吸収板。
第２、第３図は吸収板を用いた場合の坪量とμi／
μpの関係を示す図、第４図は従来例を示す原理
構成図、第５図はポリエステルフイルムの質量吸
収係数（μp）を基準として他の被測定体の質量
吸収係数（μi）を測定した時の各坪量に対する吸
収係数の誤差（μi／μp）を示す図である。 １０…β線源、２０…放射線検出器、３０…被
測定体、５０…吸収板。
Claims (1)
- １ 放射線源から放射され被測定体を透過してく
る放射線を放射線検出器により検出し、前記被測
定体の坪量の測定を行う放射線応用測定装置にお
いて、前記放射線源と被測定体または前記被測定
体と放射線検出器の間に放射線の後方散乱が略飽
和に達する程度の吸収板を配置したことを特徴と
する放射線応用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4344887A JPS63210608A (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 放射線応用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4344887A JPS63210608A (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 放射線応用測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63210608A JPS63210608A (ja) | 1988-09-01 |
| JPH0553205B2 true JPH0553205B2 (ja) | 1993-08-09 |
Family
ID=12663983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4344887A Granted JPS63210608A (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 放射線応用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63210608A (ja) |
-
1987
- 1987-02-26 JP JP4344887A patent/JPS63210608A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63210608A (ja) | 1988-09-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102488229B1 (ko) | 복합 시트 중량 결정용 장치 | |
| US3766383A (en) | Techniques and apparatus for calibrating the kilovoltage indicator on diagnostic x-ray generators | |
| JPS6235054B2 (ja) | ||
| JPH02304898A (ja) | Ｘ線測定装置 | |
| US3412249A (en) | Backscatter thickness measuring gauge utilizing different energy levels of bremsstrahlung and two ionization chambers | |
| Spowart | Measurement of the gamma sensitivity of granular and glass neutron scintillators and films | |
| JPH0553205B2 (ja) | ||
| Akkuş et al. | Dependence of albedo factors on mean atomic number for 662 keV gamma photons | |
| JP2002510999A (ja) | 対象物の放射線像の撮像にあたり撮像線量を測定するための方法および装置 | |
| Dubuque et al. | Backscatter factors in the mammographic energy range | |
| JPH0329410B2 (ja) | ||
| EP0206735A3 (en) | Coating weight and thickness gauges | |
| Hawkesworth | Films for neutron radiography: an investigation of film-intensifying screen image recorders | |
| JPS6333096B2 (ja) | ||
| JPH05149775A (ja) | 放射線応用測定装置 | |
| SE8403403D0 (sv) | Forfarande for metning av silikonbeleggningsmengd pa papper eller kartong | |
| Christensen et al. | Energy and angular response of TL dosemeters for beta ray dosimetry | |
| JP2785848B2 (ja) | 結晶基板の内部歪み測定方法 | |
| JP2006184183A (ja) | 物理量測定装置及びこの装置を用いた物理量測定方法 | |
| JPS5670443A (en) | Measuring device by using x ray | |
| JPH02266208A (ja) | 膜厚測定方法 | |
| JPS592487Y2 (ja) | 螢光ｘ線による鍍金厚測定装置 | |
| JP2780324B2 (ja) | Ｘ線膜厚計 | |
| JP2725346B2 (ja) | 三成分を等感度化した灰分計 | |
| JPS5746146A (en) | Continuous measurement device for ash contained in paper |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |