JPH0555110A - 微細パタン投影露光方法および装置 - Google Patents

微細パタン投影露光方法および装置

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JPH0555110A
JPH0555110A JP3235753A JP23575391A JPH0555110A JP H0555110 A JPH0555110 A JP H0555110A JP 3235753 A JP3235753 A JP 3235753A JP 23575391 A JP23575391 A JP 23575391A JP H0555110 A JPH0555110 A JP H0555110A
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pattern
projection
light
projection exposure
exposure apparatus
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JP3235753A
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English (en)
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Emi Tamechika
恵美 為近
Kazuhiko Komatsu
一彦 小松
Seitaro Matsuo
誠太郎 松尾
Yoshinobu Takeuchi
良亘 竹内
Katsuyuki Harada
勝征 原田
Yoshiaki Mimura
義昭 三村
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NTT Inc
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 形成しようとするパタンに応じて入射光束の
広がり度と傾き度を設定することにより良好な微細パタ
ンを形成するとともに、入射光束の広がり度や傾き度を
パタンやプロセスに応じて変えることができるようにす
る。 【構成】 投影露光装置において2次光源の射出部の開
口絞りを着脱可能とするか、あるいは開口絞りそれ自体
に開口面積調整機能を持たせることによって、入射光束
の広がり度を調節可能とする。また、コンデンサレンズ
11の倍率を可変とし、光軸に沿って移動可能とするこ
とにより、入射光束の傾き度をある範囲内で任意に、も
しくはあらかじめ設定した複数の角度に調節可能とす
る。これらにより、パタン形状の特性に応じて光束の広
がり度を調節し、パタン寸法と前記広がり度に応じて光
束の傾き度を調節して、通常の露光装置より微細なパタ
ンをそのパタン寸法に合った最大のプロセス裕度をもっ
て良好なパタンを安定して形成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI等の微細パタン
を投影レンズを用いてウエハ(基板)上に形成するとき
の微細パタン形成方法いわゆる投影露光方法およびその
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりLSI等の微細パタンを形成す
るための投影露光装置には、高い解像力が要求されてい
る。そのため、最近の投影露光装置の投影レンズは、光
の波長から決まる理論限界に近い解像度を有している。
それにもかかわらず、近年のLSIパタンの微細化に対
応するため、さらに高解像化が要求されている。この要
求に答えるため近年、レチクル上の隣合う光透過部に1
80度に近い位相差を設けることにより遮光部での光強
度を零に近づける位相シフト法が提案され、解像度が向
上することが示された。しかし、位相シフト法にはレチ
クル製作と検査の困難さや、効果的なシフタ配置の難し
さなどの欠点があった。
【0003】これに対して、同一出願人は、微細パタン
の投影露光装置においてレチクルに入射する光を投影光
学系の開口数に対応した角度だけ光軸から傾けて照射し
て露光する方法を提案している(特願平3−99822
号)。この方法では位相シフト法と同等の解像度向上が
可能であることが理論的にかつ数値的に示された。この
方法について図7を用いて簡単に説明する。
【0004】図7(a)は同一出願人にて提案された斜入
射投影法を、図7(b)は従来の投影法を示している。従
来の投影法においては、図7(b) に示すように入射光I
(波数k0)はレチクル31の面に垂直に入射し、光軸
の両側に回折光(波数k1)を生ずる。レチクル31下
部の開口絞り(アパーチャ)32により、図の投影系を
通過することの出来る最大波数はk1 となり、これより
波数の大きい光すなわち2π/k1 より短い周期のパタ
ンによる回折光は遮られてしまう。ここで、その回折角
をα′とすると、 k1=k0・sinα′ (1) であるから、最小解像寸法は2π/(k0・sin
α′)の1/2となる。
【0005】一方、図7(a)に示す斜入射投影法におい
ては、入射光I(波数k0)の直進により得られる0次
光が投影系開口絞り32の最外周を通るような傾きを持
つ時、図に示すごとく回折角2α′をもつ回折光と0次
光とが最も高い解像度を与える。この回折光の波数は、 k1′=k0・sin(2α′) ≒2k0・sin(α′) (2) と近似できるから最小解像寸法は2π/(2k0 ・si
nα′)の1/2、すなわち従来の露光法に比べて1/
2の寸法が解像できることになる。
【0006】すなわち、先願に係る前記特願平3−99
822号では、レチクルを照射する光を光軸に対して傾
けることによって、より大きな回折角の光が通過するの
で解像度が向上し、0次光が最外周を通るとき最も大き
な回折角の光を通すことができるので、最大の解像度が
実現できるということが示された。
【0007】上述の議論はレチクル照射光が完全にコヒ
ーレントな点光源の場合に無限に長い線・間隔パタンに
ついて成り立つが、実際の露光装置では光源が有限の大
きさを持つため部分コヒーレントな扱いが必要となる。
ここでは、簡単のため部分コヒーレントな場合の可干渉
性については正確な議論は避け、光源が有限の大きさを
持つことのみを考慮する。ここで、光源が有限の大きさ
を持つときの縮小投影露光における斜入射法の記述のた
めに光源の傾き度を表わす規格化入射角Rと光源のコヒ
ーレンシィに対応する光束の広がり度σDを定義する。
【0008】 R=m・sinβ/NA (3) σD=m・sinβ′/NA (4)
【0009】ここで、mは縮小倍率、βは入射光束中心
の光軸からの傾き角、β′は光束の広がり角で、NAは
投影系の開口数である。この定義によれば、投影系の開
口数に対応した傾き度はR=1で表わされる。
【0010】光源が有限の大きさを持つ場合でも、光源
の中心からの光がレチクルに垂直に入射する場合に比べ
て斜めに入射する場合の方が高い解像度が得られるとい
う性質は、上の議論の類推から明かである。ただし点光
源の場合と異なりR=1の場合、σD の値が零でないた
め、最も傾きの大きい入射光においては、その0次光は
投影系の開口絞りによって遮られる。0次光の一部が遮
られることは解像度向上効果に悪影響を及ぼし、R=1
のときに解像度は最高とはならない。光束はR−σD
らR+σDの範囲に分布しているから、R+σD が1を
越えない範囲で1に近づくようなRとσD の組合せが無
限に長い線間隔パタンでは解像度向上に最大の効果を発
揮すると考えられる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】線間隔パタンの中央部
のみについて考慮したここまでの議論では、Rの値を大
きくして解像度を上げるためにはσD 値が小さいほどよ
いという結果となる。しかし、σが小さいということは
光源の有効面積が小さいことを意味し、照度の低下によ
り露光時間が長くなるという問題がある。またMTFの
周波数特性はσが零に近づくと高周波成分が急激に零に
なる。このためパタンの端などでその可干渉性のために
光強度分布が波打ってパタンの端が所望の形状にパタン
形成されなくなる。パタン端部などを比較的良好に形成
すうためにはMTFの周波数特性においてMTFが零に
なる近傍での微係数が小さいことが望ましく、このよう
なMTFの特性はσ値が有限の値を持つことで実現され
る。
【0012】通常照明による露光の場合と角度を固定し
た斜入射照明の両者の場合について、MTFの周波数特
性を図6に定性的に示した。ここで、図6(a) は垂直入
射の場合、図6(b)は斜入射(0次光フィルタ)の場合
である。斜入射法のコヒーレントな場合(σD =0)の
MTFは、そのままでは図6(b) の特性b−1に示すよ
うに周波数零の近傍で急激に0.5に下がるが、これは
レチクルを通過した0次光の重なりによるもので、投影
レンズの瞳の周辺部すなわち開口絞りの内側に透過率減
衰フィルタをつけることにより回避できる。このフィル
タを設けたσD =0の場合のMTFが特性b−2であ
る。
【0013】これに対して、フィルタのついた有限なσ
D の場合のMTFは、特性b−3のように比較的滑らか
に零になる。LSIのパタンにおいては、線間隔パタン
に近いものが存在することが多いが、それは当然有限の
長さの有限本の線パタンからできており、線の端部や大
面積のパタンも同時に存在している。従ってLSIにお
ける様々なパタンを解像しようとすると、σ値は必ずし
も小さい方がよいとは言い切れない。通常露光ではおよ
そσ=0.5が最適値とされ、多くの投影露光装置に採
用されている。斜入射露光の場合にはパタン及び光源形
状に応じて0.05〜0.5の間に最適値が存在すると
考えられる。
【0014】一方、斜入射照射における傾き度について
は、R=1もしくはR+σD =1の場合にレンズの最外
周を利用して結像するため最も高い解像度が得られると
考えられるが、実際のパタンにおいて、最も細いパタン
が例えば0.3μmであれば、それ以下のサイズの解像
度を持つ必要性は低く、むしろ最高解像度0.3μmに
対して焦点深度が深い,露光量マージンが大きいなど、
プロセス裕度が増すことの方が重要である。
【0015】これまで斜入射照明方式を用いる露光装置
としては、その傾き角を固定する形式のものしか提案さ
れていなかった。すなわちσD がある値に固定されれ
ば、それに伴い最大解像度を与えるようなRの値を決め
てその傾き度に固定した装置を製造するという方法であ
るが、上に述べたようにパタンに応じて最適なσD 及び
Rの値は異なる場合があるので、固定方式では必ずしも
最大のパタン形成能力を発揮できるとは限らないという
問題点があった。
【0016】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、形成しようとするパタンに応じて入
射光束の広がり度と傾き度を設定することにより良好な
微細パタンを形成するとともに、入射光束の広がり度や
傾き度をパタンやプロセスに応じて変えることができる
微細パタン投影露光方法および装置を提供することにあ
る。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、マスク上のパタンを投影光学系を介して
ウエハ上に投影露光する投影露光装置において、2次光
源射出部の開口絞りを着脱可能とするか、あるいは開口
絞りそれ自体に開口面積調整機能を持たせ、コンデンサ
レンズの倍率を可変とするとともに光軸に沿って移動可
能となるように設定することを主要な特徴とするもので
ある。
【0018】
【作用】本発明においては、2次光源の射出部の開口絞
りを着脱可能とするか、あるいは開口絞りそれ自体に開
口面積調整機能を持たせることにより、入射光束の広が
り度が調節可能となり、またコンデンサレンズの倍率を
可変とし、光軸に沿って移動可能とすることにより、入
射光束の傾き度をある範囲内で任意にもしくはあらかじ
め設定した複数の角度に調節可能となる。これらにより
パタン形状の特性に応じて光束の広がり度を調節し、パ
タン寸法と前記広がり度に応じて光束の傾き度を調節し
て、通常の露光装置より微細なパタンをそのパタン寸法
に合った最大のプロセス裕度をもって良好なパタンを安
定して形成することができる。
【0019】
【実施例】以下本発明の実施例について図を用いて説明
する。 実施例1 図1は本発明による投影露光装置の倍率可変な投影光学
系を模式的に示したもので、レチクル12を照射する光
線を投影レンズ13,14の開口数に対応した角度まで
の範囲で任意に、もしくはあらかじめ設定された複数の
角度に傾きを変えて露光する方法の実施例を示す。ここ
で、有限の大きさを持つ光源の光軸を含まない一部を光
源として用いることとする。コンデンサレンズ11には
いくつかのレンズを組み合わせてズーム機能を持たせた
レンズ系を用いる。最も簡単な例は2枚の凸レンズを組
み合わせてその相対的な距離を変えることにより焦点距
離を変えられるものである。ここでは焦点位置を固定し
て焦点距離を変える機能を持つレンズ系なら何を用いて
もよい。また、第1投影レンズ13と第2投影レンズ1
4との間には投影系開口絞り15が配置されており、レ
チクル12のマスクパタンで回折された光はその投影レ
ンズ系を通してウエハ面16上に像を形成するようにな
されている。
【0020】次に説明を簡単にするために光軸からrだ
け離れた1点Pからの光について考察する。図1ではズ
ーム機能を持つコンデンサレンズ系11を1枚のレンズ
と同様光軸に垂直な線分で表す。光源が常にこのコンデ
ンサレンズ系の負側の焦平面に位置するようにコンデン
サレンズ系11を調節する。図1(a)と(b)は同じ光学系
で、コンデンサレンズ11の倍率すなわち焦点距離を変
えた場合に斜入射の角度が変わる様子を示し、図1(a)
はその斜入射の傾きの小さい場合を、図1(b)は傾きの
大きい場合をそれぞれ示している。図1では、コンデン
サレンズ系11は1枚のレンズとして表現したので、レ
ンズの焦点距離の変化に伴って、光源がレンズの焦平面
に位置するようにレンズ系を移動させている。実際はコ
ンデンサレンズ系のズーム機能により焦点距離を変える
と同時に焦点位置を変えないようにレンズ系を調節す
る。図1に示したようにレンズ系の移動により焦点位置
を固定する方法でも構わない。
【0021】ここでは、光軸からr離れたP点からの光
についのみ説明したが、実際の光源は光軸を含まない有
限面積の領域を持つものなら何でもよく、その領域内の
1点がP点であると考えればよい。また、ズームレンズ
の機能により倍率は任意の角度に可変とすることもでき
るが、あらかじめズームレンズ系の各レンズの位置を有
限の数箇所のみに設定できるようにしておくことによ
り、倍率設定をより安定にかつ簡単に行うことができ
る。
【0022】実施例2 次に光源の有効面積を変える方法の実施例を示す。光源
の大きさを変えることは、可干渉性を変えるだけでな
く、レチクルへの入射角のばらつきの度合いを変えるこ
とになるので、斜入射照明法の効果に関わる。形成しよ
うとするパタンが、線間隔パタンのみであれば、σD
例えば0.1程度の小さい値が適するが、パタンの端や
大パタンの存在を考慮してσD を0.3とする等の調整
が必要となる。
【0023】そこで、2次光源の射出孔に開口部の大き
さが可変の開口絞りを設置するか、あるいは照明系の開
口絞りを取り替え可能にする。前者の場合は図2に示す
ような形の開口絞り21を用いて開口部22の大きさを
変える。但し図2(b) は同図(a) の開口絞り21の開口
部22を拡げた様子を示している。後者の場合は様々な
大きさの円形開口を持つ開口絞りをあらかじめ用意し
て、パタンに応じて付け替える。斜入射の角度が固定さ
れている場合には、その角度に対応して要求される位置
に開口絞りを設置する。コンデンサレンズの倍率を変え
てレチクル入射光の傾きを調節する前記の実施例と組み
合わせてこの照明側開口絞りを用いる場合には、開口部
が円形であれば開口部の中心は光軸からずれている必要
がある。
【0024】この時用いられる照明側開口絞りの例を図
3に挙げる。図3において、各開口絞り23a〜23h
上にx軸とy軸を表記し、その交点を原点とする。露光
装置にこれらの開口絞りを設置する際、投影光学系の光
軸が開口絞りの原点を通るように設置するものとする。
図3(a)は、σDが小さい片側入射の例で、この開口絞り
23aを用いた場合は特に解像度向上効果が大きく、微
細な線間隔パタンが多い場合に適している。図3(b)は
σDが大きい場合の例で、パタンの周期性の少ない部分
を孤立パタンや大パタンが多い場合に適している。図3
(c) に示すような両方向入射の場合は光軸に対して対称
な結像系となる。
【0025】図3(a),(b)および(c) に示す開口絞り2
3a〜23cを用いた場合は、y方向のパタンの解像度
を向上させることができるが、x方向のパタンには解像
度向上効果が無い。これに対して、図3(d),(e)および
(f) はx,y両方向のパタンの解像度向上効果を持つ開
口絞り23d〜23fの例である。図3(d) はx,y方
向の片側入射の場合、図3(e) は両側入射の場合をそれ
ぞれ示している。図3(f) は同図(e)と同じく両方向両
側入射の例であるが、図3(e)に比べて解像度向上効果
が高い。図3(g)と(h)は円環光源による全方向入射のた
めの開口絞り23g,23hで、あらゆる方向のパタン
に対して解像度向上効果がある。図3(g)に比べて図3
(h) の開口絞り23hを用いた場合は、コヒーレンシィ
が高くなるので、より周期性の高いパタンに適してい
る。
【0026】実施例3 レチクル入射光を投影レンズの開口数に対応した角度ま
での範囲で傾きを変えるとともに、光源の有効面積を変
えることにより、レチクル入射光の可干渉性を調節する
実施例を具体的な数値を挙げて説明する。
【0027】例えば、投影露光装置の投影系の開口数
0.5で、縮小倍率1/5、装置の元来のσ値を0.
5、そのσ値に対応する光源の大きさを半径1.5cm
とする。参考のため図1に縮小倍率を1とした場合に、
対応する角度などの記号を付与した。パタンに応じたコ
ヒーレンシィを0.2とすれば、取り替え可能な円形開
口絞りまたは大きさ可変の開口絞りによって2次光源の
開口の中心が光軸から0.9cmで、開口絞りの半径が
0.6cmになるように調節する。このままでは、R=
0.3,R+σD =0.5で、解像度向上効果は少な
い。この時のレチクル入射角の中心値は
【0028】 sinα1′=0.03 α1′=1.72° である。そこで、コンデンサレンズのズーム機能により sinα2′=0.075 α2′=4.30° に傾ける。この時のコンデンサレンズ11の焦点距離f
c2は元のコンデンサレンズの焦点距離をfc1とすると、
【0029】fc2/fc1=tanα1′/tanα2′=
sinα1′/sinα2′=0.03/0.075=
0.4 fc2=0.4・fc1
【0030】となる。これにより、R=0.75,R+
σD =0.95となり、斜入射照明による解像度向上効
果が増大する。この場合はRの値として比較的大きい
0.75に設定する場合を例に挙げたが、例えばσD
0.3とすると、R=0.75ではR+σD が1を越え
てしまい、0次光の一部が投影系の開口絞りにより遮ら
れるため、σD の値に応じて、R=0.6とするなど、
コンデンサレンズの倍率を変える措置が必要となる。す
なわち、入射側開口絞りの大きさを可変にすることと、
コンデンサレンズの倍率を可変にすることは、パタンに
応じて独立に行う場合もあるが、相互に連動して行う場
合もある。
【0031】実施例4 本発明におけるパタン寸法に応じた傾き度Rの具体的な
数値について図4を用いて説明する。例として投影系の
開口数NA=0.5で、波長λ=365nmの光で基準
寸法0.3μmのパタンを形成する場合について、簡単
のため縮小倍率を1として説明する。ピッチdは0.6
μmであるから垂直入射した時の1次回折角は、 sinθ1=λ/d=0.608 θ1=37.5° となる。これは図4(a) に示したように、NA=0.5
の露光装置では開口絞り15に遮られて解像しないパタ
ンである。
【0032】ここでパタン寸法に関わりなく、投影系の
開口数NAに対応した角度で照射する場合は、NA=
0.5であるから、光軸からの傾き30度で照射する
と、投影系に前記の0次光透過率減衰フィルタ等を用い
ることにより、原理的に60度に対応する寸法、0.2
2μmの線間隔パタンが解像可能となる。しかし、実際
のパタンにおいて最小寸法がが0.3μmであれば0.
22μmの解像度は必要なく、むしろ0.3μmのパタ
ンをより安定に解像することが重要である。この角度の
斜入射で0.3μmの線間隔パタンを解像しようとする
と、図4(b) に示したように、結像させる光の一方はレ
ンズの最外周を通り、もう一方はより内側を通る。
【0033】一方、0.3μmのパタンを解像しようと
する時、この寸法に対応する上記の角度θ1の約1/2
の角度18.7度で斜入射すると、 sinθ1/2=0.321 であるから、図4(c) に示したように投影系の開口数N
Aは0.35程度あれば解像する。結像に寄与する0次
光および1次回折光は光軸にほぼ対称にレンズの中程の
位置を通過する。レンズの像面歪みや収差等の影響を考
慮すると30度傾けて照射した場合よりも、解像寸法に
合わせて18.7度の傾きで照射した場合の方が良い結
果が期待される。なお、図4において図1と同一または
相当部分は同一符号を付記してある。
【0034】実施例5 本発明においてパタン形状に応じてレチクル入射光の方
向や傾きを変える方法の具体的な例を図5を用いて説明
する。図5において各々のx軸,y軸は瞳面の座標を表
し、大円は投影系の開口絞りを表す。図5(a),(b),
(c)および(d)は瞳面上での2次光源(入射光)の位置を
示し、同図(a′),(b′),(c′)及び(d′)は斜線を施し
た光源について、それらの光がレチクルを通過した時の
0次光をA0,B0,C0,D0で、絞りを通過できる
最大の1次回折光をx方向,y方向それぞれAX1,A
Y1,BX1,BY1などで示している。どの場合も瞳
面における入射光の位置と原点に対称な位置に0次光が
くる。y方向のパタンに対する1次回折光は、0次光を
通りx軸に平行な線分上に位置し、そのうち最大回折光
は絞りを示す大円内で0次光から最も離れたところに位
置する。x方向についても同様である。
【0035】図5(a)は瞳面におけるx軸上に光源があ
る場合で、この時は同図(a′)に示したようにy軸に平
行な線パタンについては、最大回折光はX軸上で0次光
A0から最も離れた位置にくるので、図のAY1で表さ
れる。最大回折角が約2倍になるのでy方向の解像度は
倍増するが、x方向にはAX1に示したように非常に小
さい回折角の光しか絞りを通過できないので、解像度は
むしろ悪くなる。図5(a) に示したような2次光源は、
パタンが1方向にのみ存在する場合に非常に有効な光源
となる。例えば実施例4の数値を用いると、波長365
nmの光で投影系のNA=sinθ=0.5の時、プロ
セス係数を0.6とすると、 d=0.6λ/sin2θ=0.25 となり、1方向のみ0.25μmの線間隔パタンが解像
することになる。
【0036】しかしこの光源では、x方向のパタンの解
像度はきわめて低く、両方向に均一にパタンが存在する
場合には適さない。両方向にパタンが同じように存在す
る場合には、図5(b)に示したような型の光源が適して
いる。図5(b)は瞳面上のx軸から45度の点に光源が
ある場合で、同図(b′) に示すようにx,y両方向共に
最大回折角のsinθが、垂直入射の場合に比べて約ル
ート2倍となるので、解像度が周波数比で約1.4倍と
なる。図5(b) のような光源は通常のLSIのパタンの
ように、x方向とy方向に平行な線パタンのみが存在
し、斜めのパタンがない場合に適している。前記の投影
露光条件では0.33μmのパタンがx,y両方向に同
時に形成できることになる。
【0037】図5(c) に示した形の2次光源は、x方向
とy方向とで解像度が異なる。y方向のパタンのみ微細
に、x方向のパタンはある程度の線幅で良いという場合
に適する。角度φを変えることにより、両方向の解像度
を調節することができる。例えばφ=30°のとき、前
記投影露光条件では、y方向のパタンは最大回折角のs
inθが垂直入射の場合に比べてルート3倍となるの
で、解像線幅は0.28μmとなる。このとき、x方向
のパタンは0.45μmまで解像する。すなわち1方向
の解像度は従来のままで、直交する方向のパタンの解像
度のみを約60%にすることができる。また、このよう
な45°以外の傾きを持つ光源では、x,y方向に対し
て45°の角度を持つ線パタンに対しても解像度を著し
く悪化させることはない。参考のために、従来の垂直入
射についても図5(d),(d′)に同様の図を示した。
【0038】以上示したように、解像しようとするパタ
ン寸法に応じてそれに適した入射角が存在し、この角度
で斜入射することにより安定した良好なパタンを得るこ
とができる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、従来装置
におけるレチクル照射光の傾きの範囲を投影レンズの開
口数に応じて設定することにより、解像度を大幅に向上
することができる。しかも、パタンの最小寸法やパタン
形状に応じて入射光の可干渉性やレチクルへの入射角を
変えることができるので、LSI等のパタンにおいて安
定して高い解像度を得ることができる。このように本発
明を用いれば、LSI等の微細パタン形成において集積
度向上と信頼性の向上が図れる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による投影露光装置の倍率可変な投影光
学系の模式図である。
【図2】本発明において用いる面積可変な開口絞りの一
例を示す構成図である。
【図3】本発明において用いる照明側開口絞りの各々の
例を示す図である。
【図4】本発明におけるパタン寸法に応じた入射角の斜
入射法を従来の垂直入射法と対比して説明するための説
明図である。
【図5】本発明においてパタン形状に応じてレチクル入
射光の方向や傾きを変えるための具体例を示す説明図で
ある。
【図6】垂直入射と斜入射法の各々のMTFの周波数特
性を示す図である。
【図7】同一出願人にて提案している斜入射露光法を従
来の垂直入射法と対比して説明するための説明図であ
る。
【符号の説明】
11 ズーム機能を持つコンデンサレンズ 12 レチクル 13 第1投影レンズ 14 第2投影レンズ 15 投影系開口絞り 16 ウエハ面 21 面積可変な開口絞り 23a〜23h 照明側開口絞り
フロントページの続き (72)発明者 竹内 良亘 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 原田 勝征 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 三村 義昭 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 物面マスク上のパタンを投影光学系を介
    してウエハ上に投影露光する投影露光装置において、マ
    スクを照射する光線を投影レンズの開口数に対応した角
    度までの範囲で任意に、もしくはあらかじめ設定された
    複数の水準の角度に、傾きを変える手段を有することを
    特徴とする微細パタン投影露光装置。
  2. 【請求項2】 物面マスク上のパタンを投影光学系を介
    してウエハ上に投影露光する投影露光装置において、マ
    スクを照射する光線を投影レンズの開口数に対応した角
    度までの範囲で傾きを変えるとともに、光源の有効面積
    を変えることによりマスク照射光の可干渉性を調節でき
    る手段を有することを特徴とする微細パタン投影露光装
    置。
  3. 【請求項3】 物面マスク上のパタンを投影光学系を介
    してウエハ上に投影露光する投影露光装置において、マ
    スクを照射する光線は投影レンズの開口数に対応した一
    定の角度に固定され、かつ光源の有効面積を変えること
    によりマスク照射光の可干渉性を調節できる手段を有す
    ることを特徴とする微細パタン投影露光装置。
  4. 【請求項4】 パタンの描かれたマスクを照明し、投影
    光学系による転写でパタンを形成する微細パタン投影露
    光方法において、形成しようとするパタン形状,パタン
    寸法の両方もしくはいずれか一方に応じてマスク照射光
    の可干渉性および入射角を変えて露光することを特徴と
    する微細パタン投影露光方法。
JP3235753A 1991-04-05 1991-08-23 微細パタン投影露光方法および装置 Pending JPH0555110A (ja)

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DE69215942T DE69215942T2 (de) 1991-04-05 1992-03-24 Verfahren und System zur optischen Projetkionsbelichtung
US07/863,454 US5208629A (en) 1991-04-05 1992-04-03 Optical projection exposure method and system using the same
KR1019920005715A KR970004682B1 (ko) 1991-04-05 1992-04-06 투영노광방법 및 그 사용시스템

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000124130A (ja) * 1999-11-17 2000-04-28 Nikon Corp 投影露光装置及び方法並びに半導体素子の製造方法
JP2001033875A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Canon Inc 照明装置及びそれを用いた投影露光装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5741747A (en) * 1980-08-26 1982-03-09 Mitsubishi Electric Corp Electronic computer
JPS59155843A (ja) * 1984-01-27 1984-09-05 Hitachi Ltd 露光装置
JPS6191662A (ja) * 1984-10-11 1986-05-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 投影露光装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5741747A (en) * 1980-08-26 1982-03-09 Mitsubishi Electric Corp Electronic computer
JPS59155843A (ja) * 1984-01-27 1984-09-05 Hitachi Ltd 露光装置
JPS6191662A (ja) * 1984-10-11 1986-05-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 投影露光装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001033875A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Canon Inc 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JP2000124130A (ja) * 1999-11-17 2000-04-28 Nikon Corp 投影露光装置及び方法並びに半導体素子の製造方法

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